JPH08313484A - キャピラリー電気泳動方法およびキャピラリー電気泳動装置 - Google Patents

キャピラリー電気泳動方法およびキャピラリー電気泳動装置

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JPH08313484A
JPH08313484A JP7118706A JP11870695A JPH08313484A JP H08313484 A JPH08313484 A JP H08313484A JP 7118706 A JP7118706 A JP 7118706A JP 11870695 A JP11870695 A JP 11870695A JP H08313484 A JPH08313484 A JP H08313484A
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capillary
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JP7118706A
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Yoshiki Tomioka
由喜 富岡
Akira Okada
章 岡田
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 従来困難であった固形試料表面の付着物を容
易にかつ高精度に分離さらには分析することを可能にす
ると共に、固形試料表面の位置的な評価を可能にしたキ
ャピラリー電気泳動方法およびキャピラリー電気泳動装
置を提供する。 【構成】 固形試料7の表面に微量の液体を滴下する液
体滴下部2と、固形試料7表面の付着物が溶解して試料
溶液とされた液滴15と一方の端部3aを接触させるキ
ャピラリー3と、試料側電極5とがサンプルヘッド1に
保持されている。サンプルヘッド1は固形試料7の所定
位置に移動可能とされている。キャピラリー3の他方の
端部3b側には、キャピラリー3内に試料溶液を注入す
る手段として、キャピラリー移動機構10が設けられて
いる。高電圧供給部4によって、試料溶液とキャピラリ
ー3の端部3bが挿入された緩衝液12との間に所定の
電圧を印加し、キャピラリー3内に注入された試料溶液
を電気泳動させる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、固形試料への適用を図
ったキャピラリー電気泳動方法およびキャピラリー電気
泳動装置に関する。
【0002】
【従来の技術】DNAや蛋白質の分子量を調査する手法
として用いられてきたゲル電気泳動と、DNAや蛋白質
の分離・定量のために用いられてきたHPLCの両者を
融合させたキャピラリー電気泳動法は、近年、高分離機
能を有し、かつ極微量の試料溶液を短時間で分析するこ
とが可能であること等から、生化学分野等で注目されて
いる技術である。このような経緯から、キャピラリー電
気泳動法の対象試料は溶液状のものがほとんどで、固形
試料でも粉末状で溶液化するのが容易なものがほとんど
であった。
【0003】一方、半導体工業ではメモリー容量の拡大
に伴って、LSI、ULSIの製造工程等では極微量の
不純物が問題となっており、さらに半導体ウェハの極小
表面の位置的な汚染評価等が不可欠になってきている。
【0004】このような状況に対して、従来の半導体ウ
ェハ等の固形試料の表面付着物を分析する際には、クリ
ーンルーム等の汚染の少ない環境で、純水洗浄等によっ
て試料溶液を作製したり、あるいは融解により試料全体
を分解して試料を作製する等の前処理を行う必要があっ
た。そして、これら測定試料をICP質量分析(陽イオ
ン)、イオンクロマトグラフィー(陰イオン)、そして
キャピラリー電気泳動法(陽イオン、陰イオン、有機
酸)で分析することが一般的であった。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
たような従来の分析法では、固形試料の表面付着物を分
析する際、表面洗浄といった前処理では目的成分(不純
物)が希釈されたり、位置的な分析が困難であり、また
融解法では破壊分析のために、分析用に試料を確保する
