JPH09117426A - 核スピントモグラフィ装置における画像シェーデングの防止方法 - Google Patents
核スピントモグラフィ装置における画像シェーデングの防止方法Info
- Publication number
- JPH09117426A JPH09117426A JP8184305A JP18430596A JPH09117426A JP H09117426 A JPH09117426 A JP H09117426A JP 8184305 A JP8184305 A JP 8184305A JP 18430596 A JP18430596 A JP 18430596A JP H09117426 A JPH09117426 A JP H09117426A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- magnetic field
- field gradient
- phase
- pulse
- read
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 26
- 238000003325 tomography Methods 0.000 title claims description 5
- 230000005291 magnetic effect Effects 0.000 claims abstract description 110
- 238000001208 nuclear magnetic resonance pulse sequence Methods 0.000 claims abstract description 17
- 230000005284 excitation Effects 0.000 claims abstract description 13
- 230000005415 magnetization Effects 0.000 claims abstract description 9
- 230000010354 integration Effects 0.000 claims 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 9
- 238000002592 echocardiography Methods 0.000 description 8
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 6
- 230000001066 destructive effect Effects 0.000 description 5
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 3
- 238000011161 development Methods 0.000 description 3
- 230000018109 developmental process Effects 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 238000012935 Averaging Methods 0.000 description 1
- 241001527944 Planes Species 0.000 description 1
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 1
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- 238000002595 magnetic resonance imaging Methods 0.000 description 1
- 238000012805 post-processing Methods 0.000 description 1
- 238000004904 shortening Methods 0.000 description 1
- 238000000264 spin echo pulse sequence Methods 0.000 description 1
- 230000001960 triggered effect Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R33/00—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
- G01R33/20—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables involving magnetic resonance
- G01R33/44—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables involving magnetic resonance using nuclear magnetic resonance [NMR]
- G01R33/48—NMR imaging systems
- G01R33/54—Signal processing systems, e.g. using pulse sequences ; Generation or control of pulse sequences; Operator console
- G01R33/56—Image enhancement or correction, e.g. subtraction or averaging techniques, e.g. improvement of signal-to-noise ratio and resolution
- G01R33/561—Image enhancement or correction, e.g. subtraction or averaging techniques, e.g. improvement of signal-to-noise ratio and resolution by reduction of the scanning time, i.e. fast acquiring systems, e.g. using echo-planar pulse sequences
- G01R33/5615—Echo train techniques involving acquiring plural, differently encoded, echo signals after one RF excitation, e.g. using gradient refocusing in echo planar imaging [EPI], RF refocusing in rapid acquisition with relaxation enhancement [RARE] or using both RF and gradient refocusing in gradient and spin echo imaging [GRASE]
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R33/00—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
- G01R33/20—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables involving magnetic resonance
- G01R33/44—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables involving magnetic resonance using nuclear magnetic resonance [NMR]
- G01R33/48—NMR imaging systems
- G01R33/54—Signal processing systems, e.g. using pulse sequences ; Generation or control of pulse sequences; Operator console
- G01R33/56—Image enhancement or correction, e.g. subtraction or averaging techniques, e.g. improvement of signal-to-noise ratio and resolution
