JPH08235530A - Production of thin-film magnetic head device - Google Patents

Production of thin-film magnetic head device

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Publication number
JPH08235530A
JPH08235530A JP3541895A JP3541895A JPH08235530A JP H08235530 A JPH08235530 A JP H08235530A JP 3541895 A JP3541895 A JP 3541895A JP 3541895 A JP3541895 A JP 3541895A JP H08235530 A JPH08235530 A JP H08235530A
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JP
Japan
Prior art keywords
magnetic head
thin film
film magnetic
grinding
head device
Prior art date
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Withdrawn
Application number
JP3541895A
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Japanese (ja)
Inventor
Kenichiro Tsunewaki
謙一郎 常脇
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Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
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Publication date
Application filed by Sony Corp filed Critical Sony Corp
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Publication of JPH08235530A publication Critical patent/JPH08235530A/en
Withdrawn legal-status Critical Current

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Abstract

PURPOSE: To prevent the chipping of thin-film magnetic head elements in a grinding and cutting stage, to assure a cutting speed and to improve productiv ity. CONSTITUTION: After the plural thin-film magnetic head elements are formed on one main surface of a substrate, this substrate is cut to form a row bar 13 in which the plural thin-film magnetic head elements line up in one row in the track width direction of the magnetic gaps. Next, this low bar 13 is fixed to a jig 14 with the surface exclusive of the one main surface 13a formed with the thin-film magnetic head elements as an placing surface and thereafter, dummy bars 16 are arranged on the one main surface 13a formed with the thin-film magnetic head elements at the time of grinding and cutting the row bar 13 by a grinding wheel 26a in correspondence to the individual thin-film magnetic head elements.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、薄膜磁気ヘッド装置の
製造方法に関する。詳しくは、薄膜磁気ヘッド素子形成
面上にダミー部材を配することにより研削切断工程にお
ける薄膜磁気ヘッド素子のチッピングを防ぎ、研削速度
も確保し、生産性の向上を可能とする薄膜磁気ヘッド装
置の製造方法に係るものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method of manufacturing a thin film magnetic head device. More specifically, by arranging a dummy member on the thin film magnetic head element formation surface, chipping of the thin film magnetic head element in the grinding and cutting process is prevented, the grinding speed is secured, and the productivity of the thin film magnetic head device is improved. It relates to a manufacturing method.

【0002】[0002]

【従来の技術】例えば、ハードディスクに対して情報の
記録或いは再生を行うハードディスクドライブ等の磁気
記録再生装置に用いられる磁気ヘッド装置は、情報の記
録再生を行う磁気ヘッド素子をスライダーに搭載して構
成されるものである。
2. Description of the Related Art For example, a magnetic head device used in a magnetic recording / reproducing apparatus such as a hard disk drive for recording / reproducing information on / from a hard disk is constructed by mounting a magnetic head element for recording / reproducing information on a slider. It is what is done.

【0003】そして、上記スライダーは、記録再生を行
わない時にはハードディスク表面に接し、情報の記録再
生時にはハードディスクの回転によって発生する空気流
による上向きの揚力を受け浮上する。また、上記スライ
ダーは、起動動作直後,停止動作直後にハードディスク
と摺動することとなる。
The slider contacts the surface of the hard disk when recording / reproducing is not performed, and when the information is recorded / reproduced, the slider is lifted by an upward lift caused by an air flow generated by the rotation of the hard disk. Further, the slider will slide on the hard disk immediately after the start operation and immediately after the stop operation.

【0004】そこで、上記のようなスライダーにおいて
はハードディスク対向面に突状部や溝部を設けて、ハー
ドディスクとの摺動時間を短縮し、耐久性を向上させる
とともに、スライダーの受ける上向きの揚力を調整し、
スライダー浮上距離を調整するようにしている。
Therefore, in the slider as described above, a protrusion or a groove is provided on the surface facing the hard disk to shorten the sliding time with the hard disk, improve the durability, and adjust the upward lift force received by the slider. Then
The slider ascent distance is adjusted.

【0005】上記スライダーにおいては、例えばハード
ディスク対向面側にレール加工を行って断面略長方形の
突状部であるスライダーレールを突出形成し、スライダ
ーレールのハードディスク対向面をハードディスク表面
に発生する空気流を受ける面であるエア・ベアリング・
サーフェスとし、上記スライダーレール間に空気流が流
入するエアグルーブと称される溝部を設け、スライダー
浮上距離を調整している。なお、このような突状部や溝
部の形成は機械加工によって行われている。
In the above slider, for example, rail processing is performed on the hard disk facing surface side to project and form a slider rail which is a projecting portion having a substantially rectangular cross section, and the air flow generated on the hard disk surface is formed on the hard disk facing surface of the slider rail. The air bearing that is the receiving surface
As a surface, a groove portion called an air groove into which an air flow flows is provided between the slider rails to adjust the slider flying distance. The formation of such protrusions and grooves is performed by machining.

【0006】また、上記磁気ヘッド装置においては、磁
気ヘッド素子として薄膜磁気ヘッド素子が使用されるよ
うになってきている。なお、上記薄膜磁気ヘッド素子
は、磁気回路部を構成する磁性薄膜や導体コイルを蒸
着,スパッタリング等の真空薄膜形成技術、写真製版、
エッチング等の手法を用いて形成するものである。
In the above magnetic head device, a thin film magnetic head element has been used as a magnetic head element. The thin-film magnetic head element is a vacuum thin-film forming technique such as vapor deposition or sputtering of a magnetic thin film or a conductor coil forming a magnetic circuit section, photoengraving,
It is formed by using a method such as etching.

【0007】ところで、上記のような薄膜磁気ヘッド装
置は、例えば以下のような工程を経て製造される。すな
わち、先ず、スライダー構成材料よりなる基板上に、上
記のような手段で薄膜磁気ヘッド素子を形成し、いわゆ
るウエハーを形成する。次に、上記ウエハーを複数の薄
膜磁気ヘッド素子がこれらの磁気ギャップのトラック幅
方向に一列に並ぶようなブロックに切断し、いわゆるロ
ー・バーを形成する。このとき、切断線上の各種薄膜を
切断除去した後、ウエハーの切断を行っても良い。
The thin film magnetic head device as described above is manufactured through the following steps, for example. That is, first, the thin film magnetic head element is formed on the substrate made of the slider constituent material by the above-described means, and a so-called wafer is formed. Next, the wafer is cut into blocks in which a plurality of thin film magnetic head elements are arranged in a line in the track width direction of these magnetic gaps to form so-called row bars. At this time, the wafer may be cut after cutting and removing various thin films on the cutting line.

【0008】次に、上記ロー・バーを薄膜磁気ヘッド素
子形成面以外の面を載置面として治具に固定する。次い
で、上記ロー・バーの薄膜磁気ヘッド素子の磁気ギャッ
プの臨む面を研削して磁気ギャップのデプス長を概略規
制する。
Next, the row bar is fixed to a jig with a surface other than the thin film magnetic head element forming surface as a mounting surface. Next, the surface of the row bar thin film magnetic head element facing the magnetic gap is ground to roughly regulate the depth length of the magnetic gap.

【0009】次に、上記ロー・バーの薄膜磁気ヘッド素
子の磁気ギャップが臨む面であり、ハードディスク対向
面となる面に溝入れを行ってスライダーレールを形成す
る。
Next, a slider rail is formed by grooving the surface facing the hard disk, which is the surface facing the magnetic gap of the low-bar thin film magnetic head element.

【0010】次に、上記ロー・バーを個々の薄膜磁気ヘ
ッド素子に対応して研削により切断して、スライダーに
薄膜磁気ヘッド素子が搭載される複数の薄膜磁気ヘッド
装置を形成する。
Next, the row bar is cut by grinding corresponding to each thin film magnetic head element to form a plurality of thin film magnetic head devices in which the thin film magnetic head element is mounted on the slider.

