JPH0843035A

JPH0843035A - 厚みセンサ

Info

Publication number: JPH0843035A
Application number: JP18313494A
Authority: JP
Inventors: Nobuyuki Baba; 信行馬場
Original assignee: Ricoh Co Ltd
Current assignee: Ricoh Co Ltd
Priority date: 1994-08-04
Filing date: 1994-08-04
Publication date: 1996-02-16

Abstract

(57)【要約】【目的】構造を簡略化し、光路長を短くし得る厚みセ
ンサを提供する。【構成】光源３と受光素子４との間に開口部５を有す
る枠状部材６を設け、測定物１の厚みに応じて光源３か
らの光路中に進出する可動体７を設け、この可動体７の
進出位置に対応する受光素子４の受光量の変化により測
定物１の厚みを検出する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、シート状の測定物の厚
みを光学的に測定する厚みセンサに関する。

【０００２】

【従来の技術】例えば、複写機、プリンタ、ファクシミ
リ等のＯＡ機器において扱う紙葉等のシート状の測定物
の厚みを測定する方法として、雑誌「センサ技術」（１
９９２年６月号Ｖｏｌ１２Ｎｏ．６）第８６頁ないし
第８９頁に、「レーザーアナログ変位センサによる自動
検出システムとその応用」なるタイトルをもって記載さ
れているように、物体に光を照射する半導体レーザー
と、物体からの反射光を受光する半導体位置検出素子
（ＰＳＤ−Ｐosition Ｓensitive Ｄevice）とを組み合
わせた検出器により、物体の位置、変位量等を検出する
方法が示されている。また、同様の検出器を搬送中の物
体の両側に配設することによりシート等の測定物の厚み
を検出する用途も示されている。

【０００３】また、本出願人より考えられているような
測定物の厚み検出する方法がある。以下、図９に基づい
て説明する。光源（半導体レーザー）１００と、コリメ
ータレンズ１０１と、固定回折格子１０２と、可動体１
０３に保持されて固定回折格子１０２とは僅かに格子の
空間周波数を変えた移動回折格子１０４と、３分割ＰＤ
（Ｐhoto Ｄiode）１０５とが光路中に設けられてい
る。また、シート状の測定物１０６の厚みに応じて支軸
１０７を中心に回動するアーム１０８により移動回折格
子１０４が支られている。

【０００４】このような構造においては、光源１００か
らの光を固定回折格子１０２に入射すると、固定回折格
子１０２の格子で±１次回折光が生じ、それが移動回折
格子１０４により回折されて元の方向に略戻り干渉す
る。このとき、少数の干渉縞が固定回折格子１０２と移
動回折格子１０４の格子の空間周波数の差に比例して発
生する。そして、この干渉縞は固定回折格子１０２と移
動回折格子１０４との相対運動に比例して動く。この原
理を利用して、測定物１０６の厚みに応じてアーム１０
８を回動させ、移動回折格子１０４を可動体１０３とと
もに移動させることにより測定物１０６の厚みが測定さ
れる。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】雑誌「センサ技術」に
記載されているように、物体に光を照射する半導体レー
ザーと、測定物からの反射光を受光する半導体位置検出
素子とよりなる一組の検出器により物体の位置、変位量
等を検出する方法は、シート状の測定物の厚みを検出す
ることも可能であるが、測定物が撓んでいるような場合
には、測定物の反射面の位置が変わるため、測定物の厚
みが変化していないにも拘らず変化したものとして誤認
してしまう。このような問題は、上記文献にも記載され
ているように、同様の検出器を搬送中の物体の両側に配
設することにより解決されるが、複数の検出器を測定物
の搬送路の両側に配設しなければならず構造が複雑化及
び大型化する。

【０００６】また、図９に示す構造は、測定物の厚みに
応じて動く干渉縞の通過本数をカウンタでカウントする
ことで、測定物の厚みをｎｍオーダの精度で測定するも
のであるが、シート状の測定物の厚みを測定する目的に
対しては感度が良すぎ、カウンタの動作が追随できずカ
ウントエラーになることがある。また、回折格子１０
２，１０４の位置調整も厳密さが要求されるため、工数
が増えコストが高くなる。さらに、二つの回折格子１０
２，１０４の０次光と±１次光とを明確に分けるため
は、回折格子１０２，１０４の間の間隔及び回折格子１
０４と３分割ＰＤ１０５との間隔を一定以上確保しなけ
ればならず光路長が長くなる。

