JPH08336507A

JPH08336507A - Ｍｒｉ装置

Info

Publication number: JPH08336507A
Application number: JP7170504A
Authority: JP
Inventors: Kenji Takiguchi; 賢治滝口; Kazumi Komura; 和美小村; Hiromichi Shimizu; 博道清水
Original assignee: Hitachi Medical Corp
Current assignee: Hitachi Healthcare Manufacturing Ltd
Priority date: 1995-06-14
Filing date: 1995-06-14
Publication date: 1996-12-24

Abstract

(57)【要約】【目的】静磁場内に位置した被検体の撮像部位の静磁場
不均一の分布を高速で計測し、それにより被検体の検査
時間を短縮する。【構成】９０°−１８０°−１８０°−…のスピンエコ
ー法系列のマルチエコーパルスシーケンスを用い、各１
８０°ＲＦパルス印加毎に、エコー時間をＴＥ、ｎをｎ
≧１なる整数としたときに、（ｎ・ＴＥ）と（ｎ・ＴＥ
＋ε）なる時刻にエコー信号ｅ_1nとｅ_2nとが対をなすよ
うに発生させ、それらの信号を別個に画像再構成し、再
構成された画像間の差分画像データを作成し、その差分
画像データを用いて被検体の撮像部位の静磁場不均一の
分布を算出する。【効果】従来技術のようにパルスシーケンスを画像再構
成に必要なだけ、またはその２倍の回数だけ実施する必
要がなく、静磁場不均一の分布の計測が格段に高速化で
きる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は核磁気共鳴現象（ＮＭＲ
現象）を用いて被検体内を映像化する磁気共鳴イメージ
ング装置（以下、ＭＲＩ装置と記す。）に係り、特に関
心領域内の静磁場不均一を高速に計測する技術に関する
ものである。

【０００２】

【従来の技術】ＭＲＩ装置にとって均一な静磁場と直線
性の良い傾斜磁場とが必要不可欠である。静磁場の均一
性と傾斜磁場の直線性が良好でないと、撮像位置の正確
な設定が困難であると共に、得られた画像には歪が生じ
検査対象物の正確な形状の判定が不可能となるためであ
る。そこで、ＭＲＩ装置に用いる静磁場発生用磁石は、
検査可能空間の静磁場の均一度を１０^-6ppm 程度のレベ
ルに高めたものとされている。しかしながら、前記の如
く非常に均一度を高められた均一磁場空間を提供するよ
うに製作した磁石装置であっても、撮像のために被検体
を均一静磁場空間へ挿入すると、被検体の不均一な透磁
率によって、被検体内の磁場均一度が乱れてしまうもの
であった。このため、ＭＲＩ装置で撮像した画像には多
かれ少なかれ歪の入り込んでいるものであった。

【０００３】そこでこの問題を解決するために、静磁場
空間に被検体を挿入した状態で、撮像に先立って、被検
体内の撮像部位の静磁場均一度を計測して、実際の撮像
時にその計測データを用いて補正を行う方法が提案され
ている。補正の方法としては、１つには静磁場発生用磁
石にシミング機構を設け、前記計測データを用いて磁場
を補正するもの、もう１つには撮像データを前記計測デ
ータにより補正して画像再構成するものである。前者
は、例えば、１９８８年発行の「ジャーナルオブマ
グネチックレゾナンス，ボリウム７７，４０頁乃至５
２頁」に掲載のプラマー氏等の「アニューアプロー
チツーオートマチックシミング」と題する論文
や、１９９２年発行の「日磁医誌，第１２巻３号，１４
１頁乃至147頁」に掲載の金山氏等の「人体の高速磁場
分布計測と磁場均一性調整」と題する論文が知られてお
り、また後者としては、特開昭60−161552号公報が挙げ
られる。

