JPH08335274A - 曲線生成方法 - Google Patents

曲線生成方法

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JPH08335274A
JPH08335274A JP16479195A JP16479195A JPH08335274A JP H08335274 A JPH08335274 A JP H08335274A JP 16479195 A JP16479195 A JP 16479195A JP 16479195 A JP16479195 A JP 16479195A JP H08335274 A JPH08335274 A JP H08335274A
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curve
vector
points
vector field
point
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JP16479195A
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English (en)
Inventor
Tomoo Mitsunaga
知生 光永
Migaku Yokoyama
琢 横山
Takushi Totsuka
卓志 戸塚
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Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 元の輪郭形状の複雑さを再現でき、かつ、そ
の幾何学的特徴を得るのが容易な輪郭軌跡を生成する曲
線生成方法を提供する。 【構成】 2次元の滑らかなベクトル場上、例えば画像
の色彩を表すR、G、B信号の各信号に基づいて形成さ
れる濃淡勾配ベクトル場上をを通過する曲線を生成する
曲線生成方法において、上記曲線上の所定数個の評価位
置で、当該曲線の接線と直交する単位ベクトルとベクト
ル場ベクトルとの内積の関数で表される評価値を計算す
る評価値計算工程としてのステップS23と、上記評価
値計算行程にて得られた上記評価値が最大になるように
曲線を決定する曲線決定工程であるステップS24、S
25とを有するものである。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、2次元の滑らかなベク
トル場上を通過する曲線を生成する曲線生成方法に関す
る。
【0002】
【従来の技術】先ず、表示した画像の物体の輪郭形状を
抽出するには、いわゆるエッジ検出処理等の輪郭位置抽
出処理を行った後、輪郭位置抽出処理により得られる輪
郭を軌跡として獲得する処理が必要である。
【0003】そこで、従来において、輪郭の軌跡を獲得
するため処理としてエッジ点連結処理や曲線モデル近似
処理等がある。
【0004】上記エッジ点連結処理として、例えば入力
された粗境界線をマスク情報として、マスク内部の領域
のエッジ抽出を行い得られるエッジ画像の輝度であるエ
ッジ強度を適当な閾値で2値化することによってエッジ
点画像を得、その後に所定のエッジ点連結処理を施すこ
とによって、エッジ点の並びとしての輪郭軌跡を得る方
法(「エッジ情報に基づく動画像セグメンテーションと
動き補償フレーム間内挿」,鄭 且根他,信学技報IE93-
37,9−16頁,1993、特開平1−173177号
公報の「自動切抜きシステム」)がある。
【0005】また、エッジ強度の順序づけによる細線化
処理によって、エッジ点の並びとしての輪郭軌跡を得る
方法(「動画像合成のための対象物の抽出とはめ込み
法」,井上誠喜,小山広毅,テレビジョン学会誌,47
巻(Vol.47),7号(No.7)999−1005頁,19
93、特開平3−176780号公報の「領域抽出装
置」)等がある。
【0006】また、上記曲線モデル近似処理として、1
〜3次程度のパラメトリックな曲線を輪郭モデルとし
て、エッジ強度画像を2値化したエッジ点画像のエッジ
