JPH087320A - 光ディスク記録用ビームパワーコントロール装置 - Google Patents
光ディスク記録用ビームパワーコントロール装置Info
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- JPH087320A JPH087320A JP6137461A JP13746194A JPH087320A JP H087320 A JPH087320 A JP H087320A JP 6137461 A JP6137461 A JP 6137461A JP 13746194 A JP13746194 A JP 13746194A JP H087320 A JPH087320 A JP H087320A
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- G11B7/126—Circuits, methods or arrangements for laser control or stabilisation
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- G11B7/004—Recording, reproducing or erasing methods; Read, write or erase circuits therefor
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- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 サンプリング回路や光パワー検出系等個々の
回路や素子における応答性の改善に頼ることなく、書込
パルスのビットレート高速化を図る。 【構成】 記録ビームを発射するビーム出力系１と、記
録ビームの光強度を検出して検出信号を出力する検出系
２，３と、記録すべき情報信号における低または／及び
高レベル継続期間に対応したサンプルパルスを発生する
サンプルパルス発生器９Ａと、サンプルパルスに応答し
て検出信号をサンプルホールドするサンプルホールド回
路４Ｈ，４Ｌと、サンプルホールドされた検出信号に基
づき記録ビームの低レベルまたは／及び高レベルの光強
度を一定に制御するフィードバック制御系１０Ｈ，５
Ｈ，６Ｈ，８，及び１０Ｌ，５Ｌ，６Ｌとを有するビー
ムパワーコントロール装置。サンプルパルス発生器９Ａ
は、当該情報信号の低または／及び高レベル継続期間の
長さが所定時間よりも短い場合にサンプルパルスＳＰ
Ｈ，ＳＰＬの発生を停止する。
回路や素子における応答性の改善に頼ることなく、書込
パルスのビットレート高速化を図る。 【構成】 記録ビームを発射するビーム出力系１と、記
録ビームの光強度を検出して検出信号を出力する検出系
２，３と、記録すべき情報信号における低または／及び
高レベル継続期間に対応したサンプルパルスを発生する
サンプルパルス発生器９Ａと、サンプルパルスに応答し
て検出信号をサンプルホールドするサンプルホールド回
路４Ｈ，４Ｌと、サンプルホールドされた検出信号に基
づき記録ビームの低レベルまたは／及び高レベルの光強
度を一定に制御するフィードバック制御系１０Ｈ，５
Ｈ，６Ｈ，８，及び１０Ｌ，５Ｌ，６Ｌとを有するビー
ムパワーコントロール装置。サンプルパルス発生器９Ａ
は、当該情報信号の低または／及び高レベル継続期間の
長さが所定時間よりも短い場合にサンプルパルスＳＰ
Ｈ，ＳＰＬの発生を停止する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、光ビームのパワーコン
トロールに関し、特にピットの有無及び長短によって光
ディスクに情報信号の記録をなすための光ディスク書込
用ビームパワーコントロール装置に関する。
トロールに関し、特にピットの有無及び長短によって光
ディスクに情報信号の記録をなすための光ディスク書込
用ビームパワーコントロール装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】かかるビームパワーコントロール装置と
しては、特開昭６１−１６０４４号公報に開示されてい
るようなものがある。図１は、上記公報に記載の技術を
背景として構成される光ディスク書込用ビームパワーコ
ントロール装置の構成を示すブロック図である。
しては、特開昭６１−１６０４４号公報に開示されてい
るようなものがある。図１は、上記公報に記載の技術を
背景として構成される光ディスク書込用ビームパワーコ
ントロール装置の構成を示すブロック図である。
【０００３】図１において、ビーム出力手段としての半
導体レーザ１は、光ディスクの記録ヘッドを担い記録用
の光ビームを出力する。レーザ１の発射光強度は、フォ
トダイオード等の、当該レーザユニット（モニタ出力端
子付きレーザモジュール）の内部受光素子、もしくは図
示せぬ光学系を通じて受光光路が導かれる外部受光素子
からなる書込光強度検出手段によって、検出される。フ
ォトダイオード２の受光出力は、アンプ３を経て検出信
号として上側サンプルホールド回路４Ｈ及び下側サンプ
ルホールド回路４Ｌに供給される。
導体レーザ１は、光ディスクの記録ヘッドを担い記録用
の光ビームを出力する。レーザ１の発射光強度は、フォ
トダイオード等の、当該レーザユニット（モニタ出力端
子付きレーザモジュール）の内部受光素子、もしくは図
示せぬ光学系を通じて受光光路が導かれる外部受光素子
からなる書込光強度検出手段によって、検出される。フ
ォトダイオード２の受光出力は、アンプ３を経て検出信
号として上側サンプルホールド回路４Ｈ及び下側サンプ
ルホールド回路４Ｌに供給される。
【０００４】上側サンプルホールド回路４Ｈによってサ
ンプル・ホールドされた検出信号は、減算器１０Ｈの負
入力端に供給される。減算器１０Ｈの正入力端には所定
の高レベルを有する基準信号Ｖｐが供給される。かかる