【0011】さらに、上記複数の薄膜磁気ヘッド装置の
それぞれの磁気ギャップの臨む面を研磨して磁気ギャッ
プのデプス長を所定の長さに規制する。
Further, the surface of each of the plurality of thin film magnetic head devices facing the magnetic gap is polished to regulate the depth length of the magnetic gap to a predetermined length.

【0012】続いて、上記薄膜磁気ヘッド装置のスライ
ダーのスライダーレール端部にテーパー加工を施す。
Then, the slider rail end portion of the slider of the thin film magnetic head device is tapered.

【0013】次いで、上記薄膜磁気ヘッド装置のスライ
ダーのスライダーレール間に溝入れを行ってエアー・グ
ルーブを形成し、治具より取り外し、薄膜磁気ヘッド装
置を完成する。
Next, a groove is formed between the slider rails of the slider of the thin film magnetic head device to form an air groove, which is then removed from the jig to complete the thin film magnetic head device.

【0014】[0014]

【発明が解決しようとする課題】上記のようにして薄膜
磁気ヘッド装置を形成する場合、各種切断工程や各種溝
入れ工程を回転砥石を使用して機械的に行っている。
When the thin film magnetic head device is formed as described above, various cutting processes and various grooving processes are mechanically performed using a rotating grindstone.

【0015】しかしながら、上記回転砥石を使用した加
工時に被加工物の端部のチッピング(欠け)が生じ易
く、製造歩留りの低下を招いている。そして、上記のよ
うなチッピングは、ロー・バーを複数の薄膜磁気ヘッド
装置に切断する工程において特に発生し易い。
However, at the time of processing using the above-mentioned rotary grindstone, chipping (chipping) is likely to occur at the end of the workpiece, resulting in a reduction in manufacturing yield. The chipping as described above is particularly likely to occur in the step of cutting the row bar into a plurality of thin film magnetic head devices.

【0016】上記切断工程においては、ロー・バーを個
々の薄膜磁気ヘッド素子に対応して切断するために磁気
ギャップのギャップ長方向に研削して切断している。す
なわち、この工程においては、図19及び図20に示す
ように、回転砥石101の研削深さL2 をロー・バー1
02の磁気ギャップのデプス長方向の高さL1 よりも深
くする必要があり、研削加工時の抵抗は溝入れ工程時の
抵抗よりも大きなものとなる場合が多い。
In the above cutting step, the row bar is ground and cut in the gap length direction of the magnetic gap in order to cut the row bar corresponding to each thin film magnetic head element. That is, in this step, as shown in FIGS. 19 and 20, the grinding depth L 2 of the rotary grindstone 101 is set to the low bar 1
It is necessary to make it deeper than the height L 1 of the magnetic gap of No. 02 in the depth length direction, and the resistance during grinding is often greater than the resistance during the grooving process.

【0017】なお、上記切断工程においては、前述のよ
うに上記ロー・バー102は治具106上に載置されて
おり、上記治具106は上記ロー・バー102切断位置
に研削深さL2 を確保できる切断用逃げ溝107を有し
ている。
In the cutting step, the row bar 102 is placed on the jig 106 as described above, and the jig 106 is placed at the cutting position of the row bar 102 at the grinding depth L 2. Has a relief groove 107 for cutting.

【0018】また、上記回転砥石101はロー・バー1
02の薄膜磁気ヘッド素子103の形成される薄膜部分
104の膜厚方向の上面であり、通常保護膜が形成され
ている膜面104aに対して水平方向に侵入して切り込
むこととなる。
The rotary grindstone 101 is a low bar 1
No. 02 is the upper surface in the film thickness direction of the thin film portion 104 on which the thin film magnetic head element 103 is formed, and normally, the film surface 104a on which the protective film is formed is penetrated and cut in the horizontal direction.

【0019】このとき、上記薄膜部分104の膜面10
4aの回転砥石101と接する端部104b,104
c,104d,104eは研削開始部分にあたり、研削
抵抗が大きくかかる。
At this time, the film surface 10 of the thin film portion 104.
Ends 104b, 104 contacting the rotary grindstone 101 of 4a
C, 104d, and 104e correspond to the grinding start portion, and a large grinding resistance is applied.

【0020】さらにまた、上記回転砥石101は、ロー
・バー102の大部分を構成する基板105の構成材料
である例えばアルチック材(Al23 −TiC)等の
研削が困難な材料に適した研削性を有する砥石により構
成されている。
Further, the rotary grindstone 101 is suitable for a material which is difficult to grind such as an AlTiC material (Al 2 O 3 —TiC) which is a constituent material of the substrate 105 which constitutes the majority of the row bar 102. It is composed of a grindstone having grindability.

【0021】これらのことから、基板105を構成する
材料よりも柔らかい、保護膜形成材料として一般的な例
えばアルミナ膜等の材料により構成されている薄膜部分
104の膜面104aの回転砥石101と接する端部1
04b,104c,104d,104eには、図19及
び図20中黒色部分で示すようなチッピングが生じ易
く、製造歩留りの低下を招いている。また、上記端部1
04b,104c,104d,104eにおいては、薄
膜部分104の膜剥がれが生じることもあり、これによ
っても製造歩留りの低下が起きる。
For these reasons, the film 105 is in contact with the rotary grindstone 101 on the film surface 104a of the thin film portion 104 which is softer than the material forming the substrate 105 and is made of a material such as an alumina film which is generally used as a protective film forming material. End 1
Chips 04b, 104c, 104d, and 104e are likely to be chipped as shown by black portions in FIGS. 19 and 20, which causes a reduction in manufacturing yield. Also, the end 1
In 04b, 104c, 104d, and 104e, film peeling of the thin film portion 104 may occur, which also reduces the manufacturing yield.

【0022】このような不都合を解消するためには、回
転砥石101として、図21に示すような例えばダイヤ
モンド砥粒等の砥粒108の粒径が比較的小さなものを
使用して、研削速度を低速とする必要がある。また、上
記のように砥粒108の粒径が比較的小さい回転砥石1
01を使用する場合、基板105を構成する例えばアル
ミナチタン酸カルシウム材(Al23 −TiC材、い
わゆるアルチック材)等を研削する際の研削抵抗が大き
くなるため研削速度を低速とせざるを得ない。
In order to eliminate such an inconvenience, as the rotary grindstone 101, as shown in FIG. 21, for example, the one in which the grain size of the abrasive grain 108 such as diamond abrasive grain is relatively small is used, and the grinding speed is set. Need to be slow. Further, as described above, the rotary grindstone 1 in which the grain size of the abrasive grains 108 is relatively small
When 01 is used, the grinding speed at the time of grinding, for example, a calcium aluminatitanate material (Al 2 O 3 —TiC material, so-called altic material) that constitutes the substrate 105 becomes large, and therefore the grinding speed must be low. Absent.

【0023】そして、例えば、上記のように基板105
がアルチック材(Al23 −TiC材)により構成さ
れ、薄膜部分104の膜面104aがアルミナ膜により
構成されている場合においては、回転砥石101の砥粒
108の粒径を5〜12μm程度とし、研削速度を20
mm/分程度とするのが好ましいとされている。
Then, for example, as described above, the substrate 105
Is made of an AlTiC material (Al 2 O 3 —TiC material), and the film surface 104a of the thin film portion 104 is made of an alumina film, the grain size of the abrasive grains 108 of the rotary grindstone 101 is about 5 to 12 μm. And the grinding speed is 20
It is said that it is preferable to set it to about mm / min.

