JPH0894445A - プレチルト角測定装置 - Google Patents
プレチルト角測定装置Info
- Publication number
- JPH0894445A JPH0894445A JP23335694A JP23335694A JPH0894445A JP H0894445 A JPH0894445 A JP H0894445A JP 23335694 A JP23335694 A JP 23335694A JP 23335694 A JP23335694 A JP 23335694A JP H0894445 A JPH0894445 A JP H0894445A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- liquid crystal
- crystal cell
- pretilt angle
- entered
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Abstract
(57)【要約】
【目的】セルギャップの不均一性に影響されることな
く、液晶のプレチルト角を測定する。 【構成】相異なる周波数を持ち互いに直交した２つの直
線偏光を、被験物である液晶セルに入射させ、さらに偏
光子を通過させ、その光信号の位相を計測することによ
りプレチルト角を測定する装置。
く、液晶のプレチルト角を測定する。 【構成】相異なる周波数を持ち互いに直交した２つの直
線偏光を、被験物である液晶セルに入射させ、さらに偏
光子を通過させ、その光信号の位相を計測することによ
りプレチルト角を測定する装置。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、液晶表示装置の製造に
用いるプレチルト角測定装置に関する。
用いるプレチルト角測定装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】液晶表示装置の高精細化が進んでおり、
特に薄膜トランジスタ（ＴＦＴ）駆動の液晶表示装置に
おいてこの傾向が著しい。このため、画素サイズの縮小
が進行しており、従来なかったような問題が持ち上がっ
ている。例えば、横方向電界によるリバースチルトドメ
インが誘起されディスクリネーションが発生する。この
ため、コントラスト比の低下を招いている。このディス
クリネーション対策として、プレチルト角を大きく取る
ことが有効な対策となっている（例えば、“ラテラル
フィールド エフェクト イン ツイステッド ネマチ
ック セルズ”、Ａ．リエン、Ｒ．Ａ．ジョン、ＩＢＭ
ジャーナル オブ リサーチ アンドデベロップ メ
ント ３６巻、５１−５８ページ、１９９２年）。ここ
でいうプレチルト角とは、以下のように知られているも
のである。液晶表示装置は、均一な表示画面を得るため
に、配向処理という基板処理を行う。この結果、棒状分
子である液晶分子は基板面内の特定の方位方向に向くよ
うになる。ただし、液晶分子長軸は基板面に対して比較
的小さな角度で接するようになる。この角度がプレチル
ト角と呼ばれている。既に述べたように、このプレチル
ト角の制御が液晶表示装置においてますます重要となっ
ている。
特に薄膜トランジスタ（ＴＦＴ）駆動の液晶表示装置に
おいてこの傾向が著しい。このため、画素サイズの縮小
が進行しており、従来なかったような問題が持ち上がっ
ている。例えば、横方向電界によるリバースチルトドメ
インが誘起されディスクリネーションが発生する。この
ため、コントラスト比の低下を招いている。このディス
クリネーション対策として、プレチルト角を大きく取る
ことが有効な対策となっている（例えば、“ラテラル
フィールド エフェクト イン ツイステッド ネマチ
ック セルズ”、Ａ．リエン、Ｒ．Ａ．ジョン、ＩＢＭ
ジャーナル オブ リサーチ アンドデベロップ メ
ント ３６巻、５１−５８ページ、１９９２年）。ここ
でいうプレチルト角とは、以下のように知られているも
のである。液晶表示装置は、均一な表示画面を得るため
に、配向処理という基板処理を行う。この結果、棒状分
子である液晶分子は基板面内の特定の方位方向に向くよ
うになる。ただし、液晶分子長軸は基板面に対して比較
的小さな角度で接するようになる。この角度がプレチル
ト角と呼ばれている。既に述べたように、このプレチル
ト角の制御が液晶表示装置においてますます重要となっ
ている。
【０００３】このプレチルト角を測定する方法として、
従来クリスタルローテーション法と呼ばれる方法が広く
行われてきた（例えば、“シンプル メソッド オブ
デターミニング リキッド クリスタル チルトーバイ
ア アングル”、中野等、ジャパニーズ ジャーナル
オブ アプライド フィジックス １９巻 ２０１３ペ
ージ １９８０年）。図６を用いて簡単に説明すれば、
このクリスタルローテーション法は以下のような測定方
法である。
従来クリスタルローテーション法と呼ばれる方法が広く
行われてきた（例えば、“シンプル メソッド オブ
デターミニング リキッド クリスタル チルトーバイ
ア アングル”、中野等、ジャパニーズ ジャーナル
オブ アプライド フィジックス １９巻 ２０１３ペ