点位置を最も近似するように、最小2乗法等を用いてパ
ラメータを決定する方法(「ファインディング・パラメ
トリック・カーブス・イン・アン・イメージ(FindingP
arametric Curves in an Image )」,レオナルディ
ス,エイ.(Leonardis,A.),バッシィ,アール.(Ba
jcsy,R. ),レクチャー,ノーツ・コンピュート.・サ
イエンス(Lect.,Notes Comput.Sci.),588巻(Vol
588),653−657頁,1992)がある。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】ところで、上記エッジ
点連結処理において、上記エッジ点画像は、離散的な画
素点の並びであるために、軌跡の滑らかさに欠ける。そ
のため、軌跡の接線方向、曲率など、幾何学的特徴を調
べる時に離散値であるがゆえのノイズが問題になる。
【0008】また、上記曲線モデル近似処理において、
処理の過程で行われるフィッティング計算の制約からモ
デルを複雑にできないので、エッジ点位置からの最小2
乗近似では、元の輪郭形状を十分に再現できない。ま
た、エッジ点の位置情報からは輪郭がどの方向に進むか
という情報が得られないために、しばしば誤ったフィッ
ティングをおこなってしまう。
【0009】そこで本発明は、元の輪郭形状の複雑さを
再現でき、かつ、その幾何学的特徴を得るのが容易な輪
郭軌跡を生成する曲線生成方法を提供することを目的と
する。
【0010】
【課題を解決するための手段】本発明の曲線生成方法
は、上述の問題を解決するために、2次元の滑らかなベ
クトル場上を通過する曲線を生成する曲線生成方法にお
いて、上記曲線上の所定数個の評価位置で、当該曲線の
接線と直交する単位ベクトルとベクトル場ベクトルとの
内積の関数で表される評価値を計算する評価値計算工程
と、上記評価値計算行程にて得られた上記評価値が最大
になるように曲線を決定する曲線決定工程とを有するも
のである。
【0011】また、上記評価位置の基準となる基準位置
を抽出する基準位置抽出工程と、上記基準位置抽出工程
にて抽出した上記基準位置と、当該基準位置に基づいて
標本位置を抽出するとともに、上記基準位置と上記標本
位置とに基づいて仮の曲線を生成する仮曲線生成工程と
を設け、上記評価値計算工程は、上記仮曲線生成工程に
て得られた上記仮の曲線の評価値を計算する工程である
ことが挙げられる。
【0012】また、上記基準位置抽出工程は、上記ベク
トル場ベクトルが大きい2点を抽出する工程であること
が挙げられる。
【0013】また、上記ベクトル場を設定するための補
助線を入力する補助線入力工程を設け、上記基準位置抽
出工程は、上記補助線から所定距離内に存在するととも
に、設定されたベクトル場中のベクトル場ベクトルが大
きい点を抽出する工程であることが挙げられる。
【0014】
【作用】本発明の曲線生成方法によれば、評価値計算工
程では、ある曲線上の所定数の評価位置上の当該曲線の
接線と直交する各法線方向単位ベクトルと、上記各評価
位置上のベクトル場ベクトルとの内積が算出され、これ
ら内積の関数で表される評価値が算出される。また、曲
線決定工程では、上記評価値が最大になるときの法線方
向単位ベクトルに基づいて曲線が生成される。
【0015】また、基準位置抽出工程を設ける場合、上
記評価位置の基準となる基準位置が抽出され、仮曲線生
成工程にて上記基準位置に基づいて標本位置を抽出し、
これら基準位置と標本位置とで仮の曲線が生成され、上
記評価値計算工程では、上記仮の曲線の評価値が計算さ
れる。
【0016】また、上記基準位置抽出工程では、上記ベ
クトル場ベクトルが大きい2点が上記基準位置として抽
出される。
【0017】また、補助線入力工程を設ける場合、この
補助線入力工程にて上記ベクトル場を設定するための補
助線が入力され、上記基準位置工程では、上記補助線か
ら所定距離内に存在するとともに、上記ベクトル場中の
ベクトル場ベクトルが大きい点が上記基準位置として抽
出される。
【0018】
【実施例】以下、本発明の曲線生成方法の実施例につい
