JPH08340173A - プリント配線板 - Google Patents
プリント配線板Info
- Publication number
- JPH08340173A JPH08340173A JP14451695A JP14451695A JPH08340173A JP H08340173 A JPH08340173 A JP H08340173A JP 14451695 A JP14451695 A JP 14451695A JP 14451695 A JP14451695 A JP 14451695A JP H08340173 A JPH08340173 A JP H08340173A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- solder resist
- pad
- wiring board
- printed wiring
- solder
- Prior art date
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- Pending
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- Non-Metallic Protective Coatings For Printed Circuits (AREA)
- Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 ソルダーレジスト剥がれを生じることなく、
はんだを安定して供給できるようなソルダーレジストの
開口形状をもつプリント配線板を提案すること。 【構成】 電子部品実装表面に、実装用パッド2を含む
導体パターンとその導体パターンを被覆するソルダーレ
ジスト1を形成してなるプリント配線板において、前記
ソルダーレジスト1の開口部の大きさを、前記実装用パ
ッド2よりも大きくすることにより、ソルダーレジスト
1がパッド2と重ならないようにすることを特徴とする
プリント配線板である。
はんだを安定して供給できるようなソルダーレジストの
開口形状をもつプリント配線板を提案すること。 【構成】 電子部品実装表面に、実装用パッド2を含む
導体パターンとその導体パターンを被覆するソルダーレ
ジスト1を形成してなるプリント配線板において、前記
ソルダーレジスト1の開口部の大きさを、前記実装用パ
ッド2よりも大きくすることにより、ソルダーレジスト
1がパッド2と重ならないようにすることを特徴とする
プリント配線板である。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、プリント配線板に関
し、特に、はんだの供給に有利なソルダーレジスト開口
形状についての提案である。
し、特に、はんだの供給に有利なソルダーレジスト開口
形状についての提案である。
【0002】
【従来の技術】一般に、ソルダーレジストの開口部は、
開口パターンが印刷されたフォトマスクフィルムを介し
て開口以外の位置を露光し、次いで、現像処理により未
露光部を溶解除去し、その後、熱硬化することによって
形造られる。
開口パターンが印刷されたフォトマスクフィルムを介し
て開口以外の位置を露光し、次いで、現像処理により未
露光部を溶解除去し、その後、熱硬化することによって
形造られる。
【0003】一方、従来のプリント配線板は、図1に示
すように、ソルダーレジスト開口の大きさを実装用パッ
ドよりも小さくすると共に、ソルダーレジスト開口縁部
と実装用パッドの外周縁部(パッド外周り)とが重なり
合うように構成されている。即ち、ソルダーレジスト開
口縁はパッド表面に位置する。そのために、ソルダーレ
ジスト開口以外の位置を露光する際には、入射光の屈折
等によってソルダーレジスト上層部と下層部とで露光に
よる硬化度に差が生じる他、とくにパッド表面では、そ
の表面で発生する光散乱の影響を受けやすくなる。
すように、ソルダーレジスト開口の大きさを実装用パッ
ドよりも小さくすると共に、ソルダーレジスト開口縁部
と実装用パッドの外周縁部(パッド外周り)とが重なり
合うように構成されている。即ち、ソルダーレジスト開
口縁はパッド表面に位置する。そのために、ソルダーレ
ジスト開口以外の位置を露光する際には、入射光の屈折
等によってソルダーレジスト上層部と下層部とで露光に
よる硬化度に差が生じる他、とくにパッド表面では、そ
の表面で発生する光散乱の影響を受けやすくなる。
【0004】このようなことが原因で、ソルダーレジス
トの開口部の形成に当たって、ソルダーレジスト下層の
とくにパッド表面との界面では、露光による硬化が不十
分となり現像処理によって開口以外の位置まで浸食され
る。その結果、その後の熱硬化を経ると、ソルダーレジ
スト開口縁のパッドとの界面際に隙間が生じるという問
題があった。
