JPH0870087A - Lead frame - Google Patents

Lead frame

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JPH0870087A
JPH0870087A JP22576294A JP22576294A JPH0870087A JP H0870087 A JPH0870087 A JP H0870087A JP 22576294 A JP22576294 A JP 22576294A JP 22576294 A JP22576294 A JP 22576294A JP H0870087 A JPH0870087 A JP H0870087A
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JP
Japan
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tab
lead frame
semiconductor chip
lead
leads
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Application number
JP22576294A
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Japanese (ja)
Inventor
Kazutomo Takahashi
一智 高橋
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Ricoh Co Ltd
Original Assignee
Ricoh Co Ltd
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Publication date
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Publication of JPH0870087A publication Critical patent/JPH0870087A/en
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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/0001Technical content checked by a classifier
    • H01L2924/0002Not covered by any one of groups H01L24/00, H01L24/00 and H01L2224/00

Abstract

PURPOSE: To restrain failure generation of a plastic molded semiconductor device, by preventing a lead frame from warping at the time of resin molding. CONSTITUTION: A tab 20 whose plane form is square is arranged in the central part, and tip parts of inner leads 22 are arranged on the periphery of the tab 20. Tab leads 26 stretching outward in the directions of the diagonal lines of the tab are formed in the four corners of the tab 20. Holes 28 penetrating the tab in the plane thickness direction are formed in the four corners of the tab 20. The hole 28 is formed so as to be bent outward along the two sides of each corner. Holes 30 penetrating the tab in the plate thickness direction are formed. The form of the hole 30 constitutes a rectangle stretching along the side of the tab 20. Two holes 30 are arranged along each side between the holes 28.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は半導体チップをワイヤボ
ンディング法により接続し、モールド樹脂により封止す
るための樹脂封止型リードフレームに関するものであ
る。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a resin-sealed lead frame for connecting semiconductor chips by a wire bonding method and sealing with a molding resin.

【0002】[0002]

【従来の技術】樹脂封止型リードフレームは、一般に中
央部にタブ、その周囲に複数本のリードが配置された形
状を有し、タブ上に半導体チップが固着され、その半導
体チップのパッドとリードの間がワイヤにより電気的に
接続された後、リードの一部、半導体チップ及びタブが
モールド樹脂により封止されるように使用される。リー
ドフレームの高集積化にともなって半導体チップの消費
電力が増大する傾向にあり、またチップサイズも大型化
する傾向にある。そのため、リードフレームの材質とし
ては鉄系材質よりもより熱放散特性の優れた銅系材質へ
の移行が進められている。銅系材質は鉄系材質に比べて
熱伝導度が約10倍優れている反面、熱膨張係数が約4
倍大きいという特性をもっている。
2. Description of the Related Art Generally, a resin-sealed lead frame has a shape in which a tab is provided in the center and a plurality of leads are arranged around the tab. A semiconductor chip is fixed on the tab, and a pad of the semiconductor chip After the leads are electrically connected by wires, a part of the leads, the semiconductor chip and the tab are used so as to be sealed with a molding resin. As the lead frame is highly integrated, the power consumption of the semiconductor chip tends to increase, and the chip size tends to increase. Therefore, as a material of the lead frame, a transition to a copper-based material, which has a better heat dissipation characteristic than an iron-based material, is being promoted. Copper-based materials have about 10 times better thermal conductivity than iron-based materials, but have a thermal expansion coefficient of about 4
It has the characteristic of being twice as large.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】リードフレームのタブ
に半導体チップを固着し、半導体チップの電極パッドと
リードフレームのインナーリードの間を金ワイヤにより
電気的に接続し、その後モールド樹脂により半導体チッ
プ、タブ及びインナーリード部分を封止する。樹脂封止
工程は、半導体チップを実装したリードフレームをモー
ルド金型内にいれ、金型内にモールド樹脂を注入して行
なう。
A semiconductor chip is fixed to a tab of a lead frame, an electrode pad of the semiconductor chip and an inner lead of the lead frame are electrically connected by a gold wire, and then a semiconductor chip is molded by a mold resin. The tab and the inner lead portion are sealed. The resin sealing step is performed by inserting a lead frame having a semiconductor chip mounted therein into a molding die and injecting a molding resin into the die.

