JPH0868829A - Connecting device - Google Patents

Connecting device

Info

Publication number
JPH0868829A
JPH0868829A JP6203337A JP20333794A JPH0868829A JP H0868829 A JPH0868829 A JP H0868829A JP 6203337 A JP6203337 A JP 6203337A JP 20333794 A JP20333794 A JP 20333794A JP H0868829 A JPH0868829 A JP H0868829A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
contact
pattern
contactor
lead
holding
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP6203337A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Toshiyuki Takahata
俊之 高畑
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
KUWANO DENKI KK
KUWANO ELECTRIC INSTR
Original Assignee
KUWANO DENKI KK
KUWANO ELECTRIC INSTR
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by KUWANO DENKI KK, KUWANO ELECTRIC INSTR filed Critical KUWANO DENKI KK
Priority to JP6203337A priority Critical patent/JPH0868829A/en
Publication of JPH0868829A publication Critical patent/JPH0868829A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Coupling Device And Connection With Printed Circuit (AREA)
  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)

Abstract

PURPOSE: To provide a connecting device in electrically contact with a material to be measured securely having the excellent characteristics in high frequency region. CONSTITUTION: A plurality of contacts 11 comprising rod-shaped elastic metal is held with a holding part 1 so that the leading tips are extruding into air and the base ends are exposed at the bottom surface. The contacts are in electrically contact with respective leads 52 of a material to be measured IC 51. A printed circuit board 2 has a pattern 21, which is individually formed at the position corresponding to each contact 11 exposed at the bottom surface. The holding part land the printed circuit board 2 are compressed and held with a holding part 3 and screws 4 so that the respective contacts 11 exposed at the bottom surface of the holding part 1 and a pattern 21 of the printed-circuit board 2 are brought into contact electrically.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、接続装置に関し、特に
製造された集積回路装置の動作を測定検査する場合など
に用いられ、集積回路装置などの被測定物と測定試験装
置とを電気的に接続する接続装置に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a connection device, and is particularly used for measuring and inspecting the operation of a manufactured integrated circuit device, and electrically connecting an object to be measured such as an integrated circuit device and a measurement test device. The present invention relates to a connection device to be connected to.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、この種の接続装置は、図5に示す
ような構成となっていた。図5は、印刷配線板およびそ
の配線パターンを接続装置として用いたものである。図
5(a)において、51は被測定物としてその動作が測
定検査される集積回路装置(以下、ICという)、52
はIC51内の回路と接続され各種信号を入出力するた
めに等間隔に設けられた複数のリード(端子)、53は
印刷配線板54上にCuなどから形成され、各リード5
2と電気的に接触することによりIC51内の回路と測
定試験装置(図示せず)とを接続する配線用のパターン
である。
2. Description of the Related Art Conventionally, this type of connecting device has a structure as shown in FIG. FIG. 5 shows a printed wiring board and its wiring pattern used as a connecting device. In FIG. 5A, reference numeral 51 denotes an integrated circuit device (hereinafter referred to as IC) whose operation is measured and inspected as an object to be measured, 52
Is a plurality of leads (terminals) connected to the circuit in the IC 51 and provided at equal intervals for inputting and outputting various signals, and 53 is formed of Cu or the like on the printed wiring board 54.
2 is a wiring pattern for connecting a circuit in the IC 51 and a measurement / testing device (not shown) by making electrical contact with 2.

【0003】また、図5(b)において、55A,55
BはIC51を上下から保持するためのアーム、56は
リード52をパターン53に押しつけるための絶縁物、
57は印刷配線板54を保持するための保持台であり、
実際にIC51の動作を試験する場合には、各リード5
2とこれに対応して設けられているパターン53とが接
触する位置にアーム55A,55BによりIC51を保
持するとともに、絶縁物56によりリード52をパター
ン53に押しつけることにより、リード52とパターン
53とを確実に電気的に接触させるようにしたものであ
る。
Further, in FIG. 5B, 55A, 55
B is an arm for holding the IC 51 from above and below, 56 is an insulator for pressing the lead 52 against the pattern 53,
57 is a holding table for holding the printed wiring board 54,
When actually testing the operation of the IC 51, each lead 5
The IC 51 is held by the arms 55A and 55B at the position where 2 and the pattern 53 provided corresponding thereto are held, and the lead 52 is pressed against the pattern 53 by the insulator 56, so that the lead 52 and the pattern 53 Is to ensure electrical contact.

