JPH082626Y2 - 回路基板検査装置 - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この考案はＸ−Ｙユニットを有する回路基板検査装置
に関し、さらに詳しく言えば、そのプローブピンのピン
駆動手段に関するものである。

〔従来の技術〕

この種の回路基板検査装置は第４図に示されているよ
うに、例えば２つのＸ−Ｙユニット1A,1Bを備えてい
る。各ユニット1A,1Bは、Ｘ方向に配向された案内レー
ル２と、Ｙ方向に配向され同案内レール２に沿って例え
ばサーボモータなどにてＸ方向に往復的に駆動されるア
ーム３とを有し、各アーム３にはそれぞれ可動部４が同
アーム３に沿って上記と同じく例えばサーボモータなど
にてＹ方向に往復動し得るように取付けられている。第
５図に示されているように、可動部４には回路基板６の
測定部位に接触するプローブピン５が上下動可能に設け
られている。すなわち、プローブピン５は可動部４に対
して上下動可能とされた電気絶縁性のプローブホルダー
７に取付けられるのであるが、従来ではその駆動源とし
てエアシリンダ８が用いられており、プローブホルダー
７はそのプランジャ8aに保持されている。なお、９は可
動部４に設けられたエアシリンダ８用の取付部である。

〔考案が解決しようとする課題〕

この装置によれば、例えば一対のプローブピン５を回
路基板６の任意の測定ポイントへ動かすことができるた
め、被検査回路基板ごとにそれ専用のピンボードを作ら
なくてよいという点では便利である。しかしながら、エ
アシリンダ８を作動させてプローブピン５を上下させる
にあたって、そのエアシリンダ８の移動量がそのままプ
ローブピン５の移動量となるため、高速性に欠けるとい
う問題がある。また、エアシリンダの場合そのストロー
クは一定であるため、検査の途中などでプローブピン５
の移動ストローク量を変えて測定する必要があるときに
は（例えば表面実装基板で高さの異なる部品が実装され
ているいる場合など）、別途に強制ストッパーなどを用
いてその移動ストロークを制限しなければならないな
ど、簡単にはその移動ストロークを変更することは困難
である。

〔課題を解決するための手段〕

上記課題を解決するため、この考案においては、被検
査回路基板と平行な平面に沿ってＸ−Ｙ方向に移動する
可動部を有し、同可動部に被検査回路基板の測定部位に
電気的に接触するプローブピンをピン駆動手段を介して
進退動可能に設けてなる回路基板検査装置において、ピ
ン駆動手段はモータと、同モータの出力軸に取付けられ
たクランクと、連結棒を介してクランクに連結され所定
のガイド手段に沿って直線的に往復動するプローブホル
ダとを有し、プローブピンをプローブホルダに取付け、
モータの回転運動をクランクおよび連結軸を介してプロ
ーブホルダに直線運動として伝達させることにより、プ
ローブピンを被検査回路基板の測定部位に電気的に接触
させる構成としている。この場合、好ましくはモータに
関連してその回転角を検出する回転角検出手段を備えて
いるとよい。

〔作用〕

上記構成によれば、モータの回転角を制御することに
より、プローブピンの移動ストロークを簡単に変更する
ことができる。

〔実施例〕

以下、この考案の実施例を第１図ないし第３図を参照
しながら詳細に説明する。

第１図および第２図にはこの回路基板検査装置のピン
駆動手段10が示されている。これによると、同ピン駆動
手段10は、先に説明した可動部４側に例えばネジなどに
より固定される基板11を備えている。なお、11aは基板1
1に着脱自在に被せられるカバーで、第１図にはそのカ
バー11aを取り外した状態の平面図が示されている。こ
の基板11にはステッピングモータ12が取付けられてい
る。この場合、ステッピングモータ12は両軸型であっ
て、その一方の出力軸12aにはクランクアーム13が取付
けられている。また、他方の出力軸12bには、同一円周
上に複数のスリットを等間隔で穿設してなる多孔円板14
が取付けられており、同円板14はこれに関連して配置さ
れているフォトインタラプタ15とともにステッピングモ
ータ12の回転角検出手段を構成している。