【0004】図1は樹脂封止工程を概略的に示したもの
である。(A)のように、半導体チップ4を実装したリ
ードフレーム6をモールド金型の下型2上に置く。この
ときリードフレーム6の枠部分6aが金型2と接触し、
チップ4が固着されているタブ部分6bは金型の空間部
に位置する。モールド金型は約180℃に加熱されてい
るため、枠部分6aが金型2により加熱されて温度が上
昇し、リードフレーム内でタブ部分6bと枠部分6aと
で温度差が生じ、リードフレーム6に反りが発生する。
FIG. 1 schematically shows the resin sealing process. As shown in (A), the lead frame 6 on which the semiconductor chip 4 is mounted is placed on the lower mold 2 of the molding die. At this time, the frame portion 6a of the lead frame 6 comes into contact with the mold 2,
The tab portion 6b to which the chip 4 is fixed is located in the space of the mold. Since the mold die is heated to about 180 ° C., the frame portion 6a is heated by the die 2 and its temperature rises, and a temperature difference occurs between the tab portion 6b and the frame portion 6a in the lead frame, and the lead frame 6 warps.

【0005】その後、(B)のようにモールド金型の上
型8を下型2に被せるようにリードフレーム6上から押
しつけて金型を締めつけると、リードフレーム6内の温
度分布による反りにより、タブ部分6bが(A)とは逆
方向に反るようになる。その状態で、(C)のように金
型2,8の空間にモールド樹脂10を注入すると、タブ
部分6bの浮き沈みの発生したリードフレームによりモ
ールド樹脂10の流動バランスが崩れ、タブ部分6bの
浮き沈みが更に大きくなる。特に、モールド樹脂層の厚
さの薄いパッケージの場合にはパッケージ表面から半導
体チップが露出したり、パッケージの裏面側にタブ裏面
が露出するなどの不良が発生する問題がある。特に、こ
のような問題はリードフレームの材質として熱膨張係数
の大きい銅系材質を用いた場合に起こりやすい。
Thereafter, as shown in (B), when the upper die 8 of the molding die is pressed from above the lead frame 6 so as to cover the lower die 2, and the die is tightened, warping due to the temperature distribution in the lead frame 6 causes The tab portion 6b is warped in the direction opposite to (A). In that state, when the mold resin 10 is injected into the spaces of the molds 2 and 8 as in (C), the flow balance of the mold resin 10 is disturbed by the lead frame in which the tab portion 6b is raised or lowered, and the tab portion 6b is raised or lowered. Will be even larger. In particular, in the case of a package having a thin mold resin layer, there is a problem that a semiconductor chip is exposed from the package surface or a tab back surface is exposed on the back surface side of the package. In particular, such a problem tends to occur when a copper-based material having a large thermal expansion coefficient is used as the material of the lead frame.

【0006】本発明はリードフレームに搭載した半導体
チップを樹脂封止する際に、リードフレームの反りを防
いで、樹脂封止された半導体装置の不良発生を抑えるこ
とを目的とするものである。
It is an object of the present invention to prevent the lead frame from warping when a semiconductor chip mounted on a lead frame is resin-sealed, and to suppress the occurrence of defects in the resin-sealed semiconductor device.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】本発明のリードフレーム
はその材質が銅系であり、タブが矩形でその四隅には各
隅の2辺に沿って外方向に直角に折れ曲がった形状で、
タブの板厚方向に貫通した穴があけられている。さら
に、タブの各辺に沿って隅の穴と穴の間に辺に平行に延
びる穴が1つ以上ずつあけられているのが好ましい。他
の態様では、タブには外方向に延びる複数個のタブリー
ドが設けられており、かつそのタブリードとタブとの接
続部分が外側に広がり内側に穴を形成するように二股に
分岐している。
The lead frame of the present invention is made of a copper material, has tabs of rectangular shape, and has four corners bent outwardly at right angles along two sides of each corner.
A hole is formed through the tab in the plate thickness direction. Further, it is preferable that one or more holes are formed along each side of the tab and between the holes at the corners and parallel to the side. In another aspect, the tab is provided with a plurality of outwardly extending tab leads, and a connecting portion between the tab lead and the tab is bifurcated so as to expand outward and form a hole inside.