トの開口部の形成に当たって、ソルダーレジスト下層の
とくにパッド表面との界面では、露光による硬化が不十
分となり現像処理によって開口以外の位置まで浸食され
る。その結果、その後の熱硬化を経ると、ソルダーレジ
スト開口縁のパッドとの界面際に隙間が生じるという問
題があった。
【0005】また、プリント配線板へのはんだの供給に
当たっては、予めソルダーレジストの開口部に露出して
いる実装用パッド表面にNi/Auめっきを施す必要があ
る。そのため、上述した従来のソルダーレジスト構成で
は、Ni/Auめっき処理の際に、ソルダーレジスト開口縁
のパッドとの界面際に生じた隙間にめっき液が染み込
み、その部分でめっきの析出が進行してソルダーレジス
トとパッドとの界面に侵入する。その結果、ソルダーレ
ジスト開口縁に浮き(剥がれ)が生じるという問題があ
った。
当たっては、予めソルダーレジストの開口部に露出して
いる実装用パッド表面にNi/Auめっきを施す必要があ
る。そのため、上述した従来のソルダーレジスト構成で
は、Ni/Auめっき処理の際に、ソルダーレジスト開口縁
のパッドとの界面際に生じた隙間にめっき液が染み込
み、その部分でめっきの析出が進行してソルダーレジス
トとパッドとの界面に侵入する。その結果、ソルダーレ
ジスト開口縁に浮き(剥がれ)が生じるという問題があ
った。
【0006】さらに、近年の軽薄短小化による実装密度
の高密度化に伴って、パッド面積が小さくなる傾向にあ
り、それに対処するためには、ソルダーレジストの開口
部を微小化すると共にソルダーレジストの解像度の向上
を図ることが必要である。しかし、露光時にパッド表面
で発生する光散乱の影響を受ける上記従来のソルダーレ
ジスト構成では、十分な解像度が得られないという問題
があった。
の高密度化に伴って、パッド面積が小さくなる傾向にあ
り、それに対処するためには、ソルダーレジストの開口
部を微小化すると共にソルダーレジストの解像度の向上
を図ることが必要である。しかし、露光時にパッド表面
で発生する光散乱の影響を受ける上記従来のソルダーレ
ジスト構成では、十分な解像度が得られないという問題
があった。
【0007】そしてさらに、上述した従来のソルダーレ
ジスト構成では、はんだとソルダーレジストが接触する
ためにその接触点からクラックが発生しやすいという問
題があった。
ジスト構成では、はんだとソルダーレジストが接触する
ためにその接触点からクラックが発生しやすいという問
題があった。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、ソル
ダーレジストの開口形状に起因する上述した問題を解消
することにあり、特にソルダーレジストの剥がれを生じ
ることなく、はんだを安定して供給できるようなソルダ
ーレジストの開口形状をもつプリント配線板を提案する
ことにある。
ダーレジストの開口形状に起因する上述した問題を解消
することにあり、特にソルダーレジストの剥がれを生じ
ることなく、はんだを安定して供給できるようなソルダ
ーレジストの開口形状をもつプリント配線板を提案する
ことにある。
【0009】
【課題を解決するための手段】発明者らは、上記目的実
現に向け鋭意研究した結果、以下に示す内容を要旨構成
とする発明を完成するに至った。すなわち、本発明は、
電子部品実装表面に、実装用パッドを含む導体パターン
とその導体パターンを被覆するソルダーレジストを形成
してなるプリント配線板において、前記ソルダーレジス
トの開口部の大きさを、前記実装用パッドよりも大きく
することにより、ソルダーレジストがパッドと重ならな
いようにすることを特徴とするプリント配線板である。
そして、上記プリント配線板において、ソルダーレジス
トの開口縁と実装用パッドの外周縁との間に生じるクリ
アランスを20〜60μmにすることが望ましい構成であ
る。また、上記プリント配線板において、ソルダーレジ
ストの膜厚を15〜30μmの厚さにすることが望ましい構
成である。
現に向け鋭意研究した結果、以下に示す内容を要旨構成
とする発明を完成するに至った。すなわち、本発明は、
電子部品実装表面に、実装用パッドを含む導体パターン
とその導体パターンを被覆するソルダーレジストを形成
してなるプリント配線板において、前記ソルダーレジス
トの開口部の大きさを、前記実装用パッドよりも大きく
することにより、ソルダーレジストがパッドと重ならな
いようにすることを特徴とするプリント配線板である。
そして、上記プリント配線板において、ソルダーレジス
トの開口縁と実装用パッドの外周縁との間に生じるクリ
アランスを20〜60μmにすることが望ましい構成であ
る。また、上記プリント配線板において、ソルダーレジ
ストの膜厚を15〜30μmの厚さにすることが望ましい構
成である。
【0010】
【作用】本発明にかかるプリント配線板の特徴は、ソル
ダーレジストがパッド上に残らないように設けたソルダ
