JPH08320671A - 液晶表示装置 - Google Patents
液晶表示装置Info
- Publication number
- JPH08320671A JPH08320671A JP12683595A JP12683595A JPH08320671A JP H08320671 A JPH08320671 A JP H08320671A JP 12683595 A JP12683595 A JP 12683595A JP 12683595 A JP12683595 A JP 12683595A JP H08320671 A JPH08320671 A JP H08320671A
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- JP
- Japan
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- liquid crystal
- voltage
- crystal panel
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 この発明は、液晶パネルに特有の電圧−透過
率特性の補正を正確且つ簡単に行える液晶表示装置を提
供することをその目的とする。 【構成】 液晶パネル６の電圧−透過率特性を線形に補
正する補正データを記憶するテーブルを備えた非線形特
性補正回路４と、液晶パネル６へ与える電圧を変化させ
るコントラスト調整回路２並びにブライトネス調整回路
３と、液晶パネル６の透過度を測定する測定部７と、調
整回路２、３を制御し、測定部７からの測定データに基
づき補正データを作成し、非線形特性補正回路４のテー
ブルに補正データを書き込む制御・データ処理回路８
と、を備えてなる。
率特性の補正を正確且つ簡単に行える液晶表示装置を提
供することをその目的とする。 【構成】 液晶パネル６の電圧−透過率特性を線形に補
正する補正データを記憶するテーブルを備えた非線形特
性補正回路４と、液晶パネル６へ与える電圧を変化させ
るコントラスト調整回路２並びにブライトネス調整回路
３と、液晶パネル６の透過度を測定する測定部７と、調
整回路２、３を制御し、測定部７からの測定データに基
づき補正データを作成し、非線形特性補正回路４のテー
ブルに補正データを書き込む制御・データ処理回路８
と、を備えてなる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、液晶パネルにおける
非線形な電圧−透過率特性を線形な特性に補正する非線
形特性補正回路を備える液晶表示装置に関する。
非線形な電圧−透過率特性を線形な特性に補正する非線
形特性補正回路を備える液晶表示装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】液晶プロジェクタ等に使用される液晶パ
ネルは、通常図３（ａ）に示すように、印加電圧に対し
て、その透過率は非線形である。このため、同図（ｂ）
に示すような電圧−透過率特性の逆特性を持つ非線形特
性補正回路を設け、この補正回路を通した後の電圧を液
晶パネルに印加することにより、同図（ｃ）に示すよう
に、入力電圧に対して透過率特性を線形となるように補
正している。
ネルは、通常図３（ａ）に示すように、印加電圧に対し
て、その透過率は非線形である。このため、同図（ｂ）
に示すような電圧−透過率特性の逆特性を持つ非線形特
性補正回路を設け、この補正回路を通した後の電圧を液
晶パネルに印加することにより、同図（ｃ）に示すよう
に、入力電圧に対して透過率特性を線形となるように補
正している。
【０００３】従来、この非線形特性の補正は、予め測定
者が、液晶表示装置に入力する信号源側のアナログのビ
デオ信号のレベルを調整し、測定装置で図３（ａ）に示
すような電圧−透過率特性を測定する。そして、その特
性値に基づき図３（ｂ）に示すような補正データを求
め、そのデータをＲＯＭで構成されるルックアップテー
ブルに書き込む。このようにして作成されたルックアッ
プテーブルを非線形特性補正回路に用い、液晶パネルの
透過率特性を線形に補正していた。
者が、液晶表示装置に入力する信号源側のアナログのビ
デオ信号のレベルを調整し、測定装置で図３（ａ）に示
すような電圧−透過率特性を測定する。そして、その特
性値に基づき図３（ｂ）に示すような補正データを求
め、そのデータをＲＯＭで構成されるルックアップテー
ブルに書き込む。このようにして作成されたルックアッ
プテーブルを非線形特性補正回路に用い、液晶パネルの
透過率特性を線形に補正していた。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】上述したように、従来
の液晶表示装置は、予め測定した電圧−透過率特性に基
づき算出した補正データが書き込まれたルックアップテ