必要があった。また、前処理から分析まで測定装置によ
って限定されると共に、長時間の作業となることから試
料の汚染が発生する可能性が高く、このため前処理を実
施する作業者によってばらつきが生じ、分析値への信頼
性が低くなってしまうという難点があった。
【0006】さらに、感度の面でも多量(例えば10〜 2
50ml)の試料溶液に定容されるため、微量分析を行う際
に測定感度に問題が生じていた。そして、位置的分析は
測定方法の手順面からも、また感度の面からも不可能で
あった。
【0007】一方、キャピラリー電気泳動法は高分離機
能を有することから、他の分析装置の前処理装置として
の使用も可能と考えられるが、前述したように対象試料
がほとんど溶液に限定されていたため、上記したような
固形試料表面の付着物の分離等には適用不可能であっ
た。
【0008】本発明は、このような課題に対処するため
になされたもので、表面洗浄や融解等の従来の前処理を
行うことなく、従来困難であった固形試料表面の付着物
を容易にかつ高精度に分離さらには分析することを可能
にすると共に、固形試料表面の位置的な評価を可能にし
たキャピラリー電気泳動方法およびキャピラリー電気泳
動装置を提供することを目的としている。
【0009】
【課題を解決するための手段】本発明のキャピラリー電
気泳動方法は、固形試料の表面に微量の液体を滴下し、
この滴下した液体中に前記固形試料表面の付着物を溶解
させて試料溶液とし、この試料溶液にキャピラリーの一
方の端部を接触させて前記試料溶液を前記キャピラリー
に注入した後、前記試料溶液を電気泳動させることを特
徴としている。また、本発明のキャピラリー電気泳動装
置は、固形試料の表面に微量の液体を滴下する液体滴下
部と、前記固形試料の表面に滴下され、前記固形試料表
面の付着物が溶解して試料溶液とされた液体と一方の端
部が接触するように構成されたキャピラリーと、前記キ
ャピラリー内に前記試料溶液を注入する手段と、前記試
料溶液と前記キャピラリーの他方の端部が挿入された緩
衝液との間に電圧を印加し、前記キャピラリー内の前記
試料溶液を電気泳動させる電圧供給部とを具備すること
を特徴としている。
【0010】
【作用】本発明のキャピラリー電気泳動方法において
は、固形試料の表面に微量の液体を滴下し、この滴下し
た液体中に固形試料表面の付着物を溶解させて試料溶液
としているため、固形試料を破壊することなく、試料溶
液を容易にかつばらつきの発生を抑えて作製することが
できる。そして、このような試料溶液をキャピラリーに
注入した後に試料溶液を電気泳動させることによって、
固形試料表面の陰イオン、陽イオン、有機酸等の付着物
を容易にかつ短時間で高精度に分離することができる。
また、試料溶液の作製原料となる液体の滴下量および滴
下位置を限定することによって、固形試料の位置的な評
価を実施することが可能となる。
【0011】また、本発明のキャピラリー電気泳動装置
においては、固形試料の表面に微量の液体を滴下する液
体滴下部を有しており、この滴下された液体に固形試料
表面の付着物を溶解させて試料溶液とすることができる
ため、固形試料を破壊することなく、試料溶液を容易に
かつばらつきの発生を抑えて作製することができる。さ
らに、例えば重力法、減圧法、電気泳動法等によりキャ
ピラリー内に上記試料溶液を注入する手段を有してお
り、キャピラリー内に試料溶液を容易に注入することが
できるため、短時間で試料溶液に対して電気泳動を実施
することができる。従って、固形試料表面の陰イオン、
陽イオン、有機酸等の付着物を容易にかつ短時間で高精
度に分離することが可能となる。さらに、液体滴下部も
しくは固形試料の位置制御を実施することによって、固
形試料の位置的な評価を実施することができる。
【0012】
【実施例】以下、本発明の実施例について説明する。
【0013】図1は、本発明の方法並びに装置をキャピ
ラリー電気泳動分析装置に適用した一実施例の要部構成
を模式的に示す図である。同図において、1は試料溶液
作製用の液体を自動滴下する液体滴下部2を有するサン
プルヘッドである。液体滴下部2から滴下される液体に
は、分析対象物を溶解しやすい液体が適宜使用され、例
えば純水、アルカリ性溶液、酸性溶液、有機溶剤等が例
