JPH09102578A - Semiconductor device - Google Patents

Semiconductor device

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JPH09102578A
JPH09102578A JP7261234A JP26123495A JPH09102578A JP H09102578 A JPH09102578 A JP H09102578A JP 7261234 A JP7261234 A JP 7261234A JP 26123495 A JP26123495 A JP 26123495A JP H09102578 A JPH09102578 A JP H09102578A
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diode
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igbt chip
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博久 山村
Nobunori Matsudaira
信紀 松平
Shotaro Naito
祥太郎 内藤
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To reduce an internal inductance by connecting the emitter of a first chip to an output bus bar, connecting the cathode of a second diode to the output bus bar, connecting the collector of a second chip to a negative bus bar, and connecting the cathode of a first diode to the negative bus bar. SOLUTION: A 1-GBT chip 30A having a collector connected and a diode 42A having anode connected are fixed on a positive bus bar 20. A 1-GBT chip 32A having a collector connected and a diode 40A having an anode connected are fixed on an output bus bar 22. The 1-GBT chip 30A is connected at its emitter with the output bus bar 22, and the diode 42A is connected at its cathode with the output bus bar 22. Fixed on the 1-GBT chip 30A and diode 42A through insulators 60A to 60F is a negative bus bar 24 which is parallel to the positive bus bar 20. The 1-GBT chip 32A is connected at its collector to the negative bus bar 24, and the diode 40A is connected at its cathode to the negative bus bar 24.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、大電流を高速スイ
ッチングする半導体装置に係り、特に、電気車駆動装置
や車載用モ−タ制御装置に用いる好適な半導体装置に関
する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a semiconductor device that switches a large current at high speed, and more particularly to a semiconductor device suitable for use in an electric vehicle drive device or a vehicle-mounted motor control device.

【0002】[0002]

【従来の技術】電気車、特に電気自動車では、駆動装置
の小型軽量化が要求されている。かかる駆動装置では、
バッテリー等の直流電源からモーターを駆動する交流を
得るために、大電流を高速スイッチングする半導体装置
が用いられている。特に、最近のパワ−エレクトロニク
スの進歩によって、IGBT(Insulated G
ate Bipolar Transistor)など
の高速大電力半導体が開発されるにいたり、その発生損
失の低減のため、内部インダクタンスを小さくすること
が重要視されている。
2. Description of the Related Art In electric vehicles, especially electric vehicles, there is a demand for reduction in size and weight of drive devices. In such a drive,
A semiconductor device that switches a large current at high speed is used in order to obtain an alternating current for driving a motor from a direct current power source such as a battery. In particular, due to recent advances in power electronics, IGBTs (Insulated G
As high-speed and high-power semiconductors such as an ATE Bipolar Transistor are being developed, it is important to reduce the internal inductance in order to reduce the loss generated.

【0003】そこで、例えば、特公平5−25392号
公報に記載されているように、トランジスタのコレクタ
に至る通電路とエミッタに至る通電路とが互いに平行に
なるように近接することにより、磁界をキャンセルして
インダクタンスを小さくすることが知られている。
Therefore, as described in, for example, Japanese Patent Publication No. 5-25392, a magnetic field is generated by making a conducting path leading to a collector of a transistor and a conducting path reaching an emitter close to each other in parallel. It is known to cancel and reduce the inductance.

【0004】さらに、例えば、特開平6−69415号
公報に記載のように、トランジスタとダイオードの直列
回路を並列に配置する2回路内蔵方式が知られている。
かかる2回路内蔵方式においても、トランジスタのコレ
クタに至る通電路とエミッタに至る通電路とを近接平行
として、インダクタンスを小さくすることが知られてい
る。
Further, for example, as disclosed in Japanese Patent Laid-Open No. 6-69415, a two-circuit built-in system is known in which a series circuit of a transistor and a diode is arranged in parallel.
Also in such a two-circuit built-in system, it is known that the conducting path leading to the collector of the transistor and the conducting path reaching the emitter are closely parallel to each other to reduce the inductance.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、2回路
内蔵方式にあっては、第1の回路と第2の回路を接続す
るために、ジャンパープレートを用いているため、この
ジャンパープレートによるインダクタンスの増加が生じ
るという問題があった。
However, in the two-circuit built-in system, since the jumper plate is used to connect the first circuit and the second circuit, the inductance increases due to this jumper plate. There was a problem that.

【0006】本発明の目的は、内部インダクタンスの小
さな2回路内蔵方式の半導体装置を提供するにある。
An object of the present invention is to provide a semiconductor device of a two-circuit built-in type having a small internal inductance.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明は、第1のIGBTチップと第1のダイオー
ドの直列回路からなる第1の回路と、第2のIGBTチ
ップと第2のダイオードの直列回路からなる第2の回路
を並列配置した半導体装置において、絶縁基板上に固定
された正極ブスバーと、この正極ブスバーと平行に配置
され、上記絶縁基板上に固定された出力ブスバーと、上
記正極ブスバーの上に固定されるとともに、そのコレク
タが接続された上記第1のIGBTチップと、上記正極
ブスバーの上に固定されるとともに、そのアノードが接
続された上記第2のダイオードと、上記出力ブスバーの
上に固定されるとともに、そのコレクタが接続された上
記第2のIGBTチップと、上記出力ブスバーの上に固
定されるとともに、そのアノードが接続された上記第1
のダイオードと、上記第1のIGBTチップのエミッタ
と上記出力ブスバーを接続する第1の接続導体と、上記
第2のダイオードのカソードと上記出力ブスバーを接続
する第2の接続導体と、上記第1のIGBTチップ及び
上記第2のダイオードの上方に、絶縁物を介して、上記
正極ブスバーと平行に固定された負極ブスバーと、上記
第2のIGBTチップのコレクタと上記負極ブスバーを
接続する第3の接続導体と、上記第1のダイオードのカ
ソードと上記負極ブスバーを接続する第4の接続導体と
を備えるようにしたものであり、かかる構成とすること
により、インダクタンスを低減し得るものとなる。
In order to achieve the above object, the present invention provides a first circuit comprising a series circuit of a first IGBT chip and a first diode, a second IGBT chip and a second circuit. In a semiconductor device in which a second circuit composed of a series circuit of diodes is arranged in parallel, a positive busbar fixed on an insulating substrate, and an output busbar arranged in parallel with the positive busbar and fixed on the insulating substrate. A first IGBT chip fixed to the positive electrode bus bar and having a collector connected thereto, and a second diode fixed to the positive electrode bus bar and having an anode connected thereto, The second IGBT chip fixed to the output busbar and having its collector connected, and the second IGBT chip fixed to the output busbar. The first in which the anode is connected
A diode, a first connecting conductor connecting the emitter of the first IGBT chip and the output busbar, a second connecting conductor connecting the cathode of the second diode and the output busbar, and the first connecting conductor. Above the IGBT chip and the second diode, a negative electrode bus bar fixed in parallel with the positive electrode bus bar via an insulator, and a third collector connecting the collector of the second IGBT chip and the negative electrode bus bar. The connection conductor and the fourth connection conductor that connects the cathode of the first diode and the negative bus bar are provided. With such a configuration, the inductance can be reduced.

【0008】上記半導体装置において、好ましくは、上
記第1及び第2の接続導体に対して、上記第3及び第4
の接続導体を平行に近接配置するようにしたものであ
り、かかる構成とすることにより、磁界キャンセリング
により、インダクタンスを低減し得るものとなる。
In the above semiconductor device, preferably, the third and fourth connection conductors are provided for the first and second connection conductors.
In this configuration, the connecting conductors are arranged in parallel and close to each other. With such a configuration, magnetic field canceling can reduce the inductance.

【0009】上記半導体装置において、好ましくは、上
記正極ブスバーの上に固定された上記第1のIGBTチ
ップに対して、上記出力ブスバーの上に固定される上記
第1のダイオードを近接配置し、上記正極ブスバーの上
に固定された上記第2のダイオードに対して、上記出力
ブスバーの上に固定される上記第2のIGBTチップを
近接配置するようにしたものであり、交流分による磁界
キャンセリングを可能とし得るものとなる。
In the above semiconductor device, preferably, the first diode fixed on the output bus bar is arranged in proximity to the first IGBT chip fixed on the positive electrode bus bar, The second IGBT chip fixed on the output bus bar is arranged in proximity to the second diode fixed on the positive electrode bus bar, and magnetic field canceling by an alternating current component is performed. It will be possible.

【0010】上記半導体装置において、好ましくは、上
記第1の直列回路と上記第2の直列回路を対称に配置
し、これに対して、上記正極ブスバー,負極ブスバー及
び出力ブスバーを対称に配置するようにしたものであ
り、電流配分を均等にし得るものとなる。
In the above semiconductor device, preferably, the first series circuit and the second series circuit are symmetrically arranged, while the positive bus bar, the negative bus bar and the output bus bar are symmetrically arranged. The current distribution can be made uniform.

【0011】上記半導体装置において、好ましくは、さ
らに、上記絶縁板に固定されたケースを備え、上記負極
ブスバーの一部を上記ケースにより保持するようにした
ものであり、かかる構成とすることにより、負極ブスバ
ーの保持を強固にし得るものとなる。
The above semiconductor device preferably further comprises a case fixed to the insulating plate, and a part of the negative electrode bus bar is held by the case. With such a structure, It becomes possible to firmly hold the negative electrode bus bar.

【0012】[0012]

【発明の実施の形態】以下、本発明の一実施の形態につ
いて、図1乃至図3を用いて説明する。図1は、本発明
の一実施の形態による半導体装置の平面図であり、図2
は、図1のX−X断面図であり、図3は、本発明の一実
施の形態による半導体装置の回路図である。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION An embodiment of the present invention will be described below with reference to FIGS. 1 is a plan view of a semiconductor device according to an embodiment of the present invention.
3 is a sectional view taken along line XX of FIG. 1, and FIG. 3 is a circuit diagram of a semiconductor device according to an embodiment of the present invention.

