JPH08293449A - 露光装置 - Google Patents

露光装置

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JPH08293449A
JPH08293449A JP7098160A JP9816095A JPH08293449A JP H08293449 A JPH08293449 A JP H08293449A JP 7098160 A JP7098160 A JP 7098160A JP 9816095 A JP9816095 A JP 9816095A JP H08293449 A JPH08293449 A JP H08293449A
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heat
temperature
heat pump
exposure apparatus
stage
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JP7098160A
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Naoyuki Kobayashi
直行 小林
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    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/70691Handling of masks or workpieces
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/708Construction of apparatus, e.g. environment aspects, hygiene aspects or materials
    • G03F7/70858Environment aspects, e.g. pressure of beam-path gas, temperature
    • G03F7/70866Environment aspects, e.g. pressure of beam-path gas, temperature of mask or workpiece
    • G03F7/70875Temperature, e.g. temperature control of masks or workpieces via control of stage temperature
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02PCLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
    • Y02P70/00Climate change mitigation technologies in the production process for final industrial or consumer products
    • Y02P70/50Manufacturing or production processes characterised by the final manufactured product

Abstract

(57)【要約】 【目的】 露光装置の発熱体から発生する熱を除去する
ための冷却機構のスペースを小さくし、他の機器に影響
を与えることなく発生熱を局所的に効率よく除去する。 【構成】 X軸ステージ14をX方向に駆動するリニヤ
モータ20の可動子20Bと、ウエハ3を載置する試料
台15をZ方向及びチルト方向に移動するためのZチル
ト駆動機構18A,18Bとが固定されたX軸ステージ
14上にヒートポンプ22を設置する。ヒートポンプ2
2の上に固定された熱交換器21に外部の温調装置24
から給水パイプ23A及び排水パイプ23Bを介して冷
却水を循環させ、可動子20B及びZチルト駆動機構1
8A,18Bから発生してX軸ステージ14を介してヒ
ートポンプ22に吸収された熱を冷却する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、マスク上のパターンを
投影光学系を介して感光基板上に露光する露光装置に関
し、特に例えばリニアモータのような発熱体を含む露光
装置に適用して好適なものである。
【0002】
【従来の技術】半導体素子や液晶表示素子等を製造する
ためのフォトリソグラフィー工程で使用される投影露光
