JPH0850059A - 赤外線検出装置 - Google Patents

赤外線検出装置

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JPH0850059A
JPH0850059A JP6201521A JP20152194A JPH0850059A JP H0850059 A JPH0850059 A JP H0850059A JP 6201521 A JP6201521 A JP 6201521A JP 20152194 A JP20152194 A JP 20152194A JP H0850059 A JPH0850059 A JP H0850059A
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Keiichi Akagawa
圭一 赤川
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 温度検出回路と赤外線検出回路とを同時に動
作させても温度検出回路のグランド電圧が変動せず、正
確に半導体基板の温度を検出することができる赤外線検
出装置を得る。 【構成】 赤外線を検出する赤外線装置であって、内部
に赤外線検出素子を収納するパッケージと、パッケージ
の内部温度を調節する温度調節手段と、赤外線を受光す
る赤外線検出回路と赤外線検出素子の温度を検出する温
度検出回路とを有する赤外線検出素子とを備え、前記赤
外線検出素子が、温度検出回路のグランド構造と赤外線
検出回路のグランド構造とを電気的に分離する構造を持
つ。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、赤外線検出装置に関
し、特に、冷却などの温度調節を行う必要のある赤外線
検出装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来の赤外線検出装置の全体構成の概略
を図7に示す。図7において、赤外線を検出する赤外線
センサと基板の温度を検出する温度センサとを備えた赤
外線検出素子71は、セラミック製のパッケージ73の
内部に受光面側が被測定物に対するように設けられてい
る。
【0003】このパッケージ73には、コールドヘッド
74が接続されており、更に、コールドヘッド74は、
冷却装置75と接続されているため、冷却装置75によ
りコールドヘッド74が冷却されると、パッケージ73
もまた冷却される。
【0004】更に、このパッケージ73には、赤外線検
出素子71を作動させる電源や駆動パルスなどを出力す
る駆動部76と、赤外線検出素子71内の赤外線センサ
から出力された情報を処理する信号処理部77と、赤外
線検出素子71内に組み込まれている温度センサからの
出力により温度を検出する温度検出部78とが接続され
ている。
【0005】駆動部76により駆動された赤外線検出素
子71は、入射した赤外線IRを赤外線センサにより検
出して信号処理部77に検出情報として出力している
が、基板の温度変化を温度情報として温度検出部78に
出力することができるように同一基板上に温度センサも
また設けられている。
【0006】温度検出部78は、入力された温度情報を
演算して、演算結果を冷却装置75に伝えている。冷却
装置75は、入力された情報に基づいて、コールドヘッ
ド74を冷却し、その結果パッケージ内の赤外線検出素
子71が冷却される。
【0007】ここで、このような赤外線検出装置に用い
られる従来の赤外線検出素子71の概略構成の断面図を
図8に示す。図8は、P型の半導体基板80に赤外線セ
ンサと温度センサとを設けた場合の一構成例である。
【0008】図8において、赤外線センサの主要部であ
る光電変換部84は、P型半導体基板80上の高濃度P
型拡散層82により区切られた領域内に設けられてお
り、光電変換部84の受光領域で受光された赤外線IR
は光電変換されてMOSトランジスタ83に伝送され
る。
【0009】光電変換部84からMOSトランジスタ8
3に伝送された情報は、出力端子87、88から外部の
赤外線検出部(図示せず)に出力される。更に、半導体
基板80には、半導体基板80をグランド電位にするグ
ランド端子86が設けられており、このグランド端子8
6がグランド電極と接続して基板をグランド電位として
いる。
【0010】また、赤外線センサが設けられた半導体基
板80と同じ半導体基板80上に、温度モニターダイオ
ード85が設けられている。この温度モニターダイオー
ド85は、検出した情報を出力するための出力端子89
と半導体基板80のグランドと同じグランドを取るため
のグランド端子90とを有している。
【0011】温度モニターダイオード85の出力端子8
9とグランド端子90との間にはPN接合が順方向とな
る1μA程度の定電流源が接続され、出力端子89が温
度変化に伴って変化する電圧情報を温度検出部(図示せ
ず)に出力している。
【0012】このように、温度変化に応じて端子の電圧
が変化することを利用し、グランド電位に対する出力端
子の電圧変化量を温度変化量に変換して半導体基板の温
度を計測している。
【0013】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前述し
たような赤外線検出装置において、赤外線センサと温度
センサとを同時に作動させると、赤外線センサのグラン
ド電圧が変化していないにもかかわらず、温度センサの
グランド電圧が変化してしまうという問題が起こった。
【0014】例えば、77Kで用いるPtSi赤外線セ
ンサの場合、温度センサに1μAの定電流源を接続する