基準信号は、当該上側サーボにおける目標値、すなわち
一定とすべきレーザ１の発射光強度のピーク値に対応す
るレベルが設定される。減算器１０Ｈによる検出信号と
基準信号との減算出力は、ループフィルタ５Ｈを経てラ
イト用電流源６Ｈに供給される。電流源６Ｈは、かかる
サンプルホールドされた検出信号に応じたレベルの電流
をスイッチ回路７を介して加算器８の一端に供給する。
ンプル・ホールドされた検出信号は、減算器１０Ｈの負
入力端に供給される。減算器１０Ｈの正入力端には所定
の高レベルを有する基準信号Ｖｐが供給される。かかる
基準信号は、当該上側サーボにおける目標値、すなわち
一定とすべきレーザ１の発射光強度のピーク値に対応す
るレベルが設定される。減算器１０Ｈによる検出信号と
基準信号との減算出力は、ループフィルタ５Ｈを経てラ
イト用電流源６Ｈに供給される。電流源６Ｈは、かかる
サンプルホールドされた検出信号に応じたレベルの電流
をスイッチ回路７を介して加算器８の一端に供給する。
【０００５】一方、下側サンプルホールド回路４Ｌによ
ってサンプル・ホールドされた検出信号は、減算器１０
Ｌの負入力端に供給される。減算器１０Ｌの正入力端に
は所定の低レベルを有する基準信号Ｖｂが供給される。
かかる基準信号は、当該下側サーボにおける目標値、す
なわち一定とすべきレーザ１の発射光強度のボトム値に
対応するレベルが設定される。減算器１０Ｌによる検出
信号と基準信号との減算出力は、ループフィルタ５Ｌを
経てボトム用電流源６Ｌに供給される。電流源６Ｌは、
かかるサンプルホールドされた検出信号に応じたレベル
の電流を加算器８の他端に供給する。
ってサンプル・ホールドされた検出信号は、減算器１０
Ｌの負入力端に供給される。減算器１０Ｌの正入力端に
は所定の低レベルを有する基準信号Ｖｂが供給される。
かかる基準信号は、当該下側サーボにおける目標値、す
なわち一定とすべきレーザ１の発射光強度のボトム値に
対応するレベルが設定される。減算器１０Ｌによる検出
信号と基準信号との減算出力は、ループフィルタ５Ｌを
経てボトム用電流源６Ｌに供給される。電流源６Ｌは、
かかるサンプルホールドされた検出信号に応じたレベル
の電流を加算器８の他端に供給する。
【０００６】加算器８の加算出力は、駆動信号としてレ
ーザ１に供給される。上側及び下側サンプルホールド回
路４Ｈ及び４Ｌのサンプリングタイミングを定めるサン
プルパルスＳＰＨ，ＳＰＬは、サンプルパルス発生器９
より出力される。サンプルパルス発生器９は、記録すべ
き情報信号を担う書込原信号ＳＤＡＴＡに基づいて、当
該信号の各ラン（低レベル及び高レベル継続期間）に対
応するサンプルパルスＳＰＨ，ＳＰＬ、及びスイッチ回
路７の制御信号となる終段の書込信号、すなわち、実際
にレーザ１をしてオンオフ記録せしめるべき書込信号Ｗ
ＲＤＡＴＡを発生する。
ーザ１に供給される。上側及び下側サンプルホールド回
路４Ｈ及び４Ｌのサンプリングタイミングを定めるサン
プルパルスＳＰＨ，ＳＰＬは、サンプルパルス発生器９
より出力される。サンプルパルス発生器９は、記録すべ
き情報信号を担う書込原信号ＳＤＡＴＡに基づいて、当
該信号の各ラン（低レベル及び高レベル継続期間）に対
応するサンプルパルスＳＰＨ，ＳＰＬ、及びスイッチ回
路７の制御信号となる終段の書込信号、すなわち、実際
にレーザ１をしてオンオフ記録せしめるべき書込信号Ｗ
ＲＤＡＴＡを発生する。
【０００７】図２は、上記サンプリング発生回路９の構
成をより詳しく示したものであり、シリアル入力される
書込原信号（原書込パルス）ＳＤＡＴＡは、ディレイ回
路９１により遅延され、ＮＡＮＤゲート９２の一端に供
給されるとともに、ＮＡＮＤゲート９２の他端には、遅
延前の書込原信号ＳＤＡＴＡが直接供給される。ＮＡＮ
Ｄゲート９２の出力はインバータ９３を経て上側サンプ
ルホールド回路４Ｈの入力サンプルパルスＳＰＨとな
る。ディレイ回路９１により遅延された書込原信号はま
た、インバータ９４を介してＮＡＮＤゲート９６の一端
に供給されるとともに、ＮＡＮＤゲート９６の他端に
は、遅延前の書込原信号ＳＤＡＴＡが直接インバータ９
５を介して供給される。ＮＡＮＤゲート９６の出力はイ
ンバータ９７を経て下側サンプルホールド回路４Ｌの入
力サンプルパルスＳＰＬとなる。書込原信号ＳＤＡＴＡ
は、そのまま書込信号ＷＲＤＡＴＡとして出力される。
成をより詳しく示したものであり、シリアル入力される
書込原信号（原書込パルス）ＳＤＡＴＡは、ディレイ回
路９１により遅延され、ＮＡＮＤゲート９２の一端に供
給されるとともに、ＮＡＮＤゲート９２の他端には、遅
延前の書込原信号ＳＤＡＴＡが直接供給される。ＮＡＮ
Ｄゲート９２の出力はインバータ９３を経て上側サンプ
ルホールド回路４Ｈの入力サンプルパルスＳＰＨとな
る。ディレイ回路９１により遅延された書込原信号はま
た、インバータ９４を介してＮＡＮＤゲート９６の一端
に供給されるとともに、ＮＡＮＤゲート９６の他端に
は、遅延前の書込原信号ＳＤＡＴＡが直接インバータ９
５を介して供給される。ＮＡＮＤゲート９６の出力はイ
ンバータ９７を経て下側サンプルホールド回路４Ｌの入
力サンプルパルスＳＰＬとなる。書込原信号ＳＤＡＴＡ
は、そのまま書込信号ＷＲＤＡＴＡとして出力される。
【０００８】このような構成のビームパワーコントロー
ル装置の動作は、図３のタイムチャートに基づき説明さ
れる。書込原信号ＳＤＡＴＡは、図３（ａ）の如く、所
定の低及び高レベルで変化する矩形波状の信号であり、
これがディレイ回路９１において遅延し、所定の遅延幅
Ｄをもって図３（ｂ）の如くなる。これら遅延及び非遅
延の両信号が論理回路９２〜９７によって論理積をとら
れる、図３（ｃ），（ｄ）の如き上側サンプルパルスＳ
ＰＨと下側サンプルパルスＳＰＬとが得られる。いま、
センサアンプ３の出力検出信号が図３（ａ）の書込原信
号に応じて図３（ｅ）の如き波形にて得られたとする