【0013】図1において、四角形の絶縁板10の上に
は、四角形の枠状のケース12が固定されている。絶縁
板10は、例えば、窒化アルミ板からなる。絶縁板10
の上であって、図面に向かって左側の方には、長方形の
正電極端子として用いられる正極ブスバー20が、接合
されている。接合は、銀ローなどのロー材を用いてい
る。また、正極ブスバー20の右側であって、絶縁板1
0の上には、出力端子として用いられる出力ブスバー2
2が、ロー付けにより接合されている。正極ブスバー2
0と出力ブスバー22は、同一の絶縁板10上に取り付
けられているため、互いに平行である。また、長方形の
正極ブスバー20の長軸方向と出力ブスバー22の長軸
方向は互いに平行であり、この点においても、正極ブス
バー20と出力ブスバー22は、互いに平行である。
In FIG. 1, a rectangular frame-shaped case 12 is fixed on a rectangular insulating plate 10. The insulating plate 10 is made of, for example, an aluminum nitride plate. Insulating plate 10
A positive electrode bus bar 20 used as a rectangular positive electrode terminal is joined to the upper side of the drawing on the left side of the drawing. A brazing material such as silver brazing is used for joining. The insulating plate 1 is on the right side of the positive electrode bus bar 20.
Above 0 is an output busbar 2 used as an output terminal.
2 are joined by brazing. Positive bus bar 2
0 and the output busbar 22 are mounted on the same insulating plate 10 and thus are parallel to each other. Further, the long axis direction of the rectangular positive electrode bus bar 20 and the long axis direction of the output bus bar 22 are parallel to each other, and in this respect also, the positive electrode bus bar 20 and the output bus bar 22 are parallel to each other.

【0014】正極ブスバー20の上には、図示しない半
田により、パワーモジュールであるスイッチング用のI
GBTチップ30A,30Bと転流用のダイオード42
A,42Bが固定されている。従って、電気回路的に
は、IGBTチップ30A,30Bのコレクタとダイオ
ード42A,42Bのアノードが、正極ブスバー20に
接続されている。
On the positive electrode bus bar 20, solder I (not shown) for switching, which is a power module, is used.
GBT chips 30A and 30B and commutation diode 42
A and 42B are fixed. Therefore, in terms of an electric circuit, the collectors of the IGBT chips 30A and 30B and the anodes of the diodes 42A and 42B are connected to the positive busbar 20.

【0015】ここで、IGBTチップ30A,30Bの
それぞれの電流容量を100Aとすると、パワーモジュ
ール全体の電流容量を200Aとするために、IGBT
チップ30AとIGBTチップ30Bは互いに平行に接
続されている。従って、パワーモジュール全体の電流容
量が100Aでよい時には、IGBTチップ30Aだけ
を用いればよい。
Here, assuming that the current capacity of each of the IGBT chips 30A and 30B is 100A, in order to set the current capacity of the entire power module to 200A, the IGBT chips are
The chip 30A and the IGBT chip 30B are connected in parallel with each other. Therefore, when the current capacity of the entire power module may be 100 A, only the IGBT chip 30A may be used.

【0016】また、出力ブスバー22の上には、図示し
ない半田により、パワーモジュールであるスイッチング
用のIGBTチップ32A,32Bと転流用のダイオー
ド40A,40Bが固定されている。従って、電気回路
的には、IGBTチップ32A,32Bのコレクタとダ
イオード40A,40Bのアノードが、出力ブスバー2
2に接続されている。
On the output bus bar 22, IGBT chips 32A, 32B for switching which are power modules and diodes 40A, 40B for commutation are fixed by solder (not shown). Therefore, in terms of electric circuit, the collectors of the IGBT chips 32A and 32B and the anodes of the diodes 40A and 40B are connected to the output bus bar 2
2 are connected.

【0017】ここで、IGBTチップ32A,32Bの
それぞれの電流容量を100Aとすると、パワーモジュ
ール全体の電流容量を200Aとするために、IGBT
チップ32AとIGBTチップ32Bは互いに平行に接
続されている。従って、パワーモジュール全体の電流容
量が100Aでよい時には、IGBTチップ30Aだけ
を用いればよい。
Here, assuming that the current capacity of each of the IGBT chips 32A and 32B is 100A, in order to set the current capacity of the entire power module to 200A, the IGBT is
The chip 32A and the IGBT chip 32B are connected in parallel with each other. Therefore, when the current capacity of the entire power module may be 100 A, only the IGBT chip 30A may be used.

【0018】出力ブスバー22は、一体的に形成された
凹凸状の接続端子部22x1,22x2,22x3,2
2x4を有しており、IGBTチップ30Aのエミッタ
が、アルミワイヤ50A1によって、出力ブスバー22
の接続端子部22x2に接続され、IGBTチップ30
Bのエミッタが、アルミワイヤ50A2によって、出力
ブスバー22の接続端子部22x3に接続されている。
また、ダイオード42Bのカソードが、アルミワイヤ5
0A4によって、出力ブスバー22の接続端子22x1
に接続され、ダイオード42Aのカソードが、アルミワ
イヤ50A3によって、出力ブスバー22の接続端子2
2x1に接続されている。ここで、アルミワイヤ50A
1,50A2,50A3,50A4は、それぞれ、2本
づつの線で表しているが、実際には、複数本平行に用い
られている。アルミワイヤ50A1,50A2,50A
3,50A4は、ワイヤボンデイングによって設けられ
るため、1本のワイヤの径は、限界があり、IGBTチ
ップ若しくはダイオードから流れる電流の大きさに応じ
て、複数本使用している。
The output bus bar 22 is formed integrally with the connection terminal portions 22x1, 22x2, 22x3, 2 having an uneven shape.
2 × 4, the emitter of the IGBT chip 30A is connected to the output busbar 22 by the aluminum wire 50A1.
Connected to the connection terminal portion 22x2 of the IGBT chip 30
The B emitter is connected to the connection terminal portion 22x3 of the output busbar 22 by an aluminum wire 50A2.
The cathode of the diode 42B is connected to the aluminum wire 5
0A4 allows connection terminal 22x1 of output busbar 22
The cathode of the diode 42A is connected to the connection terminal 2 of the output busbar 22 by the aluminum wire 50A3.
It is connected to 2x1. Here, aluminum wire 50A
Each of 1,50A2, 50A3, and 50A4 is represented by two lines, but in reality, a plurality of lines are used in parallel. Aluminum wire 50A1, 50A2, 50A
Since 3,50A4 are provided by wire bonding, the diameter of one wire is limited, and a plurality of wires are used according to the magnitude of the current flowing from the IGBT chip or the diode.

【0019】正極ブスバー20の上には、3本の円柱形
の絶縁物60A,60B,60Cが固定されている。ま
た、出力ブスバー22のの上には、3本の円柱形の絶縁
物60D,60E,60Fが固定されている。そして、
6本の絶縁物60A,60B,60C,60D,60
E,60Fの上には、負極ブスバー24が固定されてい
る。従って、負極ブスバー24は、正極ブスバー20と
互いに平行になっており、また、負極ブスバー24と正
極ブスバー20を流れる電流の向きは、逆方向となって
いる。負極ブスバー24は、ケース12によっても保持
されている。
On the positive electrode bus bar 20, three cylindrical insulators 60A, 60B and 60C are fixed. Further, three cylindrical insulators 60D, 60E, 60F are fixed on the output bus bar 22. And
6 insulators 60A, 60B, 60C, 60D, 60
The negative electrode bus bar 24 is fixed on E and 60F. Therefore, the negative electrode bus bar 24 and the positive electrode bus bar 20 are parallel to each other, and the directions of the currents flowing through the negative electrode bus bar 24 and the positive electrode bus bar 20 are opposite to each other. The negative electrode bus bar 24 is also held by the case 12.

【0020】負極ブスバー24の右側には、一体的に形
成された凹凸状の接続端子部24x1,24x2,24
x3,24x4を有しており、IGBTチップ32Aの
エミッタが、アルミワイヤ50B1によって、負極ブス
バー24の接続端子部24x2に接続され、IGBTチ
ップ32Bのエミッタが、アルミワイヤ50B2によっ
て、負極ブスバー24の接続端子部24x3に接続され
ている。また、ダイオード40Aのカソードが、アルミ
ワイヤ50B3によって、負極ブスバー24の接続端子
24x1に接続され、ダイオード40Bのカソードが、
アルミワイヤ50B3によって、負極ブスバー24の接
続端子24x1に接続されている。ここで、アルミワイ
ヤ50B1,50B2,50B3,50B4は、それぞ
れ、2本づつの線で表しているが、実際には、複数本平
行に用いられている。アルミワイヤ50B1,50B
2,50B3,50B4は、ワイヤボンデイングによっ
て設けられるため、1本のワイヤの径は、限界があり、
IGBTチップ若しくはダイオードから流れる電流の大
きさに応じて、複数本使用している。
On the right side of the negative electrode bus bar 24, there are integrally formed concavo-convex connection terminal portions 24x1, 24x2, 24.
x3, 24x4, the emitter of the IGBT chip 32A is connected to the connection terminal portion 24x2 of the negative busbar 24 by the aluminum wire 50B1, and the emitter of the IGBT chip 32B is connected to the negative busbar 24 by the aluminum wire 50B2. It is connected to the terminal portion 24x3. The cathode of the diode 40A is connected to the connection terminal 24x1 of the negative busbar 24 by the aluminum wire 50B3, and the cathode of the diode 40B is
It is connected to the connection terminal 24x1 of the negative electrode bus bar 24 by an aluminum wire 50B3. Here, each of the aluminum wires 50B1, 50B2, 50B3, and 50B4 is represented by two lines, but in reality, a plurality of aluminum wires are used in parallel. Aluminum wire 50B1, 50B
Since 2,50B3 and 50B4 are provided by wire bonding, the diameter of one wire is limited,
A plurality of IGBT chips or diodes are used depending on the magnitude of the current flowing from them.

【0021】ここで、アルミワイヤ50A1,50A
2,50A3,50A4とアルミワイヤ50B1,50
B2,50B3,50B4は、それぞれ、平行に保たれ
ている。即ち、この点については、図2を用いて詳述す
るが、アルミワイヤ50A1とアルミワイヤ50B1
が、互いに平行であり、しかも、流れる電流方向が逆向
きとなっており、また、アルミワイヤ50A2とアルミ
ワイヤ50B2が、互いに平行であり、しかも、流れる
電流方向が逆向きとなっている。さらに、アルミワイヤ
50A3とアルミワイヤ50B3が、互いに平行であ
り、しかも、流れる電流方向が逆向きとなっており、ま
た、アルミワイヤ50A4とアルミワイヤ50B4が、
互いに平行であり、しかも、流れる電流方向が逆向きと
なっている。
Here, the aluminum wires 50A1 and 50A
2,50A3,50A4 and aluminum wire 50B1,50
B2, 50B3, and 50B4 are kept parallel to each other. That is, although this point will be described in detail with reference to FIG. 2, the aluminum wire 50A1 and the aluminum wire 50B1 are
Are parallel to each other, and the flowing current directions are opposite to each other, and the aluminum wires 50A2 and 50B2 are parallel to each other, and the flowing current directions are opposite to each other. Further, the aluminum wire 50A3 and the aluminum wire 50B3 are parallel to each other, and the flowing current directions are opposite to each other, and the aluminum wire 50A4 and the aluminum wire 50B4 are
They are parallel to each other, and the directions of flowing currents are opposite to each other.

