JPH08220245A - 弾性散乱ｘ線光子のパルス伝達スペクトル測定装置 - Google Patents
弾性散乱ｘ線光子のパルス伝達スペクトル測定装置Info
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- JPH08220245A JPH08220245A JP7305996A JP30599695A JPH08220245A JP H08220245 A JPH08220245 A JP H08220245A JP 7305996 A JP7305996 A JP 7305996A JP 30599695 A JP30599695 A JP 30599695A JP H08220245 A JPH08220245 A JP H08220245A
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01V—GEOPHYSICS; GRAVITATIONAL MEASUREMENTS; DETECTING MASSES OR OBJECTS; TAGS
- G01V5/00—Prospecting or detecting by the use of ionising radiation, e.g. of natural or induced radioactivity
- G01V5/20—Detecting prohibited goods, e.g. weapons, explosives, hazardous substances, contraband or smuggled objects
- G01V5/22—Active interrogation, i.e. by irradiating objects or goods using external radiation sources, e.g. using gamma rays or cosmic rays
- G01V5/222—Active interrogation, i.e. by irradiating objects or goods using external radiation sources, e.g. using gamma rays or cosmic rays measuring scattered radiation
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/29—Measurement performed on radiation beams, e.g. position or section of the beam; Measurement of spatial distribution of radiation
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 物体の検査に必要な時間を減らした検査装置
を提供する。 【解決方法】 パルス伝送スペクトルを測定すべき物体
が位置する検査ゾーンと検出器装置との間に２次絞り装
置を設けることによって、検出器装置の各々の検出器素
子が比較的正確に決定された散乱角における散乱放射の
みを受けることが保証される。このようにすると、物体
の検査を極めて高速に行うことができる。
を提供する。 【解決方法】 パルス伝送スペクトルを測定すべき物体
が位置する検査ゾーンと検出器装置との間に２次絞り装
置を設けることによって、検出器装置の各々の検出器素
子が比較的正確に決定された散乱角における散乱放射の
みを受けることが保証される。このようにすると、物体
の検査を極めて高速に行うことができる。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、 − ２つ以上の異なる波長のＸ線を発生するＸ線源と、 − 散乱されたＸ線光子を検出し、検出器面の検出器中
心を同心円状に取り囲む複数の環状検出器素子を具える
検出器と、 − 前記Ｘ線源とＸ線によって照射される検査ゾーンと
の間に配置され、１次放射線ビームを形成する１次スリ