と、上側サンプルパルスＳＰＨは、当該検出信号の高レ
ベル部を、下側サンプルパルスＳＰＬは、当該検出信号
の低レベル部を、サンプルしかつホールドするよう上側
及び下側サンプルホールド回路４Ｈ，４Ｌを動作させる
こととなる。
ル装置の動作は、図３のタイムチャートに基づき説明さ
れる。書込原信号ＳＤＡＴＡは、図３（ａ）の如く、所
定の低及び高レベルで変化する矩形波状の信号であり、
これがディレイ回路９１において遅延し、所定の遅延幅
Ｄをもって図３（ｂ）の如くなる。これら遅延及び非遅
延の両信号が論理回路９２〜９７によって論理積をとら
れる、図３（ｃ），（ｄ）の如き上側サンプルパルスＳ
ＰＨと下側サンプルパルスＳＰＬとが得られる。いま、
センサアンプ３の出力検出信号が図３（ａ）の書込原信
号に応じて図３（ｅ）の如き波形にて得られたとする
と、上側サンプルパルスＳＰＨは、当該検出信号の高レ
ベル部を、下側サンプルパルスＳＰＬは、当該検出信号
の低レベル部を、サンプルしかつホールドするよう上側
及び下側サンプルホールド回路４Ｈ，４Ｌを動作させる
こととなる。
【０００９】このようにサンプルホールドされた検出信
号は、減算器１０Ｈ，１０Ｌに供給されて基準信号との
差をとられた後、この差に応じた信号がループフィルタ
５Ｈ，５Ｌを介してライト用電流源６Ｈ及びボトム用電
流源６Ｌに供給されるので、当該各電流源においてレー
ザパワーが一定にさせるような駆動電流が発せられるこ
ととなる。すなわち、書込原信号ＳＤＡＴＡが高レベル
でスイッチ回路７がオンとなると、レーザ１，フォトダ
イオード２，アンプ３，上側サンプルホールド回路４
Ｈ，減算器１０Ｈ，ループフィルタ５Ｈ，ライト用電流
源６Ｈ，加算部８をサーボループとしかつ基準信号Ｖｐ
のレベルに対応するレーザ発射光強度を保つように、レ
ーザ１に駆動電流が供給される。また、書込原信号ＳＤ
ＡＴＡが低レベルでスイッチ回路７がオフとなると、レ
ーザ１，フォトダイオード２，アンプ３，下側サンプル
ホールド回路４Ｌ，減算器１０Ｌ，ループフィルタ５
Ｌ，ボトム用電流源６Ｌ，加算部８をサーボループとし
かつ基準信号Ｖｂのレベルに対応するレーザ発射光強度
を保つように、レーザ１に駆動電流が供給される。
号は、減算器１０Ｈ，１０Ｌに供給されて基準信号との
差をとられた後、この差に応じた信号がループフィルタ
５Ｈ，５Ｌを介してライト用電流源６Ｈ及びボトム用電
流源６Ｌに供給されるので、当該各電流源においてレー
ザパワーが一定にさせるような駆動電流が発せられるこ
ととなる。すなわち、書込原信号ＳＤＡＴＡが高レベル
でスイッチ回路７がオンとなると、レーザ１，フォトダ
イオード２，アンプ３，上側サンプルホールド回路４
Ｈ，減算器１０Ｈ，ループフィルタ５Ｈ，ライト用電流
源６Ｈ，加算部８をサーボループとしかつ基準信号Ｖｐ
のレベルに対応するレーザ発射光強度を保つように、レ
ーザ１に駆動電流が供給される。また、書込原信号ＳＤ
ＡＴＡが低レベルでスイッチ回路７がオフとなると、レ
ーザ１，フォトダイオード２，アンプ３，下側サンプル
ホールド回路４Ｌ，減算器１０Ｌ，ループフィルタ５
Ｌ，ボトム用電流源６Ｌ，加算部８をサーボループとし
かつ基準信号Ｖｂのレベルに対応するレーザ発射光強度
を保つように、レーザ１に駆動電流が供給される。
【００１０】このようなレーザビーム強度のフィードバ
ック制御においては、書込パルスのビットレート高速化
に伴い、サンプリング回路及び光パワー検出系（フォト
ダイオード２，センサアンプ３）の良好な応答性（高周
波数特性）が要求される。しかしながら、個々の回路や
素子における応答性の改善にも限界があり、全く別の手
法により書込パルスビットレートの飛躍的高速化を可能
とすることが期待されていた。
ック制御においては、書込パルスのビットレート高速化
に伴い、サンプリング回路及び光パワー検出系（フォト
ダイオード２，センサアンプ３）の良好な応答性（高周
波数特性）が要求される。しかしながら、個々の回路や
素子における応答性の改善にも限界があり、全く別の手
法により書込パルスビットレートの飛躍的高速化を可能
とすることが期待されていた。
【００１１】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、上述した点
に鑑みてなされたものであり、サンプリング回路や光パ
ワー検出系等個々の回路や素子における応答性の改善に
頼ることなく、書込パルスのビットレート高速化に対処
し得る光ディスク書込用ビームパワーコントロール装置
を提供することを目的とする。
に鑑みてなされたものであり、サンプリング回路や光パ
ワー検出系等個々の回路や素子における応答性の改善に
頼ることなく、書込パルスのビットレート高速化に対処
し得る光ディスク書込用ビームパワーコントロール装置
を提供することを目的とする。
【００１２】
【課題を解決するための手段】本発明による光ディスク
記録用ビームパワーコントロール装置は、記録ビームを
発射するビーム出力手段と、前記記録ビームの光強度を
検出して検出信号を出力する検出手段と、記録すべき情
報信号における低または／及び高レベル継続期間に対応
したサンプルパルスを発生するサンプルパルス発生手段
と、前記サンプルパルスに応答して前記検出信号をサン
プルホールドするサンプルホールド手段と、前記サンプ
ルホールド手段によりサンプルホールドされた前記検出
信号に基づき前記記録ビームの低または／及び高レベル
の光強度を一定に制御するフィードバック制御手段とを
有するビームパワーコントロール装置であって、前記サ
ンプルパルス発生手段は、前記情報信号における低また
は／及び高レベル継続期間の長さが所定時間よりも短い
ことを判別した場合に前記サンプルパルスの発生を停止
することを特徴としている。
記録用ビームパワーコントロール装置は、記録ビームを
発射するビーム出力手段と、前記記録ビームの光強度を
検出して検出信号を出力する検出手段と、記録すべき情
