JPH08320506A - 空間型光偏向素子 - Google Patents

空間型光偏向素子

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JPH08320506A
JPH08320506A JP12691595A JP12691595A JPH08320506A JP H08320506 A JPH08320506 A JP H08320506A JP 12691595 A JP12691595 A JP 12691595A JP 12691595 A JP12691595 A JP 12691595A JP H08320506 A JPH08320506 A JP H08320506A
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Toshisada Sekiguchi
利貞 関口
Shinzo Suzaki
慎三 須崎
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GIJUTSU KENKYU KUMIAI SHINJOHO
GIJUTSU KENKYU KUMIAI SHINJOHO SHIYORI KAIHATSU KIKO
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 出射する光のビームを細く絞ることのできる
空間型光偏向素子を提供する。 【構成】 半導体基板15、バッファ層16、光閉込補
償層17、MQW層18、導波路層19、クラッド層2
0、回折格子25、導電層21、上部、下部電極層2
2、23を有してなり、外部に出射する光を偏向する空
間型光偏向素子14において、棒状レンズ26が導電層
間のV溝27内に配置され、棒状レンズ26とV溝27
の隙間に樹脂または誘電体からなるクラッド層20が充
填されることにより棒状レンズ26が固定されている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、光インターコネクショ
ンに関し、例えば光コンピュータ内のボード間、プロセ
ッサ間の光スイッチング、並列光情報伝送システム等の
キーデバイスとして好適な空間型光偏向素子に関するも
のである。
【0002】
【従来の技術】情報処理、通信等の分野において、例え
ば光コンピュータ内のボード間、プロセッサ間等の情報
伝送用配線として従来一般の手段である電気的な配線を
用いた場合、配線が占める空間的、時間的なロスはかな
り大きなものとなってしまう。そこで、近年、この点を
改善するために空間的、時間的に情報伝送量の大きい光
を用いた、いわゆる光インターコネクション(光を用い
た相互接続)が用いられてきている。コンピュータ内で
光インターコネクションを実現する場合、光インターコ
ネクションの持つ空間的、時間的に情報伝送量が大きい
という利点を生かすためには、ボード間、プロセッサ間
等で空間的に信号の切り替えを行なう光スイッチングや
並列的な光情報伝送を実現することが必要であり、これ
ら光スイッチングや並列光情報伝送に対応し得る光デバ
イスの提供が望まれていた。
【0003】そこで、本発明者らは、図5に示すような
空間型光偏向素子を提案した(図5(a)は素子の縦方
向断面図、図5(b)は同、横方向断面図、なお、以下
の説明では素子の光軸方向を縦方向、光軸に垂直な方向
を横方向と記載する)。図5に示す空間型光偏向素子1
は、n−InP基板2上にn−InPバッファ層3が形
成され、その上方に、井戸層とバリア層が交互に多層積
層された(図示せず)多重量子井戸(Multi Quantum We
ll 、以下、MQWと称する)層4と導波路層5がスト
ライプ状に形成され、フォトリソグラフィ・エッチング
技術により導波路層5上に回折格子6が形成されたもの
である。
【0004】そして、MQW層4と導波路層5からなる
ストライプ7の上方にはn−InPクラッド層8が形成
されるとともに、ストライプ7の側方には横方向の光の
閉じ込めのためにInPブロック層9が埋込成長されて
いる。また、この積層構造の上面には窓部12を有する
上部電極層10が形成され、下面には下部電極層11が
形成されている。
【0005】上記構成の空間型光偏向素子1において上
部、下部電極層10、11間に例えば電圧印加を行なう
と、電圧に見合う量だけMQW層4の屈折率が変化し、
ブラッグの式に基づく入射光S0 の回折が生じる際に屈
折率変化に伴って回折角が変化する。そこで、電圧の大
きさを調節することにより回折光S1 を光軸方向に沿う
鉛直面内で所望の角度だけ偏向させて(S2 、S3 )、
素子の外部空間に出射させることができる。そこで、こ