ットを具える１次絞り装置と、 − 前記検査ゾーンおよび検出器間に配置され、少なく
とも１つの２次スリットを具える２次絞り装置とを具
え、前記１次および２次スリットが本質的に半環状の形
状を有するとともに前記Ｘ線源および検出器中心とを接
続するビーム軸に対して同軸に配置された、検査ゾーン
からの弾性散乱されたＸ線光子のパルス伝送スペクトル
を測定する装置に関するものである。
心を同心円状に取り囲む複数の環状検出器素子を具える
検出器と、 − 前記Ｘ線源とＸ線によって照射される検査ゾーンと
の間に配置され、１次放射線ビームを形成する１次スリ
ットを具える１次絞り装置と、 − 前記検査ゾーンおよび検出器間に配置され、少なく
とも１つの２次スリットを具える２次絞り装置とを具
え、前記１次および２次スリットが本質的に半環状の形
状を有するとともに前記Ｘ線源および検出器中心とを接
続するビーム軸に対して同軸に配置された、検査ゾーン
からの弾性散乱されたＸ線光子のパルス伝送スペクトル
を測定する装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】このような装置は、独国特許公開明細書
第４２２２２２７号から既知であり、これらのパルス伝
送スペクトルに基づいて、特に手荷物中の中身（爆発
物）である所定の中身を確認することができる。１つの
Ｘ線源から発生された２つ以上の異なる波長のＸ線は、
１次絞り板におけるスリットによって円錐状１次ビーム
を形成するように整形される。検査ゾーンにおいて散乱
された放射は、１つまたはそれ以上の絞り板から構成し
てもよい２次絞り装置のスリットを経て、複数の素子か
ら成る検出器に入射する。１次ビームの開口角の二分の
一が０．０３０９ラジアンで、１次絞り板と放射源との
間の距離が１１８７ｍｍで、検査ゾーンの放射方向の厚
さが５００ｍｍである場合において、検査ゾーンのほぼ
中心（すなわち、１次絞り板からの距離が２５０ｍｍ）
における１次放射ビームの直径は、ほぼ９０ｍｍに等し
い。
第４２２２２２７号から既知であり、これらのパルス伝
送スペクトルに基づいて、特に手荷物中の中身（爆発
物）である所定の中身を確認することができる。１つの
Ｘ線源から発生された２つ以上の異なる波長のＸ線は、
１次絞り板におけるスリットによって円錐状１次ビーム
を形成するように整形される。検査ゾーンにおいて散乱
された放射は、１つまたはそれ以上の絞り板から構成し
てもよい２次絞り装置のスリットを経て、複数の素子か
ら成る検出器に入射する。１次ビームの開口角の二分の
一が０．０３０９ラジアンで、１次絞り板と放射源との
間の距離が１１８７ｍｍで、検査ゾーンの放射方向の厚
さが５００ｍｍである場合において、検査ゾーンのほぼ
中心（すなわち、１次絞り板からの距離が２５０ｍｍ）
における１次放射ビームの直径は、ほぼ９０ｍｍに等し
い。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】一般に言われているよ
うに、検査すべき物体は、実際的により大きい寸法を有
していることから、この物体のすべての領域を連続して
検査する間に、曲がりくねったような走査運動を行う必
要がある。
うに、検査すべき物体は、実際的により大きい寸法を有
していることから、この物体のすべての領域を連続して
検査する間に、曲がりくねったような走査運動を行う必
要がある。
【０００４】本発明の目的は、以下に説明する物体の検
査に必要な時間を減らした装置を構成することである。
査に必要な時間を減らした装置を構成することである。
【０００５】
【課題を解決するための手段】この目的は、本発明によ
り、検出器面から第１Ｘ線源とほぼ同じ距離に位置する
第２Ｘ線源を設け、この第２Ｘ線源を、この第２Ｘ線源
と前記検出器中心とを接続する第２ビーム軸が前記第１
ビーム軸と所定の角度で交差し、結合された１対のビー
ム軸を構成するように配置し、双方のビーム軸が１次お
よび２次スリットに関連し、前記第１ビーム軸を取り囲
んで延在するすべての１次および２次スリットが、前記
第２ビーム軸を取り囲んで延在する１次および２次スリ
