JPH08222300A - Anisotropic conductive film and its manufacture - Google Patents

Anisotropic conductive film and its manufacture

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JPH08222300A
JPH08222300A JP7025551A JP2555195A JPH08222300A JP H08222300 A JPH08222300 A JP H08222300A JP 7025551 A JP7025551 A JP 7025551A JP 2555195 A JP2555195 A JP 2555195A JP H08222300 A JPH08222300 A JP H08222300A
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JP
Japan
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film
polymer film
conductive
hole
conductive metal
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Application number
JP7025551A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Takashi Yoshida
吉田  敬
Kazuhiko Ogawa
和彦 小川
Masahiko Tatsuki
雅彦 辰木
Hideki Shinohara
英樹 篠原
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sumitomo Riko Co Ltd
Original Assignee
Sumitomo Riko Co Ltd
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Publication date
Application filed by Sumitomo Riko Co Ltd filed Critical Sumitomo Riko Co Ltd
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Abstract

PURPOSE: To lengthen the service life of an anisotropic conductive film by preventing fall-off of conductive metallic bodies from the anisotropic conductive film. CONSTITUTION: An anisotropic conductive film is composed of a high polymer film 1 having a large number of through holes bored in the thickness direction and conductive metallic bodies 2 embedded in the through holes of the high polymer film 1. In the anisotropic conductive film where both ends of the conductive metallic bodies 2 are formed in projecting electrode parts 2e and 2f projecting from both surfaces of the high polymer film 1, one end opening of the through holes of the high polymer film 1 is a net-like opening covered with a net part 1a formed from a part of the high polymer film 1. The net part 1a of this net-like opening is positioned inside the conductive metallic bodies 2, and the high polymer film 1 and the conductive metallic bodies 2 are integrally formed.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、フィルム厚み方向に導
電性を示しフィルム面方向に絶縁性を示す異方導電性フ
ィルムおよびその製法に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an anisotropic conductive film having conductivity in the film thickness direction and insulating property in the film surface direction, and a method for producing the same.

【0002】[0002]

【従来の技術】近年の電気,電子製品の高性能化および
小形化にともない、電子回路の微細配線化が進められて
いる。このため、従来の配線技術であったワイヤーボン
ディング法やTAB法(Tape Automated
Bonding法)に代わり、異方導電性フィルムを
用いた配線が採用されている(特開平3−182083
号公報等)。
2. Description of the Related Art With recent improvements in performance and miniaturization of electric and electronic products, fine wiring of electronic circuits is being advanced. Therefore, the wire bonding method and the TAB method (Tape Automated
In place of the Bonding method), wiring using an anisotropic conductive film is adopted (Japanese Patent Laid-Open No. 3-182083).
No.

【0003】異方導電性フィルムは、高分子フィルム中
に多数の導電性金属体が埋設され、この導電性金属体の
両端が上記高分子フィルムの両面から突出しているとい
う構造をとるものである。すなわち、図6(A)の断面
図に示すように、高分子フィルム1eは、厚み方向に穿
設された多数の貫通孔を備え、この貫通孔に導電性金属
体2cが埋設されており、かつ上記導電性金属体2cの
両端が略半球状の突起電極部に形成され、この両端の突
起電極部は、高分子フィルム1eの両面から突出してい
る。そして、多数の導電性金属体2cは、相互に接触し
ないように、一定の間隔(ピッチ)で隔離されている。
このような構成をとることにより、異方導電性フィルム
の厚み方向は電気的に導通した状態となり、かつフィル
ム面方向は電気的に絶縁した状態となる。そして、この
異方導電性フィルムでは、フィルム面方向の絶縁距離を
小さくすることが要求特性であるため、上記導電性金属
体2cの突起電極部の外径を小さくすることが好ましい
とされている。
The anisotropic conductive film has a structure in which a large number of conductive metal bodies are embedded in a polymer film, and both ends of the conductive metal body project from both sides of the polymer film. . That is, as shown in the cross-sectional view of FIG. 6 (A), the polymer film 1e has a large number of through holes formed in the thickness direction, and the conductive metal body 2c is embedded in the through holes. In addition, both ends of the conductive metal body 2c are formed into substantially hemispherical projecting electrode portions, and the projecting electrode portions at both ends project from both surfaces of the polymer film 1e. The large number of conductive metal bodies 2c are separated by a constant interval (pitch) so as not to contact each other.
By adopting such a configuration, the anisotropic conductive film is electrically connected in the thickness direction and electrically insulated in the film surface direction. In this anisotropic conductive film, since it is a required characteristic to reduce the insulation distance in the film surface direction, it is preferable to reduce the outer diameter of the protruding electrode portion of the conductive metal body 2c. .

【0004】また、図6(A)のX部の拡大断面図であ
る同図(B)に示すように、導電性金属体2c両端の突
起電極部2g,2hは、導電性金属体2cの脱落を防止
するために、その外径が、高分子フィルム1eの貫通孔
の開口内径より大きくなるように形成されて、ツメ部2
kを備えている。
Further, as shown in FIG. 6B, which is an enlarged cross-sectional view of the X portion of FIG. 6A, the protruding electrode portions 2g and 2h at both ends of the conductive metal body 2c are made of the conductive metal body 2c. In order to prevent the claw portion 2 from being detached, the outer diameter thereof is formed to be larger than the inner diameter of the opening of the through hole of the polymer film 1e.
equipped with k.

【0005】従来において、このような突起電極部付き
導電性金属体を備えた異方導電性フィルムは、図7に示
すようにして作製されている。すなわち、まず、図7
(a)に示すように、導電性支持体3aの上に高分子フ
ィルム1eを形成する。この導電性支持体3aは、通
常、銅箔等の金属製フィルムが使用される。そして、同
図(b)に示すように、高分子フィルム1eに対しレー
ザー4をマスク(図示せず)を介して照射し、フィルム
厚み方向に貫通孔を穿設する。上記マスクは、異方導電
性フィルムの導電性金属体の配置パターンが形成された
ものである。つぎに、同図(c)に示すように、高分子
フィルム1eの貫通孔から導電性支持体3aに対してエ
ッチング処理を行い、上記導電性支持体3aの上記貫通
孔に対応する場所に凹部を形成する。上記エッチング処
理には、例えば、上記導電性支持体3aを溶解する溶液
が使用される。そして、同図(d)に示すように、導電
性支持体3aを電極として電気メッキを行い、高分子フ
ィルム1eの貫通孔内で導電性金属を析出させて導電性
金属体2cを形成する。この時、高分子フィルム1eの
両面から導電性金属体2cを突出成長させることによ
り、上記貫通孔の開口内径より大きい外径を有する突起
電極部を形成する。ついで、導電性支持体3aを除去す
ることにより、同図(e)に示すように、高分子フィル
ム1e中に多数の導電性金属体2cが埋設された異方導
電性フィルムが得られる。
Conventionally, an anisotropic conductive film provided with such a conductive metal body having a protruding electrode portion is manufactured as shown in FIG. That is, first, FIG.
As shown in (a), the polymer film 1e is formed on the conductive support 3a. As the conductive support 3a, a metal film such as copper foil is usually used. Then, as shown in FIG. 4B, the polymer film 1e is irradiated with a laser 4 through a mask (not shown) to form through holes in the film thickness direction. The mask has an arrangement pattern of conductive metal bodies of an anisotropic conductive film. Next, as shown in FIG. 3C, the conductive support 3a is etched from the through holes of the polymer film 1e to form recesses at locations corresponding to the through holes of the conductive support 3a. To form. For the etching process, for example, a solution that dissolves the conductive support 3a is used. Then, as shown in FIG. 3D, electroplating is performed using the conductive support 3a as an electrode to deposit the conductive metal in the through holes of the polymer film 1e to form the conductive metal body 2c. At this time, by projecting and growing the conductive metal body 2c from both surfaces of the polymer film 1e, a protruding electrode portion having an outer diameter larger than the inner diameter of the opening of the through hole is formed. Then, by removing the conductive support 3a, an anisotropic conductive film having a large number of conductive metal bodies 2c embedded in the polymer film 1e is obtained as shown in FIG.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】上記の従来製法によ
り、ツメ部が形成された突起電極部を有する導電性金属
体が高分子フィルムに埋設された異方導電性フィルムを
作製することができるが、この従来製法により作製され
るものは、その性能が不充分なものになる。すなわち、
上記従来製法により得られる異方導電性フィルムにおい
て、導電性支持体側の突起電極部の形状が不均一に形成
され、特にその高さが不揃となる。このため、従来製法
により作製された異方導電性フィルムは、電気的接続の
信頼性が悪いという問題がある。また、導電性支持体側
の突起電極部の形状が、偏平な略半球状となるため、ツ
メ部の厚みが薄くなり、欠けやすくなる。このため、異
方導電性フィルムから導電性金属体が脱落しやすくな
り、性能が急激に劣化するという問題が生じる。上記ツ
メ部を厚く形成する方法としては、導電性支持体に対す
るエッチングを充分に行い、凹部を大きく形成する方法
があげられるが、凹部を大きく形成すると突起電極部の
外径が必要以上に大きくなるため、得られる異方導電性
フィルムにおいて、導電性金属体の挟ピッチ化を図るこ
とができず、フィルム面方向の絶縁性が悪くなる。
According to the above conventional manufacturing method, an anisotropic conductive film in which a conductive metal body having a protruding electrode portion having a claw portion is embedded in a polymer film can be manufactured. However, the performance of the product manufactured by this conventional manufacturing method is insufficient. That is,
In the anisotropic conductive film obtained by the above conventional manufacturing method, the shape of the protruding electrode portion on the side of the conductive support is formed unevenly, and in particular, the height is uneven. Therefore, the anisotropic conductive film manufactured by the conventional manufacturing method has a problem that the reliability of electrical connection is poor. In addition, since the shape of the protruding electrode portion on the side of the conductive support is a flat and substantially hemispherical shape, the thickness of the claw portion becomes thin and is easily chipped. For this reason, the conductive metal body is likely to fall off from the anisotropic conductive film, resulting in a problem that performance is rapidly deteriorated. As a method of forming the claw portion thickly, there is a method of sufficiently etching the conductive support to form a large concave portion, but when the concave portion is formed large, the outer diameter of the protruding electrode portion becomes larger than necessary. Therefore, in the obtained anisotropically conductive film, it is not possible to achieve a sandwiching pitch of the conductive metal body, and the insulating property in the film surface direction deteriorates.

【0007】この発明は、このような事情に鑑みなされ
たもので、電気的接続の信頼性の向上、導電性金属体の
脱落防止および挟ピッチ化を図ることが可能な異方導電
性フィルムおよびその製法の提供をその目的とする。
The present invention has been made in view of the above circumstances, and is an anisotropic conductive film capable of improving the reliability of electrical connection, preventing the conductive metal body from falling off, and achieving a narrow pitch. The purpose is to provide the manufacturing method.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明は、厚み方向に穿設された多数の貫通孔を備
える高分子フィルムと、上記高分子フィルムの貫通孔内
に埋設された導電性金属体とからなり、上記導電性金属
体の両端が、上記高分子フィルムの両面から突出した突
起電極部に形成された異方導電性フィルムであって、上
記高分子フィルムの貫通孔の一端開口が、高分子フィル
ムの一部から形成された網部により覆われた網状開口で
あり、この網状開口の網部が上記導電性金属体内部に位
置して上記高分子フィルムと導電性金属体とが一体化さ
れている異方導電性フィルムを第1の要旨とする。
In order to achieve the above object, the present invention provides a polymer film having a large number of through holes formed in the thickness direction, and a polymer film embedded in the through holes of the polymer film. And a conductive metal body, both ends of the conductive metal body is an anisotropic conductive film formed on the protruding electrode portion protruding from both sides of the polymer film, the through hole of the polymer film One end opening of which is a net-like opening covered by a net formed from a part of the polymer film, and the net of the net-like opening is located inside the conductive metal body and is electrically conductive with the polymer film. An anisotropic conductive film integrated with a metal body is defined as a first gist.