ーレジストの開口形状、即ちその大きさを実装用パッド
よりも大きくすることにより、ソルダーレジストがパッ
ドと重ならないようにする点の構成にある。
ダーレジストがパッド上に残らないように設けたソルダ
ーレジストの開口形状、即ちその大きさを実装用パッド
よりも大きくすることにより、ソルダーレジストがパッ
ドと重ならないようにする点の構成にある。
【0011】このような構成にすることにより、露光時
にパッド表面で発生する光散乱等の影響を受けることが
なくなり、ソルダーレジスト開口縁のパッドとの界面際
の硬化度が従来の構成に比べ向上し、現像により隙間が
生じるという問題を解消することができる。その結果、
Ni/Auめっき処理の際に、めっき液が前記隙間に染み込
み、その部分にめっきの析出が進行してソルダーレジス
ト開口縁に剥がれが生じるという問題を解消することが
できる。
にパッド表面で発生する光散乱等の影響を受けることが
なくなり、ソルダーレジスト開口縁のパッドとの界面際
の硬化度が従来の構成に比べ向上し、現像により隙間が
生じるという問題を解消することができる。その結果、
Ni/Auめっき処理の際に、めっき液が前記隙間に染み込
み、その部分にめっきの析出が進行してソルダーレジス
ト開口縁に剥がれが生じるという問題を解消することが
できる。
【0012】また、上記構成にすることにより、パッド
径の小径化に伴う解像度の許容範囲が広くなり、しかも
露光時にパッド表面で発生する光散乱等の影響を受ける
ことがなくなるので、より一層の高密度実装化への対応
が可能になる。とくに、基板上に無電解めっき用接着剤
層を形成し、この接着剤層の表面を粗化した後、その粗
化面にめっきレジストおよび実装パッドを含む導体パタ
ーンを形成し、そのめっきレジスト、実装パッドおよび
導体パターンをソルダーレジストで被覆してなる,アデ
ィティブ法によるプリント配線板においては、はんだと
ソルダーレジストとが接触することがなくなりクラック
も発生しにくくなる。なぜなら、上記のアディティブ法
によるプリント配線板では、永久レジスト(めっきレジ
スト)が残存するために、その永久レジストと実装パッ
ドとの段差によって、ソルダーレジストの開口径を大き
くしてもはんだが流れることがないからである。
径の小径化に伴う解像度の許容範囲が広くなり、しかも
露光時にパッド表面で発生する光散乱等の影響を受ける
ことがなくなるので、より一層の高密度実装化への対応
が可能になる。とくに、基板上に無電解めっき用接着剤
層を形成し、この接着剤層の表面を粗化した後、その粗
化面にめっきレジストおよび実装パッドを含む導体パタ
ーンを形成し、そのめっきレジスト、実装パッドおよび
導体パターンをソルダーレジストで被覆してなる,アデ
ィティブ法によるプリント配線板においては、はんだと
ソルダーレジストとが接触することがなくなりクラック
も発生しにくくなる。なぜなら、上記のアディティブ法
によるプリント配線板では、永久レジスト(めっきレジ
スト)が残存するために、その永久レジストと実装パッ
ドとの段差によって、ソルダーレジストの開口径を大き
くしてもはんだが流れることがないからである。
【0013】このような本発明にかかるプリント配線板
において、ソルダーレジストの開口縁と実装用パッドの
外周縁との間に生じるクリアランスXは、20〜60μmと
することが望ましい。この理由は、本発明では、ソルダ
ーレジストはパッドと重ならないように開口部を設ける
必要があり、前記クリアランスXが20μmよりも小さい
と、そのソルダーレジスト開口部とパッド部とのアライ
メントが難しくなる。また、ソルダーレジストを形成し
たのちNi/Auめっきをパッド上に施す際に、ソルダーレ
ジストの縁にはめっき液が残りやすい。そのため、クリ
アランスXが小さいと、そのめっき残液がパッド上にか
かりやすくなり、その結果、はんだバンプ形成時のはん
だ濡れ性が悪くなって、接続信頼性が低下するからであ
る。一方、前記クリアランスXが60μmよりも大きい
と、配線密度の低下や隣接パッドの露出による短絡など
が発生しやすい上に、はんだバンプの巨大化や部品実装
時におけるバンプの横広がりなどによって、ブリッジな
どの不良が発生しやすいからである。なお、ソルダーレ
ジストの開口縁と実装用パッドの外周縁との間に生じる
クリアランスXとは、ソルダーレジストの開口縁と実装
用パッドの外周縁との間に生じる間隙を意味する。
において、ソルダーレジストの開口縁と実装用パッドの
外周縁との間に生じるクリアランスXは、20〜60μmと
することが望ましい。この理由は、本発明では、ソルダ
ーレジストはパッドと重ならないように開口部を設ける
必要があり、前記クリアランスXが20μmよりも小さい
と、そのソルダーレジスト開口部とパッド部とのアライ
メントが難しくなる。また、ソルダーレジストを形成し
