JPH0829152A - 座標測定機の測定処理方法及びその装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 処理能力の小さい計算機１台で安価に構成で
きるとともに、プローブ経路プログラム作成の指示が容
易で作成時間が短く、さらに、測定結果をＣＡＤ図面に
書込むことが容易な座標測定機の測定処理方法及びその
装置を提供する。 【構成】 ＣＡＤ図面を用いてワークの１つの測定対象
ごとにプローブ経路プログラムを作成し、作成されたプ
ローブ経路プログラムによって座標測定機でワークの１
つの測定対象ごとに自動的に測定し、その測定結果をＣ
ＡＤ図面の指定された位置に自動的に書き込む。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は被測定物（以下、「ワー
ク」という）のＣＡＤ図面を用いて座標測定機のプロー
ブ経路プログラムを作成し、作成されたプローブ経路プ
ログラムによって、座標測定機でワークを自動的に測定
する座標測定機の測定処理方法及びその装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】座標測定機ではプローブを二次元（互い
に直交する２軸方向）や三次元（互いに直交する３軸方
向）に移動自在に支持するとともにプローブの座標位置
を検出する位置検出手段を各軸に備え、ワークの測定対
象の測定位置にプローブを当接したときのプローブ座標
位置のデータ（測定データ）を演算することによって、
ワークの寸法を算出する。この場合、プローブに光学式
等の非接触式のものを用いてワークの平面上の寸法を測
定するだけであれば二次元座標測定機でもよいが、一般
的にはワークの立体的な寸法を測定する必要が多いので
三次元座標測定機が採用される。また、三次元座標測定
機のプローブ取付軸を回転自在にしたり、ワークの取付
部の位置や姿勢を調整できるようにしたものを「多次元
座標測定機」と呼ぶ例もあるが、本明細書ではこれらも
含めて「座標測定機」という。

【０００３】座標測定機は操作方法によって、作業者が
プローブの近傍を手で持って操作する手動座標測定機、
作業者がジョイスティックを操作することによって動く
ジョイスティック座標測定機、計算機により制御されて
自動的に動く自動座標測定機（一般的にはＣＮＣ座標測
定機と呼ばれている）に区分される。

【０００４】その中で自動座標測定機は測定能率の向上
や省人化が図られ、さらに測定精度が優れていること等
から急速に増加しているが、自動座標測定機でワークを
測定するためにはプローブを自動的に操作するプログラ
ム（プローブ経路プログラム）を作成する必要がある。
この場合、多くの例では作業者がジョイスティック（通
常、自動座標測定機はジョイスティック操作ができるよ
うになっている）でプローブを操作してワークを測定
し、その動きを計算機に記憶させることによってプロー
ブ経路プログラムを作成する。

【０００５】しかし、ジョイスティック操作によってワ
ーク測定しプローブ経路プログラムを作成するには、多
くの時間を必要とし座標測定機が占有されるのでその間
ワーク測定ができない。座標測定機のうち特に自動座標
測定機は測定能率の向上や省人化のために設備されるこ
とが多く、そのような場合はできるだけワーク測定に使
用したい。また、ジョイスティック操作によってワーク
測定するのは作業者にとって負担の大きい作業である。
そこで、座標測定機を使用せずワークのＣＡＤ図面を利
用してプローブ経路プログラムを作成する方法が採用さ
れてきている。

【０００６】なお、座標測定機は予め設定した測定座標
系（三次元座標測定機では原点と互いに直交するＸ・Ｙ
・Ｚの３基準軸で構成される空間座標系）における測定
点を演算してワークの三次元寸法を算出する。測定座標
系は三次元座標測定機が持っている機械座標系そのもの
を使用する方法もあるが、ワークの姿勢を機械座標系に
厳密に合わせる必要があり作業能率がよくないため、通
常はワークを任意の姿勢にセットしワーク上に測定座標
系を設定する。

【０００７】座標測定機を使用しないでプローブ経路プ
ログラムを作成し、作成されたプローブ経路プログラム
によって座標測定機でワークを測定する場合の、従来の
測定処理装置例のブロック図を図６に示す。図６に示す
従来の測定処理装置は、測定制御／データ演算装置８０
と図面処理装置９０から構成されている。この場合の座
標測定機１１は自動測定が可能な座標測定機で、プロー
ブを二次元や三次元に移動自在に支持する構造を持ち、
自動駆動手段、プローブ座標位置検出手段等が内蔵され
ている。プローブはワークに当接した瞬間に信号が発生
する電子プローブである。