- G01R33/561—Image enhancement or correction, e.g. subtraction or averaging techniques, e.g. improvement of signal-to-noise ratio and resolution by reduction of the scanning time, i.e. fast acquiring systems, e.g. using echo-planar pulse sequences
- G01R33/5615—Echo train techniques involving acquiring plural, differently encoded, echo signals after one RF excitation, e.g. using gradient refocusing in echo planar imaging [EPI], RF refocusing in rapid acquisition with relaxation enhancement [RARE] or using both RF and gradient refocusing in gradient and spin echo imaging [GRASE]
- G01R33/5617—Echo train techniques involving acquiring plural, differently encoded, echo signals after one RF excitation, e.g. using gradient refocusing in echo planar imaging [EPI], RF refocusing in rapid acquisition with relaxation enhancement [RARE] or using both RF and gradient refocusing in gradient and spin echo imaging [GRASE] using RF refocusing, e.g. RARE
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
- Radiology & Medical Imaging (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- High Energy & Nuclear Physics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Magnetic Resonance Imaging Apparatus (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 マルチエコーシーケンスで作動される核スピ
ントモグラフィ装置における画像シェーデングの防止方
法の改良、即ち、当該の画像における陰影（シェーディ
ング）が防止されるように当該方法の発展改良を達成す
ること。 【構成】 マルチエコーシーケンスで作動される核スピ
ントモグラフィ装置における画像シェーデングの防止方
法において、パルスシーケンスの期間中印加される磁場
勾配（Ｇ）は少なくとも１つの方向で次の条件を充足す
るようにしたこと、即ち、 【数１】 但し。ｎは自然数であるようにしたこと。
ントモグラフィ装置における画像シェーデングの防止方
法の改良、即ち、当該の画像における陰影（シェーディ
ング）が防止されるように当該方法の発展改良を達成す
ること。 【構成】 マルチエコーシーケンスで作動される核スピ
ントモグラフィ装置における画像シェーデングの防止方
法において、パルスシーケンスの期間中印加される磁場
勾配（Ｇ）は少なくとも１つの方向で次の条件を充足す
るようにしたこと、即ち、 【数１】 但し。ｎは自然数であるようにしたこと。
Description
【０００１】
【発明が属する分野】本発明は、マルチエコーシーケン
スで作動される核スピントモグラフィ装置における画像
シェーデングの防止方法であって、或１つの時点ｔｏに
て励起高周波パルスによりスピンの横磁化を被検対象物
内に生成し、前記励起高周波パルスにつづいて、時点ｔ
１，ｔ３，ｔ５・・・にて上記励起高周波パルスには、
横磁化をリフェーズする少なくとも２つのリフォーカシ
ング高周波パルスを後続継起させ、そして時点ｔ２，ｔ
４，ｔ６・・・にて読出インターバルを後続継起させる
ようにした当該方法に関する。
スで作動される核スピントモグラフィ装置における画像
シェーデングの防止方法であって、或１つの時点ｔｏに
て励起高周波パルスによりスピンの横磁化を被検対象物
内に生成し、前記励起高周波パルスにつづいて、時点ｔ
１，ｔ３，ｔ５・・・にて上記励起高周波パルスには、
横磁化をリフェーズする少なくとも２つのリフォーカシ
ング高周波パルスを後続継起させ、そして時点ｔ２，ｔ
４，ｔ６・・・にて読出インターバルを後続継起させる
ようにした当該方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】マルチエコーシーケンスとはここでは下
記の特徴点を備えるすべての手法を称する。
記の特徴点を備えるすべての手法を称する。
【０００３】−第１の高周波パルス（励起高周波パル
ス）により横磁化が生成される −少なくとも２つのさらなる高周波パルス（高周波リフ
ォーカシングパルス） （これらは高周波励起パルスにつづく）によっては当該
の横磁場がリフォーカシングされ、もって、第１パルス
によりトリガされる測定可能なＭＲ信号が生ぜしめられ
る。それらのＭＲ信号は例えば同じ要領で位相エンコー
ド（化）され得、それにより（その結果）、各共鳴信号
の緩和を観測し得、又は平均化によりＳ／Ｎ比を改善し
得る、最新適用例において比較的慣用的で、通用してい
るのは勿論励起高周波パルスの後生ぜしめられるＭＲー
信号の種々の異なる位相エンコードである。それによ
り、１つのＭＲー画像の再構成のためのデータ収集が一
層迅速になる。その種の手法はターボスピンエコー法と
称される。更に短縮される測定時間は次のようにすれば
可能である、即ち各リフォーカシング高周波パルスの後
毎に更に読出磁場勾配が多重に反転され、以て、そのつ
ど複数の信号が得られるようにするのである。その種の
パルスシーケンス（これは例えば米国特許第５，２７
０，６５４号明細書に記載されている）は磁場勾配スピ
ンエコーと称される。
ス）により横磁化が生成される −少なくとも２つのさらなる高周波パルス（高周波リフ
ォーカシングパルス） （これらは高周波励起パルスにつづく）によっては当該
の横磁場がリフォーカシングされ、もって、第１パルス
によりトリガされる測定可能なＭＲ信号が生ぜしめられ
る。それらのＭＲ信号は例えば同じ要領で位相エンコー
ド（化）され得、それにより（その結果）、各共鳴信号
の緩和を観測し得、又は平均化によりＳ／Ｎ比を改善し
得る、最新適用例において比較的慣用的で、通用してい
るのは勿論励起高周波パルスの後生ぜしめられるＭＲー
信号の種々の異なる位相エンコードである。それによ
り、１つのＭＲー画像の再構成のためのデータ収集が一
層迅速になる。その種の手法はターボスピンエコー法と
称される。更に短縮される測定時間は次のようにすれば
可能である、即ち各リフォーカシング高周波パルスの後
毎に更に読出磁場勾配が多重に反転され、以て、そのつ
ど複数の信号が得られるようにするのである。その種の
パルスシーケンス（これは例えば米国特許第５，２７
０，６５４号明細書に記載されている）は磁場勾配スピ
ンエコーと称される。
【０００４】基本磁場において、それ自体は、ＭＲ造影
に必要とされるような印加される直線的磁場勾配それ自
体は、分離的には生ぜしめられ得ないことは公知であ
る。寧ろ、印加される磁場勾配はマクスウェルの方程式
に基づき常に横断方向磁場勾配成分を伴う。この問題は
一連の文献中に詳述されている。
に必要とされるような印加される直線的磁場勾配それ自
体は、分離的には生ぜしめられ得ないことは公知であ
る。寧ろ、印加される磁場勾配はマクスウェルの方程式
に基づき常に横断方向磁場勾配成分を伴う。この問題は
一連の文献中に詳述されている。
【０００５】Ｄ.Ｇ. Ｎｏｒｒｉｓ “Ｐｈａｓｅ Ｅ
ｒｒｏｒｓ ｉｎ ＮＭＲ Ｉｍａｇｅｓ”， ＳＭＲ
Ｍ Ａｂｓｔｒａｃｔｓ １９８５， 第１０３７〜１