たのちNi/Auめっきをパッド上に施す際に、ソルダーレ
ジストの縁にはめっき液が残りやすい。そのため、クリ
アランスXが小さいと、そのめっき残液がパッド上にか
かりやすくなり、その結果、はんだバンプ形成時のはん
だ濡れ性が悪くなって、接続信頼性が低下するからであ
る。一方、前記クリアランスXが60μmよりも大きい
と、配線密度の低下や隣接パッドの露出による短絡など
が発生しやすい上に、はんだバンプの巨大化や部品実装
時におけるバンプの横広がりなどによって、ブリッジな
どの不良が発生しやすいからである。なお、ソルダーレ
ジストの開口縁と実装用パッドの外周縁との間に生じる
クリアランスXとは、ソルダーレジストの開口縁と実装
用パッドの外周縁との間に生じる間隙を意味する。
【0014】また、本発明にかかるプリント配線板にお
いて、ソルダーレジストの膜厚は15〜30μmの厚さとす
ることが望ましい。この理由は、前記膜厚が15μmより
も薄いと、ソルダーレジストのソルダーダムとしての効
果が得られず、しかも、配線回路の隠蔽性が低下する。
さらに、下層の凹凸に影響されやすくなり下層が露出す
る恐れがあるからである。なお、従来技術で指摘した問
題、即ち、ソルダーレジスト下層の硬化度が不十分とな
って、ソルダーレジストの浮き(剥がれ)が発生すると
いう問題は、ソルダーレジストの膜厚が15μm以上の場
合に顕著である。従って、本発明にかかる構成は、とく
に上記限定のように、ソルダーレジストの膜厚が15μm
以上の場合において特に有効なのである。一方、前記膜
厚が30μmよりも大きいと、露光、現像がしにくく、ソ
ルダーレジスト上層部と下層部とで露光による硬化度に
大きな差が生じるために、本発明の構成を採用しても、
ソルダーレジスト開口縁に生じる剥がれを防止すること
ができないからである。とくに、アディティブ法による
プリント配線板においては、ソルダーレジストの膜厚は
30μmよりも小さいことが必要である。その理由は、ア
ディティブ法においては、めっき(永久)レジスト上に
ソルダーレジストを形成するために、段差(パッド面と
はんだバンプの上面)が大きくなり実装しにくくなるか
らである。以上説明した理由から、ソルダーレジストの
膜厚を、15〜30μmにすることにより、特異的に起きる
ソルダーレジストの剥離を防止することができる。
いて、ソルダーレジストの膜厚は15〜30μmの厚さとす
ることが望ましい。この理由は、前記膜厚が15μmより
も薄いと、ソルダーレジストのソルダーダムとしての効
果が得られず、しかも、配線回路の隠蔽性が低下する。
さらに、下層の凹凸に影響されやすくなり下層が露出す
る恐れがあるからである。なお、従来技術で指摘した問
題、即ち、ソルダーレジスト下層の硬化度が不十分とな
って、ソルダーレジストの浮き(剥がれ)が発生すると
いう問題は、ソルダーレジストの膜厚が15μm以上の場
合に顕著である。従って、本発明にかかる構成は、とく
に上記限定のように、ソルダーレジストの膜厚が15μm
以上の場合において特に有効なのである。一方、前記膜
厚が30μmよりも大きいと、露光、現像がしにくく、ソ
ルダーレジスト上層部と下層部とで露光による硬化度に
大きな差が生じるために、本発明の構成を採用しても、
ソルダーレジスト開口縁に生じる剥がれを防止すること
ができないからである。とくに、アディティブ法による
プリント配線板においては、ソルダーレジストの膜厚は
30μmよりも小さいことが必要である。その理由は、ア
ディティブ法においては、めっき(永久)レジスト上に
ソルダーレジストを形成するために、段差(パッド面と
はんだバンプの上面)が大きくなり実装しにくくなるか
らである。以上説明した理由から、ソルダーレジストの
膜厚を、15〜30μmにすることにより、特異的に起きる
ソルダーレジストの剥離を防止することができる。
【0015】なお、上記のアディティブ法によるプリン
ト配線板を構成する無電解めっき用接着剤層は、酸ある
いは酸化剤に難溶性の耐熱性樹脂マトリックス中に、酸
あるいは酸化剤に可溶性の耐熱性樹脂粒子を分散してな
ることが望ましい。ここに、耐熱性樹脂マトリックスと
しては、エポキシ樹脂、エポキシアクリレート、PE
S、あるいはこれらの複合樹脂を用いることができ、耐
熱性樹脂粒子としては、エポキシ樹脂やアミノ樹脂(メ
ラミン樹脂、グアナミン樹脂、尿素樹脂等)などを用い
ることができる。
ト配線板を構成する無電解めっき用接着剤層は、酸ある
いは酸化剤に難溶性の耐熱性樹脂マトリックス中に、酸
あるいは酸化剤に可溶性の耐熱性樹脂粒子を分散してな
ることが望ましい。ここに、耐熱性樹脂マトリックスと
しては、エポキシ樹脂、エポキシアクリレート、PE
S、あるいはこれらの複合樹脂を用いることができ、耐
熱性樹脂粒子としては、エポキシ樹脂やアミノ樹脂(メ
ラミン樹脂、グアナミン樹脂、尿素樹脂等)などを用い
ることができる。
【0016】