【0022】従って、IGBTチップ30Aのエミッタ
は、ダイオード40Aのアノードに接続され、第1の直
列回路を構成している。また、IGBTチップ30Bの
エミッタは、ダイオード40Bのアノードに接続され、
これも、第1の直列回路を構成している。IGBTチッ
プ30Aとダイオード40Aの直列回路は、IGBTチ
ップ30Bとダイオード40Bの直列回路は並列接続さ
れている。IGBTチップ30Aとダイオード40Aの
直列回路の電流容量を100Aとし、IGBTチップ3
0Bとダイオード40Bの直列回路の電流容量を100
Aとすると、これらの回路は並列接続されており、電流
容量を200Aとしている。従って、電流容量を100
Aでよい時には、IGBTチップ30Aとダイオード4
0Aの直列回路だけを用いればよい。
Therefore, the emitter of the IGBT chip 30A is connected to the anode of the diode 40A to form a first series circuit. Further, the emitter of the IGBT chip 30B is connected to the anode of the diode 40B,
This also constitutes the first series circuit. The series circuit of the IGBT chip 30A and the diode 40A is connected in parallel with the series circuit of the IGBT chip 30B and the diode 40B. The current capacity of the series circuit of the IGBT chip 30A and the diode 40A is 100 A, and the IGBT chip 3
0B and diode 40B series circuit current capacity 100
Assuming A, these circuits are connected in parallel, and the current capacity is 200A. Therefore, the current capacity is 100
When A is sufficient, IGBT chip 30A and diode 4
Only a 0A series circuit need be used.

【0023】また、IGBTチップ32Aのエミッタ
は、ダイオード42Aのアノードに接続され、第2の直
列回路を構成している。また、IGBTチップ32Bの
エミッタは、ダイオード42Bのアノードに接続され、
これも、第2の直列回路を構成している。IGBTチッ
プ32Aとダイオード42Aの直列回路は、IGBTチ
ップ32Bとダイオード42Bの直列回路は並列接続さ
れている。IGBTチップ32Aとダイオード42Aの
直列回路の電流容量を100Aとし、IGBTチップ3
2Bとダイオード42Bの直列回路の電流容量を100
Aとすると、これらの回路は並列接続されており、電流
容量を200Aとしている。従って、電流容量を100
Aでよい時には、IGBTチップ32Aとダイオード4
2Aの直列回路だけを用いればよい。
The emitter of the IGBT chip 32A is connected to the anode of the diode 42A to form a second series circuit. The emitter of the IGBT chip 32B is connected to the anode of the diode 42B,
This also constitutes the second series circuit. The series circuit of the IGBT chip 32A and the diode 42A is connected in parallel to the series circuit of the IGBT chip 32B and the diode 42B. The current capacity of the series circuit of the IGBT chip 32A and the diode 42A is 100A, and the IGBT chip 3
Set the current capacity of the series circuit of 2B and diode 42B to 100.
Assuming A, these circuits are connected in parallel, and the current capacity is 200A. Therefore, the current capacity is 100
When A is sufficient, IGBT chip 32A and diode 4
Only a 2A series circuit need be used.

【0024】第1の直列回路と第2の直列回路は、それ
ぞれ、正極ブスバー20と負極ブスバー24に対して並
列接続されているとともに、第1の直列回路のIGBT
チップのエミッタとダイオードのアノードの接続点及
び、第2の直列回路のダイオードのカソードとIGBT
チップのコレクタの接続点は、出力ブスバー22に共通
接続されている。
The first series circuit and the second series circuit are connected in parallel to the positive bus bar 20 and the negative bus bar 24, respectively, and the IGBT of the first series circuit is connected.
The connection point between the chip emitter and the diode anode, and the diode cathode and the IGBT in the second series circuit.
The connection points of the chip collectors are commonly connected to the output bus bar 22.

【0025】さらに、正極ブスバー20の左側であっ
て、絶縁板10の上には、端子台70が取り付けられて
いる。端子台70のうえには、半田により、ゲート抵抗
74A,74Bが固定されている。ゲート抵抗74A
は、アルミワイヤ78A1によりIGBTチップ30A
のベースに接続されている。ゲート抵抗74Bは、アル
ミワイヤ78B1によりIGBTチップ30Bのベース
に接続されている。また、出力ブスバー22の右側であ
って、絶縁板10の上には、端子台72が取り付けられ
ている。端子台72のうえには、半田により、ゲート抵
抗76A,76Bが固定されている。ゲート抵抗76A
は、アルミワイヤ78A2によりIGBTチップ32A
のベースに接続されている。ゲート抵抗76Bは、アル
ミワイヤ78B2によりIGBTチップ32Bのベース
に接続されている。
A terminal block 70 is attached to the left side of the positive electrode bus bar 20 and on the insulating plate 10. Gate resistors 74A and 74B are fixed on the terminal block 70 by soldering. Gate resistance 74A
Is an IGBT chip 30A with an aluminum wire 78A1.
Connected to the base. The gate resistor 74B is connected to the base of the IGBT chip 30B by an aluminum wire 78B1. A terminal block 72 is mounted on the insulating plate 10 on the right side of the output bus bar 22. Gate resistors 76A and 76B are fixed on the terminal block 72 by soldering. Gate resistance 76A
Is an IGBT chip 32A with an aluminum wire 78A2.
Connected to the base. The gate resistor 76B is connected to the base of the IGBT chip 32B by an aluminum wire 78B2.

【0026】IGBTチップからの放熱は、絶縁板10
を介して行われる。
Heat is dissipated from the IGBT chip by the insulating plate 10.
Done through.

【0027】次に、図2を用いて、図1に示した本発明
の一実施の形態による半導体装置の断面構造について説
明する。
Next, the sectional structure of the semiconductor device according to the embodiment of the present invention shown in FIG. 1 will be described with reference to FIG.

【0028】絶縁板10の上には、枠状のケース12が
固定されている。絶縁板10の上であって、図面に向か
って左側の方には、正電極端子として用いられる正極ブ
スバー20が、接合されている。接合は、銀ローなどの
ロー材を用いている。また、正極ブスバー20の右側で
あって、絶縁板10の上には、出力端子として用いられ
る出力ブスバー22が、ロー付けにより接合されてい
る。正極ブスバー20と出力ブスバー22は、同一の絶
縁板10上に取り付けられているため、互いに平行であ
る。また、正極ブスバー20の長軸方向(図面に直交す
る方向)と出力ブスバー22の長軸方向(図面に直交す
る方向)は互いに平行であり、この点においても、正極
ブスバー20と出力ブスバー22は、互いに平行であ
る。
A frame-shaped case 12 is fixed on the insulating plate 10. A positive electrode bus bar 20 used as a positive electrode terminal is joined to the left side of the insulating plate 10 in the drawing. A brazing material such as silver brazing is used for joining. On the right side of the positive bus bar 20 and on the insulating plate 10, an output bus bar 22 used as an output terminal is joined by brazing. The positive bus bar 20 and the output bus bar 22 are mounted on the same insulating plate 10, and thus are parallel to each other. Further, the long axis direction of the positive electrode bus bar 20 (direction orthogonal to the drawing) and the long axis direction of the output bus bar 22 (direction orthogonal to the drawing) are parallel to each other. , Parallel to each other.

【0029】正極ブスバー20の上には、半田80によ
り、パワーモジュールであるスイッチング用のIGBT
チップ30Aと図示しない転流用のダイオードが固定さ
れている。従って、電気回路的には、IGBTチップ3
0Aのコレクタとダイオードのアノードが、正極ブスバ
ー20に接続されている。
On the positive electrode bus bar 20, a switching IGBT, which is a power module, is connected by solder 80.
The chip 30A and a diode for commutation (not shown) are fixed. Therefore, in terms of electric circuit, the IGBT chip 3
The collector of 0 A and the anode of the diode are connected to the positive bus bar 20.

【0030】また、出力ブスバー22の上には、半田8
2により、パワーモジュールであるスイッチング用のI
GBTチップ32Aと図示しない転流用のダイオードが
固定されている。従って、電気回路的には、IGBTチ
ップ32Aのコレクタとダイオードのアノードが、出力
ブスバー22に接続されている。
Further, the solder 8 is placed on the output bus bar 22.
2, I for switching which is a power module
The GBT chip 32A and a diode for commutation (not shown) are fixed. Therefore, in terms of an electric circuit, the collector of the IGBT chip 32A and the anode of the diode are connected to the output bus bar 22.

【0031】出力ブスバー22は、一体的に形成された
凹凸状の接続端子部22x2を有しており、IGBTチ
ップ30Aのエミッタが、アルミワイヤ50A1によっ
て、出力ブスバー22の接続端子部22x2に接続され
ている。また、図示しないダイオードのカソードが、ア
ルミワイヤによって、出力ブスバー22の接続端子に接
続されている。ここで、アルミワイヤ50A1は複数本
平行に用いられている。アルミワイヤ50A1は、ワイ
ヤボンデイングによって設けられるため、1本のワイヤ
の径は、限界があり、IGBTチップ若しくはダイオー
ドから流れる電流の大きさに応じて、複数本使用してい
る。
The output bus bar 22 has an integrally formed concavo-convex connection terminal portion 22x2, and the emitter of the IGBT chip 30A is connected to the connection terminal portion 22x2 of the output bus bar 22 by an aluminum wire 50A1. ing. The cathode of the diode (not shown) is connected to the connection terminal of the output bus bar 22 by an aluminum wire. Here, a plurality of aluminum wires 50A1 are used in parallel. Since the aluminum wire 50A1 is provided by wire bonding, the diameter of one wire is limited, and a plurality of aluminum wires 50A1 are used according to the magnitude of the current flowing from the IGBT chip or the diode.

