JPH08329516A - 光ヘッド装置 - Google Patents
光ヘッド装置Info
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- JPH08329516A JPH08329516A JP7137674A JP13767495A JPH08329516A JP H08329516 A JPH08329516 A JP H08329516A JP 7137674 A JP7137674 A JP 7137674A JP 13767495 A JP13767495 A JP 13767495A JP H08329516 A JPH08329516 A JP H08329516A
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- semiconductor laser
- head device
- optical head
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- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/12—Heads, e.g. forming of the optical beam spot or modulation of the optical beam
- G11B7/135—Means for guiding the beam from the source to the record carrier or from the record carrier to the detector
- G11B7/1381—Non-lens elements for altering the properties of the beam, e.g. knife edges, slits, filters or stops
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- G—PHYSICS
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- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/08—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers
- G11B7/09—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following
- G11B7/095—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following specially adapted for discs, e.g. for compensation of eccentricity or wobble
- G11B7/0956—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following specially adapted for discs, e.g. for compensation of eccentricity or wobble to compensate for tilt, skew, warp or inclination of the disc, i.e. maintain the optical axis at right angles to the disc
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- G11B7/135—Means for guiding the beam from the source to the record carrier or from the record carrier to the detector
- G11B7/1372—Lenses
- G11B7/1376—Collimator lenses
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- G—PHYSICS
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- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
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- G11B7/12—Heads, e.g. forming of the optical beam spot or modulation of the optical beam
- G11B7/135—Means for guiding the beam from the source to the record carrier or from the record carrier to the detector
- G11B7/139—Numerical aperture control means
Abstract
(57)【要約】
【目的】 光ディスク板面上での集光ビーム径を変化さ
せずに、光ディスクの傾きによる信号劣化を小さく抑え
る。 【構成】 半導体レーザ１から出た光は、コリメートレ
ンズ９によりコリメートされる。ＰＢＳ２８を透過した
レーザ光の偏光方向では、偏光性開口１１の開口部を通
り抜けた光が１／４波長板１２を通り円偏光となり対物
レンズ４により光ディスク５上に集光される。光ディス
ク５で反射回折された光は、対物レンズ４を通り、１／
４波長板１２により、入射時と直交する方向の直線偏光
になる。この偏光方向では、偏光性開口１１の全面で光
が透過し、ＰＢＳ２８によって、ＲＦ信号、および、サ
ーボ信号検出系に導かれＲＦ信号、および、サーボ信号
が得られる。光ディスク５で反射回折された光を有効開
口の大きな対物レンズで受けるので、光ディスクの傾き
に対し、従来よりも信号成分が分布している部分の受光
許容範囲が大きくなる。
せずに、光ディスクの傾きによる信号劣化を小さく抑え
る。 【構成】 半導体レーザ１から出た光は、コリメートレ
ンズ９によりコリメートされる。ＰＢＳ２８を透過した
レーザ光の偏光方向では、偏光性開口１１の開口部を通
り抜けた光が１／４波長板１２を通り円偏光となり対物
レンズ４により光ディスク５上に集光される。光ディス
ク５で反射回折された光は、対物レンズ４を通り、１／
４波長板１２により、入射時と直交する方向の直線偏光
になる。この偏光方向では、偏光性開口１１の全面で光
が透過し、ＰＢＳ２８によって、ＲＦ信号、および、サ
ーボ信号検出系に導かれＲＦ信号、および、サーボ信号
が得られる。光ディスク５で反射回折された光を有効開
口の大きな対物レンズで受けるので、光ディスクの傾き
に対し、従来よりも信号成分が分布している部分の受光
許容範囲が大きくなる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、光ディスクに記録され
た情報を読み取るための光ヘッド装置に関し、特に、高
密度化を目的とした光ヘッド装置に関する。
た情報を読み取るための光ヘッド装置に関し、特に、高
密度化を目的とした光ヘッド装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、基本的な光ヘッド装置は、半導体
レーザから出射された光を対物レンズ全面に入射し、対
物レンズのＮＡで決まる回折限界の集光ビームを用いて
光ディスク上の情報を読み出している。
レーザから出射された光を対物レンズ全面に入射し、対
物レンズのＮＡで決まる回折限界の集光ビームを用いて