【0024】しかしながら、近年においては、製造歩留
りの向上はもちろんであるが、生産性を向上させるため
に切断等の際の研削速度の向上が要求されており、上記
のような研削速度ではこれを満たすことが不可能であ
る。
However, in recent years, not only the manufacturing yield is improved, but also the grinding speed at the time of cutting or the like is required to be improved in order to improve the productivity. It is impossible to meet.

【0025】しかしながら、上記のような砥粒108の
粒径が比較的小さい回転砥石101を使用して研削速度
を速くすると、研削抵抗が増加してしまい、回転砥石の
寿命が短くなる、チッピングが大きくなる等の不都合が
生じ、チッピングの発生を抑えながら研削速度も向上さ
せることは困難である。
However, if the grinding speed is increased by using the above-described rotary grindstone 101 having a relatively small grain size of the abrasive grains 108, the grinding resistance increases, and the life of the rotary grindstone is shortened. However, it is difficult to improve the grinding speed while suppressing the occurrence of chipping.

【0026】また、研削抵抗を低下させるべく、回転砥
石101として、図22に示すような比較的粒径の大き
い砥粒109を有するものを使用すると、研削抵抗が低
下して研削速度を速めることが可能となるものの、砥粒
109の回転砥石101の表面101aから突出する量
が大きくなるため、チッピングが発生し易くなり、チッ
ピングの発生を抑えながら研削速度も向上させることは
困難である。
Further, in order to reduce the grinding resistance, when the rotating grindstone 101 having abrasive grains 109 having a relatively large grain size as shown in FIG. 22 is used, the grinding resistance is reduced and the grinding speed is increased. However, since the amount of the abrasive grains 109 protruding from the surface 101a of the rotary grindstone 101 is large, chipping is likely to occur, and it is difficult to improve the grinding speed while suppressing the occurrence of chipping.

【0027】そこで本発明は、従来の実情に鑑みて提案
されたものであり、ロー・バーの切断工程におけるチッ
ピングの発生を抑えて製造歩留りを向上させ、同工程に
おける研削速度を十分なものとし、生産性を向上するこ
との可能な薄膜磁気ヘッド装置の製造方法を提供するこ
とを目的とする。
Therefore, the present invention has been proposed in view of the conventional circumstances, and suppresses the occurrence of chipping in the row bar cutting step to improve the manufacturing yield and to make the grinding speed sufficient in the step. An object of the present invention is to provide a method of manufacturing a thin film magnetic head device capable of improving productivity.

【0028】[0028]

【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めに本発明は、基板の一主面に複数の薄膜磁気ヘッド素
子を形成し、上記基板を個々の薄膜磁気ヘッド素子に対
応して研削により切断し、複数の薄膜磁気ヘッド装置を
得る薄膜磁気ヘッド装置の製造方法において、基板の切
断時に、ダミー部材を薄膜磁気ヘッド素子形成面上に配
することを特徴とするものである。
In order to achieve the above object, the present invention forms a plurality of thin film magnetic head elements on one main surface of a substrate, and the substrate corresponds to each thin film magnetic head element. In a method of manufacturing a thin film magnetic head device, which is cut by grinding to obtain a plurality of thin film magnetic head devices, a dummy member is arranged on the thin film magnetic head element forming surface when the substrate is cut.

【0029】また、本発明の薄膜磁気ヘッド装置の製造
方法においては、基板の一主面に複数の薄膜磁気ヘッド
素子を形成した後、上記基板を切断して複数の薄膜磁気
ヘッド素子がこれらの磁気ギャップのトラック幅方向に
一列に並ぶようなブロックを形成し、上記ブロックを薄
膜磁気ヘッド素子形成面以外の面を載置面として治具に
固定した後、上記ブロックの薄膜磁気ヘッド素子形成面
上にダミー部材を配した状態で該ブロックを個々の薄膜
磁気ヘッド素子に対応して研削により切断するようにし
ても良い。
Further, in the method of manufacturing a thin film magnetic head device of the present invention, after forming a plurality of thin film magnetic head elements on one main surface of the substrate, the substrate is cut to obtain a plurality of thin film magnetic head elements. After forming blocks that are arranged in a line in the track width direction of the magnetic gap and fixing the blocks to a jig with a surface other than the thin film magnetic head element forming surface as a mounting surface, the thin film magnetic head element forming surface of the block The block may be cut by grinding corresponding to each thin film magnetic head element with a dummy member provided on the block.

【0030】なお、上記ダミー部材を構成する材料とし
ては、基板と同等の研削性を有するもの或いは基板と類
似の研削性を有する材料であれば良く、セラミックや基
板の構成材料として一般的なアルチック材(Al23
−TiC)等が挙げられる。また、砥石の目たて効果を
有するホワイトアルミナ系やグリーンカーバイド系のド
レス・ボードも挙げられる。
The material forming the dummy member may be one having the same grindability as the substrate or a material having the same grindability as the substrate, and is a general AlTiC as a constituent material of ceramics and substrates. Material (Al 2 O 3
-TiC) and the like. Other examples include white alumina-based and green carbide-based dress boards that have the effect of whetstone.

【0031】さらに、上記ダミー部材は、ブロックの磁
気ギャップのデプス方向において該ブロックと略同じ高
さを有することが好ましい。
Further, it is preferable that the dummy member has substantially the same height as the block in the depth direction of the magnetic gap of the block.

【0032】なお、このとき、上記ダミー部材の磁気ギ
ャップのトラック幅方向の長さはブロックと略同等とす
れば良く、ギャップ長方向の長さは、所定の研削条件に
よりブロックを切断した場合に発生すると思われるチッ
ピングのギャップ長方向の大きさよりも大きくすること
が好ましく、50〜300μm程度とすれば良い。
At this time, the length of the magnetic gap of the dummy member in the track width direction may be made substantially equal to that of the block, and the length in the gap length direction is determined when the block is cut under predetermined grinding conditions. It is preferable to make the size larger than the size of chipping in the gap length direction that is considered to occur, and it may be about 50 to 300 μm.

【0033】また、本発明の薄膜磁気ヘッド装置の製造
方法においては、ブロックを治具に固定する際にダミー
部材も配することが好ましい。
Further, in the method of manufacturing a thin film magnetic head device of the present invention, it is preferable to dispose a dummy member when fixing the block to the jig.

【0034】[0034]

【作用】本発明の薄膜磁気ヘッド装置の製造方法におい
ては、複数の薄膜磁気ヘッド素子が形成される基板を個
々の薄膜磁気ヘッド素子に対応して研削により切断する
際に、ダミー部材を薄膜磁気ヘッド素子形成面上に配す
るため、薄膜部分が基板とダミー部材により挟み込まれ
ることとなる。
In the method of manufacturing the thin film magnetic head device of the present invention, when the substrate on which the plurality of thin film magnetic head elements are formed is cut by grinding corresponding to each thin film magnetic head element, the dummy member is thin film magnetic. Since the thin film portion is arranged on the head element formation surface, the thin film portion is sandwiched between the substrate and the dummy member.

【0035】すなわち、上記薄膜部分の端部が研削開始
部分にはならない。さらに、研削開始の際にチッピング
が生じても、これは研削開始部分に配されるダミー部材
に生じることとなる。
That is, the end of the thin film portion does not become the grinding start portion. Further, even if chipping occurs at the start of grinding, this will occur at the dummy member arranged at the grinding start portion.

【0036】従って、研削の際に上記薄膜部分の端部に
チッピングが生じ難くなり、製造歩留りが向上する。
Therefore, chipping hardly occurs at the end of the thin film portion during grinding, and the manufacturing yield is improved.