示される。
【0014】液体滴下部2から滴下する液体の量は、分
析対象物や分析対象面積によっても異なるが、分離精度
ひいては測定感度の向上を図るために、 1ml以下とする
ことが好ましい。特に 100μl 以下とすることが分離精
度や測定感度、さらには位置的評価の点から望ましい。
この液体滴下量は、図示を省略した制御部により自動的
に制御されるように構成されている。
【0015】サンプルヘッド1は液体滴下部2の他に、
キャピラリー3の一方の端部(試料側端部)3aと、高
電圧供給部4の例えばプラス側に接続された試料側電極
5を保持している。サンプルヘッド1の下方には試料台
6が設置されており、この試料台6上の所定の位置に固
形試料7が載置される。上記サンプルヘッド1は、図示
を省略したX−Y−Z方向に自在に移動可能なスキャナ
のアーム8に保持されており、サンプルヘッド1は固形
試料7表面の任意の位置に走査可能とされている。サン
プルヘッド1の走査は、図示を省略した制御部により自
動制御される。キャピラリー3の他方の端部(検出器側
端部)3b側には、検出器9が配置されていると共に、
重力法によるキャピラリー3内への試料溶液注入手段と
して、キャピラリー3の他方の端部(検出器側端部)3
bを水平位置とその下方の注入位置との間で昇降させる
キャピラリー移動機構10が設けられている。なお、重
力法による試料溶液注入手段としては、試料台6をサン
プルヘッド1と共に水平位置とその上方の注入位置との
間で昇降させる移動機構を用いることもできる。すなわ
ち、重力法による試料溶液注入手段は、キャピラリー3
の試料側端部3aと検出器側端部3bとの相対的な高さ
位置を移動させ得る機構であればよい。
【0016】また、キャピラリー3の検出器側端部3b
の水平位置近傍には、高電圧供給部4の例えばマイナス
側に接続された検出器側電極11が配置されている。キ
ャピラリー3の検出器側端部3bと検出器側電極11の
下方には、緩衝液12が収容されたバッファ槽13が配
置されている。このバッファ槽13は、図示を省略した
移動機構上に配置されており、電気泳動時にキャピラリ
ー3の検出器側端部3bと検出器側電極11が緩衝液1
2中に挿入されるように構成されている。
【0017】次に、上記キャピラリー電気泳動分析装置
の動作について説明する。
【0018】まず、キャピラリー3の試料側端部3aと
検出器側端部3bとが水平高さに位置している初期状態
(水平位置:図1に示す)のキャピラリー電気泳動分析
装置において、試料台6上の所定の位置に、固形試料7
例えばシリコンウェハをセットする。この固形試料7の
セット後に、キャピラリー電気泳動分析装置は自動制御
状態となる。すなわち、サンプルヘッド1が固形試料7
表面の所定の設定位置にアクセスし、液体滴下部2から
所定量の試料溶液作製用の微量液体14が滴下される。
滴下する液体および滴下量は前述した通りである。
【0019】次いで、図2に示すように、上記微量液体
の滴下後、あるいはその直前にキャピラリー3の試料側
端部3aの先端が液滴15と接触するように、スキャナ
によりサンプルヘッド1の位置が調整される。固形試料
7表面に滴下された液滴15には、固形試料7表面の付
着物(測定対象物)が溶解し、液滴15は試料溶液とさ
れる。そして、この試料溶液とされた液滴15に、キャ
ピラリー3の試料側端部3aの先端が接触した状態で、
キャピラリー3の検出器側端部3bがキャピラリー移動
機構10により水平位置h1 から注入位置h2 まで降下
する。
【0020】上記キャピラリー3の検出器側端部3bの
降下によって、キャピラリー3の試料側端部3aと検出
器側端部3bとの間には高低差(図中、Xで示す)が生
じる。そして、この高低差Xに基く重力によって、試料
溶液とされた液滴15がキャピラリー3内に注入され
る。この重力法によるキャピラリー3内への試料溶液の
注入は、前述したようにキャピラリー3の検出器側端部
3bを固形試料7と共に上昇させることによっても実施
できる。
【0021】キャピラリー3の検出器側端部3bを注入
位置h2 まで降下させた状態で、一定時間例えば 5〜60
秒程度経過させた後、キャピラリー3の検出器側端部3
bは水平位置まで戻る。この後、緩衝液12が収容され