０３８頁によっては、上記の不都合な磁場勾配成分に基
づく位相ひずみ（歪み）の問題に就いて従来のスピンワ
ープ技術と関連して、説明されている。上記問題の解決
のため１つのバイポーラパルスを１８０°高周波パルス
により分離された２つの別個のモノポーラ（単極性）の
パルスに置換することが提案されている。
ｒｒｏｒｓ ｉｎ ＮＭＲ Ｉｍａｇｅｓ”， ＳＭＲ
Ｍ Ａｂｓｔｒａｃｔｓ １９８５， 第１０３７〜１
０３８頁によっては、上記の不都合な磁場勾配成分に基
づく位相ひずみ（歪み）の問題に就いて従来のスピンワ
ープ技術と関連して、説明されている。上記問題の解決
のため１つのバイポーラパルスを１８０°高周波パルス
により分離された２つの別個のモノポーラ（単極性）の
パルスに置換することが提案されている。
【０００６】上記の問題は専ら、エコープラナーイメー
ジング（ＥＰＩ）と関連した文献中で詳述されている。
このことは次のことに基因する、即ち磁場勾配が基本磁
場に対比して大であればあるほど、不都合な効果は益々
障害的になるということに基因する。但しＥＰＩ法の場
合、殊に短く、以て、高い磁場勾配が必要である。ここ
において、次の解決手段が提案されている。
ジング（ＥＰＩ）と関連した文献中で詳述されている。
このことは次のことに基因する、即ち磁場勾配が基本磁
場に対比して大であればあるほど、不都合な効果は益々
障害的になるということに基因する。但しＥＰＩ法の場
合、殊に短く、以て、高い磁場勾配が必要である。ここ
において、次の解決手段が提案されている。
【０００７】Ｒ. Ｃｏｘｏｎ 及び Ｐ. Ｍａｎｓｆ
ｉｅｌｄ “ＥＰＩ Ｓｐａｔｉａｌ Ｄｉｓｔｏｒｔ
ｉｏｎ ｉｎ Ｎｏｎ Ｔｒａｎｓｖｅｒｓｅ ｐｌａ
ｎｅｓ”， ＳＭＲＭ Ａｂｓｔｒａｃｔｓ １９８
９， 第３６１頁においてなされている提案によれば、
不都合な磁場勾配成分により惹起される空間的ひずみを
取得されたデータセットに対する後処理により、又はシ
ム電流のダイナミックな調整により除去するというもの
である。
ｉｅｌｄ “ＥＰＩ Ｓｐａｔｉａｌ Ｄｉｓｔｏｒｔ
ｉｏｎ ｉｎ Ｎｏｎ Ｔｒａｎｓｖｅｒｓｅ ｐｌａ
ｎｅｓ”， ＳＭＲＭ Ａｂｓｔｒａｃｔｓ １９８
９， 第３６１頁においてなされている提案によれば、
不都合な磁場勾配成分により惹起される空間的ひずみを
取得されたデータセットに対する後処理により、又はシ
ム電流のダイナミックな調整により除去するというもの
である。
【０００８】Ｄ.Ｇ Ｎｏｒｒｉｓ 及び Ｊ. Ｈｕｔ
ｃｈｉｎｓｏｎ “Ｃｏｎｃｏｍｉｔａｎｔ Ｍａｇｎ
ｅｔｉｃ Ｆｉｅｌｄ Ｇｒａｄｉｅｎｔｓ ａｎｄ
Ｔｈｅｉｒ Ｅｆｆｅｃｔｓ ｏｎ Ｉｍａｇｉｎｇ
ａｔ Ｌｏｗ Ｍａｇｎｅｔｉｃ Ｆｉｅｌｄ Ｓｔｒ
ｅｎｇｔｈ” Ｍａｇｎｅｔｉｃ Ｒｅｓｏｎａｎｃｅ
Ｉｍａｇｉｎｇ， Ｖｏｌ ８，第３３〜３７頁 １
９９０によってはスピンエコーに対して次のことが提案
されている、即ちバイポーラパルス（これは例えば流れ
（フロー）のもとでリフォーカシングの際使用されるよ
うなものである）をユニポーラパルスで置換することが
提案されている。上記のユニポーラパルスは１８０°高
周波パルスにより分離されており、その結果、１つのバ
イポーラパルスとしての実効的働きを有する。
ｃｈｉｎｓｏｎ “Ｃｏｎｃｏｍｉｔａｎｔ Ｍａｇｎ
ｅｔｉｃ Ｆｉｅｌｄ Ｇｒａｄｉｅｎｔｓ ａｎｄ
Ｔｈｅｉｒ Ｅｆｆｅｃｔｓ ｏｎ Ｉｍａｇｉｎｇ
ａｔ Ｌｏｗ Ｍａｇｎｅｔｉｃ Ｆｉｅｌｄ Ｓｔｒ
ｅｎｇｔｈ” Ｍａｇｎｅｔｉｃ Ｒｅｓｏｎａｎｃｅ
Ｉｍａｇｉｎｇ， Ｖｏｌ ８，第３３〜３７頁 １
９９０によってはスピンエコーに対して次のことが提案
されている、即ちバイポーラパルス（これは例えば流れ
（フロー）のもとでリフォーカシングの際使用されるよ
うなものである）をユニポーラパルスで置換することが
提案されている。上記のユニポーラパルスは１８０°高
周波パルスにより分離されており、その結果、１つのバ
イポーラパルスとしての実効的働きを有する。
【０００９】Ｒ.Ｍ. Ｗｅｉｓｓｋｏｆｆ ｅｔ ａｌ
“Ｎｏｎａｘｉａｌ ＷｈｏｌｅーＢｏｄｙ Ｉｎｓ
ｔａｎｔ Ｉｍａｇｉｎｇ” ＭＲＭ ２９， 第７９
６〜８０３頁（１９９３） によってはＥＰＩパルスシ
ーケンスの場合位相誤差の低減のため１つの９０°パル
スと１つの１８０°との間にプリフェーズ磁場勾配が挿
入される。
“Ｎｏｎａｘｉａｌ ＷｈｏｌｅーＢｏｄｙ Ｉｎｓ
ｔａｎｔ Ｉｍａｇｉｎｇ” ＭＲＭ ２９， 第７９
６〜８０３頁（１９９３） によってはＥＰＩパルスシ
ーケンスの場合位相誤差の低減のため１つの９０°パル
スと１つの１８０°との間にプリフェーズ磁場勾配が挿
入される。
【００１０】但し、いずれの文献もマルチエコー造影に
論及していない。確認されたところによればマルチエコ
ーシーケンスの場合、画像中シェーディング（陰影）が
生じるのであり、殊に次のような場合に生じる、即ち、
勾配磁場強度が基本勾配（傾斜）磁場強度に比して大で
ある場合に生じる。要するに殊に問題が重大になるのは
わずかな基本勾配磁場強度および／又は強い磁場勾配の
場合である。
論及していない。確認されたところによればマルチエコ
ーシーケンスの場合、画像中シェーディング（陰影）が
生じるのであり、殊に次のような場合に生じる、即ち、
勾配磁場強度が基本勾配（傾斜）磁場強度に比して大で
ある場合に生じる。要するに殊に問題が重大になるのは
わずかな基本勾配磁場強度および／又は強い磁場勾配の
場合である。
【００１１】
【発明を解決すべき課題】従って、本発明の目的ないし
課題とするところは冒頭に述べた方法を次のように発展
改良することにある、即ち、当該の画像におけるシェー
ディング（陰影）、ないし、画像歪みが防止されるよう
に発展改良することにある。本発明の有利な発展形態は
引用請求項に示されている。
課題とするところは冒頭に述べた方法を次のように発展
改良することにある、即ち、当該の画像におけるシェー
ディング（陰影）、ないし、画像歪みが防止されるよう
に発展改良することにある。本発明の有利な発展形態は
引用請求項に示されている。
【００１２】
【課題を解決するための手段】上記課題は請求項１の構
成要件により解決される。本発明の有利な発展形態は引
用請求項に示されている。
成要件により解決される。本発明の有利な発展形態は引
用請求項に示されている。
【００１３】
【実施例】次に本発明を実施例に即ち図１〜図８に従っ
て詳述する。
て詳述する。
【００１４】問題点の説明の都合上先ず、磁場勾配印加
のもとでの横（断方向）（ｔｒａｎｓｖｅｒｓｅ）磁場
成分の発生に就いて説明する。以降の考察、説明におい
て次のことを基礎としている、すなわち、デカルト座標
系をＺー軸が主磁場の方向に位置するように選定するの
である。磁場成分Ｂｘ，Ｂｙ，Ｂｚを有する磁場勾配Ｇ
は基本磁場Ｂｏと関連して、点Ｘ，Ｙ，Ｚにおいて次の
ような磁場Ｂを生じさせる。
のもとでの横（断方向）（ｔｒａｎｓｖｅｒｓｅ）磁場
成分の発生に就いて説明する。以降の考察、説明におい
て次のことを基礎としている、すなわち、デカルト座標
系をＺー軸が主磁場の方向に位置するように選定するの
である。磁場成分Ｂｘ，Ｂｙ，Ｂｚを有する磁場勾配Ｇ
は基本磁場Ｂｏと関連して、点Ｘ，Ｙ，Ｚにおいて次の
ような磁場Ｂを生じさせる。
【００１５】
【数２】
【００１６】ここにおいて
【００１７】
【数３】
【００１８】はそれぞれの方向における単位ベクトルで
ある。ＭＲ造影に対してはＢの絶対値が関与する。
ある。ＭＲ造影に対してはＢの絶対値が関与する。
【００１９】
【数４】
【００２０】小さな（傾斜）（勾配）磁場に対しては通
常、２つの最初の項Ｂｏ及びＢｚ（これは直線的磁場勾
配と関連して均一基本磁場を表す）のみが考慮される。
基本磁場に比して強い磁場勾配に対しては２次の項をも
はや無視できない。磁場強度ＧｘのＸー磁場勾配に対し
てはマックスウェルの方程式から次の関係式が得られ
る。
常、２つの最初の項Ｂｏ及びＢｚ（これは直線的磁場勾
配と関連して均一基本磁場を表す）のみが考慮される。
基本磁場に比して強い磁場勾配に対しては２次の項をも
はや無視できない。磁場強度ＧｘのＸー磁場勾配に対し
てはマックスウェルの方程式から次の関係式が得られ
る。
【００２１】
【数５】
【００２２】つまり、Ｘー磁場勾配はＺ方向で２乗の２
次関係性を生じさせる。磁場勾配Ｇｙのｙ磁場勾配に対
しては類似の結果が得られる。
次関係性を生じさせる。磁場勾配Ｇｙのｙ磁場勾配に対
