JPH08274153A - 試料処理方法 - Google Patents

試料処理方法

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JPH08274153A
JPH08274153A JP8060546A JP6054696A JPH08274153A JP H08274153 A JPH08274153 A JP H08274153A JP 8060546 A JP8060546 A JP 8060546A JP 6054696 A JP6054696 A JP 6054696A JP H08274153 A JPH08274153 A JP H08274153A
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陽一 伊藤
Tsunehiko Tsubone
恒彦 坪根
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Abstract

(57)【要約】 【目的】ウエハ吸着の信頼性向上およびプラズマ処理特
性の悪影響のない試料処理を行う。 【構成】ウエハを静電吸着力により試料台に保持してプ
ラズマ処理する方法において、弾性部材をアース電位に
しウエハを試料台に配置して弾性部材にウエハを当接さ
せ、次に試料台に負電圧を印加してウエハを試料台に静
電吸着させ、ウエハの静電吸着後にウエハ裏面に伝熱ガ
スを導入し、ウエハが目標の温度まで冷却されたら弾性
部材を電気的にフローティング状態にし、プラズマを発
生させてプラズマ処理を実施し、プラズマ処理が終了し
たらプラズマの消滅および伝熱ガスの供給停止を行い、
弾性部材を再びアース電位にし、他方試料台に正電圧を
一定時間印加し、その後試料台への電圧印加を停止し、
試料台からウエハを搬送する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は静電吸着を利用した試料
処理方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来の装置として、例えば、特開昭62
−286249号公報に記載のように、絶縁層内部また
は絶縁層と基材との境界部に第1の電極を設け、さらに
絶縁層を貫通する第2の電極を絶縁層表面に露出または
表面から突出させ、この両電極間に電圧を印加してウエ
ハを吸着するものがある。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】上記従来技術はウエハ
吸着の信頼性について配慮されておらず、第2の電極を
露出させた場合には、ソリを生じていないウエハを吸着
するのには良いが、ソリを生じたウエハを吸着する場合
は、第2の電極がウエハと接触せずに吸着できない恐れ
がある。また、逆に第2の電極を突出させた場合は、ソ
リを生じたウエハを吸着するのには良いが、ソリを生じ
ていないウエハを吸着する場合は、第2の電極が邪魔を
してウエハと絶縁層とが完全に密着せずに吸着できない
恐れがある。さらに、エッチング処理中にウエハとアー
ス電位である第2の電極とが接触しているので、ウエハ
に入射するイオンに不均一な分布を生じ、エッチング特
性、特にエッチング速度の均一性に悪影響を及ぼす恐れ
がある。
【0004】本発明の目的は、ウエハ吸着の信頼性を向
上でき、かつ、プラズマ処理特性に悪影響を及ぼすこと
のない試料処理方法を提供することにある。
【0005】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、ウエハを静電吸着力により試料台に保持してプラズ
マ処理する試料処理方法において、弾性部材をアース電
位にしウエハを試料台に配置して弾性部材にウエハを当
接させ、次に試料台に負電圧を印加してウエハを試料台
に静電吸着させ、ウエハの静電吸着後にウエハ裏面に伝
熱ガスを導入し、ウエハが目標の温度まで冷却されたら
弾性部材を電気的にフローティング状態にし、プラズマ
を発生させてプラズマ処理を実施し、プラズマ処理が終
了したらプラズマの消滅および伝熱ガスの供給停止を行
い、弾性部材を再びアース電位にし、他方試料台に正電
圧を一定時間印加し、その後試料台への電圧印加を停止
し、試料台からウエハを搬送するようにしたものであ
る。
【0006】
【作用】アース電位に接続可能な弾性部材をウエハ裏面
に設け、弾性部材をアース電位にしウエハを試料台に配
置して弾性部材にウエハを当接させ、次に試料台に負電
圧を印加してウエハを試料台に静電吸着させる。これに
より、弾性部材はウエハの自重と静電吸着力とにより試
料台表面と同一レベルまで変形を生じ、ウエハのソリの
有無にかかわらず確実に弾性部材をウエハに接触させる
ことができ、ウエハ吸着の信頼性を向上できる。ウエハ
の静電吸着後にウエハ裏面に伝熱ガスを導入し、ウエハ
が目標の温度まで冷却されたら弾性部材を電気的にフロ
ーティング状態にし、プラズマを発生させてプラズマ処
理を実施する。これにより、プラズマ中のイオンがウエ
ハを局部的に流れることもなく、プラズマ処理特性に及
ぼす悪影響を防止できる。プラズマ処理が終了したらプ
ラズマの消滅および伝熱ガスの供給停止を行い、弾性部