光ディスク上の情報を読み出している。
【０００３】図９は、従来の基本的な光ヘッド装置の主
に光学的構成を示した構成模式図である。半導体レーザ
１からの出射光は、コリメートレンズ２で平行光線にな
り、対物レンズ２９の全面に入射し、光ディスク５上に
集光される。光ディスク５上の記録情報で変調を受けた
反射光の内、再び対物レンズ２９の有効開口内に戻った
光のみが、ＢＳ（ビームスプリッタ）３により反射さ
れ、ＲＦ、および、サーボ信号検出系６に導かれる。
に光学的構成を示した構成模式図である。半導体レーザ
１からの出射光は、コリメートレンズ２で平行光線にな
り、対物レンズ２９の全面に入射し、光ディスク５上に
集光される。光ディスク５上の記録情報で変調を受けた
反射光の内、再び対物レンズ２９の有効開口内に戻った
光のみが、ＢＳ（ビームスプリッタ）３により反射さ
れ、ＲＦ、および、サーボ信号検出系６に導かれる。
【０００４】これに対して近年、記録密度の異なる光デ
ィスクが市場に現れるようになり、一つの光ヘッド装置
で、記録密度の異なる２種類以上の光ディスクを読み取
る方法として、対物レンズの前に可変開口を備えること
により集光ビーム径を変化させる方法が、特開平５−１
２０７２０号公報に提案されている。
ィスクが市場に現れるようになり、一つの光ヘッド装置
で、記録密度の異なる２種類以上の光ディスクを読み取
る方法として、対物レンズの前に可変開口を備えること
により集光ビーム径を変化させる方法が、特開平５−１
２０７２０号公報に提案されている。
【０００５】図１０に主にその光学系の構成模式図を示
す。これは、図９に示した、通常の光ヘッド装置の光学
系に、アパーチャ１４を付加したものである。このアパ
ーチャ１４の開口径を変えることにより、光ディスク５
上での集光ビーム径を変えることが可能となり、記録密
度の異なる光ディスクの読み取りが可能となる。
す。これは、図９に示した、通常の光ヘッド装置の光学
系に、アパーチャ１４を付加したものである。このアパ
ーチャ１４の開口径を変えることにより、光ディスク５
上での集光ビーム径を変えることが可能となり、記録密
度の異なる光ディスクの読み取りが可能となる。
【０００６】また、対物レンズアクチュエータがトラッ
クをトレースしていき、対物レンズ１０が動いた場合、
アパーチャ１４がアクチュエータ外に固定されている
と、対物レンズ１０とアパーチャ１０の相対位置がず
れ、光ディスク５上での集光ビーム形状が変化し、読み
取り特性が悪化するので、本発明では、対物レンズ１０
とアパーチャ１４をともにアクチュエータに載せ、常に
対物レンズ１０とアパーチャ１４の位置関係が変わらな
いようにしている。
クをトレースしていき、対物レンズ１０が動いた場合、
アパーチャ１４がアクチュエータ外に固定されている
と、対物レンズ１０とアパーチャ１０の相対位置がず
れ、光ディスク５上での集光ビーム形状が変化し、読み
取り特性が悪化するので、本発明では、対物レンズ１０
とアパーチャ１４をともにアクチュエータに載せ、常に
対物レンズ１０とアパーチャ１４の位置関係が変わらな
いようにしている。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】図９に示す通常の光ヘ
ッド装置の光学系の場合、光ディスク上の集光ビーム径
は、対物レンズのＮＡに反比例し、光ディスクの傾きに
対する耐性は対物レンズのＮＡの２乗に反比例する。こ
の光ディスクの傾きによる信号劣化は、主にコマ吸収の
発生によるものであるが、光ディスクが傾いた場合、光
ディスクからの反射光の光軸と、対物レンズの光軸がず
れてしまい、ＲＦ信号成分や、プッシュプル法などを用
いた場合のトラックエラー信号成分が、対物レンズの有
効開口内に入射しなくなり、各信号の強度低下や、オフ
セットの発生原因ともなっている。
ッド装置の光学系の場合、光ディスク上の集光ビーム径
は、対物レンズのＮＡに反比例し、光ディスクの傾きに
対する耐性は対物レンズのＮＡの２乗に反比例する。こ
の光ディスクの傾きによる信号劣化は、主にコマ吸収の
発生によるものであるが、光ディスクが傾いた場合、光
ディスクからの反射光の光軸と、対物レンズの光軸がず
れてしまい、ＲＦ信号成分や、プッシュプル法などを用
いた場合のトラックエラー信号成分が、対物レンズの有
効開口内に入射しなくなり、各信号の強度低下や、オフ
セットの発生原因ともなっている。
【０００８】上記の現象は、図１０に示す光学系の場合
でも同じであり、アパーチャの径によって決まる対物レ
ンズの実効的なＮＡにより、集光ビーム径と光ディスク
の傾きに対する耐性が決まり、光ディスクが傾いた場
合、光ディスクからの反射光の光軸と、対物レンズの光
軸がずれてしまい、ＲＦ信号成分や、プッシュプル法な
どを用いた場合のトラックエラー信号成分が、アパーチ
ャ開口内に入射しなくなり、各信号の強度低下や、オフ
セットの発生原因となる。
でも同じであり、アパーチャの径によって決まる対物レ
ンズの実効的なＮＡにより、集光ビーム径と光ディスク
の傾きに対する耐性が決まり、光ディスクが傾いた場
合、光ディスクからの反射光の光軸と、対物レンズの光
軸がずれてしまい、ＲＦ信号成分や、プッシュプル法な
どを用いた場合のトラックエラー信号成分が、アパーチ
ャ開口内に入射しなくなり、各信号の強度低下や、オフ
セットの発生原因となる。
【０００９】本発明の目的は、上述の問題を解決し、光
ディスクへレーザ光を集光する対物レンズの実効的ＮＡ
を変えずに、すなわち、光ディスク板面上での集光ビー
ム径を変化させずに、光ディスクの傾きによる信号劣化
を小さく抑えた光ヘッド装置を供給することである。
ディスクへレーザ光を集光する対物レンズの実効的ＮＡ
を変えずに、すなわち、光ディスク板面上での集光ビー
ム径を変化させずに、光ディスクの傾きによる信号劣化
を小さく抑えた光ヘッド装置を供給することである。
【００１０】
【課題を解決するための手段】本発明の第一の光ヘッド
装置は、半導体レーザと、この半導体レーザからの出射
光を光記録媒体上に集光する対物レンズと、前記半導体
レーザと対物レンズの間に設けられ、前記半導体レーザ
からの出射光と前記光記録媒体からの反射光を分離する
ビームスプリッタと、このビームスプリッタで分離され
た前記光記録媒体からの反射光を受光する光検出器を少
なくとも有する光ヘッド装置であって、前記対物レンズ
に入射するレーザ光のビーム径が前記対物レンズの有効
開口径よりも小さく、かつ、前記対物レンズの有効開口
径内に入射した前記光記録媒体からの反射光は空間的に
取捨される事無く前記光検出器に導かれることを特徴と
する。
装置は、半導体レーザと、この半導体レーザからの出射
光を光記録媒体上に集光する対物レンズと、前記半導体
レーザと対物レンズの間に設けられ、前記半導体レーザ
からの出射光と前記光記録媒体からの反射光を分離する
ビームスプリッタと、このビームスプリッタで分離され
た前記光記録媒体からの反射光を受光する光検出器を少
なくとも有する光ヘッド装置であって、前記対物レンズ
に入射するレーザ光のビーム径が前記対物レンズの有効
開口径よりも小さく、かつ、前記対物レンズの有効開口
径内に入射した前記光記録媒体からの反射光は空間的に
取捨される事無く前記光検出器に導かれることを特徴と
する。
【００１１】本発明の第二の光ヘッド装置は、半導体レ
ーザと、この半導体レーザからの出射光を光記録媒体上
に集光する対物レンズと、前記半導体レーザと対物レン
ズの間に設けられ、前記半導体レーザからの出射光と前
記光記録媒体からの反射光を分離するビームスプリッタ
と、このビームスプリッタで分離された前記光記録媒体
からの反射光を受光する光検出器を少なくとも有する光
ヘッド装置であって、前記半導体レーザと前記ビームス
プリッタとの間にコリメートレンズを具備し、かつ、こ
のコリメートレンズの有効開口径が、前記対物レンズの