【０００４】上記文献に記載された静磁場不均一の計測
方法は、スピンエコー法においてエコー時間が、Ｔ及び
（Ｔ＋ΔＴ）の２つのパルスシーケンスをそれぞれ複数
回実施し、それぞれのシーケンスでの計測データ同志の
差分を取り位相差分布を求め、それにより静磁場の不均
一を求めるというものがプラマー氏等の論文及び特開昭
60−161552号公報に開示された方法であり、また、金山
氏等が開示した方法は、グラジェントエコー法における
エコー信号を傾斜磁場の反転により、核スピンの励起後
の時刻Ｔ，（Ｔ＋ΔＴ），（Ｔ＋２ΔＴ）のように複数
発生させるとともに、このシーケンスを複数回実施し、
第１エコーと第２エコー又は第１エコーと第３エコーと
の差分を取り位相差分布を求め、それにより静磁場の不
均一を求めるというものである。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】上記した方法のいずれ
も、静磁場の不均一を求めるためには、スピンエコー法
やグラジェントエコー法のパルスシーケンスを通常の画
像を得るのに必要な回数又はその２倍の回数だけ実施し
なければならないものであった。したがって、静磁場の
不均一を計測するために、被検体の撮像のための本計測
と同じかそれ以上の時間がかかってしまい、Ｘ線ＣＴな
どの他のモダリティよりも撮像時間が長いというＭＲＩ
装置の欠点を更に増大してしまうものであった。

【０００６】本発明は上記に鑑みて成されたもので、そ
の目的は静磁場の不均一を、従来方法と比較して、非常
に高速で可能にする技術を提供し、以って被検体の撮像
完了までの時間を短縮することにある。

【０００７】

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に本発明は、被検体へ静磁場と傾斜磁場を印加する手段
と、前記静磁場の印加の下で、前記傾斜磁場とＲＦパル
スとをスピンエコー法パルスシーケンスに則って印加
し、前記被検体の所定部位からエコー信号を発生させる
シーケンス制御手段と、前記エコー信号を受信する手段
と、受信された信号を処理するとともに画像再構成する
画像処理手段とを有したＭＲＩ装置において、前記シー
ケンス制御手段には、エコー時間をＴＥとしたときに、ｎ・ＴＥ及びｎ・ＴＥ＋ε ここに、ｎは、ｎ≧１なる整数の時刻のように、静磁場
不均一の影響の差が常に等しくなる時刻に一対のエコー
信号を繰り返して発生させるパルスシーケンスが組み込
まれるとともに、前記画像処理手段には、ｎ・ＴＥとｎ
・ＴＥ＋εの時刻のエコー信号群を別個に画像再構成
し、再構成された画像から差分画像データを得るソフト
ウェアが組み込まれるとともに、前記差分画像データか
ら静磁場不均一の分布を算出する手段を設けたものであ
る。そして、エコー信号を発生させる時刻のうち、ｎ・
ＴＥ＋εにおいて、εは符号を有するものとされ、その
符号はｎの増加に伴って一定とされるか、またはｎの増
加に伴ってプラスとマイナスが交互に与えられる。

【０００８】

【作用】前記従来技術でも述べたように、静磁場の不均
一は、静磁場の均一なデータ又は静磁場の不均一を補償
したデータと、静磁場の不均一を取り込んだデータとの
差分から算出することができる。そこで本発明のシーケ
ンス制御手段では、スピンエコー法系列のマルチエコー
シーケンスにおいて、各１８０°ＲＦパルスの印加毎に
静磁場不均一の影響の差が等しい一対のエコー信号を発
生させる。例えばエコー時間をＴＥとしたときに（ｎ・
ＴＥ）なる時刻の静磁場不均一の補償されたデータと、
そして（ｎ・ＴＥ＋ε）なる時刻に静磁場不均一を取り
込んだデータとを対にして、複数対のデータを１回のパ
ルスシーケンスで発生させる。そして、画像処理手段で
は前記各データを別個に画像再構成し、次いで、再構成
された画像同志の差分を取り、差分画像データを求め
る。この差分画像データは、静磁場の不均一分布データ
を包含している。そこで、静磁場不均一の分布を算出す
る手段は、前記差分画像データを用いて静磁場の不均一
分布を算出する。