て、図面を参照しながら説明する。なお、求める曲線
は、例えば画像中の物体の輪郭を抜き出すための情報を
形成する曲線としている。
【0019】また、上記曲線生成方法の第一の実施例の
動作は、図1に示すように、2次元の滑らかなベクトル
場上、例えば画像の色彩を表すR、G、B信号の各信号
に基づいて形成される濃淡勾配ベクトル場上をを通過す
る曲線を生成する曲線生成方法において、上記曲線上の
所定数個の評価位置で、当該曲線の接線と直交する単位
ベクトルとベクトル場ベクトルとの内積の関数で表され
る評価値を計算する評価値計算工程としてのステップS
23と、上記評価値計算行程にて得られた上記評価値が
最大になるように曲線を決定する曲線決定工程であるス
テップS24、S25とを有するものである。
【0020】上記第一の実施例において、ステップS2
0では、上述のような濃淡勾配ベクトルのベクトル場ベ
クトルfと後述する基準点p0 、p3 が入力される。
【0021】ステップS21では、上記基準点p0 、p
3 から標本点p1 、p2 を探査する方向が各点のベクト
ル場ベクトルfと直交する方向に設定される。すなわ
ち、各点に基づいてベクトル場ベクトルf(p0 )、f
(p3 )が算出され、さらに、ベクトル場ベクトルf
(p0 )と直交する方向の単位ベクトルであるベクトル
uと、ベクトル場ベクトルf(p3 )と直交する方向の
単位ベクトルであるベクトルvが決定される。
【0022】ステップS22では、基準点p0 に基づい
て一時的に設定された標本点p1tmpが(1)式により、
また、同様に基準点p3 に基づいて一時的に設定された
標本点p2tmpが(2)式により算出され、これら基準点
及び標本点の4点で、仮の曲線が生成される。上記仮の
曲線は、曲線の補間曲線として用いられる3次スプライ
ン曲線であり、以後、この3次スプライン曲線を用いて
曲線を評価を行う。
【0023】p1tmp=p0 +su ・・・(1) p2tmp=p3 +tv ・・・(2) なお、ステップS22乃至ステップS25で構成される
FORループ12では、(1)式及び(2)式中のパラ
メータs、tが、それぞれとり得る最小値からとり得る
最大値までで設定される探査範囲[smin ,smax ]、
[tmin ,tmax ]を満たすまで続けられる。
【0024】ステップS23では、上述の評価関数Fに
標本点p0 、p1tmp、p2tmp、p3を代入し、上記仮の
曲線の評価値が算出される。ステップS24では、ステ
ップS23で算出された評価値が上記探査範囲で最大値
をとるか否かが判別され、真(T:truth )である場
合、(p1 、p2 )は、そのときの(p1tmp、p2tmp
に書き換えられるとともに、ステップS24での判別基
準となる最大値は、このときの評価値に書き換えられ、
ステップS22に戻りループ処理が続けられる。また、
ステップS24での判別結果が偽(F:false )である
場合、ステップS22に戻りループ処理が続けられる。
【0025】FORループ12でのループ処理が終了し
たら、ステップS26に進んで、得られた基準点p0
3 及び標本点p1 、p2 に基づいた曲線が決定され
る。
【0026】また、上記ステップS23でなされる上記
評価値計算工程を、図2に示すフローチャートを用いて
説明する。
【0027】上記評価値計算工程において、ステップS
0では、上記ステップS20にて入力されたベクトル場
ベクトルfが入力される。ステップS1では、上記ステ
ップS22で求めた仮の曲線上での上記評価位置として
の評価点の数がNと設定される。すなわち、上記曲線を
評価するための評価位置がN個と設定される。また、上
記基準点p0 の位置がp(0)と設定される。
【0028】ステップS2では、上記基準点p0 からi
番目の評価点piがp(i)と設定される。なお、ステ
ップS2と後述のステップS4とでFORループ11が
構成され、このFORループ11では、i=1からNま
でについて計算処理される。
【0029】ステップS3では、p(i)上の上記求め
たい曲線の接線と直交する方向いわゆる当該曲線の法線