【0008】さらに他の態様では、タブは十字形に交差
する溝によって4つの部分に分割され、分割された各部
分には外方向に延びるタブリードが設けられている。そ
の分割された4つの部分の間が屈曲した形状の連結部で
連結されていることが好ましい。銅系のリードフレーム
材質としては種々のものが市販されている。例えば、T
CZ(株式会社東芝の製品)、KLF−125(株式会
社神戸製鋼所の製品)、MF202(三菱電気株式会社
の製品)、EFTEC64T(古河電気工業株式会社の
製品)、CDA7025(ヤマハOLIN株式会社の製
品)、TAMAC15(三菱伸銅株式会社の製品)など
が挙げられる。これらはいずれも銅を主成分とし、それ
にTi、Cr、Zr、Sn、Ni、P、Mgなどを含有
させた合金である。
In still another aspect, the tab is divided into four parts by cross-shaped grooves, and each divided part is provided with a tab lead extending outward. It is preferable that the divided four portions are connected by a connecting portion having a bent shape. Various copper-based lead frame materials are commercially available. For example, T
CZ (product of Toshiba Corporation), KLF-125 (product of Kobe Steel, Ltd.), MF202 (product of Mitsubishi Electric Corporation), EFTEC64T (product of Furukawa Electric Co., Ltd.), CDA7025 (product of Yamaha OLIN Corporation) Products), TAMAC15 (product of Mitsubishi Shindoh Co., Ltd.) and the like. All of these are alloys containing copper as a main component and containing Ti, Cr, Zr, Sn, Ni, P, Mg and the like.

【0009】[0009]

【実施例】図2(A)は請求項1に対応した実施例の1
つの半導体チップに関する部分を示したものである。中
央には平面形状が正方形のタブ20が配置され、その周
囲にインナーリード22の先端部が配置されている。タ
ブ20の四隅にはタブの対角線方向の外方向に延びるタ
ブリード26が設けられており、インナーリード22と
タブリード26はダム24により一体的に連結されてい
る。
Embodiment 1 FIG. 2A shows an embodiment 1 corresponding to claim 1.
It shows a portion related to two semiconductor chips. A tab 20 having a square planar shape is arranged in the center, and the tip portions of the inner leads 22 are arranged around the tab 20. Tab leads 26 are provided at four corners of the tab 20 and extend outward in a diagonal direction of the tab. The inner leads 22 and the tab leads 26 are integrally connected by dams 24.

【0010】タブ20の四隅には板厚方向に貫通した穴
28があけられており、その穴28は各隅の2辺に沿っ
て外方向に折れ曲がった形状に形成されている。この穴
28があけられていることにより、図1に示されるよう
にリードフレームをモールド金型内に装着したとき、リ
ードフレーム内での温度不均一に基づくタブ20及びタ
ブリード26の不均一な熱膨張をその穴28が吸収し、
型内にモールド樹脂を注入するモールド時のタブの浮き
や沈みを抑える。
Holes 28 penetrating in the plate thickness direction are formed at four corners of the tab 20, and the holes 28 are formed in a shape bent outward along two sides of each corner. Due to the holes 28, when the lead frame is mounted in the molding die as shown in FIG. 1, the uneven heat of the tab 20 and the tab lead 26 due to the uneven temperature in the lead frame is caused. The hole 28 absorbs the expansion,
Prevents tabs from floating and sinking when molding resin is injected into the mold.

【0011】このリードフレームを用いて半導体チップ
4を実装するときは、半導体チップ4がタブ20の中央
部にダイボンディングされ、半導体チップ4の電極パッ
ドとインナーリード22との間が金ワイヤで接続され
る。その後、半導体チップを搭載したリードフレームが
モールド金型に入れられ、金型内にモールド樹脂が注入
されることによってリード22の一部、半導体チップ4
及びタブ20がモールド樹脂で封止される。その後リー
ド22及びタブリード26がそれぞれ独立するように切
り離される。
When the semiconductor chip 4 is mounted using this lead frame, the semiconductor chip 4 is die-bonded to the central portion of the tab 20 and the electrode pad of the semiconductor chip 4 and the inner lead 22 are connected by a gold wire. To be done. After that, the lead frame on which the semiconductor chip is mounted is put into a molding die, and a molding resin is injected into the die, whereby a part of the lead 22 and the semiconductor chip 4 are inserted.
Also, the tab 20 is sealed with the mold resin. After that, the lead 22 and the tab lead 26 are separated so as to be independent from each other.