装置(ステッパー等)では、レチクル(又はフォトマス
ク等)上に形成されたパターンを、投影光学系を介して
フォトレジストが塗布されたウエハ(又はガラスプレー
ト等)上に高精度で転写するため、投影光学系には極め
て高い結像特性が要求される。また、レチクル及びウエ
ハを載置するステージの位置を計測するレーザ干渉計等
に対しては高い測定精度が求められている。
【0003】これらの投影光学系の結像特性及びレーザ
干渉計の測定精度は装置及び周囲温度の変化に大きな影
響を受ける。そのため、投影露光装置の装置及び周囲の
温度を一定に維持することが重要となる。ところが、こ
のような投影露光装置においては、露光用の光源やステ
ージを駆動する駆動モータ等の発熱体により装置の温度
が上昇すると、ステージの位置を計測するレーザ干渉計
等の測定精度や投影光学系の結像特性が低下する。ま
た、大気の温度変化によっても投影露光装置の周囲の温
度が変化して、投影光学系の結像特性が劣化することが
ある。そのため、一般に投影露光装置を環境制御用のチ
ャンバ内に収納し、チャンバ内部に温度制御された空気
を流す全体空調が行われる。
【0004】図4は、投影露光装置に対する全体空調系
の構成を示し、この図4において、チャンバ103内に
投影露光装置101が設置されている。そして、送風機
105により加圧された冷却空気は循環回路108Aを
通って、チャンバ103に設けられた塵埃除去フィルタ
(HEPAフィルタ)110を介してチャンバ103内
に送風される。塵埃除去フィルタ110によりチャンバ
103内には高度に清浄化された空気が吹き込まれる。
チャンバ103の投影露光装置101からの熱を吸収し
た空気は、チャンバ103の一部に設けられた排出口
(リターン)106から戻り回路108Bに導入され
る。
【0005】戻り回路108Bに導入された空気は、戻
り回路108B中に設置された熱交換器109により冷
却される。熱交換器109には外部の温調装置102か
ら供給配管107Aを通じて冷却水が供給されており、
この冷却水との熱交換により冷却された空気は送風機1
05に吸引され、熱交換後の冷却水は戻り配管107B
を介して温調装置102に戻る構成となっている。
【0006】また、特に精密な温度管理を必要とする露
光装置では、図4に示す全体空調に加えて、温度制御し
た空気や水等の冷却媒体を直接冷却する箇所に送り込む
等の方法を組み合わせることにより温度管理が行われて
いる。例えば、レーザ干渉計の測定精度を一定に保つた
めに、レーザ干渉計とレーザ干渉計からのレーザビーム
を反射する移動鏡との間のレーザビームの光路上の局所
空間に、一定の方向に一定の温度に制御された空気を送
風する方法が行われている。また、レチクルステージや
ウエハステージを駆動する駆動モータ等の発生熱を除去
するために、駆動モータの周辺に冷却用の循環配管を設
け、外部の温調装置から循環配管に水等の冷却媒体を循
環させる方法も使用されている。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】一般に装置から出る熱
を熱交換用の媒体を流すことにより装置外に排出する場
合、単位時間当たりに媒体が運び出せる熱量Qは、熱を
吸収することによる媒体の上昇温度ΔT、媒体の比熱
C、及び媒体の単位時間当たりの流量Vから下記式
(1)により算出される。
【0008】Q=ΔT×C×V (1) 図4に示すような全体空調方式により装置の温度管理を
行う場合、使用する媒体が空気であるために(1)式に
示す比熱Cが小さい。従って、精密に温度を制御しよう
とする場合は大量の空気を流す必要があり、送風機から
の振動が装置に伝達し、位置決め精度等に影響すると共
に、装置との熱交換により空気の温度が上昇するため、
風下側の装置要素では温度が上昇して装置内部に温度勾
配が生じたり、あるいは暖かくなった空気がレーザ干渉
計のレーザビームの光路に進入する等して、装置の位置
決め精度等に影響を与える等の不都合があった。
【0009】また、必要部位を局所的に冷却する場合に
は、外部にある温調装置から必要とする部分に直接温度
制御した媒体を流すため、目的とする部位の温度管理は
精密に行えるが、目的とする場所へ媒体を送り込むため
の配管を設ける必要がある。また、その場合でも発熱体
及び温度調節を必要とする部位(以下「熱要素」とい
う)の熱を吸収した上で(1)式に示す温度上昇ΔTが
装置に許容される温度差より小さくなるよう媒体の流量
Vを確保する必要がある。
【0010】また、複数の熱要素を精密に温度管理する
場合、それぞれの熱要素に対し温度制御した必要量の媒