【0037】また、本発明においては、研削開始時のチ
ッピングの発生を考慮することなく、研削条件を決定で
きるため、研削時に使用する砥石として粒径が比較的大
きい砥粒を用いた砥石を使用して、研削速度を速めても
良い。
Further, in the present invention, since the grinding conditions can be determined without considering the occurrence of chipping at the start of grinding, a grindstone using abrasive grains having a relatively large grain size is used as the grindstone used at the time of grinding. Then, the grinding speed may be increased.

【0038】[0038]

【実施例】以下、本発明を適用した具体的な実施例につ
いて図面を参照しながら詳細に説明する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Specific embodiments to which the present invention is applied will be described in detail below with reference to the drawings.

【0039】本実施例の薄膜磁気ヘッド装置の製造方法
においては、先ず、アルチック材(Al23 −Ti
C)等よりなる円盤状の基板の一主面に、蒸着,スパッ
タリング等の真空薄膜形成技術、写真製版、エッチング
等の手法を用いて複数の薄膜磁気ヘッド素子を形成し、
いわゆるウエハーを形成する。
In the method of manufacturing the thin film magnetic head device of this embodiment, first, the AlTiC material (Al 2 O 3 --Ti) is used.
A plurality of thin film magnetic head elements are formed on one main surface of a disk-shaped substrate made of C) or the like by using a vacuum thin film forming technique such as vapor deposition or sputtering, a method such as photoengraving or etching.
A so-called wafer is formed.

【0040】次に、図1に示すように、一主面1aに複
数の薄膜磁気ヘッド素子2が形成されている円盤状のウ
エハー1(基板)を砥石3a,3bにより研削して不必
要な外周部分1b,1cを切り落とす。この際、図1中
に示すように、円筒状の軸5の側面5aに所定の間隔を
有して側面が研削面とされる環状の砥石3a,3bを配
して研削装置6を構成するようにすれば良い。そして、
軸5を図中矢印M1 で示す方向に回転させ、砥石3a,
3bにより研削を行うようにすれば良い。
Next, as shown in FIG. 1, a disk-shaped wafer 1 (substrate) having a plurality of thin film magnetic head elements 2 formed on one main surface 1a is ground by grindstones 3a and 3b, and unnecessary. The outer peripheral portions 1b and 1c are cut off. At this time, as shown in FIG. 1, the grinding device 6 is configured by arranging annular grindstones 3a, 3b having a predetermined interval on the side surface 5a of the cylindrical shaft 5 and having the side surfaces as grinding surfaces. Just do it. And
The shaft 5 is rotated in the direction indicated by the arrow M 1 in the figure, and the grindstone 3a,
It suffices to perform grinding with 3b.

【0041】次に、上記ウエハー1を複数の薄膜磁気ヘ
ッド素子がこれらの磁気ギャップのトラック幅方向に一
列に並ぶようなブロックに切断し、いわゆるロー・バー
を形成する。このとき、本実施例においては、上記工程
において薄膜部分にチッピングが生じるのを防止するた
めに、図2に示すように、ウエハー1の一主面1aの所
定の切断線上に形成されている薄膜磁気ヘッド素子の保
護膜を砥石7により研削して切断除去する。すなわち、
図3中に示されるようにウエハー1の一主面1aに形成
される薄膜磁気ヘッド素子2形成部分以外の部分を薄膜
の厚さ方向に形成される溝部を形成するようにして砥石
7により研削し、この部分の保護膜を除去する。
Next, the wafer 1 is cut into blocks in which a plurality of thin film magnetic head elements are arranged in a line in the track width direction of these magnetic gaps to form a so-called row bar. At this time, in the present embodiment, in order to prevent the thin film portion from being chipped in the above process, as shown in FIG. 2, the thin film formed on the predetermined cutting line of the one main surface 1a of the wafer 1. The protective film of the magnetic head element is ground and removed by a grindstone 7. That is,
As shown in FIG. 3, a portion other than the thin film magnetic head element 2 forming portion formed on one main surface 1a of the wafer 1 is ground by a grindstone 7 so as to form a groove portion formed in the thickness direction of the thin film. Then, the protective film on this portion is removed.

【0042】なお、この際、図2中に示すように、円筒
状の軸8の側面8aに側面が研削面とされる環状の砥石
7を配して研削装置9を構成するようにし、軸8を図中
矢印M2 で示す方向に回転させ、砥石7により研削を行
うようにすれば良い。
At this time, as shown in FIG. 2, the grinding device 9 is constituted by arranging an annular grindstone 7 whose side surface is a grinding surface on the side surface 8a of the cylindrical shaft 8. 8 may be rotated in the direction indicated by arrow M 2 in the figure, and grinding may be performed with the grindstone 7.

【0043】続いて、図4に示すように、ウエハー1を
所定の切断線にて砥石10により研削して切断する。す
なわち、図5に示すように、ウエハー1を薄膜磁気ヘッ
ド素子2のギャップ長方向の高さ以上の深さに砥石10
により切り込んで該ウエハー1を分割する。
Then, as shown in FIG. 4, the wafer 1 is cut by grinding with a grindstone 10 along a predetermined cutting line. That is, as shown in FIG. 5, the wafer 1 is moved to a depth equal to or greater than the height of the thin film magnetic head element 2 in the gap length direction.
The wafer 1 is divided by cutting with.

【0044】なお、この際、図4中に示すように、円筒
状の軸11の側面11aに側面が研削面とされる環状の
砥石10を配して研削装置12を構成するようにし、軸
11を図中矢印M3 で示す方向に回転させ、砥石10に
より研削を行うようにすれば良い。
At this time, as shown in FIG. 4, the grinding device 12 is constructed by arranging an annular grindstone 10 whose side surface is a grinding surface on the side surface 11a of the cylindrical shaft 11. 11 may be rotated in the direction indicated by arrow M 3 in the figure, and grinding may be performed by the grindstone 10.

【0045】その結果、図6に示すような一主面13a
に複数の薄膜磁気ヘッド素子2がこれらの磁気ギャップ
のトラック幅方向に一列に並ぶブロックであるロー・バ
ー13が複数形成される。なお、図6中には1本のロー
・バーのみ示す。
As a result, one main surface 13a as shown in FIG.
A plurality of row bars 13, which are blocks in which a plurality of thin film magnetic head elements 2 are arranged in a line in the track width direction of these magnetic gaps, are formed. Note that only one row bar is shown in FIG.

【0046】次に、図7及び図8に示すように、上記ロ
ー・バー13を、薄膜磁気ヘッド素子2の形成面である
一主面13aと隣合う主面13bを載置面として上記薄
膜磁気ヘッド素子2の磁気ギャップが上面に臨むよう
に、略板状の治具14上にワックス等の固着により固定
する。なお、上記治具14のロー・バー載置面14aに
は後工程のロー・バー13切断工程において使用する逃
げ溝15が所定の位置に形成されている。
Next, as shown in FIGS. 7 and 8, the thin film is formed by using the row bar 13 with the main surface 13a adjacent to the main surface 13a on which the thin film magnetic head element 2 is formed as a mounting surface. The magnetic head element 2 is fixed on a substantially plate-shaped jig 14 by fixing wax so that the magnetic gap of the magnetic head element 2 faces the upper surface. An escape groove 15 used in a cutting process of the row bar 13 which is a post-process is formed at a predetermined position on the row bar mounting surface 14a of the jig 14.

【0047】そして、本実施例においては、上記のよう
にロー・バー13を治具14に固定すると同時に、後工
程のロー・バー13切断工程においてロー・バー13の
薄膜部分のチッピングの発生を防止するためのダミー部
材であるダミー・バー16も治具14に固定する。
In the present embodiment, the row bar 13 is fixed to the jig 14 as described above, and at the same time, the chipping of the thin film portion of the row bar 13 is generated in the cutting step of the row bar 13 in the subsequent step. The dummy bar 16 which is a dummy member for preventing is also fixed to the jig 14.

