JPH0855565A - 量子細線電子線源 - Google Patents

量子細線電子線源

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JPH0855565A
JPH0855565A JP18923694A JP18923694A JPH0855565A JP H0855565 A JPH0855565 A JP H0855565A JP 18923694 A JP18923694 A JP 18923694A JP 18923694 A JP18923694 A JP 18923694A JP H0855565 A JPH0855565 A JP H0855565A
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JP
Japan
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beam source
electron
electron beam
current
quantum
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Pending
Application number
JP18923694A
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English (en)
Inventor
Masakuni Okamoto
政邦 岡本
Hiroyuki Shinada
博之 品田
Taku Oshima
卓 大嶋
Hidetoshi Nishiyama
英利 西山
Kozo Katayama
弘造 片山
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【目的】電流−電圧特性の直線性の極めて高い電子線源
を提供する。 【構成】導電体の針11の表面に、順に、酸化薄膜1
2,量子細線13,ゲート電極14および負電子親和力
膜15を備える。 【効果】電流−電圧特性の直線性の極めて高い電子線源
が得られ、高性能の信号増幅装置,高分解能の顕微鏡や
高分解能の電子分光装置,電子線回折装置を形成するこ
とができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は信号増幅装置,電子顕微
鏡,電子分光装置,電子回折装置、等に用いられる電子
線源に関する。
【0002】
【従来の技術】電界放出型の電子線源あるいは微少真空
管の製造方法とその構造が特表平2−507579号公報に示
されている。また、半導体中の量子細線の基礎実験は、
フィジカル・レビュー・レター第60巻(1988年)
848ページに報告されている。さらに、負電子親和力
構造に関しては、特開平5−128999 号公報に詳しく開示
されている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】従来の電界放出型の電
子線源あるいは微少真空管は、いずれも、トンネル放出
により直接に電流を得ていたため、電流はゲート電圧に
対して指数関数的に変化していた。ゆえに、従来の電子
線源を電流増幅素子として用いる場合、入力に対して出
力の信号が歪むという欠点があった。
【0004】また、このような電子線源を長時間使用し
た場合、電子線源先端部分の形状変化のため、ビルドア
ップとよばれる急激に電流が増加する現象がみられ、電
流安定性が悪くなるという欠点もあった。
【0005】これらは、固体から電子を放出させるため
に、印加電場で真空のポテンシャルエネルギを下げるこ
とにより得られるトンネル放出過程を用いていたことが
主な原因であり、この原理を用いる限り避けられない問
題であった。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明は、図1(a),
(b)に示されるように、通常の電子線源の先端部分1
1に、絶縁体膜12を介して量子細線13と負電子親和
力構造15を順に形成し、伝導体14を設け、量子細線
電子線源を構成することにより、電流−電圧特性の直線
性の極めて高い電子線源を得る。
【0007】
【作用】まず、量子細線構造によれば、一般に電流−電
圧特性の直線性が極めて高くなることを説明する。ここ
で、電流とは放出電子による電流であり、また、電圧と
は電子線源先端部11と伝導体14の間に印加された電
圧のことである。
【0008】以下で議論する電流−電圧特性の直線性は
電子線源の材質,種類等には依らないので、ここでは電
子線源として半導体によるものを考える。この場合、図
1の構造の量子細線では、電子放出方向(z方向とす
る)のエネルギは典型的に図2のようになる。電圧VG
