JPH0833997B2 - Piezoelectric element disconnection detection circuit - Google Patents

Piezoelectric element disconnection detection circuit

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JPH0833997B2
JPH0833997B2 JP62098602A JP9860287A JPH0833997B2 JP H0833997 B2 JPH0833997 B2 JP H0833997B2 JP 62098602 A JP62098602 A JP 62098602A JP 9860287 A JP9860287 A JP 9860287A JP H0833997 B2 JPH0833997 B2 JP H0833997B2
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piezoelectric element
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disconnection
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英男 石森
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Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] この発明は、圧電素子の断線検出回路に関し、さらに
詳しくは、磁気ディスク基板の表面検査装置において、
表面の突起を検出するセンサの断線を容易に検出できる
ような圧電素子の断線検出回路に関する。
Description: TECHNICAL FIELD The present invention relates to a disconnection detection circuit for a piezoelectric element, and more specifically, in a surface inspection device for a magnetic disk substrate,
The present invention relates to a piezoelectric element disconnection detection circuit that can easily detect a disconnection of a sensor that detects a protrusion on a surface.

[従来の技術] 情報の記録,読出しに使用されるディスクには、ハー
ド磁気ディスクとか、光ディスク等、種々のものがある
が、これらの基板であるディスク基板は、その面に高度
な平坦度が要求されるため、面精度の検査、いわゆる表
面の粗さ検査が行われる。
[Prior Art] There are various types of discs used for recording and reading information, such as hard magnetic discs and optical discs. The disc substrates that are these substrates have a high degree of flatness on their surfaces. As required, surface accuracy inspection, so-called surface roughness inspection, is performed.

例えば、磁気ディスク基板の面精度の検出,すなわ
ち、その表面の突起の高さとその数の状態の検査は、ス
ピンドルにチャックされた磁気ディスク基板を一定の速
度で回転させ、その結果発生する空気流によりヘッドを
浮上させて、磁気ディスク基板の平面上にある突起とヘ
ッドとの接触の有無により行われる。この場合、突起と
ヘッドとの接触を検出するヘッドとしては、一般に圧電
センサが使用されている。
For example, in order to detect the surface accuracy of the magnetic disk substrate, that is, to inspect the height and the number of protrusions on the surface, the magnetic disk substrate chucked by the spindle is rotated at a constant speed, and the resulting air flow is generated. Thus, the head is levitated by the presence or absence of contact between the head and the protrusion on the plane of the magnetic disk substrate. In this case, a piezoelectric sensor is generally used as the head for detecting the contact between the protrusion and the head.

[解決しようとする問題点] このような従来のディスクの表面検査方式にあって
は、接触を検出する圧電素子が断線した場合には、検査
が不可能となり、しかも、ヘッド(センサ)の断線は、
被測定ディスク基板に突起が存在しないものとする状態
にあるので、どこまでが有効に検査されたか判別でき
ず、問題となる。
[Problems to be Solved] In such a conventional disk surface inspection method, if the piezoelectric element for detecting the contact is broken, the inspection becomes impossible, and further, the head (sensor) is broken. Is
Since there is no protrusion on the disk substrate to be measured, it cannot be determined how effectively the inspection is performed, which is a problem.

そこで、ヘッドが断線していないか否かを確認して検
査をすることになるが、いちいち確認してから検査に入
っていたのでは作業効率が悪い。
Therefore, it is necessary to check whether the head is broken or not, but it is inefficient to perform the inspection after checking each time.

この発明の目的は、このような従来技術の問題点を解
決するものであって、簡単に圧電素子を用いるヘッド等
においてその断線が検出できる圧電素子の断線検出回路
を提供することにある。
An object of the present invention is to solve the above-mentioned problems of the prior art, and to provide a disconnection detection circuit for a piezoelectric element, which can easily detect the disconnection in a head or the like using the piezoelectric element.

[問題点を解決するための手段] このような目的を達成するためにこの発明の圧電素子
の断線検出回路における構成は、圧電素子のノイズ成分
を増幅する増幅回路と、この増幅回路の出力を整流する
整流回路と、整流回路の出力信号又はこれを増幅した信
号と基準値と比較する比較回路とを備えていて、雑音成
分の整流値が所定値以上あることにより圧電素子の断線
を検出するものである。
[Means for Solving Problems] In order to achieve such an object, the configuration of the disconnection detection circuit for a piezoelectric element according to the present invention includes an amplifier circuit for amplifying a noise component of the piezoelectric element and an output of the amplifier circuit. A rectifier circuit for rectifying and a comparator circuit for comparing an output signal of the rectifier circuit or a signal obtained by amplifying the output signal with a reference value are detected, and disconnection of the piezoelectric element is detected when the rectified value of the noise component is a predetermined value or more. It is a thing.

