JPH09115931A - Diebonder - Google Patents

Diebonder

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JPH09115931A
JPH09115931A JP27112695A JP27112695A JPH09115931A JP H09115931 A JPH09115931 A JP H09115931A JP 27112695 A JP27112695 A JP 27112695A JP 27112695 A JP27112695 A JP 27112695A JP H09115931 A JPH09115931 A JP H09115931A
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JP
Japan
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chip
collet
tray
chips
die bonder
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Hitoshi Ozaki
仁志 尾崎
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Canon Machinery Inc
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Nichiden Machinery Ltd
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To reduce damage for chips as little as possible and to easily realize minimizing of installing space and making chips transfer in higher speed. SOLUTION: A diebonder picks up chips 14 contained in many recess parts 14 formed in a tray 12 with X-Y mobility by a collet 17 clamping from a surface and the chips 14 are mounted at a predetermined mounting position after posture of these chips 14 is corrected. In the step an image recognizing means 19 in which rear of the chips is shot and recognized as an image by an optical system 18 under the condition of being clamped by the collet 17 at a pausing position R on the way of transfer between a picking up position P of the chips 14 by the collet 14 and a mounting position Q and a controlling means 21 in which posture of the chip 14 is corrected by the collet 17 being finely adjusted in the direction of XY θfrom data of the image recognition by an adjusting mechanism 20.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明はダイボンダに関し、
詳しくは、半導体装置の製造などに使用され、トレイ内
に収容された多数のチップをコレットにより表面吸着し
てピックアップし、そのチップの姿勢修正後にマウント
するダイボンダに関する。
TECHNICAL FIELD The present invention relates to a die bonder,
More specifically, the present invention relates to a die bonder used for manufacturing semiconductor devices and the like, in which a large number of chips housed in a tray are surface-adsorbed by a collet to be picked up and mounted after the attitude of the chips is adjusted.

【0002】[0002]

【従来の技術】例えば、半導体装置の製造では、半導体
ウェーハから一括して形成された多数の半導体ペレット
(以下、チップと称す)を整列治具としてのトレイに一
旦収容し、そのトレイ内からチップを順次取り出した上
で、リードフレームの所定の搭載位置にマウントするダ
イボンダが使用されている(例えば、特開昭57−53
950号公報参照)。
2. Description of the Related Art For example, in the manufacture of a semiconductor device, a large number of semiconductor pellets (hereinafter, referred to as chips) collectively formed from a semiconductor wafer are once housed in a tray as an alignment jig, and the chips are put in the tray. A die bonder is used to mount the lead frame on a lead frame at a predetermined mounting position (for example, JP-A-57-53).
950).

【0003】この種のダイボンダには、例えば、図6及
び図7に示すような構成を有するものがある。即ち、X
Yテーブル1上に後述のトレイ2を定置してXY方向移
動可能に配設する。トレイ2は、多数の凹部3を所定の
配列関係で形成した整列治具であり、各凹部3に半導体
ウェーハから分割されたチップ4が前工程で収容されて
いる。一方、このトレイ2から離隔した位置に搬送レー
ル5が配設されており、その搬送レール5上でリードフ
レーム6が図中矢印で示す方向に定ピッチで間欠移送さ
れる。
Some die bonders of this type have a structure as shown in FIGS. 6 and 7, for example. That is, X
A tray 2 to be described later is fixed on the Y table 1 and arranged so as to be movable in the XY directions. The tray 2 is an alignment jig in which a large number of recesses 3 are formed in a predetermined arrangement relationship, and the chips 4 divided from the semiconductor wafer are housed in each recess 3 in the previous step. On the other hand, a transport rail 5 is arranged at a position separated from the tray 2, and the lead frame 6 is intermittently transported on the transport rail 5 in a direction indicated by an arrow in the figure at a constant pitch.

【0004】前記トレイ2とリードフレーム6との間に
アライメントステージ7が配置され、このアライメント
ステージ7でトレイ2から取り出されたチップ4を姿勢
修正し、その姿勢修正したチップ4をアライメントステ
ージ7からリードフレーム6にマウントしている。この
アライメントステージ7は、ステージ上に載置されたチ
ップ4を4方向又は2方向から位置規制する爪8を有す
る。
An alignment stage 7 is arranged between the tray 2 and the lead frame 6, the attitude of the chip 4 taken out of the tray 2 is corrected by the alignment stage 7, and the attitude-corrected chip 4 is moved from the alignment stage 7. It is mounted on the lead frame 6. The alignment stage 7 has a claw 8 that positions the chip 4 placed on the stage in four or two directions.