【0009】また、本発明は、下記の(a)〜(g)の
工程を備える異方導電性フィルムの製法を第2の要旨と
する。 (a)導電性フィルムの凹凸粗面上に高分子フィルムが
積層され、その接合部において、上記導電性フィルム凹
凸粗面の凹部に上記高分子フィルムが食い込んで両者が
密着している積層フィルムを準備する工程。 (b)上記積層フィルムの高分子フィルム表面に対しレ
ーザーを厚み方向に照射して上記高分子フィルムのみに
貫通孔を穿設する際、上記高分子フィルムの下側に位置
する導電性フィルムの凹凸粗面凹部に食い込む上記高分
子フィルム部分を残して穿設することにより、この残っ
た高分子フィルム部分で網部を形成して貫通孔の一端開
口を網状開口に形成する工程。 (c)上記導電性フィルムを電極とした電気メッキ法に
より、上記高分子フィルムの貫通孔内に導電性金属を析
出させ、厚み方向に連続する導電性金属体を形成し、こ
の導電性金属体の上記貫通孔の他端に対応する他端を、
上記貫通孔の他端開口から突出する突起電極部に形成す
る工程。 (d)上記貫通孔の他端開口の突起電極部上に導電層を
形成する工程。 (e)上記積層フィルムの導電性フィルムを除去し、上
記導電性金属体の一端側の端面を上記高分子フィルムの
貫通孔一端開口の網目から露呈させる工程。 (f)上記貫通孔の他端開口の突起電極部上に形成され
た導電層を電極とした電気メッキ法により、上記高分子
フィルムの貫通孔内に形成された導電性金属体の一端側
露呈端面上に導電性金属を析出させ、上記導電性金属体
の一端を上記貫通孔の一端開口全体から突出する突起電
極部に形成する工程。 (g)上記貫通孔の他端開口の突起電極部上に形成され
た導電層を除去する工程。
A second aspect of the present invention is a method for producing an anisotropic conductive film including the following steps (a) to (g). (A) A laminated film in which a polymer film is laminated on an uneven rough surface of a conductive film, and the polymer film bites into the concave portion of the uneven rough surface of the conductive film at the joint portion thereof, and both are in close contact with each other. Step of preparing. (B) When a laser is applied to the surface of the polymer film of the laminated film in the thickness direction to form a through hole only in the polymer film, unevenness of the conductive film located under the polymer film A step of forming a net by the remaining polymer film portion by leaving the above-mentioned polymer film portion that bites into the concave portion of the rough surface to form one end opening of the through hole into a net-like opening. (C) A conductive metal is deposited in the through-holes of the polymer film by an electroplating method using the conductive film as an electrode to form a conductive metal body continuous in the thickness direction. The other end corresponding to the other end of the through hole of
A step of forming a protruding electrode portion protruding from the other end opening of the through hole. (D) A step of forming a conductive layer on the protruding electrode portion at the other end opening of the through hole. (E) A step of removing the conductive film of the laminated film and exposing the end face of the conductive metal body on one end side from the mesh of the one end opening of the through hole of the polymer film. (F) Exposing one end side of the conductive metal body formed in the through hole of the polymer film by electroplating using the conductive layer formed on the protruding electrode portion at the other end opening of the through hole as an electrode A step of depositing a conductive metal on the end face and forming one end of the conductive metal body on a protruding electrode portion protruding from the entire opening of the one end of the through hole. (G) A step of removing the conductive layer formed on the protruding electrode portion at the other end opening of the through hole.

【0010】[0010]

【作用】すなわち、本発明の異方導電性フィルムは、高
分子フィルムの貫通孔の一端開口が、高分子フィルムの
一部から形成された網部により覆われた網状開口となっ
ており、この網状開口の全体から導電性金属体の突起電
極部が突出し、上記導電性金属体の内部に上記高分子フ
ィルムの網部が位置するという特殊な構造をとる。これ
により、高分子フィルムと導電性金属体とが一体化し、
上記導電性金属体は、突起電極部にツメ部を備えなくと
も、上記高分子フィルムと物理的に結合した状態となる
ため、脱落することがない。
That is, in the anisotropic conductive film of the present invention, one end of the through hole of the polymer film is a net-like opening covered with a net portion formed from a part of the polymer film. The projection electrode portion of the conductive metal body projects from the entire mesh-shaped opening, and the mesh portion of the polymer film is located inside the conductive metal body, which is a special structure. As a result, the polymer film and the conductive metal body are integrated,
Since the conductive metal body is in a state of being physically bonded to the polymer film even if the protruding electrode portion is not provided with a claw portion, it does not fall off.

【0011】また、上記の特殊な構造をとる異方導電性
フィルムは、本発明の異方導電性フィルムの製法により
作製することができる。すなわち、導電性フィルムの凹
凸粗面の上に高分子フィルムが密着形成された積層フィ
ルムを準備する。そして、この積層フィルムの上記高分
子フィルムに対し、レーザー照射により、上記導電性フ
ィルムの凹凸粗面の凹部に食い込んだ高分子フィルム部
分を残して穿設することにより、貫通孔の一端を網状開
口に形成する。そして、電気メッキ法により、上記高分
子フィルムの貫通孔内で導電性金属体を形成し、さらに
上記網状開口部の網目から導電性金属を析出させ、上記
貫通孔の網状開口全体から突出するように導電性金属体
の突起電極部を形成する。これにより、導電性金属体内
部に高分子フィルムの網部が位置するようになり、両者
が一体化される。
Further, the anisotropic conductive film having the above-mentioned special structure can be produced by the method for producing the anisotropic conductive film of the present invention. That is, a laminated film in which a polymer film is closely formed on the rough surface of the conductive film is prepared. Then, by irradiating the polymer film of the laminated film with a laser, leaving a polymer film portion that has dented in the recesses of the rough surface of the conductive film, one end of the through hole is reticulated. To form. Then, by electroplating, a conductive metal body is formed in the through holes of the polymer film, and a conductive metal is further deposited from the mesh of the mesh opening so that the metal mesh is projected from the whole mesh opening of the through hole. A protruding electrode portion of a conductive metal body is formed on the. As a result, the mesh portion of the polymer film comes to be positioned inside the conductive metal body, and both are integrated.

【0012】そして、本発明の異方導電性フィルムの製
法は、電気メッキ法により高分子フィルムの両面に一面
ずつ突起電極部を形成する製法である。これにより、突
起電極部の形成条件を均一にすることが可能となって、
突起電極部が、高さが揃った均一形状となり、またその
表面も光沢ある平滑表面となる。
The method for producing the anisotropic conductive film of the present invention is a method for forming the protruding electrode portions on both sides of the polymer film by electroplating, one by one. This makes it possible to make the formation conditions of the protruding electrode portions uniform,
The protruding electrode portion has a uniform shape with uniform height, and the surface thereof is also a glossy smooth surface.

【0013】このように、高分子フィルムの両面に一面
ずつ突起電極部を形成するとしたのはつぎの理由によ
る。すなわち、突起電極部の形成方法において、従来製
法の欠点について詳細に検討したところ、導電性支持体
側に形成される突起電極部の形状が不均一となるのは、
導電性支持体に対するエッチング処理速度が、場所によ
って異なるため、形成される凹部の形状が不均一となる
という事実を突き止めた。また、突起電極部の形状が偏
平な略半球状の突起電極部となり、ツメ部の厚みが薄く
なるのは、エッチングの進行方向が導電性支持体と高分
子フィルムとの界面方向に進行しやすいため、導電性支
持体に形成される凹部の内部形状が、深さが浅く幅が広
い偏平な略半球状となるという事実も突き止めた。そこ
で、これらの知見に基づき、研究を重ねた結果、先に述
べたように、電気メッキ法により上記両端の突起電極部
を一面ずつ別々に形成すれば、突起電極部の形成条件を
均一とすることができるようになって、突起電極部の形
状が均一なものとなり、その高さを揃えることが可能と
なることを見出したのである。
The reason why the protruding electrode portions are formed on both sides of the polymer film in this way is as follows. That is, in the method of forming the protruding electrode portion, when the drawbacks of the conventional manufacturing method were examined in detail, it was found that the shape of the protruding electrode portion formed on the conductive support side was non-uniform.
The present inventors have found out that the etching treatment rate for the conductive support differs depending on the location, so that the shape of the formed recess becomes non-uniform. Further, the shape of the protruding electrode portion becomes a flattened substantially hemispherical protruding electrode portion, and the thickness of the claw portion becomes thin because the etching progresses easily in the interface direction between the conductive support and the polymer film. Therefore, they have also found out that the inner shape of the recess formed in the conductive support is a flat hemisphere having a shallow depth and a wide width. Therefore, as a result of repeated research based on these findings, as described above, if the protruding electrode portions at the both ends are separately formed one by one by the electroplating method, the forming conditions of the protruding electrode portions can be made uniform. It has been found that the shape of the protruding electrode portion becomes uniform and the heights thereof can be made uniform.

【0014】つぎに、本発明について詳しく説明する。Next, the present invention will be described in detail.

【0015】図1に、本発明の異方導電性フィルムの一
例を示す。同図において、(A)は、本発明の異方導電
性フィルムの断面図であり、(B)は、上記(A)のX
部分の拡大断面図である。図1(A)に示すように、こ
の異方導電性フィルムは、高分子フィルム1が多数の貫
通孔を備え、これに導電性金属体2が埋設されており、
上記導電性金属体2の両端は、上記高分子フィルムの両
面から突出する略半球状の突起電極部に形成されてい
る。そして、図1(B)の拡大断面図に示すように、高
分子フィルム1の貫通孔が、図面上での上側開口(他端
開口)から下側開口(一端開口)にかけて内径が連続的
に小さくなるテーパー状に形成されているとともに、導
電性金属体の突起電極部2e,2fの外径(底面直径)
が、対応する開口内径と略同一となっている。そして、
高分子フィルム1の貫通孔の一端開口は、上記高分子フ
ィルムの一部分を用いて形成された網部1aにより覆わ
れた網状開口となっており、上記網部1aが上記導電性
金属体2の内部に位置した状態で突起電極部2fが突出
形成(図面下方)され、高分子フィルム1と導電性金属
体2とが物理的に結合した状態で一体化されている。こ
のため、この異方導電性フィルムでは、高分子フィルム
1からの導電性金属体2の脱落がない。また、ツメ部を
形成する必要がないことから、導電性金属体2の突起電
極部2e,2fは、それぞれに対応する開口の内径と略
同一の外径となるように、小さく形成することが可能で
ある。このため、導電性金属体2相互の挟ピッチ化を図
ることが可能となって異方導電性フィルムのフィルム面
方向の絶縁性に優れるようになる。
FIG. 1 shows an example of the anisotropic conductive film of the present invention. In the figure, (A) is a cross-sectional view of the anisotropic conductive film of the present invention, and (B) is X of the above (A).
It is an expanded sectional view of a part. As shown in FIG. 1 (A), in this anisotropic conductive film, the polymer film 1 has a large number of through holes, and the conductive metal body 2 is embedded in the through holes.
Both ends of the conductive metal body 2 are formed in substantially hemispherical protruding electrode portions protruding from both surfaces of the polymer film. Then, as shown in the enlarged cross-sectional view of FIG. 1 (B), the through hole of the polymer film 1 has a continuous inner diameter from the upper opening (the other end opening) to the lower opening (the one end opening) in the drawing. The taper is formed to be small, and the outer diameters (bottom surface diameters) of the protruding electrode portions 2e and 2f of the conductive metal body are also formed.
Is approximately the same as the corresponding inner diameter of the opening. And
One end opening of the through hole of the polymer film 1 is a net-like opening covered with a net portion 1a formed by using a part of the polymer film, and the net portion 1a is formed of the conductive metal body 2. The protruding electrode portion 2f is formed so as to project in the state of being located inside (downward in the drawing), and the polymer film 1 and the conductive metal body 2 are physically bonded and integrated. Therefore, in this anisotropic conductive film, the conductive metal body 2 does not fall off from the polymer film 1. Further, since it is not necessary to form the claw portion, the protruding electrode portions 2e and 2f of the conductive metal body 2 can be formed to be small so as to have an outer diameter substantially the same as the inner diameter of the corresponding opening. It is possible. Therefore, it is possible to achieve a narrow pitch between the conductive metal bodies 2 and to improve the insulating property in the film surface direction of the anisotropic conductive film.

