JPH08331756A - 突入電流防止装置及び電子回路保護装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 電流制限抵抗の接続を切り替えるスイッチが
不要で、しかも消費電流の大きな電子装置に利用しても
突入電流を十分に抑制できる突入電流防止装置を実現す
る。 【構成】 本発明はコネクタを介した電源接続時に電子
装置へ流れ込む突入電流を防止する突入電流防止装置に
関するものであり、電子装置３１の第１のコネクタ３２
ａの＋側の電源接続ピン３７とコンデンサ３４及び電子
回路３５とを接続する電源ライン上に半導体スイッチン
グ素子３６を介挿接続し、この半導体スイッチング素子
３６のオン抵抗を各コネクタが接続されてから所定時間
が経過するまでに∞Ω即ち略絶縁状態から略０Ωまで徐
々に変化させるように制御する。これによりコネクタ接
続時、半導体スイッチング素子３６は電流制限抵抗とし
て働くことで突入電流の発生を防止できると共に、消費
電流の大きい電子装置でも突入電流を十分抑えることが
できる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、コネクタを介した電源
接続時に電子装置へ流れ込む突入電流を防止する突入電
流防止装置、及びコネクタを介した電源及び信号接続時
の電子回路の電気的ストレスによる破壊を防止する電子
回路保護装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】複数の電子装置から構成された制御装置
において、故障等によりある電子装置を交換するとき、
他の電子装置を動作させた状態で行わなければならない
場合がある。このとき発生する突入電流や電気的ストレ
スを防止するための保護装置が必要になる。

【０００３】図８はかかる従来の突入電流防止装置及び
電子回路保護装置の例を示す図である。同図において、
１は電子装置、２は一対のコネクタであり、２ａは電子
装置１に設けられた第１のコネクタ、２ｂは第１のコネ
クタ２ａと接続される外部の第２のコネクタである。ま
た３は第２のコネクタ２ｂに接続された電源である。４
は突入電流防止用のスイッチ、５は電流制限抵抗、６は
電源安定用コンデンサ、７は電子回路である。電子回路
７内の入力素子８と第１のコネクタ２ａ内の信号接続ピ
ンとの間には過電流防止抵抗９が介挿されており、以て
電子回路７の保護を図っている。なお１０は電子回路７
内の出力素子である。そして各電子装置１はそれぞれコ
ネクタ２を介して電源３と接続され、且つ各電子装置１
は互いにコネクタ２を介して接続される。

【０００４】次に、この突入電流防止装置の動作を説明
する。

【０００５】電子装置１を電源３と接続する前にスイッ
チ４を開状態にする。電子装置１を電源３と接続すると
コンデンサ６は電流制限抵抗（ＲS ）５によって充電さ
れる。このときの突入電流ＩP1は以下のようになる。 ＩP1＝ＶO ／ＲS したがって、突入電流ＩP1を小さくするためには、電流
制限抵抗（ＲS ）５の抵抗値を十分大きくする必要があ
る。

【０００６】またこのときコンデンサ６への充電電圧Ｖ
C は電子回路７の負荷抵抗ＲL と電流制限抵抗（ＲS ）
６との分圧比となり、以下のようになる。 ＶC ＝ＶO ＊ＲL ／（ＲS ＋ＲL ） 次にスイッチ４を閉じる。このとき流れる突入電流ＩP2
は以下のようになる。 ＩP2＝（ＶO −ＶC ）／ｒ ここでｒはコンデンサ７の内部抵抗、コネクタの接触抵
抗、配線抵抗等の総和であり小さい。よって、突入電流
ＩP2を小さくするためには（ＶO −ＶC ）を小さくする
必要があり、そのためには電流制限抵抗（ＲS ）５を電
子回路７の負荷抵抗（ＲL ）より十分小さくする必要が
ある。

【０００７】このように、突入電流防止用の抵抗値は、
電子回路の負荷抵抗ＲL よりも十分小さく尚且つできる
だけ大きい値としなければならないため、上記従来の突
入電流防止装置は、負荷抵抗ＲL の比較的大きい電子回
路即ち消費電流の小さい電子装置にしか使用できないと
いう問題がある。

【０００８】また、上記従来の突入電流防止装置では、
突入電流を防止するためにスイッチ４を必要としてお
り、電子装置１を電源３と接続する前に必ずスイッチ４
が開状態であることを確認しなければならない。もしも
誤ってスイッチ４を閉じた状態で接続すると、大きな突
入電流が流れ、電源電圧が変動し、他の電子装置を誤動
作させる可能性がある。