【0005】トレイ2からアライメントステージ7まで
のチップ移送、及びアライメントステージ7からリード
フレーム6までのチップ移送は、コレット9a,9bと
称される専用治具を使用することにより行なわれる。
The chip transfer from the tray 2 to the alignment stage 7 and the chip transfer from the alignment stage 7 to the lead frame 6 are performed by using dedicated jigs called collets 9a and 9b.

【0006】このコレット9a,9bは、ノズル先端に
吸引穴を有し、その吸引穴からの真空引きによりチップ
4を表面吸着するものである。トレイ2からアライメン
トステージ7までのチップ移送は、その両者間で上下動
及び水平動自在に配置された第1コレット9aが、ま
た、アライメントステージ7からリードフレーム6まで
のチップ移送は、その両者間で上下動及び水平動自在に
配置された第2コレット9bがそれぞれ連動しながら行
なう。
Each of the collets 9a and 9b has a suction hole at the tip of the nozzle, and the chip 4 is surface-sucked by drawing a vacuum from the suction hole. The chip transfer from the tray 2 to the alignment stage 7 is performed by the first collet 9a that is vertically and horizontally movable between the two, and the chip transfer from the alignment stage 7 to the lead frame 6 is performed between the two. The second collet 9b, which is vertically movable and horizontally movable, interlocks with each other.

【0007】従来のダイボンダでは、以下の要領でもっ
てトレイ2内のチップ4をリードフレーム6上にマウン
トする。
In the conventional die bonder, the chips 4 in the tray 2 are mounted on the lead frame 6 by the following procedure.

【0008】まず、トレイ2の凹部3に収容されたチッ
プ4をXYテーブル1の作動によりピックアップポジシ
ョンPに配置した上で、第1コレット9aにより前記チ
ップ4を表面吸着する。ここで、チップ4は、トレイ2
の凹部3内で余裕をもって収容されているため、その凹
部3内でがたつきがある。このがたつきにより、第1コ
レット9aに吸着保持されたチップ4の姿勢についても
ばらつきがあるため、ピックアップ後、アライメントス
テージ7にてチップ4を姿勢修正する。
First, the chip 4 housed in the recess 3 of the tray 2 is placed at the pickup position P by the operation of the XY table 1, and then the chip 4 is surface-adsorbed by the first collet 9a. Here, the chip 4 is the tray 2
Since it is accommodated in the concave portion 3 with a margin, there is rattling in the concave portion 3. Due to this rattling, the attitude of the chip 4 sucked and held by the first collet 9a also varies. Therefore, after the pickup, the attitude of the chip 4 is corrected by the alignment stage 7.

【0009】トレイ2からピックアップされたチップ4
を第1コレット9aで吸着保持した状態でアライメント
ステージ7へ移送してそのアライメントステージ7上に
載置する。その上で、第1コレット9aから解放された
チップ4を爪8により4方向から挾み込んで姿勢修正す
ることにより位置決めする。
Chip 4 picked up from tray 2
While being sucked and held by the first collet 9a, it is transferred to the alignment stage 7 and placed on the alignment stage 7. Then, the tip 4 released from the first collet 9a is pinched by the claws 8 from four directions and the posture is corrected to perform positioning.

【0010】このアライメントステージ7で姿勢修正さ
れたチップ4を第2コレット9bにより再度表面吸着
し、その第2コレット9bにより吸着保持した状態でチ
ップ4をリードフレーム6上のマウントポジションQへ
移送する。第2コレット9bにより吸着保持されたチッ
プ4をリードフレーム6の所定の搭載位置に載置してマ
ウントする。
The chip 4 whose posture is corrected by the alignment stage 7 is again surface-adsorbed by the second collet 9b, and is transferred to the mount position Q on the lead frame 6 while being adsorbed and held by the second collet 9b. . The chip 4 sucked and held by the second collet 9b is placed and mounted at a predetermined mounting position on the lead frame 6.

【0011】以上のようにして、第1コレット9aによ
るチップ4のピックアップ及び移送、アライメントステ
ージ7でのチップ4の姿勢修正、第2コレット9bによ
るチップ4の移送及びマウントの各動作を順次繰り返
す。
As described above, the operations of picking up and transferring the chip 4 by the first collet 9a, correcting the attitude of the chip 4 on the alignment stage 7, transferring the chip 4 by the second collet 9b, and mounting are sequentially repeated.