ットと比較して反対方向に、前記１対のビーム軸によっ
て規定される面に向かって開口し、各半環状スリットの
両端が、前記１対のビーム軸によって規定される面にお
いてほぼ位置することによって達成される。
り、検出器面から第１Ｘ線源とほぼ同じ距離に位置する
第２Ｘ線源を設け、この第２Ｘ線源を、この第２Ｘ線源
と前記検出器中心とを接続する第２ビーム軸が前記第１
ビーム軸と所定の角度で交差し、結合された１対のビー
ム軸を構成するように配置し、双方のビーム軸が１次お
よび２次スリットに関連し、前記第１ビーム軸を取り囲
んで延在するすべての１次および２次スリットが、前記
第２ビーム軸を取り囲んで延在する１次および２次スリ
ットと比較して反対方向に、前記１対のビーム軸によっ
て規定される面に向かって開口し、各半環状スリットの
両端が、前記１対のビーム軸によって規定される面にお
いてほぼ位置することによって達成される。
【０００６】既知の装置においては、１次放射ビームに
よって同時に検査できる物体領域は、９０ｍｍ程度の幅
しか持たないが、本発明による装置では、この領域が拡
大される。１次絞り装置のスリットが、半環状形状を本
質的に有することから、１次放射ビームは、互いに補う
ように隣接して配置された半円錐状の生成表面上の検査
ゾーンを照射するように形成される。半環状形状を同様
に有する２次スリットによって、検出器上に検査ゾーン
が設定される。
よって同時に検査できる物体領域は、９０ｍｍ程度の幅
しか持たないが、本発明による装置では、この領域が拡
大される。１次絞り装置のスリットが、半環状形状を本
質的に有することから、１次放射ビームは、互いに補う
ように隣接して配置された半円錐状の生成表面上の検査
ゾーンを照射するように形成される。半環状形状を同様
に有する２次スリットによって、検出器上に検査ゾーン
が設定される。
【０００７】ある実施例において、１次スリットの直径
を、第１ビーム軸を取り囲んで延在する１次スリットに
よって形成される第１の１次放射ビームが、第２ビーム
軸を取り囲んで延在する１次スリットによって形成され
る第２の１次放射ビームと、検査ゾーンにおいて隣接す
るように選択する。このようにすると、異なったＸ線源
によって発生され、これらの散乱放射が同じ検出器に入
射する２つの１次放射ビーム間に照射されない検査ゾー
ンの領域を最小限度にすることができる。２つのビーム
軸が交差する角度が極めて小さいため、検査ゾーンにお
いて、すなわち検出器面から離れて２つの１次放射ビー
ムが互いに隣接することは、実際には重要ではない。
を、第１ビーム軸を取り囲んで延在する１次スリットに
よって形成される第１の１次放射ビームが、第２ビーム
軸を取り囲んで延在する１次スリットによって形成され
る第２の１次放射ビームと、検査ゾーンにおいて隣接す
るように選択する。このようにすると、異なったＸ線源
によって発生され、これらの散乱放射が同じ検出器に入
射する２つの１次放射ビーム間に照射されない検査ゾー
ンの領域を最小限度にすることができる。２つのビーム
軸が交差する角度が極めて小さいため、検査ゾーンにお
いて、すなわち検出器面から離れて２つの１次放射ビー
ムが互いに隣接することは、実際には重要ではない。
【０００８】好適には、絞り装置の製造を特に簡単にす
るために、１次および／または２次スリットを、各々１
つの平坦な絞り板に設ける。この絞り板を、Ｘ線を吸収
する材料によって構成するとともに／かまたは、Ｘ線が
スリットを経てのみ通過するような厚さを有するように
する。
るために、１次および／または２次スリットを、各々１
つの平坦な絞り板に設ける。この絞り板を、Ｘ線を吸収
する材料によって構成するとともに／かまたは、Ｘ線が
スリットを経てのみ通過するような厚さを有するように
する。
【０００９】ある実施例において、２次スリットを、検
出器面と平行に延在する検査ゾーンの面において本質的
に散乱される第１の１次放射ビームの散乱放射が、検査
ゾーンの同じ面において散乱する第２の１次ビームの散
乱放射と同じ検出器の環状素子に入射するように配置す
る。このようにすると、検出器の所定の環状素子に入射
