JPH0878608A - 半導体パッケ−ジ実装構造及び方法 - Google Patents

半導体パッケ−ジ実装構造及び方法

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JPH0878608A
JPH0878608A JP6206618A JP20661894A JPH0878608A JP H0878608 A JPH0878608 A JP H0878608A JP 6206618 A JP6206618 A JP 6206618A JP 20661894 A JP20661894 A JP 20661894A JP H0878608 A JPH0878608 A JP H0878608A
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substrate
adhesive
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outer lead
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JP6206618A
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Masakazu Nakazono
正和 中園
Tomonori Kaneda
知規 金田
Isao Izawa
勲 井澤
Nobuyuki Nakajima
宣行 中嶋
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Toshiba Corp
Toshiba Development and Engineering Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Toshiba Electronic Engineering Co Ltd
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    • H01L2224/73Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L2224/10, H01L2224/18, H01L2224/26, H01L2224/34, H01L2224/42, H01L2224/50, H01L2224/63, H01L2224/71
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    • H01L2224/73204Bump and layer connectors the bump connector being embedded into the layer connector
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
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    • H05K1/00Printed circuits
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    • H05K1/181Printed circuits structurally associated with non-printed electric components associated with surface mounted components
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
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    • H05K3/30Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor
    • H05K3/32Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits
    • H05K3/34Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits by soldering
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    • H05K3/3421Leaded components

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Abstract

(57)【要約】 【目的】 TCPなどの薄形の半導体パッケ−ジを2段
重ねに実装する場合あっても、良好な実装を行える半導
体パッケ−ジの実装構造を提供する。 【構成】 第1のTCP1aは、アウタリ−ド4bを具
備しこのアウタリ−ド4bの先端部が基板8の表面に形
成された電極パッド9にハンダ付けされていると共に、
ハンダペ−スト12の融点よりも硬化温度の低い熱硬化
性の第1の接着剤15によりこの基板8の表面に固定さ
れ、第2のTCP1bは、アウタリ−ド4bを具備しこ
のアウタリ−ド4bの先端部が上記基板8の表面に形成
された電極パッド9にハンダ付けされていると共に、上
記第1の接着剤と同じ材質の第2の接着剤21により上