しては類似の結果が得られる。
【００２３】
【数６】
【００２４】磁場強度ＧｚのＺー磁場勾配に対してはシ
リンダ（円筒）対称性の仮定下で、次の関係式が得られ
る。
リンダ（円筒）対称性の仮定下で、次の関係式が得られ
る。
【００２５】
【数７】
【００２６】つまり半径方向でのＺー磁場勾配は２乗の
項を生じさせる。
項を生じさせる。
【００２７】上記の不都合な２乗の項は磁場勾配コイル
設計（デザイン）に無関係に生じ、そして、殊に低磁場
系の場合及び高い磁場勾配の場合に障害的であることが
認められる。
設計（デザイン）に無関係に生じ、そして、殊に低磁場
系の場合及び高い磁場勾配の場合に障害的であることが
認められる。
【００２８】確認されたところによれば上記の２乗の項
によってはマルチエコーシーケンスにおいて干渉（イン
ターファレンス）が惹起され、上記の干渉（インターフ
ァレンス）は観測される。陰影（シェーディング）ない
し画像ひずみの原因となるものである。このことは以下
図１を用いて詳述する。
によってはマルチエコーシーケンスにおいて干渉（イン
ターファレンス）が惹起され、上記の干渉（インターフ
ァレンス）は観測される。陰影（シェーディング）ない
し画像ひずみの原因となるものである。このことは以下
図１を用いて詳述する。
【００２９】図１には従来のマルチエコーシーケンスが
示されており、ここで、所要の磁場勾配のうちスライス
（層）選択磁場勾配（ＧＳ）のみを考察する。
示されており、ここで、所要の磁場勾配のうちスライス
（層）選択磁場勾配（ＧＳ）のみを考察する。
【００３０】シーケンスのはじめにおいて、先ず、正の
磁場勾配ＧＳ１のもとで、高周波ー励起パルスＲＦ１が
照射される。ここにおいて核スピンは９０°変位（回
転）せしめられ、換言すれば横磁化が生ぜしめられる。
φ１はスライス（層）選択磁場勾配（グラジェント）の
（所望の）直線的項に基づく位相特性を示し、φ２は２
乗項に基づく位相特性を示す。明らかなように位相
φ１、φ２は、スライス（層）選択磁場勾配（ＧＳ１）
の１で示す２番目の半部において立上る。リフェージン
グのためには負の磁場勾配ＧＳ２が照射され、この磁場
勾配のもとで勿論、φ１ー項のリフォーカシングのみが
行われ、一方、φ２ー項は更に立ち上がり続ける。
磁場勾配ＧＳ１のもとで、高周波ー励起パルスＲＦ１が
照射される。ここにおいて核スピンは９０°変位（回
転）せしめられ、換言すれば横磁化が生ぜしめられる。
φ１はスライス（層）選択磁場勾配（グラジェント）の
（所望の）直線的項に基づく位相特性を示し、φ２は２
乗項に基づく位相特性を示す。明らかなように位相
φ１、φ２は、スライス（層）選択磁場勾配（ＧＳ１）
の１で示す２番目の半部において立上る。リフェージン
グのためには負の磁場勾配ＧＳ２が照射され、この磁場
勾配のもとで勿論、φ１ー項のリフォーカシングのみが
行われ、一方、φ２ー項は更に立ち上がり続ける。
【００３１】時点ｔ１ではスピンに対してリフォーカシ
ング高周波パルスＲＦ２が照射され、ここで、スライス
（層）選択磁場勾配Ｇｓ３の作用下で照射される。ここ
で考慮しなければならないことには当該パルスは非理想
的な１８０°回転角度でないことに基づき、存在する横
磁化を反転するのみならず、ｓｔｉｍｕｌａｔｅｄｅｃ
ｈｏの発生を開始することである。ｓｔｉｍｕｌａｔｅ
ｄ ｅｃｈｏ路における位相は図１中点線で示す。１次
のエコー線路において、項φ１に関しても、又、項φ２
に関しても位相はスライス（層）選択磁場勾配Ｇs3の、
３で示す第１の半部において立ち上がり、反転される。
ｓｔｉｍｕｌａｔｅｄ ｅｃｈｏ路においては両項に対
する位相位置（関係）φ１、φ２はそのままである。
ング高周波パルスＲＦ２が照射され、ここで、スライス
（層）選択磁場勾配Ｇｓ３の作用下で照射される。ここ
で考慮しなければならないことには当該パルスは非理想
的な１８０°回転角度でないことに基づき、存在する横
磁化を反転するのみならず、ｓｔｉｍｕｌａｔｅｄｅｃ
ｈｏの発生を開始することである。ｓｔｉｍｕｌａｔｅ
ｄ ｅｃｈｏ路における位相は図１中点線で示す。１次
のエコー線路において、項φ１に関しても、又、項φ２
に関しても位相はスライス（層）選択磁場勾配Ｇs3の、
３で示す第１の半部において立ち上がり、反転される。
ｓｔｉｍｕｌａｔｅｄ ｅｃｈｏ路においては両項に対
する位相位置（関係）φ１、φ２はそのままである。
【００３２】時点Ｔ２ではスピンエコー信号Ｓ１が生
じ、ここで、全位相φ（Ｓ１）を有する純然たる１次エ
コーとして生じる。
じ、ここで、全位相φ（Ｓ１）を有する純然たる１次エ
コーとして生じる。
【００３３】
【数８】
【００３４】時点ｔ３ではスライス（層）選択磁場勾配
ＧＳ４の作用下でさらなるリフォーカシング高周波パル
スが後続継起する。ここで、位相位置（関係）は１次エ
コー路においてのみならず、 ｓｔｉｍｕｌａｔｅｄ
ｅｃｈｏ路においても反転され、ここで、直線的な磁場
勾配項に関しても、２乗項に関しても反転される。以
て、時点ｔ４にて第２スピンエコーＳ２が生じる。
ＧＳ４の作用下でさらなるリフォーカシング高周波パル
スが後続継起する。ここで、位相位置（関係）は１次エ
コー路においてのみならず、 ｓｔｉｍｕｌａｔｅｄ
ｅｃｈｏ路においても反転され、ここで、直線的な磁場
勾配項に関しても、２乗項に関しても反転される。以
て、時点ｔ４にて第２スピンエコーＳ２が生じる。
【００３５】上記の第２のスピンエコーＳ２及びすべて
の後続するスピンエコーは種々の位相位置（関係）を有
する１次エコー及びｓｔｉｍｕｌａｔｅｄ ｅｃｈｏの
重畳により表される。上付“ｐ”で表される１次成分に
対する位相位置は次の通りである。
の後続するスピンエコーは種々の位相位置（関係）を有
する１次エコー及びｓｔｉｍｕｌａｔｅｄ ｅｃｈｏの
重畳により表される。上付“ｐ”で表される１次成分に
対する位相位置は次の通りである。
【００３６】
【数９】
【００３７】上付の“ｓ”で表されるｓｔｉｍｕｌａｔ
ｅｄ成分の位相位置は次の通りである。
ｅｄ成分の位相位置は次の通りである。
【００３８】
【数１０】
【００３９】精確なエコー重畳のためには当該位相は同
じでなければならない。
じでなければならない。
【００４０】 φｓ（Ｓ２）＝φｐ（Ｓ２） （16） 直線的磁場勾配項に対して、当該条件は図１のφ１の特
性経過から明らかなように充足される；φ１ ｐーφ１ ｓ
＝０. 但し、式６，７，１２，による２次の項を考察すると、
当該条件は充足されない。それらの項によっては種々の
エコータイプ（型式）間で位置に依存する位相差が惹起
される。最も悪い場合には２つの重畳により消去が惹起
される（位相差がπに等しい場合）。
性経過から明らかなように充足される；φ１ ｐーφ１ ｓ
＝０. 但し、式６，７，１２，による２次の項を考察すると、
当該条件は充足されない。それらの項によっては種々の
エコータイプ（型式）間で位置に依存する位相差が惹起
される。最も悪い場合には２つの重畳により消去が惹起
される（位相差がπに等しい場合）。
【００４１】
【数１１】
【００４２】例えばＧｘがスライス（層）選択磁場勾配
である場合、式（６）からＢ（ｔ）が得られる。２次項
考察の際位相差 φ2 ｐーφ2 ｓ（図１）を次のように得
る。
である場合、式（６）からＢ（ｔ）が得られる。２次項
考察の際位相差 φ2 ｐーφ2 ｓ（図１）を次のように得
る。
【００４３】
【数１２】
【００４４】次の例では下記パラメータを仮定する。
【００４５】 図１の部分パルスのパルス持続時間＝２.４ms 磁場勾配｜Ｇｘ｜ ＝７.０mＴ／m ０.２Ｔの基準磁場強度を有する低磁場系に対してポジ
ション（位置）｜ｚ｜＝１０cmにて下記関係性が得られ
る。
ション（位置）｜ｚ｜＝１０cmにて下記関係性が得られ
る。
【００４６】
【数１３】
【００４７】ポジション（位置）｜ｚ｜＝１０cmにて１
次及びｓｔｉｍｕｌａｔｅｄ ｅｃｈｏ（エコー）の破
壊的干渉が強い信号損失を以て生じる。
次及びｓｔｉｍｕｌａｔｅｄ ｅｃｈｏ（エコー）の破
壊的干渉が強い信号損失を以て生じる。
【００４８】要するに２次の磁場勾配項を伴う干渉がマ
ルチエコーシーケンス（系列）の場合における画像シェ
ーディング（陰影）に対する原因をなすことが認識され
た。
ルチエコーシーケンス（系列）の場合における画像シェ
ーディング（陰影）に対する原因をなすことが認識され
た。
【００４９】時点ｔ４での破壊的干渉、要するにスピン
エコーＳ２に関して当該干渉は次のようにして防止され
得る、即ちそれぞれの磁場勾配Ｇに対して下記の条件を