【0048】すなわち、図8中に示すように、上記ロー
・バー13の薄膜磁気ヘッド素子2が形成される一主面
13a上に、薄膜磁気ヘッド素子2の磁気ギャップのデ
プス方向において上記ロー・バー13の高さh1 と略同
等の高さh2 を有するダミー・バー16をワックス等の
固着により接合するとともに、上記ダミー・バー16を
治具14のロー・バー載置面14aにもワックス等の固
着により接合する。
That is, as shown in FIG. 8, on the one main surface 13a of the row bar 13 on which the thin film magnetic head element 2 is formed, the row bar 13 in the depth direction of the magnetic gap of the thin film magnetic head element 2 is formed. A dummy bar 16 having a height h 2 approximately equal to the height h 1 of the bar 13 is joined by fixing with wax or the like, and the dummy bar 16 is also attached to the low bar mounting surface 14a of the jig 14. It is joined by fixing wax or the like.

【0049】なお、上記ダミー・バー16の薄膜磁気ヘ
ッド素子2の磁気ギャップのトラック幅方向の長さはロ
ー・バー13のそれと略同等とすれば良く、ギャップ長
方向の長さWは、所定の研削条件によりロー・バー13
を切断した場合に発生すると思われるチッピングのギャ
ップ長方向の大きさよりも大きくすることが好ましく、
50〜300μm程度とすれば良い。
The length of the magnetic gap of the thin film magnetic head element 2 of the dummy bar 16 in the track width direction may be substantially equal to that of the row bar 13, and the length W in the gap length direction is predetermined. Depending on the grinding conditions, the low bar 13
It is preferable to make the size larger than the size in the gap length direction of chipping that is considered to occur when cutting
It may be about 50 to 300 μm.

【0050】また、上記ダミー・バー16を構成する材
料としては、ロー・バー13の基板と同等の研削性を有
するもの或いは基板と類似の研削性を有する材料であれ
ば良く、セラミックや基板の構成材料として一般的なア
ルチック材(Al23 −TiC)等が挙げられる。さ
らにまた、砥石の目たて効果を有するホワイトアルミナ
系やグリーンカーバイド系のドレス・ボードも挙げられ
る。
The dummy bar 16 may be made of any material having the same grindability as the substrate of the row bar 13 or a material having grindability similar to that of the substrate, such as ceramic or substrate. As a constituent material, a general altic material (Al 2 O 3 —TiC) and the like can be mentioned. Furthermore, white alumina type and green carbide type dress boards, which have the effect of sharpening the grindstone, can also be mentioned.

【0051】次に、上記ロー・バー13の薄膜磁気ヘッ
ド素子の磁気ギャップのデプス長を数μmまで概略規制
する。すなわち、図9に示すように、上記のようなダミ
ー・バー及びロー・バーの接合された治具14を加工治
具18上にロー・バー側が上面となるように固定し、こ
れを横向きに倒した状態で固定具19に固定し、ロー・
バーの薄膜磁気ヘッド素子の磁気ギャップの臨む面をダ
イヤモンドカップホイール20の研削面20aに対向さ
せる。そして、上記ダイヤモンドカップホイール20を
図中矢印M4 方向に回転させるとともに治具14を固定
具19ごと図中矢印M5 方向に移動させてロー・バーの
磁気ギャップの臨む面を研削し、磁気ギャップのデプス
長を数μmまで概略規制する。
Next, the depth length of the magnetic gap of the thin film magnetic head element of the row bar 13 is roughly regulated to several μm. That is, as shown in FIG. 9, the jig 14 to which the dummy bar and the row bar are joined as described above is fixed on the processing jig 18 so that the row bar side is the upper surface, and the jig 14 is placed sideways. Fix it on the fixture 19 in the tilted state,
The surface of the bar facing the magnetic gap of the thin film magnetic head element is opposed to the grinding surface 20a of the diamond cup wheel 20. Then, the diamond cup wheel 20 is rotated in the direction of the arrow M 4 in the figure, and the jig 14 is moved in the direction of the arrow M 5 in the figure together with the fixture 19 to grind the surface of the row bar facing the magnetic gap, thereby magnetizing the magnet. The depth of the gap is roughly regulated to a few μm.

【0052】さらに、上記のようにロー・バー13及び
ダミー・バー16の搭載される治具14を複数用意し、
図10に示すように治具14同士を固定して集合体17
を形成する。
Further, as described above, a plurality of jigs 14 on which the row bar 13 and the dummy bar 16 are mounted are prepared,
As shown in FIG.
To form.

【0053】続いて、図11に示すように集合体17の
ロー・バー13の上面となる一主面13c、すなわち一
主面13aに形成されている薄膜磁気ヘッド素子の磁気
ギャップが臨む面を砥石21により研削して溝入れを行
ってスライダーレールを形成する。なお、このとき、当
然のことながら、ロー・バー13とともに治具14上に
固定されるダミー・バー16の上面となる一主面16a
にもスライダーレールの一部が形成されることとなる。
Subsequently, as shown in FIG. 11, one main surface 13c, which is the upper surface of the row bar 13 of the assembly 17, that is, the surface facing the magnetic gap of the thin film magnetic head element formed on the one main surface 13a. A slider rail is formed by grinding with a grindstone 21 and grooving. Incidentally, at this time, as a matter of course, one main surface 16a which is an upper surface of the dummy bar 16 fixed on the jig 14 together with the row bar 13
Also, a part of the slider rail will be formed.

【0054】上記砥石21は第1の砥石21a,第2の
砥石21b,第3の砥石21c,第4の砥石21dによ
り構成されており、これにより研削を行うと、図12に
示すようにロー・バー13及びダミー・バー16の一主
面13c,16aにおいて、上記第1の砥石21a,第
2の砥石21b間に一方のスライダーレール22aが形
成され、第2の砥石21b,第3の砥石21c間にエア
・グルーブを形成するための間隙部23が形成され、第
3の砥石21c,第4の砥石21d間に他方のスライダ
ーレール22bが形成されることとなる。
The grindstone 21 is composed of a first grindstone 21a, a second grindstone 21b, a third grindstone 21c, and a fourth grindstone 21d. When grinding is performed by this, as shown in FIG. On one main surface 13c, 16a of the bar 13 and the dummy bar 16, one slider rail 22a is formed between the first whetstone 21a and the second whetstone 21b, and the second whetstone 21b, the third whetstone A gap 23 for forming an air groove is formed between 21c, and the other slider rail 22b is formed between the third grindstone 21c and the fourth grindstone 21d.

【0055】なお、この際、図11中に示すように、円
柱状の軸24の側面24aに側面が研削面とされる環状
の第1の砥石21a,第2の砥石21b,第3の砥石2
1c,第4の砥石21dを所定の間隔を有して配するこ
とで研削装置25を構成するようにし、軸24を図中矢
印M6 で示す方向に回転させ、砥石21により研削を行
うようにすれば良い。
At this time, as shown in FIG. 11, an annular first grindstone 21a, a second grindstone 21b, and a third grindstone whose side surfaces are grinding surfaces are formed on the side surface 24a of the cylindrical shaft 24. Two
The grinding device 25 is configured by arranging 1c and the fourth grindstone 21d with a predetermined interval, and the shaft 24 is rotated in the direction shown by an arrow M 6 in the drawing to grind with the grindstone 21. You can do it.

