JPH09113813A - 顕微鏡 - Google Patents
顕微鏡Info
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- JPH09113813A JPH09113813A JP7274199A JP27419995A JPH09113813A JP H09113813 A JPH09113813 A JP H09113813A JP 7274199 A JP7274199 A JP 7274199A JP 27419995 A JP27419995 A JP 27419995A JP H09113813 A JPH09113813 A JP H09113813A
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Abstract
なアームの奥行き寸法の大きな顕微鏡で、操作性の向上
と、軽量且つ実用的な剛性を備えた顕微鏡を提供するも
のである。 【解決手段】 ベース12と、前記ベース12に固定し
たアーム11と、前記アーム11のアーム支柱部11b
からステージ14の上方に張り出したアーム片持部11
aとを具備した顕微鏡10において、前記アーム片持部
11aの下側がステージ14の上面側とほぼ平行であ
り、前記アーム片持部11aの上側が観察の光軸A付近
から、前記アーム支柱部11b上端に向かって高さが増
加方向に傾斜して、前記アーム片持部11aから前記ア
ーム支柱部11bまで凹型断面形状の内底面部を連続さ
せるようにする。
Description
の改善に関するもので、特に、半導体,液晶等の大型試
料の検査等に対応できる大型ステージを搭載した顕微鏡
に関する。
には、目視による検査が必要であるため、顕微鏡等が一
般に多く用いられている。半導体ウエハの大きさには、
一般に6,8,10インチ(1インチ=約25mm)等の
ものが多く知られている。
製造にあたり、生産性の向上のために試料を大型化する
傾向になってきた。それと同時に、半導体ウエハ,液晶
パネル等の製品はもとより半導体ウエハや液晶パネルの
マスター基板,液晶パネルのガラス板といったものも大
型化傾向にある。
の検査には、観察に必要となる充分な移動範囲(試料の
ほぼ4倍)と、大型の試料が載置可能なステージとを備
えた顕微鏡が従来に比べてより求められるようになって
きた。従来の顕微鏡には、後述する図5および図6に示
すようなアーム1を搭載したものが一般的に知られてい
る。
は、ベース固定部1aにアーム支柱部1bを垂設して、
アーム支柱部1bの先端にアーム片持部1cを水平に設
け、一体成形により略コの字形状をなしており、さら
に、アーム片持部1cの下側には補強部3a,3bが一
体成形されていた。図5の補強部3aの形状は、アーム
片持部1c下面の光軸A近傍からアーム支柱部1bにか
けて傾斜が増加する三角形状であり、図6の補強部3b
の形状は、ステージ4側に突出し、その下面がステージ
4上面と平行な形状である。
ともアーム1とほぼ同じ幅を有するように一体成形され
ている。また、特開平3−245113号公報には、図
7に示すようなアーム5を搭載した顕微鏡6が開示され
ている。この顕微鏡6は、使用目的に応じて形状が異な
るアーム5を交換できるようにシステム化したものであ
る。
5aにアーム支柱部5bを垂設して、アーム支柱部5b
の先端にアーム片持部5cを水平に設け、一体成形によ
り略コの字形状をなすものである。また、アーム片持部
5cの基部(アーム支柱部5bの上部)5dにはランプ
ハウス7が配置され、このランプハウス7からの熱が直
接アーム5に伝わらないように、アーム片持部5cの基
部5dには熱を逃がすための窪んだ部分5eが形成され
ている。
成した窪んだ部分5eにより生じる強度の低下を補うた
めに、アーム片持部5cの基部5dの両側には補強部3
cが形成されている。
ネル等のような大型試料は、周辺に枠等を設ける場合も
多く、この枠に対物レンズが干渉しないように、アーム
下面とステージ上面の間隔を大きくしなくてはならなか
った。また、図5に示すアーム構造で、大型化試料Sに
対応するアーム1を形成しようとすると、アーム1のふ
ところ長さに応じた大きさの補強部3aをアーム1の下
側に形成しなくてはならなかった。
試料Sの大型化に伴うアーム1のふところ長さを延長す
ると、それに比例してアーム片持部1cの補強部3aが
大型化してしまう。補強部3aが大型化してアーム片持
部1cの下部に大きく突出すると、ステージ4の移動操