記第1の半導体パッケ−ジ1aに2段重ねに固定されて
いるものである。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、TAB(Tape Autom
ated Bonding)技術を利用した半導体パッケ−ジの実装
構造および実装方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】例えば、カ−ド電卓やメモリカ−ド等の
薄型携帯用電子機器は、薄形に形成されたケ−ス内を具
備し、このケ−ス内に例えばメモリICとしての薄形半
導体パッケ−ジが実装されてなる。
【0003】従来、このような薄形の半導体パッケ−ジ
としては、QFP(Quad FlatPackage )やSOP(Sma
ll Outline Package )等のプラスチックパッケ−ジが
採用されている。
【0004】ところで、近年、上述した薄型携帯用電子
機器には、さらなる薄型化、高密度実装化の要請があ
る。このような要請に応える技術としては、上記ケ−ス
内に収納されるプリント基板の両面に上記半導体パッケ
−ジを実装する方法、あるいは上記半導体パッケ−ジを
2段重ねにして実装する方法等がある。
【0005】しかし、例えば、上述したメモリカ−ドに
は寸法規格があり、その厚さは例えば2.3mmに制限
されている。一方、上記プラスチックパッケ−ジの厚さ
は1mmであるから、実装可能なパッケ−ジの個数は定
まってくる。
【0006】このため、従来のプラスチックパッケ−ジ
では、上記薄型電子機器の高密度実装化には一定の限界
があるということがあった。そこで、最近、このような
プラスチックパッケ−ジに代えて、TCP(TapeCarrie
r Package:テ−プキャリアパッケ−ジ)の採用が考え
られている。
【0007】このTCPは、従来のQFPよりもさらに
多端子狭ピッチ化を図れかつ薄型化を図ることができる
半導体パッケ−ジであり、TAB(Tape Automated Bon
ding)の技術を用いて製造される。
【0008】すなわち、このTCPは、シネフィルム状
の薄肉可撓性のフィルムキャリア上に半導体素子を搭載
した後、このフィルムキャリアを上記半導体素子ととも
に所定の形状に打ち抜くと共に、外方に突出したアウタ
リ−ドを外部端子の形(例えばガルウイング状)に折り
曲げてフォ−ミングすることで製造されるものである。
【0009】このようなTCPによれば、従来のQFP
等のプラスチックパッケ−ジでは実現できなかった35
0ピン以上の多端子化が実現できると共に、従来のQF
Pに比べ、厚さが1/3で、かつ重さが1/2の半導体
パッケ−ジが得られる。したがって、このTCPを採用
することで、上述した電子機器のさらなる薄型化および
高密度実装化を図ることも可能になる。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】ところで、上述したプ
リント基板上に半導体パッケ−ジを効率的に実装する方
法としては、リフロ−ハンダ付け方法が採用される。リ
フロ−ハンダ付け方法は、プリント基板に設けられた配
線パタ−ンの電極パッド上にあらかじめ接合材としての
ハンダペ−ストを供給しておき、上記TCPを含む多く
の電子部品をこのプリント基板上に装着した後、このプ
リント基板をリフロ−炉と称される加熱炉内に挿入す
る。このことで、上記ハンダペ−ストを一括的に溶融さ
せ、上記TCPを含む電子部品のハンダ付けを行うもの
である。
【0011】一方、上記リフロ−炉としては、上記電子
部品等が装着されたプリント基板に対して熱風を吹き付
けることで、上記ハンダペ−ストを溶融させる構造のも
のが一般的である。
【0012】しかし、上記TCPは、上述したように薄
型で軽量であり、このため上記熱風により吹き飛ばされ
たり振動したりして、良好なハンダ付けを行えないとい
うことがある。
【0013】一方、上記プリント基板の両面に上記TC
Pを実装する場合、上記プリント基板の裏面にすでにハ
ンダ付けされたTCPのアウタリ−ドの接合部位(ハン
ダ材)が、この基板の表面にTCPを実装する際にリフ
ロ−炉内で再溶融し、上記TCPの自重により上記接合
部位が解放して、導電不良が生じるという問題もある。
【0014】さらに、上記基板上にTCPを2段重ねに
実装する場合には、それぞれのTCPから導出されたア
ウタリ−ドどうしの重なりを避ける必要がある。このた
め、上記リ−ドの突出方向が制限され、その分、上記ア
ウタリ−ド間のピッチが狭くなることとなる。
【0015】アウタリ−ド間のピッチが狭い場合、この
アウタリ−ドの接合される電極パッドのピッチも狭くし
なければならないということがあり、この電極パッド上
へのハンダ材の供給が困難になる他、ハンダ付け時には
ハンダブリッジ等の不良が発生する恐れが生じる。
【0016】この発明は、このような事情に鑑みてなさ
れたもので、TCPなどの薄形の半導体パッケ−ジを2
段重ねに実装する場合あっても、良好な実装を行える半
導体パッケ−ジの実装構造および実装方法を提供するこ
とを目的とするものである。
【0017】
【課題を解決するための手段】この発明の第1の手段
は、第1、第2の半導体パッケ−ジを基板の表面に2段
重ねに実装してなる半導体パッケ−ジの実装構造におい
て、上記第1の半導体パッケ−ジは、アウタリ−ドを具