材を再びアース電位にし、他方試料台に正電圧を一定時
間印加し、その後試料台への電圧印加を停止させる。こ
れにより、試料台からのウエハの取り外しが容易に行
え、ウエハを試料台から搬送できる。
【0007】
【実施例】以下、本発明の一実施例を図1ないし図4に
より説明する。この場合はプラズマ処理装置として、例
えば、有磁場マイクロ波装置に適用したものである。真
空室1の上部には、例えば、石英製の放電管2が設けて
あり、真空処理室を形成している。真空室1には、真空
処理室内にプラズマ処理、例えば、エッチング処理用の
処理ガスを供するガス供給源(図示省略)につながるガ
ス供給孔6が設けてあり、また、真空処理室内部を所定
圧力に減圧,排気する真空ポンプ9に圧力調整用のバル
ブ8を介してつながる排気口7が設けてある。
【0008】放電管2の外側には、放電管2を囲んで導
波管3が設けてあり、さらにその外側には放電管2内に
磁界を発生させるソレノイドコイル5が設けてある。導
波管3の端部にはマイクロ波を発するマグネトロン4が
設けてある。
【0009】真空室1の底部には、絶縁材10を介して
被処理物であるウエハ18を配置可能な試料台11が設
けてある。試料台11の上面には、絶縁膜17が、例え
ば、コーティングして設けてあり、ウエハ18は絶縁膜
17上に配置される。試料台11には、高周波電源およ
びローパスフィルタ28を介して直流電源22が接続し
てあり、試料台11に高周波電力および直流電圧を印加
可能になっている。直流電源22は切換スイッチ23に
よって正負の電圧に切換え可能となっている。
【0010】試料台11内には、冷媒流路12が設けて
あり、試料台11を冷却可能な冷媒を循環させる冷媒供
給装置13が接続してある。試料台11の中央部には、
ウエハ18の搬送時に用いる押上ピン14が設けてあ
り、押上ピン14は押上装置15に連結されている。試
料台11中央の押上ピン14が設けられた空間の隙間に
は、バルブ19およびマスフローコントローラ20を介
して伝熱ガスである、例えば、Heガスが供給可能にな
っており、ウエハ18の裏面に供給可能となっている。
また、該隙間にはバルブ21を介して真空ポンプ9につ
ながるHeガスの排気流路が設けてある。
【0011】さらに、試料台11の上部には、図2およ
び図3に詳述したように、試料台11の上面の凸部の外
側でウエハ18の裏面に対応する位置に弾性部材である
導電板バネ25が設けてあり、導電板バネ25はサセプ
タ24に支持されてネジ26で固定してある。導電板バ
ネ25にはリード線27が接続してあり、他端はローパ
スフィルタ28およびスイッチ29を介してアースに接
地してある。リード線27は、フィードスルー31およ
び32を通して真空室1外に出される。
【0012】直流電源装置22の切換スイッチ23とス
イッチ29は、制御装置30からの制御信号によって作
動可能に接続されている。制御装置30は、ウエハ18
を静電吸着する場合、切換スイッチ23を接点aに接続
し、負電圧を試料台11に印加し、スイッチ29をアー
スに接続する。制御装置30は、ウエハ18のプラズマ
処理中はスイッチ29を切って電気的にフローティング
状態にする。なお、場合によっては処理中もアースに接
続したままであっても良い。制御装置30は、ウエハ1
8を試料台11から外す場合、切換スイッチ23を接点
bに接続し、正電圧を試料台11に印加し、このとき
は、スイッチ29をアースに接続する。
【0013】このように構成された装置により、真空処
理室内にガス供給孔6から導入した処理ガスを、マグネ
トロン4によって発生させたマイクロ波電界とソレノイ
ドコイル5によって発生させた磁界との相互作用を利用
してプラズマ化し、また、高周波電源16によって高周
波電力を試料台11に印加して、ウエハ18に入射する
プラズマ中のイオンのエネルギを制御しながらウエハ1
8をエッチング処理する。
【0014】このとき、試料台11は冷媒供給装置13
によって冷媒流路12に供給される冷媒によって冷却さ
れる。これにより、ウエハ18裏面に供給されたHeガ
スを熱伝達媒体としてウエハ18が冷却される。このと
き、バルブ19は開で、バルブ21は閉である。
【0015】なお、ここで、ウエハ18が試料台11に
配置されて保持され、処理が行なわれた後、ウエハ18
を試料台11から外すまでの工程を図4により説明す
る。まず、スイッチ29によって導電板バネ25をアー
ス電位にし(これをステップ31に示す。)、この状態
で搬送装置によりウエハ18を試料台11上に配置する
(これをステップ32に示す)。なお、ウエハ18の配
置の詳しくは図示を省略した搬送手段によって真空処理
室内にウエハ18が搬入され、該搬入されたウエハ18
を押上ピン14が上昇することで受け取り、搬送手段が
逃げた後押上ピン14が下降してウエハ18を試料台1
1上に配置する。これにより、ウエハ18が試料台11
上に配置されると、ウエハ18裏面に導電板バネ25が
接触する。
【0016】次に、制御装置30によって切換スイッチ
23を操作し、直流電源装置22によって試料台11に
負電圧を印加し、ウエハ18を試料台11上に静電吸着
させる(これをステップ33に示す。)。この状態でバ
ルブ19を開いてHeガスをウエハ18裏面に導入する