[作用] このようにノイズにより圧電素子の断線状態が判断で
きるので、センサ等に圧電素子が使用された場合に、常
時センサが有効か否かの監視ができることになる。した
がって、例えば、ディスク基板の表面検査装置のヘッド
のようにその断線が検査に与える影響が大きい場合など
にあっては、実時間でセンサの有効/無効を把握でき、
効率的な測定が可能となる。
[Operation] Since the disconnection state of the piezoelectric element can be determined by the noise in this way, when the piezoelectric element is used as a sensor or the like, it is possible to constantly monitor whether or not the sensor is valid. Therefore, for example, in the case where the disconnection has a great influence on the inspection, such as the head of the surface inspection device for the disk substrate, the validity / invalidity of the sensor can be grasped in real time.
Efficient measurement is possible.

[実施例] 以下、この発明の一実施例について図面を参照して詳
細に説明する。
[Embodiment] An embodiment of the present invention will be described in detail below with reference to the drawings.

第1図は、この発明の圧電素子の断線検出回路を磁気
ディスク表面検査装置のヘッドに適用した場合の接触検
出回路を中心としたブロック図、第2図は、その磁気デ
ィスク表面検査装置の全体的なブロック図である。
FIG. 1 is a block diagram centering on a contact detection circuit when a disconnection detection circuit for a piezoelectric element according to the present invention is applied to a head of a magnetic disk surface inspection apparatus, and FIG. 2 is the entire magnetic disk surface inspection apparatus. It is a typical block diagram.

第2図において、1は、試験対象となる磁気ディスク
基板(以下被測定ディスク)であり、スピンドルモータ
2のスピンドル2aにチャックされている。3は、圧電素
子のセンサにより接触検出を行うヘッドであって、被測
定ディスク1の面の上部で面に対向して配置されてい
て、被測定ディスク1の回転に伴ってそこに発生する空
気流で浮上する。
In FIG. 2, reference numeral 1 denotes a magnetic disk substrate (hereinafter referred to as a measured disk) to be tested, which is chucked by a spindle 2a of a spindle motor 2. Reference numeral 3 denotes a head for detecting contact by a sensor of a piezoelectric element, which is arranged above the surface of the measured disk 1 so as to face the surface, and air generated therein as the measured disk 1 rotates. Surface up.

ヘッド3は、キャリッジ4に支持されていて、キャリ
ッジ4の往復移動に応じて被測定ディスク1の面上を半
径方向に往復移動する。キャリッジ4の移動は、キャリ
ッジモータ5により行われ、キャリッジ4はピッチ送り
される。キャリッジモータ5は、ステッピングモータで
あって、キャリッジ駆動回路6からの駆動信号に応じて
選択された方向に所定量回転する。7は、スピンドル駆
動回路であって、表面検査処理装置10から被測定ディス
ク1の回転数を指定する制御信号を受ける。
The head 3 is supported by the carriage 4 and reciprocates in the radial direction on the surface of the measured disk 1 in response to the reciprocating movement of the carriage 4. The carriage 4 is moved by the carriage motor 5, and the carriage 4 is pitch-fed. The carriage motor 5 is a stepping motor and rotates a predetermined amount in a direction selected according to a drive signal from the carriage drive circuit 6. Reference numeral 7 denotes a spindle drive circuit which receives a control signal for designating the number of revolutions of the measured disk 1 from the surface inspection processing device 10.

ここで、被測定ディスク1の回転制御状態において、
ヘッド3の出力が接触検出回路8に入力されて入力信号
のレベルを検出して接触状態を検出し、その検出信号が
表面検査データとして表面検査処理回路10に送出され
る。表面検査処理回路10は、マイクロプロセッサ10a
と,メモリ10b,D/Aコンバータを備えるインタフェース1
0c等からなり、キーボード11からの検査条件を示す信号
を受けてメモリ10b上の所定のプログラムを起動して表
面検査処理を実行する。そしてインタフェース10cを介
してスピンドル駆動回路7へ回転数を指定する制御信号
を送出する。
Here, in the rotation control state of the measured disk 1,
The output of the head 3 is input to the contact detection circuit 8 to detect the level of the input signal to detect the contact state, and the detection signal is sent to the surface inspection processing circuit 10 as surface inspection data. The surface inspection processing circuit 10 is a microprocessor 10a.
And interface with memory 10b and D / A converter 1
0c, etc., receives a signal indicating the inspection condition from the keyboard 11 and activates a predetermined program on the memory 10b to execute the surface inspection process. Then, a control signal designating the number of revolutions is sent to the spindle drive circuit 7 via the interface 10c.

