JPH0912548A - アモルファス分子材料 - Google Patents

アモルファス分子材料

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JPH0912548A
JPH0912548A JP7159569A JP15956995A JPH0912548A JP H0912548 A JPH0912548 A JP H0912548A JP 7159569 A JP7159569 A JP 7159569A JP 15956995 A JP15956995 A JP 15956995A JP H0912548 A JPH0912548 A JP H0912548A
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卓 上村
Yoshinobu Ueha
良信 上羽
Yasuhiko Shirota
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    • Y02E10/549Organic PV cells

Abstract

(57)【要約】 【目的】 熱的な安定性にすぐれたアモルファス薄膜等
を形成しうる、新規なアモルファス分子材料を提供す
る。 【構成】 一般式(1) で表されるアモルファス分子材料
である。なお式中、Aは式(A1)または(A2)で表される基
を示し、Xはカルコゲン原子を示す。Φはπ電子共役系
を有するn価の芳香族基を示し、nは3以上の整数を示
す。 【化1】

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、新規なアモルファス
分子材料に関するものである。
【0002】
【従来の技術】たとえば有機光導電体や有機エレクトロ
ルミネッセンス素子等の電子デバイスを構成する、電荷
輸送材料等の機能性の材料としは、種々の有機化合物が
使用されているが、中でも、真空蒸着等によってアモル
ファスの薄膜を形成しうるものが、アモルファス分子材
料として、上記電子デバイスにおいて好適に使用されて
いる。
【0003】つまり電子デバイスを構成する薄膜は、電
荷の注入効率を高め、電子デバイスの特性を向上するた
めに、上下に積層される他の薄膜との界面ができるだけ
平滑で、かつピンホールのない状態に仕上げられている
必要があり、そのために、薄膜の平滑性を妨げ、またピ
ンホールの原因ともなる結晶のない、アモルファスの薄
膜を形成しうるアモルファス分子材料が、好適に使用さ
れるのである。
【0004】かかるアモルファス分子材料としては種々
の化合物があげられるが、とくに式(2) :
【0005】
【化3】
【0006】で表されるN,N′−ジフェニル−N,
N′−ビス(3−メチルフェニル)−〔1,1′−ビフ
ェニル〕−4,4′−ジアミン(以下「TPD」とい
う)は、10-3cm2 ・V-1・S-1に達する高いホール
移動度を有することから、ホール輸送用のアモルファス
分子材料として、電子デバイスに広く利用されている。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】ところが上記TPD
は、そのガラス転移温度Tg=50℃と低いために、電
子デバイスの駆動時の発熱等によって分子凝集を生じや
すい。このため、結晶化により界面の平滑性を損なって
電荷の注入効率が低下し、電子デバイスの特性を悪化さ
せるという問題を生じる。
【0008】そこで発明者らのうち城田は、まず式(3)
【0009】
【化4】
【0010】で表される、4,4′,4″−トリス〔N
−(3−メチルフェニル)−N−フェニルアミノ〕トリ
フェニルアミン(以下「MTDATA」)なるアモルフ
ァス分子材料を提案し、たとえばp型半導体として、シ
ョットキー接合等の電子デバイスへの応用の可能性を指
摘した(CHEMISTRY LETTERS, pp. 1145-1148, 1989)。
かかるMTDATAは、ガラス転移温度Tg=75℃と
高いために、TPDよりもアモルファスの熱的な安定性
にすぐれており、たとえば城田がAppl. Phys.Lett. , 6
5, 807-809,(1994)にて明らかとしたように、積層型の
有機エレクトロルミネッセンス素子において、TPDに
代えて使用するか、あるいはTPDと併用することによ
り、素子の寿命を改善できるものである。
【0011】しかし、電子デバイスの利用分野が拡がる
につれて、その熱的な安定性に対する要求もさらに高度
化する傾向にあり、それに対応すべく、アモルファスの
熱的な安定性により一層すぐれたアモルファス分子材料
が必要となりつつある。この発明の目的は、従来に比べ
てさらにアモルファスの熱的な安定性にすぐれた、新規
なアモルファス分子材料を提供することにある。
【0012】
【課題を解決するための手段および作用】上記課題を解
決するため、城田は、式(4) :
【0013】
【化5】
【0014】で表される4,4′,4″−トリ(Nフェ
ノチアジル)トリフェニルアミンなるアモルファス分子
材料〔ガラス転移温度Tg=141℃、Advanced Mater
ial, 3, 549-550 (1991)〕や、式(5) :
【0015】