【０００９】

【実施例】以下、本発明の実施例を図面を用いて説明す
る。図５は本発明を実施するMRI装置の概略構成を示す
ブロック図である。図５において、１は静磁場を発生す
る磁石装置で、被検体８を収容し得る空間に所定の大き
さで１０^-6ppm 程度の均一な静磁場を発生するもので、
磁石としては、超電導方式又は永久磁石方式が現状の主
流となっている。２は傾斜磁場発生装置で、互いに直交
した方向に傾斜磁場を発生させる３組の傾斜磁場コイル
から成る。３は傾斜磁場発生装置２の各コイルへ電流を
供給する傾斜磁場電源である。４はＲＦパルスの送信
系、５はＲＦプローブ、６はＮＭＲ信号の受信系であ
る。図では省略したが、送信系４は高安定な任意の周波
数信号を出力できるシンセサイザと、このシンセサイザ
の出力信号を振幅変調する変調器と、この変調器の出力
信号を増幅する増幅器とを有し、この増幅器の出力をＲ
Ｆプローブ５へ供給する。また、受信系６はＲＦプロー
ブ５の受信信号を増幅する増幅器と、この増幅器の出力
を前記シンセサイザから入力された参照信号によって直
交検波する直交検波器と、この直交検波器の出力信号を
サンプリングするＡ／Ｄ変換器とを有し、このＡ／Ｄ変
換器の出力信号はCPU7内の画像処理装置へ送られる。な
お、ＲＦプローブ５は送信用と受信用を別個に設ける場
合と共用する場合とがあり得る。

【００１０】７は前記ＣＰＵであり、傾斜磁場電源３，
送信系４，受信系６を、選択されたパルスシーケンスを
実行するため、及び前記パルスシーケンスによって被検
体内から発生するＮＭＲ信号を計測するためにシーケン
シャルに制御するとともに、受信系６から入力したディ
ジタル信号を内部の画像処理装置によってＦＦＴ演算し
画像再構成するものである。また、ＣＰＵ７は、後述の
静磁場不均一の分布を算出する機能をも有している。８
はディスプレイ装置で、ＣＰＵ７によって再構成された
被検体の断層像や血管像を表示するもの、９は記憶装置
で、各種パルスシーケンスのソフトウェアプログラムや
演算ソフトウェアを記憶させられ、前記ＣＰＵ７へそれ
らのソフトウェアを供給するとともに、再構成された画
像データを記憶するものである。１０はキーボードやマ
ウスあるいはトラックボール等の入力装置と、各種操作
器や表示器を備えた操作卓である。以上、図５にＭＲＩ
装置の構成を示したが、これは一般的な構成を示したも
ので、本発明は現在市販されているＭＲＩ装置ならば実
施が可能である。

【００１１】次に、上記構成のＭＲＩ装置で実施される
静磁場の強度分布を計測する実施例を説明する。図１は
静磁場強度の分布を測定するための第一の実施例として
のパルスシーケンスを示している。図１を参照すると想
起されるように、本パルスシーケンスは特開昭60−1615
52号公報の図５または米国特許第5,270,654 号公報の図
７Ａに記載されたパルスシーケンスと似ている。すなわ
ち、本パルスシーケンスは、スピンエコー法のマルチエ
コーシーケンスにより生ずるエコー信号を傾斜磁場の反
転により複数発生させる点では類似している。

【００１２】しかしながら、特開昭60−161552号公報及
び米国特許第5,270,654 号公報の発明の発明者等は、前
記複数のエコー信号を単一画像形成を用いて、撮像時間
の短縮を達成することのみに着目し、本願発明には思い
到らなかった。本願発明者等は、前記複数のエコー信号
を、エコー時間をＴＥとしたとき、（ｎ・ＴＥ）と（ｎ
・ＴＥ＋ε）との時刻毎のエコー信号に分離して用いれ
ば、静磁場の不均一の計測を従来技術より格段に高速化
できるという点に着目して、本願発明を成したものであ
る。

【００１３】以下、図１のパルスシーケンスを詳細に説
明する。図１において、横軸は左から右へ向っての時間
経過を示し、縦軸方向には、ＲＦパルス（ＲＦ）と、ス
ライス方向傾斜磁場（Ｇｚ）と、位相エンコード方向傾
斜磁場（Ｇｙ）と、周波数エンコード方向傾斜磁場（Ｇ
ｘ）の印加タイミングと印加期間と、エコー信号（ech
o）の発生状況と、核スピンの時間経過に対する位相ず
れ（δΦ）とを上から順に並べて示したものである。