【０００７】

【課題を解決するための手段】請求項１記載の発明は、
シート状の測定物が搬送される搬送路に略沿って光線を
出射する光源と、この光源に対向配置された受光素子
と、前記光源からの出射光の出射領域を定める開口部を
有して前記光源と前記受光素子との間に配設された枠状
部材と、この枠状部材と前記受光素子との間に配列され
て前記測定物の厚みに応じて前記光源からの光路中に進
出する可動体と、この可動体の進出位置に対応する前記
受光素子の受光量の変化により前記測定物の厚みを演算
する演算手段とにより構成した厚みセンサである。

【０００８】請求項２記載の発明は、請求項１記載の発
明において、搬送路の一側から他側に向かうに従い前記
搬送路からの距離が次第に変化する方向に傾斜する傾斜
縁を可動体の一縁に形成し、前記搬送路の幅方向に沿う
細長いスリット状の開口部を有する枠状部材を設けた厚
みセンサである。

【０００９】請求項３記載の発明は、シート状の測定物
が搬送される搬送路に略沿って光線を出射する光源と、
前記搬送路からの距離が異なる位置に配設されて前記光
源に対向配置された第一及び第二の受光素子と、前記光
源と前記受光素子との間に配列されて前記測定物の厚み
に応じて前記搬送路に近い方の前記第一の受光素子と前
記光源との間の光路中に進出する可動体と、この可動体
の進出位置に対応する前記第一の受光素子の受光量と前
記第二の受光素子の受光量とを比較して前記測定物の厚
みを演算する演算手段とにより構成した厚みセンサであ
る。

【００１０】請求項４記載の発明は、シート状の測定物
が搬送される搬送路に略沿って光線を出射する光源と、
この光源に対向配置された半導体位置検出素子と、前記
光源に対向するピンホールを有して前記光源と前記半導
体位置検出素子との間に配列され前記測定物の厚みに応
じて前記光源からの光路中に進出する可動体と、この可
動体の進出位置に対応する前記半導体位置検出素子の出
力により前記測定物の厚みを演算する演算手段とにより
構成した厚みセンサである。

【００１１】請求項５記載の発明は、シート状の測定物
が搬送される搬送路に略沿って光線を出射する光源と、
前記搬送路からの距離が異なる位置に配設されて前記光
源に対向配置された複数の受光素子と、これらの受光素
子に対向して前記光源からの出射光の出射領域を定める
複数の開口部を有して前記光源と前記受光素子との間に
配設された枠状部材と、それぞれ前記開口部の一部を遮
光する遮光部を有し前記枠状部材と前記受光素子との間
に配列され前記測定物の厚みに応じて前記光源からの光
路中に前記遮光部のそれぞれを進出させる可動体と、こ
の可動体の進出位置に対応する前記受光素子の受光量の
変化により前記測定物の厚みを演算する演算手段とによ
り構成した厚みセンサである。

【００１２】

【作用】請求項１記載の発明によれば、測定物の厚みに
応じて可動体を変位させ、この可動体の変位によって変
化する受光素子の出力により測定物の厚みを知ることが
できる。また、単に受光素子の出力の変化だけで測定物
の厚みを測定することができるため、構造及び製作の簡
略化を図るとともに、光源と受光素子との間の光路長を
短くすることが可能となる。

【００１３】請求項２記載の発明によれば、可動体の一
縁に傾斜縁を形成したので、可動体の動作時にスリット
状の開口部をその長手方向の一端から遮光することがで
き、これにより、測定物の厚みに対する可動体の変位量
の差以上に開口部の遮光量の変化量、受光素子の出力の
変化量を擬似的に増幅することができ、これにより、測
定物の厚み測定の感度を高めることが可能となる。

【００１４】請求項３記載の発明によれば、測定物の有
無により変化する第一の受光素子の出力の変化を、可動
体により遮光されることのない第二の受光素子の一定の
出力に対して比較することにより測定物の厚みを知るこ
とができるため、第一の受光素子に対する可動体の対応
位置を厳密に定める必要がなく、組み立て精度をラフに
することが可能となる。

【００１５】請求項４記載の発明によれば、測定物の厚
みに応じて可動体が変位することにより、ピンホールを
通り半導体位置検出素子に照射される光の入射位置の変
化により変化する半導体位置検出素子の出力をもって測
定物の厚みを検出することができるため、半導体位置検
出素子に対する可動体の対応位置を厳密に定める必要が
なく、組み立て精度をラフにすることが可能となる。