【0004】また、図6は弾性を有する接触子により接
続するようにしたものである。図6において、61はC
u−Be合金などの金属板からなり、U字構造により弾
性を有し各リード52と測定試験装置とを電気的に接続
する接触子、62は複数のスリット部62Aを有するプ
ラスチックなどの絶縁性樹脂からなり、このスリット部
62Aにより各リード52に対応して複数の接触子61
を保持する保持部である。
Further, FIG. 6 shows that the connection is made by a contact having elasticity. In FIG. 6, 61 is C
A contact made of a metal plate such as u-Be alloy and having elasticity by a U-shaped structure and electrically connecting each lead 52 and the measurement test device, and 62 is an insulating material such as plastic having a plurality of slits 62A The slit portion 62 </ b> A is made of resin and a plurality of contacts 61 corresponding to the leads 52 are provided.
Is a holding unit for holding.

【0005】接触子61は、基部61A、端子部61
B、弾性部61C、腕部61Dおよび接触部61Eから
構成されており、基部61Aおよび端子部61Bにより
スリット部62Aの底部に保持されるとともに、リード
52が接触部61Aの上側面に押しつけられた場合、弾
性部61Cを支点として腕部61Dと接触部61Eを上
下に可動させるものとなる。これにより、各リード52
が適度の弾性力、例えば30〜50gの弾性力により接
触部61Eと電気的に接触し、端子部61Bを介して測
定試験装置に接続されるものとなる。
The contact 61 includes a base portion 61A and a terminal portion 61.
B, elastic portion 61C, arm portion 61D, and contact portion 61E, which are held on the bottom of the slit portion 62A by the base portion 61A and the terminal portion 61B, and the lead 52 is pressed against the upper surface of the contact portion 61A. In this case, the arm portion 61D and the contact portion 61E can be moved vertically with the elastic portion 61C as a fulcrum. As a result, each lead 52
Comes into electrical contact with the contact portion 61E by an appropriate elastic force, for example, an elastic force of 30 to 50 g, and is connected to the measurement test device via the terminal portion 61B.

【0006】また、図7はS字構造の接触子を介してリ
ードとパターンとを接続するようにしたものである。図
7において、71はCu−Be合金などのS字形状の金
属板からなる接触子、73は複数のスリット部73Aを
有するプラスチックなどの絶縁性樹脂からなる保持部、
72A,72Bは軸方向と直交する方向に弾性を有する
ゴムなどの円柱状の弾性材からなり、すべての接触子7
1およびスリット部73Aを貫通する軸、74は印刷配
線板75上にCuなどから形成され、各リード52と電
気的に接触することによりIC51内の回路と測定試験
装置とを接続するパターンである。
Further, FIG. 7 shows a structure in which the lead and the pattern are connected to each other through an S-shaped contactor. In FIG. 7, 71 is a contact made of an S-shaped metal plate such as Cu-Be alloy, 73 is a holding portion made of an insulating resin such as plastic having a plurality of slits 73A,
72A and 72B are made of a columnar elastic material such as rubber having elasticity in a direction orthogonal to the axial direction, and all the contacts 7
1 and a shaft penetrating the slit portion 73A, and 74 is a pattern which is formed of Cu or the like on the printed wiring board 75 and electrically connects with each lead 52 to connect the circuit in the IC 51 and the measurement test device. .

【0007】接触子71は、リード52と接触するリー
ド接触部71A、およびパターン74と接触するパター
ン接触部71Bとを有し、通常はスリット部73A内に
軸72A,72Bにより保持されており、特にパターン
接触部71Bが軸72Aを軸として軸72Bの弾性力に
よりパターン74に押圧されている。リード52が接触
部71Aの上側面に押しつけられた場合、接触子71
は、軸72Bを軸とし軸72Aの弾性力によりリード接
触部71Aとリード52とを接触させ、これにより、各
リード52が適度の弾性力により各接触子71のリード
接触部71Aと電気的に接触するとともに、パターン接
触部71Bが適度の弾性力により各パターン74と電気
的に接触するものとなり、各リード52は接触子71お
よびパターン74を介して測定試験装置に接続されるも
のとなる。
The contact 71 has a lead contact portion 71A which comes into contact with the lead 52 and a pattern contact portion 71B which comes into contact with the pattern 74, and is usually held in the slit portion 73A by the shafts 72A and 72B. In particular, the pattern contact portion 71B is pressed against the pattern 74 by the elastic force of the shaft 72B about the shaft 72A. When the lead 52 is pressed against the upper surface of the contact portion 71A, the contact 71
With the shaft 72B as an axis, the lead contact portion 71A and the lead 52 are brought into contact with each other by the elastic force of the shaft 72A, whereby each lead 52 is electrically connected to the lead contact portion 71A of each contact 71 by an appropriate elastic force. In addition to being in contact, the pattern contact portion 71B electrically contacts each pattern 74 by an appropriate elastic force, and each lead 52 is connected to the measurement test device via the contact 71 and the pattern 74.