また、表面検査処理回路10は、キャリッジの動作条件
に対応したキャリッジ駆動信号をキャリッジ駆動回路6
に送出して、ヘッド3の位置を順次ピッチ送りする制御
を行う。そしてヘッド3により検出される接触信号を接
触検出回路10から得て、現在指定されている高さにおい
て被測定ディスク1上の位置に対応する位置情報ととも
に接触の有無をフラグ等によりメモリ10bに記憶して行
く。
Further, the surface inspection processing circuit 10 sends a carriage drive signal corresponding to the operating condition of the carriage to the carriage drive circuit 6.
And the position of the head 3 is sequentially fed by pitch. Then, the contact signal detected by the head 3 is obtained from the contact detection circuit 10, and the presence or absence of contact is stored in the memory 10b by a flag or the like together with the position information corresponding to the position on the measured disk 1 at the currently designated height. To go.

このことにより、被測定ディスク1の表面検査データ
を得る。
As a result, the surface inspection data of the measured disk 1 is obtained.

ここで、9は、ヘッド断線検出回路であって、ヘッド
3からの信号が入力され、ヘッドの断線を検出して、そ
の信号を表面検査処理装置10に送出するものである。表
面検査処理装置10は、ヘッド断線検出回路8から断線検
出信号を受けると、それを割込み信号として受け付け
て、断線処理プログラムを起動して断線処理に入る。
Reference numeral 9 denotes a head disconnection detection circuit, which receives a signal from the head 3, detects a head disconnection, and sends the signal to the surface inspection processing apparatus 10. Upon receiving the disconnection detection signal from the head disconnection detection circuit 8, the surface inspection processing device 10 accepts it as an interrupt signal, activates the disconnection processing program, and starts disconnection processing.

断線処理としては、表面処理装置10に接続されている
ディスプレイ(図示せず)に警報表示をするとともに、
表面検査の終了処理をして、ヘッド交換指示の表示をす
る。
As the disconnection treatment, an alarm is displayed on a display (not shown) connected to the surface treatment device 10,
After finishing the surface inspection, the head replacement instruction is displayed.

ヘッド断線検出回路9は、第1図に見るように、ヘッ
ド3に入力側が接続されたアンプ91と、その出力を受け
る平均値電圧出力回路92、この平均値電圧出力回路92の
出力を受ける比較回路としてのコンパレータ93とからな
り、コンパレータ93の出力に断線検出信号を発生するも
のである。なお、コンパレータ93の基準電圧はポテンシ
ョメータ94により供給される。
As shown in FIG. 1, the head disconnection detection circuit 9 includes an amplifier 91 whose input side is connected to the head 3, an average value voltage output circuit 92 which receives its output, and a comparison which receives the output of this average value voltage output circuit 92. It is composed of a comparator 93 as a circuit, and generates a disconnection detection signal at the output of the comparator 93. The reference voltage of the comparator 93 is supplied by the potentiometer 94.

ここで、平均値電圧出力回路92は、倍電圧整流回路と
整流信号を増幅するオペアンプから構成されていて、ノ
イズ信号を整流してその平均値(rms)を発生する回路
である。
Here, the average value voltage output circuit 92 is composed of a voltage doubler rectifier circuit and an operational amplifier that amplifies a rectified signal, and is a circuit that rectifies a noise signal and generates its average value (rms).

ヘッド3の圧電素子の等価回路は第1図の90として示
されるものであって、容量Caと抵抗R、そして配線等に
より発生する浮遊容量Csとからなる。ここで、容量Caと
しては、400pF〜500pF程度が表面検査用のヘッドの容量
であって、抵抗Rの値は100kΩ〜150kΩ程度である。ま
た、浮遊容量Csは25PF程度である。
The equivalent circuit of the piezoelectric element of the head 3 is shown as 90 in FIG. 1, and is composed of a capacitance Ca, a resistance R, and a stray capacitance Cs generated by wiring or the like. Here, as the capacitance Ca, about 400 pF to 500 pF is the capacitance of the head for surface inspection, and the value of the resistance R is about 100 kΩ to 150 kΩ. The stray capacitance Cs is about 25PF.