の回折光S1 の偏向機能を利用することにより光コンピ
ュータにおける光スイッチングシステムや並列光情報伝
送システムにおける光インターコネクションに対してこ
の空間型光偏向素子1を適用することができるのであ
る。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】ところで、前述したよ
うに、上記構成の空間型光偏向素子は回折格子による光
の回折現象を利用して導波路層内を導波してきた光を上
方に偏向して素子の外部に出射し得るものである。とこ
ろが、回折格子上に位置するクラッド層の上面が平坦で
あるため、回折光が素子の外部空間に出射された場合に
光は素子の横方向に次第に拡散されることになる。そし
て、図7に示すように、例えば光インターコネクション
として空間型光偏向素子1の上方に配置された受光素子
A、B、C、Dの設置位置に回折光が到達したときには
細長く広がったビームとなる。したがって、各受光素子
A、B、C、Dが受ける光はビームの中の一部に過ぎな
くなるため、受光素子A、B、C、Dが受ける光の強度
が空間型光偏向素子1の出射直後の強度に比べて相対的
に弱くなってしまうという問題があった。
【0007】本発明は、前記の事情に鑑みてなされたも
のであって、光スイッチングや並列光情報伝送システム
における光インターコネクションに適用された際に受光
素子が受ける光の強度を高く保つことができる空間型光
偏向素子を提供することを目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】前記の目的を達成するた
めに、本発明の空間型光偏向素子は、半導体基板と、該
半導体基板の上方に形成された導波路層と、該導波路層
の上方に形成されたクラッド層と、前記導波路層に入射
された光を上方に向けて回折させるための回折格子と、
前記クラッド層の上方に形成され前記光を出射する窓部
が設けられた上部電極層と、前記半導体基板の下方に形
成された下部電極層を有してなる空間型光偏向素子にお
いて、出射光を集束するための棒状レンズが、自身の軸
線が素子の光軸方向を向くように前記クラッド層上部に
あたる出射光の光路上に設置されたことを特徴とするも
のである。また、前記導波路層をストライプ状に形成す
るとともに、該導波路層の両側方から上方に成長する導
電層により溝を形成し、その溝の内部に前記棒状レンズ
を装入、固定する構成としてもよい。
【0009】
【作用】本発明の空間型光偏向素子において、上部、下
部電極層間に電圧印加、または電流注入を行なった場
合、印加電圧による電気光学効果または注入キャリアに
よるプラズマ効果またはバンドフィリング効果によって
電圧または電流の大きさに依存して導波路層の屈折率が
変化し、それに伴って回折格子上方への回折角が一定量
変化する。この際に、クラッド層上部にあたる出射光の
光路上に出射光を集束するための棒状レンズが固着され
たことによって、回折格子により回折された光がクラッ
ド層上部の棒状レンズを通過する際に光が集束されて素
子の外部空間に出射される。
【0010】
【実施例】以下、本発明の一実施例を図1ないし図4、
図6を参照して説明する。図1(a)は本実施例の空間
型光偏向素子14を示す縦方向断面図、図1(b)は
同、横方向断面図であって、図中符号15は半導体基
板、16はバッファ層、17は光閉込補償層、18はM
QW層、19は導波路層、20はクラッド層、21は導
電層、22は上部電極層、23は下部電極層、24は絶
縁層、25は回折格子、26は棒状レンズである。
【0011】半導体基板15はp−InPを材料として
チップ状に形成したものであり、図1(a)、(b)に
示すように、この半導体基板15上にp−InPからな
るバッファ層16が積層されている。そして、図1
(b)に示すように、バッファ層16上面の横方向中央
部には、縦方向に延びる光閉込補償層17、MQW層1
8および導波路層19が形成され、この3層によりスト
ライプ32が構成されている。
【0012】光閉込補償層17はp−InGaAsPに
より形成されている。また、MQW層18はInGaA
sPからなる井戸層とInPからなるバリア層が交互に
多層積層(図示は省略する)されており、いわゆるMQ
W構造をなしている。また、導波路層19はバルクのI
nGaAsPにより形成されている。そして、これら3
層からなるストライプ32の延びる方向が入射光S0
導波方向となっている。一方、ストライプ32の側方下
部には後述する上部電極層22と下部電極層23との間
で注入電流を遮断するための、アンドープのInP(以
下、u−InPと記載する)からなる絶縁層24が形成
されている。
【0013】そして、図1(a)に示すように、導波路
層19の上面には、入射光S0 の導波方向と直交する方