する散乱放射が、検査ゾーンにおいてほぼ正確に規定さ
れた散乱角において散乱されたものであることが保証さ
れる。
出器面と平行に延在する検査ゾーンの面において本質的
に散乱される第１の１次放射ビームの散乱放射が、検査
ゾーンの同じ面において散乱する第２の１次ビームの散
乱放射と同じ検出器の環状素子に入射するように配置す
る。このようにすると、検出器の所定の環状素子に入射
する散乱放射が、検査ゾーンにおいてほぼ正確に規定さ
れた散乱角において散乱されたものであることが保証さ
れる。
【００１０】同じ理由のために、ビーム軸を含む面に対
して比較的大きな角度を持つ散乱放射を抑制する必要が
ある。この目的のために、本発明の他の実施例におい
て、個々のビーム軸に関連し、Ｘ線を吸収しビーム軸を
含む面において位置する薄板を具える２つのコリメータ
装置を、検査ゾーンと検出器との間に配置する。
して比較的大きな角度を持つ散乱放射を抑制する必要が
ある。この目的のために、本発明の他の実施例におい
て、個々のビーム軸に関連し、Ｘ線を吸収しビーム軸を
含む面において位置する薄板を具える２つのコリメータ
装置を、検査ゾーンと検出器との間に配置する。
【００１１】さらに、第１の１次放射ビームが、第２の
１次放射ビームの散乱放射を測定するための検出器の半
分に入射するのを防ぐために、２つのコリメータ装置の
薄板を、２のビーム軸が位置する面において延在する金
属製の仕切りによって互いに分離する。Ｘ線を吸収する
材料から成る金属製仕切りを、コリメータ装置の薄板と
同様のものとする。
１次放射ビームの散乱放射を測定するための検出器の半
分に入射するのを防ぐために、２つのコリメータ装置の
薄板を、２のビーム軸が位置する面において延在する金
属製の仕切りによって互いに分離する。Ｘ線を吸収する
材料から成る金属製仕切りを、コリメータ装置の薄板と
同様のものとする。
【００１２】本発明の他の実施例は、少なくとも１つの
他の検出器を具え、１次絞り装置が、各々の検出器用の
２つのスリットを具える。より多くの数の検出器と、検
査ゾーンを隣接して照射するより多くの数の半円錐状１
次ビームとを使用することもでき、この場合、同時に照
射されるゾーンがより広くなる。
他の検出器を具え、１次絞り装置が、各々の検出器用の
２つのスリットを具える。より多くの数の検出器と、検
査ゾーンを隣接して照射するより多くの数の半円錐状１
次ビームとを使用することもでき、この場合、同時に照
射されるゾーンがより広くなる。
【００１３】好適な実施例において、すべての１次およ
び２次スリットとすべての検出器とを、２つのＸ線源を
検出器中心に接続するすべてのビーム軸が１つの面にお
いて位置するように配置する。この実施例は、複数の１
次放射ビームによって同時に照射されるゾーンの幅が最
大化するという点で有利である。
び２次スリットとすべての検出器とを、２つのＸ線源を
検出器中心に接続するすべてのビーム軸が１つの面にお
いて位置するように配置する。この実施例は、複数の１
次放射ビームによって同時に照射されるゾーンの幅が最
大化するという点で有利である。
【００１４】本発明の特に好適な実施例において、さら
に、４つの検出器を設け、１次絞り装置が、８つの半環
状スリットを具える。このようにすると、７２０ｍｍ程
度の幅を持つゾーンを同時に検査することができる。一
般に言われているように、検査すべき手荷物は、最大７
００ｍｍの幅を有していることから、本実施例におい
て、曲がりくねったような２次元の走査運動をしなくて
すませることができる。このような手荷物の検査を完全
に行うためには、１次元の走査運動を行えば十分であ
り、一方では、検査装置に対して手荷物を移動するため
により簡単な装置を使用することができるようになり、
他方では、検査時間が実際的に節約される。
に、４つの検出器を設け、１次絞り装置が、８つの半環
状スリットを具える。このようにすると、７２０ｍｍ程
度の幅を持つゾーンを同時に検査することができる。一
般に言われているように、検査すべき手荷物は、最大７
００ｍｍの幅を有していることから、本実施例におい
て、曲がりくねったような２次元の走査運動をしなくて
