JPH09131063A - 高電圧発生器 - Google Patents
高電圧発生器Info
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- JPH09131063A JPH09131063A JP8257040A JP25704096A JPH09131063A JP H09131063 A JPH09131063 A JP H09131063A JP 8257040 A JP8257040 A JP 8257040A JP 25704096 A JP25704096 A JP 25704096A JP H09131063 A JPH09131063 A JP H09131063A
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- H05G1/10—Power supply arrangements for feeding the X-ray tube
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
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- G01R15/04—Voltage dividers
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- H—ELECTRICITY
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- H02M—APPARATUS FOR CONVERSION BETWEEN AC AND AC, BETWEEN AC AND DC, OR BETWEEN DC AND DC, AND FOR USE WITH MAINS OR SIMILAR POWER SUPPLY SYSTEMS; CONVERSION OF DC OR AC INPUT POWER INTO SURGE OUTPUT POWER; CONTROL OR REGULATION THEREOF
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- H02M7/02—Conversion of ac power input into dc power output without possibility of reversal
- H02M7/04—Conversion of ac power input into dc power output without possibility of reversal by static converters
- H02M7/06—Conversion of ac power input into dc power output without possibility of reversal by static converters using discharge tubes without control electrode or semiconductor devices without control electrode
- H02M7/10—Conversion of ac power input into dc power output without possibility of reversal by static converters using discharge tubes without control electrode or semiconductor devices without control electrode arranged for operation in series, e.g. for multiplication of voltage
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 整流回路と直流電圧に比例する測定電圧を発
生する測定抵抗配列とを含み、測定抵抗配列は各整流器
段に対して少なくとも一つの関連する測定抵抗を含む交
流電圧から直流電圧を発生する高電圧発生器を提供す
る。 【解決手段】 経済的で空間を節約する構成を達成する
ために測定抵抗は関連する整流器段に物理的に一体化さ
れ、測定抵抗は測定抵抗配列を接地電位及び交流電圧を
有する高電圧発生器の部分から遮蔽するために直流電位
を有する導電性遮蔽により囲繞され、遮蔽は関連する整
流器段の直流電位を有する。
生する測定抵抗配列とを含み、測定抵抗配列は各整流器
段に対して少なくとも一つの関連する測定抵抗を含む交
流電圧から直流電圧を発生する高電圧発生器を提供す
る。 【解決手段】 経済的で空間を節約する構成を達成する
ために測定抵抗は関連する整流器段に物理的に一体化さ
れ、測定抵抗は測定抵抗配列を接地電位及び交流電圧を
有する高電圧発生器の部分から遮蔽するために直流電位
を有する導電性遮蔽により囲繞され、遮蔽は関連する整
流器段の直流電位を有する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は複数の整流器段を有
する整流回路と直流電圧に比例する測定電圧を発生する