【実施例】以下に、本発明にかかるプリント配線板を構
成するソルダーレジストの開口形状に関する実施例を、
図2に基づいて説明する。 (実施例1)内層回路を形成した基板上に、電子部品実
装面としてアディティブ法により実装用パッド2を含む
導体パターンを形成した。この時の実装用パッド2の大
きさは 100μmφとした。次に、永久レジスト3表面を
化学的に粗化し、ソルダーレジスト1を実装用パッド部
分が開口するように形成した。この時のソルダーレジス
ト1は、その膜厚を20μmとし、その開口径を 180μm
とした。なお、この時のソルダーレジスト1の開口縁と
実装用パッド2の外周縁との間に生じるクリアランスX
は、25〜55μmの範囲にあった。
成するソルダーレジストの開口形状に関する実施例を、
図2に基づいて説明する。 (実施例1)内層回路を形成した基板上に、電子部品実
装面としてアディティブ法により実装用パッド2を含む
導体パターンを形成した。この時の実装用パッド2の大
きさは 100μmφとした。次に、永久レジスト3表面を
化学的に粗化し、ソルダーレジスト1を実装用パッド部
分が開口するように形成した。この時のソルダーレジス
ト1は、その膜厚を20μmとし、その開口径を 180μm
とした。なお、この時のソルダーレジスト1の開口縁と
実装用パッド2の外周縁との間に生じるクリアランスX
は、25〜55μmの範囲にあった。
【0017】(比較例1)内層回路を形成した基板上
に、電子部品実装面としてアディティブ法により実装用
パッド2を含む導体パターンを形成した。この時の実装
用パッド2の大きさは 100μmφでとした。次に、永久
レジスト3表面を化学的に粗化し、ソルダーレジスト1
を実装用パッド部分が開口するように形成した。この時
のソルダーレジスト1は、その膜厚を20μmとし、その
開口径を90μmとし、パッド外周縁とソルダーレジスト
開口縁とが重なるように形成した。
に、電子部品実装面としてアディティブ法により実装用
パッド2を含む導体パターンを形成した。この時の実装
用パッド2の大きさは 100μmφでとした。次に、永久
レジスト3表面を化学的に粗化し、ソルダーレジスト1
を実装用パッド部分が開口するように形成した。この時
のソルダーレジスト1は、その膜厚を20μmとし、その
開口径を90μmとし、パッド外周縁とソルダーレジスト
開口縁とが重なるように形成した。
【0018】(比較例2)内層回路を形成した基板上
に、電子部品実装面としてアディティブ法により実装用
パッド2を含む導体パターンを形成した。この時の実装
用パッド2の大きさは 100μmφとした。次に、永久レ
ジスト3表面を化学的に粗化し、ソルダーレジスト1を
実装用パッド部分が開口するように形成した。この時の
ソルダーレジスト1は、その膜厚を20μmとし、その開
口径を 120μmとした。なお、この時のソルダーレジス
ト1の開口縁と実装用パッド2の外周縁との間に生じる
クリアランスXは、0〜20μmの範囲にあった。
に、電子部品実装面としてアディティブ法により実装用
パッド2を含む導体パターンを形成した。この時の実装
用パッド2の大きさは 100μmφとした。次に、永久レ
ジスト3表面を化学的に粗化し、ソルダーレジスト1を
実装用パッド部分が開口するように形成した。この時の
ソルダーレジスト1は、その膜厚を20μmとし、その開
口径を 120μmとした。なお、この時のソルダーレジス
ト1の開口縁と実装用パッド2の外周縁との間に生じる
クリアランスXは、0〜20μmの範囲にあった。
【0019】(比較例3)内層回路を形成した基板上
に、電子部品実装面としてアディティブ法により実装用
パッド2を含む導体パターンを形成した。この時の実装
用パッド2の大きさは 100μmφとした。次に、永久レ
ジスト3表面を化学的に粗化し、ソルダーレジスト1を
実装用パッド部分が開口するように形成した。この時の
ソルダーレジスト1は、その膜厚を20μmとし、その開
口径を 300μmとした。なお、この時のソルダーレジス
ト1の開口縁と実装用パッド2の外周縁との間に生じる
クリアランスXは、80〜120 μmの範囲にあった。
に、電子部品実装面としてアディティブ法により実装用
パッド2を含む導体パターンを形成した。この時の実装
用パッド2の大きさは 100μmφとした。次に、永久レ
ジスト3表面を化学的に粗化し、ソルダーレジスト1を
実装用パッド部分が開口するように形成した。この時の
ソルダーレジスト1は、その膜厚を20μmとし、その開
口径を 300μmとした。なお、この時のソルダーレジス
ト1の開口縁と実装用パッド2の外周縁との間に生じる
クリアランスXは、80〜120 μmの範囲にあった。
【0020】(比較例4)内層回路を形成した基板上
に、電子部品実装面としてアディティブ法により実装用
パッド2を含む導体パターンを形成した。この時の実装