ージ １９８０年）。図６を用いて簡単に説明すれば、
このクリスタルローテーション法は以下のような測定方
法である。
【０００４】被験試料として、配向方向を揃えたホモジ
ニアス配向液晶セル３を用意する。このホモジニアス配
向液晶セル中では、液晶分子はすべて同じ方向を向いて
いると考えられる。この試料を直交する偏光子２と検光
子４の間に挿入し、光線軸に対してホモジニアス配向液
晶セルを傾けて入射角φを変えながら透過光量Ｔを測定
する。この入射角−透過光量特性は、以下のように表記
される。
ニアス配向液晶セル３を用意する。このホモジニアス配
向液晶セル中では、液晶分子はすべて同じ方向を向いて
いると考えられる。この試料を直交する偏光子２と検光
子４の間に挿入し、光線軸に対してホモジニアス配向液
晶セルを傾けて入射角φを変えながら透過光量Ｔを測定
する。この入射角−透過光量特性は、以下のように表記
される。
【０００５】
【０００６】ここで、ｎe 及びｎo は液晶の異常光及び
常光の屈折率であり、ｘは被験試料であるホモジニアス
配向液晶セルのセルギャップであり、λは入射光の波長
であり、αがプレチルト角である。（１）式のｃｏｓの
引き数θは、ホモジニアス配向液晶セルによるｘ方向及
びｙ方向の偏光間の位相差である。
常光の屈折率であり、ｘは被験試料であるホモジニアス
配向液晶セルのセルギャップであり、λは入射光の波長
であり、αがプレチルト角である。（１）式のｃｏｓの
引き数θは、ホモジニアス配向液晶セルによるｘ方向及
びｙ方向の偏光間の位相差である。
【０００７】プレチルト角αは、入射角−透過率特性が
対称となる入射角φx から求められる。例えば、クリス
タルローテーション法による測定結果を図７に示す。図
７に示すように、測定結果は多数の極大値と極小値を取
る。これら極大値及び極小値から対称点を判断する。
対称となる入射角φx から求められる。例えば、クリス
タルローテーション法による測定結果を図７に示す。図
７に示すように、測定結果は多数の極大値と極小値を取
る。これら極大値及び極小値から対称点を判断する。
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】ところが、実際に作成
されるホモジニアス配向液晶セルは、セルギャップに不
均一性を有している。このため、実際に観測される透過
光量は以下のように表記される。
されるホモジニアス配向液晶セルは、セルギャップに不
均一性を有している。このため、実際に観測される透過
光量は以下のように表記される。
【０００９】
【００１０】ここでｆ（ｘ）は、セルギャップの分布関
数である。このため、入射角−透過率特性において対称
となる入射角φx は、単純に（１）式から求められた値
とは異なる値となる。以上のように、セルギャップに不
均一性がある場合には従来のプレチルト角測定方法で正
確なプレチルト角が求まらないという課題を有してい
た。
数である。このため、入射角−透過率特性において対称
となる入射角φx は、単純に（１）式から求められた値
とは異なる値となる。以上のように、セルギャップに不
均一性がある場合には従来のプレチルト角測定方法で正
確なプレチルト角が求まらないという課題を有してい
た。
【００１１】また、既に述べたように極大値及び極小値
から対称点を判断する訳であるが、実際に測定される結
果はガラス面での屈折やノイズのため非対称な場合が多
い。このため、この対称点を自動的に決定することは非
常に困難である。
から対称点を判断する訳であるが、実際に測定される結
果はガラス面での屈折やノイズのため非対称な場合が多
い。このため、この対称点を自動的に決定することは非
常に困難である。
【００１２】
【課題を解決するための手段】本発明は、相異なる周波
数を持ち互いに直交した２つの直線偏光からなる光を発
する光源と、被験試料である液晶セルを回転する機構
と、偏光子を備え、偏光子からの透過光の位相を測定し
液晶のプレチルト角を決定することから構成される。
数を持ち互いに直交した２つの直線偏光からなる光を発
する光源と、被験試料である液晶セルを回転する機構
と、偏光子を備え、偏光子からの透過光の位相を測定し
液晶のプレチルト角を決定することから構成される。
【００１３】
【作用】本発明の構成を図１を用いて説明する。本発明
においては、相異なる発振周波数を持つ互いに直交した
２つの直線偏光を発するレーザ光源６を用いる。この光
源の出射光は、ジョーンズベクトルを用いて以下のよう
に表記できる。
においては、相異なる発振周波数を持つ互いに直交した
２つの直線偏光を発するレーザ光源６を用いる。この光
源の出射光は、ジョーンズベクトルを用いて以下のよう
に表記できる。
【００１４】
【００１５】ここで、Ａx 及びＡy はｘ方向及びｙ方向
への各偏光成分の振幅であり、ｘ方向の偏光成分は角周
波数ωで、ｙ方向の偏光成分は角周波数ω＋２πｆで発
振している。このため、ｘ方向とｙ方向の偏光で周波数
ｆだけ発振周波数が異なる。ただし、（２）式でｅiwt
は、共通因子であるのでジョーンズ行列の通常の計算通
り無視できる。
への各偏光成分の振幅であり、ｘ方向の偏光成分は角周
波数ωで、ｙ方向の偏光成分は角周波数ω＋２πｆで発