【0032】正極ブスバー20の上には、円柱形の絶縁
物60Bが固定されている。また、出力ブスバー22の
の上には、円柱形の絶縁物60Eが固定されている。そ
して、これらの絶縁物60B,60Eの上には、負極ブ
スバー24が固定されている。従って、負極ブスバー2
4は、正極ブスバー20と互いに平行になっており、ま
た、負極ブスバー24と正極ブスバー20を流れる電流
の向きは、逆方向となっている。
A cylindrical insulator 60B is fixed on the positive electrode bus bar 20. A cylindrical insulator 60E is fixed on the output bus bar 22. The negative electrode bus bar 24 is fixed on the insulators 60B and 60E. Therefore, the negative bus bar 2
4 is parallel to the positive electrode bus bar 20 and the directions of the currents flowing through the negative electrode bus bar 24 and the positive electrode bus bar 20 are opposite to each other.

【0033】負極ブスバー24の右側には、一体的に形
成された凹凸状の接続端子部24x2を有しており、I
GBTチップ32Aのエミッタが、アルミワイヤ50B
1によって、負極ブスバー24の接続端子部24x2に
接続されている。また、図示しないダイオードのカソー
ドが、アルミワイヤによって、負極ブスバー24の接続
端子に接続されている。ここで、アルミワイヤ50B1
複数本平行に用いられている。アルミワイヤ50B1
は、ワイヤボンデイングによって設けられるため、1本
のワイヤの径は、限界があり、IGBTチップ若しくは
ダイオードから流れる電流の大きさに応じて、複数本使
用している。
On the right side of the negative electrode bus bar 24, there is an integrally formed concavo-convex connecting terminal portion 24x2,
The emitter of the GBT chip 32A is an aluminum wire 50B.
1 is connected to the connection terminal portion 24x2 of the negative busbar 24. The cathode of the diode (not shown) is connected to the connection terminal of the negative bus bar 24 by an aluminum wire. Here, aluminum wire 50B1
Used in parallel. Aluminum wire 50B1
Since the wire is provided by wire bonding, the diameter of one wire is limited, and a plurality of wires are used according to the magnitude of the current flowing from the IGBT chip or the diode.

【0034】また、負極ブスバー24は、絶縁物60
B,60Eを介して、正極ブスバー20や出力ブスバー
22とは、異なる平面上に支持されているので、負極ブ
スバー24とIGBTチップ32Aのエミッタの間に
は、段差があり、従来のワイヤボンデイング技術では、
このような段差がある場合には、アルミワイヤによるボ
ンデイングが不可能であったが、近年、このような段差
のある箇所にも適用可能なボンデイング技術が開発され
たため、このような配置が可能となっている。また、正
極ブスバー20と負極ブスバー24の間には、円柱状の
絶縁物60B,60Eを用いているため、超音波ボンデ
イング時の共振現象を防止できる。
The negative electrode bus bar 24 is made of an insulator 60.
Since the positive electrode bus bar 20 and the output bus bar 22 are supported on different planes via B and 60E, there is a step between the negative electrode bus bar 24 and the emitter of the IGBT chip 32A, which is a conventional wire bonding technique. Then
If there is such a step, it was impossible to bond with aluminum wire, but in recent years, a bonding technology that can be applied to such a step has been developed, and such an arrangement is possible. Has become. Further, since the cylindrical insulators 60B and 60E are used between the positive electrode bus bar 20 and the negative electrode bus bar 24, it is possible to prevent a resonance phenomenon during ultrasonic bonding.

【0035】ここで、アルミワイヤ50A1とアルミワ
イヤ50B1は、それぞれ、平行に保たれている。即
ち、アルミワイヤ50A1とアルミワイヤ50B1が、
互いに平行であり、しかも、流れる電流方向が逆向きと
なっている。
Here, the aluminum wire 50A1 and the aluminum wire 50B1 are kept parallel to each other. That is, the aluminum wire 50A1 and the aluminum wire 50B1 are
They are parallel to each other, and the directions of flowing currents are opposite to each other.

【0036】従って、IGBTチップ30Aのエミッタ
は、出力ブスバー22の上に固定された図示しないダイ
オードのアノードに接続され、第1の直列回路を構成し
ている。また、IGBTチップ32Aのエミッタは、正
極ブスバー20の上に固定された図示しないダイオード
のアノードに接続され、第2の直列回路を構成してい
る。
Therefore, the emitter of the IGBT chip 30A is connected to the anode of a diode (not shown) fixed on the output bus bar 22 to form a first series circuit. Further, the emitter of the IGBT chip 32A is connected to the anode of a diode (not shown) fixed on the positive electrode bus bar 20 to form a second series circuit.

【0037】第1の直列回路と第2の直列回路は、それ
ぞれ、正極ブスバー20と負極ブスバー24に対して並
列接続されているとともに、第1の直列回路のIGBT
チップのエミッタとダイオードのアノードの接続点及
び、第2の直列回路のダイオードのカソードとIGBT
チップのコレクタの接続点は、出力ブスバー22に共通
接続されている。
The first series circuit and the second series circuit are connected in parallel to the positive bus bar 20 and the negative bus bar 24, respectively, and the IGBT of the first series circuit is connected.
The connection point between the chip emitter and the diode anode, and the diode cathode and the IGBT in the second series circuit.
The connection points of the chip collectors are commonly connected to the output bus bar 22.

【0038】さらに、正極ブスバー20の左側であっ
て、絶縁板10の上には、端子台70が取り付けられて
いる。端子台70のうえには、半田により、ゲート抵抗
74Aが固定されている。ゲート抵抗74Aは、アルミ
ワイヤ78A1によりIGBTチップ30Aのベースに
接続されている。また、出力ブスバー22の右側であっ
て、絶縁板10の上には、端子台72が取り付けられて
いる。端子台72のうえには、半田により、ゲート抵抗
76Aが固定されている。ゲート抵抗76Aは、アルミ
ワイヤ78A2によりIGBTチップ32Aのベースに
接続されている。絶縁板10の裏には、銅パターン90
が形成されており、IGBTチップからの放熱は、絶縁
板10を介して行われる。
Further, a terminal block 70 is attached on the left side of the positive electrode bus bar 20 and on the insulating plate 10. A gate resistor 74A is fixed on the terminal block 70 by soldering. The gate resistor 74A is connected to the base of the IGBT chip 30A by an aluminum wire 78A1. A terminal block 72 is mounted on the insulating plate 10 on the right side of the output bus bar 22. The gate resistor 76A is fixed on the terminal block 72 by soldering. The gate resistor 76A is connected to the base of the IGBT chip 32A by an aluminum wire 78A2. A copper pattern 90 is provided on the back of the insulating plate 10.
Is formed, and heat is dissipated from the IGBT chip through the insulating plate 10.

【0039】正極ブスバー20と出力ブスバー22は、
絶縁板10の上に、0.4mm程度に薄くした部分をロ
ー付けにより、接合している。
The positive bus bar 20 and the output bus bar 22 are
A portion thinned to about 0.4 mm is joined to the insulating plate 10 by brazing.

【0040】IGBTチップ30A,32Aの表面は、
チップ保護のためのコーテイング剤で覆われ、さらに、
絶縁板10の上に固定された枠状のケース12によって
形成される空間には、チップ保護のために、ゲル100
が充填されている。
The surfaces of the IGBT chips 30A and 32A are
Covered with a coating agent for chip protection,
In the space formed by the frame-shaped case 12 fixed on the insulating plate 10, a gel 100 is provided for chip protection.
Is filled.

【0041】本実施の形態によれば、正極ブスバー20
と出力ブスバー22が互いに平行に配置されているた
め、インダクタンスを低減することができる。
According to the present embodiment, the positive electrode bus bar 20
Since the output busbar 22 and the output busbar 22 are arranged in parallel with each other, the inductance can be reduced.

【0042】また、IGBTチップが正極ブスバー20
及び出力ブスバー22の上に直接ついているので、配線
距離をさらに、短くできる。
The IGBT chip has a positive electrode bus bar 20.
Further, since it is directly attached to the output bus bar 22, the wiring distance can be further shortened.

【0043】また、負極ブスバー24を正極ブスバー2
0の上に平行に配置され、しかも、正極ブスバー20を
流れる電流の向きと負極ブスバー24を流れる電流の向
きが逆方向であるため、インダクタンスを低減すること
ができる。
Further, the negative electrode bus bar 24 is replaced by the positive electrode bus bar 2
0 is arranged in parallel with each other and the direction of the current flowing through the positive electrode bus bar 20 and the direction of the current flowing through the negative electrode bus bar 24 are opposite to each other, so that the inductance can be reduced.

【0044】また、負極ブスバー24を正極ブスバー2
0の上に平行に配置したため、従来のようなジャンパー
プレートを使用する必要がないため、インダクタンスを
低減できる。
Further, the negative electrode bus bar 24 is connected to the positive electrode bus bar 2
Since they are arranged parallel to each other on 0, it is not necessary to use a jumper plate as in the conventional case, and thus the inductance can be reduced.

【0045】また、負極ブスバー24を正極ブスバー2
0の上に平行に配置し、さらに、負極ブスバー24と出
力ブスバー22の上に固定されたIGBTチップのエミ
ッタを接続するアルミワイヤと、正極ブスバー20の上
に固定されたIGBTチップのエミッタと出力ブスバー
22を接続するアルミワイヤとを互いに平行にし、しか
も、それらを流れる電流の向きを逆方向とすることによ
り、さらに、インダクタンスを低減できる。
In addition, the negative electrode bus bar 24 is connected to the positive electrode bus bar 2
0 arranged in parallel and further connecting the negative electrode bus bar 24 and the emitter chip of the IGBT chip fixed on the output bus bar 22 and the emitter and output of the IGBT chip fixed on the positive electrode bus bar 20. The inductance can be further reduced by making the aluminum wires connecting the busbars 22 parallel to each other and making the directions of the currents flowing through them opposite to each other.

【0046】次に、図3を用いて本発明の一実施の形態
による半導体装置の回路図について説明する。
Next, a circuit diagram of the semiconductor device according to the embodiment of the present invention will be described with reference to FIG.