【0056】次に、図13に示すように、集合体のロー
・バー13を所定の位置で個々の薄膜磁気ヘッド素子に
対応するように磁気ギャップのギャップ長方向に砥石2
6により研削して切断し、複数の薄膜磁気ヘッド装置ブ
ロック27を得る。
Next, as shown in FIG. 13, the row bar 13 of the aggregate is grindstone 2 in the gap length direction of the magnetic gap so as to correspond to each thin film magnetic head element at a predetermined position.
Grinding and cutting by 6 to obtain a plurality of thin film magnetic head device blocks 27.

【0057】なお、この際、図13中に示すように、円
柱状の軸28の側面28aに側面が研削面とされる環状
の第1の砥石26a,第2の砥石26b,第3の砥石2
6c・・・の複数の砥石26を、形成する薄膜磁気ヘッ
ド装置の磁気ギャップのトラック幅方向の長さと同等の
間隔を有して配することで研削装置29を構成するよう
にし、軸28を図中矢印M7 で示す方向に回転させ、砥
石26により研削を行うようにすれば良い。
At this time, as shown in FIG. 13, an annular first grindstone 26a, a second grindstone 26b, and a third grindstone whose side surfaces are grinding surfaces are formed on the side surface 28a of the cylindrical shaft 28. Two
The grinding device 29 is configured by arranging the plurality of grinding stones 6c of 6c at intervals equal to the length of the magnetic gap of the thin film magnetic head device to be formed in the track width direction. It is sufficient to rotate in the direction indicated by arrow M 7 in the figure and grind with the grindstone 26.

【0058】そして、このとき、本実施例においては、
図14に示すように、ロー・バー13を個々の薄膜磁気
ヘッド素子に対応するように磁気ギャップのギャップ長
方向に研削して切断するべく、砥石26(図14中にお
いては、砥石26aのみを示す。)を図中矢印M7 方向
に回転させながら図中矢印M8 で示す方向、すなわちダ
ミー・バー16の上面となる一主面16aと直交し側面
となる一主面16b側からロー・バー13側に向かって
侵入させて研削して切断を行う。
At this time, in this embodiment,
As shown in FIG. 14, in order to grind and cut the row bar 13 in the gap length direction of the magnetic gap so as to correspond to each thin film magnetic head element, only the grindstone 26 (in FIG. 14, only the grindstone 26a is cut). (Shown in FIG. 3) in the direction of arrow M 7 in the figure, that is, in the direction indicated by arrow M 8 in the figure, that is, from the side of one main surface 16b that is orthogonal to one main surface 16a that is the upper surface of dummy bar 16 and that is the side surface. The bar 13 is intruded toward the side and ground to cut.

【0059】なお、上記ロー・バー13切断工程におい
ては、砥石26(図14中においては、砥石26aのみ
を示す。)の研削深さD2 をロー・バー13及びダミー
・バー16の磁気ギャップのデプス長方向の高さD1
りも深くする必要があり、デプス長方向に突き抜けた砥
石26aは治具14の逃げ溝15内で回転することとな
る。
In the step of cutting the row bar 13, the grinding depth D 2 of the grindstone 26 (only the grindstone 26a is shown in FIG. 14) is set to the magnetic gap of the row bar 13 and the dummy bar 16. It is necessary to make it deeper than the height D 1 in the depth length direction, and the grindstone 26a penetrating in the depth length direction rotates in the clearance groove 15 of the jig 14.

【0060】すなわち、本実施例においては、ロー・バ
ー13の薄膜磁気ヘッド素子の形成される一主面13a
側の図中の破線よりもダミー・バー16側の薄膜部分2
8がロー・バー13の残りの部分である基板29とダミ
ー・バー16により挟み込まれることとなり、上記薄膜
部分27の端部が研削開始部分にはならない。さらに、
研削開始の際にチッピングが生じても、これは研削開始
部分に配されるダミー・バー16に生じることとなる。
従って、本実施例においては、研削の際に上記薄膜部分
28の端部にチッピングが生じ難くなる。
That is, in this embodiment, one main surface 13a of the row bar 13 on which the thin film magnetic head element is formed.
Side thin film portion 2 on the dummy bar 16 side with respect to the broken line in the figure
8 is sandwiched between the substrate 29 which is the remaining portion of the row bar 13 and the dummy bar 16, and the end portion of the thin film portion 27 does not become the grinding start portion. further,
Even if chipping occurs at the start of grinding, this will occur at the dummy bar 16 arranged at the grinding start portion.
Therefore, in this embodiment, chipping is less likely to occur at the end of the thin film portion 28 during grinding.

【0061】さらに、上記複数の薄膜磁気ヘッド装置ブ
ロック27の薄膜磁気ヘッド素子2の磁気ギャップの臨
む面を研磨して磁気ギャップのデプス長を所定の長さに
規制する。
Further, the surface of the thin film magnetic head element 2 of the plurality of thin film magnetic head device blocks 27 facing the magnetic gap is polished to regulate the depth length of the magnetic gap to a predetermined length.

【0062】次に、上記各薄膜磁気ヘッド装置ブロック
27からダミー・バーを取り外し、図15に示すように
治具14を介して研削治具30に取り付け、薄膜磁気ヘ
ッド装置ブロック27のハードディスク対向面となる面
であり、スライダーレールが形成されている一主面27
aのスライダーレール形成方向の端部を定盤31により
研削してテーパー加工する。すなわち、図15中に示す
ように、研削治具30を定盤31の研削面31aに対し
て垂直な線aに対して所定の角度θを有するように傾
け、定盤31を図中矢印M9 方向に回転させ、上記定盤
31の研削面31aと接する一主面27aのスライダー
レール形成方向の端部を研削してテーパー加工する。
Next, the dummy bar is removed from each of the thin film magnetic head device blocks 27 and attached to the grinding jig 30 via the jig 14 as shown in FIG. The main surface 27 on which the slider rail is formed
The end of a in the slider rail forming direction of a is ground by a surface plate 31 and tapered. That is, as shown in FIG. 15, the grinding jig 30 is tilted so as to have a predetermined angle θ with respect to a line a perpendicular to the grinding surface 31 a of the surface plate 31, and the surface plate 31 is indicated by an arrow M. It is rotated in nine directions, and the end of the main surface 27a in contact with the grinding surface 31a of the surface plate 31 in the slider rail forming direction is ground and tapered.

【0063】なお、上記テーパー加工は、薄膜磁気ヘッ
ド装置がハードディスク等との接触時に該ハードディス
ク等を傷つけることを防止するために行われるものであ
る。
The taper process is performed to prevent the thin film magnetic head device from damaging the hard disk or the like when the thin film magnetic head device contacts the hard disk or the like.

【0064】次に、図16に示すように、各薄膜磁気ヘ
ッド装置ブロック27のスライダーレール間の間隙部
に、砥石32を図中矢印M10で示す方向に回転させなが
ら図中矢印M11で示す方向に走行させて研削して溝入れ
を行い、エア・グルーブと称される溝部を形成する。な
お、図16中においては、スライダーレールの図示を省
略する。
Next, as shown in FIG. 16, in the gap between the slider rails of each thin-film magnetic head device block 27, the grindstone 32 is rotated in the direction indicated by arrow M 10 in the figure and is indicated by arrow M 11 in the figure. Grooves are made by running in the direction shown and grinding to form groove portions called air grooves. Note that the slider rails are not shown in FIG.

【0065】この結果、図17に示すように、一主面2
7aにスライダーレール22a,22bが形成され、こ
れらスライダーレール22a,22b間にエア・グルー
ブ33の形成される薄膜磁気ヘッド装置34が形成され
ることとなる。
As a result, as shown in FIG. 17, one main surface 2
The slider rails 22a and 22b are formed on the slider 7a, and the thin film magnetic head device 34 in which the air groove 33 is formed is formed between these slider rails 22a and 22b.