【0008】[0008]

【発明が解決しようとする課題】したがって、このよう
な従来の接続装置では、図5に示されているIC51の
リード52を印刷配線板54上のパターン53に直接接
触させる方法によれば、リード52の切断エッジによる
パターン53の削り磨耗が発生するため印刷配線板54
の寿命が短くなるという問題点があり、リード52の変
形や上下のバラツキなどに対応できず、接触不良の原因
となっていた。また、図6に示されているU字構造の接
触子61により接続する方法によれば、端子部61Bか
ら接触部61Eまでの距離が長いため、腕部61Dなど
がアンテナとなり、あるいは隣接する接触子61との間
容量成分により、特に高周波領域においてノイズの影響
が大きくなり、測定精度が低下するという問題点があっ
た。
Therefore, in such a conventional connecting device, according to the method of directly contacting the lead 52 of the IC 51 with the pattern 53 on the printed wiring board 54 shown in FIG. Since the abrasion of the pattern 53 is caused by the cutting edge of 52, the printed wiring board 54
Has a problem that the life of the lead is shortened, and it is not possible to deal with the deformation of the lead 52 and the variation in the up and down, which causes the contact failure. Further, according to the method of connecting with the U-shaped contactor 61 shown in FIG. 6, since the distance from the terminal portion 61B to the contact portion 61E is long, the arm portion 61D or the like becomes an antenna or an adjacent contact portion. There is a problem that the capacitance component between the child 61 increases the influence of noise particularly in a high frequency region, and the measurement accuracy decreases.

【0009】さらに、図7に示されているS字形状の接
触子71により接続する方法によれば、接触部71A,
71Bを介して接続されるために接触不良が発生しやす
く、特に測定を行うごとにパターン74と接触部71B
との間に擦れが生じ、印刷配線板75の寿命が短くなる
という問題点があった。本発明はこのような課題を解決
するためのものであり、被測定物と確実に電気的に接触
するとともに、高周波領域における特性に優れた接続装
置を提供することを目的としている。
Further, according to the method of connecting by the S-shaped contact 71 shown in FIG. 7, the contact portions 71A,
Since the connection is likely to occur via 71B, contact failure is likely to occur, and in particular, the pattern 74 and the contact portion 71B each time measurement is performed.
There is a problem that rubbing occurs between the printed wiring board 75 and the printed wiring board 75 and the life of the printed wiring board 75 is shortened. The present invention is intended to solve such a problem, and an object of the present invention is to provide a connection device that reliably makes electrical contact with an object to be measured and has excellent characteristics in a high frequency region.

【0010】[0010]

【課題を解決するための手段】このような目的を達成す
るために、本発明による接続装置は、所定の弾性を有す
る棒状の金属からなり、測定試験時に被測定物の各端子
とそれぞれ電気的に接触する複数の接触子と、電気的絶
縁物からなり、接触子の先端が空中に突出するととも
に、その基端が底面に露出するように保持する保持部
と、底面に押圧された場合に、底面に露出した各接触子
と対応する位置にそれぞれ個別に形成されたパターンを
有する印刷配線板と、底面に露出した各接触子とパター
ンとがそれぞれ電気的に接触するように、保持部と印刷
配線板とを押圧保持する保持手段とを備えるものであ
る。また、接触子は、断面四角柱からなり、保持部は、
接触子の基端を底面に接着保持するようにしたものであ
る。
In order to achieve such an object, a connecting device according to the present invention is made of a rod-shaped metal having a predetermined elasticity, and is electrically connected to each terminal of an object to be measured during a measurement test. A plurality of contacts that come into contact with, and a holding portion that is made of an electrically insulating material and that holds the base end of the contact so that its base end is exposed at the bottom while it is pressed to the bottom. A printed wiring board having a pattern individually formed at a position corresponding to each contact exposed on the bottom surface, and a holding portion so that each contact exposed on the bottom and the pattern electrically contact with each other. Holding means for pressing and holding the printed wiring board. Further, the contactor has a rectangular cross section, and the holding portion is
The base end of the contact is adhesively held on the bottom surface.