(これをステップ34に示す。)。これにより、ウエハ
18の温度は試料台11の温度とほぼ同じ温度まで急激
に下がる。そして、ウエハ18が目標の温度まで冷却さ
れると(これをステップ35に示す。)、導電板バネ2
5をスイッチ29を切って電気的にフローティング状態
にし(これをステップ36に示す。)、プラズマを発生
させてエッチング処理を開始する(これをステップ37
に示す。) その後、エッチング処理が終了するとプラズマを消滅さ
せる(これをステップ38に示す。)。これとともにバ
ルブ19を閉めてHeガスを止め(これをステップ39
に示す。)、再びスイッチ29によって導電板バネ25
をアース電位にする(これをステップ40に示す。)。
そして、この状態で制御装置30によって切換スイッチ
23を操作し、直流電源装置22によって試料台11に
正電圧を一定時間印加する(これをステップ41に示
す。)。これにより、絶縁膜8に帯電している電荷を消
去し、ウエハ7の取りはずしを容易にする。そして、一
定時間たつと切換スイッチ23をフローティング状態に
し、直流電源装置22からの出力を0Vにし(これをス
テップ42に示す。)、バルブ21を開いて伝熱ガス供
給用の流路内を排気する(これをステップ43に示
す。)。
【0017】以上の動作により1回のエッチング処理が
終了し、搬送装置によりウエハ7を他のステーションに
搬送する(これをステップ44に示す。)。
【0018】以上、本一実施例によれば、ウエハ18が
試料台11に配置されることにより、ウエハ18裏面で
導電板バネ25がウエハ18に当接し、導電板25はウ
エハ18の自重または、静電吸着力によってウエハ18
に押されてたわみ、ウエハ18が試料台11に確実に吸
着保持される。これにより、ウエハ吸着の信頼性が向上
する。また、プラズマ処理中は、スイッチ29を電気的
フローティング状態にして、ウエハ処理を行なうので、
プラズマ中のイオンがウエハ18を局部的に流れること
はなく、プラズマ処理特性に悪影響を及ぼすことがな
い。また、ウエハの取り外し時には、試料台11に正電
圧を印加できるので、ウエハ18の取り外しが簡単に行
なえる。また、導電板バネ25はサセプタ24とウエハ
18とによって覆われており、ウエハ18裏面から漏れ
るHeガスによって保護され、プラズマが導電板バネ2
5部に入り込むことがないので、導電板バネに損傷を与
えることはない。
【0019】次に、本発明の他の実施例を図5および図
6により説明する。本図において前記図1ないし図3と
同符号は同一部材を示し説明を省略する。本図が図1お
よび図2と異なる点は、導電板バネ25を押上ピン14
の上端部に設けた点である。この場合、リード線27は
押上ピン14の内部を通って真空室1外に出る。
【0020】上記のように構成された装置では、前記一
実施例と同様なステップで処理される。これにより、前
記一実施例と同様な効果を得ることができる。また、本
実施例では、導電板バネ25を押上ピン14部に設けて
いるので、試料台の構成が簡単になるという効果があ
る。なお、本実施例では弾性部材を導電板バネとした
が、板バネまたはコイルばね等の弾性部材の先端に導電
材を設けるようにしても良い。
【0021】
【発明の効果】本発明によれば、ウエハ吸着の信頼性を
向上でき、しかもプラズマ処理特性に悪影響を及ぼすこ
とを防ぐことができるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施例であるプラズマ処理装置
を示す構成図である。
【図2】図1の導電板バネ部詳細断面図である。
【図3】図2をAから見た平面図である。
【図4】図1の装置を用いて本発明を実施するステップ
図である。
【図5】本発明の第2の実施例であるプラズマ処理装置
を示す構成図である。
【図6】図5の導板バネ部の詳細断面図である。
【符号の説明】
2…放電管、4…マグネトロン、5…ソレノイドコイ
ル、11…試料台、14…押上ピン、17…絶縁膜、1
8…ウエハ、22…直流電源装置、23…切換スイッ
チ、25…導電板バネ、29…スイッチ、30…制御装
置。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】ウエハを静電吸着力により試料台に保持し
    てプラズマ処理する試料処理方法において、弾性部材を
    アース電位にしウエハを前記試料台に配置して前記弾性
    部材に前記ウエハを当接させ、次に前記試料台に負電圧
    を印加して前記ウエハを前記試料台に静電吸着させ、前
    記ウエハの静電吸着後に前記ウエハ裏面に伝熱ガスを導
    入し、前記ウエハが目標の温度まで冷却されたら前記弾
    性部材を電気的にフローティング状態にし、プラズマを
    発生させてプラズマ処理を実施し、前記プラズマ処理が
    終了したら前記プラズマの消滅および伝熱ガスの供給停
    止を行い、前記弾性部材を再びアース電位にし、他方前
    記試料台に正電圧を一定時間印加し、その後前記試料台
    への電圧印加を停止し、前記試料台から前記ウエハを搬
    送することを特徴とする試料処理方法。
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