【0012】[0012]

【発明が解決しようとする課題】ところで、従来のダイ
ボンダでは、アライメントステージ7にてチップ4の姿
勢修正を行なうため、そのアライメントステージ7でチ
ップを第1コレット9aから第2コレット9bへ持ち替
えなければならない。そのため、第1コレット9aによ
るトレイ2からのピックアップ時だけでなく、第2コレ
ット9bによるアライメントステージ7からのピックア
ップ時にも、チップ4と接触することになるのでチップ
4へのダメージが大きくなる。
By the way, in the conventional die bonder, since the attitude of the chip 4 is corrected by the alignment stage 7, the alignment stage 7 must move the chip from the first collet 9a to the second collet 9b. I won't. Therefore, not only when the first collet 9a picks up from the tray 2, but also when the second collet 9b picks up from the alignment stage 7, the chips 4 come into contact with each other, and the chips 4 are greatly damaged.

【0013】また、トレイ2とリードフレーム6との間
には、アライメントステージ7を配置しなければならな
いため、設備費がかかって製品のコスト低減を図ること
が困難となり、また、アライメントステージ7の存在、
及びそれに伴うトレイ2の移動領域(図7中の破線参
照)の確保が起因して、トレイ2とリードフレーム6と
を接近させることが制約されるので、設置スペースの縮
小化を図ることも難しい。
Further, since the alignment stage 7 has to be arranged between the tray 2 and the lead frame 6, it is difficult to reduce the cost of the product because of the equipment cost, and the alignment stage 7 cannot be manufactured. Existence,
Also, due to the securing of the moving area of the tray 2 (see the broken line in FIG. 7) accompanying this, it is difficult to bring the tray 2 and the lead frame 6 close to each other, and it is also difficult to reduce the installation space. .

【0014】更に、前述したようにアライメントステー
ジ7でチップ4を第1コレット9aから第2コレット9
bへ持ち替えなければならないことや、トレイ2とリー
ドフレーム6とを接近させることが困難なことから、チ
ップ4をトレイ2からリードフレーム6まで高速に移送
することも実現困難であった。
Further, as described above, the alignment stage 7 moves the chip 4 from the first collet 9a to the second collet 9a.
It is also difficult to transfer the chip 4 from the tray 2 to the lead frame 6 at high speed because it is necessary to switch to the b and it is difficult to bring the tray 2 and the lead frame 6 close to each other.

【0015】そこで、本発明は上記問題点に鑑みて提案
されたもので、その目的とするところは、チップへのダ
メージを可及的に少なくし、設置スペースの縮小化及び
チップ移送の高速化を容易に実現し得るダイボンダを提
供することにある。
Therefore, the present invention has been proposed in view of the above problems, and an object of the present invention is to reduce the damage to the chip as much as possible, reduce the installation space, and speed up the chip transfer. It is to provide a die bonder that can easily realize the above.

【0016】[0016]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
の技術的手段として、本発明は、XY移動可能なトレイ
に形成された多数の凹部に収容したチップをコレットに
より表面吸着してピックアップし、前記チップの姿勢を
修正した上でチップを所定の搭載位置にマウントするダ
イボンダにおいて、コレットによるチップのピックアッ
プポジションからマウントポジションまでの移送途中の
停止ポジションで、コレットに吸着された状態のままで
チップ裏面を光学系により撮像して画像認識する画像認
識手段と、その画像認識データに基づいてコレットを調
整機構によりXYθ方向に微調整することによりチップ
を姿勢修正する制御手段とを具備したことを特徴とす
る。
As a technical means for achieving the above object, the present invention picks up chips, which are housed in a large number of recesses formed in an XY movable tray, by surface adsorption by a collet. In a die bonder that mounts the chip at a predetermined mounting position after correcting the attitude of the chip, the chip remains attached to the collet at the stop position during the transfer from the pickup position of the chip to the mounting position by the collet. An image recognition means for recognizing an image by picking up the back surface with an optical system, and a control means for correcting the attitude of the chip by finely adjusting the collet in the XYθ directions by an adjusting mechanism based on the image recognition data are provided. And

【0017】前記光学系は、コレットによるチップ移送
途中の停止ポジションの下方でトレイのXY移動領域の
上方に少なくとも一つのミラーを配置し、そのミラーに
よりチップ裏面を前記停止ポジションの下方以外の方向
からカメラにより撮像可能とすることが望ましい。
In the optical system, at least one mirror is arranged above the XY movement area of the tray below the stop position during the chip transfer by the collet, and the mirror rear surface of the chip is provided from a direction other than below the stop position. It is desirable to be able to take an image with a camera.