すませることができる。このような手荷物の検査を完全
に行うためには、１次元の走査運動を行えば十分であ
り、一方では、検査装置に対して手荷物を移動するため
により簡単な装置を使用することができるようになり、
他方では、検査時間が実際的に節約される。
【００１５】
【発明の実施の形態】図１および６の実施例は、明確に
するために一定の割合で示しておらず、水平方向の寸法
は、垂直方向の寸法に比べて強度に誇張してある。
するために一定の割合で示しておらず、水平方向の寸法
は、垂直方向の寸法に比べて強度に誇張してある。
【００１６】図１の参照符２０および３０は、２つ以上
の異なる波長のＸ線を発生する２つの同様なＸ線源を示
す。Ｘ線を、以下に図２の参照とともに詳述するように
２つの本質的に半環状のスリット２１および３１を具え
る平坦な１次絞り板４０上に投射し、２つの１次放射ビ
ーム２２および３２が、前記１次絞り板の後に形成され
るようにする。図１において、図２において参照符
Ｓ21，Ｓ22およびＳ31，Ｓ 32によって各々示される１次
スリット２１および３１の位置のみを示す。
の異なる波長のＸ線を発生する２つの同様なＸ線源を示
す。Ｘ線を、以下に図２の参照とともに詳述するように
２つの本質的に半環状のスリット２１および３１を具え
る平坦な１次絞り板４０上に投射し、２つの１次放射ビ
ーム２２および３２が、前記１次絞り板の後に形成され
るようにする。図１において、図２において参照符
Ｓ21，Ｓ22およびＳ31，Ｓ 32によって各々示される１次
スリット２１および３１の位置のみを示す。
【００１７】例えばスーツケースである検査すべき物体
４４を配置する検査ゾーンは、１次絞り板４０と、この
１次絞り板と平行に延在しＸ線源と反対側に位置し１次
絞り板との距離が例えば５００ｍｍでありＸ線を透過す
る例えばコンベヤベルトである板４５とによって境界を
形成される。本例において、２つの板４０および４５間
のほぼ中間に位置する面４６において、１次ビーム２２
および３２は、互いに接する。２つの１次ビーム２２お
よび３２は、各々半円錐状で、一方の半円錐は図面から
突き出て、他方の半円錐は図面中に突き出る生成表面に
整形される。
４４を配置する検査ゾーンは、１次絞り板４０と、この
１次絞り板と平行に延在しＸ線源と反対側に位置し１次
絞り板との距離が例えば５００ｍｍでありＸ線を透過す
る例えばコンベヤベルトである板４５とによって境界を
形成される。本例において、２つの板４０および４５間
のほぼ中間に位置する面４６において、１次ビーム２２
および３２は、互いに接する。２つの１次ビーム２２お
よび３２は、各々半円錐状で、一方の半円錐は図面から
突き出て、他方の半円錐は図面中に突き出る生成表面に
整形される。
【００１８】板４５と検出器４３との間に、以下で記述
する図３のように本質的に半環状の２次スリット２５お
よび３５を具える平坦な２次絞り板４７を配置する。図
１において、図３において参照符Ｓ23，Ｓ24および
Ｓ33，Ｓ34によって各々示される２次スリット２５およ
び３５の範囲のみを示す。
する図３のように本質的に半環状の２次スリット２５お
よび３５を具える平坦な２次絞り板４７を配置する。図
１において、図３において参照符Ｓ23，Ｓ24および
Ｓ33，Ｓ34によって各々示される２次スリット２５およ
び３５の範囲のみを示す。
【００１９】図示した実施例における検出器装置は、１
次絞り板４０および２次絞り板４７と平行に延在する検
出器面４２において位置する１つの検出器４３から成
る。検出器は、検出器の中心４８の周囲に同心円状に配
置された１２個の環状検出器素子を具える。中心４８
は、Ｘ線源２０および３０の各々１つから延在し１対の
ビーム軸を構成する２つのビーム軸２３および３３の交
点である。ビーム軸２３および３３は、各々点２４１お
よび３４１において１次絞り板４０と交差し、各々点２
４２および３４２において２次絞り板４７と交差する。
スリットＳ21およびＳ22は、交点２４１から同じ距離に
位置し、同様にスリットＳ31およびＳ32は、交点３４１
から同じ距離に位置する。同様の関係が、交点２４２お