ーブルにより液晶パネルの印加電圧を補正をしている。
従って、電圧−透過率特性を変更するためには、ＲＯＭ
ライター等を用いてルックアップテーブルの内容を書き
換える必要があり、液晶表示装置の使用者が簡単に電圧
−透過率特性を調整することはできない。
の液晶表示装置は、予め測定した電圧−透過率特性に基
づき算出した補正データが書き込まれたルックアップテ
ーブルにより液晶パネルの印加電圧を補正をしている。
従って、電圧−透過率特性を変更するためには、ＲＯＭ
ライター等を用いてルックアップテーブルの内容を書き
換える必要があり、液晶表示装置の使用者が簡単に電圧
−透過率特性を調整することはできない。
【０００５】ところで、液晶パネルや、ランプ、バック
ライト等の光源部を交換した際には、液晶パネルの透過
率の非線形特性や色温度が変化するので、電圧−透過率
特性の調整を行う必要が生じる。しかしながら、この調
整は、サービスマンが測定装置で、液晶パネルの電圧−
透過率特性を測定し、それに応じた補正データを算出
し、ルックアップテーブルを書き換えるなど煩雑な作業
が必要になるなどの問題があった。
ライト等の光源部を交換した際には、液晶パネルの透過
率の非線形特性や色温度が変化するので、電圧−透過率
特性の調整を行う必要が生じる。しかしながら、この調
整は、サービスマンが測定装置で、液晶パネルの電圧−
透過率特性を測定し、それに応じた補正データを算出
し、ルックアップテーブルを書き換えるなど煩雑な作業
が必要になるなどの問題があった。
【０００６】この発明は、上述した従来の問題点を解消
するためになされたものにして、液晶パネルに特有の電
圧−透過率特性の補正を正確且つ簡単に行える液晶表示
装置を提供することをその目的とする。
するためになされたものにして、液晶パネルに特有の電
圧−透過率特性の補正を正確且つ簡単に行える液晶表示
装置を提供することをその目的とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】この発明は、液晶パネル
の電圧−透過率特性を線形に補正する補正データを記憶
するテーブルを備えた非線形特性補正回路と、液晶パネ
ルへ与える電圧を変化させる電圧調整手段（コントラス
ト並びにブライトネス調整回路）と、液晶パネルの透過
度を測定する測定部と、前記電圧調整手段を制御し、測
定部からの測定データに基づき補正データを作成し、前
記非線形特性補正回路のテーブルに補正データを書き込
む制御・データ処理回路と、を備えてなる。
の電圧−透過率特性を線形に補正する補正データを記憶
するテーブルを備えた非線形特性補正回路と、液晶パネ
ルへ与える電圧を変化させる電圧調整手段（コントラス
ト並びにブライトネス調整回路）と、液晶パネルの透過
度を測定する測定部と、前記電圧調整手段を制御し、測
定部からの測定データに基づき補正データを作成し、前
記非線形特性補正回路のテーブルに補正データを書き込
む制御・データ処理回路と、を備えてなる。
【０００８】
【作用】この発明においては、非線形特性補正回路の補
正データの基となる液晶パネルの電圧−透過率特性を測
定する際、まず液晶表示装置内の制御・データ処理回路
がコントラストとブライトネス調整を行い、測定したい
任意の電圧レベルを設定し、それを順次測定部で測定
し、制御・データ処理回路に送る。これを繰り返すこと
で得られた液晶パネルの電圧−透過率特性を制御・デー
タ処理回路で処理して、補正データを算出し、非線形特
性補正回路のルックアップテーブルに書き込む。
正データの基となる液晶パネルの電圧−透過率特性を測
定する際、まず液晶表示装置内の制御・データ処理回路
がコントラストとブライトネス調整を行い、測定したい
任意の電圧レベルを設定し、それを順次測定部で測定
し、制御・データ処理回路に送る。これを繰り返すこと
で得られた液晶パネルの電圧−透過率特性を制御・デー
タ処理回路で処理して、補正データを算出し、非線形特
性補正回路のルックアップテーブルに書き込む。
【０００９】
【実施例】この発明の一実施例に係る液晶表示装置を図
に基づいて説明する。図１は、この発明の液晶表示装置
の構成を示すブロック図である。図１に示すように、ア
ナログのビデオ信号が入力端子からアナログ／ディジタ
ル（Ａ／Ｄ）換回路１に与えられ、このビデオ信号がア
ナログ／ディジタル変換回路１にてディジタル信号に変
換される。ディジタル変換されたビデオ信号が乗算器で
構成されるコントラスト調整回路２にてゲイン係数に応
じたコントラスト調整がなされ、さらに加算器で構成さ
れるブライトネス調整回路３でオフセット係数に応じた
ブライトネスが調整される。
に基づいて説明する。図１は、この発明の液晶表示装置
の構成を示すブロック図である。図１に示すように、ア
ナログのビデオ信号が入力端子からアナログ／ディジタ
ル（Ａ／Ｄ）換回路１に与えられ、このビデオ信号がア
ナログ／ディジタル変換回路１にてディジタル信号に変