【0011】[0011]

【作用】したがって、保持手段により、保持部の底面に
露出した接触子と印刷配線板のパターンとが電気的に接
触し、接触子の空中に突き出た先端に接触した被測定物
の端子が、接触子、パターンを介して試験測定装置に接
続される。
Therefore, the holding means electrically contacts the contact exposed on the bottom surface of the holding part with the pattern of the printed wiring board, and the terminal of the DUT contacting the tip of the contact protruding into the air is It is connected to a test and measurement device via a contactor and a pattern.

【0012】[0012]

【実施例】次に、本発明について図面を参照して説明す
る。図1は本発明の一実施例である接続装置の分解斜視
図であり、同図において、11はCu−Be合金などの
金属からなり、その先端が空中で被測定物のリードと電
気的に接触する断面四角柱の接触子、1はそれぞれ1対
のガイド穴12および取付用穴13を有し、接触子11
の先端が空中に突き出るように接触子11の基端を保持
する保持部、2は一対のガイド穴22を有するととも
に、保持部1に対向する面に各接触子11に対応して複
数の配線用のパターン21を有する印刷配線板、3は1
対のガイドピン31を有する保持部であり、保持部3お
よびネジ4は保持手段を構成している。
Next, the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1 is an exploded perspective view of a connection device according to an embodiment of the present invention. In FIG. 1, reference numeral 11 is made of a metal such as Cu—Be alloy, and the tip thereof is electrically connected to the lead of an object to be measured in the air. A contactor having a rectangular prism cross section which comes into contact with the contactor 1 has a pair of guide holes 12 and a pair of mounting holes 13 respectively.
The holding portion 2 that holds the base end of the contactor 11 so that the tip of the contactor projects into the air has a pair of guide holes 22, and a plurality of wirings corresponding to each contactor 11 are provided on the surface facing the holding portion 1. Printed wiring board having a pattern 21 for use, 3 is 1
It is a holding part having a pair of guide pins 31, and the holding part 3 and the screw 4 constitute a holding means.

【0013】印刷配線板2のパターン21は、一端に接
触子11と電気的に接触するための接触部21Aと、他
端に測定検査装置(図示せず)への配線が半田付けされ
るランド21Bを有している。接触子11は、保持部1
の底面すなわち印刷配線板2に対向する面に露出するよ
うに接着保持されており、保持部3のガイドピン31が
印刷配線板2の一対の基準穴22を介して保持部1の一
対のガイド穴12に挿入されるとともに、一対のネジ4
を保持部1の穴13および保持部3の穴32を介して保
持台(図示せず)にねじ込むことにより、保持部1の底
面と印刷配線板2のパターン21の間に強固に保持され
る。
The pattern 21 of the printed wiring board 2 has a contact portion 21A for electrically contacting the contactor 11 at one end and a land to which a wiring to a measurement / inspection device (not shown) is soldered at the other end. 21B. The contactor 11 is the holding unit 1.
Is bonded and held so as to be exposed at the bottom surface of the printed wiring board 2, that is, the guide pin 31 of the holding portion 3 through the pair of reference holes 22 of the printed wiring board 2 and the pair of guides of the holding portion 1. Inserted in the hole 12 and a pair of screws 4
Is screwed into a holder (not shown) through the hole 13 of the holder 1 and the hole 32 of the holder 3, and is firmly held between the bottom surface of the holder 1 and the pattern 21 of the printed wiring board 2. .

【0014】これにより、各接触子11の保持部1の底
面に露出した基端となる部分すなわちパターン接触部1
1Aとパターン21のそれぞれ対応する端部21Aとが
密着して電気的に接触するとともに、各接触子11の空
中に突き出した先端部分すなわちリード接触部11Bに
被測定物のリードが電気的に接触するように被測定物が
保持され、被測定物のリードは、接触子11のリード接
触部11B、パターン接触部11A、端部21A、ラン
ド21Bおよび配線を介して測定試験装置に接続される
ものとなる。
As a result, the portion of the base of the holding portion 1 of each contact 11 exposed as a base end, that is, the pattern contact portion 1 is exposed.
1A and the corresponding end portions 21A of the pattern 21 are in close contact with each other and electrically contact with each other, and the leads of the object to be measured electrically contact with the tip end portions of each contactor 11 protruding into the air, that is, the lead contact portions 11B. The object to be measured is held as described above, and the lead of the object to be measured is connected to the measurement test device via the lead contact portion 11B of the contactor 11, the pattern contact portion 11A, the end portion 21A, the land 21B, and the wiring. Becomes