【0018】また、前記トレイの凹部深さよりも小さい
厚みを有するチップを、チップ吸着面がフラット形状の
コレットにより吸着することが望ましい。
Further, it is desirable that a chip having a thickness smaller than the recess depth of the tray is sucked by a collet having a flat chip suction surface.

【0019】更に、前記チップ吸着面がチップ外形より
大きいフラット形状のコレットによりチップを吸着し、
前記コレットのチップ吸着面とチップ裏面とが所望のコ
ントラストを有する程度に相互の表面状態を異ならせる
ことが望ましい。
Further, the chip suction surface is sucked by a flat collet whose chip suction surface is larger than the chip outer shape,
It is desirable to make the surface state of the collet different from each other so that the chip suction surface and the chip back surface have a desired contrast.

【0020】[0020]

【発明の実施の形態】本発明に係るダイボンダの実施形
態を図1乃至図5に示して説明する。本発明のダイボン
ダは、図1乃至図3に示すような構成を有する。従来と
同様、XYテーブル11上にトレイ12を定置してXY
方向移動可能に配設する。トレイ12は、多数の凹部1
3を所定の配列関係で形成した整列治具であり、各凹部
13に半導体ウェーハから分割されたチップ14が前工
程で収容されている。一方、このトレイ12から離隔し
た位置に搬送レール15が配設されており、その搬送レ
ール15上でリードフレーム16が図中矢印で示す方向
に定ピッチで間欠移送される。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION An embodiment of a die bonder according to the present invention will be described with reference to FIGS. The die bonder of the present invention has a structure as shown in FIGS. As in the conventional case, the tray 12 is placed on the XY table 11 and XY is placed.
It is arranged so that it can move in any direction. The tray 12 has a large number of recesses 1
3 is an alignment jig in which the semiconductor wafers 3 are formed in a predetermined arrangement relationship, and the chips 14 divided from the semiconductor wafer are housed in the respective recesses 13 in the previous step. On the other hand, a transport rail 15 is arranged at a position separated from the tray 12, and the lead frame 16 is intermittently transported on the transport rail 15 in a direction indicated by an arrow in the figure at a constant pitch.

【0021】また、ノズル先端に吸引穴を有し、その吸
引穴からの真空引きによりチップ14を表面吸着するコ
レット17が、トレイ12とリードフレーム16間で上
下動及び水平動自在に配置され、このコレット17によ
りトレイ12からチップ14をピックアップしてリード
フレーム16まで移送してマウントする。このコレット
17は、従来のようなアライメントステージ7(図6及
び図7参照)でのチップ14の持ち替えが不要であり、
チップ移送途中でチップ14の画像認識のために一時停
止させるだけであるために単一のものでよい。
Further, a collet 17 having a suction hole at the tip of the nozzle and sucking the chip 14 on the surface by evacuation from the suction hole is arranged between the tray 12 and the lead frame 16 so as to be vertically movable and horizontally movable. The collet 17 picks up the chip 14 from the tray 12 and transfers it to the lead frame 16 for mounting. This collet 17 does not require replacement of the chip 14 in the conventional alignment stage 7 (see FIGS. 6 and 7),
A single chip is sufficient because it is only temporarily stopped for image recognition of the chip 14 during chip transfer.

【0022】このダイボンダは、コレット17によるチ
ップ14のピックアップポジションPからマウントポジ
ションQまでの移送途中の停止ポジションRで、コレッ
ト17に吸着された状態のままでチップ裏面をカメラ
(例えば、CCDカメラ等)を含む光学系18により撮
像して画像認識する画像認識手段19と、その画像認識
手段19により得られた画像認識データに基づいてコレ
ット17を調整機構20によりXYθ方向に微調整する
ことによりチップ14を姿勢修正する制御手段21とを
具備する。
In this die bonder, at the stop position R during the transfer of the chip 14 by the collet 17 from the pick-up position P to the mount position Q, the back surface of the chip remains in the state of being sucked by the collet 17 (for example, a CCD camera or the like). ), An image recognition means 19 for recognizing an image by picking up an image by an optical system 18, and a fine adjustment of the collet 17 in the XYθ directions by an adjusting mechanism 20 based on the image recognition data obtained by the image recognition means 19. And a control means 21 for correcting the posture of the head.