【０００８】測定制御／データ演算装置８０は、座標測
定機１１の測定動作を制御する測定制御部８１、測定さ
れた測定データを演算し測定結果を出力する測定データ
演算部８２、作業者が測定指示操作をする入力部８３、
測定結果を表示する表示部８４から主として構成されて
いるが、図面処理装置９０からのデータを受信するため
にデータを変換するデータ変換部８５及び図面処理装置
９０へデータを送信するためにデータを変換するデータ
変換部８６が備えられている。

【０００９】また、図面処理装置９０はＣＡＤ図面を記
憶する図面記憶部９１、プローブ経路作成プログラムを
作成するとともに作成されたプローブ経路の干渉をチェ
ックするプローブ経路作成部９２、測定結果の処理をす
る測定結果処理部９３、作業者が各種の指示操作をする
入力部９４、ＣＡＤ図面を表示するとともに測定結果の
処理結果を表示する表示部９５から主として構成されて
いるが、測定制御／データ演算装置８０からのデータを
受信するためにデータを変換するデータ変換部９６が備
えられている。なお、測定制御／データ演算装置８０へ
送信するデータはプローブ経路作成部９２でプローブ経
路作成プログラムを作成するときに変換されるのでそれ
用のデータ変換部は必要ない。

【００１０】図７・図８・図９に従来の座標測定機の測
定処理方法のフローチャートを示す。図７はプローブ経
路プログラム作成、図８は測定、図９は測定結果処理の
フローチャートである。

【００１１】図７において、作業者が図面記憶部９１に
記憶されたＣＡＤ図面の中から該当する図面を入力部９
４から指示すると（ステップ１０１）、表示部９５に該
当する図面が表示される（ステップ１０２）。表示され
た図面を見ながら作業者が該当する投影図の測定座標系
を指示する（ステップ１０３）とともに、すべての測定
対象の測定内容を入力部９４から指示すると（ステップ
１０４）、プローブ経路作成部９２ですべての測定対象
のプローブ経路プログラムが作成されるとともに（ステ
ップ１０５）、作成されたプローブ経路の干渉がチェツ
クされ（ステップ１０６）、干渉チェツクの結果が表示
部９５に表示される（ステップ１０７）。 作業者は、
表示部９５に表示された内容を見て干渉箇所がないかど
うか確認し（ステップ１０８）、干渉箇所がある場合は
入力部９４から干渉部分を修正する（ステップ１０
９）。こうして、すべてのプローブ経路プログラムの作
成が完了する。

【００１２】図８において、作業者がワークの測定座標
系を設定した（ステップ１１１）後、図面処理装置９０
で作成されたプローブ経路プログラムの取り込みを作業
者が入力部８３から指示すると（ステップ１１２）、図
面処理装置９０で作成されたプローブ経路プログラムが
データ変換部８５によって変換された後、測定制御部８
１に入力される（ステップ１１３）。次に、作業者が入
力部８３から測定を指示すると（ステップ１１４）、入
力されたプローブ経路プログラムによって座標測定機１
１でワークが測定され（ステップ１１５）、測定データ
演算部８２で測定データが演算されて測定結果が表示部
８４に表示される（ステップ１１６）。

【００１３】図９において、測定制御／データ演算装置
８０から出力された測定結果の取り込みを作業者が入力
部９４から指示すると（ステップ１２１）、ワークの測
定結果がデータ変換部９６によって変換された後、測定
結果処理部９３に入力される（ステップ１２２）。次
に、作業者が入力部９４から測定結果処理内容を指示す
ると（ステップ１２３）、指示された内容に従って測定
結果が処理され（ステップ１２４）、処理された測定結
果が表示部９５に表示されるとともに、図面記憶部９１
に記憶される（ステップ１２５）。