と、温度センサのグランド電圧に対して出力端子の電圧
は、−1.006V程度になる。
【0015】この出力端子の電圧は、温度が1K変化す
るにつき2.3mVずつ変化するため、言い換えると、
温度が1K上昇すると出力端子の電圧は、2.3mV減
少し、逆に温度が1K下降すると出力端子の電圧は、
2.3mV増加するため、出力端子の電圧とグランド電
圧との差を求めこれを2.3mVで割ることにより上昇
した温度を算出することができる。
【0016】しかし、温度センサと赤外線センサとを同
時に動作させると、半導体基板の温度が変化していない
にもかかわらず、温度センサの出力端子の電圧は、−
1.006Vから−0.9V程度まで変動してしまう。
そのため、赤外線を検出しながら同時に正確な半導体基
板の温度が計測できず、半導体基板の温度を正確に検出
するには、一旦赤外線検出動作を停止してから半導体基
板の温度を検出するという手順を取らねばならない。
【0017】即ち、温度を検出するために一旦赤外線検
出動作を停止しなければならないので連続的な赤外線の
検出を行うことができないだけでなく、手間もかかり、
実際の半導体基板の温度がリアルタイムで計測出来ない
ので、半導体基板が赤外線を吸収して温度が上昇した場
合に、その上昇度合いに合わせた温度調節ができないと
いう難点があった。
【0018】そこで本発明は、温度検出回路と赤外線検
出回路とを同時に動作させても温度検出回路の出力端子
の電圧が変動せず、正確に半導体基板の温度を検出する
ことができる赤外線検出装置を得ることを目的とする。
また、連続的に赤外線を検出できる赤外線検出装置を得
ることを目的とする。
【0019】更に、赤外線の吸収に伴って半導体基板の
温度が上昇しても、その上昇度合いに合わせて半導体基
板の温度が一定となるように温度調節ができる赤外線検
出装置を得ることを目的とする。
【0020】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成すべく、
本発明の請求項1に係る発明では、被測定物からの赤外
線を検出する赤外線検出回路と該赤外線検出回路の温度
を電圧値として検出する温度検出回路とを備えた赤外線
検出素子と、前記赤外線検出素子を内部に収納するパッ
ケージ手段と、前記パッケージ手段の内部温度を調節す
る温度調節手段とを備え、前記赤外線検出素子の前記赤
外線検出回路と前記温度検出回路との各グランド構造が
互いに電気的に分離していることを特徴とする赤外線検
出装置を提案している。
【0021】また、請求項2の発明では、請求項1の赤
外線検出装置において、赤外線検出回路と温度検出回路
は、別々の半導体基板上に設けられているものを提案し
ている。
【0022】更に、請求項3の発明では、請求項1の赤
外線検出装置において、赤外線検出回路と温度検出回路
は、同一の半導体基板上に設けられ、温度検出回路は、
赤外線検出回路が設けられた拡散層と逆の導電型の拡散
層に設けられていることを特徴とするものを提案してい
る。
【0023】請求項4の発明では、請求項1〜3のいず
れかの赤外線検出装置において、温度検出回路からの検
出結果に基づいて温度調節手段を制御する温度制御手段
を更に備えたものを提案している。
【0024】また、請求項5の発明では、請求項1〜4
のいずれかの赤外線検出装置において、赤外線検出素子
は、赤外線検出回路から出力された電圧差を電流値とし
て出力する電流変換回路を更に備えたものを提案してい
る。
【0025】更に、請求項6の発明では、請求項1〜4
のいずれかの赤外線検出装置において、赤外線検出回路
から出力された電圧変化量を電流値に変換する電流変換
手段を更に備えたものを提案している。
【0026】
【作用】まず、温度検出回路と赤外線検出回路とを同時
に動作させた場合に温度検出回路の出力端子の電圧が変
動する原因を調べたところ、温度検出回路と赤外線検出
回路とが電気的に接続しているためであることが解っ
た。
【0027】つまり、実際のグランド電位は、理想的な
一定値ではなく基板の抵抗等の影響で変動している値で
あるが、赤外線検出回路が動作するとある程度のノイズ
が発生し、その影響でグランド電位が更に変動するた
め、温度検出回路は変動したグランド電位を基準として
温度を検知することになるからである。
【0028】そのため、請求項1の本発明においては、
温度検出回路と赤外線検出回路とを電気的に分離するこ
とにより、それぞれのグランド電位を変動させない構成
としている。言い換えると、赤外線検出回路と温度検出
回路が別々のグランド電位を取るように構成しているた
め、赤外線検出回路の動作によって温度検出回路のグラ
ンド電位が変動する事がない。従って、常に正確な赤外
線検出は勿論、半導体基板の温度を正確に検知すること
ができる。
【0029】また、赤外線の検出に伴って半導体基板の
温度が上昇した際にもリアルタイムで半導体基板の温度
を検知し、検知した温度の変動に合わせて温度調節手段
の出力を変え、赤外線検出素子の環境を常に一定とする
ことができるので、連続的な赤外線の正確な検出が可能
となる。
【0030】この温度調節手段は、赤外線検出素子の温
度を常に一定とするために赤外線検出素子を収納してい
るパッケージ手段の温度を変えるものであるが、一般
に、赤外線検出素子が赤外線を吸収すると素子の温度が
上昇するので、この温度調節手段は、特別な場合(例え
ば、予め定めたパッケージ手段の内部の温度が外気より
も非常に高い場合等)を除いては、冷却装置などの冷却
手段と考えて良い。
【0031】ここで、請求項2の発明では、前記赤外線
検出回路と前記温度検出回路とを異なる基板上に設ける
ことで物理的に分離したものを挙げている。即ち、パッ