向に一定のピッチの溝を持つ三角波形の回折格子25が
形成されている。この回折格子25は導波路層19内を
導波する光S0 を上方に向けて回折させるためのもので
ある。そして、図1(b)に示すように、絶縁層24の
上面にはV字状の溝27を有するn−InPからなる導
電層21が積層されている。また、導電層21の下部は
前記導波路層19の側面と接触するようになっている。
【0014】また、円柱状の形状をした棒状レンズ26
が、レンズ26の下側半分程度が導電層21のV溝27
内に位置し、上側半分程度が導電層21の上面から上方
に突出するようにV溝27の内部に配置され、棒状レン
ズ26とV溝27の隙間にポリイミド、エポキシ等の樹
脂、またはSiO2 等の誘電体が充填されることにより
棒状レンズ26が素子14に対して固定されている。こ
の棒状レンズ26自体は、例えば石英、BK7、SF1
1、PMMA等の材料で形成されたものであって、素子
14外部に出射する光を素子14の横方向に集束するた
めのものである。そして、棒状レンズ26とV溝27の
隙間に存在する樹脂またはSiO2 等の誘電体の層がク
ラッド層20を構成する。
【0015】また、導電層21の上面には上部電極層2
2、22が形成され、半導体基板15の下面には下部電
極層23が形成されている。したがって、素子14の縦
方向に延びる上部電極層22、22の間の棒状レンズ2
6が外部に露出する領域は、上方に回折した光S1 を素
子14外部へ出射させるための矩形の窓部28となって
いる。これら上部、下部電極層22、23は、ともにC
rとAuとの積層、またはn側はAu−Ge−Ni合金
とAuとの積層、p側はAu−Zn合金とAuとの積
層、さらにはこれらの上にCrとAuを積層した構造と
なっている。
【0016】次に、上記構成の空間型光偏向素子14の
製造方法について図2および図3を参照して説明する。
まず、図2(a)に示すように、半導体基板15上に有
機金属気相エピタキシャル装置によりバッファ層16、
光閉込補償層17、MQW層18、導波路層19、およ
び導波路層19を保護するためのプロテクト層29を順
次成長させて元ウェハ30を作製する。そして、図2
(b)に示すように、元ウェハ30に対してフォトリソ
グラフィ(干渉露光法)・エッチング技術により導波路
層19の上面に回折格子25を形成する。その後、図2
(c)に示すように、導波路層19(回折格子25)上
にストライプ状にパターニングしたマスク層31を用い
てエッチングを行ない、導波路層19、MQW層18、
光閉込補償層17の横方向中央部のみを残してストライ
プ32を形成する。ここで、マスク層31としてはSi
2 またはクラッド層と同様の材料を用いる。なお、I
nGaAs(P)等のエッチング選択性がある材料を用
いてもよい。
【0017】ついで、図3(a)に示すように、ストラ
イプ32上面のマスク層31を残した状態でストライプ
32下部に選択成長により所定の厚さの絶縁層24を積
層し、ついで、導電層21を積層した後にフォトリソグ
ラフィおよびエッチング技術によりV溝27を形成す
る。そして、図3(b)に示すように、別途作製してお
いた棒状レンズ26をV溝27内に配置した後、隙間に
樹脂を充填するか、またはゾル−ゲル法を用いて形成し
たSiO2 等の誘電体で埋め込むかによって、棒状レン
ズ26を基板15に対して固定すると同時にクラッド層
20を形成する(なお、上記で埋め込まれた層と残存し
たマスク層31が一体となってクラッド層20を構成す
る)。ついで、図3(c)に示すように、導電層21の
上面に上部電極層22を選択成長させ、半導体基板15
の下面に下部電極層23を成長させると、本実施例の空
間型光偏向素子14が完成する。
【0018】上記の手順を経て製造した空間型光偏向素
子14を使用する際は、図4に示すように、上部電極層
22、22と下部電極層23の間に電源33を接続す
る。そして、導波路層19に対して光S0 を入射する
と、入射した光S0 は回折格子25の作用により上方に
向けて回折し、上部電極層22の窓部28を通して素子
14の外部に出射される。そこで、上部、下部電極層2
2、23間に電圧印加または電流注入を行なうと、印加
電圧または注入キャリアの作用により導波路層19の屈
折率が変化することに伴って回折角が変化する。すなわ
ち、回折した光S1が光の導波方向に沿う鉛直面内にお
いてその出射角度が変化し(S2 、S3 )、窓部28か
ら素子14の外部に出射される。なお、上部、下部電極
層22、23間に印加する電圧、電流の極性はいずれが
正または負であっても良い。
【0019】本実施例の空間型光偏向素子14において
は、上部、下部電極層22、23間に例えば電圧印加を
行なった場合の導波路層19の最大屈折率変化量は0.