【００１４】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな従来の測定処理装置は次の問題がある。 （イ）座標測定機を使用しないでプローブ経路プログラ
ムを作成する方法であるので、座標測定機で使用されて
いる計算機とは別に専用の計算機が必要であり、測定処
理装置として２台の計算機が必要となる。したがって、
測定処理装置が高価になる。 （ロ）座標測定機を使用しないでプローブ経路プログラ
ムを作成するのでプローブ経路の干渉チェックを計算機
内で行う必要があり、また、一度に多くのプローブ経路
プログラムを作成するので、処理能力の大きい計算機が
必要であり、測定処理装置が高価になる。 （ハ）処理能力の大きい計算機を用いたとしてもプロー
ブ経路の干渉チェックに多くの時間がかかる。 （ニ）プローブ経路プログラムの作成の指示操作はＣＡ
Ｄ図面のみを見ながら行うので、指示ミスを起こしやす
い。 （ホ）プローブ経路プログラムの作成に多くの時間を要
するので、少数生産のワークのように同一内容の測定回
数の少ない場合や、ワークの一部を測定する場合等には
作業効率が悪い。 （ヘ）測定結果をＣＡＤ図面に書込む場合は、多くの測
定結果の中から該当する内容を作業者が一つずつ判断し
て処理しなければならず、測定結果をＣＡＤ図面へ書込
む作業に多くの時間がかかる。 （ト）一般的に、測定制御／データ演算装置８０の計算
機で用いるデータ形式と図面処理装置９０の計算機で用
いるデータ形式とが異なるため、データを送受信するた
めにはデータの変換が必要であり、そのためのプログラ
ムの開発が必要となる。

【００１５】本発明はこのような事情を鑑みてなされた
もので、処理能力の小さい計算機１台で安価に構成でき
るとともに、プローブ経路プログラム作成の指示が容易
で作成時間が短く、さらに、測定結果をＣＡＤ図面に書
込むことが容易な座標測定機の測定処理方法及びその装
置を提供することを目的とする。

【００１６】

【課題を解決するための手段】本発明は、前記目的を達
成するために、ワークのＣＡＤ図面を用いて座標測定機
のプローブ経路プログラムを作成し、作成されたプロー
ブ経路プログラムを用いて、座標測定機でワークを自動
的に測定する座標測定機の測定処理方法を、ワークの１
つの測定対象ごとにプローブ経路プログラムを作成し
て、作成されたプローブ経路プログラムによって１つの
測定対象ごとに測定し、その測定結果をＣＡＤ図面の指
定された位置に自動的に書き込むようにした。

【００１７】また、本発明は、ワークのＣＡＤ図面を用
いて座標測定機のプローブ経路プログラムを作成し、作
成されたプローブ経路プログラムによって、座標測定機
でワークを自動的に測定する座標測定機の測定処理方法
を、 （イ）ワークのＣＡＤ図面の中から、１つの測定対象に
ついてプローブ経路プログラムの作成を作業者が指示す
る。 （ニ）指示された内容に従って１つの測定対象について
プローブ経路プログラムが作成される。 （ホ）作業者が測定を指示する。 （ヘ）測定が指示されると、作成されたプローブ経路プ
ログラムによってワークの１つの測定対象が測定され、
測定データが演算されて測定結果が出力される。 （ト）測定結果のＣＡＤ図面への書込み位置を作業者が
指示する。 （チ）測定結果がＣＡＤ図面の指定された位置に自動的
に書込まれる。以上のようにした。

【００１８】また、本発明は、ワークのＣＡＤ図面を用
いて座標測定機のプローブ経路プログラムを作成し、作
成されたプローブ経路プログラムによって、座標測定機
でワークを自動的に測定する座標測定機の測定処理装置
を、（イ）ワークのＣＡＤ図面を記憶する図面記憶部１
６と、（ロ）作業者が、プローブ経路プログラムの作成
を指示するとともに、座標測定機１１による測定を指示
し、さらに測定結果の書込み位置を指示する入力部１７
と、（ハ）ワークのＣＡＤ図面を用いて入力部１７から
入力された指示内容に従ってプローブ経路プログラムを
作成するプローブ経路作成部１４と、（ニ）作成された
プローブ経路プログラムによって座標測定機１１の測定
動作を制御する測定制御部１２と、（ホ）座標測定機１
１で測定された測定データを演算し測定結果を出力する
測定データ演算部１３と、（ヘ）入力部１７から入力さ
れた指示内容に従って測定結果をＣＡＤ図面に書込む測
定結果書込み部１５と、（ト）ワークのＣＡＤ図面を表
示するとともに、測定結果を表示する表示部１８と、か
ら構成した。