【0047】ここで、図1に示した平面図では、4個の
IGBTチップと4個のダイオードが配置されている
が、これは、第1の直列回路が並列配置され、さらに、
第2の直列回路も並列配置されているためであり、ここ
では、1個のIGBTチップとダイオードからなる第1
の直列回路と1個のIGBTチップとダイオードからな
る第2の直列回路だけについて説明する。
Here, in the plan view shown in FIG. 1, four IGBT chips and four diodes are arranged. In this case, the first series circuit is arranged in parallel, and further,
This is because the second series circuit is also arranged in parallel. Here, the first series circuit is composed of one IGBT chip and a diode.
Only the second series circuit including the series circuit of 1 and the IGBT chip and the diode will be described.

【0048】図3において、太い実線は、ブスバーを表
し、破線は、アルミワイヤを表している。
In FIG. 3, thick solid lines represent bus bars, and broken lines represent aluminum wires.

【0049】IGBTチップ30Aとダイオード40A
からなる直列回路により第1の回路を構成している。ま
た、IGBTチップ32Bとダイオード42Bからなる
直列回路により第2の回路を構成している。
IGBT chip 30A and diode 40A
The first circuit is configured by a series circuit including. In addition, the second circuit is configured by a series circuit including the IGBT chip 32B and the diode 42B.

【0050】正極ブスバー20は、IGBTチップ30
Aのコレクタ及びダイオード42Bのアノードに接続さ
れている。負極ブスバー24は、ダイオード40Aのカ
ソード側にアルミワイヤ50B3を介して接続され、I
GBTチップ32Bのエミッタ側にアルミワイヤ50B
2を介して接続されている。
The positive electrode bus bar 20 is an IGBT chip 30.
It is connected to the collector of A and the anode of the diode 42B. The negative electrode bus bar 24 is connected to the cathode side of the diode 40A via an aluminum wire 50B3, and I
Aluminum wire 50B on the emitter side of GBT chip 32B
2 are connected.

【0051】ている。また、出力ブスバー22は、IG
BTチップ30Aに対してアルミワイヤ50A1を介し
た点とダイオード40Aのアノードの接続点及びIGB
Tチップ32Bのコレクタとダイオード42Bのカソー
ド側にアルミワイヤ50A4を介した点との接続点に接
続されている。
It is. Further, the output bus bar 22 is IG
A point through the aluminum wire 50A1 to the BT chip 30A, a connection point of the anode of the diode 40A, and the IGB
It is connected to a connection point between the collector of the T chip 32B and a point on the cathode side of the diode 42B via an aluminum wire 50A4.

【0052】IGBTチップ30Aのベースに信号が印
加されると、正の半波が出力ブスバー22を介して取り
出され、IGBTチップ32Bのベースに信号が印加さ
れると、負の半波が出力ブスバー22を介して取り出さ
れて、交流信号を得られる。
When a signal is applied to the base of the IGBT chip 30A, a positive half wave is taken out via the output bus bar 22, and when a signal is applied to the base of the IGBT chip 32B, a negative half wave is output. It is taken out via 22 and an AC signal is obtained.

【0053】ダイオード40A及びダイオード42B
は、転流用のダイオードである。
Diode 40A and diode 42B
Is a diode for commutation.

【0054】ここで、本実施の形態によれば、正極ブス
バーと負極ブスバーは、互いに平行に配置されるととも
に、それぞれを流れる電流の方向は逆方向であるため、
インダクタンスを低減できる。
Here, according to the present embodiment, the positive electrode bus bar and the negative electrode bus bar are arranged in parallel with each other, and the currents flowing through them are in opposite directions.
Inductance can be reduced.

【0055】また、出力ブスバーと正極ブスバーも互い
に平行に配置されており、インダクタンスを低減でき
る。
The output bus bar and the positive bus bar are also arranged in parallel with each other, so that the inductance can be reduced.

【0056】また、アルミワイヤは、対アームであるア
ルミワイヤと互いに平行であり、しかも、流れる電流の
方向は、逆方向となっており、インダクタンスを低減で
きる。
Further, the aluminum wire is parallel to the aluminum wire which is the opposite arm, and the flowing currents are in the opposite directions, so that the inductance can be reduced.

【0057】また、アルミワイヤは、対アームであるア
ルミワイヤと互いに平行であり、しかも、流れる電流の
方向は、逆方向となっており、インダクタンスを低減で
きる。
Further, the aluminum wire is parallel to the aluminum wire which is the opposite arm, and the flowing currents are in opposite directions, so that the inductance can be reduced.

【0058】また、正極から電流が流れチップを通って
出力端子に戻ってくるまでの往復線間は、ワイヤ高さと
絶縁物高さ程度に小さくできるので、磁界キャンセリン
グ作用により、インダクタンスを低減できる。そのた
め、各部における自己インダクタンスおよび相互インダ
クタンスが大きく減少し、それによりサ−ジ電圧を低減
でき、スイッチング損失を低減できる。複数チップで遠
い位置のチップのインダクタンスが大きく、電流アンバ
ランスが発生しやすいため、極力内部わん曲をなくし、
近接並行としインダクタンスを低減している。
Further, the distance between the reciprocating line from the current flowing from the positive electrode through the chip and returning to the output terminal can be made as small as the wire height and the insulator height, so that the inductance can be reduced by the magnetic field canceling action. . Therefore, the self-inductance and the mutual inductance in each part are greatly reduced, which can reduce the surge voltage and the switching loss. Since multiple chips have large inductance at distant positions and current imbalance is likely to occur, internal bending is eliminated as much as possible,
Inductance is reduced by paralleling closely.

【0059】チップの線膨張係数は、銅の約1/6倍
で、窒化アルミの線膨張係数は、銅の約1/5倍で、チ
ップ、銅、窒化アルミの順に接続されているため、熱ス
トレスの影響をうけることが予想されるが、ブスバーの
IGBTチップマウント部の厚さを最適とすることによ
り熱応力作用によりはんだ寿命に影響しないようするこ
とが可能である。
The coefficient of linear expansion of the chip is about ⅙ times that of copper, and the coefficient of linear expansion of aluminum nitride is about ⅕ times that of copper. Since the chip, copper and aluminum nitride are connected in this order, Although expected to be affected by thermal stress, it is possible to prevent the solder life from being affected by the thermal stress action by optimizing the thickness of the IGBT chip mount portion of the bus bar.

【0060】以下、本発明の他の実施の形態について、
図4及び図5を用いて説明する。図4は、本発明の他の
実施の形態による半導体装置の平面図であり、図5は、
図4のY−Y断面図である。
Hereinafter, another embodiment of the present invention will be described.
This will be described with reference to FIGS. FIG. 4 is a plan view of a semiconductor device according to another embodiment of the present invention, and FIG.
FIG. 5 is a sectional view taken along line YY of FIG. 4.

【0061】本実施の形態では、IGBTチップとこれ
に直列配置されるダイオードを近接させる配置としてい
る。また、ブスバーを上下対称に、即ち、対アームを形
成する第1の直列回路と第2の直列回路を対称に配置
し、これに対してブスバーを対称に配置している。な
お、ここでは、2個のIGBTチップと2個のダイオー
ドからなる配置を示しているが、図1と同様にして、4
個のIGBTチップと4個のダイオードからなる配置と
してもよい。
In this embodiment, the IGBT chip and the diode arranged in series with the IGBT chip are arranged close to each other. Further, the busbars are arranged vertically symmetrically, that is, the first series circuit and the second series circuit forming the paired arms are arranged symmetrically, whereas the busbars are arranged symmetrically. In addition, although an arrangement including two IGBT chips and two diodes is shown here, the same arrangement as in FIG.
It may be arranged such that each IGBT chip and four diodes are arranged.

【0062】図4において、四角形の絶縁板110の上
であって、図面に向かって左側の方には、長方形の正電
極端子として用いられる正極ブスバー120Bが、接合
されている。接合は、銀ローなどのロー材を用いてい
る。絶縁板110は、例えば、窒化アルミ板からなる。
また、正極ブスバー120の右側であって、絶縁板11
0の上には、出力端子として用いられる出力ブスバー1
22Aが、ロー付けにより接合されている。正極ブスバ
ー120Bと出力ブスバー122Aは、同一の絶縁板1
10上に取り付けられているため、互いに平行である。
また、長方形の正極ブスバー120Bの長軸方向と出力
ブスバー122Aの長軸方向は互いに平行であり、この
点においても、正極ブスバー120Bと出力ブスバー1
22Aは、互いに平行である。
In FIG. 4, a positive electrode bus bar 120B used as a rectangular positive electrode terminal is joined on the rectangular insulating plate 110 on the left side of the drawing. A brazing material such as silver brazing is used for joining. The insulating plate 110 is made of, for example, an aluminum nitride plate.
The insulating plate 11 is on the right side of the positive electrode bus bar 120.
Above 0 is an output busbar 1 used as an output terminal.
22A is joined by brazing. The positive bus bar 120B and the output bus bar 122A are the same insulating plate 1
Mounted on 10, they are parallel to each other.
Further, the long axis direction of the rectangular positive electrode bus bar 120B and the long axis direction of the output bus bar 122A are parallel to each other, and in this respect as well, the positive electrode bus bar 120B and the output bus bar 1 are arranged.
22A are parallel to each other.

【0063】正極ブスバー120Bの上には、図示しな
い半田により、パワーモジュールであるスイッチング用
のIGBTチップ130Aと転流用のダイオード142
Bが固定されている。従って、電気回路的には、IGB
Tチップ130Aのコレクタとダイオード142Bのア
ノードが、正極ブスバー120Bに接続されている。
On the positive electrode bus bar 120B, an IGBT chip 130A for switching which is a power module and a diode 142 for commutation are formed by solder (not shown).
B is fixed. Therefore, in terms of electrical circuit, IGB
The collector of the T-chip 130A and the anode of the diode 142B are connected to the positive busbar 120B.

【0064】また、出力ブスバー122Aの上には、図
示しない半田により、パワーモジュールであるスイッチ
ング用のIGBTチップ132Bと転流用のダイオード
140Aが固定されている。従って、電気回路的には、
IGBTチップ132Bのコレクタとダイオード140
Aのアノードが、出力ブスバー22Aに接続されてい
る。
On the output bus bar 122A, a switching IGBT chip 132B which is a power module and a commutation diode 140A are fixed by solder (not shown). Therefore, in terms of electric circuit,
IGBT chip 132B collector and diode 140
The anode of A is connected to the output bus bar 22A.