測定抵抗配列とを含み、測定抵抗配列は各整流器段に対
して少なくとも一つの関連する測定抵抗を含む交流電圧
から直流電圧を発生する高電圧発生器に関する。
する整流回路と直流電圧に比例する測定電圧を発生する
測定抵抗配列とを含み、測定抵抗配列は各整流器段に対
して少なくとも一つの関連する測定抵抗を含む交流電圧
から直流電圧を発生する高電圧発生器に関する。
【０００２】
【従来の技術】この種の高電圧発生器は特開平２ー１５
６１６３号から知られている。ここでは入力交流電圧が
複数の二次巻き線を有するトランスにより逓昇される。
各二次巻き線により二次巻き線に亘って現れる交流電圧
から直流を発生する整流器段がある。整流器段は直列に
接続され、それにより高電圧発生器の全出力直流電圧は
それぞれの直流電圧の加算により得られる。そこに記載
されている測定抵抗配列はそれを介して測定電圧が得ら
れるベースインピーダンスと同様に直列に接続された複
数の測定抵抗を含む。Ｘ線管用の高電圧発生器はＥＰ−
Ａ１１８１４７から知られている。ここでは測定抵抗配
置はまたベースインピーダンスと同様に複数の測定抵抗
を含む。数ボルトの測定電圧は０から数１００ｋＨｚま
での範囲の周波数で高電圧に可能な限り比例しなければ
ならない。故に環境からの静電遮蔽に対して、測定抵抗
は高電圧に接続されるダンピング抵抗器により密封され
る。
６１６３号から知られている。ここでは入力交流電圧が
複数の二次巻き線を有するトランスにより逓昇される。
各二次巻き線により二次巻き線に亘って現れる交流電圧
から直流を発生する整流器段がある。整流器段は直列に
接続され、それにより高電圧発生器の全出力直流電圧は
それぞれの直流電圧の加算により得られる。そこに記載
されている測定抵抗配列はそれを介して測定電圧が得ら
れるベースインピーダンスと同様に直列に接続された複
数の測定抵抗を含む。Ｘ線管用の高電圧発生器はＥＰ−
Ａ１１８１４７から知られている。ここでは測定抵抗配
置はまたベースインピーダンスと同様に複数の測定抵抗
を含む。数ボルトの測定電圧は０から数１００ｋＨｚま
での範囲の周波数で高電圧に可能な限り比例しなければ
ならない。故に環境からの静電遮蔽に対して、測定抵抗
は高電圧に接続されるダンピング抵抗器により密封され
る。
【０００３】測定電圧を誤らせる測定抵抗の比較的高い
ストレー容量とリードインダクタンスの影響を回避する
ためにコンデンサが知られている高電圧発生器での直列
接続された測定抵抗に並列接続される。その目的は大き
な搬送帯域幅を達成することである。しかしながらその
様な補正コンデンサは高価であり、実質的に大きな空間
を必要とする。
ストレー容量とリードインダクタンスの影響を回避する
ためにコンデンサが知られている高電圧発生器での直列
接続された測定抵抗に並列接続される。その目的は大き
な搬送帯域幅を達成することである。しかしながらその
様な補正コンデンサは高価であり、実質的に大きな空間
を必要とする。
【０００４】最近の高電圧発生器での出力電圧リップル
は制御動作中の高い一定のスイッチング周波数（２０ｋ
Ｈｚの範囲で）を用いることにより小さく保ちうる。従
って数１００ｋＨｘの高周波数での出力電圧のピーク値
の正確な測定は不要である。何故ならばそれは出力電圧
の平均値より若干高いだけであり、例えばＸ線システム
でのように許容可能な変動の範囲内であるからである。
測定抵抗配置の周波数挙動が考慮されなければならない
発生器の限界周波数は閉鎖された制御ループの限界周波
数に依存し、これらの高電圧発生器に対して数ｋＨｘ
（約１０ｋＨｚまで）の範囲内である。
は制御動作中の高い一定のスイッチング周波数（２０ｋ
Ｈｚの範囲で）を用いることにより小さく保ちうる。従
って数１００ｋＨｘの高周波数での出力電圧のピーク値
の正確な測定は不要である。何故ならばそれは出力電圧
の平均値より若干高いだけであり、例えばＸ線システム
でのように許容可能な変動の範囲内であるからである。
測定抵抗配置の周波数挙動が考慮されなければならない
発生器の限界周波数は閉鎖された制御ループの限界周波
数に依存し、これらの高電圧発生器に対して数ｋＨｘ
（約１０ｋＨｚまで）の範囲内である。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は経済的
で空間を節約するような上記の高電圧発生器を提供する
ことにある。
で空間を節約するような上記の高電圧発生器を提供する
ことにある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】この目的は測定抵抗は関
連する整流器段に物理的に一体化され、測定抵抗は測定
抵抗配列を接地電位及び交流電圧を有する高電圧発生器
の部分から遮蔽するために直流電位を有する導電性遮蔽
により囲繞され、遮蔽は関連する整流器段の直流電位を
有する本発明により達成される。
連する整流器段に物理的に一体化され、測定抵抗は測定
抵抗配列を接地電位及び交流電圧を有する高電圧発生器
の部分から遮蔽するために直流電位を有する導電性遮蔽
により囲繞され、遮蔽は関連する整流器段の直流電位を
有する本発明により達成される。
【０００７】知られている高電圧発生器では測定抵抗配
列と整流回路は相互に物理的に分離するように配置され