たバッファ槽13が上昇し、キャピラリー3の検出器側
端部3bと検出器側電極11は緩衝液12中に挿入され
る。さらに、キャピラリー3の試料側端部3aと試料側
電極5も、図示を省略した他のバッファ槽に挿入され
る。この状態で、試料溶液とされた液滴15と接触して
いる試料側電極5と、緩衝液12中に挿入された検出器
側電極11との間に、高電圧供給部4から所定の電圧が
印加されて、キャピラリー3内に注入された試料溶液の
電気泳動が開始される。
【0022】試料溶液の電気泳動は、通常のキャピラリ
ー電気泳動と同様に、印加された電圧に応じて生じる電
気浸透流により行われ、この電気泳動によって試料溶液
に含まれる分析対象物質、例えば陰イオン、陽イオン、
有機酸が分離される。電気泳動により分離された分析対
象物質は検出器9で検出され、固形試料7表面に付着し
ている物質が定性的もしくは定量的に測定される。
【0023】上述した手順によって、固形試料7表面に
おける特定の微小領域の分析、例えば表面汚染状況が測
定、評価される。そして、 1か所の分析が終了した後、
サンプルヘッド1の位置を移動させ、同様に固形試料7
表面の他の微小領域の分析を順に行うことによって、固
形試料7表面の任意の位置の分析、さらには位置的分析
を実施することができる。
【0024】上記実施例のキャピラリー電気泳動分析装
置においては、固形試料7の表面に微量の液体を滴下す
る液体滴下部2を有しており、この滴下された液体に固
形試料7表面の付着物を溶解させて試料溶液とすること
ができるため、表面洗浄や融解等の従来の前処理を行う
ことなく、かつ固形試料7を破壊することなく、固形試
料7表面の微小領域に応じた試料溶液を容易にかつばら
つきの発生を抑えて作製することができる。さらに、液
体滴下部2を保持するサンプルヘッド1を制御すること
によって、固形試料7表面の位置に応じた試料溶液を容
易に作製することができる。
【0025】そして、キャピラリー3内への試料溶液注
入手段としてのキャピラリー移動機構10によって、上
記したような試料溶液をキャピラリー3内に容易に注入
することができる。従って、試料溶液の電気泳動を確実
にかつ短時間で実施することができる。このように、従
来困難であった固形試料7表面の付着物を、前処理から
測定まで固形試料7を破壊することなく、自動かつ短時
間でばらつきの発生を抑えて高精度に分離さらには分析
することができる。さらには、固形試料7表面の位置的
な分析・評価、すなわち表面解析を実施することができ
る。
【0026】次に、上記実施例のキャピラリー電気泳動
分析装置を用いた具体的な分析例について述べる。な
お、固形試料7としては、液滴15に対する接触角度が
小さく、液の拡散が小さいシリコンウェハを使用した。
本発明の方法並びに装置は、このような固形試料に対し
て特に有効である。
【0027】まず、事前に固形試料7としてシリコンウ
ェハをSEMで表面観察し、欠陥不純物のあるシリコン
ウェハと欠陥不純物のないシリコンウェハを選択した。
この2つのシリコンウェハについて汚染状況の評価を、
前述した手順に従って実施した。具体的には、固形試料
7表面に滴下する液体としては 500μl の純水を用い、
この純水を滴下した後にキャピラリー3の検出器側端部
3bを 100mm降下させた。この状態を30秒維持してキャ
ピラリー3内に試料溶液を注入し、緩衝溶液中で印加電
圧をかけて電気泳動を行った。その結果、SEMで欠陥
不純物の観察された試料は、キャピラリー電気泳動でも
陰イオンの不純物がSEMで欠陥不純物が観測されなか
った試料と比較して多量に含まれていることが判明し
た。また、陰イオンに限らず、陽(金属)イオンや有機
酸等を含めた各種表面不純物の多点自動分析が可能であ
った。
【0028】なお、上述した実施例においては、試料溶
液をキャピラリー3に注入する手段として重力法に基く
キャピラリー移動機構10を用いたが、本発明はこれに
限定されるものではなく、減圧法や電気泳動法等を適用
することもできる。すなわち、減圧法を適用する場合に
は、例えばキャピラリー3の検出器側端部3bの先端に
減圧吸引装置の脱着可能に接続すればよく、また電気泳
動法を適用する場合には、キャピラリー3の試料側端部
3aの先端を試料溶液に接触させた状態で、試料側電極