【００１９】また、測定処理装置のプローブ経路作成部
１４、測定制御部１２、測定データ演算部１３、及び測
定結果書込み部１５を１台の計算機で構成した。

【００２０】

【作用】本発明によれば、作業者が図面記憶部１６に記
憶されたＣＡＤ図面の中から該当する図面を入力部１７
から指示すると、表示部１８に該当するＣＡＤ図面が表
示される。表示されたＣＡＤ図面の中から１つの測定対
象を作業者が入力部１７から指示すると、１つの測定対
象のプローブ経路プログラムがプローブ経路作成部１４
で作成され、表示部１８にプローブ経路が表示される。
作業者が、表示部１８に表示されプローブ経路を見て問
題がないかどうか確認し、問題がなければ入力部１７か
ら測定を指示する。測定が指示されると、作成されたプ
ローブ経路プログラムが測定制御部１２に入力され、プ
ローブ経路プログラムによって座標測定機１１でワーク
の１つの測定対象が測定される。ワークの１つの測定対
象が測定されると測定データ演算部１３で測定データが
演算されて測定結果が出力されるが、ワークが測定され
ている間に、作業者が入力部１７から測定結果の書込み
位置を指示すると、測定結果書込み部１５で測定結果が
ＣＡＤ図面の指定された位置に自動的に書込まれる。

【００２１】

【実施例】図１に本発明に係る測定処理装置の実施例の
ブロック図を示す。図１に示すように、本発明に係る測
定処理装置は、ワークのＣＡＤ図面を記憶する図面記憶
部１６、作業者が、プローブ経路プログラムの作成を指
示するとともに、座標測定機１１による測定を指示し、
さらに測定結果の書込み位置を指示する入力部１７、ワ
ークのＣＡＤ図面を用いて入力部１７から入力された指
示内容に従ってプローブ経路プログラムを作成するプロ
ーブ経路作成部１４、作成されたプローブ経路プログラ
ムによって座標測定機１１の測定動作を制御する測定制
御部１２、座標測定機１１で測定された測定データを演
算し測定結果を出力する測定データ演算部１３、入力部
１７から入力された指示内容に従って測定結果をＣＡＤ
図面に書込む測定結果書込み部１５、ワークのＣＡＤ図
面を表示するとともに、測定結果を表示する表示部１８
から構成されている。

【００２２】この場合、測定制御部１２、測定データ演
算部１３、プローブ経路作成部１４、及び測定結果書込
み部１５は１つの計算機内に構成されている。したがっ
て、従来の技術で説明したものに比べて、データの流れ
は同様であるが計算機が１つでありデータの変換が不要
なのでデータ変換部がない。また、入力部１７と表示部
１８がそれぞれ１つであることはいうまでもない。な
お、座標測定機１１は従来の技術で説明したものと同じ
である。

【００２３】 図２及び図３に本発明に係る測定処理
方法の実施例のフローチャートを示す。図２が基本フロ
ーチャートで、図３が詳細フローチャートである。

【００２４】図２において、まず、ワークのＣＡＤ図面
の中から１つの測定対象についてプローブ経路プログラ
ムの作成を作業者が指示すると（ステップ４１）、指示
された内容に従って１つの測定対象についてプローブ経
路プログラムが作成される（ステップ４２）。次に、作
業者が測定を指示すると（ステップ４３）、作成された
プローブ経路プログラムによってワークの１つの測定対
象が測定され測定データが演算されて測定結果が出力さ
れる（ステップ４４）が、測定中に作業者が測定結果の
書込み位置を指示しておくと（ステップ４５）と、測定
結果がＣＡＤ図面の指示された位置に自動的に書込まれ
る（ステップ４６）。