の大きさにより、VG=0の場合を図2(a)に、ま
た、VG>0の場合を図2(b)に示した。
【0009】領域13は量子細線である。この部分の特
徴は、z方向に垂直な方向(x,y方向とする)のサイ
ズが5nm〜100nm程度、すなわち、電子のド・ブ
ロイ波長程度に短く設計されているため電子の定在波が
たち、結果的に量子準位が形成されることである。この
量子準位はx方向とy方向の二方向に対して形成され、
z方向に対しては電子は束縛されず自由平面波状態とな
る。ゆえに一電子のエネルギE(nx,ny,kz)はx
方向の量子数nxとy方向の量子数ny、及びz方向の
波数kzを用いて、数1と書ける。
【0010】
【数1】
【0011】z方向には自由粒子となるため、エネルギ
Ezは波数kzの二次関数となる。このような量子細線
に電圧VGを印加すると図2(b)のようにxおよびy
方向に形成された量子準位ne=1,ne=2、等(エ
ネルギをE(ne)とする)は電子線源先端部のエネルギ
と比較して印加電圧VGに比例して相対的にずれる。そ
の結果、z方向に放出される電流が変化する。
【0012】量子細線の電子の出口には図1に示してあ
るように負電子親和力構造を設けてあるので、図2の対
応した部分からも判るようにエネルギ障壁が無くなり、
電子はz方向に容易に放出される。ゆえに、電子放出に
よる電流は、量子細線の電子構造を反映したものとな
る。エネルギ構造は数1で定義されるものである。ゆえ
に量子準位neからの放出電流I(ne,VG)は、数2
となる。
【0013】
【数2】
【0014】ただし、I(ne,VG)が負になる場合は
電流が流れないのでI(ne,VG)=0とする。また、
EFは電子線源先端部のフェルミエネルギである。
【0015】全ての量子準位neからの電流の寄与I
(VG)は、これら(ne)の和であり、数3となる。
【0016】
【数3】
【0017】数3の電流−電圧特性は、図3(a)に示
したような折れ線となる。図の中で、折れ曲がりの電圧
V1,V2,V3は量子準位のエネルギE(1),E
(2),E(3)を用いて、数4乃至数6で与えられる。
【0018】
【数4】
【0019】
【数5】
【0020】
【数6】
【0021】電流を電圧で微分したコンダクタンスG
(VG)は、数7となり、電圧特性は図3(b)に示した
ように階段状になる。
【0022】
【数7】
【0023】ここで、関数θ(x)は、x<0のとき0,
x>0のとき1となるヘビサイド関数である。
【0024】本発明による量子細線電子線源において電
流−電圧特性の直線性が良いという理由は、図3(a)
の折れ線特性のことを指している。すなわち、図3
(a)において、例えば、数8の、電流が直線的となる
電圧領域で、電圧VGに信号を乗せれば、出力として歪
みの無い放出電流を得ることができる。また、この電圧
領域と同様に電流が直線的となる電圧領域でも同じ効果
がある。このように、電子線源先端部に量子細線構造を
設けることにより、入力ゲート電圧VGに対して、線型
に変化するような出力の電流を得ることができる。
【0025】
【数8】
【0026】次に、ビルドアップという現象と、それが
本発明による量子細線電子線源により回避できることを
説明する。電子線源を長時間使用した場合、電子線源の
先端部分が加熱されて形状変化する。その表面変化のた
め、電子の放出状態が変化する。トンネル放出過程によ
り電子放出が行われているような従来の電子線源の場
合、放出電流は印加電圧に対して指数関数的に変化す
る。
【0027】表面形状が変化すると表面付近の電場が変
化するが、その結果、放出電流は電場の変化に対して指
数関数的に敏感に変化していた。この現象がビルドアッ
プである。本発明による電子線源では、出力電流Jはゲ
ート電圧VGにより制御され、その変化は一次関数的で
あるので、表面変化に対して出力電流の変化は鈍感とな
りビルドアップが抑えられる。
【0028】この手段を採ることにより、電流−電圧特
性の直線性の極めて高い電子線源を得る。その結果、本
電子線源を微少真空管として電流増幅に用いる場合、入
力信号に対して歪みの全く無い出力信号を得ることがで
きる。具体的には、負荷抵抗をRとする場合、入力電圧
VGに対して、出力電圧Voutは、数9となる。
【0029】
【数9】
【0030】また、電子顕微鏡,電子分光装置,電子回
折装置、等に用いる場合、電流の急激な変動が起こらな
いので、電流安定性の極めて高い電子線源を得ることが
できる。
【0031】
【実施例】図4に、本発明の実施例の一つを示す。Ga
As(111)面基板41上にMBE法によって12nmの
AlGaAs膜42を単結晶成長させた(a)。次に、
20nmのGaAs膜43を同様の方法で単結晶成長さ
せた(b)。その上に、200nmのSiO2 層をCV
D法により堆積し、その表面の所望の領域に直径100