用パッド2の大きさは 100μmφとした。次に、永久レ
ジスト3表面を化学的に粗化し、ソルダーレジスト1を
実装用パッド部分が開口するように形成した。この時の
ソルダーレジスト1は、その膜厚は10μmとし、その開
口径を 180μmとした。なお、この時のソルダーレジス
ト1の開口縁と実装用パッド2の外周縁との間に生じる
クリアランスXは、25〜55μmの範囲にあった。
に、電子部品実装面としてアディティブ法により実装用
パッド2を含む導体パターンを形成した。この時の実装
用パッド2の大きさは 100μmφとした。次に、永久レ
ジスト3表面を化学的に粗化し、ソルダーレジスト1を
実装用パッド部分が開口するように形成した。この時の
ソルダーレジスト1は、その膜厚は10μmとし、その開
口径を 180μmとした。なお、この時のソルダーレジス
ト1の開口縁と実装用パッド2の外周縁との間に生じる
クリアランスXは、25〜55μmの範囲にあった。
【0021】(比較例5)内層回路を形成した基板上
に、電子部品実装面としてアディティブ法により実装用
パッド2を含む導体パターンを形成した。この時の実装
用パッド2の大きさは 100μmφとした。次に、永久レ
ジスト3表面を化学的に粗化し、ソルダーレジスト1を
実装用パッド部分が開口するように形成した。この時の
ソルダーレジスト1は、その膜厚を40μmとし、その開
口径を 180μmとした。なお、この時のソルダーレジス
ト1の開口縁と実装用パッド2の外周縁との間に生じる
クリアランスXは、25〜55μmの範囲にあった。
に、電子部品実装面としてアディティブ法により実装用
パッド2を含む導体パターンを形成した。この時の実装
用パッド2の大きさは 100μmφとした。次に、永久レ
ジスト3表面を化学的に粗化し、ソルダーレジスト1を
実装用パッド部分が開口するように形成した。この時の
ソルダーレジスト1は、その膜厚を40μmとし、その開
口径を 180μmとした。なお、この時のソルダーレジス
ト1の開口縁と実装用パッド2の外周縁との間に生じる
クリアランスXは、25〜55μmの範囲にあった。
【0022】以上説明したようにして実装用パッドを含
む導体パターンとソルダーレジストを形成したプリント
配線板に関し、その実装用パッドに、3μmのNi/Auめ
っきを施し、クリーム印刷法によりはんだを供給して、
ソルダーレジストの開口形状の違いによる外観,耐冷熱
衝撃性,絶縁性の評価を行った。その結果を表1に示
す。
む導体パターンとソルダーレジストを形成したプリント
配線板に関し、その実装用パッドに、3μmのNi/Auめ
っきを施し、クリーム印刷法によりはんだを供給して、
ソルダーレジストの開口形状の違いによる外観,耐冷熱
衝撃性,絶縁性の評価を行った。その結果を表1に示
す。
【0023】この表1に示す結果から明らかなように、
本発明にかかるプリント配線板は、ソルダーレジストの
剥がれが全くなく、耐冷熱衝撃性および絶縁性に優れ
る。これに対し、比較例1に示すような、パッド外周縁
とソルダーレジスト開口縁とが重なる構成のプリント配
線板では、ソルダーレジスト開口縁のパッドとの界面際
にはソルダーレジスト形成時に隙間が生じ、Ni/Auめっ
き液が侵入してめっきの析出が進行し、ソルダーレジス
ト開口縁に剥がれが生じた。そのため、耐冷熱衝撃試験
において、浮き(剥がれ)部分からクラックが発生し
た。比較例2に示すような、パッド外周縁とソルダーレ
ジスト開口縁との間に生じるクリアランスXを本発明範
囲の下限値よりも小さくした構成のプリント配線板で
は、ソルダーレジスト開口部のアライメントミスが生じ
易くなり、導体パッドの一部分がソルダーレジストにて
覆われ、その界面から剥離が生じるという不良が発生し
た。そのため、耐冷熱衝撃試験において、浮き(剥が
れ)部分からクラックが発生した。比較例3に示すよう
な、ソルダーレジストの開口径を大きくした構成のプリ
ント配線板では、パッド外周縁とソルダーレジスト開口
縁との間に生じるクリアランスXが本発明範囲の上限値
よりも大きくなるために、隣接する導体回路が露出し
て、はんだバンプを形成したときに電気的な短絡を生じ
た。比較例4に示すような、ソルダーレジストの膜厚を
本発明範囲の下限値よりも薄くした構成のプリント配線
板では、はんだバンプ形成時にそのはんだがソルダーレ
ジスト上に掛かってしまい、ソルダーレジストがソルダ
ーダムとして機能せず隣接するはんだバンプとブリッジ
不良を起こし、電気的な短絡を生じた。比較例5に示す
ような、ソルダーレジストの膜厚を本発明範囲の上限値
よりも厚くした構成のプリント配線板では、ソルダーレ
ジスト下層の硬化が不十分となり、ソルダーレジストの
開口縁に浮きが生じた。そのため、耐冷熱衝撃試験にお
いて、浮き(剥がれ)部分からクラックが発生した。ま
た、ソルダーレジストの膜厚が厚いために、バンプがソ