有効開口径よりも小さいことを特徴とする。
ーザと、この半導体レーザからの出射光を光記録媒体上
に集光する対物レンズと、前記半導体レーザと対物レン
ズの間に設けられ、前記半導体レーザからの出射光と前
記光記録媒体からの反射光を分離するビームスプリッタ
と、このビームスプリッタで分離された前記光記録媒体
からの反射光を受光する光検出器を少なくとも有する光
ヘッド装置であって、前記半導体レーザと前記ビームス
プリッタとの間にコリメートレンズを具備し、かつ、こ
のコリメートレンズの有効開口径が、前記対物レンズの
有効開口径よりも小さいことを特徴とする。
【００１２】本発明の第三の光ヘッド装置は、半導体レ
ーザと、この半導体レーザからの出射光を光記録媒体上
に集光する対物レンズと、前記半導体レーザと対物レン
ズの間に設けられ、前記半導体レーザからの出射光と前
記光記録媒体からの反射光を分離するビームスプリッタ
と、このビームスプリッタで分離された前記光記録媒体
からの反射光を受光する光検出器を少なくとも有する光
ヘッド装置であって、ある偏光方向の光に対しては、前
記対物レンズの有効開口径よりも径の小さな開口部分の
光は素通りし、それ以外の部分の光は、回折、吸収、も
しくは、反射し、これと直交する方向の光に対しては全
面にわたって光が素通りする偏光性の開口と、１／４波
長板を、前記光記録媒体の側から、前記対物レンズ、前
記１／４波長板、前記偏光性の開口の順で具備すること
を特徴とする。また、対物レンズ、１／４波長板、偏光
性の開口が共に移動することを特徴とする。
ーザと、この半導体レーザからの出射光を光記録媒体上
に集光する対物レンズと、前記半導体レーザと対物レン
ズの間に設けられ、前記半導体レーザからの出射光と前
記光記録媒体からの反射光を分離するビームスプリッタ
と、このビームスプリッタで分離された前記光記録媒体
からの反射光を受光する光検出器を少なくとも有する光
ヘッド装置であって、ある偏光方向の光に対しては、前
記対物レンズの有効開口径よりも径の小さな開口部分の
光は素通りし、それ以外の部分の光は、回折、吸収、も
しくは、反射し、これと直交する方向の光に対しては全
面にわたって光が素通りする偏光性の開口と、１／４波
長板を、前記光記録媒体の側から、前記対物レンズ、前
記１／４波長板、前記偏光性の開口の順で具備すること
を特徴とする。また、対物レンズ、１／４波長板、偏光
性の開口が共に移動することを特徴とする。
【００１３】
【作用】本発明の光ヘッド装置の作用を図１１を用いて
説明する。
説明する。
【００１４】通常の光ヘッド光学系では、光ディスクに
レーザ光を照射するときの対物レンズ有効径と、光ディ
スクからの反射回折光を受光する対物レンズ有効径とは
等しく、図１１（ａ）に示すように、回折光２５のう
ち、対物レンズ有効開口２４に入射した部分が、反射光
（０次回折光、大きさは対物レンズ有効開口２４に一致
している）と干渉し、信号成分となっている。この時、
光ディスクが傾くと、干渉信号成分部分が対物レンズ有
効開口２４からはずれ、信号強度が低下する。
レーザ光を照射するときの対物レンズ有効径と、光ディ
スクからの反射回折光を受光する対物レンズ有効径とは
等しく、図１１（ａ）に示すように、回折光２５のう
ち、対物レンズ有効開口２４に入射した部分が、反射光
（０次回折光、大きさは対物レンズ有効開口２４に一致
している）と干渉し、信号成分となっている。この時、
光ディスクが傾くと、干渉信号成分部分が対物レンズ有
効開口２４からはずれ、信号強度が低下する。
【００１５】これに対し、本発明の光ヘッド装置では、
図１１（ｂ）に示すように、回折光２５のうち、入射レ
ーザ径２６と重なり合う部分が反射光（０次回折光、大
きさは入射レーザ径２６に一致している）と干渉し、信
号成分となっている。この信号成分は、本発明の場合、
光ディスクからの反射回折光を受光する対物レンズ有効
開口２７の周縁部よりも離れて内側に分布しており、こ
のため光ディスクがある程度傾いても信号成分は対物レ
ンズ有効開口２７に入射し、光検出器に導かれるので通
常光ヘッドの光学系に比べ信号強度の低下は少なくてす
む。
図１１（ｂ）に示すように、回折光２５のうち、入射レ
ーザ径２６と重なり合う部分が反射光（０次回折光、大
きさは入射レーザ径２６に一致している）と干渉し、信
号成分となっている。この信号成分は、本発明の場合、
光ディスクからの反射回折光を受光する対物レンズ有効
開口２７の周縁部よりも離れて内側に分布しており、こ
のため光ディスクがある程度傾いても信号成分は対物レ
ンズ有効開口２７に入射し、光検出器に導かれるので通
常光ヘッドの光学系に比べ信号強度の低下は少なくてす
む。
【００１６】なお、光ディスクの傾きによる信号品質劣
化は、コマ収差による光ディスク上での集光ビーム形状
の悪化が支配的であるが、このコマ収差の程度は、光デ
ィスクにレーザ光を照射する対物レンズのＮＡとレーザ
光の波長で一義的に決まる。したがって、上記作用の検
討は、同一レーザ波長を用い、本発明の対物レンズのＮ
Ａを通常光ヘッドのＮＡより大きくし、入射レーザ径を
調整し、本発明の光ヘッドの照射側の実効的ＮＡを通常
光ヘッドのＮＡと等しくする、すなわち、コマ収差の程
度は等しい、という条件で行っている。
化は、コマ収差による光ディスク上での集光ビーム形状
の悪化が支配的であるが、このコマ収差の程度は、光デ
ィスクにレーザ光を照射する対物レンズのＮＡとレーザ
光の波長で一義的に決まる。したがって、上記作用の検
討は、同一レーザ波長を用い、本発明の対物レンズのＮ
Ａを通常光ヘッドのＮＡより大きくし、入射レーザ径を
調整し、本発明の光ヘッドの照射側の実効的ＮＡを通常
光ヘッドのＮＡと等しくする、すなわち、コマ収差の程
度は等しい、という条件で行っている。
【００１７】上述の本発明の作用が、入射レーザ径の中
心と対物レンズ有効開口の中心が一致している場合にも
っとも著しいことは、図１１（ｂ）において、干渉信号
成分部分の分布が対物レンズ有効開口の中心部分に集ま
ること、および、入射レーザと対物レンズ有効開口の中
心がずれると、集光ビーム形状が、変形することから容
易に理解される。
心と対物レンズ有効開口の中心が一致している場合にも
っとも著しいことは、図１１（ｂ）において、干渉信号
成分部分の分布が対物レンズ有効開口の中心部分に集ま
ること、および、入射レーザと対物レンズ有効開口の中
心がずれると、集光ビーム形状が、変形することから容
易に理解される。
【００１８】しかしながら、通常光ヘッド装置の対物レ
ンズ有効開口径を大きくし、入射レーザ径をこの対物レ
ンズ有効開口径より小さくする場合あるいは、入射レー
ザ径を制限する構成機構が光ヘッドに固定されており、
対物レンズのみがアクチュエータに搭載されている場合
には、トラッキングに伴い対物レンズがシフトしてい
き、入射レーザ径と対物レンズ有効開口の中心がずれて
しまう。
ンズ有効開口径を大きくし、入射レーザ径をこの対物レ
ンズ有効開口径より小さくする場合あるいは、入射レー
ザ径を制限する構成機構が光ヘッドに固定されており、
対物レンズのみがアクチュエータに搭載されている場合
には、トラッキングに伴い対物レンズがシフトしてい
き、入射レーザ径と対物レンズ有効開口の中心がずれて
しまう。
【００１９】この問題を防ぐために、本発明の光ヘッド
装置においては、対物レンズ位置を検出する信号を生成
する回路と、この対物レンズ位置を検出する信号によ
り、前記対物レンズの中心とこの対物レンズに入射する
レーザ光のビームの中心が一致するように対物レンズア
クチュエータと、光ヘッドスライダを位置制御してい
る。
装置においては、対物レンズ位置を検出する信号を生成
する回路と、この対物レンズ位置を検出する信号によ
り、前記対物レンズの中心とこの対物レンズに入射する
レーザ光のビームの中心が一致するように対物レンズア
