JPH08327610A - 剥離状欠陥検出方法 - Google Patents
剥離状欠陥検出方法Info
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- JPH08327610A JPH08327610A JP7133539A JP13353995A JPH08327610A JP H08327610 A JPH08327610 A JP H08327610A JP 7133539 A JP7133539 A JP 7133539A JP 13353995 A JP13353995 A JP 13353995A JP H08327610 A JPH08327610 A JP H08327610A
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- G01N2291/04—Wave modes and trajectories
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- G01N2291/2693—Rotor or turbine parts
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Abstract
検出することができる検出方法を実現する。 【構成】 超音波探触子1が発信した超音波ビーム4を
遅延材2を介して被検体3に入射し、同被検体3内の欠
陥5による欠陥エコー8を上記超音波探触子1が受信し
てその反射回数をカウントするものとしたことによっ
て、超音波ビーム4は遅延材2により遅延して欠陥5に
到達し、その欠陥エコーは不感帯を回避することができ
るため、的確な欠陥検出が可能となり、また、剥離状欠
陥14は他の欠陥に比べて超音波ビーム4の受信面積が
広く、超音波ビーム4を複数回反射させるため、欠陥エ
コー8の反射回数をカウントすることにより、剥離状欠
陥14の識別が可能となる。
Description
テライト銀ろう付部等に適用される剥離状欠陥検出方法
に関する。
すように銀ろう付部11によりステライト12が接合さ
れており、この銀ろう付部11に生じる欠陥としてはボ
イド状欠陥13と剥離状欠陥14がある。
う付部の非破壊検査による欠陥検出においては、放射線
透過試験が適用されていたが、この試験による場合、ボ
イド状欠陥13については、健全部に比べ放射線の透過
度に大きな差があるために、感度よく検出することがで
きるが、健全部との透過度にほとんど差がない剥離状欠
陥14については、検出不可能であった。
ドのステライト銀ろう付部の欠陥検出においては、前記
のように、放射線透過試験が適用されており、ボイド状
欠陥については良好な検出が可能であるが、剥離状欠陥
については、健全部との間で放射線の透過度に差がない
ため、検出が不可能であった。
の検出が考えられるが、この超音波による欠陥検出の場
合、図4に示すように、その表面から被検体3に超音波
ビーム4を入射する探触子1には、その振動子1aが超
音波ビーム4を発信した後一定時間の不感帯6があり、
その間においてはエコーを検出することができない。
銀ろう間の隙間は0.002mm程度と非常に微小であ
り、また、ステライトの厚みも1.6mmと薄い。そのた
め、通常の超音波探傷方法では剥離状欠陥14からの欠
陥エコー8が不感帯6の中に隠れてしまい、その判別が
不可能であった。本発明は上記の課題を解決しようとす
るものである。
方法は、金属製薄板がろう付けされた被検体の表面に遅
延材を介して超音波探触子を配設して、同探触子から被
検体に超音波ビームを入射し、上記被検体内の欠陥によ
る欠陥エコーを上記超音波探触子が受信してその反射回
数をカウントし、この反射回数が所定回数以上の場合に
剥離状欠陥と判定することを特徴としている。
ビームは、遅延材を介して被検体に入射し、金属製薄板
のろう付部に欠陥がある場合、その欠陥に到達する。
欠陥に到達するため、この欠陥による欠陥エコーは上記
超音波探触子の超音波ビーム発信直後に形成される不感
帯を回避することができ、超音波探触子は確実に欠陥エ
コーを受信し、欠陥を検出することができる。
ちの剥離状欠陥は一定寸法以上の平面状のものであり、
被検体に入射した超音波ビームはこの欠陥により所定回
数以上の反射を繰返すため、欠陥エコーが所定回数以上
繰返して形成された場合には、剥離状欠陥が存在すると
判定することができる。
について、図1を用いて説明する。なお、本実施例は、
被検体であるタービンブレードのステライト銀ろう付部
の欠陥検出に適用されたものでる。
おいては、遅延材2を介して超音波探触子1を被検体3
の表面3aに配設し、超音波探触子1より超音波ビーム
4を発信した後、欠陥5からの欠陥エコー8の反射回数
をカウントし、この反射回数が4回以上のものを剥離状
欠陥14、また、4回以下のものをボイド状欠陥13と
判別している。
ビーム4は、アクリル樹脂製の遅延材2を介して被検体
3内に入射するため、被検体3の表面3a、欠陥5及び
底面3bへの到達時間が遅れ、図1に示すように表面エ
コー7、欠陥エコー8及び底面エコー9は不感帯6通過
後に探触子1により受信することができる。
よる欠陥エコー8の受信時間が不感帯6内となり、欠陥
5を検出することができないという事態を回避すること
が可能となった。