ケージ手段の内部の半導体基板が設けられる位置に、赤
外線検出回路を備えた半導体基板と温度検出回路を備え
た半導体基板とを配置することで赤外線検出素子の赤外
線検出回路と温度検出回路とが熱的には分離せず、電気
的には各グランド構造を互いに分離する構成のものを提
案している。
【0032】即ち、温度検出回路を赤外線検出回路とは
別の基板上に設けることによって温度検出回路が赤外線
検出回路とは別のグランド電位を基準に取るので電気的
に分離され、赤外線検出回路を動作した時に赤外線検出
回路のグランド電位が変動しても、温度検出回路に対し
ては何ら悪影響を及ぼすことがない。
【0033】また、この構成は、赤外線検出素子を構成
する赤外線検出回路と温度検出回路とを別々の半導体基
板上に製造すれば良いだけであるので、簡単な製造工程
で従来のものよりも精度が向上した赤外線検出装置を得
ることができる。
【0034】また、請求項3の発明では、赤外線検出回
路と温度検出回路とを同一の半導体基板上に設けたもの
を挙げている。この発明においては、赤外線検出回路を
設ける拡散層と温度検出回路を設ける拡散層とを、互い
に逆の導電型とすることによって、赤外線検出素子の赤
外線検出回路と温度検出回路とが熱的には分離せず、電
気的には各グランド構造を互いに分離する別の構成のも
のを提案している。
【0035】この構成であると、パッケージ手段の内部
の半導体基板が設けられる位置に、一個の半導体基板を
配置するだけであるので、先に述べた別々の半導体基板
を配置した時よりも装置の組立が簡単で小型な赤外線検
出装置を得ることができる。
【0036】従って、先に述べた別々の半導体基板を配
置した時よりも小型な赤外線検出装置を得ることができ
ると共に、赤外線検出回路と温度検出回路とが同一基板
上に設けられているため、赤外線の受光に伴って上昇し
た温度をより正確に測ることができる。
【0037】更に、赤外線の検出に伴って半導体基板の
温度が上昇した際にもリアルタイムで半導体基板の温度
を検知し、例えば、基板の温度が連続的な赤外線の受光
に伴って上昇した場合に、その上昇度合いに合わせてパ
ッケージ手段を冷却する等のように、検知した温度の変
動に合わせて温度調節手段の出力を変え、赤外線検出素
子の環境を常に一定とすることができるので、連続的な
赤外線の正確な検出が可能となる。
【0038】請求項4の発明では、請求項1から請求項
3のいずれかの赤外線検出装置において、更に温度制御
手段を設けた赤外線検出装置を提案しており、この温度
制御手段は、温度検出回路により連続的に入力された電
圧情報を基に、温度調節手段が出力すべき値を演算し、
この演算結果を温度調節手段に出力しているため、赤外
線検出素子の環境を自動的に一定とすることが可能であ
る。
【0039】即ち、赤外線検出回路の受光領域に入力し
た赤外線は、ここで光電変換されて、信号処理手段に出
力されるが、この時に発生した熱が半導体基板の温度を
上昇させている。半導体基板の温度は、温度検出回路に
より常に検知されているので、この温度変化は直ちに温
度制御手段に出力される。
【0040】温度制御手段は、入力された電圧情報をも
とに温度調節手段の出力制御情報を演算し、この演算結
果を温度調節手段に出力している。温度調節手段は、入
力された制御情報に基づいてパッケージ手段の温度を調
節しているので、結果として、基板の温度変化量に対応
して連続的に赤外線検出素子の基板の温度を調節してい
る。
【0041】更に、請求項5の発明では、請求項1〜4
のいずれかの赤外線検出装置において、赤外線検出回路
から出力された電圧情報を電流情報として出力する電流
変換回路を赤外線検出素子に備えたものを提案してい
る。
【0042】一般に、電圧は抵抗の影響により変動しや
すく、この変動した電圧情報を検出するとノイズが加わ
った不正確な値となってしまうので、得られた情報を電
圧出力として取り出す電圧型の赤外線検出装置よりも電
流出力として取り出す電流型の赤外線検出装置の方がノ
イズの影響が少なく、精度がよい。
【0043】即ち、請求項5の発明においては、温度検
出回路が半導体基板の温度の影響により変化する電圧情
報を温度情報として出力しているが、上述したように電
圧はノイズの影響を受けやすいため、得られた電圧情報
は、すぐに電流変換回路に入力される。電流変換回路
は、入力された電圧情報を電流情報に変換する回路であ
り、ここで電流情報に変換された温度情報は、温度制御
手段又は温度調節手段に出力される。
【0044】電流変換回路が温度制御手段に出力する場
合は、温度制御手段が、入力された電流情報をもとに温
度調節手段の出力制御情報を演算し、この演算結果を温
度調節手段に出力する。温度調節手段は、入力された制
御情報に基づいてパッケージ手段の温度を調節している
ので、結果として、基板の温度変化量に対応して自動的
に赤外線検出素子の基板の温度を調節する。
【0045】また、電流変換回路が直接温度調節手段に
出力する場合は、温度調節手段が入力された電流情報に
基づいて自身の入出力状態を切り替えることにより赤外
線検出素子の基板の温度を調節する。
【0046】勿論、電流変換回路が一旦温度モニターな
どの使用者が観察できる観察手段に出力し、使用者が観
察手段を観察しながら温度調節手段の出力を調整するよ
うな構成としても構わない。
【0047】このように、温度検出回路により出力され
た情報を電流情報に変換する電流変換回路を赤外線検出
素子に形成させることで、ノイズの影響を少なくし、精
度の良い赤外線検出装置とすることができる。更に、電
流情報を用いているため、温度制御手段又は温度調節手
段の配置位置がパッケージ手段の近辺に限定されないの