クチュエータと、光ヘッドスライダを位置制御してい
る。
【００２０】また、本発明の光ヘッド装置では、ある偏
光方向の光に対しては、対物レンズの有効開口径よりも
径の小さな開口部分の光は素通りし、それ以外の部分の
光は、回折、吸収、もしくは、反射し、これと直交する
方向の光に対しては全面にわたって光が素通りする偏光
性の開口と、１／４波長板を、光ディスクの側から、対
物レンズ、１／４波長板、偏光性の開口の順で具備して
いる。
光方向の光に対しては、対物レンズの有効開口径よりも
径の小さな開口部分の光は素通りし、それ以外の部分の
光は、回折、吸収、もしくは、反射し、これと直交する
方向の光に対しては全面にわたって光が素通りする偏光
性の開口と、１／４波長板を、光ディスクの側から、対
物レンズ、１／４波長板、偏光性の開口の順で具備して
いる。
【００２１】これにより、光ディスクに入射するレーザ
光の偏光を偏光開口の開口部以外では回折、吸収、もし
くは、反射される方向にすれば対物レンズにより光ディ
スク上に集光される光は、偏光開口の開口部の光だけで
あるが、１／４波長板を透過し、光ディスクで反射され
再び１／４波長板を透過した光は、偏光が入射光とは直
交する方向になるので、対物レンズの有効開口径内に入
射した光ディスクからの反射光は全面にわたり偏光開口
を透過して光検出器へ導かれる。
光の偏光を偏光開口の開口部以外では回折、吸収、もし
くは、反射される方向にすれば対物レンズにより光ディ
スク上に集光される光は、偏光開口の開口部の光だけで
あるが、１／４波長板を透過し、光ディスクで反射され
再び１／４波長板を透過した光は、偏光が入射光とは直
交する方向になるので、対物レンズの有効開口径内に入
射した光ディスクからの反射光は全面にわたり偏光開口
を透過して光検出器へ導かれる。
【００２２】
【実施例】以下に、図面を参照して本発明の実施例につ
いて説明する。
いて説明する。
【００２３】図１に、本発明の光ヘッド装置の第一の実
施例の要素構成図を示す。半導体レーザ１から出た光
は、対物レンズ４の有効開口径よりも有効開口径の小さ
な小径コリメートレンズ９によりコリメートされ一部が
ＢＳ３を透過し対物レンズ４により光ディスク５上に集
光される。光ディスク５で反射回折された光のうち対物
レンズ４に入射したものの一部がＢＳ３で反射されＲＦ
信号、および、サーボ信号検出系に導かれＲＦ信号、お
よび、サーボ信号が得られる。
施例の要素構成図を示す。半導体レーザ１から出た光
は、対物レンズ４の有効開口径よりも有効開口径の小さ
な小径コリメートレンズ９によりコリメートされ一部が
ＢＳ３を透過し対物レンズ４により光ディスク５上に集
光される。光ディスク５で反射回折された光のうち対物
レンズ４に入射したものの一部がＢＳ３で反射されＲＦ
信号、および、サーボ信号検出系に導かれＲＦ信号、お
よび、サーボ信号が得られる。
【００２４】本実施例では、半導体レーザ１の発振波長
を、６３５nm、小径コリメートレンズ９の焦点距離２５
mm、ＮＡ＝０．０７２６（この時の有効開口径３．６３
mm）、対物レンズ４の焦点距離３．３mm、ＮＡ＝０．６
５（この時の有効開口径４．２９mm）であり、ＢＳ３は
Ｐ、Ｓ両波とも反射、透過率５０％のものを用いた。
を、６３５nm、小径コリメートレンズ９の焦点距離２５
mm、ＮＡ＝０．０７２６（この時の有効開口径３．６３
mm）、対物レンズ４の焦点距離３．３mm、ＮＡ＝０．６
５（この時の有効開口径４．２９mm）であり、ＢＳ３は
Ｐ、Ｓ両波とも反射、透過率５０％のものを用いた。
【００２５】この本発明の光ヘッド装置の特性を、図９
に示した通常光学系の光ヘッド装置と比較した。比較し
た通常光学系の光ヘッド装置では、半導体レーザ１の発
振波長は実施例と同じく６３５nmであり、コリメートレ
ンズ２の焦点距離２５mm、ＮＡ＝０．１（この時の有効
開口径５．０mm）、対物レンズ１０の焦点距離３．３m
m、ＮＡ＝０．５５（この時の有効開口径３．６３mm）
であり、ＢＳ３は実施例と同じくＰ、Ｓ両波とも反射、
透過率５０％のものを用いた。
に示した通常光学系の光ヘッド装置と比較した。比較し
た通常光学系の光ヘッド装置では、半導体レーザ１の発
振波長は実施例と同じく６３５nmであり、コリメートレ
ンズ２の焦点距離２５mm、ＮＡ＝０．１（この時の有効
開口径５．０mm）、対物レンズ１０の焦点距離３．３m
m、ＮＡ＝０．５５（この時の有効開口径３．６３mm）
であり、ＢＳ３は実施例と同じくＰ、Ｓ両波とも反射、
透過率５０％のものを用いた。
【００２６】この両者の構成では、対物レンズのＮＡは
実施例の方が大きいが、入射するレーザ光の径が、小径
コリメータレンズ９の径３．６３mmであるので、実際に
集光に寄与するＮＡは０．５５となり、両者とも光ディ
スク上での集光径は０．９μm ×１．０μm （半導体レ
ーザの放射角は半値全角で３２°×８°）であり、コマ
収差の程度も等しい。
実施例の方が大きいが、入射するレーザ光の径が、小径
コリメータレンズ９の径３．６３mmであるので、実際に
集光に寄与するＮＡは０．５５となり、両者とも光ディ
スク上での集光径は０．９μm ×１．０μm （半導体レ
ーザの放射角は半値全角で３２°×８°）であり、コマ
収差の程度も等しい。
【００２７】この２種類の光ヘッド装置で、トラックピ
ッチ０．８μm 、最短ピット長（３Ｔピット）０．４５
μm の通常ＣＤの４倍密度のＣＤを再生したところ、ブ
ロックエラーレートが３×１０-1をこえるチルト量は、
通常光ヘッド装置がタンジェンシャル方向で０．２°、
ラジアル方向で０．２６°であったものが、本実施例で
は、対物レンズがトラックをトレースしている時の最良
位置で、タンジェンシャル方向で０．２５°、ラジアル
方向で０．３３°に拡大した。
ッチ０．８μm 、最短ピット長（３Ｔピット）０．４５
μm の通常ＣＤの４倍密度のＣＤを再生したところ、ブ
ロックエラーレートが３×１０-1をこえるチルト量は、
通常光ヘッド装置がタンジェンシャル方向で０．２°、
ラジアル方向で０．２６°であったものが、本実施例で
は、対物レンズがトラックをトレースしている時の最良
位置で、タンジェンシャル方向で０．２５°、ラジアル
方向で０．３３°に拡大した。
【００２８】図２に、本発明の光ヘッド装置の第二の実
施例の要素構成図を示す。半導体レーザ１から出た光
は、コリメートレンズ９によりコリメートされ、アパー
チャ１３で対物レンズ４の有効開口径よりも小さな径に
制限され、一部がＢＳ３を透過し対物レンズ４により光
ディスク５上に集光される。光ディスク５で反射回折さ
れた光のうち対物レンズ４に入射したものの一部がＢＳ
３で反射されＲＦ信号、および、サーボ信号検出系に導
かれＲＦ信号、および、サーボ信号が得られる。
施例の要素構成図を示す。半導体レーザ１から出た光
は、コリメートレンズ９によりコリメートされ、アパー
チャ１３で対物レンズ４の有効開口径よりも小さな径に
制限され、一部がＢＳ３を透過し対物レンズ４により光
ディスク５上に集光される。光ディスク５で反射回折さ
れた光のうち対物レンズ４に入射したものの一部がＢＳ
３で反射されＲＦ信号、および、サーボ信号検出系に導
かれＲＦ信号、および、サーボ信号が得られる。
【００２９】本実施例では、半導体レーザ１の発振波長
を、６３５nm、コリメートレンズ２の焦点距離２５mm、
ＮＡ＝０．１（この時の有効開口径５．０mm）、対物レ
ンズ４の焦点距離３．３mm、ＮＡ＝０．６５（この時の
有効開口径４．２９mm）であり、アパーチャ１３の開口
径は３．６３mmで、ＢＳ３はＰ、Ｓ両波とも反射、透過
率５０％のものを用いた。
を、６３５nm、コリメートレンズ２の焦点距離２５mm、
ＮＡ＝０．１（この時の有効開口径５．０mm）、対物レ
ンズ４の焦点距離３．３mm、ＮＡ＝０．６５（この時の
有効開口径４．２９mm）であり、アパーチャ１３の開口