【００２５】図３において、作業者がワークの測定座標
系を設定した（ステップ５１）後、図面記憶部１６に記
憶されたＣＡＤ図面の中から該当する図面を入力部１７
から指示すると（ステップ５２）、表示部１８に該当す
る図面が表示される（ステップ５３）。表示された図面
を見ながら作業者がＣＡＤ図面の中から該当する投影図
の測定座標系を入力部１７から指示すると（ステップ５
５）、プローブ経路作成部１４で該当する投影図の測定
座標系が設定される（ステップ５６）。次に、測定座標
系が設定された投影図に表示されている部分の中から１
つの測定対象を作業者が入力部１７から指示すると（ス
テップ５８）、１つの測定対象のプローブ経路プログラ
ムがプローブ経路作成部１４で作成され（ステップ５
９）、表示部１８にプローブ経路が表示される（ステッ
プ６０）。作業者が、表示部１８に表示されたプローブ
経路を見て問題がないかどうか確認し（ステップ６
１）、問題がなければ入力部１７から測定を指示する
（ステップ６３）。

【００２６】測定が指示されると、作成されたプローブ
経路プログラムが測定制御部１２に送られ、プローブ経
路プログラムによって座標測定機１１でワークの１つの
測定対象が測定される（ステップ６４）。ワークの１つ
の測定対象が測定されると測定データ演算部１３で測定
データが演算されて測定結果が出力されるが、ワークが
測定されている間に、作業者が入力部１７から測定結果
の書込み位置を指示しておくと（ステップ６５）、測定
結果書込み部１５で測定結果がＣＡＤ図面の指示された
位置に自動的に書込まれる（ステップ６６）。

【００２７】 さらに、作業者がすべての測定対象の
測定が完了したかどうか判断し（ステップ６７）、完了
していなければ、ステップ５４（新たな投影図の測定座
標系設定が必要な場合）またはステップ５７（新たな投
影図の測定座標系設定が不要な場合）へ戻って同様に進
める。なお、ステップ６１で作業者が、表示部１８に表
示されプローブ経路を見て問題があると判断した場合は
入力部１７から不具合箇所を修正する（ステップ６
２）。

【００２８】 なお、ワークの多数の測定対象を連続
して測定する場合は、１つの測定対象ごとに作成したプ
ローブ経路プログラムを計算機に記憶しておいてそれを
つなぎ合わせたプログラムを作成すればよい。

【００２９】 次に具体的なプローブ経路プログラム
作成の指示方法（測定座標系の指示及び測定対象の指
示）の例を説明する。図４は測定座標系の指示方法を説
明するための図で、右下に示された形状のワークの、平
面図（左上）、正面図（左下）、傾斜面（右上）が表さ
れている。図５は測定対象の指示方法を説明するための
図で、平面図（上）と正面図（下）のみが表されてい
る。

【００３０】 始めに、穴１０ｄの内径を測定する例
について説明する。まず、投影図の測定座標系を次の順
に指示して設定する。 （イ）測定対象の測定方向の形状が表示されている投影
図を指示する。投影図の指示は、投影図を枠で囲むとと
もに、その投影図の名称を指定する。この例では、穴１
０ｄの測定方向の形状（円）が表示されている投影図は
平面図であるので、平面図を枠２１で囲み、「ＸＹ平
面」と指定している。 （ロ）投影図の座標軸を設定する。１つ目の点を指示す
るとその点が原点に設定され、２つ目の点を指示する
と、ＸＹ平面では１つ目の点と２つ目の点を結ぶ方向が
Ｘ軸に設定されるとともに、１つ目の点（原点）を通り
Ｘ軸に垂直な方向がＹ軸に設定される。この例では１つ
目に点２２を、２つ目に面（投影上は線）１０ｃ上の任
意の点２３を指示している。 （ハ）投影図の高さを設定する。投影図の高さを入力す
ると、ワークの最上面１０ｂの高さが、あらかじめ設定
されたＸＹ平面の基準位置（Ｚ軸座標０）からの高さと
して設定される。この例であらかじめ設定されたＸＹ平
面の基準位置がワークの下面１０ａであったと仮定した
場合、投影図の高さを「１５０」と入力すると、ワーク
の最大高さが「１５０」であるから投影図の高さは「１
５０」に設定される。