る一方で測定抵抗配置と整流回路は一つの構成に統合さ
れるような配置が可能である。各測定抵抗は関連する整
流器段に配置され、例えば同一のプリント回路基板上に
又はその側面又は上面からわずかに離れて配置される。
各測定抵抗器は測定抵抗器が一体化されている整流器段
の直流電位を有する遮蔽により密封される。ストレー容
量はもはや測定抵抗と交流電圧を有する部分との間及び
測定抵抗と接地を有する部分との間では発生せず、その
様な容量を介して電流は高電圧の速い変化の場合に流
れ、斯くして測定電圧を誤らせる。本発明による高電圧
発生器の測定抵抗の遮蔽の故にストレー容量は遮蔽と交
流電圧を有する部分との間、又は遮蔽と接地電位との間
に生じそれにより電流はもはや高電圧の速い変化の場合
にも測定抵抗に亘って流れない。知られている高電圧発
生器内で用いられるようなそれぞれの測定抵抗に並列に
接続される補正コンデンサは斯くの如く不要である。
列と整流回路は相互に物理的に分離するように配置され
る一方で測定抵抗配置と整流回路は一つの構成に統合さ
れるような配置が可能である。各測定抵抗は関連する整
流器段に配置され、例えば同一のプリント回路基板上に
又はその側面又は上面からわずかに離れて配置される。
各測定抵抗器は測定抵抗器が一体化されている整流器段
の直流電位を有する遮蔽により密封される。ストレー容
量はもはや測定抵抗と交流電圧を有する部分との間及び
測定抵抗と接地を有する部分との間では発生せず、その
様な容量を介して電流は高電圧の速い変化の場合に流
れ、斯くして測定電圧を誤らせる。本発明による高電圧
発生器の測定抵抗の遮蔽の故にストレー容量は遮蔽と交
流電圧を有する部分との間、又は遮蔽と接地電位との間
に生じそれにより電流はもはや高電圧の速い変化の場合
にも測定抵抗に亘って流れない。知られている高電圧発
生器内で用いられるようなそれぞれの測定抵抗に並列に
接続される補正コンデンサは斯くの如く不要である。
【０００８】補正コンデンサの除去は空間及びコストの
点で実質的な節約である。更なる空間は小さな構成によ
り節約され、ここでは測定抵抗が関連する整流器段の構
成と一体化される。少なくとも一つの測定抵抗で密封さ
れた各遮蔽が関連する整流器段の直流電位に接続される
故に非常によい容量性減結合が交流電圧を有する近傍の
点又は接地電位から得られ、最終的には適切な測定精度
が概略１０ｋＨｚまでの望ましい周波数範囲で得られ
る。
点で実質的な節約である。更なる空間は小さな構成によ
り節約され、ここでは測定抵抗が関連する整流器段の構
成と一体化される。少なくとも一つの測定抵抗で密封さ
れた各遮蔽が関連する整流器段の直流電位に接続される
故に非常によい容量性減結合が交流電圧を有する近傍の
点又は接地電位から得られ、最終的には適切な測定精度
が概略１０ｋＨｚまでの望ましい周波数範囲で得られ
る。
【０００９】本発明の実施例では測定抵抗は関連する整
流器段からある距離を置いて配置され、遮蔽として働く
薄い金属シートにより囲繞される。測定抵抗の必要な距
離は１又は数センチメートルのみである。簡単で高価で
はない金属シートはそのままで適切な遮蔽として動作す
る。本発明の好ましい実施例では整流器回路はコンデン
サとダイオードで構成された高電圧カスケードである。
Ｘ線装置での電圧倍増用の高電圧カスケードは例えばＥ
Ｐ−Ｂ１９８７４１から知られている。本発明による高
電圧発生器の高電圧カスケードの整流器段の測定抵抗の
一体化は一般の高電圧発生器との比較で空間の点から顕
著な節約となり、ここで測定抵抗及び高電圧カスケード
を有する測定抵抗配置は例えば２つの大きなプリント回
路基板上に物理的に別々に配置される。
流器段からある距離を置いて配置され、遮蔽として働く
薄い金属シートにより囲繞される。測定抵抗の必要な距
離は１又は数センチメートルのみである。簡単で高価で
はない金属シートはそのままで適切な遮蔽として動作す
る。本発明の好ましい実施例では整流器回路はコンデン
サとダイオードで構成された高電圧カスケードである。
Ｘ線装置での電圧倍増用の高電圧カスケードは例えばＥ
Ｐ−Ｂ１９８７４１から知られている。本発明による高
電圧発生器の高電圧カスケードの整流器段の測定抵抗の
一体化は一般の高電圧発生器との比較で空間の点から顕
著な節約となり、ここで測定抵抗及び高電圧カスケード
を有する測定抵抗配置は例えば２つの大きなプリント回
路基板上に物理的に別々に配置される。
【００１０】本発明の更なる実施例では遮蔽は測定抵抗
を交流電圧を有する高電圧カスケードのコンデンサから
側面で遮蔽するＵ字型のシートからなる。高電圧カスケ
ードの関連する整流器段の電位を有する遮蔽シートは例
えばプリント回路基板上に直接又はプリント回路基板上
で小さな距離を置くようにコンデンサから少し離して測
定抵抗を配置することを可能にする。Ｕ字型シートはそ
のリム表面がコンデンサと測定抵抗との間に位置するよ
うに配置されなければならない。
を交流電圧を有する高電圧カスケードのコンデンサから
側面で遮蔽するＵ字型のシートからなる。高電圧カスケ
ードの関連する整流器段の電位を有する遮蔽シートは例
えばプリント回路基板上に直接又はプリント回路基板上
で小さな距離を置くようにコンデンサから少し離して測
定抵抗を配置することを可能にする。Ｕ字型シートはそ