【0023】ここで、本発明の場合、前記トレイ12と
リードフレーム16との間には、従来のようなアライメ
ントステージ7(図6及び図7参照)が配置されないの
で、両者を接近させて配置することが可能である。一
方、前記チップ移送途中の停止ポジションRでコレット
17に吸着保持されたチップ裏面を撮像するためにはそ
の下方にカメラを配置する必要がある。しかしながら、
前述したようにリードフレーム16に接近させてトレイ
12を配置し、而も、そのトレイ12がXYテーブル1
1により移動可能であるため、そのトレイ12のXY移
動領域が存在するので、コレット17によるチップ移送
途中の停止ポジションRの下方にカメラを配置してその
カメラによりチップ裏面を直接的に撮像することが困難
である。
In the case of the present invention, the conventional alignment stage 7 (see FIGS. 6 and 7) is not arranged between the tray 12 and the lead frame 16, so they are arranged close to each other. It is possible to On the other hand, in order to capture an image of the back surface of the chip sucked and held by the collet 17 at the stop position R during the transfer of the chip, it is necessary to dispose a camera below it. However,
As described above, the tray 12 is arranged close to the lead frame 16, and the tray 12 is the XY table 1.
Since there is an XY movement area of the tray 12 because it can be moved by 1, the camera is arranged below the stop position R during the chip transfer by the collet 17 and the back surface of the chip is directly imaged by the camera. Is difficult.

【0024】そこで、コレット17によるチップ移送途
中の停止ポジションRの下方でトレイ12のXY移動領
域(図2中の破線参照)の上方に、第1及び第2のミラ
ー22,23を内蔵した鏡筒24を、コレット17によ
るチップ移送方向と直交してリードフレーム16の移送
方向と平行に配設する。この鏡筒24内では、前記第1
のミラー22をほぼ45°に傾斜させて配置すると共
に、その第1のミラー22の側方に第2のミラー23を
ほぼ45°に傾斜させて対向配置する。また、この鏡筒
24に連設して第2のミラー23の上方にズームレンズ
25を介してカメラ26を配置する。これにより、コレ
ット17によるチップ移送途中の停止ポジションRの下
方で、チップ裏面を第1及び第2のミラー22,23を
利用してカメラ26により撮像する。
Therefore, below the stop position R during the chip transfer by the collet 17, above the XY movement region of the tray 12 (see the broken line in FIG. 2), a mirror having the first and second mirrors 22 and 23 built therein. The cylinder 24 is disposed orthogonal to the chip transfer direction of the collet 17 and parallel to the transfer direction of the lead frame 16. In the lens barrel 24, the first
The mirror 22 is tilted at an angle of about 45 °, and the second mirror 23 is tilted at a side of the first mirror 22 at an angle of about 45 ° so as to face each other. Further, a camera 26 is arranged above the second mirror 23 so as to be connected to the lens barrel 24 and via a zoom lens 25. As a result, below the stop position R during the chip transfer by the collet 17, the back surface of the chip is imaged by the camera 26 using the first and second mirrors 22 and 23.

【0025】尚、第1のミラー22と第2のミラー23
との間に、第2のミラー23と同一角度でハーフミラー
27を配置すると共にその上方に光源28を配置し、そ
の光源28により前記チップ裏面を照明する。
The first mirror 22 and the second mirror 23
Between the second mirror 23 and the second mirror 23, the half mirror 27 is arranged at the same angle, and the light source 28 is arranged above the half mirror 27, and the back surface of the chip is illuminated by the light source 28.

【0026】本発明のダイボンダでは、以下の要領でも
ってトレイ12内のチップ14をリードフレーム16上
にマウントする。
In the die bonder of the present invention, the chips 14 in the tray 12 are mounted on the lead frame 16 by the following procedure.

【0027】まず、トレイ12の凹部13に収容された
チップ14をXYテーブル11の作動によりピックアッ
プポジションPに配置した上で、コレット17により前
記チップ14を表面吸着する。ここで、チップ14はト
レイ12の凹部13内で余裕をもって収容されているた
め、その凹部13内でがたつきがある。このがたつきに
より、コレット17に吸着保持されたチップ14の姿勢
についてもばらつきがあるため、後述のようにしてチッ
プ14を姿勢修正する。
First, the chip 14 housed in the recess 13 of the tray 12 is placed at the pickup position P by the operation of the XY table 11, and then the chip 14 is surface-adsorbed by the collet 17. Here, since the chip 14 is accommodated in the recess 13 of the tray 12 with a margin, there is rattling in the recess 13. Due to this rattling, the attitude of the tip 14 sucked and held by the collet 17 also varies, so the attitude of the tip 14 is corrected as described later.