で、赤外線検出装置の設計の自由度が広がる。
【0048】勿論、電流変換回路は、赤外線検出回路と
温度検出回路と電気的に分離された同一基板上に設けて
も良いし、別の基板上に設けてもよい。また、赤外線検
出回路と温度検出回路とを物理的に分離し温度検出回路
と電流変換回路のみを同一の基板上に設けても良いし、
赤外線検出回路と温度検出回路とを電気的に分離した同
一基板に設け電流変換回路のみを別の基板に設ける構成
でもよく、特に限定はしない。
【0049】また、請求項6の発明では、請求項1〜4
のいずれかの赤外線検出装置において、赤外線検出回路
から出力された電圧情報を電流情報に変換するための別
の構成としてパッケージ手段の外部に電流変換手段を備
えたものを提案している。
【0050】赤外線検出回路の受光領域で受光された赤
外線は、ここで光電変換されて、信号処理手段に出力さ
れるが、この時に発生した熱が半導体基板の温度を上昇
させている。半導体基板の温度は、温度検出回路により
常に検知されているので、この温度変化は直ちにパッケ
ージ手段の外部に設けられた電流変換手段に出力され
る。
【0051】この電流変換手段は、入力された電圧情報
を電流情報に変換するものであり、ここで電流情報に変
換された温度情報は、温度制御手段又は温度調節手段に
出力される。電流変換手段が温度制御手段に出力する場
合は、温度制御手段が、入力された電流情報をもとに温
度調節手段の出力制御情報を演算し、この演算結果を温
度調節手段に出力する。
【0052】温度調節手段は、入力された制御情報に基
づいてパッケージ手段の温度を調節しているので結果と
して、基板の温度変化量に対応して連続的に赤外線検出
素子の基板の温度を調節する。
【0053】また、電流変換手段が直接温度調節手段に
出力する場合は、温度調節手段が入力された電流情報に
基づいて自身の入出力状態を切り替えることにより赤外
線検出素子の基板の温度を調節する。
【0054】勿論、電流変換手段が一旦温度モニターな
どの使用者が観察できる観察手段に出力し、使用者が観
察手段を観察しながら温度調節手段の出力を調整するよ
うな構成としても構わない。
【0055】このように、請求項6の発明では、温度検
出回路により出力された情報を電流情報に変換する電流
変換手段を、上述した電圧出力型の赤外線検出装置(請
求項1〜4の本発明の赤外線検出装置)の一部に設ける
ことで、赤外線検出素子の製造工程及び設計に変更を与
えずに、ノイズの影響が少ない、精度の良い赤外線検出
装置を簡単に構成させることができる。
【0056】また、電流変換手段をパッケージ手段近傍
に設けると、パッケージ手段から電流変換手段へまでの
伝達距離が短くなるので抵抗などによる影響が少なく好
ましい。
【0057】
【実施例】図1は、本発明の赤外線検出装置の第一実施
例を示す概略構成図である。赤外線を検出する赤外線検
出回路である赤外センサを備えたセンサ基板1と、温度
を検出する温度検出回路である温度モニターダイオード
を備えた温度基板2とが、パッケージ手段であるセラミ
ック製のパッケージ3の内部に収納されている。
【0058】このパッケージ3には、センサ基板1を駆
動させる駆動部6と、センサ基板1からの検出信号を処
理する信号処理部7と、温度基板2からの温度信号を処
理する温度制御手段である温度制御部8とがワイヤボン
ディング法によってセンサ基板1又は温度基板2と接続
されている。
【0059】駆動部6は、電源や駆動パルスなどを赤外
センサに入力するもので、この駆動部6により駆動され
た赤外線センサから出力された検出信号は、信号処理部
7に入力され、ここで信号処理されて赤外線信号として
検出されている。
【0060】更に、パッケージ3の温度を調節するため
に、コールドヘッド4がパッケージ3に密着固定されて
いる。このコールドヘッド4は、温度調節手段である冷
却装置5により冷却されており、この冷却装置5は、後
述する温度制御部8からの出力に基づいて、コールドヘ
ッド4を冷却している。
【0061】また、赤外センサと同時に作動している温
度モニターダイオードは、検出した電圧情報を温度制御
部8に出力している。この温度制御部8は、入力された
電圧情報を基に演算を行いこの演算結果に基づいて冷却
装置5の出力を調整しているので、結果としてセンサ基
板1の温度の上昇度合いに合わせてパッケージ3を冷却
している。
【0062】即ち、赤外センサの受光領域に入射した赤
外線は、ここで光電変換されて検出信号として信号処理
部7に入力され、信号処理部7により赤外線情報として
検出される。この時、赤外線の受光に伴って熱が発生
し、センサ基板1の温度が上昇する。
【0063】パッケージ3には、温度モニターダイオー
ドを備えた温度基板2もまた設けられており、これは、
赤外線センサと熱的には分離していないので、センサ基
板1の温度が上昇すると温度基板2の温度も同様に上昇
する。
【0064】赤外線の吸収に伴って上昇した基板温度
は、温度モニターダイオードにより温度モニターダイオ
ードのグランド電圧に対する出力端子の電圧として温度
制御部8に出力され、温度制御部8により冷却装置5の
出力調節量として演算されて、冷却装置5に入力されて
いる。
【0065】例えば、77Kで用いるPtSi赤外線セ
ンサの場合、温度モニターダイオードに1μAの定電流
源を接続すると、温度モニターダイオードのグランド電
圧に対して出力端子の電圧は、−1.006V程度にな
る。
【0066】この出力端子の電圧は、温度が1K変化す
るにつき2.3mVずつ変化する、言い換えると、温度
が1K上昇すると出力端子の電圧は、2.3mV減少
し、逆に温度が1K下降すると出力端子の電圧は、2.