方向の単位ベクトルn(i)が求められ、(3)式に示
すように、上記法線方向単位ベクトルn(i)と、各標
本点について算出されたベクトル場ベクトルf
(p(N))との内積ip(i)が求められる。
【0030】 ip(i)=n(i)・f(p(N)) ・・・(3) また、i=1からNまでについて内積ip(i)が得ら
れるとステップS4に進んで、これら内積ip(i)
が、(4)式あるいは(5)式に示すような評価関数F
に代入され、評価値(ip(1),ip(2),…ip(N) )が算出さ
れる。
【0031】
【数1】 続いて、ステップS5に進んで、評価値F((ip(1),ip
(2),…ip(N) )の最大値が出力される。
【0032】また、上記曲線生成方法の第一の実施例の
適用例として、図3に示すように、上記評価位置の基準
となる基準位置を抽出する基準位置抽出工程を行う基準
位置抽出部42と、上記基準位置抽出部42にて抽出し
た上記基準位置と、当該基準位置に基づいて標本位置を
抽出するとともに、上記基準位置と上記標本位置とに基
づいて仮の曲線を生成する仮曲線生成工程を行う標本点
探査部43とを設け、上記評価点探査部43で行われる
上記評価値計算工程は、上記仮曲線生成工程にて得られ
た上記仮の曲線の評価値を計算する工程であることが挙
げられる。
【0033】さらに、上記基準位置抽出工程は、上記ベ
クトル場ベクトルが大きい2点を抽出する工程であるこ
とが挙げられる。
【0034】上記第一の実施例の適用例において、ベク
トル場入力部41は、上記ステップS20にて入力され
るベクトル場、例えば上述のような濃淡勾配ベクトル場
を基準点抽出部42及び標本点探査部43に出力する。
【0035】また、基準点抽出部42は、上記濃淡勾配
ベクトル場の中でベクトル場ベクトルの大きな点を抽出
し、抽出された標本点を基準点p0 、p3 とする。ま
た、これら基準点p0 、p3 を上記標本点探査部43に
出力する。
【0036】標本点探査部43は、図1に示したような
フローチャートの動作を行う。すなわち、上記ステップ
S22にて、基準点p0 、p3 に基づいて一時的に上記
標本点p1tmp、p2tmpを設定し仮の曲線を得て、上記ス
テップS23にて、上記基準点及び標本点と、これらの
基準点及び標本点に基づいて算出されたベクトル場ベク
トルf(pi)とを上述した評価関数Fに代入して、各
仮の曲線に応じた評価値を得る。上記ステップS25
で、特に、評価値が最大となる標本点p1tmp、p2tmp
標本点p1 、p2 とし、曲線生成部44に出力する。
【0037】曲線生成部44は、上記標本点探査部43
より出力される標本点p0 、p1 、p2 、p3 に基づい
て、上記曲線を生成する。
【0038】また、上記曲線生成方法の実施例の第二の
適用例として、図4及び図6に示すように、上記評価位
置の基準となる基準位置である基準点を抽出する基準位
置抽出工程を行う通過点抽出部53及び順序づけ部54
を設け、上記評価値計算工程を、上記基準位置である基
準点と、当該基準位置に基づいて抽出される標本位置で
ある標本点とを上記評価位置として上記評価値を計算す
る工程としてもよい。
【0039】さらに、上記ベクトル場を設定するための
補助線を入力する補助線入力工程を行う奇跡入力部52
を設け、上記基準位置抽出工程は、上記補助線から所定
距離内に存在するとともに、設定されたベクトル場中の
ベクトル場ベクトルが大きい点を抽出する工程であるこ
とが挙げられる。
【0040】図4に示した上記曲線生成方法の第二の適
用例において、ベクトル場入力部51は、空間例えば入
力画像中の全ての点における各点(i,j)でのベクト
ル場ベクトルV(i,j)を通過点抽出部53及び標本
点探査部55に出力する。なお、ここで挙げるベクトル
場についても、上述のような濃淡勾配ベクトルとする。
【0041】また、軌跡入力部52は、例えばペン状入
力装置いわゆるタブレットペンやマウス等の入力手段を
備えており、使用者により軌跡Tが曲線を得たい大まか
な領域の画素点の並びとして入力されると、該軌跡Tを
通過点抽出部53に出力する。
【0042】通過点入力部53では、図5のAに示すよ