【0065】IGBTチップ130Aのエミッタが、ア
ルミワイヤ150A1によって、出力ブスバー22に接
続され、ダイオード142Bのカソードが、アルミワイ
ヤ150A3によって、出力ブスバー122Aに接続さ
れている。ここで、アルミワイヤ150A1,150A
3は、それぞれ、2本づつの線で表しているが、実際に
は、複数本平行に用いられている。アルミワイヤ150
A1,150A3は、ワイヤボンデイングによって設け
られるため、1本のワイヤの径は、限界があり、IGB
Tチップ若しくはダイオードから流れる電流の大きさに
応じて、複数本使用している。
The emitter of the IGBT chip 130A is connected to the output busbar 22 by the aluminum wire 150A1, and the cathode of the diode 142B is connected to the output busbar 122A by the aluminum wire 150A3. Here, aluminum wires 150A1 and 150A
Although each 3 is represented by two lines, a plurality of lines 3 are actually used in parallel. Aluminum wire 150
Since A1 and 150A3 are provided by wire bonding, there is a limit to the diameter of one wire.
Depending on the magnitude of the current flowing from the T-chip or diode, a plurality of them are used.

【0066】正極ブスバー120Bと出力ブスバー12
2Aの上には、3本の円柱形の絶縁物160A,160
B,160Cが固定されている。そして、この絶縁物1
60A,160B,160Cの上には、負極ブスバー1
24が固定されている。従って、負極ブスバー124
は、正極ブスバー120Bと互いに平行になっており、
また、負極ブスバー124と正極ブスバー120Bを流
れる電流の向きは、逆方向となっている。
Positive bus bar 120B and output bus bar 12
On top of 2A, three cylindrical insulators 160A, 160
B and 160C are fixed. And this insulator 1
On top of 60A, 160B and 160C, the negative bus bar 1
24 is fixed. Therefore, the negative bus bar 124
Is parallel to the positive electrode bus bar 120B,
The directions of the currents flowing through the negative busbar 124 and the positive busbar 120B are opposite to each other.

【0067】負極ブスバー124には、IGBTチップ
132Bのエミッタが、アルミワイヤ150B1によっ
て接続され、ダイオード140Aのカソードが、アルミ
ワイヤ150B3によって接続されている。ここで、ア
ルミワイヤ150B1,150B3は、それぞれ、2本
づつの線で表しているが、実際には、複数本平行に用い
られている。アルミワイヤ150B1,150B3は、
ワイヤボンデイングによって設けられるため、1本のワ
イヤの径は、限界があり、IGBTチップ若しくはダイ
オードから流れる電流の大きさに応じて、複数本使用し
ている。
To the negative bus bar 124, the emitter of the IGBT chip 132B is connected by the aluminum wire 150B1, and the cathode of the diode 140A is connected by the aluminum wire 150B3. Here, each of the aluminum wires 150B1 and 150B3 is represented by two lines, but in reality, a plurality of aluminum wires are used in parallel. Aluminum wires 150B1 and 150B3 are
Since the wire is provided by wire bonding, there is a limit to the diameter of one wire, and a plurality of wires are used depending on the magnitude of the current flowing from the IGBT chip or the diode.

【0068】ここで、アルミワイヤ150A1,150
A3とアルミワイヤ150B1,150B3は、それぞ
れ、平行に保たれている。即ち、この点については、図
5を用いて詳述するが、アルミワイヤ150A1とアル
ミワイヤ150B1が、互いに平行であり、しかも、流
れる電流方向が逆向きとなっており、また、アルミワイ
ヤ50A3とアルミワイヤ50B3が、互いに平行であ
り、しかも、流れる電流方向が逆向きとなっている。
Here, the aluminum wires 150A1 and 150
A3 and the aluminum wires 150B1 and 150B3 are kept parallel to each other. That is, although this point will be described in detail with reference to FIG. 5, the aluminum wire 150A1 and the aluminum wire 150B1 are parallel to each other, and the flowing current directions are opposite to each other. The aluminum wires 50B3 are parallel to each other and the flowing currents are in opposite directions.

【0069】従って、IGBTチップ130Aのエミッ
タは、ダイオード140Aのアノードに接続され、第1
の直列回路を構成している。また、IGBTチップ13
2Bのエミッタは、ダイオード142Bのアノードに接
続され、第2の直列回路を構成している。第1の回路を
構成するIGBTチップ130Aとダイオード140A
は近接して配置されているため、インバータの転流動作
時に、電流がIGBTチップからダイオードに移った時
の交流分による磁界キャンセリングが行える。また、第
21の回路を構成するIGBTチップ132Bとダイオ
ード142Bも同じ理由から近接して配置されている。
Therefore, the emitter of the IGBT chip 130A is connected to the anode of the diode 140A, and the first
Constitutes a series circuit of. In addition, the IGBT chip 13
The 2B emitter is connected to the anode of the diode 142B to form a second series circuit. The IGBT chip 130A and the diode 140A that form the first circuit
Are arranged close to each other, so that magnetic field canceling can be performed by an alternating current component when the current is transferred from the IGBT chip to the diode during the commutation operation of the inverter. Further, the IGBT chip 132B and the diode 142B forming the 21st circuit are also arranged close to each other for the same reason.

【0070】第1の直列回路と第2の直列回路は、それ
ぞれ、正極ブスバー120Bと負極ブスバー124に対
して並列接続されているとともに、第1の直列回路のI
GBTチップのエミッタとダイオードのアノードの接続
点及び、第2の直列回路のダイオードのカソードとIG
BTチップのコレクタの接続点は、出力ブスバー122
Aに共通接続されている。
The first series circuit and the second series circuit are connected in parallel to the positive bus bar 120B and the negative bus bar 124, respectively, and I of the first series circuit is connected.
The connection point between the emitter of the GBT chip and the anode of the diode, and the cathode of the diode of the second series circuit and the IG
The connection point of the collector of the BT chip is the output bus bar 122.
Commonly connected to A.

【0071】さらに、正極ブスバー120Bの左側であ
って、絶縁板110の上には、端子台170が取り付け
られている。端子台170のうえには、半田により、ゲ
ート抵抗174Aが固定されている。ゲート抵抗174
Aは、アルミワイヤ178A1によりIGBTチップ1
30Aのベースに接続されている。また、出力ブスバー
122Aの右側であって、絶縁板110の上には、端子
台172が取り付けられている。端子台172のうえに
は、半田により、ゲート抵抗176Bが固定されてい
る。ゲート抵抗176Bは、アルミワイヤ178B2に
よりIGBTチップ32Bのベースに接続されている。
Further, a terminal block 170 is mounted on the insulating plate 110 on the left side of the positive electrode bus bar 120B. The gate resistor 174A is fixed on the terminal block 170 by soldering. Gate resistance 174
A is an IGBT chip 1 with an aluminum wire 178A1.
It is connected to the base of 30A. A terminal block 172 is mounted on the insulating plate 110 on the right side of the output bus bar 122A. A gate resistor 176B is fixed on the terminal block 172 by soldering. The gate resistor 176B is connected to the base of the IGBT chip 32B by an aluminum wire 178B2.

【0072】また、正極ブスバー120Bには、正極ブ
スバー120Aが接続されており、正極ブスバー120
Aと負極ブスバー24の左側の端子部分は、互いに平行
になっている。出力ブスバー122Aには、出力ブスバ
ー122Bが接続されている。正極ブスバー120Aと
出力ブスバー122Bの構成については、図5を用いて
後述する。
Further, the positive electrode bus bar 120B is connected to the positive electrode bus bar 120A, and the positive electrode bus bar 120B is connected to the positive electrode bus bar 120B.
The terminal portions on the left side of A and the negative bus bar 24 are parallel to each other. An output busbar 122B is connected to the output busbar 122A. The configurations of the positive electrode bus bar 120A and the output bus bar 122B will be described later with reference to FIG.

【0073】IGBTチップからの放熱は、絶縁板11
0を介して行われる。
Heat is dissipated from the IGBT chip by the insulating plate 11.
Through 0.

【0074】次に、図5を用いて、図4に示した本発明
の他の実施の形態による半導体装置の断面構造について
説明する。
Next, with reference to FIG. 5, a cross-sectional structure of the semiconductor device according to another embodiment of the present invention shown in FIG. 4 will be described.

【0075】絶縁板110の上であって、図面に向かっ
て左側の方には、正電極端子として用いられる正極ブス
バー120Bが、接合されている。接合は、銀ローなど
のロー材を用いている。正極ブスバー120Bには、入
力端子として用いるL字状の正極ブスバー120Aが半
田付けされている。また、正極ブスバー120Bの右側
であって、絶縁板110の上には、出力端子として用い
られる出力ブスバー122Aが、ロー付けにより接合さ
れている。出力ブスバー122Aには、出力端子として
用いるL字状の出力ブスバー122Bが半田付けされて
いる。正極ブスバー120Bと出力ブスバー122A
は、同一の絶縁板110上に取り付けられているため、
互いに平行である。また、正極ブスバー120Bの長軸
方向(図面に直交する方向)と出力ブスバー122Aの
長軸方向(図面に直交する方向)は互いに平行であり、
この点においても、正極ブスバー120Bと出力ブスバ
ー122Aは、互いに平行である。
A positive electrode bus bar 120B used as a positive electrode terminal is joined on the insulating plate 110 on the left side of the drawing. A brazing material such as silver brazing is used for joining. An L-shaped positive electrode bus bar 120A used as an input terminal is soldered to the positive electrode bus bar 120B. On the right side of the positive bus bar 120B and on the insulating plate 110, an output bus bar 122A used as an output terminal is joined by brazing. An L-shaped output bus bar 122B used as an output terminal is soldered to the output bus bar 122A. Positive bus bar 120B and output bus bar 122A
Are mounted on the same insulating plate 110,
Parallel to each other. Further, the long axis direction of the positive electrode bus bar 120B (direction orthogonal to the drawing) and the long axis direction of the output bus bar 122A (direction orthogonal to the drawing) are parallel to each other,
Also in this respect, the positive bus bar 120B and the output bus bar 122A are parallel to each other.

【0076】正極ブスバー120Bの上には、半田18
0により、図示しないパワーモジュールであるスイッチ
ング用のIGBTチップと転流用のダイオード142B
が固定されている。従って、電気回路的には、IGBT
チップのコレクタとダイオード142Bのアノードが、
正極ブスバー120Bに接続されている。
Solder 18 is placed on the positive electrode bus bar 120B.
0, a switching IGBT chip, which is a power module (not shown), and a commutation diode 142B.
Has been fixed. Therefore, in terms of electric circuit, the IGBT
The collector of the chip and the anode of the diode 142B
It is connected to the positive electrode bus bar 120B.