径は３．６３mmで、ＢＳ３はＰ、Ｓ両波とも反射、透過
率５０％のものを用いた。
【００３０】この本発明の光ヘッド装置の特性を、図９
に示した通常光学系の光ヘッド装置と比較した。比較し
た通常光学系の光ヘッド装置では、半導体レーザ１の発
振波長は実施例と同じく６３５nmであり、コリメートレ
ンズ２も同一で、焦点距離２５mm、ＮＡ＝０．１（この
時の有効開口径５．０mm）である。対物レンズ１０の焦
点距離３．３mm、ＮＡ＝０．５５（この時の有効開口径
３．６３mm）であり、ＢＳ３は実施例と同じくＰ、Ｓ両
波とも反射、透過率５０％のものを用いた。
に示した通常光学系の光ヘッド装置と比較した。比較し
た通常光学系の光ヘッド装置では、半導体レーザ１の発
振波長は実施例と同じく６３５nmであり、コリメートレ
ンズ２も同一で、焦点距離２５mm、ＮＡ＝０．１（この
時の有効開口径５．０mm）である。対物レンズ１０の焦
点距離３．３mm、ＮＡ＝０．５５（この時の有効開口径
３．６３mm）であり、ＢＳ３は実施例と同じくＰ、Ｓ両
波とも反射、透過率５０％のものを用いた。
【００３１】この両者の構成では、対物レンズのＮＡは
実施例の方が大きいが、入射するレーザ光の径が、アパ
ーチャ１３開口径３．６３mmであるので、実際に集光に
寄与するＮＡは０．５５となり、両者とも光ディスク上
での集光径は０．９μm ×１．０μm （半導体レーザの
放射角は半値全角で３２°×８°）であり、コマ収差の
程度も等しい。この２種類の光ヘッド装置で、トラック
ピッチ０．８μm 、最短ピット長（３Ｔピット）０．４
５μm の通常ＣＤの４倍密度のＣＤを再生したところ、
ブロックエラーレートが３×１０-1をこえるチルト量
は、通常光ヘッド装置がタンジェンシャル方向で０．２
°、ラジアル方向で０．２６°であったものが、本実施
例では、対物レンズがトラックをトレースしている時の
最良位置で、タンジェンシャル方向で０．２５°、ラジ
アル方向で０．３３°に拡大した。
実施例の方が大きいが、入射するレーザ光の径が、アパ
ーチャ１３開口径３．６３mmであるので、実際に集光に
寄与するＮＡは０．５５となり、両者とも光ディスク上
での集光径は０．９μm ×１．０μm （半導体レーザの
放射角は半値全角で３２°×８°）であり、コマ収差の
程度も等しい。この２種類の光ヘッド装置で、トラック
ピッチ０．８μm 、最短ピット長（３Ｔピット）０．４
５μm の通常ＣＤの４倍密度のＣＤを再生したところ、
ブロックエラーレートが３×１０-1をこえるチルト量
は、通常光ヘッド装置がタンジェンシャル方向で０．２
°、ラジアル方向で０．２６°であったものが、本実施
例では、対物レンズがトラックをトレースしている時の
最良位置で、タンジェンシャル方向で０．２５°、ラジ
アル方向で０．３３°に拡大した。
【００３２】図３に、本発明の光ヘッド装置の第三の実
施例の要素構成図を示す。半導体レーザ１、小径コリメ
ートレンズ９、ＢＳ３、対物レンズ４、光ディスク５の
構成、特性、および、寸法等は第一の実施例と同じであ
る。光ディスク５からの反射回折光は、ＢＳ３でＲＦ信
号、サーボ信号、および、対物レンズ位置検出系７に導
かれる。ＲＦ信号、サーボ信号、および、対物レンズ位
置検出系７で得られた対物レンズ位置信号により、常に
対物レンズ４の中心と、入射するレーザ光の中心が一致
するようにトラッキングコイル、および、スライダコイ
ル８に制御信号を流し、通常光ヘッドでは対物レンズを
搭載したアクチュエータのみで行うトラックトレースを
光学系全体を搭載したスライダも用いて行う。
施例の要素構成図を示す。半導体レーザ１、小径コリメ
ートレンズ９、ＢＳ３、対物レンズ４、光ディスク５の
構成、特性、および、寸法等は第一の実施例と同じであ
る。光ディスク５からの反射回折光は、ＢＳ３でＲＦ信
号、サーボ信号、および、対物レンズ位置検出系７に導
かれる。ＲＦ信号、サーボ信号、および、対物レンズ位
置検出系７で得られた対物レンズ位置信号により、常に
対物レンズ４の中心と、入射するレーザ光の中心が一致
するようにトラッキングコイル、および、スライダコイ
ル８に制御信号を流し、通常光ヘッドでは対物レンズを
搭載したアクチュエータのみで行うトラックトレースを
光学系全体を搭載したスライダも用いて行う。
【００３３】これにより、トラックをトレースしても常
に対物レンズ４の中心と、入射するレーザ光の中心が一
致し、ブロックエラーレートが３×１０-1をこえるチル
ト量がタンジェンシャル方向で０．２５°、ラジアル方
向で０．３３°という通常光ヘッド光学系よりも優れた
値が、常に得られた。
に対物レンズ４の中心と、入射するレーザ光の中心が一
致し、ブロックエラーレートが３×１０-1をこえるチル
ト量がタンジェンシャル方向で０．２５°、ラジアル方
向で０．３３°という通常光ヘッド光学系よりも優れた
値が、常に得られた。
【００３４】図４に、本発明の光ヘッド装置の第四の実
施例の要素構成図を示す。半導体レーザ１、コリメート
レンズ２、アパーチャ１３、ＢＳ３、対物レンズ４、光
ディスク５の構成、特性、および、寸法等は第二の実施
例と同じである。光ディスク５からの反射回折光は、第
三の実施例と同様にＢＳ３でＲＦ信号、サーボ信号、お
よび、対物レンズ位置検出系７に導かれる。以下、第三
の実施例と同様に、ＲＦ信号、サーボ信号、および、対
物レンズ位置検出系７で得られた対物レンズ位置信号に
より、常に対物レンズ４の中心と、入射するレーザ光の
中心が一致するようにトラッキングコイル、および、ス
ライダコイル８に制御信号を流し、通常光ヘッドでは対
物レンズを搭載したアクチュエータのみで行うトラック
トレースを光学系全体を搭載したスライダも用いて行
う。
施例の要素構成図を示す。半導体レーザ１、コリメート
レンズ２、アパーチャ１３、ＢＳ３、対物レンズ４、光
ディスク５の構成、特性、および、寸法等は第二の実施
例と同じである。光ディスク５からの反射回折光は、第
三の実施例と同様にＢＳ３でＲＦ信号、サーボ信号、お
よび、対物レンズ位置検出系７に導かれる。以下、第三
の実施例と同様に、ＲＦ信号、サーボ信号、および、対
物レンズ位置検出系７で得られた対物レンズ位置信号に
より、常に対物レンズ４の中心と、入射するレーザ光の
中心が一致するようにトラッキングコイル、および、ス
ライダコイル８に制御信号を流し、通常光ヘッドでは対
物レンズを搭載したアクチュエータのみで行うトラック
トレースを光学系全体を搭載したスライダも用いて行
う。
【００３５】これにより、トラックをトレースしても常
に対物レンズ４の中心と、入射するレーザ光の中心が一
致し、ブロックエラーレートが３×１０-1をこえるチル
ト量がタンジェンシャル方向で０．２５°、ラジアル方
向で０．３３°という通常光ヘッド光学系よりも優れた
値が、常に得られた。
に対物レンズ４の中心と、入射するレーザ光の中心が一
致し、ブロックエラーレートが３×１０-1をこえるチル
ト量がタンジェンシャル方向で０．２５°、ラジアル方
向で０．３３°という通常光ヘッド光学系よりも優れた
値が、常に得られた。
【００３６】第三、および、第四の実施例では、対物レ
ンズ位置はＲＦ信号、および、サーボ信号と同様に半導
体レーザ１の光が光ディスク５で反射回折された光の一
部から検出する構成となっているが、これは、他に対物
レンズの位置を検出する専用の光学系や、機構であれば
何を用いても本発明の要旨を逸脱するものではない。
ンズ位置はＲＦ信号、および、サーボ信号と同様に半導
体レーザ１の光が光ディスク５で反射回折された光の一
部から検出する構成となっているが、これは、他に対物
レンズの位置を検出する専用の光学系や、機構であれば
何を用いても本発明の要旨を逸脱するものではない。
【００３７】図５に、本発明の光ヘッド装置の第五の実
施例の要素構成図を示す。半導体レーザ１から出た光