【0012】図2(B)は請求項2に対応した実施例を
表わしたものである。図2(A)の実施例と比較する
と、タブ20において、さらに板厚方向に貫通した穴3
0があけられており、その穴30の形状はタブ20の辺
に沿った方向に延びる矩形であり、各辺に沿って穴28
と28の間に2個ずつ配置されている。タブ周辺部の穴
を(B)のように増やすことにより、モールド時のタブ
20及びタブリード26の不均一な熱膨張をより有効に
吸収することができるようになる。
FIG. 2 (B) shows an embodiment corresponding to claim 2. As compared with the embodiment of FIG. 2A, in the tab 20, the hole 3 further penetrating in the plate thickness direction.
0, the shape of the hole 30 is a rectangle extending in the direction along the side of the tab 20, and the hole 28 is formed along each side.
And 28 are arranged between the two. By increasing the holes around the tab as shown in (B), it becomes possible to more effectively absorb the uneven thermal expansion of the tab 20 and the tab lead 26 during molding.

【0013】図3は請求項3に対応した実施例を表わし
たものである。タブ20の四隅からタブの対角線方向の
外方向に延びるタブリード26とタブ20との接続部分
が、分岐部26aと26bにより外側に広がり内側に穴
を形成するように二股に分岐している。タブリード26
のタブ20との接続部が二股になっていることにより、
モールド時のタブ20及びタブリード26の不均一な熱
膨張を吸収することができる。タブ20には図2(A)
又は(B)に示されるような穴28,30があけられて
いてもよい。その場合にはモールド時の不均一な熱膨張
をより有効に吸収することができる。
FIG. 3 shows an embodiment corresponding to claim 3. The connecting portion between the tab 20 and the tab lead 26 extending from the four corners of the tab 20 outward in the diagonal direction of the tab is bifurcated so as to spread outward by the branch portions 26a and 26b to form a hole inside. Tab lead 26
Because the connection part with the tab 20 of is bifurcated,
The uneven thermal expansion of the tab 20 and the tab lead 26 at the time of molding can be absorbed. The tab 20 is shown in FIG.
Alternatively, holes 28, 30 as shown in (B) may be drilled. In that case, non-uniform thermal expansion during molding can be more effectively absorbed.

【0014】図4(A)は請求項4に対応した実施例を
表わしたものである。タブが十字形に交差する溝32に
よって4つの部分20−1〜20−4に分割され、分割
された各部分20−1〜20−4にはタブの対角線方向
の外方向に延びるタブリード26がそれぞれ設けられて
いる。このように、タブを複数の部分に分割することに
よりモールド時の不均一な熱膨張を吸収することができ
る。
FIG. 4 (A) shows an embodiment corresponding to claim 4. The tab is divided into four parts 20-1 to 20-4 by a groove 32 intersecting in a cross shape, and each divided part 20-1 to 20-4 has a tab lead 26 extending outward in the diagonal direction of the tab. Each is provided. In this way, by dividing the tab into a plurality of parts, it is possible to absorb uneven thermal expansion during molding.

【0015】また、タブを分割したことにより1つずつ
のタブの面積が小さくなり、モールド後にハンダリフロ
ーにより基板に実装する際にパッケージクラックが発生
しにくくなる。パッケージクラックはタブの面積が大き
いほど発生しやすく、図4(A)の構造では分割された
それぞれのタブ部分20−1〜20−4の面積がもとの
タブ20の1/4に縮小することになり、パッケージク
ラックに対する耐性が高くなる。また、タブを分割した
ことにより、タブと半導体チップとの熱膨張差も吸収す
ることができ、タブに半導体チップを実装するときの半
導体チップ割れの発生も抑えることができる。
Further, by dividing the tabs, the area of each tab is reduced, and package cracks are less likely to occur when the tabs are mounted on the substrate by solder reflow after molding. Package cracks are more likely to occur as the tab area is larger, and in the structure of FIG. 4A, the area of each of the divided tab portions 20-1 to 20-4 is reduced to 1/4 of the original tab 20. As a result, the resistance to package cracks increases. Further, by dividing the tab, it is possible to absorb the difference in thermal expansion between the tab and the semiconductor chip, and it is possible to suppress the occurrence of cracking of the semiconductor chip when the semiconductor chip is mounted on the tab.

【0016】図4(B)は請求項5に対応した実施例を
表わしたものであり、図4(A)の実施例の各タブ部分
20−1〜20−4の間を屈曲したバー形状の連結部3
4により連結した構造になっている。タブを分割したこ
とによる図4(A)の実施例の効果の外に、この屈曲し
た連結部34により各分割されたタブ部分20−1〜2
0−4の安定性が確保されるという効果を達成すること
ができる。
FIG. 4B shows an embodiment corresponding to claim 5, and a bar shape in which each tab portion 20-1 to 20-4 of the embodiment of FIG. 4A is bent. Connection part 3
It has a structure that is connected by 4. In addition to the effect of the embodiment of FIG. 4 (A) due to the division of the tabs, the tab portions 20-1 to 20-2 each divided by the bent connecting portion 34.
The effect that the stability of 0-4 is ensured can be achieved.