【0066】最後に、図18に示すように、上記薄膜磁
気ヘッド装置34を治具14より取り外し、薄膜磁気ヘ
ッド装置を完成する。
Finally, as shown in FIG. 18, the thin film magnetic head device 34 is removed from the jig 14 to complete the thin film magnetic head device.

【0067】本実施例においては、ロー・バー13を薄
膜磁気ヘッド装置ブロック27に切断する際、上記ロー
・バー13の薄膜部分28にチッピングが生じにくいこ
とから、製造歩留りが向上し、生産性も向上する。
In this embodiment, when the row bar 13 is cut into the thin film magnetic head device block 27, the thin film portion 28 of the row bar 13 is unlikely to be chipped, so that the manufacturing yield is improved and the productivity is improved. Also improves.

【0068】また、本実施例においては、研削開始時の
チッピングの発生を考慮することなく、研削条件を決定
できるため、研削時に使用する砥石26として、例えば
粒径が10〜30μmといった比較的大きい砥粒を用い
た砥石を使用して、研削速度を例えば40mm/分以上
程度に速めることが可能であり、従来の薄膜磁気ヘッド
装置製造方法の約2倍以上の研削速度での加工が可能と
なる。
Further, in the present embodiment, the grinding conditions can be determined without considering the occurrence of chipping at the start of grinding, so that the grindstone 26 used for grinding has a relatively large particle size of, for example, 10 to 30 μm. It is possible to increase the grinding speed to, for example, about 40 mm / min or more by using a grindstone using abrasive grains, and it is possible to perform the grinding at a grinding speed about twice or more that of the conventional thin film magnetic head device manufacturing method. Become.

【0069】さらに、本実施例おいては、ロー・バー1
3を治具14に固定する際にダミー・バー16も固定す
るようにしており、従来の薄膜磁気ヘッド装置の製造工
程を大幅に変更することなく薄膜磁気ヘッド装置の製造
が行われ、その工業的価値は非常に高い。
Further, in this embodiment, the row bar 1
When fixing 3 to the jig 14, the dummy bar 16 is also fixed, and the thin film magnetic head device is manufactured without significantly changing the manufacturing process of the conventional thin film magnetic head device. Value is very high.

【0070】[0070]

【発明の効果】以上の説明からも明らかなように、本発
明の薄膜磁気ヘッド装置の製造方法においては、複数の
薄膜磁気ヘッド素子が形成される基板を個々の薄膜磁気
ヘッド素子に対応して研削により切断する際に、ダミー
部材を薄膜磁気ヘッド素子形成面上に配するため、薄膜
部分が基板とダミー部材により挟み込まれることとな
る。
As is apparent from the above description, in the method of manufacturing a thin film magnetic head device of the present invention, the substrate on which a plurality of thin film magnetic head elements are formed is associated with each thin film magnetic head element. When cutting by grinding, since the dummy member is arranged on the thin film magnetic head element forming surface, the thin film portion is sandwiched between the substrate and the dummy member.

【0071】すなわち、上記薄膜部分の端部が研削開始
部分にはならない。さらに、研削開始の際にチッピング
が生じても、これは研削開始部分に配されるダミー部材
に生じることとなる。
That is, the end of the thin film portion does not become the grinding start portion. Further, even if chipping occurs at the start of grinding, this will occur at the dummy member arranged at the grinding start portion.

【0072】従って、研削の際に上記薄膜部分の端部に
チッピングが生じ難くなり、製造歩留りが向上し、生産
性も向上する。
Therefore, chipping hardly occurs at the end of the thin film portion during grinding, the manufacturing yield is improved, and the productivity is also improved.

【0073】また、本発明においては、研削開始時のチ
ッピングの発生を考慮することなく、研削条件を決定で
きるため、研削時に使用する砥石として粒径が比較的大
きい砥粒を用いた砥石を使用して、研削速度を速めるこ
とができ、生産性が向上する。
Further, in the present invention, since the grinding conditions can be determined without considering the occurrence of chipping at the start of grinding, a grindstone using a relatively large grain is used as the grindstone used at the time of grinding. Then, the grinding speed can be increased and the productivity is improved.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明を適用した薄膜磁気ヘッド装置の製造方
法を工程順に示すものであり、ウエハーの外周部分を切
り落とす工程を示す斜視図である。
FIG. 1 is a perspective view showing a method of manufacturing a thin film magnetic head device to which the present invention is applied in the order of steps, showing steps for cutting off an outer peripheral portion of a wafer.

【図2】本発明を適用した薄膜磁気ヘッド装置の製造方
法を工程順に示すものであり、ウエハーの切断線上の保
護膜を切断除去する工程を示す斜視図である。
FIG. 2 is a perspective view showing a method of manufacturing a thin film magnetic head device to which the present invention is applied, in order of steps, and showing steps of cutting and removing a protective film on a cutting line of a wafer.

【図3】本発明を適用した薄膜磁気ヘッド装置の製造方
法を工程順に示すものであり、ウエハーの切断線上の保
護膜を切断除去する工程を示す要部拡大斜視図である。
FIG. 3 is a magnified perspective view of an essential part showing a method of manufacturing a thin film magnetic head device to which the present invention is applied, in the order of steps, showing a step of cutting and removing a protective film on a cutting line of a wafer.

【図4】本発明を適用した薄膜磁気ヘッド装置の製造方
法を工程順に示すものであり、ウエハーを切断する工程
を示す斜視図である。
FIG. 4 is a perspective view showing a method of manufacturing a thin film magnetic head device to which the present invention is applied, in order of steps, and showing steps of cutting a wafer.

【図5】本発明を適用した薄膜磁気ヘッド装置の製造方
法を工程順に示すものであり、ウエハーを切断する工程
を示す要部拡大斜視図である。
5A and 5B are enlarged perspective views of a main part showing a method of manufacturing a thin film magnetic head device to which the present invention is applied, in order of steps, and showing a step of cutting a wafer.

【図6】本発明を適用した薄膜磁気ヘッド装置の製造方
法を工程順に示すものであり、形成されたロー・バーを
示す要部拡大斜視図である。
FIG. 6 is an enlarged perspective view of a main part showing a formed row bar, showing a method of manufacturing a thin film magnetic head device to which the present invention is applied in order of steps.

【図7】本発明を適用した薄膜磁気ヘッド装置の製造方
法を工程順に示すものであり、ロー・バーとダミー・バ
ーを治具に固定する工程を示す斜視図である。
FIG. 7 is a perspective view showing the method of manufacturing the thin film magnetic head device to which the present invention is applied in the order of steps, and showing the step of fixing the row bar and the dummy bar to the jig.

【図8】本発明を適用した薄膜磁気ヘッド装置の製造方
法を工程順に示すものであり、ロー・バーとダミー・バ
ーを治具に固定する工程を示す要部拡大斜視図である。
FIG. 8 is a main part enlarged perspective view showing the method of manufacturing the thin film magnetic head device to which the present invention is applied in the order of steps, and showing a step of fixing the row bar and the dummy bar to the jig.

【図9】本発明を適用した薄膜磁気ヘッド装置の製造方
法を工程順に示すものであり、磁気ギャップのデプス長
を概略規制する工程を示す要部概略斜視図である。
FIG. 9 is a schematic perspective view of a main part showing a method of manufacturing a thin film magnetic head device to which the present invention is applied, in order of steps, and showing a step of roughly restricting a depth length of a magnetic gap.

【図10】本発明を適用した薄膜磁気ヘッド装置の製造
方法を工程順に示すものであり、集合体を形成する工程
を示す斜視図である。
FIG. 10 is a perspective view showing the method of manufacturing the thin film magnetic head device to which the present invention is applied in the order of steps, and showing the step of forming an aggregate.