は、コリメートレンズ９によりコリメートされる。ＰＢ
Ｓ２８を透過したレーザ光の偏光方向では、偏光性開口
１１の開口部を通り抜けた光が１／４波長板１２を通り
円偏光となり対物レンズ４により光ディスク５上に集光
される。光ディスク５で反射回折された光は、対物レン
ズ４を通り、１／４波長板１２により、入射時と直交す
る方向の直線偏光になる。この偏光方向では、偏光性開
口１１の全面で光が透過し、ＰＢＳ２８によって、ＲＦ
信号、および、サーボ信号検出系に導かれＲＦ信号、お
よび、サーボ信号が得られる。
施例の要素構成図を示す。半導体レーザ１から出た光
は、コリメートレンズ９によりコリメートされる。ＰＢ
Ｓ２８を透過したレーザ光の偏光方向では、偏光性開口
１１の開口部を通り抜けた光が１／４波長板１２を通り
円偏光となり対物レンズ４により光ディスク５上に集光
される。光ディスク５で反射回折された光は、対物レン
ズ４を通り、１／４波長板１２により、入射時と直交す
る方向の直線偏光になる。この偏光方向では、偏光性開
口１１の全面で光が透過し、ＰＢＳ２８によって、ＲＦ
信号、および、サーボ信号検出系に導かれＲＦ信号、お
よび、サーボ信号が得られる。
【００３８】本実施例では、半導体レーザ１の発振波長
を、６３５nm、コリメートレンズ２の焦点距離２５mm、
ＮＡ＝０．１（この時の有効開口径５．０mm）、対物レ
ンズ４の焦点距離３．３mm、ＮＡ＝０．６５（この時の
有効開口径４．２９mm）であり、ＰＢＳ２８はＰ波の透
過率が９７％以上で、Ｓ波の反射率が９７％以上のもの
を用いた。
を、６３５nm、コリメートレンズ２の焦点距離２５mm、
ＮＡ＝０．１（この時の有効開口径５．０mm）、対物レ
ンズ４の焦点距離３．３mm、ＮＡ＝０．６５（この時の
有効開口径４．２９mm）であり、ＰＢＳ２８はＰ波の透
過率が９７％以上で、Ｓ波の反射率が９７％以上のもの
を用いた。
【００３９】図５に示した実施例の偏光性開口１１の例
として２種類の構成について詳細に説明する。
として２種類の構成について詳細に説明する。
【００４０】図６に、偏光性開口の第一の例を示す。ガ
ラス板１５に直径３．６３mmの開口部を持ったシートポ
ラライザ１６を張り付けた構造になっている。シートポ
ラライザ１６は、半導体レーザ１側からの入射光の偏光
に対して光を吸収し通さない方向としてある。この図６
の偏光性開口を、開口部の中心と対物レンズ４の中心を
一致させて、１／４波長板１２とともに対物レンズアク
チュエータを搭載し対物レンズ４と一緒に動かす構造と
した。
ラス板１５に直径３．６３mmの開口部を持ったシートポ
ラライザ１６を張り付けた構造になっている。シートポ
ラライザ１６は、半導体レーザ１側からの入射光の偏光
に対して光を吸収し通さない方向としてある。この図６
の偏光性開口を、開口部の中心と対物レンズ４の中心を
一致させて、１／４波長板１２とともに対物レンズアク
チュエータを搭載し対物レンズ４と一緒に動かす構造と
した。
【００４１】これにより、対物レンズ４の中心部に直径
３．６３mmのレーザ光が常に入射し、光ディスク５で反
射回折された光のうち、有効開口径４．２９mmの対物レ
ンズ４に入射したものは、１／４波長板１２により、入
射時と直交する方向の直線偏光になって図６の偏光性開
口のシートポラライザ１６がある部分も透過する。これ
により、トラックをトレースしても常に対物レンズ４の
中心と、入射するレーザ光の中心が一致し、ブロックエ
ラーレートが３×１０-1をこえるチルト量がタンジェン
シャル方向で０．２５°、ラジアル方向で０．３３°と
いう通常光ヘッド光学系よりも優れた値が常に得られ
た。
３．６３mmのレーザ光が常に入射し、光ディスク５で反
射回折された光のうち、有効開口径４．２９mmの対物レ
ンズ４に入射したものは、１／４波長板１２により、入
射時と直交する方向の直線偏光になって図６の偏光性開
口のシートポラライザ１６がある部分も透過する。これ
により、トラックをトレースしても常に対物レンズ４の
中心と、入射するレーザ光の中心が一致し、ブロックエ
ラーレートが３×１０-1をこえるチルト量がタンジェン
シャル方向で０．２５°、ラジアル方向で０．３３°と
いう通常光ヘッド光学系よりも優れた値が常に得られ
た。
【００４２】図７に、偏光性開口の第二の例を示す。ニ
オブ酸リチウム基板１７の直径３．６３mmの開口部以外
の部分に、格子状にプロトン交換領域１８を形成し、そ
の上に誘電体膜１９を設けた。この開口部以外の部分の
異常光と常光に対する位相変化分布を図８の（ａ）、お
よび、（ｂ）にそれぞれ示す。半導体レーザ１の発振波
長に対応したプロトン交換領域１８の深さや誘電体膜１
９の厚みを設定することにより、異常光に対しては図８
（ａ）に示すように、プロトン交換領域による位相変化
２０と誘電体膜による位相変化２１が足し合わされ、も
とのニオブ酸リチウム基板１７とちょうどπの位相変化
を持つ位相回折格子として働き、常光に対しては、プロ
トン交換領域による位相変化２２と誘電体膜による位相
変化２３が相殺しニオブ酸リチウム基板１７と位相変化
のない平行平板として働く。
オブ酸リチウム基板１７の直径３．６３mmの開口部以外
の部分に、格子状にプロトン交換領域１８を形成し、そ
の上に誘電体膜１９を設けた。この開口部以外の部分の
異常光と常光に対する位相変化分布を図８の（ａ）、お
よび、（ｂ）にそれぞれ示す。半導体レーザ１の発振波
長に対応したプロトン交換領域１８の深さや誘電体膜１
９の厚みを設定することにより、異常光に対しては図８
（ａ）に示すように、プロトン交換領域による位相変化
２０と誘電体膜による位相変化２１が足し合わされ、も
とのニオブ酸リチウム基板１７とちょうどπの位相変化
を持つ位相回折格子として働き、常光に対しては、プロ
トン交換領域による位相変化２２と誘電体膜による位相
変化２３が相殺しニオブ酸リチウム基板１７と位相変化
のない平行平板として働く。
【００４３】さらに、プロトン交換領域１８、および、
誘電体膜１９の幅とピッチを、異常光に対して、０次回
折光が発生せず、±１次回折光が最も強く発生する値に
設定した。この図７の偏光性開口を、開口部の中心と対
物レンズ４の中心を一致させて、半導体レーザ１の偏光
方向が異常光となるように、１／４波長板１２とともに
対物レンズアクチュエータを搭載し対物レンズ４と一緒
に動かす構造とした。この構成では、半導体レーザ１か
らＰＢＳ２８を透過して図７の偏光性開口に照射した光
のうち、開口部の光はそのまま透過するが、その他の部
分では位相回折格子により回折され、対物レンズ４に入
射しない、もしくは、斜めに入射し、光ディスク５上で
の通常の位置には集光せず、信号再生に関与しない。
誘電体膜１９の幅とピッチを、異常光に対して、０次回
折光が発生せず、±１次回折光が最も強く発生する値に
設定した。この図７の偏光性開口を、開口部の中心と対
物レンズ４の中心を一致させて、半導体レーザ１の偏光
方向が異常光となるように、１／４波長板１２とともに
対物レンズアクチュエータを搭載し対物レンズ４と一緒
に動かす構造とした。この構成では、半導体レーザ１か
らＰＢＳ２８を透過して図７の偏光性開口に照射した光
のうち、開口部の光はそのまま透過するが、その他の部
分では位相回折格子により回折され、対物レンズ４に入
射しない、もしくは、斜めに入射し、光ディスク５上で
の通常の位置には集光せず、信号再生に関与しない。
【００４４】したがって、対物レンズ４の中心部に直径
３．６３mmのレーザ光が常に入射し、光ディスク５で反
射回折された光のうち、有効開口径４．２９mmの対物レ
ンズ４に入射したものは、１／４波長板１２により、入
射時と直交する方向の直線偏光になって図７の偏光性開
口に戻ってくる。この時には、常光として入射するので
図７の偏光性開口はただの平行平板として作用し、開口
部外の光もＲＦ信号、および、サーボ信号検出系に導か