備しこのアウタリ−ドの先端部が上記基板の表面に形成
された電極パッドにハンダ付けされていると共に、熱硬
化性の第1の接着剤によりこの基板の表面に固定され、
第2の半導体パッケ−ジは、アウタリ−ドを具備しこの
アウタリ−ドの先端部が上記基板の表面に形成された電
極パッドにハンダ付けされていると共に、熱硬化性の第
2の接着剤により上記第1の半導体パッケ−ジ上に固定
されていることを特徴とする半導体パッケ−ジの実装構
造である。
【0018】第2の手段は、上記第1の手段の半導体パ
ッケ−ジの実装構造において、上記熱硬化性の第1、第
2の接着剤の硬化温度は、上記アウタリ−ドと電極パッ
ドの接合に用いられるハンダ材の融点よりも低いもので
あることを特徴とするものである。
【0019】第3の手段は、第1の手段の半導体パッケ
−ジの実装構造において、上記半導体パッケ−ジのアウ
タリ−ドは、上記電極パッドにハンダ付けされる先端部
が、上記電極パッドに対して凸状となるように曲成され
ていることを特徴とするものである。
【0020】第4の手段は、基板に形成された電極パッ
ドにハンダ付けされる先端部が、上記電極パッドに対し
て凸状となるように成形されてなるアウタリ−ドを具備
する半導体パッケ−ジの実装構造において、上記電極パ
ッドは、千鳥状に配設されていることを特徴とするもの
である。
【0021】第5の手段は、第1、第2の半導体パッケ
−ジを基板上に2段重ねに実装する半導体パッケ−ジの
実装方法において、プリント基板に設けられた各電極パ
ッド上にハンダペ−ストを供給する工程と、上記プリン
ト基板の表面に熱硬化性の第1の接着剤を供給する工程
と、半導体素子が搭載されてなるフィルムキャリアを打
ち抜いて第1の半導体パッケ−ジを製造すると共に、上
記フィルムキャリアから突出したアウタリ−ドの先端部
を上記電極パッドに対して凸状となるように成形する工
程と、上記第1の半導体パッケ−ジを、上記アウタリ−
ドの先端部を上記電極パッド上のハンダペ−ストに接触
させると共に、この第1の半導体パッケ−ジを上記基板
上に供給された第1の接着剤に接触させることで、上記
基板の表面に仮着する工程と、この第1の半導体パッケ
−ジの表面に第2の接着剤を供給する工程と、半導体素
子が搭載されてなるフィルムキャリアを打ち抜いて第2
の半導体パッケ−ジを製造すると共に、上記フィルムキ
ャリアから突出したアウタリ−ドの先端部を上記電極パ
ッドに対して凸状となるように成形する工程と、上記第
2の半導体パッケ−ジを、上記アウタリ−ドの先端部を
上記電極パッド上のハンダペ−ストに接触させると共
に、この第2の半導体パッケ−ジを上記第1の半導体パ
ッケ−ジに供給された第2の接着剤に接触させること
で、上記第1の半導体パッケ−ジに2段重ねに仮着する
工程と、この第1、第2の半導体素子が仮着されてなる
基板を上記第1、第2の接着剤の硬化温度に加熱し、こ
の第1、第2の接着剤を硬化させて上記第1、第2の半
導体素子を上記基板に固定する工程と、上記第1、第2
の半導体パッケ−ジが固定されてなる基板を上記接着剤
の硬化温度よりも高い上記ハンダ材の溶融温度に加熱
し、上記各アウタリ−ドをこのプリント基板の電極パッ
ドにハンダ付けする工程とを有することを特徴とするも
のである。
【0022】第6の手段は、第1、第2の半導体パッケ
−ジを基板上に2段重ねに実装する半導体パッケ−ジの
実装方法において、プリント基板に設けられた各電極パ
ッド上にハンダペ−ストを供給する工程と、上記プリン
ト基板の表面に熱硬化性の第1の接着剤を供給する工程
と、第1の半導体パッケ−ジを、アウタリ−ドを上記電
極パッド上のハンダペ−ストに接触させると共に、この
第1の半導体パッケ−ジを上記基板上に供給された第1
の接着剤に接触させることで、上記基板の表面に仮着す
る工程と、この第1の半導体パッケ−ジの表面に第2の
接着剤を供給する工程と、第2の半導体パッケ−ジを、
アウタリ−ドを上記電極パッド上のハンダペ−ストに接
触させると共に、この第2の半導体パッケ−ジを上記第
1の半導体パッケ−ジに供給された第2の接着剤に接触
させることで、上記第1の半導体パッケ−ジに2段重ね
に仮着する工程と、この第1、第2の半導体素子が仮着
されてなる基板を上記第1、第2の接着剤の硬化温度に
加熱し、この第1、第2の接着剤を硬化させて上記第
1、第2の半導体素子を上記基板に固定する工程と、上
記第1、第2の半導体パッケ−ジが固定されてなる基板
を上記接着剤の硬化温度よりも高い上記ハンダ材の溶融
温度に加熱し、上記各アウタリ−ドをこのプリント基板
の電極パッドにハンダ付けする工程とを有することを特
徴とするものである。
【0023】
【作用】半導体パッケ−ジを2段重ねに実装する場合に
おいて、第1、第2の半導体パッケ−ジを熱硬化性の接
着剤を用いて基板に固定してから、アウタリ−ドのハン
ダ付けを行えるようにしたので、実装工程中に、これら
の半導体パッケ−ジが基板から脱落するということを少
なくできる。
【0024】
【実施例】以下、この発明の一実施例を図面を参照して
説明する。一実施例として、例えば、メモリカ−ドを製
造する場合の製造工程について説明する。
【0025】図1に1で示すのは、上記メモリカ−ド内
にメモリICとして実装されるTCP(Tape Carrier P
ackage)である。このTCP1は、TAB(Tape Autom