2%程度であり、この値からブラッグの式を用いて計算
すると出射光S1 を5°程度の範囲で偏向させることが
できる。そして、素子14の上部に棒状レンズ26が設
けられているので、回折光S1 を出射する際にその回折
光S1 が素子14の横方向において細く集束される。し
たがって、図6に示すように、例えば光インターコネク
ションとして空間型光偏向素子14の上方に配置された
受光素子A、B、C、Dの位置に光が到達したときにこ
の光は細く絞られた状態となっているため、受光素子
A、B、C、Dに対して実質的に入射される出射光S1
の割合が多くなり、図7に示す従来の空間型光偏向素子
を用いた場合のように受光素子A、B、C、Dにおける
光強度が相対的に低下するのを防止することができる。
【0020】ここで、素子の上部に集光用レンズを設け
る手段として仮にV溝全体を埋めるクラッド層の上面を
レンズ状に成形する手段を採るとすると、例えば、導電
層上にレジストパターンを形成し、レジストの側面には
クラッド層が成長しないような表面処理を行なったうえ
でクラッド層を成長させることによって、中央部が盛り
上がったレンズ状のクラッド層を形成するという方法が
考えられる。ところが、この方法では、レンズの上面を
一定の曲率を持つ滑らかな曲面とするための形状の制御
が極めて困難でありかつ再現性も良くない、また、レン
ズ形成に係わる工程が複雑であるといった問題が生じて
しまう。
【0021】これに対して、本実施例では、別途作製し
た棒状レンズ26を素子に固着する方法を採っており、
棒状レンズ26は例えば光ファイバと同様の製造技術を
用いて作製することができるので、棒状レンズ26自体
を良好な形状とすることができ、また、そのような集光
性の高いレンズを有する空間型光偏向素子を再現性良く
製造することが可能となる。さらに、棒状レンズ26の
製造に際して従来一般の光ファイバ製造技術を用いるこ
とができ、棒状レンズ26自体を容易に製造することが
できるので、前述したクラッド層の上面をレンズ状に成
形する場合に比べて素子全体の製造工程を簡易化するこ
とができる。
【0022】そして、この空間型光偏向素子14をマザ
ーボードから子ボード上の複数の受光素子へ光信号を伝
送する光スイッチングシステムや、2枚のボード間の並
列光情報伝送システムに組み込むことにより、光インタ
ーコネクションを用いたコンパクトなシステム構成で高
速の光スイッチングや並列光情報伝送を行なうことが可
能となる。そして、このシステムの構築にあたり本実施
例の空間型光偏向素子14を用いると、従来の空間型光
偏向素子を用いた場合に比べて受光素子における光の強
度が増大するのみならず、レンズ形状の再現性が良好な
ために集光された光の強度分布も再現性が良いものとな
る。したがって、S/N比が大きく、信頼性の高いシス
テムを構築することができる。
【0023】また、本実施例の空間型光偏向素子14に
おいては、半導体基板15の材料としてn−InPを、
クラッド層20の材料としてp−InPを用いたが、こ
れらの導電型は逆であっても良いし、InP系に限ら
ず、GaAs系等、他の化合物半導体材料を用いること
もできる。さらに、MQW層18の材料としても本実施
例のInGaAsP/InPの他、InGaAsP/I
nGaAsP等のInP系材料、AlGaAs/GaA
s等のGaAs系材料を用いても良い。また、本実施例
では、導波路構造としてMQW層18とバルクの導波路
層19の積層構造からなる空間型光偏向素子に対して本
発明を適用した例を説明したが、本発明を適用し得る光
偏向素子の基本構造はこれら実施例に限るものではな
い。例えばMQW構造またはバルクの単層構造の導波路
層を有するもの、裏面反射膜のような他の層を有するも
の、回折格子の形成位置が異なるもの等、種々の構造を
持つ空間型光偏向素子に対して本発明を適用することが
可能である。
【0024】
【発明の効果】以上、詳細に説明したように、本発明の
空間型光偏向素子においては、棒状レンズがクラッド層
の上部に設置されたことにより出射光が集束されるた
め、平坦なクラッド層を有する従来の空間型光偏向素子