体を流すか、全部の熱要素の発熱を吸収した上でも媒体
の温度上昇が装置に許容される温度差より小さくなるよ
う流量を確保した上で全ての熱要素を通る配管を設ける
必要がある。この場合、媒体を供給するための配管が複
雑になり、特にウエハステージ等の温度管理をする場合
には配管による抵抗や配管を付設する場所の確保等の問
題を解決する必要があった。
【0011】本発明は斯かる点に鑑み、スペースが小さ
く必要部位を的確に温調できる温調機構を備えた露光装
置を提供することを目的とする。
【0012】
【課題を解決するための手段】本発明による露光装置
は、感光基板(3)にマスクパターンを転写する露光装
置において、その露光装置内の発熱体(20A,20
B,18A,18B)の近傍に配置され、その発熱体の
熱を吸収するヒートポンプ(22)と、このヒートポン
プにより吸収された熱を装置の外部に排出する排出手段
(21,23A,23B,24)と、を設けたものであ
る。
【0013】この場合、その露光装置が、ベース部材
(14)と、このベース部材(14)上に設置された駆
動モータ(18A,18B)により駆動されその感光基
板(3)が載置される載物台(15)とを有するとき、
その発熱体の一例はその駆動モータ(18A,18B)
であり、そのヒートポンプ(22)はそのベース部材
(14)上に設置されることが好ましい。
【0014】また、そのヒートポンプ(22)の一例
は、ペルチェ素子である。
【0015】
【作用】斯かる本発明の露光装置によれば、スペースが
小さく簡単な構成をもつヒートポンプ(22)により発
熱体(20A,20B,18A,18B)から発生する
熱を効率よく吸収し、吸収した熱を排出手段(21,2
3A,23B,24)により装置の外部に排出すること
ができる。また、本発明の露光装置はヒートポンプ(2
2)を装置要素に内蔵することから、例えば排出手段と
して冷却用の媒体を循環用の配管を通して用いる場合に
は、装置要素内からヒートポンプ(22)を通じて冷却
用の媒体に吸収される熱による媒体の温度上昇分、即ち
(1)式の上昇温度ΔTを大きくとっても温度制御を精
密に行える。従って、装置外に廃熱する際の媒体の流量
を小さくすることができ、装置外に廃熱を行うための配
管の引き回しが容易になると共に、冷却用の媒体の循環
による振動の発生を抑えることができる。
【0016】また、ヒートポンプ(22)の放熱先の温
度変動とほぼ無関係に対象とする要素の温度制御を行え
るため、例えば複数のヒートポンプを用いる場合、ヒー
トポンプからの配管を直列につないでも精度良く温度制
御をすることができ配管が容易になる。また、露光装置
が、ベース部材(14)と、このベース部材(14)上
に設置された駆動モータ(18A,18B)により駆動
され感光基板(3)が載置される載物台(15)を有
し、発熱体が駆動モータ(18A,18B)であり、ヒ
ートポンプ(22)がベース部材(14)上に設置され
る場合には、ベース部材(14)に伝わった駆動モータ
(18A,18B)の熱がヒートポンプ(22)により
効率よく吸収される。
【0017】また、ヒートポンプ(22)がペルチェ素
子である場合には、スペースをとらない非常にコンパク
トな構成で発熱体を効率的に冷却することができる。
【0018】
【実施例】以下、本発明による露光装置の一実施例につ
き、図1及び図2を参照して説明する。本例はレチクル
上のパターンを投影光学系を介してウエハ上の各ショッ
ト領域に投影露光するステッパー型の投影露光装置に本
発明を適用したものである。
【0019】図1は、本例の投影露光装置の概略構成を
示し、この図1において、照明光学系ALからの照明光
ILによりレチクル支持台4に保持されたレチクル1の
パターンが照明され、レチクル1上のパターンが投影光
学系PLを介してウエハ3上に投影露光される。ここ
で、図1において、投影光学系PLの光軸AXに平行に
Z軸を取り、Z軸に垂直な平面内で図1の紙面に垂直に
Y軸を、図1の紙面に平行にX軸を取る。
【0020】ウエハ3は、X軸ステージ14上に保持さ
れた試料台15上にウエハホルダ2を介して保持され、
X軸ステージ14は空気軸受けで支持されるガイド16
及びこのガイド上に設置されたスペーサ17A,17B
を介してX方向に移動自在にYステージ13上に載置さ
れ、Yステージ13は定盤12上にY方向に移動自在に
載置されている。
【0021】試料台15の−X方向の端部には移動鏡7
Xが固定されており、移動鏡7Xと対向する位置に配置
されたレーザ干渉計8とにより試料台15のX方向の位
置が高精度に計測されている。同様に、不図示であるが
試料台15の+Y方向の端部にも移動鏡が固定され、こ