【０００９】さらに、上記従来の電子回路保護装置にお
いては、電子装置１をコネクタ接続する際、コネクタ２
の傾きやコネクタ２のピンの長さの誤差により、＋側の
電源接続ピンよりも先に電源のコモンピン及び信号接続
ピンが接続される可能性がある。電源接続ピンより先に
コモンピン及び信号接続ピンが接続された場合、電子回
路７がＣＭＯＳ ＩＣであったとすると、ラッチアップ
により電気回路破壊が生じる可能性がある。かかる電子
回路破壊を防止するため、従来は入力素子８の入力側に
過電流防止抵抗（ＲI ）９を接続する必要があり、部品
数が増えるという問題がある。

【００１０】

【発明が解決しようとする課題】このように従来の突入
電流防止装置では、電流制限抵抗の接続を切り替えるた
めのスイッチを必要とし、しかも電子装置の電源接続前
にスイッチの状態確認を行う必要があった。また、従来
の突入電流防止装置は、消費電流の比較的大きい電子装
置に利用した場合に突入電流を十分に抑制できないとい
う問題があった。また、従来の電子回路保護装置は、電
子回路の入力素子の入力側に過電流防止抵抗を接続する
必要があり、部品数が増えるという問題があった。

【００１１】本発明はこのような課題を解決するための
もので、その目的とするところは、突入電流を防止する
ための電流制限抵抗の接続を切り替えるスイッチを不要
とした突入電流防止装置を提供する点にある。

【００１２】また本発明は、消費電流の大きな電子装置
に利用しても突入電流を十分に抑制できる突入電流防止
装置の提供を目的とする。

【００１３】また本発明は、過電流防止のための抵抗素
子の介挿を不要とした電子回路保護装置の提供を目的と
する。

【００１４】

【課題を解決するための手段】本発明（請求項１）の突
入電流防止装置は上記した目的を達成するために、電子
装置に設けられたコネクタＡと、コネクタＡと接続され
るコネクタＢと、コネクタＡにそれぞれ設けられたコン
タクトＡ１及びコンタクトＡ２と、コネクタＢに設けら
れ、直流電源とそれぞれ接続され、且つコネクタ接続
時、コンタクトＡ１及びコンタクトＡ２と個々に接触さ
れるコンタクトＢ１及びコンタクトＢ２と、コンタクト
Ａ１と電子装置とを電流制限抵抗を介して接続する第１
の電源ラインと、コンタクトＡ２と電子装置とを電流制
限抵抗を短絡するようにして接続する第２の電源ライン
とを具備し、コンタクトＡ２またはコンタクトＢ２のい
ずれかが、接触先端位置を同一コネクタ内のコンタクト
Ａ１またはコンタクトＢ１より後退せしめてなることを
特徴とする。

【００１５】本発明（請求項２）の突入電流防止装置は
上記した目的を達成するために、電子装置に設けられた
コネクタＡと、コネクタＡと接続されるコネクタＢと、
コネクタＢに設けられ、直流電源と接続されたコンタク
トＢ１と、コネクタＡに設けられ、コネクタ接続時、コ
ンタクトＢ１と接触されるコンタクトＡ１と、コンタク
トＡ１と電子装置とを接続する電源ラインと、電源ライ
ンに介挿された半導体スイッチング素子と、半導体スイ
ッチング素子のオン抵抗を、各コネクタが接続されてか
ら所定時間が経過するまでに略絶縁状態から略零まで徐
々に変化させるように制御する制御部とを具備してな
る。

【００１６】本発明（請求項３）の突入電流防止装置は
上記した目的を達成するために、電子装置に設けられた
コネクタＡと、コネクタＡと接続されるコネクタＢと、
コネクタＢに設けられ、直流電源とそれぞれ接続された
コンタクトＢ１及びコンタクトＢ２と、コネクタＡに設
けられ、コネクタ接続時、コンタクトＢ１と接触される
コンタクトＡ１と、コネクタＡに設けられ、コネクタ接
続時、コンタクトＢ２と接触されるコンタクトＡ２であ
って、接触先端位置をコンタクトＡ１より後退せしめて
なるコンタクトＡ２と、コンタクトＡ１と電子装置とを
半導体スイッチング素子を介して接続する第１の電源ラ
インと、コンタクトＡ２と電子装置とを半導体スイッチ
ング素子を短絡するようにして接続する第２の電源ライ
ンと、半導体スイッチング素子のオン抵抗を各コネクタ
が接続されてから所定時間が経過するまでに略絶縁状態
から略零まで徐々に変化させるように制御する制御部と
を具備してなる。