μm程度のフォトレジスト膜を形成した。そのフォトレ
ジスト膜をマスクとしてHF−NH4OF 混合水溶液に
よりSiO2 層をエッチングした。
【0032】このようにして成形されたSiO2 層をマ
スクとして60℃に保ったH2SO4−H22混合水溶液
でGaAs膜43をエッチングした(c)。この時、細
い部分の幅を20nmとなるようにした。その上から、
MBE法によりAlGaAs膜44を単結晶成長させた
(d)。
【0033】次に伝導領域45を局所的に作るため、S
iをイオン打ち込みと活性化アニールによりドープし
た。次に、Al蒸着を行い、フォトマスクを用いてCC
4 プラズマによりエッチングし、電極46と電極47
を形成した(e)。最後に、蒸着によりCs膜、および
CVD法によりCs2O 膜を所望の領域48に順に形成
し、(f)に示した量子細線電子線源を得た。ただし、
ここではGaAs膜43から形成される量子細線部分の
サイズを、50nm×50nmとした。
【0034】本電子線源に、電極46とゲート電極47
との間に電圧VGを印加することにより、図3に示した
電流電圧特性を得た。折れ曲がり電圧は、順に、V1=
0.112V,V2=0.280V,V3=0.504V
であった。対応した電流値は、I1=13.0μA,I
2=30.4μAであった。例えば、V2<VG<V3
の電圧領域で動作させることにより電圧に比例して出力
電流を制御することができた。また、図3中の別の線型
領域を用いても同様の効果が認められた。
【0035】本系の負荷抵抗値(数7)はR=1MΩと
したが、その結果、ゲート電圧値V2,V3に対応した
出力電圧は順に、13.0V,30.4VとなりV2<V
G<V3の電圧領域で約77倍の電圧増幅率を得た。な
お、本系では、電子注入部43にポテンシャル障壁12
が存在しないのでビルドアップによる電圧変動は存在し
なかった。
【0036】
【発明の効果】本発明による電子線源は、化合物半導体
基板上に化合物半導体ヘテロ構造を用いた量子細線構造
を有し、量子細線構造中の量子準位からみて電子親和力
を負にするためのCs層及びCs2O 層とを備えた陰極
部分を含む。この構成を採ることにより、印加電圧に比
例した電流を得ることができるので、歪みの無い信号増
幅装置の基本素子として用いることができる。また、電
流変動が小さく抑えられるので、電子顕微鏡,電子分光
装置,電子回折装置、等への適用が期待できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の原理を説明するための電子線源素子の
説明図。
【図2】図1の電子放出方向のエネルギバンドダイヤグ
ラム。
【図3】図1の電子線源の電流−電圧特性図。
【図4】本発明の一実施例の電子線源の作製工程の説明
図。
【符号の説明】
11…電子線源先端部、12…絶縁体、13…量子細線
本体、14…伝導体、15…負電子親和力構造、16…
放出電子。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 西山 英利 東京都国分寺市東恋ケ窪1丁目280番地 株式会社日立製作所中央研究所内 (72)発明者 片山 弘造 東京都国分寺市東恋ケ窪1丁目280番地 株式会社日立製作所中央研究所内

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】電子線源の電子放出方向に、順に、幅が伝
    導電子のド・ブロイ波長程度である量子細線構造,前記
    伝導電子の量子準位からみて電子親和力を負にするため
    の層構造を有し、さらに前記量子細線構造から絶縁膜を
    介して量子細線のエネルギを制御するためのゲート電極
    を有することを特徴とする量子細線電子線源。
  2. 【請求項2】請求項1において、前記電子線源および前
    記量子細線は化合物半導体であり、エピタキシャル成長
    により作製する量子細線電子線源。
JP18923694A 1994-08-11 1994-08-11 量子細線電子線源 Pending JPH0855565A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006093141A (ja) * 2004-09-24 2006-04-06 Fei Co 電子源及びその電子源を有する荷電粒子装置

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2006093141A (ja) * 2004-09-24 2006-04-06 Fei Co 電子源及びその電子源を有する荷電粒子装置

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