のリム表面がコンデンサと測定抵抗との間に位置するよ
うに配置されなければならない。
【００１１】本発明の実施例では整流器回路と測定抵抗
配置は単一のプリント回路基盤上に設けられ、特に大き
な空間が節約される。本発明による高電圧発生器は従来
技術の高電圧発生器と比較して低い高さと小さな体積を
有する。本発明による高電圧発生器の測定抵抗の遮蔽の
故にストレー容量はもはや測定抵抗と接地電位間で、又
は測定抵抗とそれを介して測定信号を誤らせる交流が流
れる交流電位を有する部分との間で生じない。上記特性
を考慮して本発明による高電圧発生器は特に画像管又は
Ｘ線システムでのＸ線管のような管球を動作させるのに
適切である。
配置は単一のプリント回路基盤上に設けられ、特に大き
な空間が節約される。本発明による高電圧発生器は従来
技術の高電圧発生器と比較して低い高さと小さな体積を
有する。本発明による高電圧発生器の測定抵抗の遮蔽の
故にストレー容量はもはや測定抵抗と接地電位間で、又
は測定抵抗とそれを介して測定信号を誤らせる交流が流
れる交流電位を有する部分との間で生じない。上記特性
を考慮して本発明による高電圧発生器は特に画像管又は
Ｘ線システムでのＸ線管のような管球を動作させるのに
適切である。
【００１２】
【発明の実施の形態】本発明を以下に図を参照して詳細
に説明する。図１は本発明によるＸ線管用の高電圧発生
器の回路図を示し、３つの交流電源１、２、３からな
る。その出力電圧Ｕ1 ，Ｕ2 ，Ｕ3 は整流回路９に印加
され、各交流電源１、２、３に対して問題の交流電圧Ｕ
1 ，Ｕ2 ，Ｕ3 を直流に変換するそれぞれの整流器段３
１、３２、３３が設けられる。整流器段３１、３２、３
３は直列に接続され、それにより直流電圧ＵDCは高電圧
発生器の出力から得られ、この直流電圧は整流器段３
１、３２、３３の出力直流電圧の和に対応する。直流電
圧ＵDCはＸ線管４に給電するために供され、高電圧発生
器の出力はＸ線管４の陽極端子５に接続されているのが
示される。陰極端子６は更なる高電圧発生器（図示せ
ず）に接続され、これは負の直流を発生する。更にまた
出力電圧ＵDCを平滑化する平滑化コンデンサＣ0は高電
圧発生器の出力２３で接地に接続される。
に説明する。図１は本発明によるＸ線管用の高電圧発生
器の回路図を示し、３つの交流電源１、２、３からな
る。その出力電圧Ｕ1 ，Ｕ2 ，Ｕ3 は整流回路９に印加
され、各交流電源１、２、３に対して問題の交流電圧Ｕ
1 ，Ｕ2 ，Ｕ3 を直流に変換するそれぞれの整流器段３
１、３２、３３が設けられる。整流器段３１、３２、３
３は直列に接続され、それにより直流電圧ＵDCは高電圧
発生器の出力から得られ、この直流電圧は整流器段３
１、３２、３３の出力直流電圧の和に対応する。直流電
圧ＵDCはＸ線管４に給電するために供され、高電圧発生
器の出力はＸ線管４の陽極端子５に接続されているのが
示される。陰極端子６は更なる高電圧発生器（図示せ
ず）に接続され、これは負の直流を発生する。更にまた
出力電圧ＵDCを平滑化する平滑化コンデンサＣ0は高電
圧発生器の出力２３で接地に接続される。
【００１３】測定抵抗配置８は高電圧発生器の出力２３
で平滑化コンデンサＣ0 に並列に接続される。測定抵抗
器配置８は各整流器段３１、３２、３３、接地２０に直
列に接続されるベースインピーダンスＲ0 と同様に測定
抵抗Ｒ1 ，Ｒ2 ，Ｒ3 を含む。測定抵抗Ｒ1 ，Ｒ2 ，Ｒ
3 はベースインピーダンスＲ0 より１０００から１００
００倍大きい同じ値を有する。低域通過フィルタ７を介
して所望の測定電圧Ｕ M は最も低い測定抵抗Ｒ1 とベー
スインピーダンスＲ0 との間で得られる；この抵抗に比
例する故にこの測定電圧は小さな部分に対応し、高電圧
ＵDCに比例する。
で平滑化コンデンサＣ0 に並列に接続される。測定抵抗
器配置８は各整流器段３１、３２、３３、接地２０に直
列に接続されるベースインピーダンスＲ0 と同様に測定
抵抗Ｒ1 ，Ｒ2 ，Ｒ3 を含む。測定抵抗Ｒ1 ，Ｒ2 ，Ｒ
3 はベースインピーダンスＲ0 より１０００から１００
００倍大きい同じ値を有する。低域通過フィルタ７を介
して所望の測定電圧Ｕ M は最も低い測定抵抗Ｒ1 とベー
スインピーダンスＲ0 との間で得られる；この抵抗に比
例する故にこの測定電圧は小さな部分に対応し、高電圧
ＵDCに比例する。
【００１４】測定抵抗Ｒ1 ，Ｒ2 ，Ｒ3 はそれぞれの導
電性遮蔽１１、１２、１３により密封され、各遮蔽は関
連する整流器段３１、３２、３３の出力電位を有する。
例えばこの目的のために測定抵抗Ｒ1 を密封する遮蔽１
１は点２１で整流段３１の出力電位と接続される。同様
に遮蔽１２は点２２で整流段３２の出力電位と接続さ
れ、一方で遮蔽１３は点２３で整流段３３の出力電位と
接続される。この遮蔽は測定抵抗Ｒ1 ，Ｒ2 ，Ｒ3 が交
流電圧を有する高電圧発生器の部分の外側、即ち整流器
段３１、３２、３３の入力からと同様に交流電源１、
２、３で容量的に減結合されることを確実にする。他方
で測定抵抗Ｒ1 ，Ｒ2 ，Ｒ3 はまた接地電位２０と減結
合される。測定抵抗配置の帯域幅は高電圧発生器の制限
周波数と同様に広がり、この制限周波数は発生器の制御
動作中のスイッチング周波数に依存し、数ｋＨｚにわた
る。示された遮蔽は信号ＵM を測定する場合のＲＦ出力