5と緩衝液12中に挿入された検出器側電極11との間
に、高電圧供給部4から所定の電圧を印加すればよい。
【0029】次に、図3を参照して、本発明の方法並び
に装置をICP質量分析装置の前処理装置として利用し
た分析装置について説明する。
【0030】図3に示す分析装置は、キャピラリー3の
検出器側端部3bがICP質量分析装置16に接続され
たリサイクリックネブライザ17に接線されている。こ
れら以外は、検出器9を除く前述した実施例のキャピラ
リー電気泳動装置を前処理装置として有している。そし
て、固形試料7表面の付着物、例えばシリコンウェハ表
面にステンレスや配線材料等から混入したFe、Cu、Ni等
の汚染物質は、前述した実施例と同様な手順でキャピラ
リー電気泳動装置で分離(前処理)され、リサイクリッ
クネブライザ17によりICP質量分析装置16に送ら
れる。
【0031】上記実施例の分析装置によれば、Fe、Cu、
Ni等の分析対象物質はキャピラリー電気泳動により共存
物質の影響を受けることなく、純水中の金属分析と同様
に、高感度に定量することができた。つまり、Fe、Cu、
Niを 3ng/l(=ppt)レベルで定量することができ、定性お
よび定量的に非常に良好な結果を得ることができた。こ
のように、本発明のキャピラリー電気泳動装置は、分析
装置としてだけでなく、ICP質量分析装置のような高
感度分析装置に対する固形試料の前処理装置としても有
用である。
【0032】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、従
来困難であった固形試料表面の極小位置における付着物
の分離さらには分析に、キャピラリー電気泳動法を容易
に適用することが可能となる。これによって、固形試料
表面の付着物を容易にかつ高精度に分離さらには分析す
ることが可能となると共に、固形試料表面の位置的な評
価をも実施することが可能となる。従って、半導体基板
のような固形試料の品質管理等に対して有効である。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の一実施例によるキャピラリー電気泳
動分析装置の要部構成を模式的に示す図である。
【図2】 図1に示すキャピラリー電気泳動分析装置の
試料溶液注入動作を説明するための図である。
【図3】 本発明のキャピラリー電気泳動装置をICP
質量分析装置の前処理装置として利用した分析装置の要
部構成を模式的に示す図である。
【符号の説明】
1……サンプルヘッド 2……液体滴下部 3……キャピラリー 3a…試料側端部 3b…検出器側端部 4……高電圧供給部 7……固形試料 10…キャピラリー移動機構 12…緩衝液

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 固形試料の表面に微量の液体を滴下し
    て、この滴下した液体中に前記固形試料表面の付着物を
    溶解させて試料溶液とし、この試料溶液にキャピラリー
    の一方の端部を接触させて、前記試料溶液を前記キャピ
    ラリーに注入した後、前記試料溶液を電気泳動させるこ
    とを特徴とするキャピラリー電気泳動方法。
  2. 【請求項2】 固形試料の表面に微量の液体を滴下する
    液体滴下部と、 前記固形試料の表面に滴下され、前記固形試料表面の付
    着物が溶解して試料溶液とされた液体と一方の端部が接
    触するように構成されたキャピラリーと、 前記キャピラリー内に前記試料溶液を注入する手段と、 前記試料溶液と前記キャピラリーの他方の端部が挿入さ
    れた緩衝液との間に電圧を印加し、前記キャピラリー内
    の前記試料溶液を電気泳動させる電圧供給部とを具備す
    ることを特徴とするキャピラリー電気泳動装置。
JP7118706A 1995-05-17 1995-05-17 キャピラリー電気泳動方法およびキャピラリー電気泳動装置 Withdrawn JPH08313484A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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