【0016】つぎに、本発明の異方導電性フィルムの製
法は、上記(a)〜(g)の工程を備えるものである。
これらの工程について、図面に基づき順を追って説明す
る。
Next, the method for producing the anisotropic conductive film of the present invention comprises the steps (a) to (g).
These steps will be described step by step with reference to the drawings.

【0017】上記工程(a)は、図2(a)に示すよう
な、導電性フィルム3の凹凸粗面上に高分子フィルム1
bが積層され、その接合部において、上記導伝性フィル
ム3凹凸粗面の凹部に上記高分子フィルム1bが食い込
んで両者が密着している積層フィルムを準備する工程で
ある。
In the step (a), the polymer film 1 is formed on the rough surface of the conductive film 3 as shown in FIG. 2 (a).
In the step of preparing a laminated film in which b is laminated and the polymer film 1b bites into the concave portion of the rough surface of the conductive film 3 at the joint portion, and the two are in close contact with each other.

【0018】すなわち、上記積層フィルムの拡大断面図
である図4に示すように、導電性フィルム3は凹凸粗面
を有し、この凹凸粗面上に高分子フィルム1bが積層さ
れている。そして、この積層フィルムの接合面7におい
て、上記導電性フィルム3の凹凸粗面の凹部に高分子フ
ィルム1bの下側部分が食い込んで両者が噛み合った状
態で密着されている。
That is, as shown in FIG. 4, which is an enlarged cross-sectional view of the above-mentioned laminated film, the conductive film 3 has an uneven rough surface, and the polymer film 1b is laminated on this uneven rough surface. Then, on the joint surface 7 of this laminated film, the lower part of the polymer film 1b bites into the concave portion of the rough surface of the conductive film 3, and they are in close contact with each other in a meshed state.

【0019】上記高分子フィルム1bの材料としては、
絶縁性を示すものであれば特に制限するものではなく、
例えば、ポリイミド系樹脂,ポリエステル系樹脂,ポリ
エチレン系樹脂,エポキシ系樹脂等の熱可塑性樹脂ある
いは熱硬化性樹脂があげられる。このなかで、絶縁性,
耐熱性,耐摩耗性等の特性に優れるポリイミド系樹脂が
好ましい。
As the material for the polymer film 1b,
There is no particular limitation as long as it exhibits insulating properties,
For example, a thermoplastic resin such as a polyimide resin, a polyester resin, a polyethylene resin, an epoxy resin or a thermosetting resin can be used. Among these, insulation,
A polyimide resin, which has excellent properties such as heat resistance and abrasion resistance, is preferable.

【0020】また、上記導電性フィルム3も特に制限す
るものではなく、例えば、銅箔等の金属製の導電性フィ
ルムがあげられる。そして、導電性フィルム3の凹凸粗
面の表面粗さは、測定長さ5mm,カットオフ値0.8
mmの測定において、中心線平均粗さRaで示すもので
あり、通常0.2〜6.3μm、好ましくは0.4〜
3.2μm、特に好ましくは0.8〜1.6μmであ
る。また、上記凹凸粗面の最大高さRmaxは、通常
0.8〜25μm、好ましくは1.6〜18μm、特に
好ましくは3.2〜12.5μmである。
The conductive film 3 is not particularly limited, and examples thereof include a conductive film made of metal such as copper foil. The surface roughness of the rough surface of the conductive film 3 is 5 mm in measurement length and 0.8 in cutoff value.
In the measurement of mm, it is shown by the center line average roughness Ra and is usually 0.2 to 6.3 μm, preferably 0.4 to
The thickness is 3.2 μm, particularly preferably 0.8 to 1.6 μm. Further, the maximum height Rmax of the rough surface having irregularities is usually 0.8 to 25 μm, preferably 1.6 to 18 μm, and particularly preferably 3.2 to 12.5 μm.

【0021】上記導電性フィルム3の上に高分子フィル
ム1bを密着形成する方法も特に制限するものではな
く、導電性フィルム3上に上記高分子フィルム1bの形
成材料を押出成形する方法や、予め高分子フィルム1b
を形成し、これを導電性フィルム3の上に圧着等の方法
により貼着する方法があげられる。また、このような積
層フィルムは、市販品を使用してもよい。この市販品と
しては、例えば、フレキシブルプリント配線板(FP
C)用銅張積層板があげられる。そして、高分子フィル
ムの一部を網部に形成することから、接着剤層がなく、
かつ電解銅箔を使用したFPC用銅張積層板が好まし
い。また、上記高分子フィルム1bの厚みは、貫通孔の
孔径精度の観点から、5〜200μmが好ましく、特に
好ましくは、10〜100μmである。また、導電性フ
ィルム3の厚みは、通常、5μm以上、好ましくは5〜
100μm、特に好ましくは10〜50μmである。
The method of closely forming the polymer film 1b on the conductive film 3 is not particularly limited, and a method of extrusion-molding the material for forming the polymer film 1b on the conductive film 3 or previously Polymer film 1b
There is a method of forming a layer and sticking it on the conductive film 3 by a method such as pressure bonding. Moreover, you may use a commercial item for such a laminated film. Examples of commercially available products include flexible printed wiring boards (FP
An example is a copper clad laminate for C). And since a part of the polymer film is formed in the net portion, there is no adhesive layer,
Moreover, a copper-clad laminate for FPC using an electrolytic copper foil is preferable. Further, the thickness of the polymer film 1b is preferably 5 to 200 μm, and particularly preferably 10 to 100 μm from the viewpoint of hole diameter accuracy of the through holes. The thickness of the conductive film 3 is usually 5 μm or more, preferably 5 μm or more.
The thickness is 100 μm, particularly preferably 10 to 50 μm.

【0022】つぎに、図2(b)に示すように、上記工
程(b)は、上記積層フィルムの高分子フィルム1b表
面に対しレーザー4を厚み方向に照射して上記高分子フ
ィルム1bのみに貫通孔を穿設する際、上記高分子フィ
ルム1bの下側に位置する導電性フィルム3の凹凸粗面
凹部に食い込む上記高分子フィルム1b部分を残して穿
設することにより、この残った高分子フィルム1b部分
で網部を形成して貫通孔の一端開口を網状開口に形成す
る工程である。
Next, as shown in FIG. 2 (b), in the step (b), the surface of the polymer film 1b of the laminated film is irradiated with a laser 4 in the thickness direction to expose only the polymer film 1b. When the through hole is formed, the remaining polymer is formed by leaving a portion of the polymer film 1b which bites into the concave and convex rough surface of the conductive film 3 located below the polymer film 1b. It is a step of forming a mesh portion in the film 1b portion and forming one end opening of the through hole into a mesh opening.

【0023】すなわち、図5の積層フィルムの拡大断面
図に示すように、導電性フィルム3の凹凸粗面の上に形
成された高分子フィルム1bに対し、導電性金属体の配
置パターンが形成されたマスク(図示せず)を介してレ
ーザー4を照射し、上記導電性フィルム3の凹凸粗面の
凹部に食い込んだ高分子フィルム1bの部分1aを残し
た状態で貫通孔を穿設する。すると、接合面7におい
て、上記高分子フィルム1bの残った部分1aが網部と
なり、上記導電性フィルム3の凹凸粗面の露出した凸部
が網目となって、貫通孔の一端開口が網状開口に形成さ
れる。このように、貫通孔の網状開口は、レーザーの出
力やショット数等を調整することにより貫通孔の深さを
一定に止めることにより形成することができる。なお、
このレーザーによる穿設の際、導電性フィルム3は加工
されない。そして、このレーザー照射により形成される
貫通孔の内形状は、レーザー照射側の開口(他端開口)
から接合面7側の開口にかけて内径が連続的に小さくな
るテーパー状となる。
That is, as shown in the enlarged cross-sectional view of the laminated film of FIG. 5, an arrangement pattern of conductive metal bodies is formed on the polymer film 1b formed on the rough surface of the conductive film 3. A laser 4 is radiated through a mask (not shown), and a through hole is formed while leaving the portion 1a of the polymer film 1b that has digged into the concave portion of the rough surface of the conductive film 3. Then, in the joint surface 7, the remaining portion 1a of the polymer film 1b becomes a net portion, the exposed convex portion of the rough surface of the conductive film 3 becomes a mesh, and one end of the through hole is a net-like opening. Is formed. Thus, the mesh-like openings of the through holes can be formed by keeping the depth of the through holes constant by adjusting the laser output and the number of shots. In addition,
The conductive film 3 is not processed during the drilling by the laser. The inner shape of the through hole formed by this laser irradiation is the opening on the laser irradiation side (the other end opening).
To the opening on the joint surface 7 side, the inner diameter becomes a taper shape that continuously decreases.

【0024】上記レーザーとしては、一般のレーザー加
工に使用されるレーザーを適用できるが、好ましくは、
エキシマレーザーである。このエキシマレーザーの条件
は、以下のとおりである。まず、レーザー媒質として、
KrF(発振波長248nm),ArF(193nm)
等があげられ、好ましくはKrFである。また、発振周
波数としては、通常、1〜1000Hz,特に好ましく
は300〜600Hzである。エネルギー密度は、通
常、0.1〜10J/cm2 、好ましくは0.2〜6J
/cm2 、特に好ましくは0.5〜1J/cm2 であ
る。また、ショット数は、高分子フィルムの厚みと加工
エネルギー密度によって異なるが、断面形状精度および
加工時間の観点から、50〜200ショットが好まし
い。
As the above laser, a laser used in general laser processing can be applied, but preferably,
It is an excimer laser. The conditions of this excimer laser are as follows. First, as a laser medium,
KrF (oscillation wavelength 248 nm), ArF (193 nm)
And the like, and preferably KrF. The oscillation frequency is usually 1 to 1000 Hz, particularly preferably 300 to 600 Hz. The energy density is usually 0.1 to 10 J / cm 2 , preferably 0.2 to 6 J.
/ Cm 2 , and particularly preferably 0.5 to 1 J / cm 2 . The number of shots varies depending on the thickness of the polymer film and the processing energy density, but 50 to 200 shots are preferable from the viewpoint of cross-sectional shape accuracy and processing time.