【0015】なお、印刷配線板2は、基材として誘電率
の低い材料が使用されており、各パターン21の長さ、
すなわち接触部21Aからランド21Bまでの長さはほ
ぼ等しく、それぞれ所定のインピーダンスにマッチング
されている。これにより、隣接するパターン間の容量を
増大させることなくパターンの幅を大きくすることが可
能となり、接触部21Aからランド21Bまでの直流抵
抗を低減することができるとともに、測定試験時に高周
波信号を用いた場合でも、隣接するパターン間における
ノイズの影響を抑制することが可能となる。
The printed wiring board 2 uses a material having a low dielectric constant as a base material, and the length of each pattern 21 is
That is, the lengths from the contact portion 21A to the land 21B are substantially equal to each other and are matched with predetermined impedances. As a result, the width of the pattern can be increased without increasing the capacitance between the adjacent patterns, the direct current resistance from the contact portion 21A to the land 21B can be reduced, and a high frequency signal is used during the measurement test. Even in such a case, the influence of noise between adjacent patterns can be suppressed.

【0016】図2は、保持部1、印刷配線板2および保
持部3が、ネジ4により保持台58に取り付けられた場
合の、接触子11付近の側面図である。印刷配線板2上
に形成されているパターン21の端部21Aと接触子1
1のパターン接触部11Aとが、保持部1と保持部3と
により押圧され、電気的に接触している。また、51は
被測定物であるIC、52はそのリードであり、測定試
験時には、アーム(図示せず)によりIC51が最適な
位置に保持される。
FIG. 2 is a side view of the vicinity of the contact 11 when the holding portion 1, the printed wiring board 2 and the holding portion 3 are attached to the holding base 58 with the screws 4. End 21A of pattern 21 formed on printed wiring board 2 and contact 1
The first pattern contact portion 11A is pressed by the holding portion 1 and the holding portion 3 and is in electrical contact. Further, 51 is an IC to be measured, and 52 is a lead thereof, and the IC 51 is held at an optimum position by an arm (not shown) during a measurement test.

【0017】この場合、接触子11が保持部1から3〜
6mm程度突き出して保持されているため、接触子11
のリード接触部11Bとリード52とは、適度な弾性力
により電気的に接触するものとなり、安定した電気的接
触が得られている。これにより、被測定物IC51の各
リード52は、接触子11のリード接触部11B、パタ
ーン接触部11A、パターン21の接触部21Aおよび
ランド部21Bを介して測定試験装置(図示せず)に電
気的に接続されることになる。
In this case, the contactor 11 is connected to the holding parts 1 to 3 to 3.
Since it is projected and held about 6 mm, the contact 11
The lead contact portion 11B and the lead 52 are in electrical contact with each other by an appropriate elastic force, and stable electrical contact is obtained. As a result, each lead 52 of the DUT IC 51 is electrically connected to a measurement test device (not shown) via the lead contact portion 11B of the contact 11, the pattern contact portion 11A, the contact portion 21A of the pattern 21, and the land portion 21B. Will be connected.

【0018】また図3は、接触子11およびこれを保持
する保持部1の底面側から見た斜視図であり、(a)は
組立完成時、(b)は組立時を示している。11Cは、
接触子11を中心としてその両端から保持する接触子プ
レートであり、位置決め用の一対の穴11Dを有してい
る。接触子プレート11Cは、接触子11が適度な弾性
力を有する程度の厚さ、例えば0.2mmぐらいの厚さ
のCu−Be合金などの金属板を材料として、接触子1
1およびその組立に必要な部分以外をエッチング工程や
プレス工程などの各種加工方法により除去することによ
り生成されている。
3A and 3B are perspective views of the contactor 11 and the holding portion 1 for holding the contactor 11 as seen from the bottom surface side. FIG. 3A shows the completed assembly, and FIG. 3B shows the assembled state. 11C is
It is a contactor plate that holds the contactor 11 from both ends around the center, and has a pair of holes 11D for positioning. The contactor plate 11C is made of a metal plate such as a Cu—Be alloy having a thickness such that the contactor 11 has an appropriate elastic force, for example, a thickness of about 0.2 mm.
It is produced by removing parts other than 1 and the parts necessary for its assembly by various processing methods such as an etching process and a pressing process.