【００１４】先ず、被検体２０を静磁場発生用磁石装置
１の撮像空間に位置させる。被検体２０の移動には寝台
１１が用いられ、また、ＲＦプローブが送信用と受信用
とで異なっている場合には、寝台１１の移動前に被検体
２０の撮像部位へ受信用ＲＦプローブが装着される。そ
して、被検体２０が静磁場空間の所定位置に位置したと
ころで、撮像位置決め画像を得る。その画像を参照し
て、操作卓から撮像位置，撮像パラメータを入力して、
撮像を開始する。撮像開始指令によって図１のパルスシ
ーケンスがスタートする。

【００１５】最初に、スライス方向傾斜磁場Ｇｚ１２１
の印加の下に、９０°ＲＦパルス１１１を照射する。こ
れによって、被検体２０のスライス内の核スピンが選択
励起される。次いで、Ｇｚ１２２を印加し、選択励起さ
れた核スピンのスライス方向での位相合わせを行う。こ
の位相合わせの終了後又は位相合わせと重複して、周波
数エンコード方向傾斜磁場Ｇｘ１４１を所定時間印加す
る。このＧｘ１４１の印加は、選択励起された核スピン
へ読出し方向に対し位相ずれを生じさせる。

【００１６】このようにした後、１８０°ＲＦパルス１
１２とＧｚ１２３とを同時に印加し、前記９０°選択励
起された核スピンを更に１８０°励起する。そして、こ
の１８０°励起終了後、位相エンコード方向傾斜磁場Ｇ
ｙ１３１を印加する。Ｇｙ１３１は位相エンコード方向
に対して核スピンの位置情報を付与する。Ｇｙ１３１の
印加に続いてＧｘ１４２を印加する。Ｇｘ１４２の印加
量はGx141 の２倍とされ、Ｇｘ１４２の振幅と印加時間
の積がＧｘ１４１と等しくなる時刻が、９０°ＲＦパル
ス１１１と１８０°ＲＦパルス１１２との印加時間間隔
の２倍となるようにされる。Ｇｘ１４２を印加すると、
エコー信号ｅ₁₁がＲＦプローブ５で検出される。そし
て、エコー信号ｅ₁₁は９０°ＲＦパルス１１１の印加時
刻Ｔ_OからＴ_E後に最大となる。このＴ_Eをエコー時間
という。ここまでのパルスシーケンスはスピンエコー法
という呼び方で広く知られている。

【００１７】本発明は、上記９０°〜１８０°励起に引
き続いて１８０°ＲＦパルスを繰り返して印加し、各１
８０°ＲＦパルス毎に複数のエコー信号を発生させる
が、以下、その方法を説明する。

【００１８】エコー信号ｅ₁₁の計測のためのサンプリン
グが終了したら、Ｇｘ１４２の振幅を逆極性としたＧｘ
１４３を印加する。すると、Ｇｘ１４２の印加の後半に
て拡散しつつあった核スピンは再び収束しエコー信号ｅ
₂₁を発生する。エコー信号ｅ₂₁の振幅はエコー信号ｅ₁₁
と同極性を有したものとなる。そして、時刻ＴＥからε
後の時刻（ＴＥ＋ε）にエコー信号ｅ₂₁は最大となり、
その減衰して行く。Ｇｘ１４３はＧｘ１４２と等時間だ
け印加され、その間にエコー信号ｅ₂₁はサンプリングさ
れる。エコー信号ｅ₂₁のサンプリング終了後、Ｇｙ１３
１と逆極性で印加量の絶対値の等しいＧｙ１３２を印加
し、核スピンの位相エンコード方向の位相戻しを行う。

【００１９】続いて、Ｇｚ１２４の印加を行うとともに
１８０°ＲＦパルス１１３を印加し、前記スライスと同
一スライス内の核スピンを更に１８０°励起する。そし
て、Ｇｙ１３３とＧｙ１３１とは異なるステップ的な印
加量で印加し、その後、Ｇｘ１４４，１４５を印加して
エコー信号ｅ₂₁及びｅ₂₂を計測する。Ｇｘ１４４と１４
５とは図からも明らかなように、振幅が逆極性で、印加
量の絶対値は等しい。これらの極性は、Ｇｘ１４２と１
４３の関係と同じである。エコー信号ｅ₂₁は時刻２ＴＥ
に、またエコー信号ｅ₂₂は時刻（２ＴＥ＋ε）に生ずる
ように、ＲＦパルス１１３，Ｇｘ１４４，１４５の印加
が行われる。そして、エコー信号ｅ₂₂のサンプリング終
了後、Ｇｙ１３４がＧｙ１３３と逆極性かつ印加量の絶
対値が等しく印加され、位相エンコード方向の位相戻し
が行われる。