振している。このため、ｘ方向とｙ方向の偏光で周波数
ｆだけ発振周波数が異なる。ただし、（２）式でｅiwt
は、共通因子であるのでジョーンズ行列の通常の計算通
り無視できる。
【００１６】以上の光は、横ゼーマンレーザーによって
実現できる。横ゼーマンレーザーは、周波数の異なる直
交する２つの直線偏光を出射する。あるいは、軸ゼーマ
ンレーザーからの光を四分の一波長板に通すことによっ
て実現される。軸ゼーマンレーザーは、周波数の相異な
る左右円偏光を出射するが、四分の一波長板によって各
円偏光が直線偏光に変換されるためである。
実現できる。横ゼーマンレーザーは、周波数の異なる直
交する２つの直線偏光を出射する。あるいは、軸ゼーマ
ンレーザーからの光を四分の一波長板に通すことによっ
て実現される。軸ゼーマンレーザーは、周波数の相異な
る左右円偏光を出射するが、四分の一波長板によって各
円偏光が直線偏光に変換されるためである。
【００１７】以上の光は図１に示すようにホモジニアス
配向した液晶セル３に入射する。このとき、液晶セルの
配向方向とｘ方向とは一致させておく。光の偏光状態は
以下のように変化する。
配向した液晶セル３に入射する。このとき、液晶セルの
配向方向とｘ方向とは一致させておく。光の偏光状態は
以下のように変化する。
【００１８】
【００１９】ここで、θは（１）式のｃｏｓの引き数と
一致する。この後、図１に示すように検光子４に光が入
射する。このとき、検光子の偏光透過軸方位を液晶の配
向方向に対して４５°なすように配置しておく。検光子
からの出射光は、（３）式に引き続き、以下のように計
算できる。
一致する。この後、図１に示すように検光子４に光が入
射する。このとき、検光子の偏光透過軸方位を液晶の配
向方向に対して４５°なすように配置しておく。検光子
からの出射光は、（３）式に引き続き、以下のように計
算できる。
【００２０】
【００２１】（４）式から透過光強度は、以下のように
計算できる。
計算できる。
【００２２】
【００２３】以上から、透過光強度は周波数ｆで振動す
る成分を持つが、位相がホモジニアス配向液晶セルで受
けた位相差分のズレを生じる。そこで、液晶セルを挿入
する前後の位相変化から、あるいは元の光と検光子から
の出射光の位相を比較することによって、ホモジニアス
配向液晶セルによる位相差を測定することができる。そ
こで、光の入射角度を変えながらホモジニアス配向液晶
セルによる位相差を測定する。この結果、図２に示すよ
うな入射角−位相差特性を得ることができる。図２の極
値の入射角は従来の測定における図７の対称な点の入射
角と一致する。この極値を取る入射角を用いて、従来の
手順によりプレチルト角を決定することができる。
る成分を持つが、位相がホモジニアス配向液晶セルで受
けた位相差分のズレを生じる。そこで、液晶セルを挿入
する前後の位相変化から、あるいは元の光と検光子から
の出射光の位相を比較することによって、ホモジニアス
配向液晶セルによる位相差を測定することができる。そ
こで、光の入射角度を変えながらホモジニアス配向液晶
セルによる位相差を測定する。この結果、図２に示すよ
うな入射角−位相差特性を得ることができる。図２の極
値の入射角は従来の測定における図７の対称な点の入射
角と一致する。この極値を取る入射角を用いて、従来の
手順によりプレチルト角を決定することができる。
【００２４】もし、被験試料であるホモジニアス配向液
晶セルにギャップ不均一性が存在する場合、測定される
位相差は以下のように表記できる。
晶セルにギャップ不均一性が存在する場合、測定される
位相差は以下のように表記できる。
【００２５】
【００２６】上式の積の第１項はギャップだけの関数で
あり、第２項にのみプレチルト角を有している。光の入
射角が変わったとき極値を取るのは第２項である。この
ため、ギャップ不均一性があったとしても位相差が定数
倍になるだけであり、極値の決定には影響を与えない。
以上のように本発明の測定方法においては、ギャップ不
均一性があったとしてもプレチルト角の決定には影響を
与えない。
あり、第２項にのみプレチルト角を有している。光の入
射角が変わったとき極値を取るのは第２項である。この
ため、ギャップ不均一性があったとしても位相差が定数
倍になるだけであり、極値の決定には影響を与えない。
以上のように本発明の測定方法においては、ギャップ不
均一性があったとしてもプレチルト角の決定には影響を
与えない。
【００２７】また、本発明のプレチルト角測定装置で
は、測定した位相差は単一の極値を持ち、測定結果はこ
の極値に関して対称となる。このため、位相差の極値を
求めれば容易に対称点を求めることができる。位相差の
極値は、（１）式の位相項を展開した多項式にフィッテ
ィングさせることにより、求めることができる。例え
ば、ｓｉｎφをｚとして（１）式と展開すると、θ＝Ａ
ｚ4 ＋Ｂｚ2 ＋Ｃｚ＋Ｄと書ける。これより位相項θは
４次関数であることが分かる。したがって、極値付近の
データを最小２乗法により４次式に適合させて、Ａ，
Ｂ，Ｃが求められる。一方、前記の４次関数が極値をと
るときのｚ（＝ｓｉｎφｘ）はＡ，Ｂ，Ｃ，Ｄを用いて
表記できる。そこで、先ほど決めたＡ，Ｂ，Ｃ，Ｄを用