【0028】トレイ12からピックアップされたチップ
14をコレット17により吸着保持した状態で移送し、
そのコレット17をチップ移送途中の停止ポジションR
で停止させる。この時、コレット17で吸着保持された
チップ裏面の下方に第1のミラー22が位置する。この
停止状態で、第1及び第2のミラー22,23を介して
ズームレンズ25により拡大してカメラ26によりチッ
プ裏面を撮像して画像認識手段19により画像認識す
る。その後、コレット17によるチップ移送を再開続行
してチップ14をマウントポジションQまで移送する。
このチップ14の画像認識からマウントまでの間に、前
記画像認識手段19により得られた画像認識データに基
づく制御手段21からの指令によりコレット17を調整
機構20でもってXYθ方向に微調整することによりチ
ップ14を姿勢修正する。このようにして姿勢修正され
たチップ14をコレット17によりマウントポジション
Qでリードフレーム16の所定の搭載位置に載置してマ
ウントする。
The chip 14 picked up from the tray 12 is transferred while being sucked and held by the collet 17,
Stop the collet 17 at the stop position R during chip transfer.
To stop. At this time, the first mirror 22 is located below the back surface of the chip sucked and held by the collet 17. In this stopped state, the zoom lens 25 is used to magnify the image through the first and second mirrors 22 and 23, the back surface of the chip is imaged by the camera 26, and the image recognition means 19 recognizes the image. Then, the chip transfer by the collet 17 is resumed to transfer the chip 14 to the mount position Q.
By finely adjusting the collet 17 in the XYθ directions by the adjusting mechanism 20 according to a command from the control means 21 based on the image recognition data obtained by the image recognition means 19 between the image recognition of the chip 14 and the mounting. The attitude of the tip 14 is corrected. The chip 14 whose posture has been corrected in this manner is mounted on the lead frame 16 at a predetermined mounting position at the mount position Q by the collet 17 and mounted.

【0029】ここで、コレット17により吸着する前に
チップ14を姿勢修正した場合、例えば、トレイ12の
凹部13内でチップ14を姿勢修正したとしても、所望
のチップ14をピックアップポジションPに配置するた
めにトレイ12をXY方向に移動させた際に、チップ1
4が凹部13内でがたついて位置ずれを起こすため、適
正な姿勢修正が困難である。仮に、トレイ12の凹部1
3内でチップ14が適正に姿勢修正されたままの状態を
維持できたとしても、そのチップ14をコレット17で
吸着する時、そのコレット17がフラット形状であるた
め、チップ14が特にθ方向に位置ずれすることが多
く、そのチップ14をリードフレーム16に高精度に位
置決めした状態でマウントすることが困難である。
Here, when the attitude of the chip 14 is corrected before being sucked by the collet 17, for example, even if the attitude of the chip 14 is corrected in the recess 13 of the tray 12, the desired chip 14 is placed at the pickup position P. When the tray 12 is moved in the XY direction for
Since 4 is rattling in the concave portion 13 to cause a positional deviation, it is difficult to properly correct the posture. Temporarily, the concave portion 1 of the tray 12
Even if the tip 14 can be maintained in a properly posture-corrected state within 3, when the tip 14 is sucked by the collet 17, since the collet 17 has a flat shape, the tip 14 is particularly in the θ direction. Since the chip 14 is often displaced, it is difficult to mount the chip 14 on the lead frame 16 with high accuracy.

【0030】そこで、前述したようにコレット17によ
り吸着保持した状態でそのコレット17をXYθ方向に
微調整することによりチップ14を姿勢修正するように
したので、チップ14をリードフレーム16に高精度に
位置決めした状態でマウントすることができる。
Therefore, as described above, the attitude of the chip 14 is corrected by finely adjusting the collet 17 in the XYθ directions while being sucked and held by the collet 17, so that the chip 14 can be accurately attached to the lead frame 16. It can be mounted in a positioned state.