【００１７】本発明（請求項４）の突入電流防止装置は
上記した目的を達成するために、電子装置に設けられた
コネクタＡと、コネクタＡと接続されるコネクタＢと、
コネクタＢに設けられ、直流電源と接続されたコンタク
トＢ１と、コネクタＡに設けられ、コネクタ接続時、コ
ンタクトＢ１と接触されるコンタクトＡ１であって、絶
縁体の上にコンタクトＢ１と接触可能な導体部および抵
抗体部をコネクタ挿入方向に沿って順に並設してなり、
コネクタ挿入時のコンタクトＢ１との接触位置の変化に
伴って抵抗値がある値から略零まで連続的に変化するコ
ンタクトＡ１と、コンタクトＡ１と電子装置とを接続す
る電源ラインとを具備してなる。

【００１８】本発明（請求項５）の電子回路保護装置は
上記した目的を達成するために、電子装置に設けられた
コネクタＡと、コネクタＡと接続されるコネクタＢと、
コネクタＢに設けられた信号接続用のコンタクトＢ１
と、コネクタＡに設けられ、コネクタ接続時、コンタク
トＢ１と接触されるコンタクトＡ１と、コンタクトＡ１
と電子装置内の入力素子とを接続する信号入力ラインと
を具備し、コンタクトＢ１またはコンタクトＡ１のいず
れかが、導体の上に相対するコンタクトＡ１またはコン
タクトＢ１と接触可能な抵抗体を積層して構成されるこ
とを特徴とする。

【００１９】

【作用】本発明（請求項１）の突入電流防止装置におい
ては、コネクタ接続時、最初にコネクタＡのコンタクト
Ａ１がコネクタＢのコンタクトＢ１と接触し、これによ
りコンタクトＡ１から電子装置に電流制限抵抗を介して
電源が供給される。その後続いて、コネクタＡのコンタ
クトＡ２がコネクタＢのコンタクトＢ２と接触し、コン
タクトＡ２から電子装置に直接電源が供給される。この
ように、本発明によれば、電源接続直後は電子装置に電
流制限抵抗を介して電源が供給されるので、電子装置に
流れ込む突入電流の発生をスイッチを用いることなく防
止できる。

【００２０】本発明（請求項２）の突入電流防止装置に
おいては、半導体スイッチング素子のオン抵抗を、各コ
ネクタが接続されてから所定時間が経過するまでに略絶
縁状態から略零まで徐々に変化させることによって、電
源接続直後の突入電流の発生をスイッチを用いることな
く防止することができる。しかも突入電流防止用の抵抗
値を略絶縁状態から略零まで変化させることができるの
で、電子装置の消費電力に影響されることなく突入電流
を十分抑えることができる。

【００２１】本発明（請求項３）の突入電流防止装置に
おいては、半導体スイッチング素子のオン抵抗を、各コ
ネクタが接続されてから所定時間が経過するまでに略絶
縁状態から略零まで徐々に変化させることによって、電
源接続直後の突入電流の発生をスイッチを用いることな
く防止することができると共に、コネクタ接続以降は半
導体スイッチング素子を短絡することによって、半導体
スイッチング素子による電圧降下及び発熱を防止でき
る。

【００２２】本発明（請求項４）の突入電流防止装置に
おいては、コネクタ挿入時のコンタクトＢ１との接触位
置の変化に伴って抵抗値がある値から略零まで連続的に
変化する構造のコンタクトＡ１を電源接続ピンとして用
いたことで、電源接続直後の突入電流をスイッチを用い
ることなく防止することができ、しかも電子装置の消費
電力に影響されることなく突入電流を十分抑えることが
できる。

【００２３】本発明（請求項５）の電子回路保護装置に
おいては、コネクタＡまたはコネクタＢに設けられたコ
ンタクトＡ１またはＢ１の抵抗体部による抵抗によっ
て、コネクタ接続時の電子装置への過電流を抑制でき、
過電流防止用の抵抗素子を信号入力ラインに介挿する必
要がなくなると共に、コネクタＡのコンタクトＡ１に高
価な貴金属メッキを施す必要がなくなってコストダウン
を図れる。