【化6】
【0016】で表される、4,4′,4″−トリ(Nフ
ェノキサジニル)トリフェニルアミンなるアモルファス
分子材料〔ガラス転移温度Tg=145℃、Mol. Crys
t. Liq.Cryst. 1994, Vol. 242, pp. 127-133 〕、ある
いは式(6) :
【0017】
【化7】
【0018】で表される4,4′,4″−トリ(Nカル
バゾイル)トリフェニルアミンなるアモルファス分子材
料〔ガラス転移温度Tg=151℃、Advanced Materia
l, 6,677-678 (1994)〕等を提案したが、今般、さらに
熱的な安定性にすぐれたアモルファス分子材料を開発す
べく、他の発明者らとともに、さらに検討を行った。
【0019】その結果、上記3種のアモルファス分子材
料と同様に、中心にπ電子共役系を有する、3価以上の
n価の芳香族基Φを配し、その周囲に、式(A1)または(A
2):
【0020】
【化8】
【0021】(式中Xはカルコゲン原子を示す。)で表
される基Aをn個、>C=O基を介して結合した、一般
式(1) :
【0022】
【化9】
【0023】で表される構造を採用すると、そのガラス
転移温度をさらに向上できることを見出した。したがっ
てこの発明のアモルファス分子材料は、上記一般式(1)
で表されることを特徴とするものである。かかるこの発
明のアモルファス分子材料は、分子の大きさが大きく、
かつ分子の対称性が高い上、分子中に>C=O基を含む
ため剛直性にもすぐれており、ガラス転移温度のより一
層の向上が可能で、安定性にすぐれ、しかも緻密でピン
ホールのないアモルファス薄膜を形成できる。
【0024】またこの発明のアモルファス分子材料は、
中心の芳香族基Φと、その周囲の基Aと、両者を繋ぐ>
C=O基とによって、大きな拡がりをもったπ電子共役
系が構成されるため、それ自体、電荷輸送能にすぐれて
いるとともに、上記>C=O基の立体的な制約から、前
述した従来のアモルファス分子材料のような平面的な構
造でなく、平面からすこしずれた構造となるため、アモ
ルファス薄膜中において、従来の平面的な材料よりも分
子間の重なりが有効に作用して、分子間での電荷輸送能
が向上することも期待され、電荷輸送能の点でもすぐれ
たものである。
【0025】しかもこの発明のアモルファス分子材料
は、後述するように、酸クロライドとイミノとの脱塩化
水素反応という一般的な反応で、芳香族基Φとその周囲
の基Aとを繋ぐ>C=O基を形成するだけで合成できる
ため、従来のアモルファス分子材料に比べて容易に、高
純度のものを高収率で製造できるという利点もある。以
下にこの発明を説明する。
【0026】この発明のアモルファス分子材料は、前述
したように、一般式(1) :
【0027】
【化10】
【0028】〔式中、Aは下記式(A1)または(A2):
【0029】
【化11】
【0030】で表される基を示し、Xはカルコゲン原子
を示す。Φはπ電子共役系を有するn価の芳香族基を示
し、nは3以上の整数を示す。〕で表されるものであ
る。つまりこの発明のアモルファス分子材料は、具体的
には、一般式(1a):
【0031】
【化12】
【0032】(式中の符号は前記と同じである。)で表
されるものと、一般式(1b):
【0033】
【化13】
【0034】(式中の符号は前記と同じである。)で表
されるものとがある。前記一般式(1) 中のnは、3以上
であればとくに限定されないが、合成の容易さや、ある
いは分子構造の対称性等の点を考慮すると、3であるの
が好ましい。また基Φに相当するn価の芳香族基として
は、nが3以上の、π電子共役系を有する種々の芳香族
基が使用可能であるが、上記のようにnは3であるのが
好ましく、かかる3価の芳香族基としては、これに限定
されないがたとえば、式 (Φ1)または (Φ2):
【0035】
【化14】
【0036】
【化15】
【0037】のいずれかで表される基等があげられる。
さらに式(A1)で表される基中のXに相当するカルコゲン
原子としては、たとえばO,S,Se等があげられる。
この発明のアモルファス分子材料は、前述したように、
酸クロライドとイミノとの脱塩化水素反応によって、芳
香族基Φと基Aとを繋ぐ>C=O基を形成することで合
成される。
【0038】たとえば前記一般式(1a)で表されるアモル
ファス分子材料は、下記反応工程式に示すように、芳香
族基Φの酸クロライド化物(iii) と、一般式(ia)で表さ
れるイミノとを、窒素雰囲気下で、適当な溶媒中で加熱
して脱塩化水素反応させることで合成される。
【0039】
【化16】
【0040】同様に、一般式(1b)で表されるアモルファ
ス分子材料は、上記の酸クロライド化物(iii) と、一般
式(ib):
【0041】
【化17】
【0042】で表されるイミノとを、同様に脱塩化水素
反応させることで合成される。かかるアモルファス分子
材料の具体的化合物としては、これに限定されないが、
たとえば式(1-1) :
【0043】
【化18】
【0044】で表される化合物があげられる。上記この
発明のアモルファス分子材料は、前述したように、たと
えば薄膜にした際のアモルファスの安定性が高く、しか
も電荷輸送能にすぐれるため、たとえば有機光導電体や