【0077】また、出力ブスバー122Aの上には、半
田182により、パワーモジュールであるスイッチング
用のIGBTチップ132Bと図示しない転流用のダイ
オードが固定されている。従って、電気回路的には、I
GBTチップ132Bのコレクタとダイオードのアノー
ドが、出力ブスバー122Aに接続されている。
On the output bus bar 122A, a switching IGBT chip 132B which is a power module and a commutation diode (not shown) are fixed by solder 182. Therefore, in terms of electric circuit, I
The collector of the GBT chip 132B and the anode of the diode are connected to the output bus bar 122A.

【0078】出力ブスバー122Aには、ダイオード1
42Bのカソードが、アルミワイヤ150A3によって
接続されている。ここで、アルミワイヤ150A3は複
数本平行に用いられている。アルミワイヤ150A3
は、ワイヤボンデイングによって設けられるため、1本
のワイヤの径は、限界があり、IGBTチップ若しくは
ダイオードから流れる電流の大きさに応じて、複数本使
用している。
The output bus bar 122A has a diode 1
The cathode of 42B is connected by an aluminum wire 150A3. Here, a plurality of aluminum wires 150A3 are used in parallel. Aluminum wire 150A3
Since the wire is provided by wire bonding, the diameter of one wire is limited, and a plurality of wires are used according to the magnitude of the current flowing from the IGBT chip or the diode.

【0079】正極ブスバー120B及び出力ブスバー1
22Aの上には、円柱形の絶縁物160Bが固定されて
いる。そして、絶縁物60Bの上には、負極ブスバー1
24が固定されている。従って、負極ブスバー124
は、正極ブスバー120B及び正極ブスバー120Aと
互いに平行になっており、また、負極ブスバー124と
正極ブスバー120A,120Bを流れる電流の向き
は、逆方向となっている。また、正極ブスバー120A
と負極ブスバー24の間には、絶縁物製のスペーサ19
2を介して固定されている。
Positive bus bar 120B and output bus bar 1
A cylindrical insulator 160B is fixed on 22A. Then, on the insulator 60B, the negative electrode bus bar 1
24 is fixed. Therefore, the negative bus bar 124
Are parallel to the positive busbar 120B and the positive busbar 120A, and the directions of the currents flowing through the negative busbar 124 and the positive busbars 120A and 120B are opposite to each other. In addition, the positive electrode bus bar 120A
An insulating spacer 19 is provided between the negative electrode bus bar 24 and the negative electrode bus bar 24.
2 is fixed.

【0080】負極ブスバー124の右側には、GBTチ
ップ132Bのエミッタが、アルミワイヤ150A3に
よって接続されている。また、図示しないダイオードの
カソードが、アルミワイヤによって、負極ブスバー12
4の接続端子に接続されている。ここで、アルミワイヤ
150A3は、複数本平行に用いられている。アルミワ
イヤ150A3は、ワイヤボンデイングによって設けら
れるため、1本のワイヤの径は、限界があり、IGBT
チップ若しくはダイオードから流れる電流の大きさに応
じて、複数本使用している。
The emitter of the GBT chip 132B is connected to the right side of the negative bus bar 124 by an aluminum wire 150A3. Further, the cathode of the diode (not shown) is connected to the negative electrode bus bar 12 by an aluminum wire.
4 are connected to the connection terminals. Here, a plurality of aluminum wires 150A3 are used in parallel. Since the aluminum wire 150A3 is provided by wire bonding, there is a limit to the diameter of one wire.
Depending on the magnitude of the current flowing from the chip or diode, a plurality are used.

【0081】また、負極ブスバー124は、絶縁物60
Bを介して、正極ブスバー120Bや出力ブスバー12
2Aとは、異なる平面上に支持されているので、負極ブ
スバー124とIGBTチップ132Bのエミッタの間
には、段差があり、従来のワイヤボンデイング技術で
は、このような段差がある場合には、アルミワイヤによ
るボンデイングが不可能であったが、近年、このような
段差のある箇所にも適用可能なボンデイング技術が開発
されたため、このような配置が可能となっている。ま
た、正極ブスバー120Bと負極ブスバー124の間に
は、円柱状の絶縁物160Bを用いているため、超音波
ボンデイング時の共振現象を防止できる。
The negative electrode bus bar 124 is made of the insulating material 60.
Via the positive electrode bus bar 120B and the output bus bar 12
Since it is supported on a plane different from that of 2A, there is a step between the negative electrode bus bar 124 and the emitter of the IGBT chip 132B. In the conventional wire bonding technology, when such a step is present, aluminum is used. Bonding with wires has been impossible, but since such a bonding technology has been developed in recent years that can be applied to such a stepped portion, such an arrangement is possible. Further, since the columnar insulator 160B is used between the positive electrode bus bar 120B and the negative electrode bus bar 124, the resonance phenomenon during ultrasonic bonding can be prevented.

【0082】ここで、アルミワイヤ150A3とアルミ
ワイヤ150B1は、それぞれ、平行に保たれている。
即ち、アルミワイヤ150A3とアルミワイヤ150B
1が、互いに平行であり、しかも、流れる電流方向が逆
向きとなっている。
Here, the aluminum wire 150A3 and the aluminum wire 150B1 are kept parallel to each other.
That is, aluminum wire 150A3 and aluminum wire 150B
1 are parallel to each other and the flowing currents are in opposite directions.

【0083】従って、IGBTチップ132Bのエミッ
タは、正極ブスバー120Bの上に固定された図示しな
いダイオードのアノードに接続され、第1の直列回路を
構成している。また、正極ブスバー120Bの上に固定
された図示しないIGBTチップのエミッタは、出力ブ
スバー122Aの上に固定された図示しないダイオード
のアノードに接続され、第2の直列回路を構成してい
る。また、第1の直列回路と第2の直列回路は、それぞ
れ、正極ブスバー120Bと負極ブスバー124に対し
て並列接続されているとともに、第1の直列回路のIG
BTチップのエミッタとダイオードのアノードの接続点
及び、第2の直列回路のダイオードのカソードとIGB
Tチップのコレクタの接続点は、出力ブスバー122A
に共通接続されている。また、第1の回路と第2の回路
は、対称配置されているため、正極ブスバー120A,
120B及び負極ブスバー124を対称形にすることが
でき、第1及び第2の回路に均等に流れるため、電流配
分が均等になり、電流アンバランスを小さくできる。
Therefore, the emitter of the IGBT chip 132B is connected to the anode of a diode (not shown) fixed on the positive electrode bus bar 120B to form a first series circuit. The emitter of the IGBT chip (not shown) fixed on the positive bus bar 120B is connected to the anode of a diode (not shown) fixed on the output bus bar 122A to form a second series circuit. The first series circuit and the second series circuit are connected in parallel to the positive bus bar 120B and the negative bus bar 124, respectively, and the IG of the first series circuit is connected.
The connection point between the emitter of the BT chip and the anode of the diode, and the cathode of the diode of the second series circuit and the IGB
The connection point of the collector of the T chip is the output bus bar 122A.
Connected in common. Further, since the first circuit and the second circuit are symmetrically arranged, the positive electrode bus bar 120A,
Since 120B and the negative bus bar 124 can be made symmetrical, and the currents evenly flow in the first and second circuits, the current distribution becomes uniform and the current imbalance can be reduced.

【0084】さらに、正極ブスバー120の左側であっ
て、絶縁板110の上には、端子台170が取り付けら
れている。端子台170のうえには、半田により、ゲー
ト抵抗174Aが固定されている。ゲート抵抗174A
は、アルミワイヤ178A1によりIGBTチップ13
0Aのベースに接続されている。また、出力ブスバー1
22Aの右側であって、絶縁板110の上には、端子台
172が取り付けられている。端子台172のうえに
は、半田により、ゲート抵抗176Bが固定されてい
る。ゲート抵抗176Bは、アルミワイヤ178B2に
よりIGBTチップ132Bのベースに接続されてい
る。絶縁板110の裏には、銅パターン190が形成さ
れており、IGBTチップからの放熱は、絶縁板110
を介して行われる。
Further, a terminal block 170 is attached on the left side of the positive electrode bus bar 120 and on the insulating plate 110. The gate resistor 174A is fixed on the terminal block 170 by soldering. Gate resistance 174A
Is an IGBT chip 13 with an aluminum wire 178A1.
It is connected to the base of 0A. Also, output bus bar 1
A terminal block 172 is mounted on the insulating plate 110 on the right side of 22A. A gate resistor 176B is fixed on the terminal block 172 by soldering. The gate resistor 176B is connected to the base of the IGBT chip 132B by an aluminum wire 178B2. A copper pattern 190 is formed on the back side of the insulating plate 110, so that heat radiation from the IGBT chip is prevented from occurring in the insulating plate 110.
Done through.

【0085】正極ブスバー120Bと出力ブスバー12
2Aは、絶縁板110の上に、0.4mm程度に薄くし
た部分をロー付けにより、接合している。
Positive bus bar 120B and output bus bar 12
In 2A, the thinned portion of about 0.4 mm is joined to the insulating plate 110 by brazing.

【0086】IGBTチップの表面は、チップ保護のた
めのコーテイング剤で覆われ、さらに、その上には、チ
ップ保護のために、ゲル100が充填されている。
The surface of the IGBT chip is covered with a coating agent for chip protection, and a gel 100 is filled on the surface of the IGBT chip for chip protection.

【0087】本実施の形態によれば、第1の回路と第2
の回路を対称に配置したため、正極ブスバー及び負極ブ
スバーからの電流が均等に流れるため、電流配分が均等
になる。
According to this embodiment, the first circuit and the second circuit
Since the circuits are arranged symmetrically, the currents from the positive busbars and the negative busbars flow evenly, so that the current distribution becomes uniform.

【0088】また、第1の回路を構成するIGBTチッ
プとダイオードを近接して配置しているため、交流分に
よる磁界キャンセリングが可能となる。
Since the IGBT chip and the diode forming the first circuit are arranged close to each other, the magnetic field canceling by the alternating current component becomes possible.

【0089】また、正極ブスバーと出力ブスバーが互い
に平行に配置されているため、インダクタンスを低減す
ることができる。
Further, since the positive electrode bus bar and the output bus bar are arranged in parallel with each other, the inductance can be reduced.