【００２４】

【実施例】以下、本発明の実施例を説明する。

【００２５】（第１の実施例）図１は第１の実施例の突
入電流防止装置の構成を示す図である。

【００２６】同図において、１１は電子装置、１２ａは
電子装置１１に設けられた第１のコネクタ（コネクタ
Ａ）、１２ｂは第１のコネクタ１２ａと接続される第２
のコネクタ（コネクタＢ）、１３は第２のコネクタ１２
ｂに接続された電源である。第１のコネクタ１２ａには
＋側の電源接続ピンとして、互いに長さの異なる２本の
ピン１４（コンタクトＡ１）及び１５（コンタクトＡ
２）とコモンピン１６が設けられている。上記各ピン１
４、１５、１６の長さの関係はピン１４＝ピン１６＞ピ
ン１５であり、即ち、ピン１５の長さをピン１４及びピ
ン１６より短くしてコネクタ接続時の接触タイミングが
ピン１５のみ遅れるように構成されている。一方、第２
のコネクタ１２ｂには、上記第１のコネクタ１２ａの各
ピン１４、１５、１６に対して、それぞれ接触する長さ
の等しい接触子１７（コンタクトＢ１）、１８（コンタ
クトＢ２）、１９が設けられている。また、２０は電流
制限抵抗であり、ピン１４はこの電流制限抵抗２０を介
して電源安定用コンデンサ２１及び電子回路２２と接続
されている。また、ピン１５は電流制限抵抗２０を短絡
するように電源安定用コンデンサ２１及び電子回路２２
と接続されている。

【００２７】以上のように構成された突入電流防止装置
の動作を次に説明する。

【００２８】各コネクタを接続すると、最初に第１のコ
ネクタ１２ａ内の長い電源接続ピン１４及びコモンピン
１６が第２のコネクタ１２ｂの接触子１７及び接触子１
９とそれぞれ接触する。このため電源安定用コンデンサ
２１は電流制限抵抗（ＲS ）２０を介して充電される。
このときの充電電流の最大値ＩP1は以下のようになる。
ＩP1＝ＶO ／ＲS また充電電圧ＶC は電子回路２２の負荷抵抗ＲL により
分圧されるため、以下のようになる。 ＶC ＝ＶO ＊ＲL ／（ＲS ＋ＲL ） 続いて、第１のコネクタ１２ａ内の短い電源接続ピン１
５が第２のコネクタ１２ｂの接触子１８と接触する。こ
の結果、電子回路２２に定格電圧ＶO が印加されると共
にコンデンサ２１に直接、電源電圧ＶO が印加される。
このときの充電電流ＩP2は以下のようになる。 ＩP2＝（ＶO −ＶC ）／ｒ ここでｒはコンデンサ２１の等価直列抵抗、コネクタ１
２ａ、１２ｂの接触抵抗、配線抵抗等の総和であり小さ
い。

【００２９】したがって本実施例によれば、電子装置１
１の第１のコネクタ１２ａに長さの異なる２本の電源接
続ピン１４、１５を設け、コネクタ接続時は最初に一方
の長い電源接続ピン１４を電流制限抵抗２０を介して電
源安定用コンデンサ２１及び電子回路２２と接続するこ
とによって、コネクタ接続時の突入電流の発生をスイッ
チを用いることなく防止することが可能になる。

【００３０】なお、本実施例においては、電子装置１１
側の第１のコネクタ１２ａに長さの異なる２本の電源接
続ピン１４、１５を設けたが、これら第１のコネクタ１
２ａのピン１４、１５の長さは同一にし、第２のコネク
タ１２ｂの接触子１８の長さを他の接触子１７、１９よ
りも短くすることによっても、同様の作用効果を生み出
すことが可能である。

【００３１】（第２の実施例）図２は第２の実施例であ
る突入電流防止装置の構成を示す図である。

【００３２】同図において、３１は電子装置、３２ａは
電子装置３１に設けられた第１のコネクタ（コネクタ
Ａ）、３２ｂは第１のコネクタ３２ａと接続される第２
のコネクタ（コネクタＢ）、３３は第２のコネクタ３２
ｂに接続された電源である。また３４は電源安定用コン
デンサ、３５は電子回路、３６はパワーＭＯＳ等の半導
体スイッチング素子であり、第１のコネクタ３２ａの＋
側の電源接続ピン３７（コンタクトＡ１）は、この半導
体スイッチング素子３６を介してコンデンサ３４及び電
子回路３５と接続されている。そして３８は半導体スイ
ッチング素子３６のオン抵抗を各コネクタが接続されて
から所定時間が経過するまでに∞Ω即ち略絶縁状態から
略０Ωまで徐々に変化させるように制御する制御部であ
る。

【００３３】本実施例の突入電流防止装置は次のように
動作する。

【００３４】各コネクタを接続すると、制御部３８がこ
れを検出して、半導体スイッチング素子３６のオン抵抗
を各コネクタが接続されてから所定時間が経過するまで
に∞Ωから略０Ωまで徐々に変化させるように半導体ス
イッチング素子３６のゲート・ソース間電圧ＶGSを制御
する。これによりコネクタ接続時、半導体スイッチング
素子３６は電流制限抵抗として働くことで突入電流の発
生が防止されると共に、コンデンサ３４は０Ｖから定格
電圧まで徐々に充電される。