ルダーレジスト開口から突出する部分が少なくなり、電
気的信頼性が低下した。
本発明にかかるプリント配線板は、ソルダーレジストの
剥がれが全くなく、耐冷熱衝撃性および絶縁性に優れ
る。これに対し、比較例1に示すような、パッド外周縁
とソルダーレジスト開口縁とが重なる構成のプリント配
線板では、ソルダーレジスト開口縁のパッドとの界面際
にはソルダーレジスト形成時に隙間が生じ、Ni/Auめっ
き液が侵入してめっきの析出が進行し、ソルダーレジス
ト開口縁に剥がれが生じた。そのため、耐冷熱衝撃試験
において、浮き(剥がれ)部分からクラックが発生し
た。比較例2に示すような、パッド外周縁とソルダーレ
ジスト開口縁との間に生じるクリアランスXを本発明範
囲の下限値よりも小さくした構成のプリント配線板で
は、ソルダーレジスト開口部のアライメントミスが生じ
易くなり、導体パッドの一部分がソルダーレジストにて
覆われ、その界面から剥離が生じるという不良が発生し
た。そのため、耐冷熱衝撃試験において、浮き(剥が
れ)部分からクラックが発生した。比較例3に示すよう
な、ソルダーレジストの開口径を大きくした構成のプリ
ント配線板では、パッド外周縁とソルダーレジスト開口
縁との間に生じるクリアランスXが本発明範囲の上限値
よりも大きくなるために、隣接する導体回路が露出し
て、はんだバンプを形成したときに電気的な短絡を生じ
た。比較例4に示すような、ソルダーレジストの膜厚を
本発明範囲の下限値よりも薄くした構成のプリント配線
板では、はんだバンプ形成時にそのはんだがソルダーレ
ジスト上に掛かってしまい、ソルダーレジストがソルダ
ーダムとして機能せず隣接するはんだバンプとブリッジ
不良を起こし、電気的な短絡を生じた。比較例5に示す
ような、ソルダーレジストの膜厚を本発明範囲の上限値
よりも厚くした構成のプリント配線板では、ソルダーレ
ジスト下層の硬化が不十分となり、ソルダーレジストの
開口縁に浮きが生じた。そのため、耐冷熱衝撃試験にお
いて、浮き(剥がれ)部分からクラックが発生した。ま
た、ソルダーレジストの膜厚が厚いために、バンプがソ
ルダーレジスト開口から突出する部分が少なくなり、電
気的信頼性が低下した。
【0024】
【表1】 ・ソルダーレジスト剥がれ:目視検査による剥がれの有無を示す。 ・耐冷熱衝撃試験:−65℃←→ 125℃のサイクル試験における ソルダーレジストのクラック発生時期を示す。 ・絶縁性;隣接導体回路(隣接パッド含む)との電気絶縁性を示す。 ○は良好、×は不良を示す。
【0025】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、ソ
ルダーレジストの開口形状に起因する問題を解消するこ
とができ、特にソルダーレジストの剥がれを生じること
なく、はんだを安定して供給できるようなソルダーレジ
ストの開口形状をもつプリント配線板を提供することが
できる。
ルダーレジストの開口形状に起因する問題を解消するこ
とができ、特にソルダーレジストの剥がれを生じること
なく、はんだを安定して供給できるようなソルダーレジ
ストの開口形状をもつプリント配線板を提供することが
できる。
【図1】従来のプリント配線板におけるソルダーレジス
トの開口形状を示すA−A部分断面図である。
トの開口形状を示すA−A部分断面図である。
【図2】本発明のプリント配線板におけるソルダーレジ
ストの開口形状を示すA−A部分断面図である。
ストの開口形状を示すA−A部分断面図である。
1 ソルダーレジスト 2 実装用導体パッド 3 永久(めっき)レジスト 4 絶縁性樹脂層
Claims (3)
- 【請求項1】 電子部品実装表面に、実装用パッドを含
む導体パターンとその導体パターンを被覆するソルダー
レジストを形成してなるプリント配線板において、前記
ソルダーレジストの開口部の大きさを、前記実装用パッ
ドよりも大きくすることにより、ソルダーレジストがパ
ッドと重ならないようにすることを特徴とするプリント
配線板。 - 【請求項2】 ソルダーレジストの開口縁と実装用パッ
ドの外周縁との間に生じるクリアランスを、20〜60μm
にすることを特徴とする請求項1に記載のプリント配線
板。 - 【請求項3】 ソルダーレジストの膜厚を15〜30μmの
厚さにすることを特徴とする請求項1に記載のプリント
配線板。
Priority Applications (10)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP14451695A JPH08340173A (ja) | 1995-06-12 | 1995-06-12 | プリント配線板 |
DE69636212T DE69636212T2 (de) | 1995-06-06 | 1996-06-06 | Gedruckte schaltungsplatte |