【0025】そして、レーザー照射側の貫通孔の開口
(他端開口)の内径は、異方導電性フィルムのフィルム
面方向の絶縁距離の観点から、通常、10〜100μ
m、好ましくは、15〜50μm、特に好ましくは20
〜40μmである。また、貫通孔の一端開口(網状開
口)の内径は、通常、7〜100μm、好ましくは、1
2〜50μm、特に好ましくは17〜40μmの範囲で
ある。そして、貫通孔相互の距離(ピッチ)は、通常1
5〜200μm、好ましくは30〜100μm、特に好
ましくは40〜80μmである。
The inner diameter of the opening (the other end opening) of the through hole on the laser irradiation side is usually 10 to 100 μ from the viewpoint of the insulation distance in the film surface direction of the anisotropic conductive film.
m, preferably 15 to 50 μm, particularly preferably 20.
Is about 40 μm. The inner diameter of the one-end opening (mesh-shaped opening) of the through hole is usually 7 to 100 μm, preferably 1
It is in the range of 2 to 50 μm, particularly preferably 17 to 40 μm. The distance (pitch) between the through holes is usually 1
It is 5 to 200 μm, preferably 30 to 100 μm, and particularly preferably 40 to 80 μm.

【0026】つぎに、上記工程(c)は、図2(c)に
示すように、上記導電性フィルム3を電極とした電気メ
ッキ法により、上記高分子フィルム1bの貫通孔内に導
電性金属を析出させ、厚み方向に連続する導電性金属体
2aを形成し、この導電性金属体の上記貫通孔の他端に
対応する他端を、上記貫通孔の他端開口から突出する突
起電極部に形成する工程である。
Next, in the step (c), as shown in FIG. 2 (c), a conductive metal is formed in the through hole of the polymer film 1b by an electroplating method using the conductive film 3 as an electrode. To form a conductive metal body 2a continuous in the thickness direction, and the other end of the conductive metal body corresponding to the other end of the through hole projects from the other end opening of the through hole. Is a step of forming.

【0027】上記電気メッキ法は、特に制限するもので
はなく、通常の方法が適用できる。また、析出させる導
電性金属も特に制限するものではないが、導電性が優れ
る金が好ましい。この金を使用した電気金メッキを例に
とり、電気メッキ法による導電性金属体2aの形成につ
いて説明する。
The electroplating method is not particularly limited, and a usual method can be applied. The conductive metal to be deposited is not particularly limited, but gold, which has excellent conductivity, is preferable. The formation of the conductive metal body 2a by the electroplating method will be described by taking the electroplating using gold as an example.

【0028】すなわち、まず、同図(c)に示すよう
に、必要に応じ、導電性フィルム3の裏面に、レジスト
層4を形成する。これは、導電性フィルム3の裏面にお
いて、導電性金属が析出するのを防止するためである。
このレジスト層4としては、耐メッキ溶液性の理由から
紫外線硬化型レジスト層が好ましく、具体的には、プリ
ント基板用メッキレジストから形成されるもの等があげ
られる。また、レジスト層4の形成は、つぎのようにし
て行われる。すなわち、スピンコータの回転板上に、積
層フィルムをこの導電性フィルム側を上にして配置し、
これを回転させ、液状レジストを適量滴下する。そし
て、膜厚が均一になるようにレジストを塗布した後、乾
燥(通常、25℃×15分)し、紫外線を照射してこれ
を硬化させる。このレジスト層4の厚みは、通常、1〜
50μm、好ましくは2〜20μm、特に好ましくは5
〜15μmである。
That is, first, as shown in FIG. 3C, a resist layer 4 is formed on the back surface of the conductive film 3 if necessary. This is to prevent the conductive metal from depositing on the back surface of the conductive film 3.
The resist layer 4 is preferably an ultraviolet curable resist layer because of its resistance to plating solution, and specific examples thereof include those formed from a plating resist for printed boards. The resist layer 4 is formed as follows. That is, on the rotating plate of the spin coater, the laminated film is placed with the conductive film side up,
This is rotated and an appropriate amount of liquid resist is dropped. Then, after applying a resist so that the film thickness becomes uniform, it is dried (usually 25 ° C. × 15 minutes) and irradiated with ultraviolet rays to be cured. The thickness of the resist layer 4 is usually 1 to
50 μm, preferably 2 to 20 μm, particularly preferably 5
Is about 15 μm.

【0029】つぎに、必要に応じて洗浄処理および活性
化処理(酸洗浄処理)を行った後に電気金メッキを行
う。
Next, after performing cleaning treatment and activation treatment (acid cleaning treatment) as necessary, electro gold plating is performed.

【0030】上記洗浄処理は、貫通孔内の異物除去を目
的として行うものであり、通常、超音波洗浄が採用され
る。
The above-mentioned cleaning treatment is carried out for the purpose of removing foreign matters in the through holes, and ultrasonic cleaning is usually employed.

【0031】また、上記活性化処理は、酸を用いて洗浄
することにより導電性フィルム3表面に形成された酸化
皮膜を除去するためのものである。上記酸洗浄に使用さ
れる酸としては、例えば、塩酸,硫酸,りん酸が使用さ
れ、好ましくは塩酸である。一般に、この酸洗浄処理
は、上記酸性溶液に上記積層フィルムを浸漬することに
より行われる。
The activation treatment is for removing the oxide film formed on the surface of the conductive film 3 by washing with an acid. Examples of the acid used for the above acid washing include hydrochloric acid, sulfuric acid and phosphoric acid, preferably hydrochloric acid. Generally, the acid cleaning treatment is performed by immersing the laminated film in the acidic solution.

【0032】そして、上記電気金メッキは、例えば、積
層フィルム全体を電気金メッキ溶液中に浸漬し、上記導
電性フィルム3を電極とし、上記電気金メッキ溶液に電
気を導通させて、高分子フィルム1bの貫通孔内に金を
析出させることにより行われる。これにより、上記貫通
孔内に導電性金属が析出し、貫通孔の内形状に沿った棒
状の導電性金属体2aが形成され、さらにこの導電性金
属体2aは成長を続け貫通孔の開放された他端開口から
突出し(図面上方)、上記導電性金属体2aの他端が突
起電極部となる。この突起電極部の形成は、その外径が
上記貫通孔の他端開口内径と略同一となり、かつ充分な
高さとなるまで行う。上記電気金メッキ溶液としては、
シアン浴,酸性浴等があげられる。このなかで、メッキ
速度および均一電着性の理由から酸性浴を使用すること
が好ましい。また、上記電気金メッキ溶液には、添加剤
を使用してもよい。この添加剤としては、In,Tl,
As,Sb,Se,Te,Ti等の微量金属や窒素を含
む有機物等があげられる。また、上記電気金メッキの電
流密度としては、通常、0.1〜20A/dm2 、好ま
しくは0.1〜10A/dm2 、特に好ましくは0.1
〜5A/dm2 である。また処理時間は、例えば、1A
/dm2 の場合、0.21μm/分である。そして、温
度条件としては、通常10〜85℃、好ましくは20〜
85℃、特に好ましくは40〜80℃である。また、電
気金メッキ処理時において、電気金メッキ溶液を攪拌す
ることが好ましい。攪拌方法としては、例えば、エア攪
拌,超音波攪拌,揺動攪拌,プロペラ攪拌があげられる
が、好ましくは揺動攪拌と超音波攪拌を併用する攪拌法
である。
In the electro gold plating, for example, the entire laminated film is immersed in the electro gold plating solution, the conductive film 3 is used as an electrode, and the electro gold plating solution is electrically conducted to penetrate the polymer film 1b. This is done by depositing gold in the holes. As a result, a conductive metal is deposited in the through hole to form a rod-shaped conductive metal body 2a along the inner shape of the through hole, and the conductive metal body 2a continues to grow and the through hole is opened. And the other end of the conductive metal body 2a serves as a protruding electrode portion. The formation of the protruding electrode portion is performed until the outer diameter thereof is substantially the same as the inner diameter of the other end opening of the through hole and is sufficiently high. As the above-mentioned electro gold plating solution,
Cyan bath, acidic bath, etc. can be mentioned. Among these, it is preferable to use an acidic bath for reasons of plating rate and uniform electrodeposition. Further, an additive may be used in the electrogold plating solution. This additive includes In, Tl,
Examples thereof include trace metals such as As, Sb, Se, Te and Ti, and organic substances containing nitrogen. As the current density of the electric gold plating, typically, 0.1~20A / dm 2, preferably 0.1 to 10 A / dm 2, particularly preferably 0.1
Is about 5 A / dm 2 . The processing time is, for example, 1 A
In the case of / dm 2 , it is 0.21 μm / min. The temperature condition is usually 10 to 85 ° C, preferably 20 to 85 ° C.
The temperature is 85 ° C, particularly preferably 40 to 80 ° C. Further, it is preferable to stir the electrogold plating solution during the electrogold plating treatment. Examples of the agitation method include air agitation, ultrasonic agitation, rocking agitation, and propeller agitation, but the agitation method using both agitation agitation and ultrasonic agitation is preferable.

【0033】このようにして形成される突起電極部の大
きさは、高分子フィルム1aの貫通孔の内径等により適
宜決定されるものであるが、一般に、高さが、通常5μ
m以上、好ましくは5〜100μm、特に好ましくは5
〜40μmである。またその形状も、同図に示すマッシ
ュルーム頭部のような略半球状が好ましい。
The size of the protruding electrode portion thus formed is appropriately determined by the inner diameter of the through hole of the polymer film 1a and the like, but generally the height is usually 5 μm.
m or more, preferably 5 to 100 μm, particularly preferably 5
Is about 40 μm. Further, its shape is also preferably a substantially hemispherical shape like the mushroom head shown in FIG.

【0034】つぎに、上記工程(d)は、図2(d)に
示すように、高分子フィルム1bの貫通孔他端開口の突
起電極部上に導電層5を形成する工程である。この導電
層5は、後述する工程(f)において、導電性金属体2
aの他端側に突起電極部を形成する際の電解メッキ法の
陰極となるものである。この導電層5の形成方法は、特
に制限するものではないが、例えば、無電解メッキ法が
あげられ、好ましくは無電解銅メッキ法である。この無
電解銅メッキ法により、同図に示すような連続した導電
層5を形成することができる。
Next, the step (d) is a step of forming the conductive layer 5 on the protruding electrode portion of the other end opening of the through hole of the polymer film 1b, as shown in FIG. 2 (d). This conductive layer 5 is used for the conductive metal body 2 in the step (f) described later.
It serves as a cathode of the electrolytic plating method when forming the protruding electrode portion on the other end side of a. The method for forming the conductive layer 5 is not particularly limited, but examples thereof include an electroless plating method, and an electroless copper plating method is preferable. By this electroless copper plating method, a continuous conductive layer 5 as shown in the figure can be formed.