換される。ディジタル変換されたビデオ信号が乗算器で
構成されるコントラスト調整回路２にてゲイン係数に応
じたコントラスト調整がなされ、さらに加算器で構成さ
れるブライトネス調整回路３でオフセット係数に応じた
ブライトネスが調整される。
【００１０】コントラスト並びにブライトネスが調整さ
れたビデオ信号が内部にルックアップテーブルを備える
非線形特性補正回路４に与えられる。この非線形特性補
正回路４のルックアップテーブルには図３（ｂ）に示す
ような電圧−透過率特性の逆特性の補正データが格納さ
れている。この非線形特性補正回路４にてルックアップ
テーブルの補正データに従い電圧補正を行い、その補正
された電圧がディジタル／アナログ（Ｄ／Ａ）変換器５
でアナログ信号に変換され、液晶パネル６に印加され
る。
れたビデオ信号が内部にルックアップテーブルを備える
非線形特性補正回路４に与えられる。この非線形特性補
正回路４のルックアップテーブルには図３（ｂ）に示す
ような電圧−透過率特性の逆特性の補正データが格納さ
れている。この非線形特性補正回路４にてルックアップ
テーブルの補正データに従い電圧補正を行い、その補正
された電圧がディジタル／アナログ（Ｄ／Ａ）変換器５
でアナログ信号に変換され、液晶パネル６に印加され
る。
【００１１】さて、この実施例では、非線形特性補正回
路４のルックアップテーブルをＲＡＭで構成し、補正デ
ータを自動的に書き換えるように構成している。すなわ
ち、液晶パネル１の透過度を測定部７にて測定し、その
測定データをマイクロコンピュータとワークＲＡＭ等で
構成されている制御・データ処理回路８に与え、この制
御・データ処理回路８で電圧−透過率特性の逆特性の補
正データを作成し、そのデータを非線形特性補正回路４
のルックアップテーブルを書き込み、ルックアップテー
ブルの内容を書き換えるものである。
路４のルックアップテーブルをＲＡＭで構成し、補正デ
ータを自動的に書き換えるように構成している。すなわ
ち、液晶パネル１の透過度を測定部７にて測定し、その
測定データをマイクロコンピュータとワークＲＡＭ等で
構成されている制御・データ処理回路８に与え、この制
御・データ処理回路８で電圧−透過率特性の逆特性の補
正データを作成し、そのデータを非線形特性補正回路４
のルックアップテーブルを書き込み、ルックアップテー
ブルの内容を書き換えるものである。
【００１２】この実施例では、液晶パネル６の電圧−透
過率特性を制御・データ処理回路８へ入力するために、
コントラスト調整回路２へのゲイン係数とブライトネス
調整回路３へのオフセット係数を制御・データ処理回路
８から与えるように構成し、液晶パネル６に印加してい
る電圧とそのときの測定部７の透過度が制御・データ処
理回路８にそれぞれデータとして与えられる。
過率特性を制御・データ処理回路８へ入力するために、
コントラスト調整回路２へのゲイン係数とブライトネス
調整回路３へのオフセット係数を制御・データ処理回路
８から与えるように構成し、液晶パネル６に印加してい
る電圧とそのときの測定部７の透過度が制御・データ処
理回路８にそれぞれデータとして与えられる。
【００１３】また、液晶パネル６の輝度を測定するため
の測定部７は、例えば、液晶プロジェクタの投射レンズ
の近傍に測定用のセンサを配置し、スクリーンからの反
射光を測定したり、或いは調整時にスクリーンまたは液
晶パネルの中央部にセンサを配置し、そのセンサからの
データを制御・データ処理回路８に与えるように構成す
ればよい。
の測定部７は、例えば、液晶プロジェクタの投射レンズ
の近傍に測定用のセンサを配置し、スクリーンからの反
射光を測定したり、或いは調整時にスクリーンまたは液
晶パネルの中央部にセンサを配置し、そのセンサからの
データを制御・データ処理回路８に与えるように構成す
ればよい。
【００１４】次に、この実施例の非線形特性の補正につ
き図１及び図２の従い説明する。
き図１及び図２の従い説明する。
【００１５】液晶パネルや、ランプ、バックライト等の
光源部を交換した際など非線形特性の調整を行う場合に
は、まず、ルックアップテーブルに与える補正データを
作成するために、液晶パネル６の印加電圧に対する透過
率特性を測定する。このために、制御・データ処理回路
８はゲイン並びにオフセット係数を制御し、コントラス
ト調整回路２の乗算器、ブライトネス調整回路３の加算
器を調整して測定したい任意の電圧レベルに調整し、こ
の電圧レベルに対する液晶パネル６の透過度を測定部７
で測定し、制御・データ処理回路８のワークＲＡＭに書
き込む。例えば、コントラストが０になるようにゲイン
係数を与え、ブライトネスの電圧を所定の電圧ずつ上昇
させ、そのときの透過度を測定部７で測定し、これを所
定数繰り返して液晶パネル６の電圧−透過率特性を制御
・データ処理回路８内のワークＲＡＭに書き込む（ステ
ップ１ないし３）。なお、測定時には非線形特性補正回
路４のルックアップテーブルをリニアの状態すなわち、