いて対称点φｘを決めることができる。
は、測定した位相差は単一の極値を持ち、測定結果はこ
の極値に関して対称となる。このため、位相差の極値を
求めれば容易に対称点を求めることができる。位相差の
極値は、（１）式の位相項を展開した多項式にフィッテ
ィングさせることにより、求めることができる。例え
ば、ｓｉｎφをｚとして（１）式と展開すると、θ＝Ａ
ｚ4 ＋Ｂｚ2 ＋Ｃｚ＋Ｄと書ける。これより位相項θは
４次関数であることが分かる。したがって、極値付近の
データを最小２乗法により４次式に適合させて、Ａ，
Ｂ，Ｃが求められる。一方、前記の４次関数が極値をと
るときのｚ（＝ｓｉｎφｘ）はＡ，Ｂ，Ｃ，Ｄを用いて
表記できる。そこで、先ほど決めたＡ，Ｂ，Ｃ，Ｄを用
いて対称点φｘを決めることができる。
【００２８】さらに本方式では、光強度を測定するので
はなく、変調された光の位相差を測定する。このため、
外部からの擾乱光にあまり影響されない。
はなく、変調された光の位相差を測定する。このため、
外部からの擾乱光にあまり影響されない。
【００２９】
【実施例】以下では、図３を用いて本発明の一実施例に
ついて説明する。図３においては、光源として約１００
ｋＨｚの周波数差をもつ直交偏光を発振する横安定化ゼ
ーマンＨｅＮｅレーザー９を用いている。ＨｅＮｅレー
ザー光を半透過鏡へ入射させ、二つにレーザー光を分離
した。一方のレーザー光は、検光子４ａを透過後シリコ
ンフォトダイオード１２に入射する。このシリコンフォ
トダイオード１２の信号が参照信号となる。他方のレー
ザー光は回転ステージ１０上の被験試料である液晶セル
３、検光子４ｂ及びシリコンフォトダイオード１１に入
射する。回転ステージ１０は、ステッピングモーターに
よって駆動される。このシリコンフォトダイオード１１
からの信号を参照信号と比較するために、二位相のロッ
クインアンプ１３に入射させる。二位相のロックインア
ンプにおいて、両者の比較が行われ、位相差が算出され
る。
ついて説明する。図３においては、光源として約１００
ｋＨｚの周波数差をもつ直交偏光を発振する横安定化ゼ
ーマンＨｅＮｅレーザー９を用いている。ＨｅＮｅレー
ザー光を半透過鏡へ入射させ、二つにレーザー光を分離
した。一方のレーザー光は、検光子４ａを透過後シリコ
ンフォトダイオード１２に入射する。このシリコンフォ
トダイオード１２の信号が参照信号となる。他方のレー
ザー光は回転ステージ１０上の被験試料である液晶セル
３、検光子４ｂ及びシリコンフォトダイオード１１に入
射する。回転ステージ１０は、ステッピングモーターに
よって駆動される。このシリコンフォトダイオード１１
からの信号を参照信号と比較するために、二位相のロッ
クインアンプ１３に入射させる。二位相のロックインア
ンプにおいて、両者の比較が行われ、位相差が算出され
る。
【００３０】被験試料である液晶セルは、以下の手順で
作成した。二枚のガラス基板上にポリイミド配向膜（日
本合成ゴム製、ＡＬ１０５１）を焼成しラビングした。
この後、一方のガラス基板に径５０μｍのラテックス球
を散布し、両基板のポリイミド配向膜が互いに面するよ
うに両基板のラビング方向が反平行になるように張り合
わせた。さらに、ネマチック液晶（ＺＬＩ４７９２）を
真空中で両基板の間隙に注入し封孔した。
作成した。二枚のガラス基板上にポリイミド配向膜（日
本合成ゴム製、ＡＬ１０５１）を焼成しラビングした。
この後、一方のガラス基板に径５０μｍのラテックス球
を散布し、両基板のポリイミド配向膜が互いに面するよ
うに両基板のラビング方向が反平行になるように張り合
わせた。さらに、ネマチック液晶（ＺＬＩ４７９２）を
真空中で両基板の間隙に注入し封孔した。
【００３１】測定手順は、以下のようにして行った。初
めに、被験試料の液晶セルを回転ステージ１０に取り付
けることなく、両信号間の位相差φ0 を読み取る。液晶
セル、レーザー及び偏光板の各軸方向は、図１で説明し
た通りに調整した。この後、液晶セル３を回転ステージ
１０に取り付け、回転ステージを回転させながら位相差
φx を読み取る。以上の測定は、パーソナルコンピュー
タ制御で行った。パーソナルコンピュータ内でφx −φ
0 の演算を行い、位相差の測定値とした。この測定例を
図４に示す。（１）式の位相項をｓｉｎφのベキで展開
した多項式に最少二乗法で図４の測定結果にフィッティ
ングさせた。これより、位相差の極値を与える入射角を
４°と決定できた。
めに、被験試料の液晶セルを回転ステージ１０に取り付
けることなく、両信号間の位相差φ0 を読み取る。液晶
セル、レーザー及び偏光板の各軸方向は、図１で説明し
た通りに調整した。この後、液晶セル３を回転ステージ
１０に取り付け、回転ステージを回転させながら位相差
φx を読み取る。以上の測定は、パーソナルコンピュー
タ制御で行った。パーソナルコンピュータ内でφx −φ
0 の演算を行い、位相差の測定値とした。この測定例を
図４に示す。（１）式の位相項をｓｉｎφのベキで展開
した多項式に最少二乗法で図４の測定結果にフィッティ
ングさせた。これより、位相差の極値を与える入射角を
４°と決定できた。
【００３２】一方、ネマチック液晶（ＺＬＩ４７９２）