【００１６】請求項５記載の発明によれば、測定物の厚
みに応じて可動体を変位させ、この可動体の遮光部が開
口部を遮光することによって変化する受光素子の出力に
より測定物の厚みを知ることができる。また、複数の遮
光部の変位による複数の受光素子のそれぞれの出力変化
を基に測定物の厚みを測定するため、遮光部及び受光素
子の数に比例して感度を高めることが可能となる。

【００１７】

【実施例】請求項１記載の発明の第一の実施例を図１及
び図２に基づいて説明する。シート状の測定物１が搬送
される搬送路２に略沿って光線を出射する光源（ＬＥ
Ｄ）３と受光素子４とが所定の間隔を開けて対向配置さ
れている。この光源３と受光素子４との間には、前記光
源３からの出射光の出射領域を定める開口部５を有する
枠状部材６が固定的に設けられ、この枠状部材６と前記
受光素子４との間には前記測定物１の厚みに応じて前記
光源３からの光路中に進出する可動体７が設けられてい
る。すなわち、この可動体７は、測定物１の厚みに影響
を与えることがないように弱い力により下方に付勢され
て両側がガイド（図示せず）により上下動自在に保持さ
れ、且つ、測定物１の通過を阻止することがないように
下端に回転自在のローラ８を有している。前記開口部５
の形状は、本実施例においては図２に示すように短辺を
ａ長辺をｂとする方形に定められているが、実質略方形
となるように超楕円形に定めてもよい。前記可動体７の
上縁９は搬送路２に対して平行になるように平に形成さ
れ、測定物１が通過しないときに可動体７が最下位に位
置する状態では、上縁９が開口部５の下縁と等しい位置
（又はそれより僅かに高い位置）にある。なお、前記光
源３は出力の安定したものを用いる。

【００１８】このような構成において、光源３から出射
されて開口部５を通る光は受光素子４に受光されるが、
搬送路２に測定物１がない場合は可動体７が最下位に位
置し、この場合の受光素子４の受光量は最大で、その値
は開口部５の大きさａ×ｂに対応する。この値はＲＡＭ
等の記憶部（図示せず）に記憶される。そして、搬送路
２により案内されて搬送された測定物１がローラ８の下
を通過すると、図２に示すように、可動体７は通過する
測定物１の厚みに対応するｔなる分だけ上昇して開口部
５の下方を遮光するので、受光素子４の受光量は変化す
る。このときの測定物１の通過前と通過中とにおける受
光素子４の受光量の比はｔ／ａに比例し、その比を演算
手段（図示せず）によって処理することで測定物１の厚
みとして演算される。この場合、測定物１の通過前と通
過中とにおける受光素子４の受光量の比をとる理由は、
光源（ＬＥＤ）３の発光強度が温度等の要因で一定では
ないからである。

【００１９】このように、単に受光素子４の出力の変化
だけで測定物１の厚みを測定するため、複数の回折格子
を用いる場合のように複雑な調整作業をすることもな
く、構造及び製作の簡略化を図るとともに、光源３と受
光素子４との間の光路長を短くすることができる。

【００２０】次いで、請求項１記載の発明の第二の実施
例を図３に基づいて説明する。前記実施例と同一部分は
同一符号を用い説明も省略する（以下同様）。本実施例
は、支軸１０により回動自在に保持されたアーム１１を
設け、枠状部材６と受光素子４との間に配設された可動
体１２をアーム１１の後端に連結したものである。な
お、可動体１２をスプリング（図示せず）により吊り下
げる等の構造をとることにより、アーム１１は反時計方
向に付勢され、これにより、測定物１がない場合にアー
ム１１の下端が搬送路２に軽い力で接触するように構成
されているものとする。

【００２１】このような構成において、測定物１がない
場合、アーム１１は点線で示すように搬送路２に接触す
る。このとき、可動体１２の下縁は開口部５の上縁と一
致する。アーム１１の下を測定物１が通過すると、アー
ム１１は実線で示すように時計方向に回動して可動体１
２を引く。すなわち、開口部５の上縁側が可動体１２に
より遮光され、受光素子４の受光量が変化する。このと
きの測定物１の通過前と通過中とにおける受光素子４の
受光量の比を前記実施例と同様に処理することにより、
測定物１の厚みが測定される。

【００２２】次いで、請求項２記載の発明の一実施例を
図４に基づいて説明する。本実施例は、搬送路２の一側
から他側に向かうに従い搬送路２からの距離が次第に変
化する方向に傾斜する傾斜縁１３を可動体７の上縁に形
成し、搬送路２の幅方向に沿う細長いスリット状の開口
部１４を有する枠状部材６を設けた構成である。

【００２３】このような構成において、可動体７の上縁
に傾斜縁１３を形成したので、可動体７の上昇時にスリ
ット状の開口部１４をその長手方向の一端から遮光する
ことができる。これにより、測定物１の厚みに対する可
動体７の変位量の差以上に開口部１４の遮光量の変化
量、受光素子４の出力の変化量を擬似的に増幅すること
ができる。これにより、測定物１の厚み測定の感度を高
めることができる。この場合、開口部１４は左右の両辺
が可動体７の傾斜縁１３と平行になる非常に偏平な平行
四辺形の形状であるが、スリット状であれば方形の開口
部でも同様の目的を達成することができる。

【００２４】さらに、請求項３記載の発明の一実施例を
図５及び図６に基づいて説明する。本実施例は、搬送路
２からの距離が異なる位置に配設された第一及び第二の
受光素子１５，１６を光源３に対向配置し、可動体７の
進出位置に対応する第一の受光素子１５の受光量と第二
の受光素子１６の受光量とを比較して測定物１の厚みを
演算する演算手段（図示せず）を設けた構成である。第
一、第二の受光素子１５，１６は具体的には二分割素子
でよい。また、これらの受光素子１５，１６は、光源３
から出射される光束に比して充分に小さく略均一な光強
度が照射されるように大きさが正確に定められている。
さらに、図６に示すように、第一の受光素子１５は、測
定物１がない場合に最下位に位置する可動体７により下
部が遮光され、測定物１の通過時に可動体７の上昇分ｔ
に対応してさらに遮光領域が増えるように配置され、第
二の受光素子１６は常時全面で光源３からの光を受光す
ることが可能な位置に配置されている。

【００２５】このような構成において、測定物１の有無
により変化する第一の受光素子１５の出力の変化を、可
動体７により遮光されることのない第二の受光素子１６
の一定の出力に対して比較した値を算出する。この比較
値は出力差をとってもよいが、光源３の発光強度の絶対
値の影響を考慮して出力比をとる。第一、第二の受光素
子１５，１６の受光面がａ×ａの正方形とし、第一の受
光素子１５における測定物１の搬送前の出力と搬送中の
出力の変化をΔｐとし、第二の受光素子１６の出力をＰ
とすると、測定物１の厚みはΔｐ／Ｐ×ａとなる。実際
には第一、第二の受光素子１５，１６には感度差がある
ので、予め補正等をしておく。こうすることで、可動体
７の上縁９が第一の受光素子１５の前面に略達していれ
ば測定物１の厚みを正確に測定することができる。すな
わち、第一の受光素子１５に対する可動体７の対応位置
を厳密に定める必要がなく、組み立て精度をラフにする
ことができる。

【００２６】さらに、請求項４記載の発明の一実施例を
図７に基づいて説明する。本実施例は、半導体位置検出
素子（ＰＳＤ）１７を光源３に対向配置し、光源３と半
導体位置検出素子１７との間に光源３に対向するピンホ
ール１８を有して測定物１の厚みに応じて光源３からの
光路中に進出する可動体７を設け、この可動体７の進出
位置に対応する半導体位置検出素子１７の出力により測
定物１の厚みを演算する演算手段（図示せず）を設けた
構成である。

【００２７】このような構成において、測定物１の厚み
に応じて可動体７が変位することにより、ピンホール１
８を通り半導体位置検出素子１７に照射される位置の変
化により変化する半導体位置検出素子１７の出力をもっ
て測定物１の厚みを検出することができる。これによ
り、半導体位置検出素子１７に対する可動体７の対応位
置を厳密に定める必要がなく、組み立て精度をラフにす
ることができる。

【００２８】さらに、請求項５記載の発明の一実施例を
図８に基づいて説明する。本実施例は、搬送路２からの
距離が異なる位置に配設されて光源３に対向配置された
複数の受光素子４と、これらの受光素子４に対向して前
記光源３からの出射光の出射領域を定める複数の開口部
５を有して前記光源３と前記受光素子４との間に配設さ
れた枠状部材６と、それぞれ前記開口部５の一部を遮光
する遮光部７ａを有し前記枠状部材６と受光素子４との
間に配列され測定物１の厚みに応じて前記光源３からの
光路中に遮光部７ａのそれぞれを進出させる可動体７
と、この可動体７の進出位置に対応する前記受光素子４
の受光量の変化により前記測定物１の厚みを演算する演
算手段（図示せず）とを設けた構成である。

【００２９】このような構成において、可動体７は測定
物１の厚みに応じて変位する。このとき、可動体７の各
遮光部７ａで枠状部材６の各開口部５を遮光することに
よって変化する個々の受光素子４の出力により測定物１
の厚みを知ることができる。また、複数の遮光部７ａの
変位による複数の受光素子４のそれぞれの出力変化を基
に測定物１の厚みを測定するため、遮光部７ａ及び受光
素子４の数に比例して感度を高めることができる。

【００３０】

【発明の効果】請求項１記載の発明は、光源と受光素子
との間に開口部を有する枠状部材を設け、この枠状部材
と前記受光素子との間に測定物の厚みに応じて前記光源
からの光路中に進出する可動体を設け、この可動体の進
出位置に対応する前記受光素子の受光量の変化により前
記測定物の厚みを演算する演算手段を設けたので、搬送
路に沿って搬送される測定物の厚みに応じて可動体を変
位させ、この可動体の変位によって変化する受光素子の
出力により測定物の厚みを知ることができ、また、単に
受光素子の出力の変化だけで測定物の厚みを測定するこ
とができるため、構造及び製作の簡略化を図るととも
に、光源と受光素子との間の光路長を短くすることが可
能となる。

【００３１】請求項２記載の発明は、請求項１記載の発
明において、搬送路の一側から他側に向かうに従い前記
搬送路からの距離が次第に変化する方向に傾斜する傾斜
縁を可動体の一縁に形成し、前記搬送路の幅方向に沿う
細長いスリット状の開口部を有する枠状部材を設けたの
で、可動体の動作時にスリット状の開口部をその長手方
向の一端から遮光することができ、これにより、測定物
の厚みに対する可動体の変位量の差以上に開口部の遮光
量の変化量、受光素子の出力の変化量を擬似的に増幅す
ることができ、これにより、測定物の厚み測定の感度を
高めることができる。

【００３２】請求項３記載の発明は、シート状の測定物
が搬送される搬送路からの距離が異なる位置に配設され
た第一及び第二の受光素子を光源に対向配置し、前記光
源と前記受光素子との間に前記測定物の厚みに応じて前
記搬送路に近い方の前記第一の受光素子と前記光源との
間の光路中に進出する可動体を設け、この可動体の進出
位置に対応する前記第一の受光素子の受光量と前記第二
の受光素子の受光量とを比較して前記測定物の厚みを演
算する演算手段を設けたので、測定物の有無により変化
する第一の受光素子の出力の変化を、可動体により遮光
されることのない第二の受光素子の一定の出力に対して
比較することにより測定物の厚みを知ることができるた
め、第一の受光素子に対する可動体の対応位置を厳密に
定める必要がなく、組み立て精度をラフにすることがで
きる。

【００３３】請求項４記載の発明は、光源に対向配置さ
れた半導体位置検出素子を設け、ピンホールを有して前
記光源と前記半導体位置検出素子との間に配列されて搬
送路に沿って搬送される測定物の厚みに応じて前記光源
からの光路中に進出する可動体を設け、この可動体の進
出位置に対応する前記半導体位置検出素子の出力により
前記測定物の厚みを演算する演算手段を設けたので、測
定物の厚みに応じて可動体が変位することにより、ピン
ホールを通り半導体位置検出素子に照射される光の入射
位置の変化により変化する半導体位置検出素子の出力を
もって測定物の厚みを検出することができるため、半導
体位置検出素子に対する可動体の対応位置を厳密に定め
る必要がなく、組み立て精度をラフにすることができ
る。