電圧変動（＞２０ｋＨｚ）の正確な表現に対して充分で
はないが出力電圧変動のピーク値が出力電圧の平均値の
２％を越えない現在の高電圧発生器で用いられる場合に
はこれは必要ではない。故に測定抵抗の適切な遮蔽の故
にＥＰ−Ａ−１１８１４７に記載されているような測定
抵抗Ｒ1 ，Ｒ2 ，Ｒ3 に並列に接続される補正コンデン
サを用いる必要はない。これは小さな構成の結果として
空間の大きな節約と同様に測定抵抗配置の限定された数
の部品故に顕著なコスト削減を提供する。
電性遮蔽１１、１２、１３により密封され、各遮蔽は関
連する整流器段３１、３２、３３の出力電位を有する。
例えばこの目的のために測定抵抗Ｒ1 を密封する遮蔽１
１は点２１で整流段３１の出力電位と接続される。同様
に遮蔽１２は点２２で整流段３２の出力電位と接続さ
れ、一方で遮蔽１３は点２３で整流段３３の出力電位と
接続される。この遮蔽は測定抵抗Ｒ1 ，Ｒ2 ，Ｒ3 が交
流電圧を有する高電圧発生器の部分の外側、即ち整流器
段３１、３２、３３の入力からと同様に交流電源１、
２、３で容量的に減結合されることを確実にする。他方
で測定抵抗Ｒ1 ，Ｒ2 ，Ｒ3 はまた接地電位２０と減結
合される。測定抵抗配置の帯域幅は高電圧発生器の制限
周波数と同様に広がり、この制限周波数は発生器の制御
動作中のスイッチング周波数に依存し、数ｋＨｚにわた
る。示された遮蔽は信号ＵM を測定する場合のＲＦ出力
電圧変動（＞２０ｋＨｚ）の正確な表現に対して充分で
はないが出力電圧変動のピーク値が出力電圧の平均値の
２％を越えない現在の高電圧発生器で用いられる場合に
はこれは必要ではない。故に測定抵抗の適切な遮蔽の故
にＥＰ−Ａ−１１８１４７に記載されているような測定
抵抗Ｒ1 ，Ｒ2 ，Ｒ3 に並列に接続される補正コンデン
サを用いる必要はない。これは小さな構成の結果として
空間の大きな節約と同様に測定抵抗配置の限定された数
の部品故に顕著なコスト削減を提供する。
【００１５】図２は本発明による高電圧カスケードから
なる高電圧発生器の更なる回路図を示す。交流電圧
Ｕ1 ，Ｕ2 を交流電源１、２から交流電源１、２のピー
ク電圧の最大６倍に及ぶ直流出力ＵDCへそれぞれ変換す
る高電圧カスケードは３つの直列に結合した２ウエイ二
重段からなる。これらの２ウエイ二重段のそれぞれは４
つのダイオードＤ41，Ｄ42，Ｄ51，．．．，Ｄ92と同様
に２つのシフトコンデンサＣ4 ．．．Ｃ9 、平滑化コン
デンサＣ1 ．．．Ｃ3 からなる。例えば最初の２ウエイ
二重段はその最初の端子２４は交流電源１に結合され、
その第二の端子２５は２つのダイオードＤ41，Ｄ42に結
合される。２つのダイオードＤ41，Ｄ42の第二の端子は
平滑化コンデンサＣ1 のそれぞれの接続点２０、２１に
接続され、接続点２０は接地に接続される。平滑化コン
デンサＣ1 に関して鏡映すると最初の２ウエイ段の第二
の部分はシフトコンデンサＣ7 及び２つのコンデンサＣ
71，Ｃ 72からなる。第二の２ウエイ二重段及びそれに続
く同じ構成の第三の２ウエイ二重段は端子２１、２５、
２７に接続される。直流出力電圧ＵDCは第三の２ウエイ
二重段の平滑化コンデンサＣ3 の上の端子２３に現れ
る。このように構成された高電圧カスケードの正確な構
成及び動作は例えばＥＰ−Ｂ１９８７４１から知られて
おり、故にここでは詳細には説明しない。
なる高電圧発生器の更なる回路図を示す。交流電圧
Ｕ1 ，Ｕ2 を交流電源１、２から交流電源１、２のピー
ク電圧の最大６倍に及ぶ直流出力ＵDCへそれぞれ変換す
る高電圧カスケードは３つの直列に結合した２ウエイ二
重段からなる。これらの２ウエイ二重段のそれぞれは４
つのダイオードＤ41，Ｄ42，Ｄ51，．．．，Ｄ92と同様
に２つのシフトコンデンサＣ4 ．．．Ｃ9 、平滑化コン
デンサＣ1 ．．．Ｃ3 からなる。例えば最初の２ウエイ
二重段はその最初の端子２４は交流電源１に結合され、
その第二の端子２５は２つのダイオードＤ41，Ｄ42に結
合される。２つのダイオードＤ41，Ｄ42の第二の端子は
平滑化コンデンサＣ1 のそれぞれの接続点２０、２１に
接続され、接続点２０は接地に接続される。平滑化コン
デンサＣ1 に関して鏡映すると最初の２ウエイ段の第二
の部分はシフトコンデンサＣ7 及び２つのコンデンサＣ
71，Ｃ 72からなる。第二の２ウエイ二重段及びそれに続
く同じ構成の第三の２ウエイ二重段は端子２１、２５、
２７に接続される。直流出力電圧ＵDCは第三の２ウエイ
二重段の平滑化コンデンサＣ3 の上の端子２３に現れ
る。このように構成された高電圧カスケードの正確な構
成及び動作は例えばＥＰ−Ｂ１９８７４１から知られて
おり、故にここでは詳細には説明しない。
【００１６】高電圧カスケードの出力２３に対して測定
抵抗Ｒ1 ，Ｒ2 ，Ｒ3 の直列接続があり、これはベース
インピーダンスＲ0 により接地で終端され、それを介し
て測定電圧ＵM が低域通過フィルタ７を経由して得られ
る。測定抵抗Ｒ1 ，Ｒ2 ，Ｒ 3 のそれぞれはそれぞれの
導電性遮蔽１１、１２、１３により密封されており、各
遮蔽１１、１２、１３は関連する二重段の直流出力を有
する。この目的のために遮蔽１１は点２１に結合され、
遮蔽１２は点２２に、遮蔽１３は点２３に結合される。