【0019】14は、熱硬化性を有するシート状の接着
剤であり、保持部1の接触子11を接着保持する部分に
接着剤14を張り付けた後、ガイド穴12と穴11Dと
の位置がそれぞれ一致するように接触子プレート11C
を接着剤14に張り付け、接着剤14付近を加熱し硬化
させた後、接触子11となる部分を残して接触子プレー
ト11Cを切断することにより、図3(a)に示す接触
子組立が完成する。これにより、複雑で高価な工程を必
要とすることなく、接触子11を僅かなピッチ例えば
0.5mm前後のピッチで空中に突き出すとともに保持
部1の底面に露出するように正確に保持することが可能
となり、また各接触子11のパターン接触部11Aに接
着剤が付着することもなく、これに起因する接触不良を
抑止することができる。
Numeral 14 is a sheet-like adhesive having thermosetting property. After the adhesive 14 is attached to the portion of the holding portion 1 where the contact 11 is adhered and held, the positions of the guide hole 12 and the hole 11D are changed. Contact plate 11C to match each other
3 is adhered to the adhesive 14, and the vicinity of the adhesive 14 is heated and cured, and then the contact plate 11C is cut while leaving a portion to be the contact 11 to complete the contact assembly shown in FIG. To do. As a result, the contactor 11 can be accurately held so as to be projected in the air at a slight pitch, for example, a pitch of about 0.5 mm, and to be exposed at the bottom surface of the holding portion 1 without requiring a complicated and expensive process. In addition, the adhesive does not adhere to the pattern contact portion 11A of each contactor 11, and contact failure due to this can be suppressed.

【0020】図4は、本発明の接続装置を用いた測定試
験を示す説明図である。同図において、55A,55B
は被測定物IC51を上下から保持するためのアーム、
56はリード52を接触子11に押しつけるための絶縁
物、58はIC51のリード52の端部の角度に応じた
所定の角度により、保持部1、接触子11、印刷配線板
2および保持部3をネジ4により保持するための保持
台、59は印刷配線板2上の各パターン21と測定試験
装置(図示せず)とを接続するための配線である。
FIG. 4 is an explanatory diagram showing a measurement test using the connection device of the present invention. In the figure, 55A, 55B
Is an arm for holding the IC to be measured 51 from above and below,
Reference numeral 56 indicates an insulator for pressing the lead 52 against the contact 11, and reference numeral 58 indicates the holding portion 1, the contact 11, the printed wiring board 2 and the holding portion 3 at a predetermined angle according to the angle of the end portion of the lead 52 of the IC 51. Is a holding base for holding with the screw 4, and 59 is a wiring for connecting each pattern 21 on the printed wiring board 2 and a measurement test device (not shown).

【0021】実際にIC51の動作を試験する場合に
は、アーム55A,55Bにより、各リード52とこれ
に対応して設けられている接触子11とがそれぞれ接触
する位置にIC51が保持され、リード52が、リード
52の先端部の角度とほぼ等しい角度で保持されている
接触子11に絶縁物56により押しつけられるものとな
る。これにより、リード52と接触子11とを、接触子
11の持つ弾性力により確実に電気的に接触させること
ができるとともに、接触子11の長さを比較的短くして
隣接する接触子11間の容量を小さくすることができ、
高周波領域において優れた特性を得ることが可能とな
り、さらにリード52との接触により接触子11が磨耗
した場合でも接触子11および保持部1とを簡単に交換
することが可能となる。
When actually testing the operation of the IC 51, the arms 55A and 55B hold the IC 51 at a position where each lead 52 and the contactor 11 provided corresponding thereto are brought into contact with each other, and the leads are held. The insulator 52 presses the contact 52 against the contact 11 held at an angle substantially equal to the angle of the tip of the lead 52. As a result, the lead 52 and the contact 11 can be reliably brought into electrical contact with each other by the elastic force of the contact 11, and the length of the contact 11 can be made relatively short so that the distance between the adjacent contact 11 is small. Can reduce the capacity of
It is possible to obtain excellent characteristics in a high frequency range, and it is possible to easily replace the contact 11 and the holding portion 1 even if the contact 11 is worn due to contact with the lead 52.