【0035】この無電解銅メッキについて具体的に説明
すると、すなわち、まず、必要に応じ、酸洗浄処理を行
う。この酸洗浄処理は、前述の方法が適用できる。そし
て、無電解メッキの析出核となる無電解メッキ触媒を、
被メッキ物に沈着させる処理であるキャタリスト処理を
行う。上記無電解メッキ触媒としては、通常、パラジウ
ムが使用され、その沈着は物理的吸着により行われる。
このキャタリスト処理の条件としては、温度が、通常1
0〜50℃、好ましくは15〜40℃、特に好ましくは
20〜30℃であり、時間が、通常0.5〜20分、好
ましくは1〜10分、特に好ましくは1〜5分である。
ついで、アクセレータ処理を行う。このアクセレータ処
理は、酸洗浄処理であり、この条件としては、希硫酸ま
たは希塩酸に浸漬し、温度が、通常10〜50℃、好ま
しくは20〜50℃、特に好ましくは35〜45℃であ
り、時間が、通常0.5〜10分、好ましくは2〜3分
である。そして、無電解銅メッキ溶液に上記積層フィル
ムを浸漬して無電解銅メッキ処理を行う。上記無電解銅
メッキ溶液は、例えば、主成分として、硫酸銅,キレー
ト剤,還元剤,pH調整剤が配合されたものがあげられ
る。上記キレート剤としては、例えば、エチレンジアミ
ン四酢酸(EDTA)があげられ、還元剤としては、例
えば、ホルムアルデヒドがあげられ、pH調整剤として
は、例えば、水酸化ナトリウムがあげられる。この無電
解銅メッキ処理の条件としては、温度が、通常30〜6
5℃、好ましくは40〜60℃,特に好ましくは48〜
55℃である。そして、処理時間が、通常1〜60分,
好ましくは2〜20分,特に好ましくは3〜10分であ
る。
This electroless copper plating will be specifically described. That is, first, if necessary, an acid cleaning treatment is performed. The method described above can be applied to this acid cleaning treatment. And, the electroless plating catalyst which becomes the precipitation nucleus of the electroless plating,
A catalyst process, which is a process of depositing on the object to be plated, is performed. Palladium is usually used as the electroless plating catalyst, and its deposition is performed by physical adsorption.
The condition for this catalyst processing is that the temperature is usually 1
It is 0 to 50 ° C., preferably 15 to 40 ° C., particularly preferably 20 to 30 ° C., and the time is usually 0.5 to 20 minutes, preferably 1 to 10 minutes, particularly preferably 1 to 5 minutes.
Then, accelerator processing is performed. This accelerator treatment is an acid cleaning treatment. The conditions are as follows: dipping in dilute sulfuric acid or dilute hydrochloric acid, and the temperature is usually 10 to 50 ° C., preferably 20 to 50 ° C., and particularly preferably 35 to 45 ° C. The time is usually 0.5 to 10 minutes, preferably 2 to 3 minutes. Then, the laminated film is immersed in an electroless copper plating solution to perform electroless copper plating. Examples of the electroless copper plating solution include those containing copper sulfate, a chelating agent, a reducing agent, and a pH adjusting agent as main components. Examples of the chelating agent include ethylenediaminetetraacetic acid (EDTA), examples of the reducing agent include formaldehyde, and examples of the pH adjusting agent include sodium hydroxide. As a condition of this electroless copper plating treatment, the temperature is usually 30 to 6
5 ° C, preferably 40-60 ° C, particularly preferably 48-
55 ° C. And the processing time is usually 1 to 60 minutes,
It is preferably 2 to 20 minutes, particularly preferably 3 to 10 minutes.

【0036】なお、図2(d)に示すように、上記導電
層5の上にレジスト層6を形成することが好ましい。こ
れは、後述する工程(f)での電気メッキ処理の際、上
記導電層5の上に導電性金属が析出するのを防止するた
めである。このレジスト層6の形成は、前述と同様の方
法で行うことができ、またその形成材料や厚み等の条件
も同様である。
As shown in FIG. 2D, it is preferable to form a resist layer 6 on the conductive layer 5. This is to prevent the conductive metal from depositing on the conductive layer 5 during the electroplating process in the step (f) described later. The formation of the resist layer 6 can be performed by the same method as described above, and the conditions such as the forming material and the thickness thereof are also the same.

【0037】つぎに、上記工程(e)は、図3(e)に
示すように、上記積層フィルムから導電性フィルム3を
除去し上記導電性金属体2aの一端側の端面を網状開口
の網目から露呈させる工程である。この導電性フィルム
3の除去の方法は、特に制限するものではない。例え
ば、上記導電性フィルム3が銅箔等の導電性金属である
場合、これを溶解するエッチング溶液を使用する方法が
あげられる。このエッチング溶液は、導電性フィルム3
の種類により適宜決定されるものであるが、例えば、塩
化第二銅溶液,塩化第二鉄溶液等があげられる。また、
レジスト層4を形成している場合は、この導電性フィル
ム3の除去に伴い、これを除去する必要がある。この除
去も、レジスト層4を溶解するエッチング溶液を使用す
る方法があげられる。このレジスト層4を溶解するエッ
チング溶液は、レジスト層4の種類により適宜決定され
るものであるが、例えば、トルエン,ケトン,セルソル
ブ等の溶液や市販の専用剥離液等があげられる。
Next, in the step (e), as shown in FIG. 3 (e), the conductive film 3 is removed from the laminated film, and the end face of the conductive metal body 2a on one end side is meshed with a mesh-shaped opening. It is a process of exposing from. The method of removing the conductive film 3 is not particularly limited. For example, when the conductive film 3 is a conductive metal such as copper foil, a method of using an etching solution that dissolves the conductive metal can be used. This etching solution is used for the conductive film 3
It is appropriately determined depending on the type of the solution, and examples thereof include cupric chloride solution and ferric chloride solution. Also,
When the resist layer 4 is formed, it is necessary to remove it along with the removal of the conductive film 3. For this removal, a method using an etching solution that dissolves the resist layer 4 can be used. The etching solution for dissolving the resist layer 4 is appropriately determined depending on the type of the resist layer 4, and examples thereof include a solution of toluene, ketone, cellosolve, etc., and a commercially available exclusive stripping solution.

【0038】つぎに、上記工程(f)は、図3(f)に
示すように、上記貫通孔の他端開口の突起電極部上に形
成された導電層5を電極とした電気メッキ法により、上
記高分子フィルム1bの貫通孔内に形成された導電性金
属体2aの一端側露呈端面上に導電性金属を析出させ、
上記導電性金属体2aの一端を上記貫通孔の一端開口全
体から突出する突起電極部に形成する工程である。
Next, in the step (f), as shown in FIG. 3 (f), an electroplating method is used in which the conductive layer 5 formed on the protruding electrode portion at the other end opening of the through hole is used as an electrode. , Depositing a conductive metal on the exposed end surface of one end side of the conductive metal body 2a formed in the through hole of the polymer film 1b,
This is a step of forming one end of the conductive metal body 2a on the protruding electrode portion projecting from the entire one end opening of the through hole.

【0039】この電気メッキ法による突起電極部の形成
は、上記工程(c)と同様に行うことができる。この工
程(f)により、図3(f)に示すように、高分子フィ
ルム1bの裏面(レーザー照射面と反対の面)から突出
する突起電極部を、均一形状でかつ充分な高さで形成す
ることが可能となる。また、従来法のように、導電性支
持体にエッチングにより形成された凹部の内形状が転写
されて突起電極部表面が形成されないため、突起電極部
の表面が高い平滑性を有するようになり、電気的接続の
信頼性が極めて優れたものとなる。
The formation of the protruding electrode portion by this electroplating method can be performed in the same manner as in the above step (c). By this step (f), as shown in FIG. 3 (f), a protruding electrode portion protruding from the back surface (the surface opposite to the laser irradiation surface) of the polymer film 1b is formed with a uniform shape and a sufficient height. It becomes possible to do. Further, unlike the conventional method, the inner shape of the recess formed by etching on the conductive support is not transferred to form the protruding electrode portion surface, so that the surface of the protruding electrode portion has high smoothness, The reliability of the electrical connection becomes extremely excellent.

【0040】つぎに、上記工程(g)は、上記貫通孔の
他端開口の突起電極部上に形成された導電層5を除去す
る工程である。この導電層5の除去も、前述の工程
(e)と同様の方法で行うことができ、またレジスト層
6が形成されている場合のレジスト層6の除去も、前述
と同様にして行うことができる。
Next, the step (g) is a step of removing the conductive layer 5 formed on the protruding electrode portion at the other end opening of the through hole. The removal of the conductive layer 5 can also be performed by the same method as in the step (e) described above, and the removal of the resist layer 6 when the resist layer 6 is formed can be performed in the same manner as described above. it can.

【0041】このように上記工程(a)〜工程(g)を
経ることにより、図3(g)に示すような、異方導電性
フィルムを得ることができる。なお、同図において、1
は高分子フィルムを示し、2は両端が突起電極部に形成
された導電性金属体である。また、この発明において、
電気的接続の信頼性から、突起電極部の形状は、略半球
状が好ましいが、これに限定するものではない。
Through the above steps (a) to (g), an anisotropic conductive film as shown in FIG. 3 (g) can be obtained. In the figure, 1
Indicates a polymer film, and 2 indicates a conductive metal body having both ends formed on the protruding electrode portions. Further, in this invention,
From the viewpoint of reliability of electrical connection, the shape of the protruding electrode portion is preferably a substantially hemispherical shape, but the shape is not limited to this.

【0042】つぎに、上記工程(d)の導電層の形成
と、上記工程(f)の電気メッキ法は、前述の方法とは
別の方法でも実施することができる。この別の方法とし
て吹き付け電気メッキ法があげられる。すなわち、図8
に示すように、高分子フィルム1bの貫通孔内に形成さ
れた導電性金属体2aの他端側の突起電極部に、導電性
支持体(導電層)10を接触させてこれを陰極とし、ま
たスプレーノズル11を陽極とし、上記突起電極部側と
反対の高分子フィルム1b面(網状開口が形成されてい
る面)に対し、上記スプレーノズル11から電気メッキ
溶液12を吹き付ける。すると、貫通孔網状開口の網目
から露呈する導電性金属体2aの一端側端面の上に導電
性金属が析出し、突起電極部が形成される。この吹き付
け電気メッキ法によれば、導電層の形成工程や、この上
に形成するレジスト層の形成工程等が簡略化されるた
め、製造効率が向上するようになる。
Next, the formation of the conductive layer in the step (d) and the electroplating method in the step (f) can be carried out by a method different from the above-mentioned method. As another method of this, there is a spray electroplating method. That is, FIG.
As shown in, the conductive support (conductive layer) 10 is brought into contact with the protruding electrode portion on the other end side of the conductive metal body 2a formed in the through hole of the polymer film 1b to make it a cathode, Further, using the spray nozzle 11 as an anode, the electroplating solution 12 is sprayed from the spray nozzle 11 to the surface of the polymer film 1b (the surface where the mesh openings are formed) opposite to the side of the protruding electrode portion. Then, the conductive metal is deposited on the end surface of the conductive metal body 2a exposed from the mesh of the through-hole net-like openings, and the protruding electrode portion is formed. According to the spray electroplating method, the process of forming the conductive layer and the process of forming the resist layer formed thereon are simplified, so that the manufacturing efficiency is improved.

【0043】[0043]

【発明の効果】以上のように、本発明の異方導電性フィ
ルムは、高分子フィルムの貫通孔の一端開口を網状開口
に形成し、この網状開口から導電性金属体の突起電極部
を突出させ、上記網部を導電性金属体の内部に位置する
ようにしている。このため、導電性金属体と高分子フィ
ルムとが一体化されて導電性金属体の脱落がない。した
がって、本発明の異方導電性フィルムは、優れた性能を
長期間維持するようになる。また、突起電極部にツメ部
を形成する必要がないことから、突起電極部を小さく形
成することが可能となり、導電性金属体相互の挟ピッチ
化を図ることができ、この結果、異方導電性フィルムの
フィルム面方向の絶縁性が優れるようになる。
As described above, in the anisotropic conductive film of the present invention, one end of the through hole of the polymer film is formed into a net-like opening, and the protruding electrode portion of the conductive metal body is projected from the net-like opening. The net portion is located inside the conductive metal body. Therefore, the conductive metal body and the polymer film are integrated, and the conductive metal body does not fall off. Therefore, the anisotropic conductive film of the present invention maintains excellent performance for a long time. Further, since it is not necessary to form the claw portion on the protruding electrode portion, the protruding electrode portion can be formed small, and the pitch between the conductive metal bodies can be narrowed. The insulating property of the flexible film in the film surface direction is improved.