れる。これにより、トラックをトレースしても常に対物
レンズ４の中心と、入射するレーザ光の中心が一致し、
ブロックエラーレートが３×１０-1をこえるチルト量が
タンジェンシャル方向で０．２５°、ラジアル方向で
０．３３°という通常光ヘッド光学系よりも優れた値が
常に得られた。
３．６３mmのレーザ光が常に入射し、光ディスク５で反
射回折された光のうち、有効開口径４．２９mmの対物レ
ンズ４に入射したものは、１／４波長板１２により、入
射時と直交する方向の直線偏光になって図７の偏光性開
口に戻ってくる。この時には、常光として入射するので
図７の偏光性開口はただの平行平板として作用し、開口
部外の光もＲＦ信号、および、サーボ信号検出系に導か
れる。これにより、トラックをトレースしても常に対物
レンズ４の中心と、入射するレーザ光の中心が一致し、
ブロックエラーレートが３×１０-1をこえるチルト量が
タンジェンシャル方向で０．２５°、ラジアル方向で
０．３３°という通常光ヘッド光学系よりも優れた値が
常に得られた。
【００４５】図５に示した実施例の偏光性開口１１の例
として図６，７に示した２種類の構成について詳細に説
明してきたが、図６に示したようなシートポラライザの
代わりに結晶を用いたポラライザの中心部に穴をあけた
ものや、ガラス板を用いずにシートポラライザを直接１
／４波長板に張り付けたもの、図７に示した回折格子構
造の代わりに誘電体膜は設けず、プロトン交換領域の表
面の一部をエッチングしたものなど、本発明の要件を逸
脱しない範囲で、利用可能なものを用いればよい。
として図６，７に示した２種類の構成について詳細に説
明してきたが、図６に示したようなシートポラライザの
代わりに結晶を用いたポラライザの中心部に穴をあけた
ものや、ガラス板を用いずにシートポラライザを直接１
／４波長板に張り付けたもの、図７に示した回折格子構
造の代わりに誘電体膜は設けず、プロトン交換領域の表
面の一部をエッチングしたものなど、本発明の要件を逸
脱しない範囲で、利用可能なものを用いればよい。
【００４６】以上述べてきた実施例においては、効果を
定量的に示すために、半導体レーザの波長や、各レンズ
のＮＡ等の値を規定して述べてきたが、これに限られる
ものではない。これらの値は本発明を用いた光ヘッド装
置を製作する場面において、適当な値にすればよい。
定量的に示すために、半導体レーザの波長や、各レンズ
のＮＡ等の値を規定して述べてきたが、これに限られる
ものではない。これらの値は本発明を用いた光ヘッド装
置を製作する場面において、適当な値にすればよい。
【００４７】
【発明の効果】以上述べてきたように、本発明の光ヘッ
ド装置を用いれば、光ディスクのチルトに対する許容量
を大きくすることができ、装置としてのマージンを稼ぐ
ことが可能となる。
ド装置を用いれば、光ディスクのチルトに対する許容量
を大きくすることができ、装置としてのマージンを稼ぐ
ことが可能となる。
【図１】本発明の光ヘッド装置の第一の実施例を示した
説明図である。
説明図である。
【図２】本発明の光ヘッド装置の第二の実施例を示した
説明図である。
説明図である。
【図３】本発明の光ヘッド装置の第三の実施例を示した
説明図である。
説明図である。
【図４】本発明の光ヘッド装置の第四の実施例を示した
説明図である。
説明図である。
【図５】本発明の光ヘッド装置の第五の実施例を示した
説明図である。
説明図である。
【図６】本発明の光ヘッド装置の第五の実施例に用いる
偏光性開口の第一の例を示す説明図である。
偏光性開口の第一の例を示す説明図である。
【図７】本発明の光ヘッド装置の第五の実施例に用いる
偏光性開口の第二の例を示す説明図である。
偏光性開口の第二の例を示す説明図である。
【図８】本発明の光ヘッド装置の第五の実施例に用いる
偏光性開口の第二の例の位相変化を説明する図である。
偏光性開口の第二の例の位相変化を説明する図である。
【図９】従来の光ヘッド装置の一例を示した説明図であ
る。
る。
【図１０】従来の光ヘッド装置の一例を示した説明図で
ある。
ある。
【図１１】本発明の作用を説明する図である。
１ 半導体レーザ ２ コリメートレンズ ３ ＢＳ ４ 対物レンズ ５ 光ディスク ６ ＲＦ信号、および、サーボ信号検出系 ７ ＲＦ信号、サーボ信号、および、対物レンズ位置検
出系 ８ トラッキングコイル、および、スライダコイル ９ 小径コリメートレンズ １０ 対物レンズ １１ 偏光性開口 １２ １／４波長板 １３ アパーチャ １４ アパーチャ １５ ガラス板 １６ シートポラライザ １７ ニオブ酸リチウム基板 １８ プロトン交換領域 １９ 誘電体膜 ２０ プロトン交換領域による位相変化 ２１ 誘電体膜による位相変化 ２２ プロトン交換領域による位相変化 ２３ 誘電体膜による位相変化 ２４ 対物レンズ有効開口 ２５ 回折光 ２６ 入射レーザ径 ２７ 対物レンズ有効開口 ２８ ＰＢＳ ２９ 対物レンズ
出系 ８ トラッキングコイル、および、スライダコイル ９ 小径コリメートレンズ １０ 対物レンズ １１ 偏光性開口 １２ １／４波長板 １３ アパーチャ １４ アパーチャ １５ ガラス板 １６ シートポラライザ １７ ニオブ酸リチウム基板 １８ プロトン交換領域 １９ 誘電体膜 ２０ プロトン交換領域による位相変化 ２１ 誘電体膜による位相変化 ２２ プロトン交換領域による位相変化 ２３ 誘電体膜による位相変化 ２４ 対物レンズ有効開口 ２５ 回折光 ２６ 入射レーザ径 ２７ 対物レンズ有効開口 ２８ ＰＢＳ ２９ 対物レンズ
Claims (6)
- 【請求項１】半導体レーザと、この半導体レーザからの
出射光を光記録媒体上に集光する対物レンズと、前記半
導体レーザと対物レンズの間に設けられ、前記半導体レ
ーザからの出射光と前記光記録媒体からの反射光を分離
するビームスプリッタと、このビームスプリッタで分離
された前記光記録媒体からの反射光を受光する光検出器
を少なくとも有する光ヘッド装置であって、前記対物レ
ンズに入射するレーザ光のビーム径が前記対物レンズの
有効開口径よりも小さく、かつ、前記対物レンズの有効
開口径内に入射した前記光記録媒体からの反射光は空間
的に取捨される事無く前記光検出器に導かれることを特
徴とする光ヘッド装置。 - 【請求項２】半導体レーザと、この半導体レーザからの
出射光を光記録媒体上に集光する対物レンズと、前記半
導体レーザと対物レンズの間に設けられ、前記半導体レ
ーザからの出射光と前記光記録媒体からの反射光を分離
するビームスプリッタと、このビームスプリッタで分離
された前記光記録媒体からの反射光を受光する光検出器
を少なくとも有する光ヘッド装置であって、前記半導体
レーザと前記ビームスプリッタとの間にコリメートレン
ズを具備し、かつ、このコリメートレンズの有効開口径
が、前記対物レンズの有効開口径よりも小さいことを特
徴とする光ヘッド装置。 - 【請求項３】半導体レーザと、この半導体レーザからの
出射光を光記録媒体上に集光する対物レンズと、前記半
導体レーザと対物レンズの間に設けられ、前記半導体レ
ーザからの出射光と前記光記録媒体からの反射光を分離
するビームスプリッタと、このビームスプリッタで分離
された前記光記録媒体からの反射光を受光する光検出器
を少なくとも有する光ヘッド装置であって、半導体レー
ザとビームスプリッタの間に、対物レンズの有効開口径
よりも小さなアパーチャを具備することを特徴とする光
ヘッド装置。 - 【請求項４】対物レンズ位置検出手段からの対物レンズ
位置検出信号により、前記対物レンズの中心とこの対物
レンズに入射するレーザ光のビームの中心が一致するよ
うに対物レンズ駆動手段および光ヘッドスライダの位置
を制御することを特徴とする請求項１、２または３記載
の光ヘッド装置。 - 【請求項５】半導体レーザと、この半導体レーザからの
出射光を光記録媒体上に集光する対物レンズと、前記半