作中に、ステージ4又はステージ4上に載置された試料
Sが補強部3aに干渉するという問題が生じる。
ステージ4の移動操作を行ったり、アーム1下面とステ
ージ4上面の間隔を広げるようにしていた。ところが、
目視によりステージ4又は試料Sが補強部3aに干渉し
ないように監視する方法は、操作を繁雑にすると共に、
観察者にも大きな負担が強いられていた。
部3aと干渉しないように、アーム1下面とステージ4
上面の間隔を広げたとしても、顕微鏡2自体を大型化し
てしまうと共に、アイポイントを高くするという新たな
問題が生じてしまう。図6に示すアーム構造では、上述
した課題であるステージ4又は試料Sと補強部3bとの
干渉は比較的起こりにくいが、以下に詳述する別の問題
が発生する。
場合の他に、試料Sに散在する標準の検査用箇所または
問題の有りそうな箇所を拾うことが行われており、一般
にそのような散在する箇所を重点的に検査するのに、観
察者は、一旦接眼レンズから眼を離して肉眼により試料
S表面を直視してその箇所を光軸Aに移動して検査して
いた。
めに形成したアーム片持部1cと同幅の補強部3bを下
方に延出させるアーム構造は、補強部3bが下方に延出
すればするほど視野を狭くするため、肉眼による試料S
の直視性を低下させるという問題が生じてしまう。ま
た、補強部3bの高さは、ステージ4又は試料Sと干渉
しないようにアーム1下面と対物レンズのピント面Bと
の間隔より大きく設定することができないので、設計上
の自由度が阻害されてしまう。
アーム片持部5cの基部5d近傍に形成するため、アー
ム片持部5c全体を充分に補強できるだけの効果があま
り望めない。この発明の目的は、上述した実情に鑑みた
もので、大型ステージに対応可能なアームの奥行き寸法
の大きな顕微鏡で、操作性の向上と、軽量且つ実用的な
剛性を備えた顕微鏡を提供するものである。
段として、請求項1の発明は、ベースと、前記ベースに
固定したアーム部と、前記アーム部のアーム支柱部から
ステージの上方に張り出したアーム片持部とを具備した
顕微鏡において、前記アーム片持部の下側がステージの
上面側とほぼ平行であり、前記アーム片持部の上側が観
察の光軸付近から、前記アーム支柱部上端に向かって高
さが増加方向に傾斜して、前記アーム片持部から前記ア
ーム支柱部まで凹型断面形状の内底面部が連続している
ことを特徴とする。
ベースに固定したアーム部と、前記アーム部のアーム支
柱部からステージの上方に張り出したアーム片持部とを
具備した顕微鏡において、前記アーム片持部の下部に、
該アーム片持部の幅より狭く且つ前記ステージの上面側
とほぼ平行な突起部を一体に設けたことを特徴とする。
ベースに固定したアーム部と、前記アーム部のアーム支
柱部からステージの上方に張り出したアーム片持部とを
具備した顕微鏡において、前記アーム片持部の下部に、
該アーム片持部の幅より狭く且つ前記ステージの上面側
とほぼ平行な突起部を一体に設け、前記アーム片持部の
上側が観察の光軸付近から、前記アーム支柱部上端に向
かって高さが増加方向に傾斜して、前記アーム片持部か
ら前記アーム支柱部まで凹型断面形状の内底面部が連続
していることを特徴とする。
図を用いて以下に説明する。 (第1の発明の実施の形態)図1は、この発明を用いた
顕微鏡10の外観を示した側面図であり、図2(a)
は、図1の顕微鏡10のアーム11の正面を示した正面
図で、図2(b)は、図1の顕微鏡のアーム11の側面
を示した側面図である。
の字形状の側面を持つアーム11がボルト等で固定され
ている。このベース12の上面には、ステージ受13が
配置され、側面にはステージ14を上下させて、準焦を
行う操作ハンドル15が設けられている。ステージ14
は、上面に試料Sを載置して、少なくともアーム11の
奥行き側に移動可能な移動ステージ14aと、該移動ス
テージ14aを支持し、ステージ受13に固定している
ステージ受側部14bとから構成される。
示していないアリ溝により、試料Sを拡大観察する対物
レンズ16を複数保持したレボルバ17が取り付けられ
ている。さらに、アーム11の光軸Aの上側には、図示
していない丸アリ等で、ハーフミラー等の光学素子18
を有する光学素子変換部19とチューブ20からなる落
射投光管21とが取り付けられている。
21のチューブ20には、落射投光管21及び対物レン
ズ16を介して試料Sを照明するための光源を内部に備
えたランプハウス22が連結されている。また、落射投
光管21の光学素子変換部19の上部には、図示してい
ない丸アリ等により、鏡筒23及び接眼レンズ24が取