報信号における低または／及び高レベル継続期間に対応
したサンプルパルスを発生するサンプルパルス発生手段
と、前記サンプルパルスに応答して前記検出信号をサン
プルホールドするサンプルホールド手段と、前記サンプ
ルホールド手段によりサンプルホールドされた前記検出
信号に基づき前記記録ビームの低または／及び高レベル
の光強度を一定に制御するフィードバック制御手段とを
有するビームパワーコントロール装置であって、前記サ
ンプルパルス発生手段は、前記情報信号における低また
は／及び高レベル継続期間の長さが所定時間よりも短い
ことを判別した場合に前記サンプルパルスの発生を停止
することを特徴としている。
【００１３】
【作用】本発明の光ディスク記録用ビームパワーコント
ロール装置によれば、ビームパワーサーボループ内のサ
ンプルホールド回路に供給するサンプルパルスが、情報
信号における低または／及び高レベル継続期間の長さが
所定時間よりも短いことを判別した場合に断とされる。
ロール装置によれば、ビームパワーサーボループ内のサ
ンプルホールド回路に供給するサンプルパルスが、情報
信号における低または／及び高レベル継続期間の長さが
所定時間よりも短いことを判別した場合に断とされる。
【００１４】
【実施例】以下、本発明の実施例を図に基づいて詳細に
説明する。図４は、本発明による一実施例の光ディスク
書込用ビームパワーコントロール装置におけるサンプル
パルス発生器の構成を示すブロック図であり、図１と同
等な部分には同一の符号が付されている。また、本実施
例サンプルパルス発生器９Ａが用いられる光ディスク書
込用ビームパワーコントロール装置は、図１に示されて
いる他のブロックとともに構成されており、図１を援用
して、共通する部分を省略する。
説明する。図４は、本発明による一実施例の光ディスク
書込用ビームパワーコントロール装置におけるサンプル
パルス発生器の構成を示すブロック図であり、図１と同
等な部分には同一の符号が付されている。また、本実施
例サンプルパルス発生器９Ａが用いられる光ディスク書
込用ビームパワーコントロール装置は、図１に示されて
いる他のブロックとともに構成されており、図１を援用
して、共通する部分を省略する。
【００１５】図４において、サンプルパルス発生器９Ａ
は、縦続接続された複数のレジスタからなるシフトレジ
スタ９１０を有する。シフトレジスタ９１０は、ビット
クロックＢＣＫに基づいてシリアル入力された書込原信
号ＳＤＡＴＡをビット毎に当該各レジスタにおいて保持
しかつ順次シフトする。各レジスタの出力はデコーダ９
２０に送られる。デコーダ９２０は、当該レジスタ各々
の保持内容によって、出力書込信号ＷＲＤＡＴＡの上側
（高レベル部）及び下側（低レベル部）の各ランに対応
するサンプルタイミングを示す信号（サンプルタイミン
グ候補信号）を発するとともに、書込原信号ＳＤＡＴＡ
すなわち書込パルスのランが所定の幅よりも小さいか否
かを判別し、当該ランが所定の幅よりも小さい場合のみ
有意となる信号（ラン長検出信号）を発する。このラン
長検出信号がフリップフロップ９３０，９４０のセット
信号となり、デコーダ９２０はまた、これによりセット
された状態をクリアするためのリセット信号も発する。
は、縦続接続された複数のレジスタからなるシフトレジ
スタ９１０を有する。シフトレジスタ９１０は、ビット
クロックＢＣＫに基づいてシリアル入力された書込原信
号ＳＤＡＴＡをビット毎に当該各レジスタにおいて保持
しかつ順次シフトする。各レジスタの出力はデコーダ９
２０に送られる。デコーダ９２０は、当該レジスタ各々
の保持内容によって、出力書込信号ＷＲＤＡＴＡの上側
（高レベル部）及び下側（低レベル部）の各ランに対応
するサンプルタイミングを示す信号（サンプルタイミン
グ候補信号）を発するとともに、書込原信号ＳＤＡＴＡ
すなわち書込パルスのランが所定の幅よりも小さいか否
かを判別し、当該ランが所定の幅よりも小さい場合のみ
有意となる信号（ラン長検出信号）を発する。このラン
長検出信号がフリップフロップ９３０，９４０のセット
信号となり、デコーダ９２０はまた、これによりセット
された状態をクリアするためのリセット信号も発する。
【００１６】デコーダ９２０からのサンプルタイミング
候補信号は、ゲート回路９５０，９６０の一入力となる
とともに、フリップフロップ９３０，９４０の出力は、
当該候補信号の出力を禁止する信号としてそれぞれゲー
ト回路９５０，９６０の他入力となる。ゲート回路９５
０，９６０の出力信号は、上側及び下側サンプルホール
ド回路４Ｈ及び４Ｌに供給されるサンプルパルスＳＰ
Ｈ，ＳＰＬとなる。
候補信号は、ゲート回路９５０，９６０の一入力となる
とともに、フリップフロップ９３０，９４０の出力は、
当該候補信号の出力を禁止する信号としてそれぞれゲー
ト回路９５０，９６０の他入力となる。ゲート回路９５
０，９６０の出力信号は、上側及び下側サンプルホール
ド回路４Ｈ及び４Ｌに供給されるサンプルパルスＳＰ
Ｈ，ＳＰＬとなる。
【００１７】図５は、サンプルパルス発生器９Ａのさら
に詳細な構成を示すブロック図であり、図４と同等な部
分には同一の符号が付されている。図５において、シフ
トレジスタ９１０は、ビットクロックＢＣＫを共通のク
ロック入力とするとともに縦続して接続された６つのＤ
型フリップフロップ９１１〜９１６を有する。これらフ
リップフロップに保持されかつシフトされ、６段目フリ
ップフロップ９１６を経た信号が出力書込信号ＷＤＡＴ
Ａとなる。各フリップフロップの出力Ｑ１〜Ｑ６並びに
その反転出力は、デコーダ９２０に供給される。デコー
ダ９２０は、ＡＮＤ及びＯＲゲート９２１〜９２Ａから
なり、フリップフロップの保持出力Ｑ１〜Ｑ６をデコー
ドする。
に詳細な構成を示すブロック図であり、図４と同等な部
分には同一の符号が付されている。図５において、シフ
トレジスタ９１０は、ビットクロックＢＣＫを共通のク
ロック入力とするとともに縦続して接続された６つのＤ