【0017】図1の工程を示す図で、モールド金型の下
型2上に、ICチップ4を搭載したリードフレーム6を
置き、その後モールド金型の上型8を被せるまでの放置
時間と、タブの浮き量との関係を図5に示す。リードフ
レームとしてタブに熱膨張を吸収する手段を施していな
い従来の銅合金リードフレームの場合aと、図2(A)
に示した本発明の一実施例によるリードフレームの場合
bを比較して示している。何れの場合も、図1(A)の
ように下型2上にリードフレーム6を置いた後、上型8
を置くまでの時間が長いほどリードフレーム内の温度の
不均一が小さくなり、浮き量が減少する。そして、本発
明による方がモールド金型の下型2上での放置時間の全
てにわたってクラック浮き量が小さくなることが分か
る。他の実施例のリードフレームでも同様の結果を得る
ことができた。
In the diagram showing the process of FIG. 1, the lead frame 6 having the IC chip 4 mounted thereon is placed on the lower die 2 of the molding die, and then the standing time until the upper die 8 of the molding die is covered, The relationship with the floating amount of the tab is shown in FIG. In the case of a conventional copper alloy lead frame in which a tab is not provided with a means for absorbing thermal expansion as a lead frame, FIG.
The case b of the lead frame according to the embodiment of the present invention shown in FIG. In either case, after placing the lead frame 6 on the lower mold 2 as shown in FIG.
The longer it takes to place, the smaller the temperature nonuniformity in the lead frame and the less the floating amount. Further, it can be seen that the crack floating amount becomes smaller over the entire leaving time on the lower mold 2 of the molding die according to the present invention. Similar results could be obtained with lead frames of other examples.

【0018】[0018]

【発明の効果】本発明ではタブの四隅の部分に板厚方向
に貫通する穴をあけたり、タブを分割したり、タブリー
ドとタブとの接続部を二股にするなどの手段をタブに施
すことにより、モールド時にリードフレームに金型から
加わる熱によるタブ及びタブリードの不均一な熱膨張を
吸収することができ、モールド時のタブの浮き沈み量を
抑えることができる。また、タブの周辺部に設けた穴は
モールド樹脂とタブとの密着性を向上させ、モールド後
のタブと樹脂との剥離を防止する効果もある。また、タ
ブを幾つかの部分に分割した本発明ではタブに半導体チ
ップを実装するときのタブとLSIチップとの熱膨張差
による半導体チップのクラックや割れも防止する効果も
ある。タブを分割した場合に、その分割したタブ部分間
を屈曲した連結部で連結することにより、タブの強度を
向上させることができる効果もある。また、タブを分割
した場合には、タブの面積が小さくなり、モールドした
半導体装置をプリント基板に実装するときのハンドリフ
ロー工程においてもパッケージクラックなどの発生を抑
える効果もある。
According to the present invention, the tab is provided with means such as forming holes through the four corners of the tab in the plate thickness direction, dividing the tab, and bifurcating the connecting portion between the tab lead and the tab. This makes it possible to absorb uneven thermal expansion of the tabs and tab leads due to heat applied from the mold to the lead frame during molding, and suppress the amount of tab ups and downs during molding. In addition, the holes provided in the peripheral portion of the tab have the effect of improving the adhesion between the mold resin and the tab, and preventing separation of the tab and resin after molding. Further, the present invention in which the tab is divided into several parts also has an effect of preventing cracks or breakage of the semiconductor chip due to a difference in thermal expansion between the tab and the LSI chip when the semiconductor chip is mounted on the tab. When the tab is divided, there is also an effect that the strength of the tab can be improved by connecting the divided tab portions with a bent connecting portion. Further, when the tabs are divided, the area of the tabs becomes small, and it is also effective in suppressing the occurrence of package cracks in the hand reflow process when mounting the molded semiconductor device on the printed circuit board.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】モールド工程を示す断面図である。FIG. 1 is a cross-sectional view showing a molding process.