【0022】なお、以上の説明において、保持部1が接
触子11を接着保持するようにした場合について説明し
たが、これはプラスチックなどの樹脂を用いて保持部1
を成形する際に、接触子11の先端を突き出して保持す
るとともに、基端を保持部1の底面に露出するように保
持するようにしてもよく、前述と同様の作用効果を奏す
る。
In the above description, the case where the holding portion 1 holds the contact 11 by adhesion has been described, but this is made of resin such as plastic.
At the time of molding, the tip end of the contactor 11 may be projected and held, and the base end may be held so as to be exposed at the bottom surface of the holding portion 1, and the same operational effect as described above is obtained.

【0023】[0023]

【発明の効果】以上説明したように、本発明は、所定の
弾性を有する棒状の金属からなる複数の接触子を、先端
が空中に突出するとともに、その基端が底面に露出する
ように保持するとともに、この底面に露出した各接触子
と印刷配線板のパターンとがそれぞれ電気的に接触する
ように、保持部と印刷配線板とを押圧保持するようにし
たので、被測定物の端子と接触子とを接触子の持つ弾性
により確実に電気的に接触させることができるととも
に、接触子の長さを比較的短くして隣接する接触子間の
容量を小さくすることができ、高周波領域において優れ
た特性を得ることが可能となり、さらに端子との接触に
より接触子が磨耗した場合でも接触子および保持部を簡
単に交換することが可能となる。また、接触子を断面四
角柱とし、保持部により、接触子の基端を底面に接着保
持するようにしたので、複雑な工程を必要とせず、先端
を空中に突出するとともにその基端が底面に露出するよ
うに、僅かなピッチで正確に保持することが可能とな
る。
As described above, according to the present invention, a plurality of contacts made of a rod-shaped metal having a predetermined elasticity are held so that the tip ends protrude into the air and the base ends are exposed on the bottom surface. At the same time, the contacts and the printed wiring board are pressed and held so that the contacts exposed on the bottom surface and the pattern of the printed wiring board are in electrical contact with each other. The elasticity of the contactor allows the contactor to be surely brought into electrical contact with each other, and the length of the contactor can be made relatively short to reduce the capacitance between adjacent contactors. Excellent characteristics can be obtained, and even if the contact wears due to contact with the terminal, the contact and the holder can be easily replaced. Also, the contactor has a rectangular cross-section, and the holding part holds the base end of the contactor by adhesively holding it to the bottom surface.Therefore, no complicated steps are required, and the tip end protrudes into the air, and the base end It becomes possible to hold accurately with a slight pitch so as to be exposed to.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】 本発明の一実施例による接続装置の分解斜視
図である。
FIG. 1 is an exploded perspective view of a connection device according to an embodiment of the present invention.

【図2】 本発明の一実施例による接続装置の側面図で
ある。
FIG. 2 is a side view of a connection device according to an embodiment of the present invention.

【図3】 接触子および保持部の斜視図である。FIG. 3 is a perspective view of a contactor and a holding portion.

【図4】 本発明の接続装置を用いた測定試験を示す説
明図である。
FIG. 4 is an explanatory diagram showing a measurement test using the connection device of the present invention.

【図5】 従来の接続装置を示す説明図である。FIG. 5 is an explanatory diagram showing a conventional connecting device.

【図6】 従来の他の接続装置を示す説明図である。FIG. 6 is an explanatory view showing another conventional connecting device.

【図7】 従来の他の接続装置を示す説明図である。FIG. 7 is an explanatory diagram showing another conventional connecting device.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…保持部、11…接触子、11A…リード接触部、1
1B…パターン接触部、2…印刷配線板、21…パター
ン、21A…接触部、21B…ランド、3…保持部、4
…ネジ、51…集積回路装置(被測定物)、52…リー
ド(端子)。
1 ... Holding part, 11 ... Contact, 11A ... Lead contact part, 1
1B ... Pattern contact part, 2 ... Printed wiring board, 21 ... Pattern, 21A ... Contact part, 21B ... Land, 3 ... Holding part, 4
... screw, 51 ... integrated circuit device (measurement object), 52 ... lead (terminal).