の移動鏡及び外部のレーザ干渉計により試料台15のY
方向の位置が高精度に計測されている。レーザ干渉計の
測定値はXYステージ制御系9を介して中央制御系11
に供給されており、中央制御系11はこれらの情報に基
づきXYステージ制御系9を介してX軸ステージ14及
びY軸ステージ13のそれぞれの駆動モータを制御して
試料台15をXY方向の任意の位置に位置決めする。ま
た、試料台15はX軸ステージ14上に固定された3個
のZチルト駆動機構18A〜18Cにより駆動される3
個の駆動棒19A〜19Cを介して支持され、試料台1
5は、駆動機構18A〜18CによりX軸ステージ14
に対してフォーカス方向(Z方向)の位置及び傾斜角が
任意に設定できるようになっている。駆動機構18A〜
18Cは、それぞれ発熱体としてのロータリモータと、
このロータリモータの回転運動を上下方向の変位に変え
るカム機構とより構成されている。
【0022】また、投影光学系PLの結像面付近のウエ
ハ3の露光面に向けて、光軸AXに対して斜めに複数個
のピンホール、あるいはスリットパターン等の像を投影
する照射光学系5と、その投影された像からの反射光束
よりその像を再結像する受光光学系6とからなる斜入射
方式の多点の焦点位置検出系5,6が設けられている。
ウエハ3の表面の少なくとも3点以上のZ方向の位置
は、この焦点位置検出系5,6によって検出されてZチ
ルト方向制御系10に供給され、Zチルト方向制御系1
0はその検出情報に基づきウエハ3の表面が投影光学系
PLの結像面に合致するように駆動機構18A〜18C
を介してオートフォーカス及びオートレベリングを行
う。Zチルト方向制御系10の動作も中央制御系11に
よって制御される。
【0023】次に、図2を参照して本例のウエハステー
ジ周辺の構成について更に詳しく説明する。図2は、ウ
エハステージの一部分の構成を示し、この図2におい
て、X軸ステージ14はX軸ステージ14の裏面に取り
付けられた可動子20B及びY軸ステージ13上に架設
された固定子20A(図1参照)よりなるリニアモータ
20により、Y軸ステージ13に対して相対的にX方向
に駆動される。また、X軸ステージ14上には、リニア
モータ20及びZチルト駆動機構18A,18B等から
の発生する熱を除去するためのヒートポンプ22が設置
されている。ヒートポンプ22は、リニアモータ20の
可動子20Bが取り付けられたX軸ステージ14の裏面
と対応する反対側の表面に設置されている。
【0024】また、ヒートポンプ22上には熱交換器2
1が固定されている。熱交換器21には、外部の温調装
置24から給水パイプ23A及び排水パイプ23Bを介
して冷却水が供給されており、ヒートポンプ22で発生
した熱を冷却水により吸収するようになっている。この
場合、本例の投影露光装置は不図示の温度制御されたチ
ャンバ内に設置され、温調装置24はそのチャンバの外
部に設置されている。また、ヒートポンプ22の廃熱面
側の表面温度を測定する温度センサ27が設置されてお
り、その温度センサ27の測定値は外部の温調装置24
に供給されている。なお、ヒートポンプ22としてはペ
ルチェ素子等の熱電素子等が使用される。
【0025】また、X軸ステージ14上のヒートポンプ
22の近傍にはX軸ステージ14の表面温度を測定する
ための温度測定用プローブ(温度センサ)26が配置さ
れており、温度測定用プローブ26で検出された測定値
は外部に設置された温度制御系29に供給されている。
温度制御系29はその測定値に基づきX軸ステージ14
の温度が一定になるようにヒートポンプ駆動用電源30
の動作を制御する。
【0026】次に、本例の温度制御の動作につき説明す
る。図2において、X軸ステージ14上に設置されたリ
ニアモータ20の可動子20B及びZチルト駆動機構1
8A〜18C等の駆動に伴って発生した熱はX軸ステー
ジ14に伝わり、X軸ステージ14の温度を上昇させ
る。X軸ステージ14の表面温度は、温度測定用プロー
ブ26により測定され、その測定値が温度制御系29に
供給される。温度制御系29は温度測定用プローブ26
からの測定値を基に、X軸ステージ14の温度が一定と
なるようにヒートポンプ駆動用電源30を介してヒート
ポンプ22を駆動する。X軸ステージ14の熱はヒート
ポンプ22に吸収され、熱交換機21を介して温調装置
24から供給される冷却水により装置の外部に持ち去ら
れる。温調装置24は温度センサ27の測定値に基づ
き、ヒートポンプ22の廃熱面側の温度が所定の温度に
なるように冷却水の温度及び流量を制御する。
【0027】以上の動作によりX軸ステージ14上の表