型フリップフロップ９１１〜９１６を有する。これらフ
リップフロップに保持されかつシフトされ、６段目フリ
ップフロップ９１６を経た信号が出力書込信号ＷＤＡＴ
Ａとなる。各フリップフロップの出力Ｑ１〜Ｑ６並びに
その反転出力は、デコーダ９２０に供給される。デコー
ダ９２０は、ＡＮＤ及びＯＲゲート９２１〜９２Ａから
なり、フリップフロップの保持出力Ｑ１〜Ｑ６をデコー
ドする。
【００１８】ゲート９２１の出力ＤＴ３Ｈは、書込原信
号ＳＤＡＴＡがビットクロックＢＣＫの３周期分に相当
する短い期間高レベルのランを有して入力されたときに
高レベルとなり、ゲート９２２の出力ＤＴ４Ｈは、書込
原信号ＳＤＡＴＡがビットクロックＢＣＫの４周期分に
相当する短い期間高レベルのランを有して入力されたと
きに高レベルとなる。また、ゲート９２３の出力ＤＴ３
Ｌは、書込原信号ＳＤＡＴＡがビットクロックＢＣＫの
３周期分に相当する短い期間低レベルのランを有して入
力されたときに高レベルとなり、ゲート９２４の出力Ｄ
Ｔ４Ｌは、書込原信号ＳＤＡＴＡがビットクロックＢＣ
Ｋの４周期分に相当する短い期間低レベルのランを有し
て入力されたときに高レベルとなる。従って、ゲート９
２９の出力ＳＥＴＨは、書込原信号ＳＤＡＴＡの高レベ
ル継続期間が所定時間よりも短い場合に高レベルとな
り、ゲート９２Ａの出力ＳＥＴＬは、書込原信号ＳＤＡ
ＴＡの低レベル継続期間が所定時間よりも短い場合に高
レベルとなり、それぞれが、上述の如きラン長検出信号
を担う。
号ＳＤＡＴＡがビットクロックＢＣＫの３周期分に相当
する短い期間高レベルのランを有して入力されたときに
高レベルとなり、ゲート９２２の出力ＤＴ４Ｈは、書込
原信号ＳＤＡＴＡがビットクロックＢＣＫの４周期分に
相当する短い期間高レベルのランを有して入力されたと
きに高レベルとなる。また、ゲート９２３の出力ＤＴ３
Ｌは、書込原信号ＳＤＡＴＡがビットクロックＢＣＫの
３周期分に相当する短い期間低レベルのランを有して入
力されたときに高レベルとなり、ゲート９２４の出力Ｄ
Ｔ４Ｌは、書込原信号ＳＤＡＴＡがビットクロックＢＣ
Ｋの４周期分に相当する短い期間低レベルのランを有し
て入力されたときに高レベルとなる。従って、ゲート９
２９の出力ＳＥＴＨは、書込原信号ＳＤＡＴＡの高レベ
ル継続期間が所定時間よりも短い場合に高レベルとな
り、ゲート９２Ａの出力ＳＥＴＬは、書込原信号ＳＤＡ
ＴＡの低レベル継続期間が所定時間よりも短い場合に高
レベルとなり、それぞれが、上述の如きラン長検出信号
を担う。
【００１９】かかるラン長検出信号ＳＥＴＨ，ＳＥＴＬ
の高レベルにより、フリップフロップ９３０，９４０が
セットされるとともに、ゲート９２５，９２６の出力Ｒ
ＥＳＨ，ＲＥＳＬの高レベルによって適当な期間をおい
てそのセット状態がクリアされる。これにより各フリッ
プフロップは、そのセット期間中に高レベルの禁止信号
ＦＦＨ，ＦＦＬを出力する。
の高レベルにより、フリップフロップ９３０，９４０が
セットされるとともに、ゲート９２５，９２６の出力Ｒ
ＥＳＨ，ＲＥＳＬの高レベルによって適当な期間をおい
てそのセット状態がクリアされる。これにより各フリッ
プフロップは、そのセット期間中に高レベルの禁止信号
ＦＦＨ，ＦＦＬを出力する。
【００２０】ゲート９２７，９２８の出力ＰＳＰＨ，Ｐ
ＳＰＬは、上側及び下側サンプルホールド回路４Ｈ，４
Ｌに供給すべきサンプルパルスの候補信号としてゲート
９５２，９６２の入力となる。従ってゲート９５２，９
６２においては、禁止信号ＦＦＨ，ＦＦＬのインバータ
９５１，９６１通過出力の入力によって、当該禁止信号
の高レベル期間を除きサンプルパルス候補信号ＰＳＰ
Ｈ，ＰＳＰＬを通過せしめる。すなわち、禁止信号ＦＦ
Ｈ，ＦＦＬが高レベルのとき、サンプルパルス候補信号
ＰＳＰＨ，ＰＳＰＬの出力が遮断され、ゲート９５２，
９６２を通過したサンプルパルス候補信号のみが各サン
プルホールド回路の入力サンプルパルスＳＰＨ，ＳＰＬ
となる。
ＳＰＬは、上側及び下側サンプルホールド回路４Ｈ，４
Ｌに供給すべきサンプルパルスの候補信号としてゲート
９５２，９６２の入力となる。従ってゲート９５２，９
６２においては、禁止信号ＦＦＨ，ＦＦＬのインバータ
９５１，９６１通過出力の入力によって、当該禁止信号
の高レベル期間を除きサンプルパルス候補信号ＰＳＰ
Ｈ，ＰＳＰＬを通過せしめる。すなわち、禁止信号ＦＦ
Ｈ，ＦＦＬが高レベルのとき、サンプルパルス候補信号
ＰＳＰＨ，ＰＳＰＬの出力が遮断され、ゲート９５２，
９６２を通過したサンプルパルス候補信号のみが各サン
プルホールド回路の入力サンプルパルスＳＰＨ，ＳＰＬ
となる。
【００２１】図４及び図５の構成の動作は、図６のタイ
ムチャートによっても表される。図６中（ａ）〜（ｕ）
の各々に表記される信号名は、図４及び図５に示したも
のと同じである。図６（ｈ）は、出力書込信号ＷＲＤＡ
ＴＡを示しており、ここに描かれた破線は、光パワー検
出系（フォトダイオード２，センサアンプ３）により得
られる波形を概略的に示している。
ムチャートによっても表される。図６中（ａ）〜（ｕ）
の各々に表記される信号名は、図４及び図５に示したも
のと同じである。図６（ｈ）は、出力書込信号ＷＲＤＡ
ＴＡを示しており、ここに描かれた破線は、光パワー検
出系（フォトダイオード２，センサアンプ３）により得
られる波形を概略的に示している。
【００２２】かかるタイムチャートからも分かるよう
に、禁止信号ＦＦＨ及びＦＦＬの高レベル部によって、
サンプルホールド回路に供給されるサンプリングパルス
ＳＰＨ，ＳＰＬは、出力書込信号ＷＲＤＡＴＡのランが
所定幅より短い場合（ビットクロックＢＣＫの３周期分
及び４周期分，「３Ｔ」「４Ｔ」にて示される）、パル
ス出力されず（パルス出力した場合の波形が図６
（ｔ），（ｕ）に破線で示されている）、サンプルホー
ルド回路４Ｈ，４Ｌへのサンプルパルスの供給が停止さ