に比べて出射光のビームを細く集光することができる。
また、棒状レンズは従来一般の光ファイバ製造技術を用
いて別途作製することができるので、棒状レンズを良好
な形状とでき、そのような集光性の高いレンズを有する
素子を再現性良く製造することが可能となる。さらに、
棒状レンズ自体を容易に製造できることから素子全体の
製造工程を簡単化することもできる。そして、この空間
型光偏向素子を組み込んだ光スイッチングシステムや並
列光情報伝送システムにおいては、従来の空間型光偏向
素子を用いた場合に比べて受光素子における光の強度が
増大するのみならず、レンズ形状の再現性が良好なため
に集光された光の強度分布も再現性が良いものとなる。
よって、S/N比が大きく、信頼性の高いシステムを構
築することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の一実施例である空間型光偏向素子を
示す(a)縦方向断面図、(b)横方向断面図である。
【図2】 同、空間型光偏向素子の製造工程を順を追っ
て示す図の前半部分である。
【図3】 同、後半部分である。
【図4】 同、空間型光偏向素子を使用する状態を示す
図である。
【図5】 従来の空間型光偏向素子の一例を示す(a)
縦方向断面図、(b)横方向断面図である。
【図6】 本発明の空間型光偏向素子を光インターコネ
クションに適用したときの効果を示す図である。
【図7】 従来の空間型光偏向素子を光インターコネク
ションに適用したときの問題点を示す図である。
【符号の説明】
14…空間型光偏向素子、15…半導体基板、18…M
QW層、19…導波路層、20…クラッド層、22…上
部電極層、23…下部電極層、25…回折格子、26…
棒状レンズ、27…溝、28…窓部、S0 …入射光、S
1 、S2 、S3…出射光

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 半導体基板と、該半導体基板の上方に形
    成された導波路層と、該導波路層の上方に形成されたク
    ラッド層と、前記導波路層に入射された光を上方に向け
    て回折させるための回折格子と、前記クラッド層の上方
    に形成され前記光を出射する窓部が設けられた上部電極
    層と、前記半導体基板の下方に形成された下部電極層を
    有してなる空間型光偏向素子において、 出射光を集束するための棒状レンズが、自身の軸線が素
    子の光軸方向を向くように前記クラッド層上部にあたる
    出射光の光路上に設置されたことを特徴とする空間型光
    偏向素子。
  2. 【請求項2】 請求項1に記載の空間型光偏向素子にお
    いて、 前記導波路層がストライプ状に形成されるとともに、該
    導波路層の両側方から上方に成長する導電層により溝が
    形成され、 その溝の内部に前記棒状レンズが装入、固定されたこと
    を特徴とする空間型光偏向素子。
JP12691595A 1995-05-25 1995-05-25 空間型光偏向素子 Expired - Lifetime JP3660020B2 (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7035490B2 (en) 2003-04-24 2006-04-25 Yokogawa Electric Corp. Active diffraction grating
CN105890640A (zh) * 2016-04-13 2016-08-24 殷志成 一种用于透镜架固定用定位杆

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7035490B2 (en) 2003-04-24 2006-04-25 Yokogawa Electric Corp. Active diffraction grating
CN105890640A (zh) * 2016-04-13 2016-08-24 殷志成 一种用于透镜架固定用定位杆

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