【００２０】以下、同様にして行われるが、エコー信号
ｅ_1nとｅ_2nが同一順序で計測されるように、１８０°Ｒ
ＦパルスとＧｘが印加される。すなわち、図からも明ら
かなように、エコー信号は、ｎをｎ≧１の整数としたと
き、エコー信号のｅ_1nは時刻（ｎ・ＴＥ）に出現し、エ
コー信号のｅ_2nは時刻（ｎ・ＴＥ＋ε）に出現するよう
になっている。

【００２１】図１の最下段のδΦは静磁場の不均一さの
みが核スピンに及ぼす影響をパルスシーケンスの進行に
従って示している。この影響は、例えば歳差運動してい
る核スピンの位相の進み又は遅れとなって時間とともに
変化する。また、この影響は、位相エンコード方向と周
波数エンコード方向の２次元分布をする。図１のδΦ
は、静磁場強度が均一な所定値からずれた所の核スピン
の位相変化を示す。δΦは、被検体２０のスライス内の
核スピンが静磁場方向とは異なる方向へ励起されると生
ずる。したがって、９０°ＲＦパルス１１１による励起
後にδΦは１５１で示すように現われ、δΦは時間とと
もに比例して増大する。そして、時刻ＴＥ／２において
１８０°ＲＦパルス１１２の照射が行われると、δΦの
位相が反転し、その後また比例的に増大し、時刻ＴＥに
て零となる。この時刻ＴＥにてδΦが零となるのがスピ
ンエコー法の特長である。

【００２２】時刻ＴＥを過ぎるとδΦの極性が反転し、
δΦはなおも比例的に増大し、時刻（３ＴＥ／２）にて
１８０°ＲＦパルス１１３を照射する時点では、δΦは
１８０°ＲＦパルス１１２の照射時点と同一の値とな
る。１８０°ＲＦパルス１１３を照射した後は、再び、
１８０°ＲＦパルス１１２と１１３の間の変化を繰り返
し、時刻２ＴＥでδΦは零となる。以後もδΦは図に示
すように同じ変化を繰り返す。このようなδΦの変化過
程においてエコー信号ｅ_1nとｅ_2nとが計測される。ｅ_1n
は、ＴＥ，２ＴＥ，３ＴＥ，…，ｎＴＥの各時刻に計測
されるので、δΦは全て零、即ち静磁場の不均一は補償
されたものとなる。一方、エコー信号ｅ_2nは時刻（ＴＥ
＋ε），（２ＴＥ＋ε），…，（ｎ・ＴＥ＋ε）に計測
されるが、δΦは図１に示すように時間とともに直線的
に変化するので、各エコー信号ｅ_2nに包含されるδΦは
全て同一となっている。

【００２３】以上のパルスシーケンスでｎを３２，６
４，１２８，２５６，…の如く１つ設定して、エコー信
号群ｅ_1Nとｅ_2Nの２つの信号群を得る。これらの２つの
エコー信号群はそれぞれ、ｋｘをリードアウト方向、ｋ
ｙを位相エンコード方向とするメモリ空間（これをｋ空
間と称す。）へ位相エンコード順に記憶される。ここで
周波数エンコード方向、即ちリードアウト方向傾斜磁場
の時間積分値に着目すると、奇数番目のエコー信号ｅ_1n
はその時間積分値が負から正の向きに時間経過とともに
サンプリングされ、また、偶数番目のエコー信号ｅ_2nは
その時間積分値が正から負の向きに時間経過とともにサ
ンプリングされている。したがって、ｅ_1Nかｅ_2Nかどち
らか一方のエコー信号群について、ｋ空間のリードアウ
ト方向ｋｘについて書き込みを逆の方向（矢印参照）か
ら行う。図２に示すようにエコー信号ｅ_1Nとｅ_2Nが得ら
れた場合に、エコー信号ｅ_2Nをリードアウト方向ｋｘに
対してｅ_1Nとは反対にする。