導体レーザと対物レンズの間に設けられ、前記半導体レ
ーザからの出射光と前記光記録媒体からの反射光を分離
するビームスプリッタと、このビームスプリッタで分離
された前記光記録媒体からの反射光を受光する光検出器
を少なくとも有する光ヘッド装置であって、ある偏光方
向の光に対しては、前記対物レンズの有効開口径よりも
径の小さな開口部分の光は素通りし、それ以外の部分の
光は、回折、吸収、もしくは、反射し、これと直交する
方向の光に対しては全面にわたって光が素通りする偏光
性の開口と、１／４波長板を、前記光記録媒体の側か
ら、前記対物レンズ、前記１／４波長板、前記偏光性の
開口の順で具備することを特徴とする光ヘッド装置。 - 【請求項６】対物レンズ、１／４波長板、偏光性の開口
が共に移動することを特徴とする請求項５記載の光ヘッ
ド装置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7137674A JPH08329516A (ja) | 1995-06-05 | 1995-06-05 | 光ヘッド装置 |
| EP96108925A EP0747894A3 (en) | 1995-06-05 | 1996-06-04 | Optical head device with high tolerance to inclination |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7137674A JPH08329516A (ja) | 1995-06-05 | 1995-06-05 | 光ヘッド装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08329516A true JPH08329516A (ja) | 1996-12-13 |
Family
ID=15204175
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7137674A Pending JPH08329516A (ja) | 1995-06-05 | 1995-06-05 | 光ヘッド装置 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| EP (1) | EP0747894A3 (ja) |
| JP (1) | JPH08329516A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6463023B1 (en) | 1998-05-11 | 2002-10-08 | Nec Corporation | Optical head and method for monitoring light source output in optical head |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH10172171A (ja) * | 1996-12-06 | 1998-06-26 | Nec Corp | 開口制限素子及びこれを利用した光へッド装置 |
| US7006747B2 (en) | 2003-01-17 | 2006-02-28 | 3M Innovative Properties Company | Optical devices incorporating photo reactive polymers |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS56114136A (en) * | 1980-02-15 | 1981-09-08 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Optical recording and reproducing device |
| JPH0684199A (ja) * | 1992-09-01 | 1994-03-25 | Pioneer Electron Corp | 光学式情報読取装置 |
Family Cites Families (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61134942A (ja) * | 1984-12-05 | 1986-06-23 | Nec Corp | 光学ヘツド |
| JPS62283428A (ja) * | 1986-05-31 | 1987-12-09 | Asahi Optical Co Ltd | 光ピツクアツプ |
| JP2728454B2 (ja) * | 1988-09-19 | 1998-03-18 | 株式会社日立製作所 | 光記録再生装置 |
| JPH05135401A (ja) * | 1991-11-14 | 1993-06-01 | Nippon Columbia Co Ltd | 光ピツクアツプ |
| US5281797A (en) * | 1991-12-26 | 1994-01-25 | Hitachi, Ltd. | Short wavelength optical disk head having a changeable aperture |
| DE69523260T2 (de) * | 1994-11-15 | 2002-04-18 | Nec Corp | Optischer Kopf unter Verwendung der Hyperauflösungstechnik |
| KR960038794A (ko) * | 1995-04-14 | 1996-11-21 | 사또오 후미오 | 광학적 정보 재생 장치 |
-
1995
- 1995-06-05 JP JP7137674A patent/JPH08329516A/ja active Pending
-
1996
- 1996-06-04 EP EP96108925A patent/EP0747894A3/en not_active Withdrawn
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS56114136A (en) * | 1980-02-15 | 1981-09-08 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Optical recording and reproducing device |
| JPH0684199A (ja) * | 1992-09-01 | 1994-03-25 | Pioneer Electron Corp | 光学式情報読取装置 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6463023B1 (en) | 1998-05-11 | 2002-10-08 | Nec Corporation | Optical head and method for monitoring light source output in optical head |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP0747894A3 (en) | 1997-08-20 |
| EP0747894A2 (en) | 1996-12-11 |
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Legal Events
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|---|---|---|---|
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