【００３５】したがって本実施例の突入電流防止装置に
よれば、電源接続直後のコンデンサ３４への突入電流を
スイッチを用いることなく防止することができる。しか
も従来、突入電流防止用の抵抗値は、電子回路の負荷抵
抗よりも十分小さく尚且つできるだけ大きい値としなけ
ればならないため、消費電流の大きい電子装置では突入
電流を十分抑えることができなかったが、本実施例によ
れば、突入電流防止用の抵抗値を∞Ωから略０Ωまで変
化させることができるので、負荷抵抗の小さい電子回路
を持つ電子装置即ち消費電流の大きい電子装置でも突入
電流を十分抑えることができる。

【００３６】（第３の実施例）図３は第３の実施例の突
入電流防止装置の構成を示す図である。

【００３７】同図において、４１は電子装置、４２ａは
電子装置４１に設けられた第１のコネクタ（コネクタ
Ａ）、４２ｂは第１のコネクタ４２ａと接続される第２
のコネクタ（コネクタＢ）、４３は第２のコネクタ４２
ｂに接続された電源である。第１のコネクタ４２ａには
＋側の電源接続ピンとして、互いに長さの異なる２本の
ピン４４（コンタクトＡ１）及び４５（コンタクトＡ
２）とコモンピン４６が設けられている。上記各ピン４
４、４５、４６の長さの関係はピン４４＝ピン４６＞ピ
ン４５であり、即ち、ピン４５の長さをピン４４及びピ
ン４６より短くしてコネクタ接続時の接触タイミングか
ピン４５のみ遅れるように構成されている。一方、第２
のコネクタ４２ｂには、上記第１のコネクタ４２ａの各
ピン４４、４５、４６とそれぞれ接触する互いに長さの
等しい接触子４７（コンタクトＢ１）、４８（コンタク
トＢ２）、４９が設けられている。また、５０は電源安
定用コンデンサ、５１は電子回路、５２はパワーＭＯＳ
等の半導体スイッチング素子であり、第１のコネクタ４
２ａ内のピン４４は、この半導体スイッチング素子５２
を介してコンデンサ５０及び電子回路５１と接続されて
いる。また第１のコネクタ４２ａのピン４５は、この半
導体スイッチング素子５２を短絡するようにしてコンデ
ンサ５０及び電子回路５１と接続されている。そして５
３は半導体スイッチング素子５２のオン抵抗を各コネク
タが接続されてから所定時間が経過するまでに∞Ω即ち
略絶縁状態から略０Ωまで徐々に変化させるように制御
する制御部である。

【００３８】以上のように構成された突入電流防止装置
は次のように動作する。

【００３９】各コネクタを接続すると、最初に第１のコ
ネクタ４２ａ内の長い電源接続ピン４４及びコモンピン
４６が第２のコネクタ４２ｂの接触子４７及び接触子４
９とそれぞれ接触する。すると制御部５３がこれを検出
して、半導体スイッチング素子５２のオン抵抗を各コネ
クタが接続されてから所定時間が経過するまでに∞Ωか
ら略０Ωまで徐々に変化させるように半導体スイッチン
グ素子５２のゲート・ソース間電圧ＶGSを制御する。こ
れによりコネクタ接続時、半導体スイッチング素子５２
は電流制限抵抗として働くことで突入電流の発生が防止
されると共に、コンデンサ５０は０Ｖから定格電圧まで
徐々に充電される。

【００４０】続いて、第１のコネクタ４２ａ内の短い電
源接続ピン４５が第２のコネクタ４２ｂの接触子４８と
接触する。この結果、半導体スイッチング素子５２へは
電流が流れなくなり、電源４３から直接、コンデンサ５
０と電子回路５１に電源電圧ＶO が印加される。

【００４１】このように、コネクタ接続時以降は半導体
スイッチング素子５２を短絡することによって、次のよ
うな効果が得られる。

【００４２】半導体スイッチング素子５２としてパワー
ＭＯＳを用いた場合、そのオン抵抗は完全には０Ωにな
らないため電子回路の消費電流による電圧降下が発生す
る。このため、特に消費電流の大きな電子装置には、オ
ン抵抗の十分小さいパワーＭＯＳが必要となる。また、
パワーＭＯＳのオン抵抗と電子装置の消費電流により発
熱が生じるため、何らかの放熱対策を講じたり定格電力
の大きなパワーＭＯＳを使用する必要が出てくる。