ated Bonding)の技術により製造された半導体パッケ−
ジであり、図に2で示すサポ−トリングを具備する。
【0026】このサポ−トリング2は、前述したシネフ
ィルム状のフィルムキャリアを打ち抜いて成形されたも
のである。このサポ−トリング2の中央部にはデバイス
ホ−ル3と称される孔部が設けられている。そして、こ
のサポ−トリング2の表面には、このデバイスホ−ル3
を囲む状態で、複数本のリ−ドが形成されている。
【0027】各リ−ドは、一端部であるインナ−リ−ド
4aを上記デバイスホ−ル3内に突出させている。そし
て、これら各インナ−リ−ド4aは、図に6で示す半導
体素子の各電極パッド6aに接続(インナ−リ−ドボン
ディング)されている。
【0028】また、上記半導体素子6と上記インナ−リ
−ド4aは封止用樹脂によって封止されている。一方、
上記各リ−ド4の他端部は、上記サポ−トリング2の図
中右側に示す部位の表面に取り回され、このサポ−トリ
ング2から外方に突設されている。このリ−ド4の上記
サポ−トリング2から突出した部位は、アウタリ−ド4
bと称される。
【0029】このアウタリ−ド4bは、例えば幅b=2
00μm、隣り合うリ−ドとのピッチp=400μmで
形成され、実装の際には、図に一点鎖線で示すようにJ
字状に曲成されるようになっている。
【0030】次に、このTCP1をプリント基板上に実
装する工程について説明する。図2に示すのは、上記メ
モリカード内に収容されるプリント基板8の一部であ
る。
【0031】このプリント基板8の表面および裏面に
は、このプリント基板8に実装される上記TCP1の各
アウタリ−ド4bに対応する複数個の電極パッド9…
が、上記アウタリ−ド4bの突出方向と直交する方向に
千鳥状に配設されている。
【0032】したがって、上記各電極パッド9間のピッ
チは、上記TCP1のアウタリ−ド4bのピッチpの2
倍のピッチ2pとなっている。第1の工程では、このプ
リント基板1の各電極パッド9上にハンダペ−ストを供
給する。
【0033】すなわち、図3に示すように、上記プリン
ト基板8の表面(上面)に、このプリント基板8に設け
られた各電極パッド9に対応するパタ−ン(千鳥パタ−
ン)の開口10を有するメタルマスク11を重ねる。
【0034】ついで、このメタルマスク11上にハンダ
ペ−スト12を供給し、このハンダペ−スト12を図に
13で示すスキ−ジを用いて上記開口内に押し込んでい
く。
【0035】このハンダペ−スト12は、ハンダの微粉
末をフラックスなどと混練し、印刷に適合する粘度とし
たペ−ストである。このハンダペ−スト12は、上記開
口10内に押し込まれることで、上記電極パッド9の表
面と接触し、この電極パッド9上に印刷される。
【0036】そして、上記プリント基板8の表面から上
記メタルマスク11を離間させることで、上記プリント
基板8の各電極パッド9上には、図4に示すように、適
当な量のハンダペ−スト12が供給される。
【0037】第2の工程では、上記プリント基板8上に
第1の接着剤を供給する。すなわち、上記プリント基板
8上の図中左側の部位に形成された2列の電極パッド9
…の内側に、内部に接着剤が満たされてなるシリンジ1
4を対向させる。そして、このシリンジ14から上記第
1の接着剤15を吐出すると共に、このシリンジ14を
紙面と直交する方向に駆動することで、上記電極パッド
9…の内側に沿ってこの接着剤15を塗布する。(図2
に一点鎖線15で示す部位)この第1の接着剤15は、
例エポキシ系樹脂等の熱硬化性接着剤であり、常温にお
いては粘着性を有し、加熱されることで硬化するものと
する。この第1の接着剤15の硬化温度は約150℃で
あり、上記ハンダ材(ハンダペ−スト12)の融点(1
83℃)よりも低いものが採用されている。
【0038】この発明は、このハンダペ−スト12の融
点と上記第1の接着剤15の硬化点との温度差を利用し
て、不良の少ない実装を行うものである。第3の工程で
は、第1のTCP(1aで示す)の製造を行う。
【0039】すなわち、上記半導体素子6が搭載され樹
脂封止されてなるフィルムキャリアを打ち抜くと共に、
上記アウタリ−ド4bの成形を行う。この打抜き・成形
は、図5に示す金型を用いて行う。この金型は、上記T
CPの下面を保持する下型17と、この下型17との間
に上記フィルムキャリア(TCP1)を挟み込んで挟持
する上型18と、この上型18から下型17の方向に突
出し上記アウタリ−ド4bの成形を行うポンチ19とか
らなる。
【0040】上記フィルムキャリアは、上記上型17と
下型18との間に挿通され、上記半導体素子6を上記下
型17の上面に位置させる。ついで、上記上型18を閉
じると共に、上記ポンチ19を下型17内に突出させ
る。
【0041】このポンチ19は、上記アウタリ−ド4b
の最外端部を上記フィルムキャリアから打ち抜くための
切断部19aと、打ち抜いたアウタリ−ドの先端部を後
述するプリント基板に対して凸状になるようにJ字状
(あるいはU字状)に曲成するための成形部19bを具
備する。
【0042】上記切断部19aは、上記成形部19bよ
りも下方に突出し、上記成形部19aが上記アウタリ−
ド4bの中途部に接触する前に上記アウタリ−ド4bの
切断(打抜き)を行うようになっている。
【0043】一方、上記成形部19bの下端は、図に示
す曲面に形成され、上記切断されたアウタリ−ド4bを