維持充足するようにするのである。
エコーＳ２に関して当該干渉は次のようにして防止され
得る、即ちそれぞれの磁場勾配Ｇに対して下記の条件を
維持充足するようにするのである。
【００５０】
【数１４】
【００５１】上記条件はすべての磁場勾配方向に対して
成立つ、それというのは式６、７、１２から明らかなよ
うに、すべての空間方向でＧ2の同一の関係性が成立つ
からである。類似の条件はすべての後続するエコーＳ
２，Ｓ３，Ｓ４…Ｓｎに対して充足されなければなら
ず、それにより下記の一般的条件が得られる。
成立つ、それというのは式６、７、１２から明らかなよ
うに、すべての空間方向でＧ2の同一の関係性が成立つ
からである。類似の条件はすべての後続するエコーＳ
２，Ｓ３，Ｓ４…Ｓｎに対して充足されなければなら
ず、それにより下記の一般的条件が得られる。
【００５２】
【数１５】
【００５３】図２には、スライス（層）選択磁場勾配Ｇ
ｓに対して、式２１による条件が充足されるパルスシー
ケンスの実施例を示す。図１との相違点は部分パルス２
は図１におけると異なってスライス（層）選択磁場勾配
Ｇs1ないしそれの部分パルス１に続いているのではな
く、スライス（層）選択磁場勾配Ｇs3ないしそれの部分
パルス４に続くことである。更に,同じスライス（層）
選択パルス2が後続のパルスシーケンスＧｓの両側に対
称的に付加される。図２にて示す位相φ２の特性経過か
ら明らかなようにｓｔｉｍｕｌａｔｅｄ ｅｃｈｏ及び
１次のエコーのφ２ー項間の位相差φ2 ｐーφ2 ｓは０に
なり、その結果非破壊的干渉が生じる。
ｓに対して、式２１による条件が充足されるパルスシー
ケンスの実施例を示す。図１との相違点は部分パルス２
は図１におけると異なってスライス（層）選択磁場勾配
Ｇs1ないしそれの部分パルス１に続いているのではな
く、スライス（層）選択磁場勾配Ｇs3ないしそれの部分
パルス４に続くことである。更に,同じスライス（層）
選択パルス2が後続のパルスシーケンスＧｓの両側に対
称的に付加される。図２にて示す位相φ２の特性経過か
ら明らかなようにｓｔｉｍｕｌａｔｅｄ ｅｃｈｏ及び
１次のエコーのφ２ー項間の位相差φ2 ｐーφ2 ｓは０に
なり、その結果非破壊的干渉が生じる。
【００５４】これまでの考察は単にスライス（層）選択
磁場勾配（ＧＳ）にのみ係わるものである。それによっ
ては実際上最も強い干渉が惹起される。それというのは
読出磁場勾配及び位相エンコード磁場勾配が通常比較的
小さいからである。当該の磁場勾配に対してもパルスシ
ーケンス（系列）を次のように選定し得る、即ち、式
（２１）による条件が充足されるように選定し得る。
磁場勾配（ＧＳ）にのみ係わるものである。それによっ
ては実際上最も強い干渉が惹起される。それというのは
読出磁場勾配及び位相エンコード磁場勾配が通常比較的
小さいからである。当該の磁場勾配に対してもパルスシ
ーケンス（系列）を次のように選定し得る、即ち、式
（２１）による条件が充足されるように選定し得る。
【００５５】或１つの読出磁場勾配ＧＲに対する位相関
係を以降図３〜図６を用いて説明する。図３は従来通り
印加された読出磁場勾配ＧＲを示す。励起高周波パルス
ＲＦ１と第１のリフォーカシング高周波パルスＲＦ２と
の間に磁場勾配パルスＧＲ１が読出方向に印加され、上
記磁場勾配パルスは実施例ではスケーリングされた長さ
１と、スケーリングされた高さ３を有する。第１のスピ
ンエコーＳ１は後続するすべてのスピンエコーと同様に
スケーリングされた高さ１およびスピンエコーと同様に
スケーリングされた長さ２Ｘ３を有する読出磁場勾配Ｇ
Ｒのもとで読出される。直線的磁場勾配項に対する位相
位置（関係）特性経過から明らかなように１次エコーの
リフォーカシングによりスピンエコー信号が生じ、後続
のスピンエコーでは ｓｔｉｍｕｌａｔｅｄ ｅｃｈｏ
もリフォーカシングされる。２乗の磁場勾配項に関し
て、勿論位相の一致（整合性）は生じない。磁場勾配Ｇ
Ｒに対して仮定された値を式２１に代入すると、次のよ
うな関係式が得られる。
係を以降図３〜図６を用いて説明する。図３は従来通り
印加された読出磁場勾配ＧＲを示す。励起高周波パルス
ＲＦ１と第１のリフォーカシング高周波パルスＲＦ２と
の間に磁場勾配パルスＧＲ１が読出方向に印加され、上
記磁場勾配パルスは実施例ではスケーリングされた長さ
１と、スケーリングされた高さ３を有する。第１のスピ
ンエコーＳ１は後続するすべてのスピンエコーと同様に
スケーリングされた高さ１およびスピンエコーと同様に
スケーリングされた長さ２Ｘ３を有する読出磁場勾配Ｇ
Ｒのもとで読出される。直線的磁場勾配項に対する位相
位置（関係）特性経過から明らかなように１次エコーの
リフォーカシングによりスピンエコー信号が生じ、後続
のスピンエコーでは ｓｔｉｍｕｌａｔｅｄ ｅｃｈｏ
もリフォーカシングされる。２乗の磁場勾配項に関し
て、勿論位相の一致（整合性）は生じない。磁場勾配Ｇ
Ｒに対して仮定された値を式２１に代入すると、次のよ
うな関係式が得られる。
【００５６】
【数１６】
【００５７】要するに式（２１）は充足されない。エコ
ー信号Ｓ２の場合、位相差 φ2 ｐーφ2 ｓ が生じ、該位
相差によっては破壊的干渉が惹起され得る。
ー信号Ｓ２の場合、位相差 φ2 ｐーφ2 ｓ が生じ、該位
相差によっては破壊的干渉が惹起され得る。
【００５８】このことは例えば次のようにして防止され
得る、即ち図４に示すように第１の磁場勾配ＧＲ１を比
較的長くし、ここで、該第１の磁場勾配は実施例ではス
ケーリングされた高さ１及びスケーリング長さ３を有す
るようにするのである。直線的磁場勾配項φ１に関する
位相特性経過φ１は殆ど代わらない状態におかれ、そし
て、磁場勾配ＧＲのもとでの上昇急峻度はより小さなも
のになる。２乗の磁場勾配項に関しては直線的磁場勾配
に関するのと同じ位相回転のみが達成される。それによ
り、式２１による条件が充足される。
得る、即ち図４に示すように第１の磁場勾配ＧＲ１を比
較的長くし、ここで、該第１の磁場勾配は実施例ではス
ケーリングされた高さ１及びスケーリング長さ３を有す
るようにするのである。直線的磁場勾配項φ１に関する
位相特性経過φ１は殆ど代わらない状態におかれ、そし
て、磁場勾配ＧＲのもとでの上昇急峻度はより小さなも
のになる。２乗の磁場勾配項に関しては直線的磁場勾配
に関するのと同じ位相回転のみが達成される。それによ
り、式２１による条件が充足される。
【００５９】
【数１７】
【００６０】その結果図４に示すようにスピンエコーＳ
２の場合、後続するスピンエコーの場合におけるよう
に、１次エコーとｓｔｉｍｕｌａｔｅｄ ｅｃｈｏ（エ
コー）との位相差が生じないようになる。
２の場合、後続するスピンエコーの場合におけるよう
に、１次エコーとｓｔｉｍｕｌａｔｅｄ ｅｃｈｏ（エ
コー）との位相差が生じないようになる。
【００６１】φ2 ｐーφ2 ｓ＝０ 要するに両信号項の非破壊的重畳が行われる。
【００６２】図５には従来読出磁場勾配ＧＲに対する別
の実施例が示してある。この場合読出磁場勾配はそれぞ
れ所属のエコー時点に対して対称的であり、両側で負の
パルスを有する。実施例中では各読出磁場勾配の正の部
分は２Ｘ２のスケーリングされた長さと、スケーリング
された高さ１を有し、負のパルスはそれぞれ２のスケー
リングされた長さとー１のスケーリングされた高さを有
する。位相φ１の図示の様子から明らかように直線的磁
場勾配に由来する位相は１次的エコーに関しても、ｓｔ
ｉｍｕｌａｔｅｄ ｅｃｈｏ に関しても、精確にエコ
ー時点にてリフォーカシングする。２乗の磁場勾配項に
関して例えばスピンエコーＳ２の時点にて再び、１次エ
コー路とｓｔｉｍｕｌａｔｅｄ ｅｃｈｏ 路との間の
位相差φ2 ｐーφ2 ｓが生じる。式２１は充足されない、
それというのは次のような関係性が生じているからであ
る。
の実施例が示してある。この場合読出磁場勾配はそれぞ
れ所属のエコー時点に対して対称的であり、両側で負の
パルスを有する。実施例中では各読出磁場勾配の正の部
分は２Ｘ２のスケーリングされた長さと、スケーリング
された高さ１を有し、負のパルスはそれぞれ２のスケー
リングされた長さとー１のスケーリングされた高さを有
する。位相φ１の図示の様子から明らかように直線的磁
場勾配に由来する位相は１次的エコーに関しても、ｓｔ
ｉｍｕｌａｔｅｄ ｅｃｈｏ に関しても、精確にエコ
ー時点にてリフォーカシングする。２乗の磁場勾配項に
関して例えばスピンエコーＳ２の時点にて再び、１次エ
コー路とｓｔｉｍｕｌａｔｅｄ ｅｃｈｏ 路との間の