うに、矢印aに示す方向を進行方向とする軌跡Tから一
定距離内に含まれる領域21のベクトル場を調べて、ベ
クトルの大きさが所定の基準以上である位置を通過点p
として抽出し、これら通過点pの位置データを順序づけ
部54に出力する。なお、上記各通過点pは、後述する
ように、軌跡Tまでの最短距離が所定の長さよりも小さ
く、かつ、ベクトル場ベクトルの大きさが所定の大きさ
よりも大きい全ての点である。
【0043】順序づけ部54は、後述するように、上記
通過点pを軌跡Tの進行方向に沿った順序で並べ換えて
得られた通過点を基準点p00、p10、p20、…、pK0
して標本点探査部55に出力する。
【0044】標本点探査部55は、上記図1に示したフ
ローチャートの動作を行う部分であり、基準点pi0を上
記基準点p0 、また、基準点p(i+1)0を上記基準点p3
をとして、ベクトル入力部51から送られるベクトル場
ベクトルV(i,j)に基づいて、基準点pi0、pi3
り標本点pi1、pi2を抽出し、これら基準点及び標本点
より部分曲線を生成し曲線生成部56に出力する。な
お、基準点点p(i+1)0は、標本点pi3と名称変更され
る。例えば、基準点p00、p10に基づいて標本点p01
02が得られ、基準点p00、p03及び標本点p01、p02
より生成される部分曲線が曲線生成部56に出力され
る。
【0045】曲線生成部56は、上記部分曲線の端部を
次々と結合することで求める曲線を生成する。
【0046】ここで、上記通過点抽出部53及び上記順
序づけ部54の動作を図5及び図6を用いて説明する。
【0047】図6に示したフローチャートにおいて、ス
テップS40では、上記ベクトル場入力部51より上記
濃淡勾配ベクトルのベクトル場ベクトルVが、また、軌
跡入力部52から軌跡T及び軌跡Tの始点t0 が入力さ
れる。ステップS41では、通過点pの抽出順序を示す
kをk=0と設定し、FORループ13で軌跡Tに基づ
いて取り出した通過点を通過点p0 、p1 、…とする。
【0048】ステップS42では、任意の点(i,j)
が選択され、この点と軌跡Tとの間の距離((i,
j),T)が算出され、この距離((i,j),T)が
所定距離より小さいか否かが判別される。判別結果が、
真(T)である場合ステップS43に進み、偽(F)で
ある場合ステップS42に戻りループ処理が続けられ
る。
【0049】なお、ステップS42乃至ステップS44
で構成されるFORループ13は、全ての点(i,j)
についての処理が終了するまで繰り返すブロックであ
る。
【0050】ステップS43では、軌跡Tより所定距離
以内に存在する点(i,j)のベクトル場ベクトルV
(i,j)が算出され、このベクトル場ベクトルV
(i,j)の大きさ|V(i,j)|が所定の閾値より
大きいか否かが判別される。判別結果が真(T)である
場合ステップS44に進む。また、判別結果が偽(F)
である場合、ステップS42に戻りループ処理が続けら
れる。
【0051】ステップS44では、軌跡Tより所定距離
以内に存在するとともにベクトル場ベクトルの大きさが
所定の閾値より大きい点(i,j)を通過点pk として
取り出す。なお、このときのkは、((最後に設定され
た値)+1)の値が用いられる。例えば、最初の点
(i,j)が通過点として取り出されるときは、kはス
テップS41にて(k=0)と設定されているため、通
過点p取り出し時は(k=(k+1)=1)となり、上
記点(i,j)は通過点p1 となる。
【0052】FORループ13の処理にて、通過点p1
〜pk までのk個の通過点が抽出されたらステップS4
5に進む。
【0053】ステップS45では、後述する通過点pの
順序を示す値Kにkを代入する指示を出して、ステップ
S46に進む。 ステップS46では、図5のBに示す
ように各通過点pから軌跡Tへ垂線を引くとともに、ル
ープ制御変数を変数tとして、各垂線と軌跡Tとの交点
を垂線の足(pt ,T)またはht と定義し取り出す。
【0054】なお、ステップS46は、FORループ1
4を構成しており、tが1からKまで処理が続けられ、