3mV増加するため、温度制御部8は、温度モニターダ
イオードから入力された温度モニターダイオードのグラ
ンド電圧に対する出力端子の電圧を2.3mVで割るこ
とにより温度を算出し、算出された温度情報に対応する
冷却装置5の出力調節量として冷却装置5に出力してい
る。
【0067】ここで図2に、本第一実施例に用いる赤外
線検出素子の概略構成の断面図を示す。図2において、
赤外線センサの主要部である光電変換部14は、第一の
P型半導体基板10a上の高濃度P型拡散層12により
区切られた領域内に設けられており、受光領域で受光さ
れた赤外線IRはここで光電変換され、MOSトランジ
スタ13に伝送される。
【0068】MOSトランジスタ13には、出力端子1
7、18があり、光電変換部14からの伝送情報を赤外
線検出部(図示せず)に出力している。更に、第一のP
型半導体基板10aには、基板10aをグランド電位に
するグランド端子16が設けられている。
【0069】更に、基板の温度を検出するための温度モ
ニターダイオード15が、第二のP型半導体基板10b
に設けられている。この温度モニターダイオード15
は、検出した情報を出力するための出力端子19と、第
一のP型半導体基板10aとは別のグランド電位を取る
ためのグランド端子20とを有し、出力端子19とグラ
ンド端子20との間にはPN接合が順方向となる1μA
程度の定電流源(図示せず)が接続され、出力端子19
からの電圧を温度制御部(図示せず)に出力している。
【0070】この第一実施例では、赤外線センサ14と
温度モニターダイオード15とがそれぞれ異なる基板上
に設けられているので、互いに電気的に分離されてお
り、これによりそれぞれの作動による影響を防ぎ、赤外
線検出と温度検知とを同時に行うことを可能としてい
る。
【0071】本実施例に用いる赤外線センサとしては、
特に限定はしないが、例えば、ポイントセンサやライン
センサ、エリアセンサなどが挙げられる。また、このよ
うな赤外線センサの具体例として、PtSiやHgCd
TeやInSb等を光電変換物質としたものが挙げられ
る。
【0072】また、図3は本発明の第二実施例を示す説
明図であり、上述した図1と同様な構成の赤外線検出装
置に用いる赤外線検出素子の第二実施例の概略断面図で
ある。図3は、温度センサと温度モニターダイオードと
を電気的に分離して同一基板に設ける場合の一例を呈示
している。
【0073】図3において、赤外線センサの主要部であ
る光電変換部34は、P型半導体基板30a上の高濃度
P型拡散層32により区切られた領域内に設けられてお
り、受光領域で受光された赤外線IRはここで光電変換
され、MOSトランジスタ33に伝送される。
【0074】MOSトランジスタ33には、出力端子3
7、38があり、光電変換部34からの伝送情報を赤外
線検出部(図示せず)に出力している。更に、第一のP
型半導体基板30aには、基板30aをグランド電位に
するグランド端子36が設けられている。更に、基板の
温度を検出するための温度モニターダイオード35が、
P型半導体基板30aの一部に設けられたN型の低濃度
拡散層30b内に設けられている。
【0075】この温度モニターダイオード35は、検出
した情報を出力するための出力端子39と、グランド端
子20とを有し、出力端子39とグランド端子40との
間にはPN接合が順方向となるように1μA程度の定電
流源(図示せず)が接続されている。
【0076】更に、グランド端子40は、正の電圧、例
えば、+15Vと接続することで正の電位になる。この
場合も基板の温度は、温度モニターダイオード35のグ
ランド電位に対する出力端子39の電圧の変化量として
表され、これが温度情報として図示しない温度制御部8
に出力されている。
【0077】例えば、温度が77Kの時にグランド端子
40の電圧が15Vとなるように調節した場合に、出力
端子39に1μAの定電流源を接続すると、出力端子3
9の電圧は、16.006Vとなる。ここで、出力端子
39の電圧は、温度が1K変化するにつき2.3mVず
つ変化する、言い換えると、温度が1K上昇すると出力
端子の電圧は、2.3mV減少し、逆に温度が1K下降
すると出力端子の電圧は、2.3mV増加するので、出
力端子39の電圧は温度情報として置き換えることがで
きる。
【0078】この第二実施例では、赤外線センサ14と
温度モニターダイオード15とがそれぞれ同じ基板上に
設けられているが、それぞれ互いに逆の導電型の拡散層
内に設けられているため、電気的には分離している。
【0079】従って、赤外線検出素子の温度をより正確
に測ることができる。更に、連続的な赤外線の検出が可
能であり、半導体基板の温度をリアルタイムで検知する
ことができるので、基板の温度が連続的な赤外線の検出
に伴って上昇した場合に、その上昇度合いに合わせてパ
ッケージ手段を冷却する等、温度の変動に合わせて温度
調節手段の出力を変え、赤外線検出素子の環境を常に一
定とすることが可能である。
【0080】また、本実施例に用いる赤外線センサとし
ては、特に限定はしないが、例えば、ポイントセンサや
ラインセンサ、エリアセンサなどが挙げられる。また、
このような赤外線センサの具体例として、PtSiやH
gCdTeやInSb等を光電変換物質としたものが挙
げられる。
【0081】また、図4は、本発明の赤外線検出装置の
第三実施例を示す概略構成図であり、図5は、このよう
な赤外線検出装置に用いる赤外線検出素子の一例を示す
概略断面図である。
【0082】この第三実施例では、赤外線を検出する赤
外線検出回路である赤外線センサと、温度を検出する温
度検出回路である温度モニターダイオードと、温度モニ
ターダイオードからの圧力情報を電流情報に変換する電
流変換回路とを同一のSi基板に設けた赤外線検出素子
を用いた赤外線検出素子の一構成例を挙げている。
【0083】図4において、赤外線検出素子41は、パ
ッケージ手段であるセラミック製のパッケージ43の内
部に収納されている。このパッケージ43には、赤外線
センサを駆動させる駆動部46と、赤外線センサからの
検出信号を処理する信号処理部47と、電流変換回路か
らの電流信号を処理する温度制御手段である温度制御部