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 集積回路装置などの被測定物と測定試験
装置とを電気的に接続する接続装置において、 所定の弾性を有する棒状の金属からなり、測定試験時に
被測定物の各端子とそれぞれ電気的に接触する複数の接
触子と、 電気的絶縁物からなり、前記接触子の先端が空中に突出
するとともに、その基端が底面に露出するように保持す
る保持部と、 前記底面に押圧された場合に、前記底面に露出した前記
各接触子と対応する位置にそれぞれ個別に形成された配
線パターンを有する印刷配線板と、 前記底面に露出した前記各接触子と前記配線パターンと
がそれぞれ電気的に接触するように、前記保持部と前記
印刷配線板とを押圧保持する保持手段とを備えることを
特徴とする接続装置。
1. A connection device for electrically connecting an object to be measured, such as an integrated circuit device, and a measurement test device, which is made of a rod-shaped metal having a predetermined elasticity, and each terminal of the object to be measured is subjected to a measurement test. A plurality of contacts that make electrical contact with each other, an electrical insulator, and a holding portion that holds the base end of the contact so as to be exposed at the bottom and the bottom end of the contact protruding to the air. When the printed wiring board having a wiring pattern individually formed at a position corresponding to each of the contacts exposed on the bottom surface, each of the contacts and the wiring pattern exposed on the bottom surface, respectively. A connection device comprising: a holding unit that presses and holds the holding unit and the printed wiring board so as to make electrical contact.
【請求項2】 請求項1記載の接続装置において、 前記接触子は、断面四角柱からなり、 前記保持部は、前記接触子の基端を前記底面に接着保持
することを特徴とする接続装置。
2. The connecting device according to claim 1, wherein the contactor is a quadrangular prism in cross section, and the holding portion adheres and holds the base end of the contactor to the bottom surface. .
JP6203337A 1994-08-29 1994-08-29 Connecting device Pending JPH0868829A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP6203337A JPH0868829A (en) 1994-08-29 1994-08-29 Connecting device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP6203337A JPH0868829A (en) 1994-08-29 1994-08-29 Connecting device

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH0868829A true JPH0868829A (en) 1996-03-12

Family

ID=16472354

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP6203337A Pending JPH0868829A (en) 1994-08-29 1994-08-29 Connecting device

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0868829A (en)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6969262B2 (en) 2001-09-05 2005-11-29 Yamaichi Electronics Co., Ltd. IC socket
US7511375B2 (en) 2004-10-01 2009-03-31 Yamaichi Electronics Co., Ltd. Semiconductor device carrier unit and semiconductor socket provided therewith
CN105699879A (en) * 2016-03-08 2016-06-22 安徽四创电子股份有限公司 Connection slide glass for testing high-frequency PCB

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6969262B2 (en) 2001-09-05 2005-11-29 Yamaichi Electronics Co., Ltd. IC socket
US7511375B2 (en) 2004-10-01 2009-03-31 Yamaichi Electronics Co., Ltd. Semiconductor device carrier unit and semiconductor socket provided therewith
CN105699879A (en) * 2016-03-08 2016-06-22 安徽四创电子股份有限公司 Connection slide glass for testing high-frequency PCB
CN105699879B (en) * 2016-03-08 2018-08-14 安徽四创电子股份有限公司 A kind of frequency PCB board test connection slide glass

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5926027A (en) Apparatus and method for testing a device
JP2007225599A (en) Test contact system for testing integrated circuit with package having array of signal and power contact
JP3558298B2 (en) Electrode assembly, IC socket, IC tester, and method of manufacturing electrode assembly
JPH0868829A (en) Connecting device
JP4765508B2 (en) Measuring jig for high frequency devices
JP2585597B2 (en) Circuit board inspection equipment
JPH0566243A (en) Jig for lsi evaluation
JPH10185951A (en) Contact probe, probe device having the same and manufacture of contact probe
JPH05218149A (en) Probe device
JPH11108954A (en) Contact probe
JPH09199552A (en) Measuring prober for circuit element with contact part of fine structure
JPH10221370A (en) Contact probe and its manufacture, and probe apparatus having contact probe
KR100246320B1 (en) Probe card for testing wafer
JP3815165B2 (en) Electronic component measuring device
JP2000346877A (en) Contact probe and its manufacture, and probe device using the contact probe, and its manufacture
JPH06109762A (en) Manufacture of continuity contact terminal
JPH0617082Y2 (en) Contact pin rotation prevention structure in the contact probe unit
JPH0745021Y2 (en) Contact structure of probe
JP2001330625A (en) Contact probe, probe apparatus equipped therewith, and method for manufacturing contact probe
JPH0219745Y2 (en)
JP3005496U (en) Electrical property inspection probe
JPH01254872A (en) Method and probe for inspecting board mounted with electronic parts
JPH0534573U (en) Unit for characteristic inspection of surface mount components
JP2001196721A (en) Method and apparatus for measuring strain in substrate
JPH08254569A (en) Inspection jig for electronic board