【００３１】 投影図の測定座標系が設定されると、
測定対象の指示作業に入るが、まず、測定条件の初期値
を入力しておく。これは、各測定対象に共通する測定条
件をあらかじめ入力しておくことによって、個々の測定
対象の指示作業を簡単にするためのもので、次のような
項目を入力する。 （イ）プローブ逃げ量を指示する。これには測定前と測
定後におけるプローブ接触子（プローブの中でワークに
当接する部分）の投影図の高さからの距離（例えば図５
でＡ）と、プローブ接触子が測定位置に当接した後に測
定位置から離れる量（例えば図５でＣ）の２つがある。 （ロ）測定高さを指示する。これは投影図の高さから測
定位置までの距離で、例えば図５のＢである。 （ハ）測定点数を入力する。 （ニ）測定断面数を入力する。これは平面・円筒等の場
合に適用される。 （ホ）測定範囲を指示する。これは線や円弧等の測定範
囲で、線や円弧等の長さに対する比率を入力する。 （ヘ）測定方向を指示する。これは投影形状が円の場合
に穴か軸か等を指示するもので、ワークによって多い方
を指示しておく。この例では内側に指示したと仮定して
説明する。なお、入力した測定条件の初期値で都合が悪
い場合は、個々のプローブ経路確認時に修正する。

【００３２】次に、測定対象を次の順に指示する。 （イ）入力部１７から測定項目の指示を行う。この例で
は「円測定」を入力する。 （ロ）穴１０ａの円の一部（この例では図５に示す点３
１）を指示する。

【００３３】以上で、プローブ経路プログラム作成のた
めの指示が完了したので、プローブ経路作成部１４では
次のようにプローブ経路プログラムが作成される。 （イ）プローブ接触子を指示された測定前の位置に移動
する。この例ではＸＹ座標が穴１０ｄの中心、Ｚ座標が
「１５０＋Ａ」（図５で３２の位置）となる。 （ロ）プローブ接触子を指示された測定高さに移動す
る。この例ではＺ座標が「１５０−Ｂ」の位置。 （ハ）プローブの接触子をＸＹ方向に穴１０ｄに当接す
る距離だけ移動する。この例では測定点数を４点として
いるので、例えば図５に示したような矢印の方向に移動
し、４点目の測定が終了すると穴１０ｄの中心付近を経
由して測定前の位置３２へ戻る。

【００３４】 なお、穴１０ｄを円筒として測定する
場合は、測定項目を「円筒測定」と入力し、穴１０ａの
円の一部を指示すればよい。入力されている測定断面数
の数だけ穴１０ｄが測定される。

【００３５】 次に、側面１０ｅを測定する（面１０
ｃに対する直角度等）場合の例を説明する。この場合も
測定対象の測定方向の形状が表示されている投影図は平
面図であるので、前述した例の穴１０ｄの後に測定する
と仮定すると、測定座標系の設定は改めて行う必要がな
い。すぐに、測定対象の指示を行う。 （イ）入力部１７から測定項目として「端面測定」を入
力する。 （ロ）面（投影上は線）１０ｅの一部（この例では図５
に示す点３３）を指示する。 （ハ）測定するワークの方向が指示された面１０ｅの左
側か右側かを指示する。この例では右側にあるので右側
を指示する。

【００３６】以上で、プローブ経路プログラム作成のた
めの指示が完了したので、プローブ経路作成部１４では
次のようにプローブ経路プログラムが作成される。 （イ）プローブ接触子を指示された測定前の位置に移動
する。この例ではＸ座標が「−Ｃ」、Ｚ座標が「１５０
＋Ａ」（図５で３４の位置）となる。 （ロ）プローブ接触子をＹ方向に面１０ｅに当接する距
離移動する。この例では測定点数を４点としているの
で、例えば図５に示したような矢印の方向に移動し、４
点目の測定が終了すると４点目から離れた後、測定前の
高さ（Ｚ座標が「１５０＋Ａ」）に戻って停止する。

【００３７】 なお、面１０ｅの平面度を測定する場
合は、測定項目を「平面測定」と入力し、面（投影上は
線）１０ｅの一部を指示すればよい。入力された測定断
面数の数だけ面１０ｅのＺ方向の位置が測定される。