位相差φ2 ｐーφ2 ｓが生じる。式２１は充足されない、
それというのは次のような関係性が生じているからであ
る。
【００６３】
【数１８】
【００６４】よって、再び信号消去を伴う破壊的干渉を
来す。
来す。
【００６５】図６は当該のシーケンス（系列）におい
て、ｓｔｉｍｕｌａｔｅｄ ｅｃｈｏと１次エコーとの
間の位相差を防止し得る例を示す。図示の例では読出磁
場勾配ＧＲの正の部分は一定の振幅１のもとで長さ２Ｘ
３に延長され、これに対して負の部分パルスは、一定の
振幅−１のもとで長さ１に短縮される。励起高周波パル
スＲＦ１と第１リフォーカシングー高周波パルスＲＦ２
間にスケーリングされた長さ１とスケーリングされた高
さ２を有する正の磁場勾配パルスＧＲが挿入される。直
線的磁場勾配項に関して、第２のスピンエコーＳ２以降
は１次エコー経路及びｓｔｉｍｕｌａｔｅｄ ｅｃｈｏ
路が再び一致する。但し図５による従来シーケンスと異
なって、例えば第２のスピンエコーＳ２の場合式２１に
よる条件が充足される。
て、ｓｔｉｍｕｌａｔｅｄ ｅｃｈｏと１次エコーとの
間の位相差を防止し得る例を示す。図示の例では読出磁
場勾配ＧＲの正の部分は一定の振幅１のもとで長さ２Ｘ
３に延長され、これに対して負の部分パルスは、一定の
振幅−１のもとで長さ１に短縮される。励起高周波パル
スＲＦ１と第１リフォーカシングー高周波パルスＲＦ２
間にスケーリングされた長さ１とスケーリングされた高
さ２を有する正の磁場勾配パルスＧＲが挿入される。直
線的磁場勾配項に関して、第２のスピンエコーＳ２以降
は１次エコー経路及びｓｔｉｍｕｌａｔｅｄ ｅｃｈｏ
路が再び一致する。但し図５による従来シーケンスと異
なって、例えば第２のスピンエコーＳ２の場合式２１に
よる条件が充足される。
【００６６】
【数１９】
【００６７】以て下式が成立つ。
【００６８】φ2 ｐーφ2 ｓ＝０ 換言すれば１次エコー及びｓｔｉｍｕｌａｔｅｄ ｅｃ
ｈｏ は非破壊的に相互に重畳する。
ｈｏ は非破壊的に相互に重畳する。
【００６９】図７及び図８において位相エンコード磁場
勾配ＧＰの１例が示してある。ここで、各スピンエコー
Ｓ１，Ｓ２・・・は歩進的にシフトされた位相エンコー
ド磁場勾配で相異なって位相エンコードされる。歩進的
シフトは図７にて磁場勾配ＧＰにおける線により示され
ている。各スピンエコーＳ１，Ｓ２…後毎に位相エンコ
ードは同じ振幅であるが逆方向の磁場勾配により再びリ
セットされる。それぞれ１次エコー路および ｓｔｉｍ
ｕｌａｔｅｄ ｅｃｈｏ 路 に対する位相特性経過の考
察からも明らかになることは、従来のパルスシーケンス
によっては、位相エンコード方向にて２乗の磁場勾配項
に関して、１次エコーと ｓｔｉｍｕｌａｔｅｄ ｅｃ
ｈｏ との間の位相差が惹起され、以て、画像品質の問
題が生じ得るということである。
勾配ＧＰの１例が示してある。ここで、各スピンエコー
Ｓ１，Ｓ２・・・は歩進的にシフトされた位相エンコー
ド磁場勾配で相異なって位相エンコードされる。歩進的
シフトは図７にて磁場勾配ＧＰにおける線により示され
ている。各スピンエコーＳ１，Ｓ２…後毎に位相エンコ
ードは同じ振幅であるが逆方向の磁場勾配により再びリ
セットされる。それぞれ１次エコー路および ｓｔｉｍ
ｕｌａｔｅｄ ｅｃｈｏ 路 に対する位相特性経過の考
察からも明らかになることは、従来のパルスシーケンス
によっては、位相エンコード方向にて２乗の磁場勾配項
に関して、１次エコーと ｓｔｉｍｕｌａｔｅｄ ｅｃ
ｈｏ との間の位相差が惹起され、以て、画像品質の問
題が生じ得るということである。
【００７０】当該問題の解決のための１実施例を図８に
示す。ここで、励起高周波パルスＲＦ１とリフォーカシ
ング高周波パルスＲＦ２との間に１つのバイポーラ磁場
勾配が位相エンコード方向に挿入されている。更に各位
相エンコードパルスはスピンエコーの後に印加されるリ
フォーカシングパルスと同様にバイポーラである。その
種のパルスシーケンスによっては式２１の条件が充足さ
れ得、その結果２乗の磁場勾配項の場合にも１次エコー
路と ｓｔｉｍｕｌａｔｅｄ ｅｃｈｏ との間の位相
偏差は零になる。
示す。ここで、励起高周波パルスＲＦ１とリフォーカシ
ング高周波パルスＲＦ２との間に１つのバイポーラ磁場
勾配が位相エンコード方向に挿入されている。更に各位
相エンコードパルスはスピンエコーの後に印加されるリ
フォーカシングパルスと同様にバイポーラである。その
種のパルスシーケンスによっては式２１の条件が充足さ
れ得、その結果２乗の磁場勾配項の場合にも１次エコー
路と ｓｔｉｍｕｌａｔｅｄ ｅｃｈｏ との間の位相
偏差は零になる。
【００７１】強調すべきことには図示の磁場勾配は式２
１の条件を充足し、以て、破壊的干渉及びそれに伴う画
像シェーディングを防止し得る多数の手法のうちの幾つ
かのみを示すにすぎないことになる。同様に当該の手法
は図示のターボスピンエコーシーケンスに適用され得る
のみならず、既述のようにいずれの任意のマルチエコー
シーケンスにも適用し得ることである。
１の条件を充足し、以て、破壊的干渉及びそれに伴う画
像シェーディングを防止し得る多数の手法のうちの幾つ
かのみを示すにすぎないことになる。同様に当該の手法
は図示のターボスピンエコーシーケンスに適用され得る
のみならず、既述のようにいずれの任意のマルチエコー
シーケンスにも適用し得ることである。
【００７２】
【発明の効果】本発明により、マルチエコーシーケンス
で作動される核スピントモグラフィ装置における画像シ
ェーデングの防止方法の改良、即ち、当該の画像におけ
る陰影（シェーディング）が防止されるように当該方法
の発展改良を達成するという効果が得られる。
で作動される核スピントモグラフィ装置における画像シ
ェーデングの防止方法の改良、即ち、当該の画像におけ
る陰影（シェーディング）が防止されるように当該方法
の発展改良を達成するという効果が得られる。
【図１】問題点の説明のマルチパルスエコーシーケンス
（系列）を従来形式で印加されるスライス（層）選択磁
場勾配（ＧＳ）ＧＳ及び直線的及び２乗項に対する所属
の位相特性経過と共に示す問題点説明用概念図である。
（系列）を従来形式で印加されるスライス（層）選択磁
場勾配（ＧＳ）ＧＳ及び直線的及び２乗項に対する所属
の位相特性経過と共に示す問題点説明用概念図である。
【図２】本発明の１実施例として、マルチエコーシーケ
ンス（系列）をパルスシーケンスＧＳに対する変更され
たパルスパターンを備えた様子で示す特性図である。
ンス（系列）をパルスシーケンスＧＳに対する変更され
たパルスパターンを備えた様子で示す特性図である。
【図３】従来通り印加される読出磁場勾配に対するパル
スパターンを有するマルチエコーパルスシーケンス（系
列）を示す特性概念図である。
スパターンを有するマルチエコーパルスシーケンス（系
列）を示す特性概念図である。
【図４】本発明の第２実施例として読出磁場勾配に対す
るパターンを有するマルチエコーパルスシーケンスの特
性図である
るパターンを有するマルチエコーパルスシーケンスの特
性図である
【図５】読出磁場勾配ＧＲ従来通り作動印加されるパタ
ーンを有するマルチエコーパルスシーケンスの特性図で
ある
ーンを有するマルチエコーパルスシーケンスの特性図で
ある
【図６】本発明の第３実施例による読出磁場勾配ＧＲに
対するパターンを有するマルチエコーパルスシーケンス
の特性図である
対するパターンを有するマルチエコーパルスシーケンス
の特性図である
【図７】従来通り印加される読出磁場勾配ＧＰを有する
マルチエコーパルスシーケンス（系列）を示す特性図で
ある。
マルチエコーパルスシーケンス（系列）を示す特性図で
ある。
【図８】本発明の実施例による位相エンコード読出磁場
勾配ＧＰに対する作動印加されるパターンを有するマル
チエコーパルスシーケンスの特性図である
勾配ＧＰに対する作動印加されるパターンを有するマル
チエコーパルスシーケンスの特性図である
１ 部分パルス ２ 部分パルス ３ 部分パルス ４ 部分パルス Ｂ 磁場 Ｂｘ 磁場成分 Ｂｙｏ 磁場成分 Ｂｚｏ 磁場成分 Ｂｏ 基本磁場φ １ 位相φ ２ 位相 Ｓ１ スピンエコー Ｓ２ スピンエコー ＧＳ１ スライス（層）選択磁場勾配（ＧＳ） ＧＳ２ スライス（層）選択磁場勾配（ＧＳ）
Claims (6)
- 【請求項１】 マルチエコーシーケンスで作動される核
スピントモグラフィ装置における画像シェーデングの防
止方法であって、或1つの時点ｔｏにて励起高周波パル