KR1019970700629A KR100307776B1 (ko) | 1995-06-06 | 1996-06-06 | 프린트배선판 |
SG1998003654A SG71838A1 (en) | 1995-06-06 | 1996-06-06 | Printed circuit boards |
CN96190598A CN1080981C (zh) | 1995-06-06 | 1996-06-06 | 印刷电路板 |
SG1997004665A SG65717A1 (en) | 1995-06-06 | 1996-06-06 | Printed circuit boards |
EP96916328A EP0776150B1 (en) | 1995-06-06 | 1996-06-06 | Printed wiring board |
US08/765,451 US6291778B1 (en) | 1995-06-06 | 1996-06-06 | Printed circuit boards |
PCT/JP1996/001539 WO1996039796A1 (fr) | 1995-06-06 | 1996-06-06 | Plaquette de circuit imprime |
US09/152,250 US6303880B1 (en) | 1995-06-06 | 1998-09-11 | Printed circuit boards |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP14451695A JPH08340173A (ja) | 1995-06-12 | 1995-06-12 | プリント配線板 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH08340173A true JPH08340173A (ja) | 1996-12-24 |
Family
ID=15364169
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP14451695A Pending JPH08340173A (ja) | 1995-06-06 | 1995-06-12 | プリント配線板 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH08340173A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2011258921A (ja) * | 2010-06-10 | 2011-12-22 | Stats Chippac Ltd | 部分パット上にバンプを有するフリップチップ相互接続構造を形成する半導体デバイスおよびその方法 |
US9125332B2 (en) | 2008-03-25 | 2015-09-01 | Stats Chippac, Ltd. | Filp chip interconnection structure with bump on partial pad and method thereof |
CN113692114A (zh) * | 2021-08-31 | 2021-11-23 | 联想(北京)有限公司 | 电路板及其制作方法 |
-
1995
- 1995-06-12 JP JP14451695A patent/JPH08340173A/ja active Pending
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US9125332B2 (en) | 2008-03-25 | 2015-09-01 | Stats Chippac, Ltd. | Filp chip interconnection structure with bump on partial pad and method thereof |
US9345148B2 (en) | 2008-03-25 | 2016-05-17 | Stats Chippac, Ltd. | Semiconductor device and method of forming flipchip interconnection structure with bump on partial pad |
JP2011258921A (ja) * | 2010-06-10 | 2011-12-22 | Stats Chippac Ltd | 部分パット上にバンプを有するフリップチップ相互接続構造を形成する半導体デバイスおよびその方法 |
CN113692114A (zh) * | 2021-08-31 | 2021-11-23 | 联想(北京)有限公司 | 电路板及其制作方法 |
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