合、欠陥5の面積が大きいと、図2(a)に示すように
その大きさに応じて超音波ビーム4は何度も反射を繰返
すが、欠陥5の面積が小さいと、図2(b)に示すよう
にほとんど繰返しを生じない。
部の界面に形成されるもので、ボイド状欠陥13の場合
はその直径が2mm以下の球であり、超音波ビーム4の反
射面は球面状であるのに対して、剥離状欠陥14の場合
には長さが3mm以上の平面状である。そのため、剥離状
欠陥14の場合、超音波ビーム4はこの欠陥14により
反射を繰返す。
ビームの反射回数を確認するため、超音波探傷試験を行
ったところ、次表1に示す結果を得た。即ち、欠陥5の
直径が3mm以上の場合には、4回以上の反射を明瞭に繰
返すのに対して、2mm以下では、最大の反射回数が2回
であった。
る超音波ビーム4の反射回数が4回以下の場合はボイド
状欠陥13と判別し、4回以上の場合には剥離状欠陥1
4と判別することとした。なお、ボイド状欠陥13につ
いては放射線透過試験を併用することにより、より的確
な検出が可能である。
は、超音波探触子が発信した超音波ビームを遅延材を介
して被検体に入射し、同被検体内の欠陥による欠陥エコ
ーを上記超音波探触子が受信してその反射回数をカウン
トするものとしたことによって、超音波ビームは遅延材
により遅延して欠陥に到達し、その欠陥エコーは不感帯
を回避することができるため、的確な欠陥検出が可能と
なり、また、剥離状欠陥は他の欠陥に比べて超音波ビー
ムの受信面積が広く、超音波ビームを複数回反射させる
ため、欠陥エコーの反射回数をカウントすることによ
り、剥離状欠陥の識別が可能となる。
例に係る超音波探触子、(b)は同探触子が受信するエ
コー、(c)は欠陥がボイド状欠陥の場合の超音波ビー
ム、(d)は(c)の場合の欠陥エコー、(e)は欠陥
が剥離状欠陥の場合の超音波ビーム、(f)は(e)の
場合の欠陥エコーの説明図である。
陥が大きい場合の超音波ビーム、(b)は(a)の場合
の欠陥エコー、(c)は欠陥が小さい場合の超音波ビー
ム、(d)は(c)の場合の欠陥エコーの説明図であ
る。
(a)は従来の方法に係る超音波探触子、(b)は同探
触子が受信するエコー、(c)は欠陥が被検体の表面に
近い場合の欠陥エコーの説明図である。
Claims (1)
- 【請求項1】 金属製薄板がろう付けされた被検体の表
面に遅延材を介して超音波探触子を配設して、同探触子
から被検体に超音波ビームを入射し、上記被検体内の欠
陥による欠陥エコーを上記超音波探触子が受信してその
反射回数をカウントし、この反射回数が所定回数以上の
場合に剥離状欠陥と判定することを特徴とする剥離状欠
陥検出方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP13353995A JP3233816B2 (ja) | 1995-05-31 | 1995-05-31 | 剥離状欠陥検出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP13353995A JP3233816B2 (ja) | 1995-05-31 | 1995-05-31 | 剥離状欠陥検出方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH08327610A true JPH08327610A (ja) | 1996-12-13 |
JP3233816B2 JP3233816B2 (ja) | 2001-12-04 |
Family
ID=15107183
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP13353995A Expired - Lifetime JP3233816B2 (ja) | 1995-05-31 | 1995-05-31 | 剥離状欠陥検出方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3233816B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2013161834A1 (ja) * | 2012-04-24 | 2013-10-31 | 非破壊検査株式会社 | 積層体の剥離検査方法及び剥離検査装置 |
-
1995
- 1995-05-31 JP JP13353995A patent/JP3233816B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2013161834A1 (ja) * | 2012-04-24 | 2013-10-31 | 非破壊検査株式会社 | 積層体の剥離検査方法及び剥離検査装置 |
WO2013161835A1 (ja) * | 2012-04-24 | 2013-10-31 | 非破壊検査株式会社 | 積層体の剥離検査方法及び剥離検査装置 |
JP5735706B2 (ja) * | 2012-04-24 | 2015-06-17 | 非破壊検査株式会社 | 積層体の剥離検査方法及び剥離検査装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP3233816B2 (ja) | 2001-12-04 |
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