K個の垂線の足ht が得られたらステップS47に進
む。
【0055】ステップS47では、ステップS40にて
入力された軌跡Tの始点t0 から垂線の足ht までの軌
跡上での距離(t0 ,ht )が算出され、この距離(t
0 ,ht )の小さい順に通過点pt が並べ換えられる。
【0056】ステップS48では、ステップS47にて
順序づけした通過点p1 、p2 、…pK が基準点p00
10、p20、…として抽出される。
【0057】図6に示したフローチャートでは、ステッ
プS40乃至ステップS44が図4の通過点抽出部53
で行われ、ステップS45乃至ステップS48が図4の
順序づけ部54で行われる。
【0058】図4及び図6に示した上記実施例の第二の
適用例によれば、軌跡入力部52にて使用者により空間
例えば画像内で軌跡Tが入力され、通過点抽出部53及
び順序づけ部54で、生成する曲線を構成する部分曲線
を生成するための基準点p00、p10、…が、上記軌跡T
及びベクトル場入力部51からのベクトル場ベクトルに
基づいて抽出される。さらに、標本点探査部55にて、
上記基準点p00、p10、…とベクトル場ベクトルに基づ
いて、図1に示した動作を行い基準点pi0、pi3間で標
本点pi1、pi2が取り出され部分曲線が形成され、曲線
生成部56にてこれら部分曲線を連結して求めたい曲線
が得られる。
【0059】また、本発明の上記実施例を実現するため
の画像処理装置の全体の概略構成の一部を図7に示す。
【0060】上記画像処理装置は、本発明の曲線生成方
法で曲線を生成するのに必要とされる演算処理を行うた
めのCPU(中央演算処理装置)31と、上記標本点や
部分曲線等を保持するための外部記憶手段32と、例え
ば図4の軌跡入力部52のような入力手段33と、画像
を表示するためのディスプレイ等の表示手段34とを有
している。これらCPU31、外部記憶手段32、入力
手段33、表示手段34間でのデータの送受はバスライ
ン35を介して行われる。
【0061】ここで、上記曲線生成方法にて曲線を生成
する様子を上記表示手段34にて表示される画像を図8
に示す。なお、使用者は表示されている物体の境目を示
す輪郭線を生成していると仮定する。
【0062】図8のA〜Dは、画素の格子を表してい
る。さらに、格子を細分化した桝目の模様は各桝目の画
素値の大きさに対応している。
【0063】また、上記画像中の物体境界は、図8のA
に示すように、物体の境界の画素値は物体内部の色から
背景色への変化の勾配を形成する。そこで、勾配強度
は、図8のBに示すように、上記画素値の過度的な変化
の大きさを示すため、輪郭部分の中央部において最も画
素値が大きくなる。
【0064】ここで、従来のエッジ検出法による輪郭部
分の抽出では、この勾配強度に閾値処理を施したり極値
となる画素を抽出する等して、勾配強度が大きいところ
を抽出し使用する。こうして得られた輪郭線は、図8の
Cに示すように、画素精度が滑らかさの限界となってし
まう。
【0065】一方、本発明の曲線生成方法を用いて得ら
れた輪郭線は、図8のDに示すように、勾配強度の大き
い一定の領域を通過する滑らかな曲線22となるため、
物体輪郭が滑らかな曲線として得られる。
【0066】上記曲線生成方法によれば、パラメトリッ
クな曲線記述を用いて滑らかさを保証するとともに、幾
何学的特徴を調べるのが容易になる。
【0067】また、基準点を抽出して、当該基準点と、
当該基準点に応じて抽出した標本点とに基づいて曲線を
生成することで、上記幾何学的特徴である該曲線上の点
の端点からの距離、接線方向、法線方向、曲率等を容易
に計算できるようになる。
【0068】また、本発明で生成される曲線は、3次ス
プライン曲線を連結して生成される曲線であるため、上
記3次スプライン曲線を記述する式の係数を適当に選ぶ
ことでG1連続性を保証させることができる。
【0069】また、軌跡入力部を設けて、曲線を生成す
るための情報として、上記軌跡Tを設定し、上記軌跡T
近傍でベクトル場ベクトルを取り出すことで、濃淡勾配
が得られる。従来のエッジ点画像でなく、この濃淡勾配