ここで、入力付加部分で発生する熱じょう乱による抵
抗ノイズの値は、次の式による。
Here, the value of resistance noise due to thermal disturbance generated in the input-added portion is calculated by the following equation.

ただし、Kは、ボルツマン定数,Tは絶対温度,Bは帯域
幅,Rは抵抗値,Cは全容量である。
However, K is the Boltzmann constant, T is the absolute temperature, B is the bandwidth, R is the resistance value, and C is the total capacitance.

また、アンプ91で発生するノイズは次に式による。 The noise generated in the amplifier 91 is calculated by the following equation.

ただし、enは、アンプの入力トランジスタ雑音抵抗の
ノイズ値である。
However, en is the noise value of the input transistor noise resistance of the amplifier.

,式よりアンプ91の入力として現れるノイズ値
は、 ここで、アンプ91の増幅率を56dB程度とすると、アン
プ91の出力として発生するノイズ値EOUTは、 EOUT=En×630 …… となる。
From the equation, the noise value appearing as the input of the amplifier 91 is Here, if the amplification factor of the amplifier 91 is about 56 dB, the noise value EOUT generated as the output of the amplifier 91 is EOUT = En × 630.

そこで、〜に従って具体的数値で検討してみる
と、次のようになる。
Therefore, when we examine the concrete numerical values according to, it becomes as follows.

K=1.38×10-23,T=300゜K B=300kHz,Cs=25×10-12F Ca=450×10-12F,R=120kΩ en=4×10-9V ここで、ヘッド3が断線した場合には、アンプ91の入
力側の負荷は、第1図における等価回路90のうち浮遊容
量Csのみとなる。
K = 1.38 × 10 -23 , T = 300 ° K B = 300kHz, Cs = 25 × 10 -12 F Ca = 450 × 10 -12 F, R = 120 kΩ en = 4 × 10 -9 V Here, head 3 When the line is disconnected, the load on the input side of the amplifier 91 is only the stray capacitance Cs in the equivalent circuit 90 in FIG.

このような条件の下に、実測した場合と、前記〜
式にしがたって、計算した理論値とを比較して見ると次
の表のようになる。
Under such conditions, when actually measured,
Following the formula and comparing the calculated theoretical values, the following table is obtained.

ただし、単位のない数値はμVであり、EOUT計は、Eo
utの計算値である。
However, the unitless value is μV, and the EOUT meter shows Eo
It is the calculated value of ut.

この表から、ヘッド3が断線状態にあるか否かは、実
測値又は計算値の中間レベルに検出基準レベルを設定す
れば判断できることになる。
From this table, it can be determined whether or not the head 3 is in the disconnection state by setting the detection reference level at the intermediate level between the actually measured value and the calculated value.

そこで、コンパレータの基準値であるポテンショメー
タ94の値を例えば、4.0mV〜5.5mVの程度の範囲に設定し
ておけば、ヘッド3の断線状態を検出することが可能と
なる。
Therefore, if the value of the potentiometer 94, which is the reference value of the comparator, is set in the range of, for example, 4.0 mV to 5.5 mV, it becomes possible to detect the disconnection state of the head 3.

なお、ヘッド3は、突起と接触した場合にも、ノイズ
と同様な振動信号を発生するので、コンパレータ93の断
線検出信号のうち接触検出回路8から接触検出信号があ
るときには、それを無効とするように処理するとよい。
このような無効回路は、接触検出回路8から接触検出信
号を受けて出力を阻止する回路としてヘッド断線検出回
路9の内部に設けてもよいし、表面検査処理装置10で無
効判定をしてもよい。
Note that the head 3 generates a vibration signal similar to noise even when it comes into contact with a protrusion, and therefore, if there is a contact detection signal from the contact detection circuit 8 among the disconnection detection signals of the comparator 93, it is invalidated. Should be processed as follows.
Such an invalid circuit may be provided inside the head disconnection detection circuit 9 as a circuit that receives a contact detection signal from the contact detection circuit 8 and blocks output, or may be determined by the surface inspection processing device 10 as an invalid circuit. Good.