れる。つまり当該ランが所定幅より長い場合にのみサン
プリングパルスＳＰＨ，ＳＰＬは、パルス出力される。
に、禁止信号ＦＦＨ及びＦＦＬの高レベル部によって、
サンプルホールド回路に供給されるサンプリングパルス
ＳＰＨ，ＳＰＬは、出力書込信号ＷＲＤＡＴＡのランが
所定幅より短い場合（ビットクロックＢＣＫの３周期分
及び４周期分，「３Ｔ」「４Ｔ」にて示される）、パル
ス出力されず（パルス出力した場合の波形が図６
（ｔ），（ｕ）に破線で示されている）、サンプルホー
ルド回路４Ｈ，４Ｌへのサンプルパルスの供給が停止さ
れる。つまり当該ランが所定幅より長い場合にのみサン
プリングパルスＳＰＨ，ＳＰＬは、パルス出力される。
【００２３】これにより、サンプルホールド回路４Ｈ，
４Ｌは、書込パルスすなわち書込信号のランが所定期間
より長い場合のみ検出信号をサンプルホールドし、ラン
が所定期間より短い場合のサンプルホールド動作を省略
することができる。かかるサンプルホールド動作の省略
により、当該サンプルホールド回路及び光パワー検出系
における回路構成及び回路部品自体が短いランに対して
の高周波特性につき不足している場合でも、書込信号の
ボトムパワー（低レベル）またはライトパワー（高レベ
ル）あるいはその両者を正確にサンプルすることができ
る。
４Ｌは、書込パルスすなわち書込信号のランが所定期間
より長い場合のみ検出信号をサンプルホールドし、ラン
が所定期間より短い場合のサンプルホールド動作を省略
することができる。かかるサンプルホールド動作の省略
により、当該サンプルホールド回路及び光パワー検出系
における回路構成及び回路部品自体が短いランに対して
の高周波特性につき不足している場合でも、書込信号の
ボトムパワー（低レベル）またはライトパワー（高レベ
ル）あるいはその両者を正確にサンプルすることができ
る。
【００２４】このように、本実施例においては、サンプ
ルするのに不十分な短いランの書込パルスについては、
その書込信号による光検出信号を無視し、当該ビームパ
ワーコントロール（サーボ）系において有効な長いラン
の書込パルスについてのみその書込信号による光検出信
号をサンプルする構成としたので、書込パルスの全ての
ランに対してサンプルするようにしていた従来例に比
べ、書込信号のビットレートを高速化することができ
る。
ルするのに不十分な短いランの書込パルスについては、
その書込信号による光検出信号を無視し、当該ビームパ
ワーコントロール（サーボ）系において有効な長いラン
の書込パルスについてのみその書込信号による光検出信
号をサンプルする構成としたので、書込パルスの全ての
ランに対してサンプルするようにしていた従来例に比
べ、書込信号のビットレートを高速化することができ
る。
【００２５】なお、図６において、書込信号ＷＲＤＡＴ
Ａの立ち下がりエッジから当該立ち下がりエッジを有す
る書込パルスに対応するサンプルパルスＳＰＬの立ち上
がりエッジまでの時間、及び書込信号ＷＲＤＡＴＡの立
ち下がりエッジから当該立ち下がりエッジを有する書込
パルスに対応するサンプルパルスＳＰＬの立ち上がりエ
ッジまでの時間は、図２の従来例におけるディレイ回路
９１の遅延量に相当し、本実施例におけるサンプルパル
ス発生器ではディレイ回路９１の代わりにシフトレジス
タ９１０が用いられている。
Ａの立ち下がりエッジから当該立ち下がりエッジを有す
る書込パルスに対応するサンプルパルスＳＰＬの立ち上
がりエッジまでの時間、及び書込信号ＷＲＤＡＴＡの立
ち下がりエッジから当該立ち下がりエッジを有する書込
パルスに対応するサンプルパルスＳＰＬの立ち上がりエ
ッジまでの時間は、図２の従来例におけるディレイ回路
９１の遅延量に相当し、本実施例におけるサンプルパル
ス発生器ではディレイ回路９１の代わりにシフトレジス
タ９１０が用いられている。
【００２６】他方、図４及び図５の如きサンプルパルス
発生器９Ａは、図７に示されるように、トラッキングサ
ーボやフォーカスサーボに適用可能である。図７は、光
ディスク記録装置に用いられるトラッキング及びフォー
カスサーボの機能ブロック図であり、図４及び図５と同
等の部分には同一の符号が付されている。
発生器９Ａは、図７に示されるように、トラッキングサ
ーボやフォーカスサーボに適用可能である。図７は、光
ディスク記録装置に用いられるトラッキング及びフォー
カスサーボの機能ブロック図であり、図４及び図５と同
等の部分には同一の符号が付されている。
【００２７】図７において、周知の如きトラッキング用
受光素子１２Ｔ（またはフォーカス用受光素子１２Ｆ）
の受光出力はトラッキングエラー信号生成回路１３Ｔ
（またはフォーカスエラー信号生成回路１３Ｆ）に供給
され、トラッキングエラー信号（またはフォーカスエラ
ー信号）が生成される。生成されたエラー信号は、サン
プルホールド回路１４に供給される。サンプルホールド
回路１４のサンプルホールド出力は、イコライザ１５及
び駆動アンプ１６を介しトラッキングアクチュエータ１
７Ｔ（またはフォーカスアクチュエータ１７Ｆ）に供給
される。
受光素子１２Ｔ（またはフォーカス用受光素子１２Ｆ）
の受光出力はトラッキングエラー信号生成回路１３Ｔ
（またはフォーカスエラー信号生成回路１３Ｆ）に供給
され、トラッキングエラー信号（またはフォーカスエラ
ー信号）が生成される。生成されたエラー信号は、サン
プルホールド回路１４に供給される。サンプルホールド
回路１４のサンプルホールド出力は、イコライザ１５及
び駆動アンプ１６を介しトラッキングアクチュエータ１
７Ｔ（またはフォーカスアクチュエータ１７Ｆ）に供給
される。
【００２８】サンプルホールド回路１４に供給されるサ
ンプルパルスは、サンプルパルス発生器９Ａ´より発せ
られる。サンプルパルス発生器９Ａ´は、先の実施例に
おけるサンプルパルス発生器９Ａと同様の構成であり、
当該発生器９Ａによって得られるサンプルパルスＳＰＨ
及びＳＰＬのどちらか一方を出力する構成としており、