の屈折率を用いて算出したプレチルト角と極値を与える
入射角の関係は図５のようになる。これから、このポリ
イミド配向膜（日本合成ゴム製 ＡＬ１０５１）上のネ
マチック液晶（ＺＬＩ４７９２）のプレチルト角は１°
と決定できた。
の屈折率を用いて算出したプレチルト角と極値を与える
入射角の関係は図５のようになる。これから、このポリ
イミド配向膜（日本合成ゴム製 ＡＬ１０５１）上のネ
マチック液晶（ＺＬＩ４７９２）のプレチルト角は１°
と決定できた。
【００３３】
【発明の効果】以上のように、本発明のプレチルト角装
置を用いれば、ギャップの不均一性に影響されることな
く、自動的に対称点の入射角を求めることができ、それ
からプレチルト角を容易に求めることができる。
置を用いれば、ギャップの不均一性に影響されることな
く、自動的に対称点の入射角を求めることができ、それ
からプレチルト角を容易に求めることができる。
【図１】本発明のプレチルト角測定装置の構成を示す概
念図である。
念図である。
【図２】本発明のプレチルト角測定の作用を説明するた
めの測定例である。
めの測定例である。
【図３】本発明の一実施例を示す光学部品配置図であ
る。
る。
【図４】本発明の一実施例の測定例を示すための図であ
る。
る。
【図５】本発明の一実施例からプレチルト角を求めるた
めの図である。
めの図である。
【図６】従来の測定例を説明するための光学部品配置図
である。
である。
【図７】従来の測定例を示す図である。
１ レーザー ２ 偏光子 ３ 液晶セル ４ 検光子 ５ 検出器 ６ 周波数変調レーザー ７ ｙ方向への直線偏光 ８ ｘ方向への直線偏光 ９ ゼーマン横安定レーザー １０ 回転ステージ １１ フォトダイオードａ １２ フォトダイオードｂ １３ ロックインアンプ
Claims (2)
- 【請求項１】 相異なる周波数を持ち互いに直交した２
つの直線偏光からなる光を発する光源と、被験試料であ
る液晶セルを回転する機構と、偏光子とを備え、偏光子
からの透過光の位相を測定し液晶のプレチルト角を決定
することを特徴とするプレチルト角測定装置。 - 【請求項２】 相異なる周波数を持ち互いに直交した２
つの直線偏光からなる光を発する光源と、この光源から
の光を２の光ビームに分離する手段と、一方の光路に挿
入された偏光板と第１の検出器と、他方の光路に挿入さ
れた液晶セルと偏光板と第２の光検出器と、第１および
第２の光検出器の出力を比較し位相差を求める手段とを
有することを特徴とするプレチルト角測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23335694A JP2606152B2 (ja) | 1994-09-28 | 1994-09-28 | プレチルト角測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23335694A JP2606152B2 (ja) | 1994-09-28 | 1994-09-28 | プレチルト角測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0894445A true JPH0894445A (ja) | 1996-04-12 |
| JP2606152B2 JP2606152B2 (ja) | 1997-04-30 |
Family
ID=16953873
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP23335694A Expired - Lifetime JP2606152B2 (ja) | 1994-09-28 | 1994-09-28 | プレチルト角測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2606152B2 (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6317208B1 (en) | 1997-12-02 | 2001-11-13 | Nec Corporation | Measuring method of liquid crystal pretilt angle and measuring equipment of liquid crystal pretilt angle |
| US6348966B1 (en) | 1997-12-02 | 2002-02-19 | Nec Corporation | Measuring method of liquid crystal pretilt angle and measuring equipment of liquid crystal pretilt angle |
| JP2002267573A (ja) * | 2001-03-12 | 2002-09-18 | Shintech Kk | 液晶セルの配向パラメータ測定方法および測定装置 |
| US20160146596A1 (en) * | 2014-11-25 | 2016-05-26 | Samsung Display Co., Ltd. | Apparatus and method for measuring pretilt angle of liquid crystal |