48とがワイヤボンディング法によって赤外線検出素子
41に接続されている。
【0084】駆動部46は、電源や駆動パルスなどを赤
外線センサに入力するもので、この駆動部46により駆
動された赤外線センサは、赤外線を受光し、受光した赤
外線を光電変換して赤外線情報として信号処理部47に
出力している。信号処理部47は、入力された赤外線情
報を信号処理して赤外線信号として検出している。
【0085】赤外線の受光に伴って熱が発生し、赤外線
検出素子41の温度が上昇するが、赤外線検出素子41
には、温度モニターダイオードもまた設けられており、
これは、基板の上昇に伴って変化した温度モニターダイ
オードのグランド電圧に対する出力端子の電圧を温度情
報として電流変換回路42に出力している。
【0086】電流変換回路42は、入力された電圧情報
を電流情報に変換し、温度制御部48に検出している。
温度制御部48は、入力された温度情報を冷却装置45
の出力調節量に演算して、その演算結果を冷却装置45
に出力している。冷却装置45は、温度制御部48から
の出力に基づいて、パッケージ43に密着固定されてい
るコールドヘッド44を冷却してパッケージ43内の温
度を変えている。
【0087】ここで、図5に、本第三実施例に用いる赤
外線検出素子の概略構成の断面図を示す。図5では、赤
外線センサ50a、温度モニターダイオード50bとが
同一のSi基板50上に設けられ、電流変換回路50c
のみが別の基板上に設けられている構成を挙げている。
【0088】赤外線センサ50aの主要部である光電変
換部54は、高濃度P型拡散層52により区切られた領
域内に設けられており、受光領域で受光された赤外線I
Rはここで光電変換され、MOSトランジスタ53に伝
送される。
【0089】MOSトランジスタ53には、出力端子5
7、58があり、光電変換部54からの伝送情報を赤外
線検出部(図示せず)に出力している。更に、赤外線セ
ンサ50aには、赤外線センサ50aをグランド電位に
するグランド端子56が設けられている。
【0090】温度モニターダイオード50bは、検出し
た情報を出力するための出力端子59と、赤外線センサ
50aとは別のグランド電位を取るためのグランド端子
60とを有し、出力端子59とグランド端子60との間
にはPN接合が順方向となるように1μA程度の定電流
源(図示せず)が接続されている。
【0091】更に、グランド端子60は、正の電圧、例
えば、+15Vと接続することで正の電位になる。この
場合も基板の温度は、温度モニターダイオード55のグ
ランド電位に対する出力端子59の電圧の変化量として
表され、これが電流変換回路50cに出力されている。
電流変換回路50cは、温度モニターダイオード55か
ら入力された電圧の変化量を電流値に変換して図示しな
い温度制御部に出力している。
【0092】この第三実施例では、赤外線センサ50a
と温度モニターダイオード50とが同一の基板上に設け
られ、電流変換回路50cのみが別の基板上に設けられ
ているものを挙げているが、勿論、これに限定せず、そ
れぞれを別々の基板上に設けてもよい。また、赤外線セ
ンサ50aと温度モニターダイオード50bとを別々の
基板に設け、温度モニターダイオード50bが設けられ
ている基板上に電流変換回路50cを設ける構成でも構
わない。
【0093】更に、本第三実施例に用いる赤外線センサ
としては、特に限定はしないが、例えば、ポイントセン
サやラインセンサ、エリアセンサなどが挙げられる。ま
た、このような赤外線センサの具体例として、PtSi
やHgCdTeやInSb等を光電変換物質としたもの
が挙げられる。
【0094】更に図6は、本発明の赤外線検出装置の第
四実施例を示す概略構成図である。この第四実施例で
は、先程第一実施例で述べたような、赤外線を検出する
赤外線検出回路である赤外線センサと、温度を検出する
温度検出回路である温度モニターダイオードとが別々の
基板に設けられている赤外線検出素子を用い、赤外線検
出素子からの電圧情報を電流に変換する電流変換部をパ
ッケージの外部に設けた場合の一構成例である。
【0095】図6において、赤外線を検出する赤外線検
出回路である赤外センサを備えたセンサ基板61と、温
度を検出する温度検出回路である温度モニターダイオー
ドを備えた温度基板62とが、パッケージ手段であるセ
ラミック製のパッケージ63の内部に収納されている。
【0096】このパッケージ63には、センサ基板61
を駆動させる駆動部66と、入力された電圧信号を電流
信号に変換する電流変換部69とが、ワイヤボンディン
グ法によってセンサ基板61及び温度基板62と接続さ
れている。
【0097】駆動部66は、電源や駆動パルスなどを赤
外センサに入力するもので、この駆動部66により駆動
された赤外線センサから出力された検出信号は、電流変
換部69を介して信号処理部67に入力され、ここで信
号処理されて赤外線信号として検出されている。
【0098】赤外線の受光に伴って熱が発生し、赤外線
検出素子61の温度が上昇するが、赤外線検出素子61
には、温度モニターダイオードもまた設けられており、
これは、基板の上昇に伴って変化した温度モニターダイ
オードのグランド電圧に対する出力端子の電圧を温度情
報としてパッケージ63の外部に設けられた電流変換部
69に出力している。
【0099】電流変換部69は、入力された電圧情報を
電流情報に変換し、温度制御部68に検出している。温
度制御部68は、入力された温度情報を冷却装置65の
出力調節量に演算して、その演算結果を冷却装置65に
出力している。
【0100】冷却装置65は、温度制御部68からの出
力に基づいて、パッケージ63に密着固定されているコ
ールドヘッド64を冷却し、パッケージ63内のの温度
を変えているので、結果としてセンサ基板61の温度の
上昇度合いに合わせてパッケージ63を冷却している。
【0101】この第四実施例では、赤外線を検出する赤
外線検出回路である赤外線センサと、温度を検出する温
度検出回路である温度モニターダイオードとが別々の基
板に設けられているものとしているが、勿論、これに限
定せず、赤外線センサと温度モニターダイオードとが同
一の基板に設けられているものを用いても構わない。