面温度が一定に保たれるため、X軸ステージ14や周辺
機器への熱による影響が除去され、ステージの位置決め
精度が高精度に保たれる。ウエハステージの周辺で最も
大きな熱発生源であるリニアモータ20の可動子20B
の最も近傍にヒートポンプ22が配置されているため、
X軸ステージ14はヒートポンプ22により非常に効率
よく冷却される。前述のように、X軸ステージ14の近
傍にはレーザ干渉計8が配置されている。移動鏡7Xと
レーザ干渉計8との間のレーザビームの光路25上の空
気の温度の変化はレーザ干渉計8の測定精度に大きく影
響するため、特にリニアモータの熱を除去するための各
種の冷却方法が試みられているが、本例の方法によれ
ば、スペースも小さく簡単な構成でリニアモータ20の
発生熱を効率的に除去することができる。Zチルト駆動
機構18A〜18Cで発生する熱も、ヒートポンプ22
を介して効率的に外部に排出される。
【0028】従来の方法によれば、例えば図4に示す全
体空調系で全部の熱発生源を均一に空調することは可能
であり、従来の局所空調系により個別の熱発生源を個別
に冷却することは可能であるが、複数の発熱体及び温度
調節を必要とする部位(以下「熱要素」という)を同時
に効率よく冷却できない。例えば、局所空調系により個
別の熱要素を冷却するためには、冷却媒体が空気及び水
等にかかわらず、個々の熱要素まで個別に配管を設ける
必要があり、配置スペースの点から不可能に近い。しか
し、本例によれば、リニアモータ20の発生熱だけでな
く、Zチルト駆動機構18A〜18Cの発生熱も同時に
除去できる等、複数の熱要素に対して一つのヒートポン
プ及び1系統の冷却回路で対応することができる。
【0029】更に、ヒートポンプ22を装置要素に内蔵
することから、装置要素内からヒートポンプ22が廃熱
する際の冷却水の温度上昇分、即ち(1)式の上昇温度
ΔTが大きくても温度制御を精密に行える。従って、装
置外に廃熱する際の冷却水の流量を小さくすることがで
き、装置外に廃熱を行うための配管の引き回しが容易に
なると共に、冷却水の循環に伴う振動の発生を抑えるこ
とができる。また、ヒートポンプ22の放熱先の温度変
動とほぼ無関係に対象とする熱要素の温度制御を行える
ため、例えば複数のヒートポンプを用いる場合、ヒート
ポンプからの配管を直列につないでもそれぞれの熱要素
を精度良く温度制御をすることができ、配管が容易にな
る。
【0030】なお、ヒートポンプ22としてペルチェ素
子を使用した場合、ヒートポンプ駆動用電源30からの
電流の向きを変えることによりX軸ステージ14に接す
る面が廃熱側(高温側)になり、熱交換器21に接する
面が吸熱側(低温側)となる。従って、例えば逆に対象
要素の温度を上げたい場合にも効果的に利用することが
できる。
【0031】次に、図2の実施例の変形例について図3
を参照して説明する。本例はヒートポンプで発生した熱
を外部の温調装置から冷却水を循環させて外部に排出す
る方法を採らず、放熱板により装置内部に放出するもの
であり、図3において図2に対応する部分には同一符号
を付してその詳細説明を省略する。図3は、本例の投影
露光装置のウエハステージ周辺の構成を示し、この図3
において、ヒートポンプ22の上表面にはヒートポンプ
22からの熱を効率よく吸収する熱伝導性に優れた熱交
換板21Aが重なるように固定されている。熱交換板2
1Aの一部には、熱交換板21Aからの熱を排出するた
めの高い熱伝導率をもつ物質(銅、アルミニウム等)で
できたヒートパイプからなる熱伝導素子28Aが設けら
れている。熱伝導素子28AはX軸ステージ14の上表
面に平行に設けられ、その先端部はX軸ステージ14及
び試料台15の右端より外部まで伸びている。そして、
その先端部には多数の放熱フィンよりなる放熱板28B
が設けられており、ヒートポンプ22の熱はこの放熱板
28Bから放出される。また、本例では−X方向(図3
の左側)に全体空調系の吹き出し口(不図示)が設けら
れ、その吹き出し口から+X方向に温調された空気流3
1が供給され、放熱板28Bはその空気流31の風下側
に配置されている。
【0032】本例では、リニアモータ20及びZチルト
駆動機構18A,18B等で発生する熱により温度が上
昇したX軸ステージ14の熱はヒートポンプ22により
吸収され、熱交換板21A、熱伝導素子28A、及び放
熱板28Bを介して全体空調系からの空気流の風下側に
放出される。また、図1に示す実施例と同様に、X軸ス
テージ14の表面温度は温度測定用プローブ26により
測定され、その測定値が温度制御系29に供給される。
温度制御系29は温度測定用プローブ26からの測定値