【００３８】また、穴１０ｆのように測定対象の測定方
向の形状が正面図に表示されている部分を測定する場合
は、正面図の測定座標系を設定した後、測定指示する。
この例では、正面図を枠２４で囲んで「ＸＺ平面」と指
定し、１つ目の点として点２５を、２つ目の点として面
（投影上は線）１０ａ上の任意の点２６を指示している
ので、点２５が原点、点２５と点２６を結ぶ方向がＸ軸
に設定されるとともに、点２５を通りＸ軸に垂直な方向
がＺ軸に設定される。さらに、あらかじめ設定されたＸ
Ｚ平面の基準位置からの距離を入力すると、正面図のＹ
方向の位置が設定される。穴１０ｆの測定については穴
１０ｄと同様であるので説明は省略する。

【００３９】 また、傾斜面１０ｈの測定座標系を設
定する方法を説明する。 （イ）入力部１７から「傾斜面設定」を入力する。 （ロ）傾斜面上にある３点の座標値を入力する。 この例の場合は傾斜面１０ｈは三角形であるので点２７
・点２８・点２９各々の座標値を指示する。ただし、３
点の座標値を１つの平面座標で表すことはできないの
で、傾斜面の測定座標系を設定するためには事前に２つ
の投影図の測定座標系を設定しておくことが必要であ
る。

【００４０】 なお、実施例のブロック図で説明した
ように、本発明に係る測定処理装置は測定制御部１２、
測定データ演算部１３、プローブ経路作成部１４、測定
結果書込み部１５は１つの計算機内に構成されている
が、この場合、装置を動かすプログラムの構成としては
２つの方法がある。第一は１本のプログラムで装置全体
を動かす方法。第二は測定制御部１２と測定データ演算
部１３を１つのプログラムで動かし、プローブ経路作成
部１４と測定結果書込み部１５を別のプログラムで動か
すとともに、２つのプログラムを通信プログラムで接続
する方法である。この中で、第二の方法は各々既存のプ
ログラムを改良して用いることが可能であるので装置を
短い期間で開発しやすい。この場合、２つのプログラム
のＯＳ（オペレーティングシステム）が同じものを用い
ればデータの変換は必要ない。もちろん、従来の測定処
理装置のように、２台の計算機を用いて例えば測定制御
部１２と測定データ演算部１３を１つの計算機に載せ、
プローブ経路作成部１４と測定結果書込み部１５を別の
計算機に載せることもできる。

【００４１】 また、プローブ経路プログラム作成の
指示方法は実施例で説明した方法に限定されず、他の方
法でも本発明は適用できる。

【００４２】

【発明の効果】以上説明したように、本発明に係る座標
測定機の測定処理方法及びその装置によれば、ＣＡＤ図
面を用いてワークの１つの測定対象ごとにプローブ経路
プログラムを作成し、作成されたプローブ経路プログラ
ムによって座標測定機でワークの１つの測定対象ごとに
自動的に測定し、その測定結果をＣＡＤ図面の指定され
た位置に自動的に書き込むようにした。

【００４３】 この場合、作業者は測定座標系の指示
や測定対象の指示をワークとプローブの位置を見ながら
できるとともに、１つの測定対象ごとに行うので、操作
が容易で指示ミスが発生しにくい。このため、プローブ
経路の干渉が起きることも極めて少なくなり、例えプロ
グラム上で干渉が発生したとしても、表示部１８で容易
にチェックでき、ワークを見ながら簡単に修正ができ
る。また、測定結果のＣＡＤ図面への書込みも１つの測
定対象ごとに行うので、指示が容易であり、書込み結果
もすぐに確認できる。さらに、一度に多くのプローブ経
路プログラムを作成する必要がなく、計算機によるプロ
ーブ経路干渉チェツクが不要であるので、処理能力の小
さい計算機で処理できる。

【００４４】したがって、処理能力の小さい計算機１台
で安価に構成できるとともに、プローブ経路プログラム
作成の指示が容易で作成時間が短く、さらに、測定結果
をＣＡＤ図面に書込むことが容易な座標測定機の測定処
理方法及びその装置を提供することができる。特に、少
数生産のワークのように同一内容の測定回数の少ない場
合や、ワークの一部を測定する場合等に有効である。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明に係る座標測定機の測定処理装置の実施
例のブロック図