| CN105841825A (zh) * | 2016-03-15 | 2016-08-10 | 华中科技大学 | 一种基于硅基液晶的波长分辨监测方法 |
-
1994
- 1994-09-28 JP JP23335694A patent/JP2606152B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6317208B1 (en) | 1997-12-02 | 2001-11-13 | Nec Corporation | Measuring method of liquid crystal pretilt angle and measuring equipment of liquid crystal pretilt angle |
| US6348966B1 (en) | 1997-12-02 | 2002-02-19 | Nec Corporation | Measuring method of liquid crystal pretilt angle and measuring equipment of liquid crystal pretilt angle |
| US6473180B2 (en) | 1997-12-02 | 2002-10-29 | Nec Corporation | Measuring method of liquid crystal pretilt angle and measuring equipment of liquid crystal pretilt angle |
| US6490036B2 (en) | 1997-12-02 | 2002-12-03 | Nec Corporation | Measuring method of liquid crystal pretilt angle and measuring equipment of liquid crystal pretilt angle |
| JP2002267573A (ja) * | 2001-03-12 | 2002-09-18 | Shintech Kk | 液晶セルの配向パラメータ測定方法および測定装置 |
| US20160146596A1 (en) * | 2014-11-25 | 2016-05-26 | Samsung Display Co., Ltd. | Apparatus and method for measuring pretilt angle of liquid crystal |
| US9766061B2 (en) * | 2014-11-25 | 2017-09-19 | Samsung Display Co., Ltd. | Apparatus and method for measuring pretilt angle of liquid crystal |
| CN105841825A (zh) * | 2016-03-15 | 2016-08-10 | 华中科技大学 | 一种基于硅基液晶的波长分辨监测方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2606152B2 (ja) | 1997-04-30 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| TW477897B (en) | Liquid crystal display device, method and device to measure cell thickness of liquid crystal display device, and phase difference plate using the method thereof | |
| JP3910352B2 (ja) | プレチルト角検出方法及び検出装置 | |
| JPH04307312A (ja) | 液晶セルのギャップ厚測定方法 | |
| US6473180B2 (en) | Measuring method of liquid crystal pretilt angle and measuring equipment of liquid crystal pretilt angle | |
| JP3023443B2 (ja) | 液晶セルパラメータ検出方法 | |
| Faetti et al. | Strong azimuthal anchoring energy at a nematic-polyimide interface | |
| KR20100099662A (ko) | 반사형 액정 셀의 틸트각 측정 방법 및 측정 장치 | |
| JP2606152B2 (ja) | プレチルト角測定装置 | |
| KR100293008B1 (ko) | 액정프리틸트각의측정방법및액정프리틸트각의측정장치 | |
| US5231522A (en) | Liquid crystal panel capable of indicating black without dependency of visual angle | |