既に図１を参照して説明した高電圧カスケードの特にシ
フトコンデンサＣ4 ．．．Ｃ9 の測定抵抗配置の接地電
位及び交流電圧を有する点からの減結合は斯くして再び
達成される。
抵抗Ｒ1 ，Ｒ2 ，Ｒ3 の直列接続があり、これはベース
インピーダンスＲ0 により接地で終端され、それを介し
て測定電圧ＵM が低域通過フィルタ７を経由して得られ
る。測定抵抗Ｒ1 ，Ｒ2 ，Ｒ 3 のそれぞれはそれぞれの
導電性遮蔽１１、１２、１３により密封されており、各
遮蔽１１、１２、１３は関連する二重段の直流出力を有
する。この目的のために遮蔽１１は点２１に結合され、
遮蔽１２は点２２に、遮蔽１３は点２３に結合される。
既に図１を参照して説明した高電圧カスケードの特にシ
フトコンデンサＣ4 ．．．Ｃ9 の測定抵抗配置の接地電
位及び交流電圧を有する点からの減結合は斯くして再び
達成される。
【００１７】図３は図２に示された高電圧発生器の最初
の２ウエイ二重段の機械的な構成の詳細を示す。プリン
ト回路基板３０の中心に平滑化コンデンサＣ1 が配置さ
れ、パワーコンデンサＣ4 ，Ｃ7 はそれぞれの側に設け
られる。ダイオードＤ41，Ｄ 42、Ｄ71，Ｄ72は端子２
５、２７にそれぞれ結合され、ダイオードＤ41，Ｄ71は
端子２０に接続され、ダイオードＤ42，Ｄ72は端子２１
に接続される。プリント回路基板３０上である距離を置
いてシフトコンデンサＣ4 とＣ7 の間にこの２ウエイ二
重段と関係する測定抵抗Ｒ1 が小さなプリント回路基板
４０上に配置される。プリント回路基板４０は薄い金属
シート１１により密封され、これはまたプリント回路基
板４０に設けられるよう供される。シート１１はプリン
ト回路基板４０上に設けられ、Ｕ字型にターンするよう
に曲げられ、上下逆にされ、そのレベルで接地されたカ
バー板からなるＸ線発生器の実際の構造で配置されるよ
うな小さな距離に存在する上方の接地電位からと同様に
交流電圧を有するようシフトコンデンサＣ4 とＣ7 から
側方に、測定抵抗Ｒ1 を遮蔽するために点２１に導電的
に結合される。
の２ウエイ二重段の機械的な構成の詳細を示す。プリン
ト回路基板３０の中心に平滑化コンデンサＣ1 が配置さ
れ、パワーコンデンサＣ4 ，Ｃ7 はそれぞれの側に設け
られる。ダイオードＤ41，Ｄ 42、Ｄ71，Ｄ72は端子２
５、２７にそれぞれ結合され、ダイオードＤ41，Ｄ71は
端子２０に接続され、ダイオードＤ42，Ｄ72は端子２１
に接続される。プリント回路基板３０上である距離を置
いてシフトコンデンサＣ4 とＣ7 の間にこの２ウエイ二
重段と関係する測定抵抗Ｒ1 が小さなプリント回路基板
４０上に配置される。プリント回路基板４０は薄い金属
シート１１により密封され、これはまたプリント回路基
板４０に設けられるよう供される。シート１１はプリン
ト回路基板４０上に設けられ、Ｕ字型にターンするよう
に曲げられ、上下逆にされ、そのレベルで接地されたカ
バー板からなるＸ線発生器の実際の構造で配置されるよ
うな小さな距離に存在する上方の接地電位からと同様に
交流電圧を有するようシフトコンデンサＣ4 とＣ7 から
側方に、測定抵抗Ｒ1 を遮蔽するために点２１に導電的
に結合される。
【００１８】図３の破線の箱４１、４２により示される
ように図２に示される回路の構成は図３に示されるよう
な構成を３つ連結することにより得られる。２ウエイ二
重段はそれぞれのプリント回路基板上に設けられ、該プ
リント回路基板は実質的に共に結合され、又は単一の回
路基板上に設けられる。その様な構成の高さの寸法は
横、縦方向の寸法より実質的により小さい。高電圧カス
ケードの構成内の測定抵抗配置の一体化の故にこの構成
は知られている配置より顕著に少ない空間のみを要求す
る。コストと空間の節約はまた並列接続された高電圧補
正コンデンサが測定抵抗と並列になることを要求されな
い故に得られる。
ように図２に示される回路の構成は図３に示されるよう
な構成を３つ連結することにより得られる。２ウエイ二
重段はそれぞれのプリント回路基板上に設けられ、該プ
リント回路基板は実質的に共に結合され、又は単一の回
路基板上に設けられる。その様な構成の高さの寸法は
横、縦方向の寸法より実質的により小さい。高電圧カス
ケードの構成内の測定抵抗配置の一体化の故にこの構成
は知られている配置より顕著に少ない空間のみを要求す
る。コストと空間の節約はまた並列接続された高電圧補
正コンデンサが測定抵抗と並列になることを要求されな
い故に得られる。
【００１９】高電圧カスケードの構成は本発明に対して
問題ではない。本発明はまた例えばトランスを含む発電
機のような他の高電圧発生器に対して用いられ得る。整
流器段はそれぞれの測定抵抗に関係するのみならず、複
数の測定抵抗にも関係し、整流段に関係する測定抵抗は
共通の遮蔽により囲繞される。本発明は例えばＸ線画像
増強器でのＸ線管での直流電圧の発生、モニター、テレ
ビジョン表示スクリーン、真空管電源、主電源のような
交流電圧がスイッチング動作の故に重畳される直流電圧
を測定する必要のあるところなら何処ででも用いられ得
る。
問題ではない。本発明はまた例えばトランスを含む発電
機のような他の高電圧発生器に対して用いられ得る。整
流器段はそれぞれの測定抵抗に関係するのみならず、複