ス（ＲＦ１）によりスピンの横磁化を被検対象物内に生
成し、前記励起高周波パルス（ＲＦ１）につづいて、時
点ｔ１，ｔ３，ｔ５・・・にて 、横磁化をリフェーズ
する少なくとも２つのリフォーカシング高周波パルス
（ＲＦ１，ＲＦ２，ＲＦ３，ＲＦ４・・・）を後続継起
させ、そして時点ｔ２，ｔ４，ｔ６・・・にて読出イン
ターバルを後続継起させるようにした当該方法におい
て、 パルスシーケンスの期間中印加される磁場勾配（Ｇ）は
少なくとも１つの方向で次の条件を充足するようにし、
即ち、 【数１】 但し、ｎは自然数であるようにしたことを特徴とする核
スピントモグラフィ装置における画像シェーデングの防
止方法 - 【請求項２】 磁場勾配に対する条件（１）がすべての
空間方向で充足、維持されるようにした請求項１記載の
方法。 - 【請求項３】 請求項１又は２記載の方法であって、す
べての高周波パルス（ＲＦ１，ＲＦ２，ＲＦ３，ＲＦ４
・・・）がスライス（層）選択磁場勾配（ＧＳ）の作
用下で照射されるようにした当該方法において、 スライス（層）選択磁場勾配（ＧＳ２）の後、第１のリ
フォーカシング高周波パルス（ＲＦ２）に対して1つの
磁場勾配（２）をスライス（層）選択方向で後続継起さ
せ、前記磁場勾配（２）の振幅が励起高周波パルス（Ｒ
Ｆ１）のスライス（層）選択磁場勾配（ＧＳ１）の振幅
に等しく、且つ、それの持続時間は半分の長さであり、
更に、各々のさらなるスライス（層）選択磁場勾配（Ｇ
Ｓ）にそれぞれ１つの同じ磁場勾配（２）を前置及び後
置させることを特徴とする方法。 - 【請求項４】 請求項１から３までのうち何れか１項記
載の方法であって、各核共鳴信号（Ｓ）が長さＴ及び振
幅Ａの読出磁場勾配（ＧＲ）のもとで読出され、そし
て、励起高周波パルス（ＲＦ１）と第１のリフォーカシ
ング高周波パルス（ＲＦ２）との間にプリフェーズパル
ス（ＧＲＶ）が読出方向に挿入されるようにした当該方
法において、 前記プリフェーズパルス（ＧＲＶ）は振幅Ａ及び長さＴ
／２を有することを特徴とする方法。 - 【請求項５】 請求項１から３までのうち何れか１項記
載の方法であって、各核共鳴信号（Ｓ）が長さＴ及び振
幅Ａの読出磁場勾配（ＧＲ）のもとで読出され、また、
各読出磁場勾配（ＧＲ）の前及び後にそれぞれ１つの逆
の読出磁場勾配（ＧＲ−）印加されるようにした当該方
法において、 前記の逆の読出磁場勾配（ＧＲ−）の振幅ー時間積分の
和が当該の読出磁場勾配（ＧＲ）の振幅ー時間積分より
小であり、更に、励起高周波パルス（ＲＦ１）と第１の
リフォーカシング高周波パルス（ＲＰ２）との間に１つ
のプリフェーズパルス（ＧＲＶ）が読出方向で挿入さ
れ、該プリフェーズパルスの振幅ー時間面積は、次のよ
うに選定されている、即ち磁場勾配（ＧＲ）に対する請
求項１の条件（１）が読出方向で充足されるようにした
ことを特徴とする方法。 - 【請求項６】 請求項１から５までのうち何れか１項
記載の方法であって、 各核共鳴信号（Ｓ）の前に核共
鳴信号毎に歩進的にシフトされる第１の位相エンコード
磁場勾配（ＧＰ１）を印加し、そして、各核共鳴信号
（Ｓ）後ごとに逆向きの第２の位相エンコード磁場勾配
（ＧＰ２）を同じ振幅ー時間積分を以て印加するように
した当該方法において、 ２つの位相エンコード磁場勾配（ＧＰ１，ＧＰ２）をバ
イポーラ磁場勾配として生成し、更に、励起高周波パル
ス（ＲＦ１）と第１のリフォーカシング高周波パルス
（ＲＰ２）との間に１つのバイポーラプリフェーズ磁場
勾配（ＧＰＶ）を挿入し、また、位相エンコード磁場勾
配（ＧＰ）及びバイポーラプリフェーズ磁場勾配（ＧＰ
１）を請求項１の条件（１）が充足されるように相互に
調整することを特徴とする方法。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE19520203.1 | 1995-06-01 | ||
| DE19520203A DE19520203C1 (de) | 1995-06-01 | 1995-06-01 | Verfahren zur Vermeidung von Bildabschattungen bei Kernspintomographiegeräten, die mit Multiechosequenzen betrieben werden |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09117426A true JPH09117426A (ja) | 1997-05-06 |
Family
ID=7763475
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8184305A Pending JPH09117426A (ja) | 1995-06-01 | 1996-06-03 | 核スピントモグラフィ装置における画像シェーデングの防止方法 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5623207A (ja) |
| JP (1) | JPH09117426A (ja) |
| DE (1) | DE19520203C1 (ja) |
Families Citing this family (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6008647A (en) * | 1997-02-11 | 1999-12-28 | General Electric Company | Method for reducing Maxwell term artifacts in fast spin echo MR images |
| US7068896B1 (en) | 2002-02-07 | 2006-06-27 | Northwestern University | Method and system for the controlled production of polarization mode dispersion |
| FR2838195B1 (fr) * | 2002-04-05 | 2005-03-18 | Ge Med Sys Global Tech Co Llc | Procede d'imagerie rapide par resonnance magnetique nucleaire |
| CN103221837A (zh) * | 2010-06-24 | 2013-07-24 | 雷蒙特亚特特拉维夫大学有限公司 | 利用多对双极梯度脉冲的磁共振分析 |
| DE102013206026B3 (de) * | 2013-04-05 | 2014-08-28 | Siemens Aktiengesellschaft | Optimierte Gradientenecho-Multiecho-Messsequenz |
| US10578696B2 (en) * | 2014-04-02 | 2020-03-03 | New York University | System, method and computer-accessible medium for spectroscopic localization using simultaneous acquisition of double spin and stimulated echoes |
| MX2018011524A (es) | 2016-03-22 | 2019-07-04 | Hyperfine Res Inc | Métodos y aparato para adaptar campos magnéticos. |
| EP3715896B1 (en) | 2019-03-27 | 2023-02-15 | Siemens Healthcare GmbH | Minimization of signal losses in multi-echo imaging |
| EP3748386A1 (en) | 2019-06-03 | 2020-12-09 | Siemens Healthcare GmbH | Minimization of effects of concomitant fields in multi echo magnetic resonance imaging |