クランクアーム13には連結棒16を介してプローブホル
ダ17が連結されている。この実施例によると、プローブ
ホルダ17は基板11上を摺動するスライダー17aにネジ止
めされている。詳しくは図示されていないが、同スライ
ダー17aの底面側には基板11上に設けられているガイド
レール18と協働してプローブホルダ17を図示しない被測
定基板に対して直線的に摺動させるためのガイド溝が設
けられている。プローブホルダ17にはプローブピン19が
例えば適当なネジなどにより交換可能に取付けられる。
そして、このプローブピン19には図示しない測定部から
のリード線が接続される。

上記構成において、ステッピングモータ12の回転運動
はクランクアーム13および連結棒16により直線運動に変
換されてプローブホルダ17に伝達される。したがって、
ステッピングモータ12を所定の角度範囲内で往復的に回
転させることにより、プローブホルダ17が直線的に往復
動することになるが、この場合第３図に示されているよ
うに、クランクアーム13の長さをＲ、連結棒16の長さを
Ｌとすると、擬似的にプローブピン19の位置とみなせる
Ｘ座標の位置は、 で表わせる。このように、プローブピン19の移動量はニ
リアではなく、回転→直線の不均等変換運動となるた
め、プローブピン19を高トルクにて被測定部位に接触さ
せる場合に有利である。また、モータ12の回転角範囲θ
を変えることにより、プローブピン19の移動ストローク
を任意に調整することができる。例えば、通常の測定に
おいては、θ＝60°の位置をプローブピン19が最も被測
定基板から離れた原点位置とすれば、表面実装基板など
において検査面側に高さの高い部品がある場合などのと
きには、そのθを60°以上の角度に設定すればよい。こ
のような回転角度範囲θはフォトインタラプタ15にて検
出され、またその変更および制御はモータ12の運転プロ
グラムにより簡単に行うことができる。なお、ステッピ
ングモータ12に代えてサーボモータを使用する場合に
は、エンコーダなどにて回転角θを検出することにな
る。

〔考案の効果〕

以上説明したように、この考案によれば、モータの回
転運動をクランクおよび連結棒を介してプローブホルダ
に直線運動として伝達させるようにしたことにより、高
速にてかつ高いトルクをもってプローブピンを被測定部
位に接触させることができる。また、モータの回転角を
制御することにより、プローブピンの移動ストロークを
簡単に変更することができるなどの効果が奏される。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの考案による回路基板検査装置のプローブピ
ン駆動手段の一実施例に係る平面図、第２図は同実施例
の側面図、第３図は回転−直線運動変換系を説明するた
めの模式図、第４図は従来例を示した概略的な平面図、
第５図は同従来例の可動部を示した概略的な側面図であ
る。 図中、10はプローブピン駆動手段、11は基板、12はモー
タ、12a,12bは出力軸、13はクランクアーム、14は多孔
円板、15はフォトインタラプタ、16は連結棒、17はプロ
ーブホルダ、17aはスライダー、18はガイドレール、19
はプローブピンである。

Claims (2)

【実用新案登録請求の範囲】
1. 【請求項１】被検査回路基板と平行な平面に沿ってＸ−
   Ｙ方向に移動する可動部を有し、同可動部に上記被検査
   回路基板の測定部位に電気的に接触するプローブピンを
   ピン駆動手段を介して進退動可能に設けてなる回路基板
   検査装置において、 上記ピン駆動手段はモータと、同モータの出力軸に取付
   けられたクランクと、連結棒を介して上記クランクに連
   結され所定のガイド手段に沿って直線的に往復動するプ
   ローブホルダとを有し、上記プローブピンを上記プロー
   ブホルダに取付け、上記モータの回転運動を上記クラン
   クおよび連結軸を介して上記プローブホルダに直線運動
   として伝達させることにより、上記プローブピンを上記
   被検査回路基板の測定部位に電気的に接触させるように
   したことを特徴とする回路基板検査装置。
2. 【請求項２】上記モータに関連してその回転角を検出す
   る回転角検出手段を備えている請求項１に記載の回路基
   板検査装置。