【0090】また、IGBTチップが正極ブスバー及び
出力ブスバーの上に直接ついているので、配線距離をさ
らに、短くできる。
Since the IGBT chip is directly mounted on the positive electrode bus bar and the output bus bar, the wiring distance can be further shortened.

【0091】また、負極ブスバーを正極ブスバーの上に
平行に配置され、しかも、正極ブスバーを流れる電流の
向きと負極ブスバーを流れる電流の向きが逆方向である
ため、インダクタンスを低減することができる。
Further, since the negative electrode bus bar is arranged in parallel on the positive electrode bus bar and the direction of the current flowing through the positive electrode bus bar is opposite to the direction of the current flowing through the negative electrode bus bar, the inductance can be reduced.

【0092】また、負極ブスバーを正極ブスバーの上に
平行に配置したため、従来のようなジャンパープレート
を使用する必要がないため、インダクタンスを低減でき
る。
Further, since the negative electrode bus bar is arranged in parallel on the positive electrode bus bar, it is not necessary to use a jumper plate as in the prior art, so that the inductance can be reduced.

【0093】また、負極ブスバーを正極ブスバーの上に
平行に配置し、さらに、負極ブスバーと出力ブスバーの
上に固定されたIGBTチップのエミッタを接続するア
ルミワイヤと、正極ブスバーの上に固定されたIGBT
チップのエミッタと出力ブスバーを接続するアルミワイ
ヤとを互いに平行にし、しかも、それらを流れる電流の
向きを逆方向とすることにより、さらに、インダクタン
スを低減できる。
Further, the negative electrode bus bar was arranged in parallel on the positive electrode bus bar, and further, it was fixed on the positive electrode bus bar and the aluminum wire connecting the negative electrode bus bar and the emitter of the IGBT chip fixed on the output bus bar. IGBT
The inductance can be further reduced by making the emitter of the chip and the aluminum wire connecting the output busbar parallel to each other, and by making the directions of the currents flowing through them opposite to each other.

【0094】また、正極から電流が流れチップを通って
出力端子に戻ってくるまでの往復線間は、ワイヤ高さと
絶縁物高さ程度に小さくできるので、磁界キャンセリン
グ作用により、インダクタンスを低減できる。そのた
め、各部における自己インダクタンスおよび相互インダ
クタンスが大きく減少し、それによりサ−ジ電圧を低減
でき、スイッチング損失を低減できる。複数チップで遠
い位置のチップのインダクタンスが大きく、電流アンバ
ランスが発生しやすいため、極力内部わん曲をなくし、
近接並行としインダクタンスを低減している。
Further, the distance between the reciprocating line from the current flowing from the positive electrode through the chip and returning to the output terminal can be made as small as the wire height and the insulator height, so that the inductance can be reduced by the magnetic field canceling action. . Therefore, the self-inductance and the mutual inductance in each part are greatly reduced, which can reduce the surge voltage and the switching loss. Since multiple chips have large inductance at distant positions and current imbalance is likely to occur, internal bending is eliminated as much as possible,
Inductance is reduced by paralleling closely.

【0095】チップの線膨張係数は、銅の約1/6倍
で、窒化アルミの線膨張係数は、銅の約1/5倍で、チ
ップ、銅、窒化アルミの順に接続されているため、熱ス
トレスの影響をうけることが予想されるが、ブスバーの
IGBTチップマウント部の厚さを最適とすることによ
り熱応力作用によりはんだ寿命に影響しないようするこ
とが可能である。
The coefficient of linear expansion of the chip is about 1/6 times that of copper, and the coefficient of linear expansion of aluminum nitride is about 1/5 times that of copper. Since the chip, copper and aluminum nitride are connected in this order, Although expected to be affected by thermal stress, it is possible to prevent the solder life from being affected by the thermal stress action by optimizing the thickness of the IGBT chip mount portion of the bus bar.

【0096】[0096]

【発明の効果】本発明によれば、2回路内蔵方式の半導
体装置における内部インダクタンスを低減できる。
According to the present invention, it is possible to reduce the internal inductance in a semiconductor device of the two-circuit built-in type.

【0097】[0097]

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の一実施の形態による半導体装置の平面
図である。
FIG. 1 is a plan view of a semiconductor device according to an embodiment of the present invention.

【図2】図1のX−X断面図である。FIG. 2 is a sectional view taken along line XX of FIG.

【図3】本発明の一実施の形態による半導体装置の回路
図である。
FIG. 3 is a circuit diagram of a semiconductor device according to an embodiment of the present invention.

【図4】本発明の他の実施の形態による半導体装置の平
面図である。
FIG. 4 is a plan view of a semiconductor device according to another embodiment of the present invention.

【図5】図4のY−Y断面図である。FIG. 5 is a sectional view taken along line YY of FIG. 4;

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10,110…絶縁板 12…ケ−ス 20,120A,120B…正極ブスバ− 22,124A,124B…出力ブスバ− 24,124…負極ブスバ− 30A,30B,32A,32B…IGBTチップ 40A,40B,42A,42B…ダイオ−ドチップ 50A1,50A2,50A3,50A4,50B1,
50B2,50B3,50B4,78A1,78A2,
78B1,78B2…アルミワイヤ 60A,60B,60C,60D,60E,60F…絶
縁物 70,72…端子台 74A,74B,76A,76B…チップ抵抗 80,82,180,182…半田 90…銅板 100…ゲル 192…スペ−サ
10, 110 ... Insulating plate 12 ... Case 20, 120A, 120B ... Positive busbar 22, 124A, 124B ... Output busbar 24, 124 ... Negative busbar 30A, 30B, 32A, 32B ... IGBT chip 40A, 40B, 42A, 42B ... Diode chips 50A1, 50A2, 50A3, 50A4, 50B1,
50B2, 50B3, 50B4, 78A1, 78A2
78B1, 78B2 ... Aluminum wire 60A, 60B, 60C, 60D, 60E, 60F ... Insulator 70, 72 ... Terminal block 74A, 74B, 76A, 76B ... Chip resistance 80, 82, 180, 182 ... Solder 90 ... Copper plate 100 ... Gel 192 ... Spacer

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 第1のIGBTチップと第1のダイオー
ドの直列回路からなる第1の回路と、第2のIGBTチ
ップと第2のダイオードの直列回路からなる第2の回路
を並列配置した半導体装置において、 絶縁基板上に固定された正極ブスバーと、 この正極ブスバーと平行に配置され、上記絶縁基板上に
固定された出力ブスバーと、 上記正極ブスバーの上に固定されるとともに、そのコレ
クタが接続された上記第1のIGBTチップと、 上記正極ブスバーの上に固定されるとともに、そのアノ
ードが接続された上記第2のダイオードと、 上記出力ブスバーの上に固定されるとともに、そのコレ
クタが接続された上記第2のIGBTチップと、 上記出力ブスバーの上に固定されるとともに、そのアノ
ードが接続された上記第1のダイオードと、 上記第1のIGBTチップのエミッタと上記出力ブスバ
ーを接続する第1の接続導体と、 上記第2のダイオードのカソードと上記出力ブスバーを
接続する第2の接続導体と、 上記第1のIGBTチップ及び上記第2のダイオードの
上方に、絶縁物を介して、上記正極ブスバーと平行に固
定された負極ブスバーと、 上記第2のIGBTチップのコレクタと上記負極ブスバ
ーを接続する第3の接続導体と、 上記第1のダイオードのカソードと上記負極ブスバーを
接続する第4の接続導体とを備えたことを特徴とする半
導体装置。
1. A semiconductor in which a first circuit including a series circuit of a first IGBT chip and a first diode and a second circuit including a series circuit of a second IGBT chip and a second diode are arranged in parallel. In the device, a positive electrode bus bar fixed on an insulating substrate, an output bus bar arranged in parallel with the positive electrode bus bar, fixed on the insulating substrate, and fixed on the positive electrode bus bar, and its collector is connected. The above-mentioned first IGBT chip, which is fixed on the positive busbar, and the second diode whose anode is connected, and the second diode which is fixed on the output busbar and whose collector is connected. And the second IGBT chip, and the first diode fixed on the output busbar and having its anode connected A first connection conductor connecting the emitter of the first IGBT chip and the output busbar, a second connection conductor connecting the cathode of the second diode and the output busbar, and the first IGBT chip And above the second diode, a negative electrode bus bar fixed in parallel with the positive electrode bus bar via an insulator, and a third connecting conductor connecting the collector of the second IGBT chip and the negative electrode bus bar. A semiconductor device comprising: a cathode of the first diode and a fourth connection conductor that connects the negative busbar.
【請求項2】 請求項1記載の半導体装置において、 上記第1及び第2の接続導体に対して、上記第3及び第
4の接続導体を平行に近接配置したことを特徴とする半
導体装置。
2. The semiconductor device according to claim 1, wherein the third and fourth connection conductors are arranged in parallel and close to the first and second connection conductors.
【請求項3】 請求項1記載の半導体装置において、 上記正極ブスバーの上に固定された上記第1のIGBT
チップに対して、上記出力ブスバーの上に固定される上
記第1のダイオードを近接配置し、 上記正極ブスバーの上に固定された上記第2のダイオー
ドに対して、上記出力ブスバーの上に固定される上記第
2のIGBTチップを近接配置したことを特徴とする半
導体装置。
3. The semiconductor device according to claim 1, wherein the first IGBT fixed on the positive electrode bus bar.
The first diode fixed on the output bus bar is arranged in proximity to the chip, and the second diode fixed on the positive bus bar is fixed on the output bus bar. A semiconductor device in which the above-mentioned second IGBT chip is arranged in proximity.
【請求項4】 請求項3記載の半導体装置において、 上記第1の直列回路と上記第2の直列回路を対称に配置
し、これに対して、上記正極ブスバー,負極ブスバー及
び出力ブスバーを対称に配置したことを特徴とする半導
体装置。
4. The semiconductor device according to claim 3, wherein the first series circuit and the second series circuit are arranged symmetrically with respect to the positive electrode bus bar, the negative electrode bus bar, and the output bus bar. A semiconductor device characterized by being arranged.
【請求項5】 請求項1記載の半導体装置において、さ
らに、 上記絶縁板に固定されたケースを備え、 上記負極ブスバーの一部を上記ケースにより保持したこ
とを特徴とする半導体装置。
5. The semiconductor device according to claim 1, further comprising a case fixed to the insulating plate, wherein a part of the negative electrode bus bar is held by the case.
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