有機エレクトロルミネッセンス素子、あるいはダイオー
ド、トランジスタ等の電子デバイスに、好適に使用する
ことができる。
【0045】
【実施例】以下にこの発明を、実施例に基づいて説明す
る。 実施例1 前記一般式(iii) の酸クロライドである、式(iiia):
【0046】
【化19】
【0047】で表されるベンゼントリカルボン酸トリク
ロライド2.66g(0.01モル)と、前記一般式(i
a)の化合物である、式(ia-1):
【0048】
【化20】
【0049】で表されるフェノチアジン5.98g
(0.03モル)とを、窒素雰囲気下で、100mlの脱
水ピリジン中に加えて攪拌しながら110℃で加熱還流
させた。そして45時間経過した時点で加熱を停止し、
減圧下でピリジンを留去した後、得られた固体をアセト
ンおよび水で交互に3回ずつ洗浄し、乾燥させた。つぎ
にこの固体を、ジクロロエタンに溶解し、n−ヘキサン
中で析出させる再沈処理を2回繰り返し行って精製し
た。収率は53.1%であった。
【0050】得られた生成物の融点は349℃、DSC
法によるガラス転移温度Tgは158℃であり、元素分
析の結果は下記のとおりであった。 元素分析結果 実測値:C=69.5%,H=3.56%,N=5.1
3% 理論値:C=71.7%,H=3.61%,N=5.5
8% また、生成物の赤外線吸収スペクトルを測定したとこ
ろ、図1に示すように、波数1669.5cm-1の位置
にC=O基に基づく吸収が認められ、波数1460.1
cm-1の位置にベンゼン環に基づく吸収が認められた。
【0051】さらに、生成物の 1H−NMRスペクトル
を、ジオキサン中、400MHz、室温の条件で測定し
た結果を図2に、ジオキサン中、400MHz、60℃
の条件で測定した結果を図3に、そして 1H−J2次元
スペクトルを、ジオキサン中、400MHz、60℃の
条件で測定した結果を図4に、それぞれ示す。以上の結
果より上記生成物は、前記式(1-1) で表されるアモルフ
ァス分子材料であることが確認された。
【0052】また、 1H−NMRスペクトルの測定結果
より、フェノチアジングループの8個のプロトンHが等
価でないことが確認され、このことから、分子中心のベ
ンゼン環が作る平面と、その周囲のフェノチアジングル
ープの平面とが同一平面でないこと、つまり式(1-1) で
表されるアモルファス分子材料は、平面からすこしずれ
た構造となっていることが確認された。
【0053】上記実施例1で合成された、式(1-1) で表
されるアモルファス分子材料を、ガラス基板の表面に真
空蒸着法にて蒸着して、膜厚500Åの薄膜を形成し
た。得られた薄膜を肉眼にて観察したところ、表面が平
滑でかつ透明な、良質の薄膜であることが確認できた。
つぎにこの薄膜の表面状態〔RMS(Å)〕を、原子間
力顕微鏡(AFM)にて、随時評価しつつ、大気中で、
100℃に加熱して18時間放置したところ、図5に−
○−○−で示すように、従来のアモルファス分子材料で
あるTPD(−□−□−で示す)やMTDATA(−△
−△で示す)からなる薄膜と比べて、表面状態に全く変
化はみられず、このことから、式(1-1) で表されるアモ
ルファス分子材料は、アモルファス状態の安定性に、き
わめてすぐれていることが確認された。
【0054】
【発明の効果】以上、詳述したようにこの発明のアモル
ファス分子材料は、たとえば薄膜にした際のアモルファ
スの安定性が高く、しかも電荷輸送能にすぐれている。
よってこの発明のアモルファス分子材料は、有機光導電
体や有機エレクトロルミネッセンス素子等の電子デバイ
スの素子材料としての利用可能性が高い。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の実施例1で合成したアモルファス分
子材料の、赤外線吸収スペクトルを示すグラフである。
【図2】上記実施例1のアモルファス分子材料の、ジオ
キサン中、室温における 1H−NMRスペクトルを示す
グラフである。
【図3】上記実施例1のアモルファス分子材料の、ジオ
キサン中、60℃における 1H−NMRスペクトルを示
すグラフである。
【図4】上記実施例1のアモルファス分子材料の、ジオ
キサン中、60℃における 1H−J2次元スペクトルを
示すグラフである。
【図5】上記実施例1のアモルファス分子材料、および
TPD,MTDATAにより形成された薄膜の、100
℃における表面状態〔RMS(Å)〕の時間経過を示す
グラフである。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 H01L 51/10 H05B 33/14 31/08 H01L 31/08 T H05B 33/14

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】一般式(1) : 【化1】 〔式中、Aは下記式(A1)または(A2): 【化2】 で表される基を示し、Xはカルコゲン原子を示す。Φは
    π電子共役系を有するn価の芳香族基を示し、nは3以
    上の整数を示す。〕で表されることを特徴とするアモル
    ファス分子材料。
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