Family Cites Families (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE3434161A1 (de) * | 1984-09-18 | 1986-03-27 | Bruker Medizintechnik Gmbh, 7512 Rheinstetten | Verfahren zum messen der magnetischen kernresonanz |
| DE4004184C2 (de) * | 1989-02-24 | 1994-08-11 | Siemens Ag | Verfahren zur Messung des räumlichen Magnetfeldverlaufs in einem Kernspin-Tomographen |
| DE4035410C2 (de) * | 1989-11-20 | 2000-03-16 | Siemens Ag | Pulssequenz nach dem Echoplanarverfahren |
| US5270654A (en) * | 1991-07-05 | 1993-12-14 | Feinberg David A | Ultra-fast multi-section MRI using gradient and spin echo (grase) imaging |
| US5493224A (en) * | 1992-03-03 | 1996-02-20 | Hitachi, Ltd. | Ultra high-speed magnetic resonance imaging method and apparatus |
| JPH0654817A (ja) * | 1992-04-24 | 1994-03-01 | Philips Electron Nv | 磁気共鳴画像方法及び装置 |
| US5281916A (en) * | 1992-07-29 | 1994-01-25 | General Electric Company | NMR angiography using fast spin echo pulse sequences |
-
1995
- 1995-06-01 DE DE19520203A patent/DE19520203C1/de not_active Expired - Lifetime
-
1996
- 1996-05-20 US US08/650,639 patent/US5623207A/en not_active Expired - Lifetime
- 1996-06-03 JP JP8184305A patent/JPH09117426A/ja active Pending
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE19520203C1 (de) | 1996-11-21 |
| US5623207A (en) | 1997-04-22 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US5647362A (en) | Correction of read-gradient polarity in EPI and grase MRI | |
| US5909119A (en) | Method and apparatus for providing separate fat and water MRI images in a single acquisition scan | |
| US6078176A (en) | Fast spin echo pulse sequence for diffusion weighted imaging | |
| US10288703B2 (en) | MRI method of hybrid acquisition in 3D TSE | |
| US7015696B2 (en) | Magnetic resonance imaging apparatus and magnetic resonance imaging method | |
| US5361028A (en) | Method and apparatus for high speed magnetic resonance imaging with improved image quality | |
| US5051699A (en) | Magnetic resonance imaging system | |
| US6310478B1 (en) | Magnetic reasonance tomography apparatus and method in the form of a pulse sequence for operating same | |
| JPH07163544A (ja) | Ｍｒｉシステムでのプレスキャン | |
| US10247798B2 (en) | Simultaneous multi-slice MRI measurement | |
| Thomas et al. | A quantitative method for fast diffusion imaging using magnetization‐prepared TurboFLASH | |
| US20040257078A1 (en) | Magnetic resonance imaging method and apparatus with spatial coding using readout segmentation | |
| JP2000262489A (ja) | Ｍｒｉシステムによる画像形成方法及びｍｒｉシステム | |
| US6265872B1 (en) | Diffusion detection by means of magnetic resonance | |
| US4616183A (en) | Method for reducing baseline error components in NMR signals | |
| US5160889A (en) | Magnetic resonance method and device for acquiring short echo time images | |
| US5581181A (en) | Grase MRI with read gradient polarity correction and T2 measurement | |
| JPH09117426A (ja) | 核スピントモグラフィ装置における画像シェーデングの防止方法 | |
| US5079504A (en) | Magnetic resonance imaging system | |
| US6285900B1 (en) | Method and device for generating a perfusion image of a body portion using magnetic resonance imaging | |
| US5726569A (en) | Method and apparatus for acquiring image data in a nuclear magnetic resonance tomography system | |
| US4920314A (en) | Magnetic resonance imaging system | |
| JP7209007B2 (ja) | スパイラル獲得によるｍｒ像形成 | |
| US4754223A (en) | Method for the phase correction of MR inversion recovery images | |
| JPH0373300B2 (ja) |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20041019 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20041022 |
|
| A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20050119 |
|
| A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20050124 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20050422 |
|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20050623 |