| JP2001290118A (ja) | 液晶層の厚み測定方法および厚み測定装置 | |
| Hwang | Precise optical retardation measurement of nematic liquid crystal display using the phase-sensitive technique | |
| Zhou et al. | An improved stokes parameter method for determination of the cell thickness and twist angle of twisted nematic liquid crystal cells | |
| JP2778935B2 (ja) | ネマチック液晶素子の方位角方向のアンカリングエネルギ−測定方法 | |
| JP2713190B2 (ja) | 光学特性測定装置 | |
| JPH0763670A (ja) | 分子配向特性測定装置 | |
| JP3142805B2 (ja) | 液晶セルパラメータ検出方法及び装置 | |
| Galatola | Light-scattering study of Fréedericksz transitions in nematic liquid crystals | |
| JP2565147B2 (ja) | ツイスト角およびセルギャップの測定方法 | |
| JP4303075B2 (ja) | 液晶性材料の物性測定方法及び液晶性材料の物性測定装置 | |
| JP2000321546A (ja) | 液晶表示装置、そのセル厚測定装置及び測定法並びに位相差板 | |
| Hwang et al. | Heterodyne method for determining the surface tilt angle of nematic liquid‐crystal displays | |
| JP3787344B2 (ja) | 液晶素子のパラメータ検出方法及び検出装置 | |
| JPH0990368A (ja) | 液晶配向膜検査方法および検査装置 | |
| Chen et al. | Implementation and assessment of a tilt-angle-measurement system for liquid-crystal cells |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 19961210 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080213 Year of fee payment: 11 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090213 Year of fee payment: 12 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100213 Year of fee payment: 13 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100213 Year of fee payment: 13 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110213 Year of fee payment: 14 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110213 Year of fee payment: 14 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120213 Year of fee payment: 15 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120213 Year of fee payment: 15 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130213 Year of fee payment: 16 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130213 Year of fee payment: 16 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140213 Year of fee payment: 17 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140213 Year of fee payment: 17 |
|
| S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140213 Year of fee payment: 17 |
|
| R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |