JPH0835986A - 基板検査用コンタクトプローブ - Google Patents
基板検査用コンタクトプローブInfo
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- JPH0835986A JPH0835986A JP16981194A JP16981194A JPH0835986A JP H0835986 A JPH0835986 A JP H0835986A JP 16981194 A JP16981194 A JP 16981194A JP 16981194 A JP16981194 A JP 16981194A JP H0835986 A JPH0835986 A JP H0835986A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】導通検査時接触抵抗が小さく、しかもフラック
スやその他のゴミが付着しにくく長寿命な基板検査用コ
ンタクトプローブを提供する。 【構成】プリント配線基板等の基板の導通検査を行うた
めに使用するピン状部材を備えた基板検査用コンタクト
プローブにおいて、基板と接触するピン状部材の先端部
位５１の側面５１ａ，５１ｂが構成するエッジ５１ｃが
湾曲形状を構成している。
スやその他のゴミが付着しにくく長寿命な基板検査用コ
ンタクトプローブを提供する。 【構成】プリント配線基板等の基板の導通検査を行うた
めに使用するピン状部材を備えた基板検査用コンタクト
プローブにおいて、基板と接触するピン状部材の先端部
位５１の側面５１ａ，５１ｂが構成するエッジ５１ｃが
湾曲形状を構成している。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、電子機器等で使用さ
れるプリント配線基板の導通状態等を検査するための基
板検査用コンタクトプローブに関する。
れるプリント配線基板の導通状態等を検査するための基
板検査用コンタクトプローブに関する。
【０００２】
【従来の技術】プリント配線基板は電子機器の構成上不
可欠な部品であり、機能部品の高密度、高精度化が急速
に進み、高信頼性が要求されている。そのため、プリン
ト配線基板は完成品の品質検査のみならず製造工程中で
の検査も重要になっている。この検査では、各配線パタ
ーン間等での接続状態を検査する導通検査が基本であ
る。
可欠な部品であり、機能部品の高密度、高精度化が急速
に進み、高信頼性が要求されている。そのため、プリン
ト配線基板は完成品の品質検査のみならず製造工程中で
の検査も重要になっている。この検査では、各配線パタ
ーン間等での接続状態を検査する導通検査が基本であ
る。
【０００３】この導通検査は一般的には各ランドにコン
タクトプローブを接触させ、各ランドすなわち各コンタ
クトプローブ間の導通状況を検出する。
タクトプローブを接触させ、各ランドすなわち各コンタ
クトプローブ間の導通状況を検出する。
【０００４】従来のコンタクトプローブは図７に示した
ように、その先端コンタクト部が種々の形状をなしてい
る。例えば、図７（ａ）はコンタクト部が１本の針の形
状をなした１針タイプのコンタクトプローブ（以下、１
針コンタクトプローブと記す）１０であり、図７（ｂ）
はコンタクト部が円周端が３ヶ所突出し中央に凹部を形
成した３枚花弁タイプのコンタクトプローブ（以下、３
花弁タイプコンタクトプローブと記す）２０であり、図
７（ｃ）はコンタクト部が３本の針を束ねた３針タイプ
のコンタクトプローブ（以下、３針コンタクトプローブ
と記す）３０である。上述のプローブは、長軸部が例え
ば直径Ｗ１が１．４７ｍｍ、全長Ｌ１がほぼ４９ｍｍ程
度である。
ように、その先端コンタクト部が種々の形状をなしてい
る。例えば、図７（ａ）はコンタクト部が１本の針の形
状をなした１針タイプのコンタクトプローブ（以下、１
針コンタクトプローブと記す）１０であり、図７（ｂ）
はコンタクト部が円周端が３ヶ所突出し中央に凹部を形
成した３枚花弁タイプのコンタクトプローブ（以下、３
花弁タイプコンタクトプローブと記す）２０であり、図
７（ｃ）はコンタクト部が３本の針を束ねた３針タイプ
のコンタクトプローブ（以下、３針コンタクトプローブ
と記す）３０である。上述のプローブは、長軸部が例え
ば直径Ｗ１が１．４７ｍｍ、全長Ｌ１がほぼ４９ｍｍ程
度である。
【０００５】図８は、図７（ａ）〜図７（ｃ）に示した
３つのコンタクトプローブを用いて基板検査を実施する
例を示したものである。
３つのコンタクトプローブを用いて基板検査を実施する
例を示したものである。
【０００６】まず、図８（ａ）はプリント配線基板４０
上のランド４１に１針コンタクトプローブ１０と３花弁
タイプコンタクトプローブ２０で導通検査をし、ネジ４
２に３針コンタクトプローブ３０で導通検査をする状況
を示し、図８（ｂ）はプリント配線基板４０上のチップ
基板（チップ部品４２、半田４３、ランド４４）に１針
コンタクトプローブ１０と３花弁タイプコンタクトプロ
ーブ２０で導通検査をする状況を示している。
上のランド４１に１針コンタクトプローブ１０と３花弁
タイプコンタクトプローブ２０で導通検査をし、ネジ４
２に３針コンタクトプローブ３０で導通検査をする状況
を示し、図８（ｂ）はプリント配線基板４０上のチップ
基板（チップ部品４２、半田４３、ランド４４）に１針
コンタクトプローブ１０と３花弁タイプコンタクトプロ
ーブ２０で導通検査をする状況を示している。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】ところで、上述のコン
タクトプローブの先端形状では以下のような問題があっ
た。
タクトプローブの先端形状では以下のような問題があっ
た。
【０００８】１）まず、１針コンタクトプローブ１０、
３花弁型コンタクトプローブ２０、３針コンタクトプロ
ーブ３０の先端は全て点状をなしているため、導通検査
時ランドその他のコンタクト部では点接触となり、接触
抵抗が大きく耐久性に難を生じた。
３花弁型コンタクトプローブ２０、３針コンタクトプロ
ーブ３０の先端は全て点状をなしているため、導通検査
時ランドその他のコンタクト部では点接触となり、接触
抵抗が大きく耐久性に難を生じた。
【０００９】２）また、３花弁型コンタクトプローブ２
０や３針コンタクトプローブ３０は、基板上で例えば半
田付け部位のフラックスやその他のゴミ等が先端に付着
し易くなり、接触が不安定になった。
０や３針コンタクトプローブ３０は、基板上で例えば半
田付け部位のフラックスやその他のゴミ等が先端に付着
し易くなり、接触が不安定になった。
【００１０】そこでこの発明は、導通検査時接触抵抗が
小さく、しかもフラックスやその他のゴミが付着しにく
く長寿命な基板検査用コンタクトプローブを提供するこ
とを目的とする。
小さく、しかもフラックスやその他のゴミが付着しにく
く長寿命な基板検査用コンタクトプローブを提供するこ
とを目的とする。
【００１１】
【課題を解決するための手段】上述の課題を解決するた
め、本発明の請求項１においては、プリント配線基板等
の基板の導通検査を行うために使用するピン状部材を備
えた基板検査用コンタクトプローブにおいて、基板と接
触するピン状部材の先端部位５１の側面５１ａ，５１ｂ
が構成するエッジ５１ｃが湾曲形状に構成されているこ
とを特徴とするものである。
め、本発明の請求項１においては、プリント配線基板等
の基板の導通検査を行うために使用するピン状部材を備
えた基板検査用コンタクトプローブにおいて、基板と接
触するピン状部材の先端部位５１の側面５１ａ，５１ｂ
が構成するエッジ５１ｃが湾曲形状に構成されているこ
とを特徴とするものである。
【００１２】また、本発明の請求項２によれば、請求項
１において先端が斜めに切られたピン状部材を３本束ね
てなることを特徴とするものである。
１において先端が斜めに切られたピン状部材を３本束ね
てなることを特徴とするものである。
【００１３】更にまた、本発明の請求項３によれば、請
求項２において３本のピン状部材のエッジが互いに対向
し１２０°で配置されることを特徴とするものである。
求項２において３本のピン状部材のエッジが互いに対向
し１２０°で配置されることを特徴とするものである。
【００１４】
【作用】本発明によれば、コンタクトプローブ先端エッ
ジが鋭角部と湾曲部を備えているため、ナイフ特性を有
することになる。そのため、コンタクト部が線接触とな
り接触抵抗が低減し、しかも切り込み特性も増大するた
め接触性も増大する。
ジが鋭角部と湾曲部を備えているため、ナイフ特性を有
することになる。そのため、コンタクト部が線接触とな
り接触抵抗が低減し、しかも切り込み特性も増大するた
め接触性も増大する。
【００１５】
【実施例】続いて、本発明に係る基板検査用コンタクト
プローブの実施例を図面に基づいて説明する。図１は、
本発明に係る基板検査用コンタクトプローブの第１実施
例を示す図であり、特に、図１（ａ）は上面図、図１
（ｂ）は側面図である。また図２には、図１（ａ）及び
図１（ｂ）で示したそれぞれのコンタクトプローブの先
端部拡大図を示した。
プローブの実施例を図面に基づいて説明する。図１は、
本発明に係る基板検査用コンタクトプローブの第１実施
例を示す図であり、特に、図１（ａ）は上面図、図１
（ｂ）は側面図である。また図２には、図１（ａ）及び
図１（ｂ）で示したそれぞれのコンタクトプローブの先
端部拡大図を示した。
【００１６】図１及び図２に示すように、第１実施例コ
ンタクトプローブ５０はピン状部材からなり、基板と接
触する先端部５１の形状が上面から見て左右両側に側面
部５１ａ，５１ｂが形成され、エッジ５１Ｃは従来の１
針コンタクトプローブの鋭角とほぼ同等の鋭角形状（鋭
角部）をなしているものの、側面から見ると側面部５１
ａ（５１ｂ）のエッジ５１ｃは湾曲形状（湾曲部）をな
している。つまり、第１実施例コンタクトプローブ５０
はその先端部５１がナイフ形状をなし、端面が連続した
エッジ状に形成されているものである。特に、図２
（ｃ）で示した断面図において、両端にエッジを持った
小さな細身の凸レンズのような形状が徐々に大きく太く
なり最終的に円形状となる。図２（ｃ）の（１）〜
（５）は、図２（ｂ）のコンタクトプローブの先端部５
１のそれぞれＩ−Ｉ，II−II，III−III，IV-IV及びＶ
−Ｖ断面図である。コンタクトプローブ５０の先端部形
状以外の形状は従来例と同一である。
ンタクトプローブ５０はピン状部材からなり、基板と接
触する先端部５１の形状が上面から見て左右両側に側面
部５１ａ，５１ｂが形成され、エッジ５１Ｃは従来の１
針コンタクトプローブの鋭角とほぼ同等の鋭角形状（鋭
角部）をなしているものの、側面から見ると側面部５１
ａ（５１ｂ）のエッジ５１ｃは湾曲形状（湾曲部）をな
している。つまり、第１実施例コンタクトプローブ５０
はその先端部５１がナイフ形状をなし、端面が連続した
エッジ状に形成されているものである。特に、図２
（ｃ）で示した断面図において、両端にエッジを持った
小さな細身の凸レンズのような形状が徐々に大きく太く
なり最終的に円形状となる。図２（ｃ）の（１）〜
（５）は、図２（ｂ）のコンタクトプローブの先端部５
１のそれぞれＩ−Ｉ，II−II，III−III，IV-IV及びＶ
−Ｖ断面図である。コンタクトプローブ５０の先端部形
状以外の形状は従来例と同一である。
【００１７】上述したナイフ形状を先端部に有するコン
タクトプローブ５０は、図３（ａ）及び図３（ｂ）に検
査例を示すように、コンタクト部（ラストランド、チッ
プ基板）に対して本第１実施例コンタクトプローブ５０
は点接触でなく線接触となり、抵抗が低くなり、耐久性
も増大する。なお、図３において４１はランド、４２は
チップ部品、４３は半田、４４はランドをそれぞれ示し
ている。
タクトプローブ５０は、図３（ａ）及び図３（ｂ）に検
査例を示すように、コンタクト部（ラストランド、チッ
プ基板）に対して本第１実施例コンタクトプローブ５０
は点接触でなく線接触となり、抵抗が低くなり、耐久性
も増大する。なお、図３において４１はランド、４２は
チップ部品、４３は半田、４４はランドをそれぞれ示し
ている。
【００１８】本実施例の先端部がナイフ特性を生かした
ランド４１、半田４３等の上のフラックス（図示せず）
を切り込み、左右に分離できる構造となっている。その
ため、本実施例ではコンタクト部との安定した接触を得
られる。
ランド４１、半田４３等の上のフラックス（図示せず）
を切り込み、左右に分離できる構造となっている。その
ため、本実施例ではコンタクト部との安定した接触を得
られる。
【００１９】本第１実施例の先端ナイフ状の１針コンタ
クトプローブと従来の３針コンタクトプローブ（図７
（ｃ）タイプ）及び１針コンタクトプローブ（図７
（ａ）タイプ）に関し、それぞれ接触抵抗を測定した。
各サンプル数は５０個とし、その平均とσを求めた。そ
の測定結果を表１に示す。
クトプローブと従来の３針コンタクトプローブ（図７
（ｃ）タイプ）及び１針コンタクトプローブ（図７
（ａ）タイプ）に関し、それぞれ接触抵抗を測定した。
各サンプル数は５０個とし、その平均とσを求めた。そ
の測定結果を表１に示す。
【００２０】
【表１】
【００２１】表１に示すように、本発明の第１実施例の
接触抵抗の平均は１９．２１ｍΩでσは１．１０であ
り、一方、３針タイプの従来例の接触抵抗の平均は２
８．５０ｍΩでσは１．６１、そして１針タイプの従来
例の接触抵抗の平均は２６．５２ｍΩでσは１．６６で
あった。このように、本第１実施例は他の２つのタイプ
の従来例と比較して、接触抵抗が約３０％改善されてい
た。
接触抵抗の平均は１９．２１ｍΩでσは１．１０であ
り、一方、３針タイプの従来例の接触抵抗の平均は２
８．５０ｍΩでσは１．６１、そして１針タイプの従来
例の接触抵抗の平均は２６．５２ｍΩでσは１．６６で
あった。このように、本第１実施例は他の２つのタイプ
の従来例と比較して、接触抵抗が約３０％改善されてい
た。
【００２２】なお、本第１実施例のコンタクトプローブ
の製造は、その先端部研削方法を図４（ａ）及びそのVI
−VI断面図である図４（ｂ）に示すように、コンタクト
プローブ用丸棒材６０を所定の角度だけ傾けて、中空砥
石６１の内面に近づけ、まず片面を研削する。片面の研
削は、端面のほぼ中央まで研削が完了した時点で終了
し、次に他の一方の片面を砥石６１に面するようにし、
同様に研削を施し、先端をナイフ状とすることができ
る。なお、全長及び軸の太さは従来と同様にそれぞれ４
９ｍｍ，１．４７ｍｍとした。
の製造は、その先端部研削方法を図４（ａ）及びそのVI
−VI断面図である図４（ｂ）に示すように、コンタクト
プローブ用丸棒材６０を所定の角度だけ傾けて、中空砥
石６１の内面に近づけ、まず片面を研削する。片面の研
削は、端面のほぼ中央まで研削が完了した時点で終了
し、次に他の一方の片面を砥石６１に面するようにし、
同様に研削を施し、先端をナイフ状とすることができ
る。なお、全長及び軸の太さは従来と同様にそれぞれ４
９ｍｍ，１．４７ｍｍとした。
【００２３】図５は第１実施例の先端部５１の他の例を
示す。平面部５２ａ，５２ｂは連続部５３ａ，５３ｂで
プローブの外形面と続いている。エッジ５１ｃは図１と
図２に示す例と同様に鋭角部と湾曲部を持つ。
示す。平面部５２ａ，５２ｂは連続部５３ａ，５３ｂで
プローブの外形面と続いている。エッジ５１ｃは図１と
図２に示す例と同様に鋭角部と湾曲部を持つ。
【００２４】図６は本発明に係る基板検査用コンタクト
プローブの第２実施例説明図であり、特にプローブの先
端部のみが拡大して示されている。
プローブの第２実施例説明図であり、特にプローブの先
端部のみが拡大して示されている。
【００２５】まず、本第２実施例は、図６（ａ）に示し
た先端７３ａが約３０°の角度に研削され直径Ｌ５が
０．５ｍｍφの針７３を、図６（ｂ）及び図６（ｃ）に
示すように、３本束ねた形状で先端部７１が形成されて
いる。長軸７４の直径Ｌ６は第１実施例と同様に１．４
７ｍｍとした。
た先端７３ａが約３０°の角度に研削され直径Ｌ５が
０．５ｍｍφの針７３を、図６（ｂ）及び図６（ｃ）に
示すように、３本束ねた形状で先端部７１が形成されて
いる。長軸７４の直径Ｌ６は第１実施例と同様に１．４
７ｍｍとした。
【００２６】この第２実施例のコンタクトプローブ７０
は、３本の側面７３ａの最先端エッジ７３ｃのなす角度
が図６（ｃ）に示すようにほぼ１２０°である。このエ
ッジ７３ｃも実施例１と同様に湾曲化されているため、
ランド等とのコンタクト部は線接触となるため接触抵抗
は小さくなり、しかも束ねられた３本の先端部７１はナ
イフ状をなし、このエッジ７３ｃも図示のように鋭角部
と湾曲部を備えている。また、側面７３ａのエッジ７３
ｃが１２０°にセットされているため、ランド上等のフ
ラックスに対して切り込み効果もある。
は、３本の側面７３ａの最先端エッジ７３ｃのなす角度
が図６（ｃ）に示すようにほぼ１２０°である。このエ
ッジ７３ｃも実施例１と同様に湾曲化されているため、
ランド等とのコンタクト部は線接触となるため接触抵抗
は小さくなり、しかも束ねられた３本の先端部７１はナ
イフ状をなし、このエッジ７３ｃも図示のように鋭角部
と湾曲部を備えている。また、側面７３ａのエッジ７３
ｃが１２０°にセットされているため、ランド上等のフ
ラックスに対して切り込み効果もある。
【００２７】上述した実施例では、コンタクトプローブ
の先端部が１本、３本の場合で示したが、これらに限定
されず２本、４本等についても応用することが可能であ
る。
の先端部が１本、３本の場合で示したが、これらに限定
されず２本、４本等についても応用することが可能であ
る。
【００２８】
【発明の効果】以上説明したように、本発明に係る基板
検査用コンタクトプローブは、その針の先端部がナイフ
状を有し平面部を有しているため、ある側面部には湾曲
線を備えている。
検査用コンタクトプローブは、その針の先端部がナイフ
状を有し平面部を有しているため、ある側面部には湾曲
線を備えている。
【００２９】そのため、プリント配線板のランド等との
導通検査時コンタクト部が線接触となり、先端部の切り
込み力が増大するため接触抵抗が低減される。
導通検査時コンタクト部が線接触となり、先端部の切り
込み力が増大するため接触抵抗が低減される。
【００３０】また、ランド上のフラックス等をかき分け
る力も大となるため、先端にはフラックスその他ゴミ等
が付着しにくくなる。
る力も大となるため、先端にはフラックスその他ゴミ等
が付着しにくくなる。
【００３１】また、上述の利点からプローブの耐久力も
増し、長寿命になる。
増し、長寿命になる。
【図１】本発明に係る基板検査用コンタクトプローブの
第１実施例を示す図である。
第１実施例を示す図である。
【図２】図１のコンタクトプローブの先端部拡大図であ
る。
る。
【図３】本発明に係るコンタクトプローブを用いた基板
検査例を示す図である。
検査例を示す図である。
【図４】第１実施例の先端部研削方法を示す図である。
【図５】第１実施例の先端部５１の他の例を示す図であ
る。
る。
【図６】本発明に係る基板検査用コンタクトプローブの
第２実施例説明図である。
第２実施例説明図である。
【図７】従来の基板検査用コンタクトプローブを示す図
である。
である。
【図８】従来のコンタクトプローブを用いた基板検査例
を示す図である。
を示す図である。
１０ １針コンタクトプローブ ２０ ３花弁タイプコンタクトプローブ ３０ ３針コンタクトプローブ ４０ プリント配線基板 ４１，４４ ランド ４２ チップ部品 ４３ 半田 ５０ 第１実施例コンタクトプローブ ５１，７１ 先端部 ５１ａ，５１ｂ 側面部 ５１ｃ，７３ｃ エッジ ５２ａ，５２ｂ 平面部 ５３ａ，５３ｂ 連続部 ６１ 砥石 ７０ 第２実施例 ７３ａ 側面
Claims (3)
- 【請求項１】 プリント配線基板等の基板の導通検査を
行うために使用するピン状部材を備えた基板検査用コン
タクトプローブにおいて、 上記基板と接触する上記ピン状部材の先端部位にエッジ
が湾曲形状に構成されていることを特徴とする基板検査
用コンタクトプローブ。 - 【請求項２】 先端が斜めに切られたピン状部材を３本
束ねてなることを特徴とする請求項１記載の基板検査用
コンタクトプローブ。 - 【請求項３】 上記３本のピン状部材のエッジが互いに
対向し１２０°で配置されることを特徴とする請求項２
記載の基板検査用コンタクトプローブ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16981194A JPH0835986A (ja) | 1994-07-21 | 1994-07-21 | 基板検査用コンタクトプローブ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16981194A JPH0835986A (ja) | 1994-07-21 | 1994-07-21 | 基板検査用コンタクトプローブ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0835986A true JPH0835986A (ja) | 1996-02-06 |
Family
ID=15893344
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP16981194A Pending JPH0835986A (ja) | 1994-07-21 | 1994-07-21 | 基板検査用コンタクトプローブ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0835986A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2001079865A1 (fr) * | 2000-04-13 | 2001-10-25 | Innotech Corporation | Carte de test et element de test destine a etre utilise dans cette derniere |
| JP2003255010A (ja) * | 2002-02-28 | 2003-09-10 | Adtec Engineeng Co Ltd | なぞり測定装置 |
| WO2008127242A1 (en) * | 2007-04-13 | 2008-10-23 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Dual arcuate blade probe tip |
| WO2008127241A1 (en) * | 2007-04-13 | 2008-10-23 | Hewelett-Packard Development Company | Pronged fork probe tip |
-
1994
- 1994-07-21 JP JP16981194A patent/JPH0835986A/ja active Pending
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2001079865A1 (fr) * | 2000-04-13 | 2001-10-25 | Innotech Corporation | Carte de test et element de test destine a etre utilise dans cette derniere |
| EP1281973A1 (en) * | 2000-04-13 | 2003-02-05 | Innotech Corporation | Probe card device and probe for use therein |
| US6842023B2 (en) | 2000-04-13 | 2005-01-11 | Innotech Corporation | Probe card apparatus and electrical contact probe having curved or sloping blade profile |
| JP2003255010A (ja) * | 2002-02-28 | 2003-09-10 | Adtec Engineeng Co Ltd | なぞり測定装置 |
| WO2008127242A1 (en) * | 2007-04-13 | 2008-10-23 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Dual arcuate blade probe tip |
| WO2008127241A1 (en) * | 2007-04-13 | 2008-10-23 | Hewelett-Packard Development Company | Pronged fork probe tip |
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