【００２４】このようにｋ空間に記憶されたエコー信号
ｅ_1Nとｅ_2Nはそれぞれ別個に２次元フーリエ変換法によ
り画像再構成される。これによって、図３に示すよう
に、エコー信号ｅ_1Nからは図３（ａ）に示す画像３０１
が、そしてエコー信号ｅ_2Nからは図３（ｂ）に示す画像
３０２が得られる。得られた２枚の画像を用いて、断面
内の静磁場分布δＨを求める。エコー信号ｅ_1N及びエコ
ー信号ｅ_2Nから得られたそれぞれの画像の差分を取る
と、その差分には断面内の静磁場分布δＨが反映されて
いる。これは、前述の従来技術の説明からも理解され得
るところである。そこで、エコー信号群ｅ_1Nから再構成
された画像の信号強度をＳ₁、そして、エコー信号群ｅ
_2Nから再構成された画像の信号強度をＳ₂とし、それぞ
れの実数部をＲ_e（Ｓ₁），Ｒ_e（Ｓ₂）、虚数部をＩ
_m（Ｓ₁），Ｉ_m（Ｓ₂）とすると、静磁場分布δＨは数１
で表わされる。

【００２５】◎

【数１】ここで、γはエコー信号発生対象となっている原子核の
磁気回転比、εは上記エコー信号ｅ_1nとｅ_2nの発生時間
差である。数１の計算はＣＰＵ７にて実行され、一時的
にＣＰＵ７内のメモリ素子等へ記憶保持され、次に被検
体２０の前記断面の診断用画像を撮像に先立つ静磁場補
正のためのデータとして用いられる。尚、数１を用いて
計算した静磁場分布δＨをディスプレイ装置８へ表示す
ることもできる。それを図４に示すが、静磁場分布δＨ
が位相パターン３０３として表示される。

【００２６】本発明は被検体の撮像断面を９０°−１８
０°−１８０°−…と励起して、各１８０°パルス毎
に、静磁場不均一の補償されたエコー信号と静磁場不均
一を取り込んだエコー信号を対にして計測し、従来技術
によるものより格段に計測時間を短縮するものであるこ
とは、上記実施例からも容易に理解される。ところで、
上記実施例は、エコー信号群ｅ_1Nは（ｎ・ＴＥ）なる時
刻に、そしてエコー信号群ｅ_2Nは（ｎ・ＴＥ＋ε）なる
時刻に計測するものとし、かつ画像再構成に必要なエコ
ー信号の数例えば１２８，２５６のエコー信号を図１に
示すパルスシーケンスを１回実行するのみで取得するも
のとして説明したが、本発明は上記実施例に限定される
ことはなく、要旨を逸脱しない範囲で変形が可能であ
る。

【００２７】第一の変形例としては、画像再構成に必要
なエコー信号数をＭと仮定した場合に、図１に示すパル
スシーケンスでＮ対のエコー信号群を取得し、図１のパ
ルスシーケンスを（Ｍ／Ｎ）回繰り返して実行するとと
もに、計測するエコー信号毎に異なる位相エンコードを
付与してサンプリングするものが挙げられる。これによ
っても、ほぼ第一の実施例と同様な効果が期待できる。

【００２８】第二の変形例は、上記第一の実施例におい
てエコー信号ｅ_2nを(ｎ・ＴＥ＋ε)なる時刻に計測した
が、このエコー信号ｅ_2nを（ｎ・ＴＥ−ε）なる時刻に
計測する、つまり、エコー信号ｅ_1nは（ｎ・ＴＥ）なる
時刻に計測し、エコー信号ｅ_2nはｅ_1nに先立つ時刻（ｎ
・ＴＥ−ε）に計測する方法がある。この方法では、上
記第一の実施例と同一の効果が得られる。

【００２９】その他の変形例として、エコー信号ｅ_1nは
（ｎ・ＴＥ）なる時刻に計測し、エコー信号ｅ_2nはｎの
増加とともに（ｎ・ＴＥ＋ε）と（ｎ・ＴＥ−ε）との
時刻に、つまり交互にεをプラスとマイナスに符号を変
えた時刻に計測する方法も考えられる。