り付けられている。
造を説明上二点鎖線で分割して詳述する。アーム11
は、それぞれ上部で張り出した部分のアーム片持部11
aと、該アーム片持部11aを連結し保持する部分のア
ーム支柱部11bと、該アーム支柱部11bを載置して
いる部分のベース12側のアーム下部11cとに分けら
れ、更にアーム片持部11aは、レボルバ17の取り付
け面の上下で、上方傾斜部11dと下方突起部11eと
に分けられる。
は、光軸Aの近傍からアーム支柱部11bの上端に向か
って、高さが増加方向(例えば、傾斜角10°)に傾斜
しており、その断面形状は、幅tの側壁部を両側に備え
て凹形状にし、凹形状の底面をアーム支柱部11bまで
連続するように構成する。一対の上方傾斜部11dの外
壁の間隔は、アーム片持部11aと同じ幅に形成し、下
方突起部11eは、レボルバ17と干渉しない位置まで
アーム片持部11aの基部から光軸方向に向けて延出し
て、ステージ14と平行且つアーム片持部11aより狭
い幅となるように形成する。
について以下に説明を行う。顕微鏡10のアーム11の
光軸Aの位置には、鏡筒23等の荷重がかかるが、この
ときのアーム支柱部11bは、アーム片持部11aを充
分に支持できる機構となっているので、アーム片持部1
1aを片持ちはりとして考慮すると、上方傾斜部11d
と下方突起部11eとによりアーム片持部11aのタワ
ミを充分に維持することができる。
光軸Aでの作動距離が変化する方向(縦)のタワミ量
は、その断面形状が均一と仮定すると、奥行き寸法の3
乗に比例し、その断面形状が中実の長方形であると、高
さの3乗に反比例し、幅に反比例する。即ち、タワミ量
で代表されるアーム片持部11aの強度は、3乗で効く
奥行き寸法と断面形状の高さを特に留意する必要があ
り、例えば、アーム片持部11aの上方側面の傾斜部分
については、アーム支柱部11bでの高さhに対して、
光軸A付近の高さhaをh/2にすることでアーム片持
部11aは鏡筒23等の荷重の光軸Aから離れるに従っ
て増加する力に対して均一な強度を得ることができる。
面形状が凹形状であると底面部があるため、例えば、高
さhaを2h/3のようにして傾斜部分を緩和する傾向
があり、底面部を厚くすれば高さhを低くすることもで
きる。そのため、アーム11の基本設計の寸法は変更す
ることなく、上方傾斜部11dの寸法を変更するだけ
で、アーム片持部11aの強度を容易に変更することが
できる。
ーム支柱部11bにかけて一体成形されている上方傾斜
部11dは、高さ方向であれば大きくすることが可能で
あるため、アーム11の幅を薄くしても上方傾斜部11
dによりアーム11に充分な強度を持たせることが可能
となる。その上、アーム11の幅を薄くすることができ
るということは、鏡筒23及び落射投光管21等の位置
する高さを低くすることにつながり、それに伴いアイポ
イントも低くすることができる。
投光管21と光学素子変換部19とが取り付けられてお
り、上方傾斜部11dの凹形状の内側に少なくともチュ
ーブ20が凹形状の部分に内蔵可能にしておけばよい。
また、アーム片持部11aの下側とアーム支柱部11b
の接続部に、図2(b)に示すような曲線部分Rを付加
すると、その部分への応力集中を軽減することができる
と共に、タワミ力及び光軸Aの側方力(ねじり)の強度
をを増すことができる。
ム支柱部11bの奥行きの約半分以下ならばアーム片持
部11a保持に関与しないため、この部分を例えば11
fのようにカットすることもできる。さらに、鏡筒23
を取り付ける光学素子変換部19の上面とアーム支柱部
11b上面とをほぼ同じ高さにして、カバー等をかぶせ
ることにより、半導体素子等の検査時の上方からの防塵
用ダウンブロー(試料S上面に当てる風)に対応した防
塵効果も望める。
適宜変更することが可能であり、特に10度に限られた
ものではなく、アームの剛性面も、光軸Aから離れるに
従って、その距離に応じた強さに応じて傾斜角度を設計
変更することができる。また、上方傾斜部11dの傾斜
の始まりが光軸Aよりアーム支柱部11d側に寄ってい
るので、光学素子18の切り換え操作レバー等も配置す
ることが構造上可能である。
微鏡10による観察中に、観察者が試料Sを直視検査す
る場合、アームの下方突起部11eからピント面Bまで
の長さ36mm、下方突起部11eの幅88mmであると、
試料Sを直視する観察者の眼の位置C1 における直視す
る角度θ1 は、以下のようにして求めることができる