【図11】本発明を適用した薄膜磁気ヘッド装置の製造
方法を工程順に示すものであり、スライダーレールを形
成する工程を示す斜視図である。
FIG. 11 is a perspective view showing the method of manufacturing the thin film magnetic head device to which the present invention is applied, in the order of steps, and showing steps of forming a slider rail.

【図12】本発明を適用した薄膜磁気ヘッド装置の製造
方法を工程順に示すものであり、スライダーレールを形
成する工程を示す要部拡大斜視図である。
FIG. 12 is a main part enlarged perspective view showing a step of forming a slider rail, showing a method of manufacturing the thin film magnetic head device to which the present invention is applied in order of steps.

【図13】本発明を適用した薄膜磁気ヘッド装置の製造
方法を工程順に示すものであり、ロー・バーを切断し、
薄膜磁気ヘッド装置ブロックを形成する工程を示す斜視
図である。
FIG. 13 shows a method of manufacturing a thin film magnetic head device to which the present invention is applied in the order of steps, in which a row bar is cut,
It is a perspective view showing a process of forming a thin film magnetic head device block.

【図14】本発明を適用した薄膜磁気ヘッド装置の製造
方法を工程順に示すものであり、ロー・バーを切断し、
薄膜磁気ヘッド装置ブロックを形成する工程を示す要部
拡大斜視図である。
FIG. 14 shows a method of manufacturing a thin film magnetic head device to which the present invention is applied in the order of steps, in which a row bar is cut,
FIG. 6 is an enlarged perspective view of a main part showing a step of forming a thin film magnetic head device block.

【図15】本発明を適用した薄膜磁気ヘッド装置の製造
方法を工程順に示すものであり、薄膜磁気ヘッド装置ブ
ロックのスライダーレール方向の端部をテーパー加工す
る工程を示す模式図である。
FIG. 15 shows a method of manufacturing a thin film magnetic head device to which the present invention is applied in the order of steps, and is a schematic view showing a step of tapering an end portion of the thin film magnetic head device block in the slider rail direction.

【図16】本発明を適用した薄膜磁気ヘッド装置の製造
方法を工程順に示すものであり、薄膜磁気ヘッド装置ブ
ロックにエア・グルーブを形成する工程を示す斜視図で
ある。
FIG. 16 is a perspective view showing the method of manufacturing the thin film magnetic head device to which the present invention is applied in the order of steps, and showing the step of forming air grooves in the thin film magnetic head device block.

【図17】本発明を適用した薄膜磁気ヘッド装置の製造
方法を工程順に示すものであり、薄膜磁気ヘッド装置ブ
ロックにエア・グルーブを形成し、薄膜磁気ヘッド装置
を得る工程を示す要部拡大斜視図である。
FIG. 17 shows a method of manufacturing a thin film magnetic head device to which the present invention is applied in the order of steps, which is an enlarged perspective view of an essential part showing a process of forming an air groove in a thin film magnetic head device block to obtain a thin film magnetic head device. It is a figure.

【図18】本発明を適用した薄膜磁気ヘッド装置の製造
方法を工程順に示すものであり、薄膜磁気ヘッド装置を
治具から取り外す工程を示す要部拡大斜視図である。
FIG. 18 is a main part enlarged perspective view showing the method of manufacturing the thin film magnetic head device to which the present invention is applied in the order of steps, showing the step of removing the thin film magnetic head device from the jig.

【図19】従来の薄膜磁気ヘッド装置の製造方法におい
て、ロー・バーを切断する工程を示す要部拡大斜視図で
ある。
FIG. 19 is an enlarged perspective view of an essential part showing a step of cutting a row bar in a conventional method of manufacturing a thin film magnetic head device.

【図20】従来の薄膜磁気ヘッド装置の製造方法におい
て、ロー・バーを切断する工程を示す要部拡大平面図で
ある。
FIG. 20 is an enlarged plan view of an essential part showing a step of cutting a row bar in a conventional method of manufacturing a thin film magnetic head device.

【図21】回転砥石の一例を示す模式図である。FIG. 21 is a schematic view showing an example of a rotary grindstone.

【図22】回転砥石の他の例を示す模式図である。FIG. 22 is a schematic view showing another example of the rotary grindstone.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1・・・ウエハー 2・・・薄膜磁気ヘッド素子 13・・・ロー・バー 14・・・治具 16・・・ダミー・バー 26・・・砥石 27・・・薄膜磁気ヘッド装置ブロック 1 ... Wafer 2 ... Thin film magnetic head element 13 ... Low bar 14 ... Jig 16 ... Dummy bar 26 ... Grinding stone 27 ... Thin film magnetic head device block

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 基板の一主面に複数の薄膜磁気ヘッド素
子を形成し、上記基板を個々の薄膜磁気ヘッド素子に対
応して研削により切断し、複数の薄膜磁気ヘッド装置を
得る薄膜磁気ヘッド装置の製造方法において、 基板の切断時に、ダミー部材を薄膜磁気ヘッド素子形成
面上に配することを特徴とする薄膜磁気ヘッド装置の製
造方法。
1. A thin film magnetic head in which a plurality of thin film magnetic head elements are formed on one main surface of a substrate and the substrate is cut by grinding corresponding to each thin film magnetic head element to obtain a plurality of thin film magnetic head devices. A method of manufacturing a thin-film magnetic head device, characterized in that a dummy member is arranged on a thin-film magnetic head element formation surface when the substrate is cut.
【請求項2】 基板の一主面に複数の薄膜磁気ヘッド素
子を形成した後、上記基板を切断して複数の薄膜磁気ヘ
ッド素子がこれらの磁気ギャップのトラック幅方向に一
列に並ぶようなブロックを形成し、上記ブロックを薄膜
磁気ヘッド素子形成面以外の面を載置面として治具に固
定した後、上記ブロックの薄膜磁気ヘッド素子形成面上
にダミー部材を配した状態で該ブロックを個々の薄膜磁
気ヘッド素子に対応して研削により切断することを特徴
とする請求項1記載の薄膜磁気ヘッド装置の製造方法。
2. A block in which a plurality of thin film magnetic head elements are formed on one main surface of a substrate and then the substrate is cut so that the plurality of thin film magnetic head elements are arranged in a line in the track width direction of these magnetic gaps. And fixing the block to a jig with the surface other than the thin film magnetic head element forming surface as a mounting surface, and then individually placing the blocks on the thin film magnetic head element forming surface of the block with dummy members. 2. The method for manufacturing a thin film magnetic head device according to claim 1, wherein the thin film magnetic head element is cut by grinding so as to correspond to the thin film magnetic head element.
【請求項3】 ダミー部材が、ブロックの磁気ギャップ
のデプス方向において該ブロックと略同じ高さを有する
ことを特徴とする請求項2記載の薄膜磁気ヘッドの製造
方法。
3. The method of manufacturing a thin film magnetic head according to claim 2, wherein the dummy member has substantially the same height as the block in the depth direction of the magnetic gap of the block.
【請求項4】 ブロックを治具に固定する際にダミー部
材も配することを特徴とする請求項1記載の薄膜磁気ヘ
ッド装置の製造方法。
4. A method of manufacturing a thin film magnetic head device according to claim 1, wherein a dummy member is also provided when the block is fixed to the jig.
JP3541895A 1995-02-23 1995-02-23 Production of thin-film magnetic head device Withdrawn JPH08235530A (en)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6458019B1 (en) 2001-03-19 2002-10-01 Fujitsu Limited Method of manufacturing magnetic head
US6709321B2 (en) * 2000-01-13 2004-03-23 Tdk Corporation Processing jig
CN100378806C (en) * 2005-02-25 2008-04-02 Tdk株式会社 Magnetic head and method for manufacturing the same

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