【0102】更に、本第四実施例に用いる赤外線センサ
としては、特に限定はしないが、例えば、ポイントセン
サやラインセンサ、エリアセンサなどが挙げられる。ま
た、このような赤外線センサの具体例として、PtSi
やHgCdTeやInSb等を光電変換物質としたもの
が挙げられる。
【0103】
【発明の効果】以上説明したように、本発明は、赤外線
検出回路の動作によって温度検出回路のグランド電位が
変動せず、常に正確な赤外線を検出すると共に、半導体
基板の温度を正確に検知する赤外線検出装置を得ること
ができる。
【0104】また、連続的な赤外線の検出ができ、赤外
線の連続的な検出に伴って半導体基板の温度が上昇した
際にもリアルタイムで半導体基板の温度を検知すること
ができるので、温度の変動に合わせて温度調節手段の出
力を変え、赤外線検出素子の環境を常に一定とすること
が可能な赤外線検出装置を得ることができる。
【0105】また、温度検出回路により出力された情報
を電流情報に変換する電流変換回路を赤外線検出素子内
に形成させることで、得られた温度情報に対してノイズ
の影響を少なくし、正確な赤外線素子の温度を検知して
それを温度制御手段に出力できるので、精度の良い赤外
線検出装置を得ることができる。
【0106】更に、温度検出回路により出力された情報
を電流情報に変換する電流変換手段を、電圧出力型の赤
外線検出装置の一部に設けることで、赤外線検出素子の
製造工程及び設計に変更を与えずに、ノイズの影響が少
ない、精度の良い赤外線検出装置を簡単に構成させるこ
とができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の赤外線検出装置の第一実施例の概略構
成図である。
【図2】第一実施例に用いる赤外線検出素子の概略構成
の断面図である。
【図3】本発明の赤外線検出装置の第二実施例に用いる
赤外線検出素子の概略構成を示す断面図である。
【図4】本発明の赤外線検出装置の第三実施例の概略構
成図である。
【図5】第三実施例に用いる赤外線検出素子の概略構成
の断面図である。
【図6】本発明の赤外線検出装置の第四実施例の概略構
成図である。
【図7】従来の赤外線検出装置の概略構成図である。
【図8】従来の赤外線検出装置に用いる赤外線検出素子
の概略構成を示す断面図である。
【符号の説明】
1、61 センサ基板 41、50a、71 赤外線検出素子 2、62 温度基板 3、43、63、73 パッケージ 4、44、64、74 コールドヘッド 5、45、65、75 冷却装置 6、46、66、76 駆動回路 7、47、67、77 信号処理回路 8、48、68、78 温度制御回路 10a 第一のP型半導体基板 10b 第二のP型半導体基板 12、32、52、82 高濃度P型拡散層 13、33、53、83 MOSトランジスタ 14、34、54、84 光電変換部 15、50b、85 温度モニターダイオード 16、20、36、40、56、60、86、90
グランド端子 17、18、19、37、38、39 出力端子 57、58、59、87、88、89 出力端子 30a、80 P型半導体基板 30b N型の低濃度拡散層 50 Si基板 42、50c 電流変換回路 69 電流変換部
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 H01L 23/58 31/10

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 被測定物からの赤外線を検出する赤外線
    検出回路と該赤外線検出回路の温度を電圧値として検出
    する温度検出回路とを備えた赤外線検出素子と、 前記赤外線検出素子を内部に収納するパッケージ手段
    と、 前記パッケージ手段の内部温度を調節する温度調節手段
    とを備え、 前記赤外線検出素子の前記赤外線検出回路と前記温度検
    出回路との各グランド構造が互いに電気的に分離してい
    ることを特徴とする赤外線検出装置。
  2. 【請求項2】 前記赤外線検出回路と前記温度検出回路
    は、別々の半導体基板上に設けられていることを特徴と
    する請求項1に記載の赤外線検出装置。
  3. 【請求項3】 前記赤外線検出回路と前記温度検出回路
    は、同一の半導体基板上に設けられ、 前記温度検出回路は、前記赤外線検出回路が設けられた
    拡散層と逆の導電型の拡散層に設けられていることを特
    徴とする請求項1に記載の赤外線検出装置。
  4. 【請求項4】 前記温度検出回路からの検出結果に基づ
    いて温度調節手段を制御する温度制御手段を更に備えた
    ことを特徴とする請求項1〜3のいずれかに記載の赤外
    線検出装置。
  5. 【請求項5】 前記赤外線検出素子は、前記赤外線検出
    回路から出力された電圧差を電流値として出力する電流
    変換回路を更に備えていることを特徴とする請求項1〜
    4のいずれかに記載の赤外線検出装置。
  6. 【請求項6】 前記赤外線検出回路から出力された電圧
    変化量を電流値に変換する電流変換手段を更に備えたこ
    とを特徴とする請求項1〜4のいずれかに記載の赤外線
    検出装置。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2494497C2 (ru) * 2011-07-21 2013-09-27 Виктор Николаевич Мурашев Моп диодная ячейка монолитного детектора излучений
RU2583955C1 (ru) * 2014-11-10 2016-05-10 Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Национальный исследовательский технологический университет "МИСиС" Емкостная моп диодная ячейка фотоприемника-детектора излучений