【００３０】更にその他の変形例として、上記第一の変
形例とその他の変形例の組合わせも考えられる。尚、図
１に示すパルスシーケンスにおいて、２ＴＥ及び（２Ｔ
Ｅ＋ε）の時刻に生ずるエコー信号は他のエコー信号と
同一極性で示したが、これは１８０°ＲＦパルス１１
２，１１３，１１４，…をＹ軸に対するものとしている
ことを示している。この方法によれば、エコー信号の減
衰度合いが少なく、また常に同極性のエコー信号が得ら
れるので、１回のパルスシーケンスで得られる信号数が
多くでき、また信号の極性を揃える処理も不要となる。
その利点を必要としなければ、１８０°パルスをｘ軸に
対するものとしても良い。また、本発明は適用される被
検体の関心領域を２次元的断面として説明したが、本発
明を被検体の３次元領域に適用することも可能である。

【００３１】

【発明の効果】以上述べたように本発明によれば、静磁
場不均一を求めるデータとしての、静磁場不均一が補償
されたデータと静磁場不均一を取り込んだデータとを対
にして、かつ１回のパルスシーケンスで複数対のデータ
を得るようにしたので、従来技術と比較してデータ計測
が格段に速く行い得る。したがって、被検体の撮像に先
立つ予備計測時間が極めて短かくできるので、全体とし
ての被検体撮像時間が短縮される。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の第一の実施例でのデータ計測用パルス
シーケンスを示す図。

【図２】図１のパルスシーケンスで得られたデータのｋ
空間への配列を示す図。

【図３】図２のｋ空間のデータから得られる再構成画像
を示す図。

【図４】図３の２枚の画像の差分により得られる静磁場
不均一分布像を示す図。

【図５】本発明を実施するＭＲＩ装置の概略構成を示す
ブロック図。

【符号の説明】

１１ｎＲＦパルス１２ｎスライス方向傾斜磁場１３ｎ位相エンコード方向傾斜磁場１４ｎ周波数エンコード（リードアウト）方向傾斜磁
場ｅ_1n，ｅ_2nエコー信号 δΦ 静磁場不均一による位相ずれ

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】被検体へ静磁場と傾斜磁場を印加する手段
と、前記静磁場の印加の下で、前記傾斜磁場とＲＦパル
スとをスピンエコー法パルスシーケンスに則って印加
し、前記被検体の所定部位からエコー信号を発生させる
シーケンス制御手段と、前記エコー信号を受信する手段
と、受信された信号を処理すると共に画像再構成する画
像処理手段とを有したＭＲＩ装置において、前記シーケ
ンス制御手段には、エコー時間をＴＥとしたときに、ｎ・ＴＥ及びｎ・ＴＥ＋ε ここに、ｎは、ｎ≧１なる整数の時刻に一対のエコー信
号を繰り返して発生させるパルスシーケンスが組み込ま
れ、前記画像処理手段には、ｎ・ＴＥとｎ・ＴＥ＋εの
各時刻のエコー信号群を別個に画像再構成し、再構成さ
れた画像から差分画像データを得るソフトウェアが組み
込まれるとともに、前記差分画像データから静磁場不均
一の分布を算出する手段を備えたことを特徴とするＭＲ
Ｉ装置。
【請求項２】ｎ・ＴＥ＋εにおけるεは、プラスまたは
マイナスの符号を含むことを特徴とする請求項１に記載
のＭＲＩ装置。
【請求項３】ｎ・ＴＥ＋εにおけるεは、ｎの増加にか
かわらず一定の符号が与えられることを特徴とする請求
項２に記載のＭＲＩ装置。
【請求項４】ｎ・ＴＥ＋εにおけるεは、ｎの増加とと
もに交互にプラスとマイナスの符号を与えられることを
特徴とする請求項２に記載のＭＲＩ装置。
【請求項５】スライス方向傾斜磁場と９０°−１８０°
−１８０°−…のＲＦパルスを被検体へ印加し、各１８
０°ＲＦパルス毎に静磁場不均一の影響の差が等しい一
対のエコー信号を発生させ、これらのエコー信号群から
静磁場不均一の分布を求める手段を備えたことを特徴と
するＭＲＩ装置。