【0044】また、本発明の異方導電性フィルムの製法
は、導電性フィルムの凹凸粗面の上に高分子フィルムが
密着形成された積層フィルムの上記高分子フィルムに対
し、レーザー照射により、上記導電性フィルムの凹凸粗
面の凹部に食い込んだ高分子フィルム部分を残して穿設
することにより、貫通孔の一端開口を網状開口に形成
し、電気メッキ法により、上記貫通孔内で導電性金属体
を形成するともに、この導電性金属体の端部を上記網状
開口全体から突出させて突起電極部に形成するという製
法である。これにより、導電性金属体内部に高分子フィ
ルムの網部が位置するようになり、両者が一体化された
異方導電性フィルムを作製することができる。
Further, the method for producing an anisotropic conductive film of the present invention is carried out by irradiating a laser beam onto the above-mentioned polymer film of a laminated film in which a polymer film is closely formed on an uneven rough surface of the conductive film. The conductive film is formed in a mesh-like opening by forming one end of the through hole by forming a mesh-like opening by leaving a polymer film portion that has digged into the concave and convex rough surface of the conductive film. In this manufacturing method, the body is formed and the end of the conductive metal body is projected from the entire mesh-shaped opening to form a protruding electrode portion. As a result, the mesh portion of the polymer film comes to be positioned inside the conductive metal body, and an anisotropic conductive film in which both are integrated can be manufactured.

【0045】また、本発明の異方導電性フィルムの製法
では、高分子フィルム両面の突起電極部を、電気メッキ
法により一面ずつ別工程で形成する。これにより、得ら
れる異方導電性フィルムの導電性金属体の両端の突起電
極部の形状が均一となり高さも揃ったものとなる。ま
た、従来の製法のように、導電性支持体にエッチングに
より形成された凹部の内形状粗面が突起電極部表面に転
写されず、突起電極部の表面が光沢ある平滑面となるこ
とから、この突起電極部の接点性能が高いものとなる。
これらのことから、本発明により得られる異方導電性フ
ィルムは、電気的接続の信頼性が極めて優れたものとな
る。そして、本発明の異方導電性フィルムの製法は、特
別な設備や特殊な装置を必要としない簡単な製法である
ため、容易に実施することが可能である。また、吹き付
け電気メッキ法等の方法を採用すれば、製造効率の向上
を図ることも可能となる。
Further, in the method for producing the anisotropic conductive film of the present invention, the protruding electrode portions on both surfaces of the polymer film are formed by electroplating one by one in separate steps. As a result, the shape of the protruding electrode portions on both ends of the conductive metal body of the obtained anisotropic conductive film is uniform and the heights are uniform. Further, like the conventional manufacturing method, the rough inner surface of the recess formed in the conductive support by etching is not transferred to the surface of the protruding electrode portion, and the surface of the protruding electrode portion becomes a glossy smooth surface, The contact performance of this protruding electrode portion is high.
From these facts, the anisotropic conductive film obtained by the present invention has extremely excellent electrical connection reliability. The method for producing the anisotropic conductive film of the present invention is a simple method that does not require special equipment or a special device, and thus can be easily carried out. Further, if a method such as a spray electroplating method is adopted, it is possible to improve the manufacturing efficiency.

【0046】つぎに、実施例について比較例と併せて説
明する。
Next, examples will be described together with comparative examples.

【0047】[0047]

【実施例1】すなわち、まず、図2(a)に示すよう
な、積層フィルム(エスパネックス,新日鐵化学社製)
を準備した。この積層フィルムは、厚み35μmの圧延
銅箔3の凹凸粗面上に厚み25μmのポリイミドフィル
ム1bが形成されたものである。上記圧延銅箔3の凹凸
粗面は、表面粗さRaが1.0μmで最大表面粗さRm
axが12.3μmである。
Example 1 That is, first, a laminated film (Espanex, manufactured by Nippon Steel Chemical Co., Ltd.) as shown in FIG.
Prepared. In this laminated film, a polyimide film 1b having a thickness of 25 μm is formed on a rough surface of a rolled copper foil 3 having a thickness of 35 μm. The roughened surface of the rolled copper foil 3 has a surface roughness Ra of 1.0 μm and a maximum surface roughness Rm.
ax is 12.3 μm.

【0048】つぎに、上記積層フィルムのポリイミドフ
ィルム1bに対し、前述の方法により、図2(b)に示
すようにして、エキシマレーザーによる孔開け加工を行
い、縦横のピッチ45μmで一辺30mmの正方形の領
域に、レーザー照射面側の開口内径が30μmの貫通孔
を多数穿設した。なお、レーザー加工の条件は以下のと
おりである。
Next, the polyimide film 1b of the laminated film is perforated by an excimer laser by the above-described method as shown in FIG. 2 (b), and a square having a vertical and horizontal pitch of 45 μm and a side of 30 mm. A large number of through holes each having an opening inner diameter of 30 μm on the laser irradiation surface side were bored in the region (2). The conditions for laser processing are as follows.

【0049】エキシマレーザー装置:エキシマレーザー
加工装置,日新電機社製 レーザー媒質 :KrF(発振波長248nm) 発振周波数 :300Hz 加工エネルギー密度 :1.2J/cm2 ショット数 :220ショット
Excimer laser device: Excimer laser processing device, manufactured by Nissin Electric Co., Ltd. Laser medium: KrF (oscillation wavelength 248 nm) Oscillation frequency: 300 Hz Processing energy density: 1.2 J / cm 2 Number of shots: 220 shots

【0050】この積層フィルムについて、走査型電子顕
微鏡(750倍)で観察した。その結果、ポリイミドフ
ィルム1bの貫通孔の一端開口(接合面側の開口)の内
径は17μmであり、その内形状はテーパー状となって
いた。また、上記貫通孔の一端開口において、銅箔3の
凹凸粗面の凸部先端が、一つの貫通孔につき平均23個
露出しており、上記凹凸粗面の凹部にはポリイミドフィ
ルムの一部が残留し網部を形成していた。また、この網
部の網目の大きさは、2〜5μmであった。図9に、こ
のポリイミドフィルム1bの貫通孔の一端開口が網状開
口に形成された状態の写真を示す。
The laminated film was observed with a scanning electron microscope (750 times). As a result, the inner diameter of the one end opening (opening on the bonding surface side) of the through hole of the polyimide film 1b was 17 μm, and the inner shape was tapered. In addition, at one end of the through hole, an average of 23 convex tip ends of the uneven rough surface of the copper foil 3 is exposed per through hole, and a part of the polyimide film is present in the concave portion of the uneven rough surface. It remained and formed the mesh part. The size of the mesh of this mesh portion was 2 to 5 μm. FIG. 9 shows a photograph of a state in which one end opening of the through hole of this polyimide film 1b is formed as a mesh opening.

【0051】つぎに、図2(c)に示すように、銅箔3
の裏面に厚み8μmの紫外線硬化型レジスト層4(イー
グルNT−90,シプレイファ−イ−スト社製)を形成
し、60秒の超音波洗浄を行い、ついで、活性化処理
(酸洗浄処理)を10体積%濃度の塩酸を用いて30秒
間行った。そして、上記銅箔3を電極として、前述の方
法により、電気金メッキ処理を行い、他端が突起電極部
に形成された導電性金属体2aを高分子フィルム1bの
貫通孔内に形成した。なお、上記導電性金属体2aの突
起電極部の高さは7μmである。また、上記電気金メッ
キの条件は、下記のとおりである。
Next, as shown in FIG. 2C, the copper foil 3
A UV-curable resist layer 4 (Eagle NT-90, Shipley Far East Co., Ltd.) having a thickness of 8 μm is formed on the back surface of the substrate, ultrasonic cleaning is performed for 60 seconds, and then activation treatment (acid cleaning treatment) is performed. It carried out for 30 seconds using the hydrochloric acid of 10 volume% concentration. Then, using the copper foil 3 as an electrode, an electro-gold plating process was performed by the above-described method, and the conductive metal body 2a having the other end formed on the protruding electrode portion was formed in the through hole of the polymer film 1b. The height of the protruding electrode portion of the conductive metal body 2a is 7 μm. In addition, the conditions of the above-mentioned electro gold plating are as follows.

【0052】 電気金メッキ溶液組成:シアン化金カリウム 8g/l 酸性金メッキ用添加剤 500ml/l (オーキッドGS−21,金属加工技術研究所社製) 温 度 :60℃ 攪 拌 :揺動攪拌と超音波攪拌との併用 電流密度 :1A/dm2 時 間 :190分Electrolytic gold plating solution composition: potassium gold cyanide 8 g / l acid gold plating additive 500 ml / l (Orchid GS-21, manufactured by Metalworking Technology Laboratory Co., Ltd.) Temperature: 60 ° C. Stirring: Swing stirring and super Combined use with sonic agitation Current density: 1 A / dm 2 Hour: 190 minutes

【0053】そして、前述のように、酸洗浄処理,キャ
タリスト処理,アクセレーター処理,無電解銅メッキ処
理を行い、図2(d)に示すように、上記突起電極部の
上に厚み3μmの銅製導電層5を形成した。上記各処理
の条件は以下のとおりである。
Then, as described above, an acid cleaning treatment, a catalyst treatment, an accelerator treatment, and an electroless copper plating treatment are performed, and as shown in FIG. The copper conductive layer 5 was formed. The conditions for each of the above processes are as follows.