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008060868A (ja) * 2006-08-31 2008-03-13 Fujitsu Ltd 無線通信システム
JP2008109709A (ja) * 2007-12-28 2008-05-08 Nec Corp 移動通信システム
WO2009017168A1 (ja) * 2007-07-31 2009-02-05 Ntt Docomo, Inc. 移動通信システムにおける基地局装置及び方法
JP2009194901A (ja) * 2008-01-17 2009-08-27 Ntt Docomo Inc マルチキャリア無線通信システム、基地局、無線中継装置、移動局及びマルチキャリア無線通信方法
JP2009225137A (ja) * 2008-03-17 2009-10-01 Hitachi Ltd 無線通信システム、基地局およびデータ送信タイミング制御方法
WO2009134178A1 (en) * 2008-04-30 2009-11-05 Telefonaktiebolaget L M Ericsson (Publ) Self-backhauling in lte
WO2009150161A1 (en) * 2008-06-11 2009-12-17 Mitsubishi Electric R&D Centre Europe B.V. Method and a device for determining at least one terminal for which signals transferred between the at least one terminal and a base station of a wireless cellular telecommunication network have to be relayed by a relay

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008060868A (ja) * 2006-08-31 2008-03-13 Fujitsu Ltd 無線通信システム
WO2009017168A1 (ja) * 2007-07-31 2009-02-05 Ntt Docomo, Inc. 移動通信システムにおける基地局装置及び方法
JP2008109709A (ja) * 2007-12-28 2008-05-08 Nec Corp 移動通信システム
JP2009194901A (ja) * 2008-01-17 2009-08-27 Ntt Docomo Inc マルチキャリア無線通信システム、基地局、無線中継装置、移動局及びマルチキャリア無線通信方法
JP2009225137A (ja) * 2008-03-17 2009-10-01 Hitachi Ltd 無線通信システム、基地局およびデータ送信タイミング制御方法
WO2009134178A1 (en) * 2008-04-30 2009-11-05 Telefonaktiebolaget L M Ericsson (Publ) Self-backhauling in lte
WO2009150161A1 (en) * 2008-06-11 2009-12-17 Mitsubishi Electric R&D Centre Europe B.V. Method and a device for determining at least one terminal for which signals transferred between the at least one terminal and a base station of a wireless cellular telecommunication network have to be relayed by a relay
JP2011524138A (ja) * 2008-06-11 2011-08-25 ミツビシ・エレクトリック・アールアンドディー・センター・ヨーロッパ・ビーヴィ 中継器が少なくとも1つの端末と無線セルラー通信ネットワークの基地局との間で転送される信号を中継しなければならない該少なくとも1つの端末を決定するための方法及びデバイス

Non-Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
JPN5013003936; JUNGNICKEL V: 'IMPLEMENTATION CONCEPTS FOR DISTRIBUTED COOPERATIVE TRANSMISSION' PROCEEDINGS OF ASILOMAR CONFERENCE ON SIGNALS,SYSTEMS AND COMPUTERS , 20081026, P1035-1036, IEEE *
JPN6016037041; NTT DOCOMO, INC: 'Inter-cell Radio Resource Management for Heterogeneous Networks[online]' 3GPP TSG-RAN WG1#58 R1-093505 , 20090828 *

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2494497C2 (ru) * 2011-07-21 2013-09-27 Виктор Николаевич Мурашев Моп диодная ячейка монолитного детектора излучений
RU2583955C1 (ru) * 2014-11-10 2016-05-10 Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Национальный исследовательский технологический университет "МИСиС" Емкостная моп диодная ячейка фотоприемника-детектора излучений

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