入力されたレベルをそのまま出力するか或いはスイッチ
等で切り替えて、非線形特性補正回路４を通さずにＤ／
Ａ変換回路５に電圧を与えるように構成する。
光源部を交換した際など非線形特性の調整を行う場合に
は、まず、ルックアップテーブルに与える補正データを
作成するために、液晶パネル６の印加電圧に対する透過
率特性を測定する。このために、制御・データ処理回路
８はゲイン並びにオフセット係数を制御し、コントラス
ト調整回路２の乗算器、ブライトネス調整回路３の加算
器を調整して測定したい任意の電圧レベルに調整し、こ
の電圧レベルに対する液晶パネル６の透過度を測定部７
で測定し、制御・データ処理回路８のワークＲＡＭに書
き込む。例えば、コントラストが０になるようにゲイン
係数を与え、ブライトネスの電圧を所定の電圧ずつ上昇
させ、そのときの透過度を測定部７で測定し、これを所
定数繰り返して液晶パネル６の電圧−透過率特性を制御
・データ処理回路８内のワークＲＡＭに書き込む（ステ
ップ１ないし３）。なお、測定時には非線形特性補正回
路４のルックアップテーブルをリニアの状態すなわち、
入力されたレベルをそのまま出力するか或いはスイッチ
等で切り替えて、非線形特性補正回路４を通さずにＤ／
Ａ変換回路５に電圧を与えるように構成する。
【００１６】続いて、制御・データ処理回路８にて電圧
−透過率特性の逆特性のテーブルを作成し（ステップ
４）、この補正データを非線形特性補正回路４のルック
アップテーブルに与え、ルックアップテーブルを書き換
える（ステップ５）。
−透過率特性の逆特性のテーブルを作成し（ステップ
４）、この補正データを非線形特性補正回路４のルック
アップテーブルに与え、ルックアップテーブルを書き換
える（ステップ５）。
【００１７】このように、この実施例によれば、液晶パ
ネル６の電圧−透過率特性を測定する際、特別な信号源
を必要とせず、信号源の信号レベル調整も不要であり、
測定したい電圧レベルや電圧レベルのサンプル数は、デ
ィジタルでのレベル調整により自由に設定できる。
ネル６の電圧−透過率特性を測定する際、特別な信号源
を必要とせず、信号源の信号レベル調整も不要であり、
測定したい電圧レベルや電圧レベルのサンプル数は、デ
ィジタルでのレベル調整により自由に設定できる。
【００１８】また、制御・データ処理回路８で補正デー
タ作成の一連のプロセスを実行するプログラムを組んで
おけば、液晶パネル６の非線形特性補正が自動化でき
る。
タ作成の一連のプロセスを実行するプログラムを組んで
おけば、液晶パネル６の非線形特性補正が自動化でき
る。
【００１９】この非線形特性補正は、液晶パネルやラン
プ、バックライト等の光源等の交換で補正データの再調
整が必要なメンテナンス時に、液晶表示装置の設置場所
で簡単に再調整できる。
プ、バックライト等の光源等の交換で補正データの再調
整が必要なメンテナンス時に、液晶表示装置の設置場所
で簡単に再調整できる。
【００２０】なお、上述した実施例においては、コント
ラスト調整回路２及びブライトネス調整回路３のゲイン
係数、オフセット係数を調整し、電圧−透過率特性を測
定しているが、信号源の電圧を変化させ、電圧−透過率
特性を測定するように構成することもできる。この場
合、入力される信号源の電圧を測定し、制御・データ処
理回路８にその電圧のデータを与えるように構成すれば
よい。
ラスト調整回路２及びブライトネス調整回路３のゲイン
係数、オフセット係数を調整し、電圧−透過率特性を測
定しているが、信号源の電圧を変化させ、電圧−透過率
特性を測定するように構成することもできる。この場
合、入力される信号源の電圧を測定し、制御・データ処
理回路８にその電圧のデータを与えるように構成すれば
よい。
【００２１】
【発明の効果】以上説明したように、この発明によれ
ば、液晶パネルに特有の電圧−透過率特性の補正を正確
に且つ簡単に行うことができる。
ば、液晶パネルに特有の電圧−透過率特性の補正を正確
に且つ簡単に行うことができる。
【図１】この発明の一実施例を示すブロック図である。
【図２】この発明の電圧−透過率特性の動作を示すフロ
ーチャートである。
ーチャートである。
【図３】電圧−透過率特性の補正を説明する図である。
１ Ａ／Ｄ変換回路 ２ コントラスト調整回路 ３ ブライトネス調整回路 ４ 非線形特性補正回路 ５ Ｄ／Ａ変換回路 ６ 液晶パネル ７ 測定部 ８ 制御・データ処理回路
Claims (2)
- 【請求項１】 液晶パネルの電圧−透過率特性を線形に
補正する補正データを記憶するテーブルを備えた非線形
特性補正手段と、液晶パネルの電圧−透過率特性に応じ
て補正データを算出し、前記非線形特性補正手段のテー
ブルの補正データを書き換える制御手段と、を備えてな
る液晶表示装置。 - 【請求項２】 液晶パネルの電圧−透過率特性を線形に
補正する補正データを記憶するテーブルを備えた非線形
特性補正手段と、液晶パネルへ与える電圧を変化させる