【0054】〔酸洗浄処理〕 酸 :10体積%濃度塩酸 時間:2分[Acid cleaning treatment] Acid: 10% by volume concentration hydrochloric acid Time: 2 minutes

【0055】 〔キャタリスト処理〕 キャタリスト溶液組成:パラジウム触媒溶液 40ml/l (キャタリストC,奥野製薬工業社製) 15体積%濃度塩酸 温 度 :25℃ 時 間 :2分[Catalyst Treatment] Catalyst solution composition: Palladium catalyst solution 40 ml / l (Catalyst C, manufactured by Okuno Chemical Industries Co., Ltd.) 15% by volume hydrochloric acid Temperature: 25 ° C. Time: 2 minutes

【0056】〔アクセレーター処理〕 アクセレーター処理液:100ml/l塩酸 温 度 :35℃ 時 間 :2分[Accelerator treatment] Accelerator treatment liquid: 100 ml / l hydrochloric acid Temperature: 35 ° C. Time: 2 minutes

【0057】〔無電解銅メッキ処理〕 無電解銅メッキ溶液:金属銅2.6g/l(OPCカッ
パーH,奥野製薬工業社製) 温 度 :55℃ 時 間 :10分
[Electroless Copper Plating] Electroless Copper Plating Solution: Copper Copper 2.6 g / l (OPC Copper H, Okuno Chemical Industries Co., Ltd.) Temperature: 55 ° C. Time: 10 minutes

【0058】つぎに、上記銅箔3の裏面に形成した紫外
線硬化型レジスト層4を溶剤(イーグルNT−90,シ
プレイファーイースト社製)を用いて溶解除去し、つい
で、図2(d)に示すように、上記突起電極部の上に形
成された銅製導電層5の上に、前述の方法により厚み8
μmの紫外線硬化型レジスト層6(イーグルNT−9
0,シプレイファーイースト社製)を形成した。また、
図3(e)に示すように、上記銅箔3を塩化第二銅溶液
で溶解除去した。そして、図3(f)に示すように、、
前述の電気金メッキ処理を施し、導電性金属体2aの一
端側(図面下側)の露呈端面上で導電性金属を析出し
て、高さ6μmで外径が上記貫通孔の網状開口の内径と
略同一の突起電極部を形成した。この電気金メッキ処理
の条件は、前述と同様である。
Next, the UV-curable resist layer 4 formed on the back surface of the copper foil 3 was dissolved and removed by using a solvent (Eagle NT-90, manufactured by Shipley Far East Co., Ltd.), and then, as shown in FIG. 2 (d). As shown, on the copper conductive layer 5 formed on the protruding electrode portion, a thickness of 8 is formed by the method described above.
μm UV curable resist layer 6 (Eagle NT-9
0, manufactured by Shipley Far East Co., Ltd.) was formed. Also,
As shown in FIG. 3E, the copper foil 3 was dissolved and removed with a cupric chloride solution. Then, as shown in FIG.
The above-described electro-gold plating treatment is performed to deposit a conductive metal on the exposed end surface of the conductive metal body 2a on one end side (lower side in the drawing), and the height is 6 μm and the outer diameter is the same as the inner diameter of the mesh opening of the through hole. Substantially the same protruding electrode portions were formed. The conditions of this electro gold plating treatment are the same as those described above.

【0059】そして、上記銅製導電層5およびレジスト
層6を前述と同様にして除去し、図2(g)に示すよう
な異方導電性フィルムを作製した。
Then, the copper conductive layer 5 and the resist layer 6 were removed in the same manner as described above to prepare an anisotropic conductive film as shown in FIG. 2 (g).

【0060】このようにして得られた実施例1品の異方
導電性フィルムの導電性金属体両端に形成された突起電
極部の形状について金属顕微鏡を用い評価した。その結
果、上記突起電極部は、マッシュルーム頭部のような略
半球状に形成され、その表面は光沢のある平滑面であっ
た。また、各突起電極部の形状は、均一に形成されてお
り、特に、高さが揃っていた。つぎに、この異方導電性
フィルムについて、電気抵抗測定用のプローブおよび回
路基体に接続し、電気的接続の信頼性について評価した
結果、電気的接続の信頼性は優れたものであった。ま
た、この評価の際に、導電性金属体の脱落がなかった。
The shape of the protruding electrode portions formed on both ends of the conductive metal body of the anisotropic conductive film of Example 1 thus obtained was evaluated using a metallurgical microscope. As a result, the protruding electrode portion was formed in a substantially hemispherical shape like a mushroom head, and the surface was a glossy and smooth surface. In addition, the shape of each protruding electrode portion was formed uniformly, and in particular, the height was uniform. Next, the anisotropic conductive film was connected to a probe for measuring electric resistance and a circuit substrate, and the reliability of the electrical connection was evaluated. As a result, the reliability of the electrical connection was excellent. In addition, the conductive metal body did not fall off during this evaluation.

【0061】[0061]

【実施例2】先に述べた吹き付け電気金メッキ法によ
り、導電性金属体の他端を突起電極部となるように形成
した。すなわち、実施例1と同様にして、上記工程
(a),(b),(c),(e)により、ポリイミドフ
ィルム1bの貫通孔内に、他端が突起電極部となった導
電性金属体2aを形成した。この導電性金属体2aの一
端側の端面は、貫通孔の網状開口の網目から露呈してい
る。そして、図8に示すように、導電支持体(チタン−
白金極板)10を上記突起電極部に接触させ、これを電
気金メッキ法の陰極とし、スプレーノズル11を陽極と
して、導電性金属体2aの露呈端面側のポリイミドフィ
ルム1bのフィルム面に対し、電気金メッキ溶液を吹き
付けた。
Example 2 The conductive metal body was formed so that the other end thereof would serve as a protruding electrode portion by the above-mentioned spray electro-gold plating method. That is, in the same manner as in Example 1, by the steps (a), (b), (c), and (e), a conductive metal having the other end serving as a protruding electrode portion in the through hole of the polyimide film 1b. Formed body 2a. The end surface of the conductive metal body 2a on the one end side is exposed from the mesh of the mesh openings of the through holes. Then, as shown in FIG. 8, the conductive support (titanium-
Platinum electrode plate 10 is brought into contact with the above-mentioned protruding electrode portion, and this is used as the cathode of the electro-gold plating method, and the spray nozzle 11 is used as the anode, with respect to the film surface of the polyimide film 1b on the exposed end surface side of the conductive metal body 2a. The gold plating solution was sprayed.

【0062】そして、この吹き付け電気金メッキによ
り、導電性金属体2aの一端を突起電極部(高さ6μ
m)に形成し、目的とする異方導電性フィルムを作製し
た。
Then, one end of the conductive metal body 2a is formed on the protruding electrode portion (height 6 μm) by this electroplating by spraying.
m) to form the desired anisotropic conductive film.

【0063】このようにして得られた実施例2品の異方
導電性フィルムの導電性金属体両端に形成された突起電
極部の形状について、実施例1と同様の方法により評価
した。その結果、上記突起電極部は、マッシュルーム頭
部のような略半球状に形成され、その表面は光沢のある
平滑面であった。また、各突起電極部の形状は、均一に
形成されており、特に、高さが揃っていた。つぎに、こ
の異方導電性フィルムについて、実施例1と同様の方法
により電気的接続の信頼性について評価した結果、電気
的接続の信頼性は優れたものであった。また、この評価
の際に、導電性金属体の脱落がなかった。そして、この
実施例では、吹き付け電気メッキ法を採用したことか
ら、導電層の形成工程や、この上に形成するレジスト層
の形成工程が簡略化されて、製造効率が向上した。
The shape of the protruding electrode portions formed on both ends of the conductive metal body of the anisotropic conductive film of Example 2 thus obtained was evaluated in the same manner as in Example 1. As a result, the protruding electrode portion was formed in a substantially hemispherical shape like a mushroom head, and the surface was a glossy and smooth surface. In addition, the shape of each protruding electrode portion was formed uniformly, and in particular, the height was uniform. Next, the anisotropic conductive film was evaluated for reliability of electrical connection in the same manner as in Example 1. As a result, the reliability of electrical connection was excellent. In addition, the conductive metal body did not fall off during this evaluation. Further, in this example, since the spray electroplating method was adopted, the step of forming the conductive layer and the step of forming the resist layer formed on the conductive layer were simplified, and the manufacturing efficiency was improved.

【0064】[0064]

【比較例】従来の製法と同様にして、異方導電性フィル
ムを作製した。すなわち、まず、図7(a)に示すよう
な、実施例1と同じ積層フィルムを準備し、同図(b)
に示すように、ポリイミドフィルム1eに対しエキシマ
レーザー4をマスク(図示せず)を介して照射し、フィ
ルム厚み方向に貫通孔を穿設した。このエキシマレーザ
ーの条件や貫通孔の大きさは、実施例1と同様である。
つぎに、同図(c)に示すように、ポリイミドフィルム
1eの貫通孔から銅箔3aに対してエッチング処理を行
い、上記銅箔3aの上記貫通孔に対応する場所に凹部を
形成した。このエッチング処理に使用したエッチング液
は、過酸化水素水(30重量%)および硫酸(3重量
%)を含む溶液である。このエッチング処理により形成
された銅箔3aの凹部の状態を、図10の顕微鏡写真
(100倍)に示す。この写真から明らかなように、銅
箔3aに形成された凹部の形状は、不均一であった。つ
ぎに、同図(d)に示すように、銅箔3aを電極として
電気金メッキを行い、高分子フィルム1eの貫通孔内で
金を析出させて導電性金属体2cを形成した。この電気
金メッキの条件は、実施例1と同様である。この電気金
メッキにより、ポリイミドフィルム1eの両面から導電
性金属体2cを突出成長させ、上記貫通孔の開口内径よ
り大きい外径を有する突起電極部を形成した。ついで、
銅箔3aを除去し、同図(e)に示すように、ポリイミ
ドフィルム1e中に多数の導電性金属体2cが埋設され
た異方導電性フィルムを得た。
[Comparative Example] An anisotropic conductive film was produced in the same manner as the conventional production method. That is, first, the same laminated film as in Example 1 as shown in FIG. 7A is prepared, and then FIG.
As shown in FIG. 5, the polyimide film 1e was irradiated with the excimer laser 4 through a mask (not shown) to form through holes in the film thickness direction. The conditions of this excimer laser and the size of the through holes are the same as in Example 1.
Next, as shown in FIG. 3C, the copper foil 3a was etched from the through holes of the polyimide film 1e to form recesses at locations corresponding to the through holes of the copper foil 3a. The etching solution used for this etching treatment is a solution containing hydrogen peroxide solution (30% by weight) and sulfuric acid (3% by weight). The state of the concave portion of the copper foil 3a formed by this etching treatment is shown in the micrograph (100 times) of FIG. As is clear from this photograph, the shape of the recess formed in the copper foil 3a was not uniform. Next, as shown in FIG. 3D, electroplating was performed using the copper foil 3a as an electrode to deposit gold in the through hole of the polymer film 1e to form the conductive metal body 2c. The conditions for this electrogold plating are the same as in Example 1. By this electroplating, the conductive metal bodies 2c were projected and grown from both surfaces of the polyimide film 1e to form a protruding electrode portion having an outer diameter larger than the inner diameter of the opening of the through hole. Then,
The copper foil 3a was removed to obtain an anisotropic conductive film in which a large number of conductive metal bodies 2c were embedded in the polyimide film 1e, as shown in FIG.

【0065】このようにして得られた比較例品の異方導
電性フィルムの導電性金属体両端に形成された突起電極
部の形状について、実施例1と同様の方法により評価し
た。その結果、レーザー照射面側の突起電極部は、マッ
シュルーム頭部のような略半球状に形成され、その表面
は光沢のある平滑面であった。しかし、銅箔3aの凹部
により形成された突起電極部は、その形状が不均一であ
り、特に高さが不揃いであった。そして、ツメ部の厚み
が薄く、突起電極部表面は、銅箔3aの凹部の内径状が
転写されて粗面となっていた。つぎに、この異方導電性
フィルムについて、実施例1と同様の方法により電気的
接続の信頼性について評価した結果、電気的接続の信頼
性が、実施例品の異方導電性フィルムと比較して劣って
いた。また、この評価の際に、突起電極部のツメ部の欠
けが発生し、導電性金属体の脱落が確認された。
The shape of the protruding electrode portions formed on both ends of the conductive metal body of the anisotropic conductive film of the comparative example product thus obtained was evaluated by the same method as in Example 1. As a result, the protruding electrode portion on the laser irradiation surface side was formed in a substantially hemispherical shape like a mushroom head, and the surface was a glossy smooth surface. However, the bump electrode portion formed by the concave portion of the copper foil 3a had a non-uniform shape, and in particular, the height was uneven. Then, the thickness of the claw portion was thin, and the inner surface of the concave portion of the copper foil 3a was transferred to the surface of the protruding electrode portion to be a rough surface. Next, the anisotropic conductive film was evaluated for reliability of electrical connection in the same manner as in Example 1. As a result, the reliability of electrical connection was compared with the anisotropic conductive film of Example product. Was inferior. In addition, during this evaluation, it was confirmed that the claw portion of the protruding electrode portion was chipped and the conductive metal body was detached.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】(A)は、本発明の一実施例の異方導電性フィ
ルムの断面図であり、(B)は、上記異方導電性フィル
ムの拡大断面図である。
FIG. 1A is a sectional view of an anisotropic conductive film according to an embodiment of the present invention, and FIG. 1B is an enlarged sectional view of the anisotropic conductive film.