【００３４】請求項５記載の発明は、シート状の測定物
が搬送される搬送路からの距離が異なる位置に配設され
て光源に対向配置された複数の受光素子を設け、これら
の受光素子に対向する複数の開口部を有する枠状部材を
前記光源と前記受光素子との間に配設し、前記枠状部材
と前記受光素子との間にそれぞれ前記開口部の一部を遮
光する遮光部を有し前記測定物の厚みに応じて前記光源
からの光路中に前記遮光部のそれぞれを進出させる可動
体を設け、この可動体の進出位置に対応する前記受光素
子の受光量の変化により前記測定物の厚みを演算する演
算手段を設けたので、測定物の厚みに応じて可動体を変
位させ、この可動体の遮光部が開口部を遮光することに
よって変化する受光素子の出力により測定物の厚みを知
ることができ、また、複数の遮光部の変位による複数の
受光素子のそれぞれの出力変化を基に測定物の厚みを測
定するため、遮光部及び受光素子の数に比例して感度を
高めることができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】請求項１記載の発明の第一の実施例を示す側面
図である。

【図２】その可動体と枠状部材の開口部との関係を示す
正面図である。

【図３】請求項２記載の発明の第二の実施例を示す側面
図である。

【図４】請求項２記載の発明の一実施例を示すもので可
動体と枠状部材の開口部との関係を示す正面図である。

【図５】請求項３記載の発明の一実施例を示す側面図で
ある。

【図６】その受光素子と可動体との関係を示す正面図で
ある。

【図７】請求項４記載の発明の一実施例を示す側面図で
ある。

【図８】請求項５記載の発明の一実施例を示すもので可
動体の遮光部と枠状部材の開口部との関係を示す正面図
である。

【図９】従来例を示す側面図である。

【符号の説明】

１測定物２搬送路３光源４受光素子５開口部６枠状部材７可動体７ａ遮光部１２可動体１３傾斜縁１４開口部１５第一の受光素子１６第二の受光素子１７半導体位置検出素子１８ピンホール

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】シート状の測定物が搬送される搬送路に
略沿って光線を出射する光源と、この光源に対向配置さ
れた受光素子と、前記光源からの出射光の出射領域を定
める開口部を有して前記光源と前記受光素子との間に配
設された枠状部材と、この枠状部材と前記受光素子との
間に配列されて前記測定物の厚みに応じて前記光源から
の光路中に進出する可動体と、この可動体の進出位置に
対応する前記受光素子の受光量の変化により前記測定物
の厚みを演算する演算手段とよりなることを特徴とする
厚みセンサ。
【請求項２】搬送路の一側から他側に向かうに従い前
記搬送路からの距離が次第に変化する方向に傾斜する傾
斜縁を可動体の一縁に形成し、前記搬送路の幅方向に沿
う細長いスリット状の開口部を有する枠状部材を設けた
ことを特徴とする請求項１記載の厚みセンサ。
【請求項３】シート状の測定物が搬送される搬送路に
略沿って光線を出射する光源と、前記搬送路からの距離
が異なる位置に配設されて前記光源に対向配置された第
一及び第二の受光素子と、前記光源と前記受光素子との
間に配列されて前記測定物の厚みに応じて前記搬送路に
近い方の前記第一の受光素子と前記光源との間の光路中
に進出する可動体と、この可動体の進出位置に対応する
前記第一の受光素子の受光量と前記第二の受光素子の受
光量とを比較して前記測定物の厚みを演算する演算手段
とよりなることを特徴とする厚みセンサ。
【請求項４】シート状の測定物が搬送される搬送路に
略沿って光線を出射する光源と、この光源に対向配置さ
れた半導体位置検出素子と、前記光源に対向するピンホ
ールを有して前記光源と前記半導体位置検出素子との間
に配列され前記測定物の厚みに応じて前記光源からの光
路中に進出する可動体と、この可動体の進出位置に対応
する前記半導体位置検出素子の出力により前記測定物の
厚みを演算する演算手段とよりなることを特徴とする厚
みセンサ。
【請求項５】シート状の測定物が搬送される搬送路に
略沿って光線を出射する光源と、前記搬送路からの距離
が異なる位置に配設されて前記光源に対向配置された複
数の受光素子と、これらの受光素子に対向して前記光源
からの出射光の出射領域を定める複数の開口部を有して
前記光源と前記受光素子との間に配設された枠状部材
と、それぞれ前記開口部の一部を遮光する遮光部を有し
前記枠状部材と前記受光素子との間に配列され前記測定
物の厚みに応じて前記光源からの光路中に前記遮光部の
それぞれを進出させる可動体と、この可動体の進出位置
に対応する前記受光素子の受光量の変化により前記測定
物の厚みを演算する演算手段とよりなることを特徴とす
る厚みセンサ。