【００４３】これに対して本実施例の突入電流防止装置
によれば、コネクタ接続時以降は半導体スイッチング素
子５２を短絡するので、電子装置の消費電流が大きくて
もオン抵抗の十分小さいパワーＭＯＳを使用しないです
む。また本実施例において、半導体スイッチング素子５
２には、第１のコネクタ４２ａの長い電源接続ピン４４
が接続されてから短い電源接続ピン４５が接続されるま
での短い時間しか電流が流れないため、定格電力の小さ
なものでよい。

【００４４】（第４の実施例）図４は第４の実施例の突
入電流防止装置の構成を示す図である。

【００４５】同図において、６１は電子装置、６２ａは
電子装置６１に設けられた第１のコネクタ（コネクタ
Ａ）、６２ｂは第１のコネクタ６２ａと接続される第２
のコネクタ（コネクタＢ）、６３ａは第２のコネクタ６
２ｂに接続された電源である。第１のコネクタ６２ａに
は＋側の電源接続ピンとして可変抵抗ピン６３（コンタ
クトＡ１）が用いられている。また６４は電源安定用コ
ンデンサ、６５は電子回路である。

【００４６】図５は可変抵抗ピン６３の構成を示す断面
図である。同図に示すように、可変抵抗ピン６３は、絶
縁体６６の上に導体部６８及び抵抗体部６７をコネクタ
接続方向に沿って順に並設してなる。

【００４７】以上のように構成された突入電流防止装置
の動作は次の通りである。

【００４８】図５において、第２のコネクタ６２ｂ内の
接触子６９は、コネクタ挿入に伴って可変抵抗ピン６３
の抵抗体部６７の上をこれと接触しながら導体部６８の
位置に向かって移動し、コネクタ接続完了時は導体部６
８と接触する位置まで到達する。これに伴って可変抵抗
ピン６３の抵抗値はｘΩから０Ωまで連続的に小さくな
る。したがって、コネクタ接続時、可変抵抗ピン６３は
電流制限抵抗として働いて突入電流の発生が防止される
と共に、コンデンサ６４は０Ｖから定格電圧まで徐々に
充電される。

【００４９】したがって、本実施例の突入電流防止装置
によれば、電源接続直後のコンデンサ６４への突入電流
をスイッチを用いることなく防止することができる。し
かも、コネクタ挿入に伴って可変抵抗ピン６３の抵抗値
をｘΩから０Ωまで変化させることができるため、負荷
抵抗の小さい電子回路を持つ電子装置即ち消費電流の大
きい電子装置でも突入電流を十分に抑えることができ
る。

【００５０】また、本実施例によれば、第１のコネクタ
６２ａのピンの一つを可変抵抗ピン６３に代えたこと
で、接触抵抗を小さくするため且つ接触信頼性を高める
ために高価な貴金属メッキを施していたピンの数を結果
的に一本減らすことができ、コストダウンを図ることも
できる。

【００５１】（第５の実施例）図６は第５の実施例の電
子回路保護装置の構成を示す図である。

【００５２】同図において、７１は電子装置、７２ａは
電子装置７１に設けられた第１のコネクタ（コネクタ
Ａ）、７２ｂは第１のコネクタ７２ａと接続される第２
のコネクタ（コネクタＢ）、７３は第２のコネクタ７２
ｂに接続された電源である。第１のコネクタ７２ａには
電源接続用のピン７４、７５の他に信号接続用の抵抗内
蔵ピン７６（コンタクトＡ１）が設けられている。一
方、第２のコネクタ７２ｂには、上記各電源接続用のピ
ン７４、７５と接触する一対の接触子７７、７８と抵抗
内蔵ピン７６と接触する接触子７９（コンタクトＢ１）
が設けられている。この接触子７９は他の電子装置のコ
ネクタの信号接続ピンと接続される。また、８０は電子
回路、８１は電子回路８０の入力素子である。そしてこ
の入力素子８１の入力端は上記抵抗内蔵ピン７６と接続
されている。

【００５３】図７は抵抗内蔵ピン７６の構成を示す断面
図である。同図に示すように、抵抗内蔵ピン７６は、導
体８２の上に抵抗体８３を積層して構成される。

【００５４】次にこの電子回路保護装置の動作を説明す
る。

【００５５】コネクタ接続時、ピンの長さの誤差やコネ
クタの傾きにより電源のコモンピン及び信号接続ピンが
＋側の電源接続ピンより先に接続されると、入力素子の
入力電圧は最初、電源電圧より高くなる。ここで、入力
素子としてＣＭＯＳ ＩＣを使用した場合、ＣＭＯＳ
ＩＣは、電源電圧より入力電圧が高くなったときに入力
ピンに電流が流れ込み、この入力電流が規定値を越える
とラッチアップ現象を起こして入力素子が破壊する危険
がある。