【図2】(a)は、導電性フィルムの凹凸粗面の上に高
分子フィルムが積層された積層フィルムの断面図であ
り、(b)は、上記積層フィルムの高分子フィルムに対
しレーザーにより貫通孔を穿設する状態を示す断面図で
あり、(c)は、上記高分子フィルムの貫通内に導電性
金属体を形成し、その他端を突起電極部に形成する状態
を示す断面図であり、(d)は、上記突起電極部上に導
電層およびレジスト層を形成する状態を示す断面図であ
る。
FIG. 2 (a) is a cross-sectional view of a laminated film in which a polymer film is laminated on an uneven rough surface of a conductive film, and FIG. It is sectional drawing which shows the state which perforates a through hole, (c) is sectional drawing which shows the state which forms a conductive metal body in the penetration of the said polymer film, and forms the other end in a protrusion electrode part. FIG. 3D is a sectional view showing a state in which a conductive layer and a resist layer are formed on the protruding electrode portion.

【図3】(e)は、上記積層フィルムから導電性フィル
ムを除去して、上記導電性金属体の一端側端面を露呈さ
せた状態を示す断面図であり、(f)は、上記導電性金
属体の一端を突起電極部に形成する状態を示す断面図で
あり、(g)は、上記突起電極部上の導電層およびこの
上に形成されたレジスト層を除去した状態を示す断面図
である。
FIG. 3 (e) is a cross-sectional view showing a state in which the conductive film is removed from the laminated film to expose one end side end surface of the conductive metal body, and (f) is the conductive film. It is a sectional view showing a state where one end of a metal object is formed in a projection electrode part, and (g) is a sectional view showing a state where a conductive layer on the projection electrode part and a resist layer formed thereon are removed. is there.

【図4】本発明の異方導電性フィルムの製法の一実施例
に用いる積層フィルムの拡大断面図である。
FIG. 4 is an enlarged cross-sectional view of a laminated film used in one example of the method for producing an anisotropic conductive film of the present invention.

【図5】上記積層フィルムの高分子フィルムに対し、レ
ーザーにより貫通孔を穿設する状態を示す拡大断面図で
ある。
FIG. 5 is an enlarged cross-sectional view showing a state in which a through hole is formed by laser in the polymer film of the laminated film.

【図6】(A)は、従来の異方導電性フィルムの断面図
であり、(B)は、上記従来の異方導電性フィルムの拡
大断面図である。
FIG. 6A is a sectional view of a conventional anisotropic conductive film, and FIG. 6B is an enlarged sectional view of the conventional anisotropic conductive film.

【図7】(a)は、導電性支持体の上に高分子フィルム
が形成された状態を示す断面図であり、(b)は、上記
高分子フィルムに対しレーザーで孔開け加工を行い貫通
孔を形成する状態を示す断面図であり、(c)は、エッ
チング処理により上記導電性支持体に凹部を形成する状
態を示す断面図であり、(d)は、上記高分子フィルム
の貫通孔内に導電性金属体を形成した状態を示す断面図
であり、(e)は、上記導電性支持体を除去した状態を
示す断面図である。
FIG. 7 (a) is a cross-sectional view showing a state in which a polymer film is formed on a conductive support, and FIG. 7 (b) is a laser beam perforating process on the polymer film for penetration. It is sectional drawing which shows the state which forms a hole, (c) is sectional drawing which shows the state which forms a recess in the said electroconductive support body by an etching process, (d) is a through-hole of the said polymer film. It is sectional drawing which shows the state in which the electroconductive metal body was formed, and (e) is sectional drawing which shows the state which removed the said electroconductive support body.

【図8】吹き付け電気メッキ法により、突起電極部を形
成する状態を示す模式図である。
FIG. 8 is a schematic view showing a state in which a protruding electrode portion is formed by a spray electroplating method.

【図9】積層フィルムの高分子フィルムに貫通孔が形成
された状態を示す薄膜写真である。
FIG. 9 is a thin film photograph showing a state where through holes are formed in a polymer film of a laminated film.

【図10】積層フィルムの銅箔に形成された凹部の形状
を示す薄膜写真である。
FIG. 10 is a thin film photograph showing the shape of a recess formed in a copper foil of a laminated film.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 高分子フィルム 1a 網部 2 導電性金属体 2e 突起電極部 2f 突起電極部 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Polymer film 1a Net part 2 Conductive metal body 2e Projection electrode part 2f Projection electrode part

【手続補正書】[Procedure amendment]

【提出日】平成7年2月16日[Submission date] February 16, 1995

【手続補正1】[Procedure Amendment 1]

【補正対象書類名】図面[Document name to be corrected] Drawing

【補正対象項目名】図9[Correction target item name] Figure 9

【補正方法】変更[Correction method] Change

【補正内容】[Correction content]

【図9】 [Figure 9]

【手続補正2】[Procedure Amendment 2]

【補正対象書類名】図面[Document name to be corrected] Drawing

【補正対象項目名】図10[Name of item to be corrected] Fig. 10

【補正方法】変更[Correction method] Change

【補正内容】[Correction content]

【図10】 [Figure 10]

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 H05K 1/09 7511−4E H05K 1/09 A (72)発明者 篠原 英樹 愛知県小牧市大字北外山字哥津3600 東海 ゴム工業株式会社内─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (51) Int.Cl. 6 Identification number Internal reference number FI Technical indication location H05K 1/09 7511-4E H05K 1/09 A (72) Inventor Hideki Shinohara Komaki City, Aichi Prefecture Sotoyama character Utsutsu 3600 Tokai Rubber Industry Co., Ltd.

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 厚み方向に穿設された多数の貫通孔を備
える高分子フィルムと、上記高分子フィルムの貫通孔内
に埋設された導電性金属体とからなり、上記導電性金属
体の両端が、上記高分子フィルムの両面から突出した突
起電極部に形成された異方導電性フィルムであって、上
記高分子フィルムの貫通孔の一端開口が、高分子フィル
ムの一部から形成された網部により覆われた網状開口で
あり、この網状開口の網部が上記導電性金属体内部に位
置して上記高分子フィルムと導電性金属体とが一体化さ
れていることを特徴とする異方導電性フィルム。
1. A polymer film having a large number of through holes formed in the thickness direction, and a conductive metal body embedded in the through holes of the polymer film. Both ends of the conductive metal body. Is an anisotropic conductive film formed on the protruding electrode portions protruding from both sides of the polymer film, wherein one end opening of the through hole of the polymer film is a net formed from a part of the polymer film. Is a mesh-like opening covered with a portion, and the mesh portion of the mesh-like opening is located inside the conductive metal body, and the polymer film and the conductive metal body are integrated with each other. Conductive film.
【請求項2】 上記高分子フィルムの貫通孔が、他端開
口から一端開口にかけて内径が連続的に小さくなるテー
パー状に形成されている請求項1記載の異方導電性フィ
ルム。
2. The anisotropic conductive film according to claim 1, wherein the through hole of the polymer film is formed in a tapered shape whose inner diameter continuously decreases from the other end opening to the one end opening.
【請求項3】 下記の(a)〜(g)の工程を備えるこ
とを特徴とする異方導電性フィルムの製法。 (a)導電性フィルムの凹凸粗面上に高分子フィルムが
積層され、その接合部において、上記導電性フィルム凹
凸粗面の凹部に上記高分子フィルムが食い込んで両者が
密着している積層フィルムを準備する工程。 (b)上記積層フィルムの高分子フィルム表面に対しレ
ーザーを厚み方向に照射して上記高分子フィルムのみに
貫通孔を穿設する際、上記高分子フィルムの下側に位置
する導電性フィルムの凹凸粗面凹部に食い込む上記高分
子フィルム部分を残して穿設することにより、この残っ
た高分子フィルム部分で網部を形成して貫通孔の一端開
口を網状開口に形成する工程。 (c)上記導電性フィルムを電極とした電気メッキ法に
より、上記高分子フィルムの貫通孔内に導電性金属を析
出させ、厚み方向に連続する導電性金属体を形成し、こ
の導電性金属体の上記貫通孔の他端に対応する他端を、
上記貫通孔の他端開口から突出する突起電極部に形成す
る工程。 (d)上記貫通孔の他端開口の突起電極部上に導電層を
形成する工程。 (e)上記積層フィルムの導電性フィルムを除去し、上
記導電性金属体の一端側の端面を上記高分子フィルムの
貫通孔一端開口の網目から露呈させる工程。 (f)上記貫通孔の他端開口の突起電極部上に形成され
た導電層を電極とした電気メッキ法により、上記高分子
フィルムの貫通孔内に形成された導電性金属体の一端側
露呈端面上に導電性金属を析出させ、上記導電性金属体
の一端を上記貫通孔の一端開口全体から突出する突起電
極部に形成する工程。 (g)上記貫通孔の他端開口の突起電極部上に形成され
た導電層を除去する工程。
3. A method for producing an anisotropic conductive film, which comprises the following steps (a) to (g): (A) A laminated film in which a polymer film is laminated on an uneven rough surface of a conductive film, and the polymer film bites into the concave portion of the uneven rough surface of the conductive film at the joint portion thereof, and both are in close contact with each other. Step of preparing. (B) When a laser is applied to the surface of the polymer film of the laminated film in the thickness direction to form a through hole only in the polymer film, unevenness of the conductive film located under the polymer film A step of forming a net by the remaining polymer film portion by leaving the above-mentioned polymer film portion that bites into the concave portion of the rough surface to form one end opening of the through hole into a net-like opening. (C) A conductive metal is deposited in the through-holes of the polymer film by an electroplating method using the conductive film as an electrode to form a conductive metal body continuous in the thickness direction. The other end corresponding to the other end of the through hole of
A step of forming a protruding electrode portion protruding from the other end opening of the through hole. (D) A step of forming a conductive layer on the protruding electrode portion at the other end opening of the through hole. (E) A step of removing the conductive film of the laminated film and exposing the end face of the conductive metal body on one end side from the mesh of the one end opening of the through hole of the polymer film. (F) Exposing one end side of the conductive metal body formed in the through hole of the polymer film by electroplating using the conductive layer formed on the protruding electrode portion at the other end opening of the through hole as an electrode A step of depositing a conductive metal on the end face and forming one end of the conductive metal body on a protruding electrode portion protruding from the entire opening of the one end of the through hole. (G) A step of removing the conductive layer formed on the protruding electrode portion at the other end opening of the through hole.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002025351A (en) * 2000-07-10 2002-01-25 Jsr Corp Anisotropic conduction sheet and manufacturing method of the same, and electric inspection device for circuit device
JP2005322492A (en) * 2004-05-07 2005-11-17 Polymatech Co Ltd Conductive elastic body and its manufacturing method

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002025351A (en) * 2000-07-10 2002-01-25 Jsr Corp Anisotropic conduction sheet and manufacturing method of the same, and electric inspection device for circuit device
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