上記下型17に設けられた凹部17a内に押し込んで、
J字状(あるいはU字状)に成形するようになってい
る。
【0044】第4の工程では、図6に示すように、成形
された第1のTCP1aのサポ−トリング2の図中右側
の部位の上面に対して第2の接着剤21を塗布する。こ
の接着剤21の塗布は、上記第2の工程と同様に、図に
22で示すシリンジを用い、このシリンジ22を上記第
2の接着剤21を吐出させつつ紙面に直交する方向に駆
動することで行う。
【0045】また、この第2の接着剤21は、上記第1
の接着剤15と同じものであり、熱硬化性の接着剤であ
る。第5の工程では、上記プリント基板8上に上記第1
のTCP1aを装着する。
【0046】この装着は、まず、図に23示す吸着ノズ
ルで上記第1のTCP1aを吸着保持し、このTCP1
aの各アウタリ−ド4bの先端部を上記プリント基板8
の図中右側に位置する各電極パッド9に対向させる。
【0047】ついで、上記吸着ノズル23を下降駆動す
ることで、上記各アウタリ−ド4bの下端(曲成部)を
上記電極パッド9上のハンダペ−スト12に接触させる
と共に、上記基板8上に供給された第1の接着剤15に
上記半導体素子6の下面を接触させる。
【0048】上記第1のTCP1aは、上記ハンダペ−
スト12および第1の接着剤15の粘着力によって、こ
のプリント基板1上に仮着される。第6の工程では、上
記第1のTCP1aに重ねる第2のTCP(1bで示
す)の製造を行う。
【0049】この第2のTCP1bの製造は、図8に示
す金型を用いて行う。この金型は、上記第2の工程の金
型と同様に、上型24および下型25を具備する。ま
た、この金型は、第2の工程の金型とは異なり、上記上
型24の図中左側の部位にポンチ26を具備する。
【0050】このポンチ26は、上記第2の工程の金型
に設けられたポンチ17と同様に、上記アウタリ−ド4
bを上記フィルムキャリアから切断する切断部26a
と、切断したアウタリ−ド4bをJ字状(U字状)に成
形する成形部26bとを有する。
【0051】一方、上記フィルムキャリアは、第2の工
程とは反転(表裏逆転)された状態で、上記上型24と
下型25との間に挿通される。そして、上記下型25に
対して上型24を閉じると共に、上記ポンチ26を下降
駆動することで、上記切断部26aを用いて上記アウタ
リ−ド4bを切断する。
【0052】ついで、上記成形部26bを用いて上記切
断したアウタリ−ド4bの中途部を上記下型25に設け
られた凹部25a内に押し込むことで、このアウタリ−
ド4bをJ字状に曲成する。
【0053】このことで、第2のTCP1bが完成す
る。第7の工程では、この第2のTCP1bを、すでに
上記プリント基板8上に仮着された上記第1のTCP1
aに重ねて2段式に上記プリント基板8上に装着する。
【0054】この装着は、図に27で示す吸着ノズルで
上記第2のTCP1bを吸着保持すると共に、このTC
P1bの上記J字状のアウタリ−ド4bの下端部を上記
プリント基板8の図中左側に位置する電極パッド9上に
供給されたハンダペ−スト12に接触させると共に、上
記第1のTCP1a上に供給された第2の接着剤21に
上記サポ−トリング2の下面を接触させて行う。
【0055】このことで、上記第2のTCP1bも、上
記プリント基板8上に仮着される。第7の工程は、上記
第1、第2のTCP1a、1bのハンダ付けを行う。
【0056】このハンダ付けは、上記第1、第2のTC
P1a、1bが装着されてなるプリント基板8を図10
に示すリフロ−炉30内に挿入することで行う。このリ
フロ−炉30は、図示しないが、上記プリント基板8の
余熱を行う余熱部と、余熱されたプリント基板8を加熱
する加熱部とを有する。上記プリント基板8は、例えば
コンベアによってこのリフロ−炉30内を搬送され、上
記余熱部、加熱部の順にこのリフロ−炉30内を通過す
るようになっている。
【0057】上記余熱部では、上記プリント基板8に微
弱な熱風を突き付け、上記プリント基板の上面温度が約
150℃に至までまで徐々に加熱する。このことで、こ
の余熱部では、このハンダペ−スト12内のアルコ−ル
分を煮沸させることなく飛ばす。また、徐々に加熱する
ことによって上記半導体素子6内に熱衝撃が生じること
を防止する。さらに、この余熱部では、上記第1、第2
の接着剤15、21を硬化させる。
【0058】上記加熱部では、強い熱風を吹き付け、上
記プリント基板8の表面温度を上記ハンダペ−スト12
の溶融温度以上に加熱する。このことで、上記ハンダペ
−ストは再要融する。
【0059】なお、このとき、上記第1、第2の接着剤
15、21により上記第1、第2のTCP1a、1b
は、すでに上記プリント基板8上に固定されているか
ら、上記熱風によってこの第1、第2のTCP1a、1
bが吹き飛ばされこのプリント基板8から脱落するとい
うことはない。
【0060】ついで、上記プリント基板8を所定の温度
以下に冷却することで、上記第1、第2のTCPの実装
が終了する。すなわち、上記第1のTCP1aは、図中
右側および左側をそれぞれハンダ12および第1の接着
剤15により上記プリント基板8の表面に固定され、ま
た、上記第2のTCP1bは、図中右側および左側をそ
れぞれ第2の接着剤21およびハンダ12によって上記
プリント基板8に固定されている。
【0061】第8の工程では、このプリント基板8の裏