【００５６】これに対し本実施例の電子回路保護装置に
おいては、信号入力ラインに抵抗内蔵ピン７６の抵抗が
直列に接続されるため、入力素子８１の入力電圧が電源
電圧より高くなっても、入力素子８１に流入する電流は
抵抗内蔵ピン７６の抵抗により制限することができる。

【００５７】したがって、本実施例によれば、電子回路
８０としてＣＭＯＳ ＩＣを使用した場合でも、信号入
力ラインにラッチアップ防止用抵抗を介挿する必要がな
くなる。そのうえ第１のコネクタ７２ａの信号接続ピン
（抵抗内蔵ピン７６）に高価な貴金属メッキを施す必要
がなくなる分コストダウンを図れる。

【００５８】なお、本実施例においては、第１のコネク
タ７２ａに抵抗内蔵ピン７６を設けたが、第２のコネク
タ７２ａの信号接続ピン７９を同様の抵抗内蔵ピンで構
成しても、同様の作用効果を生み出すことが可能であ
る。

【００５９】

【発明の効果】以上のように、本発明の請求項１の突入
電流防止装置によれば、従来必要であったスイッチが不
要となるため、従来、電子装置を電源に接続するとき、
誤ってスイッチを閉の状態で行うと、突入電流により電
源変動が発生し、他の電子装置を誤動作させる危険性が
あったが、これを防止することができる。

【００６０】本発明の請求項２の突入電流防止装置によ
れば、従来、突入電流防止用の抵抗値は、電子装置の消
費電流により最適値を選定しなければならなかったり、
また、電子装置の消費電流が大きいと、突入電流を十分
抑えることができなかったが、電子装置の消費電流に影
響されずに突入電流を十分に抑えることができる。

【００６１】本発明の請求項３の突入電流防止装置によ
れば、半導体スイッチング素子のオン抵抗を、各コネク
タが接続されてから所定時間が経過するまでに略絶縁状
態から略零まで徐々に変化させることによって、電源接
続直後の突入電流の発生をスイッチを用いることなく防
止することができると共に、コネクタ接続以降は半導体
スイッチング素子を短絡することによって、半導体スイ
ッチング素子による電圧降下及び発熱を防止できる。

【００６２】本発明の請求項４の突入電流防止装置によ
れば、コネクタ挿入時のコンタクトＢ１との接触位置の
変化に伴って抵抗値がある値から略零まで連続的に変化
する構造のコンタクトＡ１を＋側の電源接続ピンとして
用いたことで、電源接続直後の突入電流をスイッチを用
いることなく防止することができ、しかも電子装置の消
費電力に影響されることなく突入電流を十分抑えること
ができる。また、コンタクトＡ１に高価な貴金属メッキ
を施す必要がなくなってコストダウンを図れる。 本発
明の請求項５の電子回路保護装置によれば、コネクタＡ
又はＢに設けられたコンタクトＡ１又はＢ１の抵抗体部
による抵抗によって、コネクタ接続時に電子装置に流れ
込む過電流を抑制でき、過電流防止用の抵抗素子を信号
入力ラインに介挿する必要がなくなると共に、コネクタ
Ａ又はＢのコンタクトＡ１又はＢ１に高価な貴金属メッ
キを施す必要がなくなってコストダウンを図れる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明に係る第１の実施例である突入電流防止
装置の構成を示す図

【図２】本発明に係る第２の実施例である突入電流防止
装置の構成を示す図

【図３】本発明に係る第３の実施例である突入電流防止
装置の構成を示す図

【図４】本発明に係る第４の実施例である突入電流防止
装置の構成を示す図

【図５】図４における可変抵抗ピンの構成を示す断面図

【図６】本発明に係る第５の実施例である突入電流防止
装置の構成を示す図

【図７】図６における抵抗内蔵ピンの構成を示す断面図

【図８】従来の突入電流防止装置及び電子回路保護回路
を示す図

【符号の説明】

１１、３１、４１、６１、７１……電子装置 １２ａ、３２ａ、４２ａ、６２ａ、７２ａ……第１のコ
ネクタ（コネクタＡ） １２ｂ、３２ｂ、４２ｂ、６２ｂ、７２ｂ……第２のコ
ネクタ（コネクタＢ） １３、３３、４３、６３、７３……電源 １４、１５、３７、４４、４５、７４……電源の＋側の
ピン １６、４６、７５……電源のコモン側のピン １７、１８、４７、４８、６９、７７……電源の＋側の
接触子 １９、４９、７８……電源のコモン側の接触子 ２０……電流制限抵抗 ２１、３４、５０、６４……電源安定用コンデンサ ２２、３５、５１、６５、８０……電子回路 ３６、５２……半導体スイッチング素子 ３８、５３……制御部 ６３……可変抵抗ピン ７６……抵抗内蔵ピン ８１……入力素子