【図2】(A)と(B)はそれぞれ実施例におけるリー
ドフレームの1チップ分を示す平面図である。
FIGS. 2A and 2B are plan views showing one chip of a lead frame in each example.

【図3】他の実施例におけるリードフレームの1チップ
分を示す平面図である。
FIG. 3 is a plan view showing one chip of a lead frame in another embodiment.

【図4】(A)と(B)はそれぞれさらに他の実施例に
おけるリードフレームの1チップ分を示す平面図であ
る。
4A and 4B are plan views showing one chip of a lead frame in still another embodiment, respectively.

【図5】モールド時にリードフレームをモールド金型の
下型上に置いてから上型を被せるまでの時間とタブ浮き
量の関係を示す図である。
FIG. 5 is a diagram showing the relationship between the tab floating amount and the time from placing the lead frame on the lower die of the molding die to covering the upper die during molding.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

20 タブ 20−1〜20−4 分割されたタブ部分 22 インナーリード 24 ダム 26 タブリード 28,30 タブにあけられた穴 26a,26b タブリードとタブとの接続部分を二
股にする分岐部 32 タブを分割する溝 34 分割されたタブ部分を連結する連結部
20 tabs 20-1 to 20-4 divided tab portion 22 inner lead 24 dam 26 tab lead 28, 30 hole formed in tab 26a, 26b bifurcated portion for connecting the connecting portion between the tab lead and the tab 32 tab divided Groove 34 Connecting part for connecting divided tab parts

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 中央部にタブ、その周囲に複数本のリー
ドが配置された形状を有し、タブ上に半導体チップが固
着され、その半導体チップのパッドとリードの間がワイ
ヤにより電気的に接続された後、リードの一部、半導体
チップ及びタブがモールド樹脂により封止されるリード
フレームにおいて、 材質が銅系であり、タブは矩形で、その四隅には各隅の
2辺に沿って外方向に直角に折れ曲がった形状で、タブ
の板厚方向に貫通した穴があけられていることを特徴と
するリードフレーム。
1. A tab is provided at the center, and a plurality of leads are arranged around the tab. A semiconductor chip is fixed on the tab, and a wire is electrically connected between the pad and the lead of the semiconductor chip. In the lead frame in which a part of the lead, the semiconductor chip and the tab are sealed by the molding resin after being connected, the material is copper, the tab is rectangular, and the four corners are along two sides of each corner. A lead frame having a shape bent at a right angle to the outside and having a hole penetrating in the plate thickness direction of the tab.
【請求項2】 タブには各辺に沿って前記穴と穴の間に
辺に平行に延びる穴が1つ以上ずつあけられている請求
項1に記載のリードフレーム。
2. The lead frame according to claim 1, wherein the tab has one or more holes extending along each side and between the holes and parallel to the side.
【請求項3】 タブには外方向に延びる複数個のタブリ
ードが設けられており、かつそのタブリードとタブとの
接続部分が外側に広がり内側に穴を形成するように二股
に分岐している請求項1股は2に記載のリードフレー
ム。
3. The tab is provided with a plurality of outwardly extending tab leads, and a connecting portion between the tab leads and the tab is bifurcated so as to extend outward and form a hole inward. Item 1 The lead frame described in item 2.
【請求項4】 中央部にタブ、その周囲に複数本のリー
ドが配置された形状を有し、タブ上に半導体チップが固
着され、その半導体チップのパッドとリードの間がワイ
ヤにより電気的に接続された後、リードの一部、半導体
チップ及びタブがモールド樹脂により封止されるリード
フレームにおいて、 タブは十字形に交差する溝によって4つの部分に分割さ
れ、分割された各部分には外方向に延びるタブリードが
設けられていることを特徴とするリードフレーム。
4. A tab is formed in the center, and a plurality of leads are arranged around the tab. A semiconductor chip is fixed on the tab, and a wire is electrically connected between the pad and the lead of the semiconductor chip. In the lead frame in which a part of the lead, the semiconductor chip and the tab are sealed by the molding resin after being connected, the tab is divided into four parts by the grooves intersecting in a cross shape, and each part is divided into external parts. A lead frame having tab leads extending in the direction.
【請求項5】 分割された4つの部分の間が屈曲した形
状の連結部で連結されている請求項4に記載のリードフ
レーム。
5. The lead frame according to claim 4, wherein the four divided portions are connected by a connecting portion having a bent shape.
JP22576294A 1994-08-26 1994-08-26 Lead frame Pending JPH0870087A (en)

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