面に上記TCP1を2段重ね式に実装する。なお、この
第8の工程は、以上に説明した第1〜第7の工程と略同
じ工程であるので、図示を省略する。
【0062】この工程では、まず、表面側に上記第1、
第2のTCP1a、1bが実装されてなるプリント基板
8を裏返す。そして、このプリント基板8の裏面に、上
記第1、第2の工程と同様にハンダペ−スト12および
第1の接着剤15を塗布する。
【0063】ついで、第1、第2のTCP1a、1b
を、上記第3、第4の工程と同様の工程で製造する。そ
して、これら第1、第2のTCP1a、1bを、上記プ
リント基板8の裏面に仮着する。(第5、第6の工程) ついで、第7の工程と同様に、このプリント基板8をリ
フロ−炉内に挿入する。このことで上記第1、第2のT
CP1a、1bを上記プリント基板8の裏面にハンダ付
けおよび接着する。
【0064】なお、このとき、リフロ−炉内において、
このプリント基板8の表面側に実装された上記第1、第
2のTCP1a、1bのアウタリ−ド4bの接続部位
(ハンダ材)も加熱されることとなる。しかし、このこ
とによって、このハンダ材12が軟化したとしても、上
記第1、第2の接着剤15、21によって、上記第1、
第2のTCP1a、1bは上記プリント基板8に固定さ
れているから、これらが上記プリント基板8の表面から
脱落することは少ない。
【0065】このようにして、上記プリント基板8の両
面(表面および裏面)にそれぞれ第1、第2のTCP1
a、1bが2段重ね式に実装されたならば、この実装済
みプリント基板8は、例えばメモリカ−ドのケ−ス内に
収納される。
【0066】このケ−スの厚さは、規格により、例えば
3.3mmと定められているが、上記プリント基板の厚
さは約00.4mm、上記1つのTCP1の厚さは約
0.5mm以下であるから、上記ケ−ス内に余裕をもっ
て収納することができる。
【0067】なお、上記プリント基板8の片面のみに、
1つのTCPを実装した場合と比較すると、単純に実装
密度は4倍となる。このような構成によれば、以下に説
明する効果がある。
【0068】第1に、TCP1などの薄形可撓性の半導
体パッケ−ジを2段重ねに実装する場合、この実装を良
好に行うことができる効果がある。すなわち、この発明
では、第1、第2のTCP1a、1bを上記プリント基
板8上に2段重ねに実装する場合において、上記第1、
第2のTCP1a、1bを熱硬化性の接着剤で仮着する
ようにした。また、上記熱硬化性の接着剤の硬化温度
を、上記第1、第2のTCP1a、1bのアウタリ−ド
4bをプリント基板8に接合するためのハンダペ−スト
12の融点よりも低く設定した。
【0069】このことで、リフロ−炉内で上記プリント
基板8に強風を吹き付ける前の余熱部において、上記第
1、第2のTCP1a、1bをプリント基板8に固定す
ることができ、ハンダ付け時におけるこれら第1、第2
のTCP1a、1bの脱落を有効に防止することができ
る。
【0070】また、強く加熱する前に、上記第1、第2
のTCP1a、1bをプリント基板8に固定することが
できるから、この第1、第2のTCP1a、1bが加熱
により反ってしまうことを有効に防止できる。
【0071】なお、上記第1、第2のTCP1a、1b
のアウタリ−ド4bの先端は、J字状に形成されている
ので、このアウタリ−ド4bにかかるハンダの張力がバ
ランスする。このことによって、上記アウタリ−ド4b
の移動や変形を防止できる。このことにより、これら第
1、第2のTCP1a、1bの反りを有効に防止できる
と共に、接合部の解放による導電不良を少なくすること
ができる。。
【0072】第2に、このプリント基板8の裏面にも上
記第1、第2のTCP1a、1bを実装する場合に、す
でにこのプリント基板8の表面に実装されているTCP
1の脱落を有効に防止できる効果がある。
【0073】すなわち、上記プリント基板8の表面に実
装した第1、第2のTCP1a、1bは、上記第1、第
2の接着剤15、21により固定されている。したがっ
て、このプリント基板8を裏返して加熱した場合でも、
この基板8の表面側に実装した第1、第2のTCP1
a、1bが脱落することは少ない。このことにより、良
好な実装を行える効果がある。
【0074】第3に、ハンダブリッジの少ない良好な実
装を行うことができる効果がある。すなわち、上記第
1、第2のTCP1a、1bを2段重ねに実装する場
合、アウタリ−ド4bの突出方向が制限されるから、そ
の分上記アウタリ−ド4bのピッチが狭くなる。このた
め、上記プリント基板8上に上記アウタリ−ド4bを高
密度(狭ピッチ)でハンダ付けしなければならない。
【0075】この発明では、上記アウタリ−ド4bの先
端をJ字状に形成し、かつ上記各アウタリ−ド4bがハ
ンダ付けされる各電極パッド9を千鳥状に配設した。こ
のことによって、隣り合う上記電極パッド9間のピッチ
を上記アウタリ−ド4bのピッチの2倍に設定すること
ができる。したがって、上記電極パッド9へのハンダペ
−スト12の供給が容易になり、上記電極パッド9上に
上記ハンダペ−スト12を良好に供給することが可能に
なる。
【0076】また、電極パッド9間のピッチを大きくす
ることができるから、上記電極パッド9間でハンダブリ
ッジなどの不良が生じることが少なくなる。これらのこ
とにより上記アウタリ−ド4bが狭ピッチで設けられて
いる場合であっても良好なハンダ付けを行うことが可能