以上説明してきたが、実施例では、磁気ディスク基板
の表面検査を中心に説明しているが、この発明は、光デ
ィスク基板をはじめ、種々のディスク表面検査の断線検
出回路に適用できるばかりでなく、他の一般的な圧電素
子の断線検出に適用できるものである。
As described above, in the embodiments, the description is centered on the surface inspection of the magnetic disk substrate, but the present invention can be applied not only to optical disk substrates, but also to disconnection detection circuits for various disk surface inspections. The present invention can be applied to other general piezoelectric element disconnection detection.

[発明の効果] 以上の説明から理解できるように、この発明にあって
は、ノイズにより圧電素子の断線状態が判断できるの
で、センサ等に圧電素子が使用された場合に、常時セン
サが有効か否かの監視ができることになる。したがっ
て、例えば、ディスク基板の表面検査装置のヘッドのよ
うにその断線が検査に与える影響が大きい場合などにあ
っては、実時間でセンサの有効/無効を把握でき、効率
的な測定が可能となる。
[Effects of the Invention] As can be understood from the above description, in the present invention, since the disconnection state of the piezoelectric element can be determined by noise, whether the sensor is always effective when the piezoelectric element is used as a sensor or the like. It will be possible to monitor whether or not. Therefore, for example, in the case where the disconnection has a large influence on the inspection, such as the head of a disk substrate surface inspection device, the validity / invalidity of the sensor can be grasped in real time, and efficient measurement is possible. Become.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

第1図は、この発明の圧電素子の断線検出回路を磁気デ
ィスク表面検査装置のヘッドに適用した場合の接触検出
回路を中心としたブロック図、第2図は、その磁気ディ
スク表面検査装置の全体的なブロック図である。 1…被測定ディスク、2…スピンドルモータ、2a…スピ
ンドル、3…ヘッド、4…キャリッジ、5…キャリッジ
モータ、6…キャリッジ駆動回路、7…スピンドル駆動
回路、8…接触検出回路、9…ヘッド断線検出回路、10
…表面検査処理回路、10a…マイクロプロセッサ、10b…
メモリ、10c…インタフェース、11…キーボード、90…
ヘッド等価回路、91…アンプ、92…平均値電圧出力回
路、93…コンパレータ。
FIG. 1 is a block diagram centering on a contact detection circuit when a disconnection detection circuit for a piezoelectric element according to the present invention is applied to a head of a magnetic disk surface inspection apparatus, and FIG. 2 is the entire magnetic disk surface inspection apparatus. It is a typical block diagram. 1 ... Disk to be measured, 2 ... Spindle motor, 2a ... Spindle, 3 ... Head, 4 ... Carriage, 5 ... Carriage motor, 6 ... Carriage drive circuit, 7 ... Spindle drive circuit, 8 ... Contact detection circuit, 9 ... Head disconnection Detection circuit, 10
… Surface inspection processing circuit, 10a… Microprocessor, 10b…
Memory, 10c ... Interface, 11 ... Keyboard, 90 ...
Head equivalent circuit, 91 ... Amplifier, 92 ... Average value voltage output circuit, 93 ... Comparator.

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】圧電素子のノイズ成分を増幅する増幅回路
と、この増幅回路の出力を整流する整流回路と、整流回
路の出力信号又はこれを増幅した信号と基準値と比較す
る比較回路とを備え、雑音成分の整流値が所定値以上あ
ることにより前記圧電素子の断線を検出することを特徴
とする圧電素子の断線検出回路。
1. An amplifier circuit for amplifying a noise component of a piezoelectric element, a rectifier circuit for rectifying an output of the amplifier circuit, and a comparison circuit for comparing an output signal of the rectifier circuit or an amplified signal thereof with a reference value. A disconnection detection circuit for a piezoelectric element, comprising: detecting a disconnection of the piezoelectric element when a rectified value of a noise component is a predetermined value or more.
【請求項2】圧電素子は、表面検査装置のヘッドにセン
サとして搭載され、整流回路は倍電圧整流回路であり、
その整流値がオペアンプにより増幅されて比較回路に供
給されることを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の
圧電素子の断線検出回路。
2. The piezoelectric element is mounted on a head of a surface inspection device as a sensor, and the rectifier circuit is a voltage doubler rectifier circuit,
The disconnection detection circuit for a piezoelectric element according to claim 1, wherein the rectified value is amplified by an operational amplifier and supplied to a comparison circuit.
JP62098602A 1987-04-23 1987-04-23 Piezoelectric element disconnection detection circuit Expired - Lifetime JPH0833997B2 (en)

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