【図２】本発明に係る座標測定機の測定処理方法の実施
例の基本フローチャート

【図３】本発明に係る座標測定機の測定処理方法の実施
例の詳細フローチャート

【図４】本発明に係る座標測定機の測定処理方法の測定
座標系設定の指示方法を説明するための図

【図５】本発明に係る座標測定機の測定処理方法の測定
対象の指示方法を説明するための図

【図６】従来の座標測定機の測定処理装置例のブロック
図

【図７】従来の座標測定機の測定処理方法例のプローブ
経路プログラム作成のフローチャート

【図８】従来の座標測定機の測定処理方法例の測定のフ
ローチャート

【図９】従来の座標測定機の測定処理方法例の測定結果
処理のフローチャート

【符号の説明】

１１……座標測定機 １２……測定制御部 １３……測定データ演算部 １４……プローブ経路作成部 １５……測定結果書込み部 １６……図面記憶部 １７……入力部 １８……表示部 ４１……プローブ経路作成指示ステップ ４２……プローブ経路作成ステップ ４３……測定指示ステップ ４４……測定ステップ ４５……書込み位置指示ステップ ４６……測定結果書込みステップ

Claims (4)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】被測定物のＣＡＤ図面を用いて座標測定機
   のプローブ経路プログラムを作成し、作成されたプロー
   ブ経路プログラムによって、座標測定機で被測定物を自
   動的に測定する座標測定機の測定処理方法において、 被測定物の１つの測定対象ごとにプローブ経路プログラ
   ムを作成して、作成されたプローブ経路プログラムによ
   って１つの測定対象ごとに自動的に測定し、その測定結
   果をＣＡＤ図面の指定された位置に自動的に書き込むこ
   とを特徴とする座標測定機の測定処理方法。
2. 【請求項２】被測定物のＣＡＤ図面を用いて座標測定機
   のプローブ経路プログラムを作成し、作成されたプロー
   ブ経路プログラムによって、座標測定機で被測定物を自
   動的に測定する座標測定機の測定処理方法において、 被測定物のＣＡＤ図面の中から、１つの測定対象につい
   てプローブ経路プログラムの作成を作業者が指示するプ
   ローブ経路作成指示ステップと、 指示された内容に従って１つの測定対象についてプロー
   ブ経路プログラムが作成されるプローブ経路作成ステッ
   プと、 作業者が測定を指示する測定指示ステップと、 測定が指示されると、作成された前記プローブ経路プロ
   グラムによって被測定物の１つの測定対象が測定され、
   測定データが演算されて測定結果が出力される測定ステ
   ップと、 前記測定結果のＣＡＤ図面への書込み位置を作業者が指
   示する書込み位置指示ステップと、 ＣＡＤ図面の指示された位置に前記測定結果が書込まれ
   る測定結果書込みステップと、 から成ることを特徴とする座標測定機の測定方法。
3. 【請求項３】被測定物のＣＡＤ図面を用いて座標測定機
   のプローブ経路プログラムを作成し、作成されたプロー
   ブ経路プログラムによって、座標測定機で被測定物を自
   動的に測定する座標測定機の測定処理装置において、 被測定物のＣＡＤ図面を記憶する図面記憶部と、 作業者が、前記プローブ経路プログラムの作成を指示す
   るとともに、前記座標測定機による測定を指示し、さら
   に測定結果のＣＡＤ図面への書込み位置を指示する入力
   部と、 被測定物の前記ＣＡＤ図面を用いて前記入力部から入力
   された指示内容に従って前記プローブ経路プログラムを
   作成するプローブ経路作成部と、 作成された前記プローブ経路プログラムによって前記座
   標測定機の測定動作を制御する測定制御部と、 前記座標測定機で測定された測定データを演算し前記測
   定結果を出力する測定データ演算部と、 前記入力部から入力された指示内容に従って前記測定結
   果を前記ＣＡＤ図面に書込む測定結果書込み部と、 被測定物の前記ＣＡＤ図面を表示するとともに、前記測
   定結果を表示する表示部と、 から構成されたことを特徴とする座標測定機の測定処理
   装置。
4. 【請求項４】前記プローブ経路作成部と前記測定制御部
   と前記測定データ演算部と前記測定結果書込み部とが１
   台の計算機で構成されたことを特徴とする請求項３に記
   載の座標測定機の測定処理装置。