数の測定抵抗にも関係し、整流段に関係する測定抵抗は
共通の遮蔽により囲繞される。本発明は例えばＸ線画像
増強器でのＸ線管での直流電圧の発生、モニター、テレ
ビジョン表示スクリーン、真空管電源、主電源のような
交流電圧がスイッチング動作の故に重畳される直流電圧
を測定する必要のあるところなら何処ででも用いられ得
る。
【図１】本発明によるＸ線管用の高電圧発生器の回路図
を示す。
を示す。
【図２】本発明による高電圧カスケードからなる高電圧
発生器の更なる回路図を示す。
発生器の更なる回路図を示す。
【図３】図２に示された回路の機械的な構成の詳細を示
す。
す。
１、２、３ 交流電源 ４ Ｘ線管 ５ 陽極端子 ６ 陰極端子 ８ 測定抵抗配置 ７ 低域通過フィルタ １１、１２、１３ 導電性遮蔽 ２０ 接地 ２１、２５、２７ 端子 ２３ 出力 ３０ プリント回路基板 ３１、３２、３３ 整流器段 ４０ プリント回路基板 ４１、４２箱 Ｃ0 平滑化コンデンサ Ｃ1 ．．．Ｃ3 平滑化コンデンサ Ｃ4 ．．．Ｃ9 シフトコンデンサ Ｄ41，Ｄ42，Ｄ51，．．．，Ｄ92 ダイオード Ｒ0 ベースインピーダンス Ｒ1 ，Ｒ2 ，Ｒ3 測定抵抗 Ｕ1 ，Ｕ2 ，Ｕ3 交流電圧 ＵDC 直流電圧
Claims (8)
- 【請求項１】 複数の整流器段（３１、３２、３３）を
有する整流回路（９）と直流電圧（ＵDC）に比例する測
定電圧（ＵM ）を発生する測定抵抗配列（８）とを含
み、測定抵抗配列（８）は各整流器段（３１、３２、３
３）に対して少なくとも一つの関連する測定抵抗
（Ｒ1 ，Ｒ2 ，Ｒ3 ）を含み、交流電圧（Ｕ1，Ｕ2 ，
Ｕ3 ）から直流電圧（ＵDC）を発生する高電圧発生器で
あって、測定抵抗（Ｒ1 ，Ｒ2 ，Ｒ3 ）は関連する整流
器段（３１、３２、３３）に物理的に一体化され、測定
抵抗（Ｒ1 ，Ｒ2 ，Ｒ3 ）は測定抵抗配列（８）を接地
電位及び交流電圧を有する高電圧発生器の部分（Ｃ
４．．．Ｃ９，１，２，３）から遮蔽するために直流電
位を有する導電性遮蔽（１１、１２、１３）により囲繞
され、遮蔽（１１、１２、１３）は関連する整流器段
（３１、３２、３３）の直流電位を有することを特徴と
する高電圧発生器。 - 【請求項２】 測定抵抗（Ｒ1 ，Ｒ2 ，Ｒ3 ）は関連す
る整流器段（３１、３２、３３）からある距離を置いて
配置され、遮蔽として働く薄い金属シート（１１、１
２、１３）により囲繞されることを特徴とする請求項１
記載の高電圧発生器。 - 【請求項３】 整流回路（９）はコンデンサ
（Ｃ1 ．．．Ｃ9 ）及びダイオード（Ｄ41，Ｄ42，
Ｄ51，．．．，Ｄ92）から構成される高電圧カスケード
であることを特徴とする請求項１又は２記載の高電圧発
生器。 - 【請求項４】 遮蔽（１１、１２、１３）は測定抵抗
（Ｒ1 ，Ｒ2 ，Ｒ3 ）を交流電圧を有する高電圧カスケ
ードのコンデンサ（Ｃ4 ．．．Ｃ9 ）から側面で遮蔽す
るＵ字型のシートからなることを特徴とする請求項３記
載の高電圧発生器。 - 【請求項５】 整流器回路（９）と測定抵抗配置（８）
は単一のプリント回路基板上に設けられることを特徴と
する請求項１乃至４のうちのいずれか１項記載の高電圧
発生器。 - 【請求項６】 請求項１乃至５のうちのいずれか１項記
載の高電圧発生器を含むＸ線発生器。 - 【請求項７】 請求項６記載のＸ線発生器を含むＸ線シ
ステム。 - 【請求項８】 特に画像管又はＸ線管である管球を動作
させる請求項１乃至５のうちのいずれか１項記載の高電
圧発生器の使用。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE19536653A DE19536653A1 (de) | 1995-09-30 | 1995-09-30 | Hochspannungsgenerator |
| DE19536653:0 | 1995-09-30 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09131063A true JPH09131063A (ja) | 1997-05-16 |
Family
ID=7773802
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8257040A Withdrawn JPH09131063A (ja) | 1995-09-30 | 1996-09-27 | 高電圧発生器 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5818706A (ja) |
| EP (1) | EP0766373A1 (ja) |
| JP (1) | JPH09131063A (ja) |
| DE (1) | DE19536653A1 (ja) |
Families Citing this family (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE19717087A1 (de) * | 1997-04-23 | 1998-10-29 | Asea Brown Boveri | Niederinduktiver Stromrichter |