【0031】以上のようにして、コレット17によるト
レイ12からのチップ14のピックアップ、コレット1
7によるチップ移送途中の停止ポジションRでのチップ
裏面の画像認識、その画像認識データに基づくコレット
17によるチップ14の姿勢修正、コレット17による
リードフレーム16へのチップ14のマウントの各動作
を順次繰り返す。
As described above, the pickup of the chips 14 from the tray 12 by the collet 17, the collet 1
7 sequentially recognizes the image of the back surface of the chip at the stop position R during the chip transfer, corrects the attitude of the chip 14 by the collet 17 based on the image recognition data, and mounts the chip 14 on the lead frame 16 by the collet 17. .

【0032】尚、図4(a)に示すように前記トレイ1
2の凹部深さよりも小さい厚みを有するチップ14を取
り扱う場合、コレット先端を前記凹部13内に入り込ま
せなければならず、吸着面がチップ外形より小さいフラ
ット形状のコレット17を使用しなければならない。こ
の場合、チップ移送途中の停止ポジションRでのチップ
裏面の画像認識により得られる画面mでは、同図(b)
に示すようにチップ裏面を光らせるようにしてその周囲
とのコントラストを設定した二値化画像を得る。
As shown in FIG. 4A, the tray 1 is
When handling a tip 14 having a thickness smaller than the depth of the concave portion 2, the tip of the collet must be inserted into the concave portion 13, and a flat collet 17 having a suction surface smaller than the outer shape of the tip must be used. In this case, in the screen m obtained by the image recognition of the back surface of the chip at the stop position R during the chip transfer, FIG.
A binarized image in which the contrast with the surroundings is set by shining the back surface of the chip as shown in FIG.

【0033】また、図5(a)に示すように前記トレイ
12の凹部深さよりも大きい厚みを有するチップ14を
取り扱う場合には、前述した場合と異なり、吸着面がチ
ップ外形より大きいフラット形状のコレット17を使用
できる。従って、チップ移送途中の停止ポジションRで
のチップ裏面の画像認識により得られる画面mでは、同
図(b)に示すようにコレット吸着面を鏡面仕上げする
ことにより光らせるようにしてチップ裏面とのコントラ
ストを設定した二値化画像を得る。
Further, as shown in FIG. 5A, when handling a chip 14 having a thickness larger than the depth of the recess of the tray 12, unlike the case described above, the suction surface has a flat shape larger than the chip outer shape. Collet 17 can be used. Therefore, in the screen m obtained by image recognition of the back surface of the chip at the stop position R during chip transfer, the collet suction surface is mirror-finished as shown in FIG. A binarized image with is set.

【0034】[0034]

【発明の効果】本発明によれば、コレットによるチップ
のピックアップ後、そのコレットにより吸着保持した状
態のままでチップ移送途中の停止ポジションでチップ裏
面を画像認識してチップを姿勢修正した上で、その姿勢
修正したチップを前記コレットによりマウントするよう
にしたから、コレットによるチップの持ち替えがなくな
り、コレットによるチップへの接触がピックアップ時だ
けとなるので、チップへのダメージを必要最小限に抑え
ることができる。
According to the present invention, after the chip is picked up by the collet, the attitude of the chip is corrected by recognizing the image of the back surface of the chip at the stop position during the chip transfer while being sucked and held by the collet. Since the chip whose posture has been corrected is mounted by the collet, there is no need to change the tip of the chip by the collet, and the contact with the chip by the collet is only during pickup, so damage to the chip can be suppressed to the necessary minimum. it can.

【0035】また、トレイとリードフレームとの間にア
ライメントステージが不要となるので、設備的に簡略化
を図ることができて製品のコスト低減が実現でき、ま
た、トレイとリードフレームとを接近させることが容易
となるので、設置スペースの縮小化も図れる。
Further, since the alignment stage is not required between the tray and the lead frame, the facility can be simplified and the product cost can be reduced, and the tray and the lead frame can be brought close to each other. Since it is easy, the installation space can be reduced.

【0036】更に、前述したようにコレットによるチッ
プの持ち替えや、アライメントステージの省略によりト
レイとリードフレームとを接近させることが容易なこと
から、チップをトレイからリードフレームまで高速に移
送することも実現できる。
Furthermore, as described above, since it is easy to change the holding of the chip by the collet and to make the tray and the lead frame close to each other by omitting the alignment stage, it is possible to transfer the chip from the tray to the lead frame at high speed. it can.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明のダイボンダの概略構成を示す平面図FIG. 1 is a plan view showing a schematic configuration of a die bonder of the present invention.