(図2(b)参照)。 θ1 =tan-1(b/a) =tan-1(44(mm)/36(mm))≒50° 下方突起部11eとピント面Bとの間隔:a=36(mm) 光軸Aの中心から片側の下方突起部11eの幅:b=8
8(mm)/2=44(mm) 仮に、比較のため上記アーム11とほぼ同様の寸法の従
来のアーム(図6(b)参照)1を顕微鏡に搭載し、観
察者が試料Sを直視検査する場合、アーム1の補強部3
bからピント面Bまでの長さを36mm、アーム1と補強
部3bとの幅を140mmとすると、試料Sを直視する観
察者の眼の位置C2 における直視する角度θ2 は、以下
のようにして求まる(図6(b)参照)。 θ2 =tan-1(b/a) =tan-1(70(mm)/36(mm))≒62° 補強部とピント面Bとの間隔:a=36(mm) 光軸Aの中心から片側の補強部の幅:b=140(mm)/
2=70(mm) 従って、従来のアーム1を搭載した顕微鏡では、同一条
件における直視する角度θ2 を最低でも約62度右また
は左に移動しなければならなかったが、この実施の形態
のアーム11を搭載した顕微鏡10では、直視する角度
θ1 を最低でも約50度右または左に移動するだけでよ
く、数値上で比較すると少なくとも従来のアーム構造よ
りこの実施の形態の方が肉眼直視性に優れている。 (第2の発明の実施の形態)図3は、この発明の第2の
実施の形態を用いた顕微鏡の外観を示した側面図であ
り、図4(a)は、図3の顕微鏡のアーム正面を示した
正面図で、図4(b)は、図3の顕微鏡のアーム側面を
示した側面図である。
同様の部材には、同一の符号を付して説明を省略する。
第2の発明の実施の形態(以下、「第2実施形態」と称
する。)のアームは、第1の発明の実施の形態(以下、
「第1実施形態」と称する。)で述べたアーム片持部1
1aの下方突起部11eを備えていない点以外、第1実
施形態で詳述したアーム11と同じ構成である。
ム支柱部11bでアーム片持部11aを強固に支持可能
な点は、第1実施形態のアーム11と同様である。第2
実施形態は、第1実施形態の下方突起部11eを設けな
い構成であり、アーム片持部11aとステージ14上面
との距離が離れるようにしたものである。そのため、ア
ーム片持部11aの下面からピント面Bまでの長さを第
1実施形態の36mmから85mmと広げることができ、ア
ームの幅を同一状態の140mmとすれば、試料Sを直視
する観察者の眼の位置C3 における直視する角度θ
3 は、以下のようにして求めることができる(図4
(b)参照)。 θ3 =tan-1(b/a) =tan-1(70(mm)/85(mm))≒39° アーム片持部11aの下面とピント面Bとの間隔:a=
85(mm) 光軸Aの中心から片側のアーム片持部11aの幅:b=
140(mm)/2=70(mm) 従って、この第2実施形態では直視する角度θ3 は、約
39度となり上記第1実施形態のθ1 ≒50°に比べ
て、さらに試料Sの肉眼直視性が改善される。
に、落射投光管21等からなる照明系を装填できるの
で、スペースを有効に活用できると共に、この観察系及
び照明系の重量及び鉛直方向の強度を充分に確保できる
上に、アーム片持部11a自身の自重も鉛直方向の曲げ
力に対しても充分に強化できる。これにより曲げ力に強
くなると、通常の振動による鉛直方向に対しての剛性も
強化することができる。 (変形例)光学素子18が4つ以上の場合、光学素子1
8をターレット形式にし、このターレットの外形が上方
傾斜部11dの傾斜の始まり部分に干渉しない程度に構
成することもできる。
は、光軸Aに対してアーム支柱部11bから離れる方向
にしなくてはならない。また、この発明は、上述した実
施の形態のように、アーム片持部はアーム支柱部に向か
ってアーム片持部の上方(ステージから離れる側)に傾
斜を持たせ加重による曲げモーメントに合わせた形状に
したものに限られたものではなく、例えば、耐加重を確
保できさえすれば、アーム片持部の上方をアーム支柱部
の上面と水平にする構成も実現することは可能である。
ふところの大きな顕微鏡でなくても、適宜変更が可能で
あり、例えば、アーム片持部の幅を落射投光管のチュー
ブ部が収納可能な幅に縮小する場合に、アーム片持部の
強度を補強することができる。この場合、アーム片持部
の幅を極限まで縮小できるので、さらに、観察者の肉眼
による試料の直視性を向上させることにもつながる。
1eは、断面形状が長方形であったが、特に第1実施形
態に限られるものではなく、例えば、蒲鉾形状や三角形
状に形成することができる。
テージに対応可能なアームの奥行き寸法の大きな顕微鏡