生成回路１３Ｔからのエラー信号が書込信号の各ランに
対応しかつ当該ランが所定の幅よりも長い場合のみサン
プルされる。
ンプルパルスは、サンプルパルス発生器９Ａ´より発せ
られる。サンプルパルス発生器９Ａ´は、先の実施例に
おけるサンプルパルス発生器９Ａと同様の構成であり、
当該発生器９Ａによって得られるサンプルパルスＳＰＨ
及びＳＰＬのどちらか一方を出力する構成としており、
生成回路１３Ｔからのエラー信号が書込信号の各ランに
対応しかつ当該ランが所定の幅よりも長い場合のみサン
プルされる。
【００２９】これにより、先のビームパワーコントロー
ル装置と同様、書込信号のランが短いときはサンプルホ
ールド回路１４のサンプルホールド動作を禁止しかつ受
光系１２Ｔ，１２Ｆの出力を無視するとともに、ランが
長いときのみサーボが有効となるので、ビームパワーサ
ーボのみならずトラッキング及びフォーカスサーボにつ
いての問題も克服して書込信号のビットレートを高速化
することができる。
ル装置と同様、書込信号のランが短いときはサンプルホ
ールド回路１４のサンプルホールド動作を禁止しかつ受
光系１２Ｔ，１２Ｆの出力を無視するとともに、ランが
長いときのみサーボが有効となるので、ビームパワーサ
ーボのみならずトラッキング及びフォーカスサーボにつ
いての問題も克服して書込信号のビットレートを高速化
することができる。
【００３０】
【発明の効果】以上詳述したように、本発明の光ディス
ク記録用ビームパワーコントロール装置は、ビームパワ
ーサーボループ内のサンプルホールド回路に供給するサ
ンプルパルスが、情報信号における低または／及び高レ
ベル継続期間の長さが所定時間よりも短いことを判別し
た場合に断とされるので、サンプリング回路や光パワー
検出系等個々の回路や素子における応答性の改善に頼る
ことなく、記録すべき情報信号である書込パルスのビッ
トレート高速化を図ることができる。
ク記録用ビームパワーコントロール装置は、ビームパワ
ーサーボループ内のサンプルホールド回路に供給するサ
ンプルパルスが、情報信号における低または／及び高レ
ベル継続期間の長さが所定時間よりも短いことを判別し
た場合に断とされるので、サンプリング回路や光パワー
検出系等個々の回路や素子における応答性の改善に頼る
ことなく、記録すべき情報信号である書込パルスのビッ
トレート高速化を図ることができる。
【図１】従来例及び本発明による実施例の光ディスク書
込用ビームパワーコントロール装置の機能ブロック図。
込用ビームパワーコントロール装置の機能ブロック図。
【図２】図１における従来例のサンプルパルス発生器９
の構成を示すブロック図。
の構成を示すブロック図。
【図３】図１及び図２における従来例の光ディスク書込
用ビームパワーコントロール装置の各部動作波形による
タイムチャート。
用ビームパワーコントロール装置の各部動作波形による
タイムチャート。
【図４】図１における本発明による実施例のサンプルパ
ルス発生器９Ａの構成を示すブロック図。
ルス発生器９Ａの構成を示すブロック図。
【図５】図４のサンプルパルス発生器９Ａの具体的構成
を示す回路図。
を示す回路図。
【図６】図４及び図５のサンプルパルス発生器９Ａの各
部動作波形によるタイムチャート。
部動作波形によるタイムチャート。
【図７】本発明サンプルパルス発生器を用いたトラッキ
ングサーボ及びフォーカスサーボループの機能ブロック
図。
ングサーボ及びフォーカスサーボループの機能ブロック
図。
１ 半導体レーザ ２ フォトダイオード ３ センサアンプ ４Ｈ 上側サンプルホールド回路 ４Ｌ 下側サンプルホールド回路 ５Ｈ，５Ｌ ループフィルタ ６Ｈ ライト用電流源 ６Ｌ ボトム用電流源 ７ スイッチ回路 ８ 加算部 ９Ａ，９Ａ´ サンプルパルス発生器 ９１０ シフトレジスタ ９１１〜９１６ Ｄ型フリップフロップ ９２０ デコーダ ９２１〜９２８ ＡＮＤゲート ９２９，９２Ａ ＯＲゲート ９３０，９４０ フリップフロップ ９５０，９６０ ゲート回路 ９５１，９６１ インバータ ９５２，９６２ ＡＮＤゲート １０Ｈ，１０Ｌ 減算器 １２Ｔ トラッキング用受光素子 １２Ｆ フォーカス用受光素子 １３Ｔ，１３Ｆ エラー信号生成回路 １４ サンプルホールド回路 １５ イコライザ １６ 駆動アンプ １７Ｔ トラッキングアクチュエータ １７Ｆ フォーカスアクチュエータ
Claims (2)
- 【請求項１】 記録ビームを発射するビーム出力手段
と、前記記録ビームの光強度を検出して検出信号を出力
する検出手段と、記録すべき情報信号における低または
／及び高レベル継続期間に対応したサンプルパルスを発
生するサンプルパルス発生手段と、前記サンプルパルス
に応答して前記検出信号をサンプルホールドするサンプ
ルホールド手段と、前記サンプルホールド手段によりサ
ンプルホールドされた前記検出信号に基づき前記記録ビ
ームの低または／及び高レベルの光強度を一定に制御す
るフィードバック制御手段とを有するビームパワーコン
トロール装置であって、 前記サンプルパルス発生手段は、前記情報信号における
低または／及び高レベル継続期間の長さが所定時間より
も短いことを判別した場合に前記サンプルパルスの発生
を停止することを特徴とする光ディスク記録用ビームパ
ワーコントロール装置。 - 【請求項２】 前記ビーム出力手段は、前記情報信号に
応じてオンオフ駆動されることを特徴とする請求項１記
載の光ディスク記録用ビームパワーコントロール装置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13746194A JP3328429B2 (ja) | 1994-06-20 | 1994-06-20 | 光ディスク記録用ビームパワーコントロール装置 |