【図2】図1のダイボンダの側面図FIG. 2 is a side view of the die bonder of FIG.

【図3】図1のダイボンダを構成する光学系を示す概略
構成図
3 is a schematic configuration diagram showing an optical system constituting the die bonder of FIG.

【図4】(a)は吸着面がチップ外形より小さいコレッ
トによりチップを吸着した状態を示す断面図、(b)は
(a)のコレットによる場合に得られる二値化画像を示
す図
4A is a cross-sectional view showing a state in which a suction surface is suctioned by a collet whose suction surface is smaller than the chip outer shape, and FIG. 4B is a diagram showing a binarized image obtained when the collet in FIG. 4A is used.

【図5】(a)は吸着面がチップ外形より大きいコレッ
トによりチップを吸着した状態を示す断面図、(b)は
(a)のコレットによる場合に得られる二値化画像を示
す図
5A is a cross-sectional view showing a state where a suction surface is suctioned by a collet whose suction surface is larger than the chip outer shape, and FIG. 5B is a diagram showing a binarized image obtained when the collet in FIG.

【図6】従来のダイボンダの概略構成を示す平面図FIG. 6 is a plan view showing a schematic configuration of a conventional die bonder.

【図7】図6のダイボンダの側面図7 is a side view of the die bonder of FIG.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

12 トレイ 13 凹部 14 チップ 17 コレット 18 光学系 19 画像認識手段 20 調整機構 21 制御手段 P ピックアップポジション Q マウントポジション R 移送途中の停止ポジション 12 Tray 13 Recessed portion 14 Chip 17 Collet 18 Optical system 19 Image recognition means 20 Adjustment mechanism 21 Control means P Pickup position Q Mount position R Stop position during transfer

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 XY移動可能なトレイに形成された多数
の凹部に収容したチップをコレットにより表面吸着して
ピックアップし、前記チップの姿勢を修正した上でチッ
プを所定の搭載位置にマウントするダイボンダにおい
て、コレットによるチップのピックアップポジションか
らマウントポジションまでの移送途中の停止ポジション
で、コレットに吸着された状態のままでチップ裏面を光
学系により撮像して画像認識する画像認識手段と、その
画像認識データに基づいてコレットを調整機構によりX
Yθ方向に微調整することによりチップを姿勢修正する
制御手段とを具備したことを特徴とするダイボンダ。
1. A die bonder for picking up a chip housed in a large number of recesses formed in an XY movable tray by a collet to pick up the surface, correcting the posture of the chip, and mounting the chip at a predetermined mounting position. At the stop position during the transfer from the pickup position of the chip to the mount position by the collet, the image recognition means for recognizing the image by imaging the back surface of the chip with the optical system while being attracted to the collet, and the image recognition data thereof. Adjust the collet based on
A die bonder comprising: a control unit that adjusts the attitude of the chip by finely adjusting in the Yθ direction.
【請求項2】 前記光学系は、コレットによるチップ移
送途中の停止ポジションの下方でトレイのXY移動領域
の上方に少なくとも一つのミラーを配置し、そのミラー
によりチップ裏面を前記停止ポジションの下方以外の方
向からカメラにより撮像可能としたことを特徴とする請
求項1記載のダイボンダ。
2. The optical system arranges at least one mirror above a XY movement area of a tray below a stop position during chip transfer by a collet, and the mirror backs the chip back surface except below the stop position. The die bonder according to claim 1, wherein an image can be taken by a camera from a direction.
【請求項3】 前記トレイの凹部深さよりも小さい厚み
を有するチップを、チップ吸着面がフラット形状のコレ
ットにより吸着することを特徴とする請求項1記載のダ
イボンダ。
3. The die bonder according to claim 1, wherein a chip having a thickness smaller than the depth of the recess of the tray is sucked by a collet having a flat chip suction surface.
【請求項4】 前記チップ吸着面がチップ外形より大き
いフラット形状のコレットによりチップを吸着し、前記
コレットのチップ吸着面とチップ裏面とが所望のコント
ラストを有する程度に相互の表面状態を異ならせたこと
を特徴とする請求項1記載のダイボンダ。
4. The chip suction surface is sucked by a flat collet whose chip suction surface is larger than the chip outer shape, and the surface state of the collet is made different so that the chip suction surface and the chip back surface have a desired contrast. The die bonder according to claim 1, wherein:
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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US7337939B2 (en) * 2000-12-27 2008-03-04 Shibuya Kogyo Co., Ltd Bonding apparatus

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