| DE10048146A1 (de) * | 2000-09-28 | 2002-04-11 | Philips Corp Intellectual Pty | Spannungsversorgung für Röntgengenerator |
| FR2858887B1 (fr) * | 2003-08-14 | 2005-09-23 | Ge Med Sys Global Tech Co Llc | Dispositif de production d'une haute tension comportant une resistance interne de mesure |
| US7498696B2 (en) * | 2004-11-20 | 2009-03-03 | General Electric Company | Voltage grading and shielding method for a high voltage component in a PCB and an X-ray apparatus |
| US10050550B2 (en) * | 2013-07-11 | 2018-08-14 | Hitachi, Ltd. | High-voltage generation device and X-ray generation device |
Family Cites Families (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE3304316A1 (de) * | 1983-02-09 | 1984-08-09 | Philips Patentverwaltung Gmbh, 2000 Hamburg | Mess- und daempfungswiderstandsanordnung fuer ein hochspannungsgeraet |
| JPS6185070A (ja) * | 1984-09-28 | 1986-04-30 | Toshiba Corp | 多出力倍電圧整流回路 |
| JPH02156163A (ja) * | 1988-12-07 | 1990-06-15 | Fuji Electric Co Ltd | 高電圧整流器の出力電圧検出装置 |
| EP0383962A1 (de) * | 1989-02-20 | 1990-08-29 | Hauzer Holding B.V. | Hochspannungsgleichrichter und zugeordnete Steuerelektronik |
| DD282531A5 (de) * | 1989-04-19 | 1990-09-12 | Transform Roentgen Matern Veb | Anordnung zur hochspannungserzeugung |
| US5335161A (en) * | 1992-03-30 | 1994-08-02 | Lorad Corporation | High voltage multipliers and filament transformers for portable X-ray inspection units |
| DE4211944A1 (de) * | 1992-04-09 | 1993-10-14 | Philips Patentverwaltung | Hochspannungseinheit mit einer Meßteiler-Widerstandsanordnung |
| FR2724786B1 (fr) * | 1994-09-16 | 1996-12-20 | Sames Sa | Procede et dispositif d'elaboration de haute tension, notamment pour l'application electrostatique de produit de revetement |
-
1995
- 1995-09-30 DE DE19536653A patent/DE19536653A1/de not_active Withdrawn
-
1996
- 1996-09-24 EP EP96202672A patent/EP0766373A1/de not_active Ceased
- 1996-09-27 JP JP8257040A patent/JPH09131063A/ja not_active Withdrawn
- 1996-09-30 US US08/722,648 patent/US5818706A/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE19536653A1 (de) | 1997-04-03 |
| EP0766373A1 (de) | 1997-04-02 |
| US5818706A (en) | 1998-10-06 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A761 | Written withdrawal of application |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A761 Effective date: 20040910 |