| US08/490,178 US5636197A (en) | 1994-06-20 | 1995-06-15 | Feedback servo for beam power control, tracking control and focus control in an optical disk recording system |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13746194A JP3328429B2 (ja) | 1994-06-20 | 1994-06-20 | 光ディスク記録用ビームパワーコントロール装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH087320A true JPH087320A (ja) | 1996-01-12 |
| JP3328429B2 JP3328429B2 (ja) | 2002-09-24 |
Family
ID=15199153
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13746194A Expired - Lifetime JP3328429B2 (ja) | 1994-06-20 | 1994-06-20 | 光ディスク記録用ビームパワーコントロール装置 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5636197A (ja) |
| JP (1) | JP3328429B2 (ja) |
Families Citing this family (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6043909A (en) * | 1996-02-26 | 2000-03-28 | Imagicolor Corporation | System for distributing and controlling color reproduction at multiple sites |
| US5781420A (en) * | 1996-07-18 | 1998-07-14 | International Power Devices, Inc. | Single ended forward DC-to-DC converter providing enhanced resetting for synchronous rectification |
| JP3503513B2 (ja) * | 1999-02-22 | 2004-03-08 | ヤマハ株式会社 | 光ディスク記録方法及び装置 |
| TW491996B (en) * | 1999-11-04 | 2002-06-21 | Koninkl Philips Electronics Nv | Device for reading and/or writing information from/onto an optical information carrier |
| KR100350983B1 (ko) * | 2000-02-03 | 2002-08-28 | 삼성전자 주식회사 | 레이저 다이오드 드라이버, 이에 적합한 광기록/재생기기의 초기화 방법, 그리고 레이저 다이오드 드라이버의구동 방법 |
| US6744031B1 (en) | 2001-11-27 | 2004-06-01 | Ricoh Company, Ltd. | High speed sampling circuit |
| JP3830754B2 (ja) * | 2000-11-29 | 2006-10-11 | 株式会社リコー | 情報記録装置 |
| JP3830755B2 (ja) * | 2000-11-30 | 2006-10-11 | 株式会社リコー | 光量制御装置と情報記録装置 |
| TW200539165A (en) * | 2004-05-27 | 2005-12-01 | Mediatek Inc | A real time adjusting the servo gain method according to reflecting light quantity of writing light beam and the device thereof |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4879707A (en) * | 1985-07-30 | 1989-11-07 | Laser Magnetic Storage International Company | Optical disk tracking and seeking systems specific track formats using discontinuities |
| US5361244A (en) * | 1991-04-10 | 1994-11-01 | Hitachi, Ltd. | Optical head and information recording apparatus |
| JP3477770B2 (ja) * | 1992-12-16 | 2003-12-10 | 松下電器産業株式会社 | レーザパワー制御装置及び制御方法 |
-
1994
- 1994-06-20 JP JP13746194A patent/JP3328429B2/ja not_active Expired - Lifetime
-
1995
- 1995-06-15 US US08/490,178 patent/US5636197A/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3328429B2 (ja) | 2002-09-24 |
| US5636197A (en) | 1997-06-03 |
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