である。
【0077】なお、図12(a)〜(b)に示すよう
に、上記各アウタリ−ド4bは、最下端部を境に、上記
電極パッド9に対応して、千鳥状にハンダ付けされるこ
ととなる。
【0078】このことにより、上記隣り合うアウタリ−
ド4bは、図12(b)、(c)に矢印(イ)、(ロ)
で示すように、ハンダ12の張力によってそれぞれ反対
の方向に引っ張られることとなる。
【0079】しかし、このTCP1全体で見れば、引っ
張り力の合力がバランスするから、このTCPが1方向
に引っ張られるということはない。これらのことによ
り、TCP1にかかる外力をバランスさせつつより高密
度な接合を行える効果がある。
【0080】第4に、半導体素子6の作動に不良がある
場合に、各TCP1のリペアを容易に行える効果があ
る。すなわち、上記第1のTCP1aのリペアを行う場
合に、上記第1、第2の接着剤15、21を切断するこ
とで、上記第2のTCP1bのアウタリ−ド4bを基板
8の電極パッド9から剥がすことなく、上記第1のTC
P1aのみのリペアを行える効果がある。
【0081】なお、この発明は、上記一実施例に限定さ
れるものではなく、発明の要旨を変更しない範囲で種々
変形可能である。例えば、上記一実施例では、上記電極
パッド9は矩形状であったが、これに限定されるもので
はなく、円形もしくは楕円状など、矩形以外の形状であ
っても良い。さらに、上記TCP1のサポ−トリング2
に、補強用の金属プレ−トを貼着することで、このTC
Pの反り等の変形を防止するようにしても良い。
【0082】
【発明の効果】以上述べたように、この発明は、第1、
第2の半導体パッケ−ジを基板の表面に2段重ねに実装
する場合において、上記第1、第2の半導体パッケ−ジ
を、アウタリ−ドのハンダ付けを行うハンダ材の融点温
度よりも硬化温度が低い熱硬化性の接着剤を用いて基板
上に固定するものであり、実際に実装する場合には、上
記接着剤を硬化させ、上記第1、第2の半導体パッケ−
ジを基板に固定してから、上記アウタリ−ドをハンダ付
けするようにしたものである。
【0083】このような構成によれば、TCPなどの薄
形の半導体パッケ−ジを2段重ね実装する場合であって
も、実装工程中に上記半導体パッケ−ジが脱落すること
少く、良好な実装を行うことができる効果がある。
【0084】また、アウタリ−ドの先端部を曲成すると
共に、電極パッドを千鳥状に配設することで、半導体パ
ッケ−ジにかかる外力のバランスを維持しつつ、より高
密度なハンダ付けが不良の少い状態で良好に行える効果
がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の一実施例を示す半導体パッケ−ジの
縦断面図。
【図2】同じく、プリント基板の一部を拡大して示す平
面図。
【図3】同じく、ハンダペ−ストの供給工程を示す縦断
面図。
【図4】同じく、第1の接着剤の供給工程を示す縦断面
図。
【図5】同じく、第1の半導体パッケ−ジの製造工程を
示す縦断面図。
【図6】同じく、第2の接着剤の供給工程を示す縦断面
図。
【図7】同じく、第1の半導体パッケ−ジの基板への仮
着工程を示す縦断面図。
【図8】同じく、第2の半導体パッケ−ジの製造工程を
示す縦断面図。
【図9】同じく、第2の半導体パッケ−ジの基板への仮
着工程を示す縦断面図。
【図10】同じく、第1、第2の半導体パッケ−ジのリ
フロ−ハンダ付け工程を示す縦断面図。
【図11】同じく、第1、第2の半導体パッケ−ジの実
装構造を示す縦断面図。
【図12】同じく、アウタリ−ドのハンダ付け状態を示
す平面図および縦断面図。
【符号の説明】
1a…第1のTCP(第1の半導体パッケ−ジ)、1b
…第2のTCP(第2の半導体パッケ−ジ)、4b…ア
ウタリ−ド、6…半導体素子、8…プリント基板(基
板)、9…電極パッド、12…ハンダペ−スト(ハンダ
材)、15…第1の接着剤、21…第2の接着剤。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 H01L 25/18 (72)発明者 井澤 勲 東京都府中市東芝町1番地 株式会社東芝 府中工場内 (72)発明者 中嶋 宣行 神奈川県川崎市川崎区日進町7番地1 東 芝電子エンジニアリング株式会社内

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 第1、第2の半導体パッケ−ジを基板の
    表面に2段重ねに実装してなる半導体パッケ−ジの実装
    構造において、 上記第1の半導体パッケ−ジは、アウタリ−ドを具備し
    このアウタリ−ドの先端部が上記基板の表面に形成され
    た電極パッドにハンダ付けされていると共に、熱硬化性
    の第1の接着剤によりこの基板の表面に固定され、 第2の半導体パッケ−ジは、アウタリ−ドを具備しこの
    アウタリ−ドの先端部が上記基板の表面に形成された電
    極パッドにハンダ付けされていると共に、熱硬化性の第
    2の接着剤により上記第1の半導体パッケ−ジ上に固定
    されていることを特徴とする半導体パッケ−ジの実装構
    造。
  2. 【請求項2】 請求項1記載の半導体パッケ−ジの実装
    構造において、 上記熱硬化性の第1、第2の接着剤の硬化温度は、 上記アウタリ−ドと電極パッドの接合に用いられるハン