を基に、X軸ステージ14の温度が一定となるようにヒ
ートポンプ駆動用電源30を介してヒートポンプ22を
駆動する。
【0033】本例によれば、熱交換板21A、ヒートパ
イプ28A、及び放熱板28Bからなる放熱機構並びに
放熱板28Bの周辺の空気温度によりヒートポンプ22
の冷却能力が決定され、そしてヒートポンプ22での発
生熱が装置周辺に放出されるため、ヒートポンプ22の
廃熱側の温度を測定する温度センサ、温調装置、及び冷
却水の循環配管等の設備を必要としない。また、放熱先
の温度とほぼ無関係にX軸ステージ14の温度を制御で
きることから、熱伝導素子の効率が良くなる温度差を熱
伝導素子28Aの両端に持たせることができるため、放
熱板28Bの位置を比較的自由に設定でき、装置内の他
の要素に影響を与えない場所に設置することができる。
なお、熱伝導素子28Aとしてはヒートパイプの他に金
属板等をも使用できる。
【0034】なお、以上の実施例ではX軸ステージ14
上だけにヒートポンプを設けたが、投影露光装置内のす
べての熱要素の周辺に許容される範囲でヒートポンプを
設置することができる。なお、上述実施例はステッパー
方式の投影露光装置に本発明を適用したものであるが、
本発明はステップ・アンド・スキャン方式等の走査露光
型の投影露光装置にも適用できる。特に、走査露光型で
はステージの走査方向の駆動系として比較的大きな容量
のリニアモータ等を使用することから駆動系の発生熱も
大きいため、本発明の方法は効果的である。
【0035】このように本発明は上述実施例に限定され
ず、本発明の要旨を逸脱しない範囲で種々の構成を取り
得る。
【0036】
【発明の効果】本発明の露光装置によれば、スペースが
小さく簡単な構成をもつヒートポンプにより発熱体から
発生する熱を効率よく吸収し、吸収した熱を排出手段に
より装置の外部に排出することができる。また、ヒート
ポンプとして、例えば熱電素子等の様にコンパクトな形
態を有するものを使用すれば、所望の場所に設置でき、
他の機器に影響を与える等の弊害が発生しない。従っ
て、例えば投影露光装置のXYステージ等の可動部分に
ついても冷却用の媒体の循環により生じる振動や配管に
よる抵抗の影響を抑えて精密な温度管理が可能になる。
また、特に配管を行わずとも装置内の他の要素に影響を
与えない場所に放熱することが可能になり、設計を容易
にすることができる利点がある。
【0037】また、露光装置が、ベース部材と、このベ
ース部材上に設置された駆動モータにより駆動され感光
基板が載置される載物台とを有し、発熱体が駆動モータ
であり、ヒートポンプがベース部材上に設置される場合
には、駆動モータの熱がベース部材を通してヒートポン
プにより効率よく吸収される。また、ヒートポンプがペ
ルチェ素子である場合には、スペースをとらない非常に
コンパクトな構成で発熱体を効率的に冷却する効果があ
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明による露光装置の一実施例の全体を示す
概略構成図である。
【図2】図1のウエハステージ周辺の構成を示す拡大図
である。
【図3】図2の実施例の変形例を示す拡大図である。
【図4】従来の露光装置の全体空調の状況を示す断面図
である。
【符号の説明】
1 レチクル 2 ウエハホルダ 3 ウエハ 7X 移動鏡 8 レーザ干渉計 13 Y軸ステージ 14 X軸ステージ 15 試料台 18A〜18C Zチルト駆動機構 20 リニアモータ 20A 固定子 20B 可動子 21 熱交換器 22 ヒートポンプ 23A 給水パイプ 23B 排水パイプ 24 温調装置 26 温度測定用プローブ 27 温度センサ 29 温度制御系

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 感光基板にマスクパターンを転写する露
    光装置において、 前記露光装置内の発熱体の近傍に配置され、前記発熱体
    の熱を吸収するヒートポンプと、該ヒートポンプにより
    吸収された熱を装置の外部に排出する排出手段と、を設
    けたことを特徴とする露光装置。
  2. 【請求項2】 請求項1記載の露光装置であって、ベー
    ス部材と、該ベース部材上に設置された駆動モータによ
    り駆動され、前記感光基板が載置される載物台とを有
    し、前記発熱体は前記駆動モータであり、前記ヒートポ
    ンプを前記ベース部材上に設置したことを特徴とする露
    光装置。
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