Claims (5)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 電子装置に設けられたコネクタＡと、 前記コネクタＡと接続されるコネクタＢと、 前記コネクタＡにそれぞれ設けられたコンタクトＡ１及
   びコンタクトＡ２と、 前記コネクタＢに設けられ、直流電源とそれぞれ接続さ
   れ、且つコネクタ接続時、前記コンタクトＡ１及びコン
   タクトＡ２と個々に接触されるコンタクトＢ１及びコン
   タクトＢ２と、 前記コンタクトＡ１と前記電子装置とを電流制限抵抗を
   介して接続する第１の電源ラインと、 前記コンタクトＡ２と前記電子装置とを前記電流制限抵
   抗を短絡するようにして接続する第２の電源ラインとを
   具備し、 前記コンタクトＡ２またはコンタクトＢ２のいずれか
   が、接触先端位置を同一コネクタ内の前記コンタクトＡ
   １またはコンタクトＢ１より後退せしめてなることを特
   徴とする突入電流防止装置。
2. 【請求項２】 電子装置に設けられたコネクタＡと、 前記コネクタＡと接続されるコネクタＢと、 前記コネクタＢに設けられ、直流電源と接続されたコン
   タクトＢ１と、 前記コネクタＡに設けられ、コネクタ接続時、前記コン
   タクトＢ１と接触されるコンタクトＡ１と、 前記コンタクトＡ１と前記電子装置とを接続する電源ラ
   インと、 前記電源ラインに介挿された半導体スイッチング素子
   と、 前記半導体スイッチング素子のオン抵抗を、前記各コネ
   クタが接続されてから所定時間が経過するまでに略絶縁
   状態から略零まで徐々に変化させるように制御する制御
   部とを具備することを特徴とする突入電流防止装置。
3. 【請求項３】 電子装置に設けられたコネクタＡと、 前記コネクタＡと接続されるコネクタＢと、 前記コネクタＢに設けられ、直流電源とそれぞれ接続さ
   れたコンタクトＢ１及びコンタクトＢ２と、 前記コネクタＡに設けられ、コネクタ接続時、前記コン
   タクトＢ１と接触されるコンタクトＡ１と、 前記コネクタＡに設けられ、コネクタ接続時、前記コン
   タクトＢ２と接触さるコンタクトＡ２であって、接触先
   端位置を前記コンタクトＡ１より後退せしめてなるコン
   タクトＡ２と、 前記コンタクトＡ１と前記電子装置とを半導体スイッチ
   ング素子を介して接続する第１の電源ラインと、 前記コンタクトＡ２と前記電子装置とを前記半導体スイ
   ッチング素子を短絡するようにして接続する第２の電源
   ラインと、 前記半導体スイッチング素子のオン抵抗を前記各コネク
   タが接続されてから所定時間が経過するまでに略絶縁状
   態から略零まで徐々に変化させるように制御する制御部
   とを具備することを特徴とする突入電流防止装置。
4. 【請求項４】 電子装置に設けられたコネクタＡと、 前記コネクタＡと接続されるコネクタＢと、 前記コネクタＢに設けられ、直流電源と接続されたコン
   タクトＢ１と、 前記コネクタＡに設けられ、コネクタ接続時、前記コン
   タクトＢ１と接触されるコンタクトＡ１であって、絶縁
   体の上に前記コンタクトＢ１と接触可能な導体部および
   抵抗体部をコネクタ挿入方向に沿って順に並設してな
   り、コネクタ挿入時の前記コンタクトＢ１との接触位置
   の変化に伴って抵抗値がある値から略零まで連続的に変
   化するコンタクトＡ１と、 前記コンタクトＡ１と前記電子装置とを接続する電源ラ
   インとを具備することを特徴とする突入電流防止装置。
5. 【請求項５】 電子装置に設けられたコネクタＡと、 前記コネクタＡと接続されるコネクタＢと、 前記コネクタＢに設けられた信号接続用のコンタクトＢ
   １と、 前記コネクタＡに設けられ、コネクタ接続時、前記コン
   タクトＢ１と接触されるコンタクトＡ１と、 前記コンタクトＡ１と前記電子装置内の入力素子とを接
   続する信号入力ラインとを具備し、 前記コンタクトＢ１または前記コンタクトＡ１のいずれ
   かが、導体の上に相対するコンタクトＡ１またはコンタ
   クトＢ１と接触可能な抵抗体を積層して構成されること
   を特徴とする電子回路保護装置。