    ダ材の融点よりも低いものであることを特徴とする半導
    体パッケ−ジの実装構造。
  3. 【請求項3】 請求項1記載の半導体パッケ−ジの実装
    構造において、 上記半導体パッケ−ジのアウタリ−ドは、 上記電極パッドにハンダ付けされる先端部が、上記電極
    パッドに対して凸状となるように曲成されていることを
    特徴とする半導体パッケ−ジの実装構造。
  4. 【請求項4】 基板に形成された電極パッドにハンダ付
    けされる先端部が、上記電極パッドに対して凸状となる
    ように成形されてなるアウタリ−ドを具備する半導体パ
    ッケ−ジの実装構造において、 上記電極パッドは、千鳥状に配設されていることを特徴
    とする半導体パッケ−ジの実装構造。
  5. 【請求項5】第1、第2の半導体パッケ−ジを基板上に
    2段重ねに実装する半導体パッケ−ジの実装方法におい
    て、 プリント基板に設けられた各電極パッド上にハンダペ−
    ストを供給する工程と、 上記プリント基板の表面に熱硬化性の第1の接着剤を供
    給する工程と、 半導体素子が搭載されてなるフィルムキャリアを打ち抜
    いて第1の半導体パッケ−ジを製造すると共に、上記フ
    ィルムキャリアから突出したアウタリ−ドの先端部を上
    記電極パッドに対して凸状となるように成形する工程
    と、 上記第1の半導体パッケ−ジを、上記アウタリ−ドの先
    端部を上記電極パッド上のハンダペ−ストに接触させる
    と共に、この第1の半導体パッケ−ジを上記基板上に供
    給された第1の接着剤に接触させることで、上記基板の
    表面に仮着する工程と、 この第1の半導体パッケ−ジの表面に第2の接着剤を供
    給する工程と、 半導体素子が搭載されてなるフィルムキャリアを打ち抜
    いて第2の半導体パッケ−ジを製造すると共に、上記フ
    ィルムキャリアから突出したアウタリ−ドの先端部を上
    記電極パッドに対して凸状となるように成形する工程
    と、 上記第2の半導体パッケ−ジを、上記アウタリ−ドの先
    端部を上記電極パッド上のハンダペ−ストに接触させる
    と共に、この第2の半導体パッケ−ジを上記第1の半導
    体パッケ−ジに供給された第2の接着剤に接触させるこ
    とで、上記第1の半導体パッケ−ジに2段重ねに仮着す
    る工程と、 この第1、第2の半導体素子が仮着されてなる基板を上
    記第1、第2の接着剤の硬化温度に加熱し、この第1、
    第2の接着剤を硬化させて上記第1、第2の半導体素子
    を上記基板に固定する工程と、 上記第1、第2の半導体パッケ−ジが固定されてなる基
    板を上記接着剤の硬化温度よりも高い上記ハンダ材の溶
    融温度に加熱し、上記各アウタリ−ドをこのプリント基
    板の電極パッドにハンダ付けする工程とを有することを
    特徴とする半導体パッケ−ジの実装方法。
  6. 【請求項6】 第1、第2の半導体パッケ−ジを基板上
    に2段重ねに実装する半導体パッケ−ジの実装方法にお
    いて、 プリント基板に設けられた各電極パッド上にハンダペ−
    ストを供給する工程と、 上記プリント基板の表面に熱硬化性の第1の接着剤を供
    給する工程と、 第1の半導体パッケ−ジを、アウタリ−ドを上記電極パ
    ッド上のハンダペ−ストに接触させると共に、この第1
    の半導体パッケ−ジを上記基板上に供給された第1の接
    着剤に接触させることで、上記基板の表面に仮着する工
    程と、 この第1の半導体パッケ−ジの表面に第2の接着剤を供
    給する工程と、 第2の半導体パッケ−ジを、アウタリ−ドを上記電極パ
    ッド上のハンダペ−ストに接触させると共に、この第2
    の半導体パッケ−ジを上記第1の半導体パッケ−ジに供
    給された第2の接着剤に接触させることで、上記第1の
    半導体パッケ−ジに2段重ねに仮着する工程と、 この第1、第2の半導体素子が仮着されてなる基板を上
    記第1、第2の接着剤の硬化温度に加熱し、この第1、
    第2の接着剤を硬化させて上記第1、第2の半導体素子
    を上記基板に固定する工程と、 上記第1、第2の半導体パッケ−ジが固定されてなる基
    板を上記接着剤の硬化温度よりも高い上記ハンダ材の溶
    融温度に加熱し、上記各アウタリ−ドをこのプリント基
    板の電極パッドにハンダ付けする工程とを有することを
    特徴とする半導体パッケ−ジの実装方法。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20030033611A (ko) * 2001-10-24 2003-05-01 정운영 적층형 반도체패키지 및 그 제조방법
KR100446713B1 (ko) * 2000-05-26 2004-09-01 샤프 가부시키가이샤 반도체 장치 및 액정모듈

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100446713B1 (ko) * 2000-05-26 2004-09-01 샤프 가부시키가이샤 반도체 장치 및 액정모듈
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