電圧調整手段と、液晶パネルの透過度を測定する測定手
段と、前記電圧調整手段を制御し、前記測定手段からの
測定データに基づき補正データを作成し、前記非線形特
性補正手段のテーブルに補正データを書き込む制御手段
と、を備えてなる液晶表示装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12683595A JPH08320671A (ja) | 1995-05-25 | 1995-05-25 | 液晶表示装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12683595A JPH08320671A (ja) | 1995-05-25 | 1995-05-25 | 液晶表示装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08320671A true JPH08320671A (ja) | 1996-12-03 |
Family
ID=14945085
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP12683595A Pending JPH08320671A (ja) | 1995-05-25 | 1995-05-25 | 液晶表示装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH08320671A (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005266452A (ja) * | 2004-03-19 | 2005-09-29 | ▲ぎょく▼瀚科技股▲ふん▼有限公司 | 液晶ディスプレイの輝度の補正方法およびその装置 |
| KR100685151B1 (ko) * | 1998-04-16 | 2007-02-22 | 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 | 표시 장치 및 표시 장치 보정 시스템 |
| JP2007052105A (ja) * | 2005-08-16 | 2007-03-01 | Sharp Corp | 表示装置 |
| US7253796B2 (en) | 2003-02-14 | 2007-08-07 | Nec Viewtechnology, Ltd. | Circuit for and method of driving liquid crystal panel of liquid crystal projector |
| KR100760932B1 (ko) * | 2000-12-29 | 2007-09-21 | 엘지.필립스 엘시디 주식회사 | 액정표시장치 |
| JP2012093790A (ja) * | 2004-08-30 | 2012-05-17 | Samsung Electronics Co Ltd | 液晶表示装置及びガンマ値補正方法 |
-
1995
- 1995-05-25 JP JP12683595A patent/JPH08320671A/ja active Pending
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100685151B1 (ko) * | 1998-04-16 | 2007-02-22 | 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 | 표시 장치 및 표시 장치 보정 시스템 |
| KR100760932B1 (ko) * | 2000-12-29 | 2007-09-21 | 엘지.필립스 엘시디 주식회사 | 액정표시장치 |
| US7253796B2 (en) | 2003-02-14 | 2007-08-07 | Nec Viewtechnology, Ltd. | Circuit for and method of driving liquid crystal panel of liquid crystal projector |
| JP2005266452A (ja) * | 2004-03-19 | 2005-09-29 | ▲ぎょく▼瀚科技股▲ふん▼有限公司 | 液晶ディスプレイの輝度の補正方法およびその装置 |
| JP2012093790A (ja) * | 2004-08-30 | 2012-05-17 | Samsung Electronics Co Ltd | 液晶表示装置及びガンマ値補正方法 |
| JP2007052105A (ja) * | 2005-08-16 | 2007-03-01 | Sharp Corp | 表示装置 |
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