のベクトル場を用いて、ベクトル場ベクトルの大きさと
方向を考慮した曲線評価によって、最適の曲線形状を選
択することができる。
【0070】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の曲線生成
方法によれば、評価値計算工程では、ある曲線上の所定
数の評価位置上の当該曲線の接線と直交する各法線方向
単位ベクトルと、上記各評価位置上のベクトル場ベクト
ルとの内積が算出され、これら内積の関数で表される評
価値が算出され、また、曲線決定工程では、上記評価値
が最大になるときの法線方向単位ベクトルに基づいて曲
線が生成されるため、元の輪郭形状の複雑さを再現で
き、かつ、その幾何学的特徴を得るのが容易な輪郭軌跡
を生成することが可能になる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の曲線生成方法の実施例の動作の要部を
示すフローチャートである。
【図2】上記曲線生成方法の評価値計算工程を説明する
フローチャートである。
【図3】上記実施例の適用例の要部を示すブロック図で
ある。
【図4】上記実施例の第二の適用例の要部を示すブロッ
ク図である。
【図5】上記第二の適用例における軌跡入力を説明する
図である。
【図6】上記第二の適用例の動作を示すフローチャート
である。
【図7】上記実施例を適用した画像処理装置の要部を示
すブロック図である。
【図8】上記曲線生成方法の効果を説明する図である。
【符号の説明】
42 基準点抽出部 43 標本点探査部 44 曲線生成部 52 軌跡入力部 53 通過点抽出部 54 順序づけ部 55 標本点探査部 56 曲線生成部

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 2次元の滑らかなベクトル場上を通過す
    る曲線を生成する曲線生成方法において、 上記曲線上の所定数個の評価位置で、当該曲線の接線と
    直交する単位ベクトルとベクトル場ベクトルとの内積の
    関数で表される評価値を計算する評価値計算工程と、 上記評価値計算行程にて得られた上記評価値が最大にな
    るように曲線を決定する曲線決定工程とを有することを
    特徴とする曲線生成方法。
  2. 【請求項2】 上記評価位置の基準となる基準位置を抽
    出する基準位置抽出工程と、 上記基準位置抽出工程にて抽出した上記基準位置と、当
    該基準位置に基づいて標本位置を抽出するとともに、上
    記基準位置と上記標本位置とに基づいて仮の曲線を生成
    する仮曲線生成工程とを設け、 上記評価値計算工程は、上記仮曲線生成工程にて得られ
    た上記仮の曲線の評価値を計算する工程であることを特
    徴とする請求項1記載の曲線生成方法。
  3. 【請求項3】 上記基準位置抽出工程は、上記ベクトル
    場ベクトルが大きい2点を抽出する工程であることを特
    徴とする請求項2記載の曲線生成方法。
  4. 【請求項4】 上記ベクトル場を設定するための補助線
    を入力する補助線入力工程を設け、 上記基準位置抽出工程は、上記補助線から所定距離内に
    存在するとともに、設定されたベクトル場中のベクトル
    場ベクトルが大きい点を抽出する工程であることを特徴
    とする請求項2記載の曲線生成方法。
JP16479195A 1995-06-07 1995-06-07 曲線生成方法 Withdrawn JPH08335274A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007257201A (ja) * 2006-03-22 2007-10-04 Nec Corp 曲線推移分析装置、曲線推移分析方法およびプログラム
JP2017090450A (ja) * 2015-11-02 2017-05-25 コグネックス・コーポレイション ビジョンシステムでラインを検出するためのシステム及び方法

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