で、操作性の向上と、軽量且つ実用的な剛性を備えた顕
微鏡を提供する。
である。図2(b)は、図1の顕微鏡のアームの側面図
である。
である。図4(b)は、図3の顕微鏡のアームの側面図
である。
図6(b)は、図6(a)のアームの正面図である。
Claims (3)
- 【請求項1】 ベースと、 前記ベースに固定したアーム部と、 前記アーム部のアーム支柱部からステージの上方に張り
出したアーム片持部とを具備した顕微鏡において、 前記アーム片持部の下側がステージの上面側とほぼ平行
であり、前記アーム片持部の上側が観察の光軸付近か
ら、前記アーム支柱部上端に向かって高さが増加方向に
傾斜して、前記アーム片持部から前記アーム支柱部まで
凹型断面形状の内底面部が連続していることを特徴とす
る顕微鏡。 - 【請求項2】 ベースと、 前記ベースに固定したアーム部と、 前記アーム部のアーム支柱部からステージの上方に張り
出したアーム片持部とを具備した顕微鏡において、 前記アーム片持部の下部に、該アーム片持部の幅より狭
く且つ前記ステージの上面側とほぼ平行な突起部を一体
に設けたことを特徴とする顕微鏡。 - 【請求項3】 ベースと、 前記ベースに固定したアーム部と、 前記アーム部のアーム支柱部からステージの上方に張り
出したアーム片持部とを具備した顕微鏡において、 前記アーム片持部の下部に、該アーム片持部の幅より狭
く且つ前記ステージの上面側とほぼ平行な突起部を一体
に設け、 前記アーム片持部の上側が観察の光軸付近から、前記ア
ーム支柱部上端に向かって高さが増加方向に傾斜して、
前記アーム片持部から前記アーム支柱部まで凹型断面形
状の内底面部が連続していることを特徴とする顕微鏡。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP27419995A JP3625922B2 (ja) | 1995-10-23 | 1995-10-23 | 顕微鏡 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP27419995A JP3625922B2 (ja) | 1995-10-23 | 1995-10-23 | 顕微鏡 |
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JPH09113813A true JPH09113813A (ja) | 1997-05-02 |
JP3625922B2 JP3625922B2 (ja) | 2005-03-02 |
Family
ID=17538420
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP27419995A Expired - Fee Related JP3625922B2 (ja) | 1995-10-23 | 1995-10-23 | 顕微鏡 |
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JP (1) | JP3625922B2 (ja) |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0247612U (ja) * | 1988-09-29 | 1990-03-30 | ||
JPH03245113A (ja) * | 1990-02-23 | 1991-10-31 | Olympus Optical Co Ltd | 顕微鏡 |
JPH0651204A (ja) * | 1992-07-28 | 1994-02-25 | Olympus Optical Co Ltd | システム顕微鏡 |
-
1995
- 1995-10-23 JP JP27419995A patent/JP3625922B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JPH0247612U (ja) * | 1988-09-29 | 1990-03-30 | ||
JPH03245113A (ja) * | 1990-02-23 | 1991-10-31 | Olympus Optical Co Ltd | 顕微鏡 |
JPH0651204A (ja) * | 1992-07-28 | 1994-02-25 | Olympus Optical Co Ltd | システム顕微鏡 |
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