よび３４２に各々対するスリットＳ23，Ｓ24または
Ｓ33，Ｓ34に関して保たれる。したがってビーム軸２３
および３３は、半円錐状１次放射ビーム２２および３２
の中心に各々延在する。
次絞り板４０および２次絞り板４７と平行に延在する検
出器面４２において位置する１つの検出器４３から成
る。検出器は、検出器の中心４８の周囲に同心円状に配
置された１２個の環状検出器素子を具える。中心４８
は、Ｘ線源２０および３０の各々１つから延在し１対の
ビーム軸を構成する２つのビーム軸２３および３３の交
点である。ビーム軸２３および３３は、各々点２４１お
よび３４１において１次絞り板４０と交差し、各々点２
４２および３４２において２次絞り板４７と交差する。
スリットＳ21およびＳ22は、交点２４１から同じ距離に
位置し、同様にスリットＳ31およびＳ32は、交点３４１
から同じ距離に位置する。同様の関係が、交点２４２お
よび３４２に各々対するスリットＳ23，Ｓ24または
Ｓ33，Ｓ34に関して保たれる。したがってビーム軸２３
および３３は、半円錐状１次放射ビーム２２および３２
の中心に各々延在する。
【００２０】ビーム軸２３および３３は、検出器面４２
における点４８で交差するため、２つの１次放射ビーム
２２および３２の散乱放射を検出するためには、１つの
検出器４３のみを必要とする。図示した実施例におい
て、１次放射ビーム２２は、散乱光２６および２７を発
生し、これらの散乱光は、スリットＳ23およびＳ24を経
て、１次放射ビームによって発生されスリットＳ33およ
びＳ34を経て検出器素子５上に入射する散乱光３６およ
び３７と同じ環状検出器素子５上に入射する。検出器面
４２とほぼ平行な面における、例えば面４６の周囲のゾ
ーンである検査ゾーンにおいて発生される散乱光は、１
次放射ビーム２２または３２のどちらが散乱光を発生し
たかに係わらず、検出器面４２における所定の環状検出
器素子４２上に入射する。
における点４８で交差するため、２つの１次放射ビーム
２２および３２の散乱放射を検出するためには、１つの
検出器４３のみを必要とする。図示した実施例におい
て、１次放射ビーム２２は、散乱光２６および２７を発
生し、これらの散乱光は、スリットＳ23およびＳ24を経
て、１次放射ビームによって発生されスリットＳ33およ
びＳ34を経て検出器素子５上に入射する散乱光３６およ
び３７と同じ環状検出器素子５上に入射する。検出器面
４２とほぼ平行な面における、例えば面４６の周囲のゾ
ーンである検査ゾーンにおいて発生される散乱光は、１
次放射ビーム２２または３２のどちらが散乱光を発生し
たかに係わらず、検出器面４２における所定の環状検出
器素子４２上に入射する。
【００２１】Ｘ線源２０および３０を、検出器面４２か
ら２５００ｍｍの距離に配置するが、２つのＸ線源を、
この検出器面から正確に同じ距離に置く必要はない。Ｘ
線源２０および３０と１次絞り板４０との間の距離を、
１１８７ｍｍとし、１次絞り板４０と板４５との間の距
離を、５００ｍｍとする。Ｘ線源２０および３０を、互
いから１８０ｍｍ程度の距離に配置する。
ら２５００ｍｍの距離に配置するが、２つのＸ線源を、
この検出器面から正確に同じ距離に置く必要はない。Ｘ
線源２０および３０と１次絞り板４０との間の距離を、
１１８７ｍｍとし、１次絞り板４０と板４５との間の距
離を、５００ｍｍとする。Ｘ線源２０および３０を、互
いから１８０ｍｍ程度の距離に配置する。
【００２２】図２は、１次絞り板４０の平面図である。
ラインＥは、１次絞り板４０に対して垂直に延在すると
同時にビーム軸２３および３３によって形成される１対
のビーム軸によって規定される面を構成する図１の図面
を示す。ビーム軸２３および３３と１次絞り板４０との
交点を、参照符２４１および３４１によって各々示す。
本図は、中心２４１および３４１の周囲に各々位置し、
Ｅによって示される面において位置する端Ｓ21，Ｓ22お
よびＳ31，Ｓ32を各々有する、１次スリット２１および
３１の半環状の形状を示す。スリット２１および３１
を、これらがＥによって示される面に関して反対方向に
開口するように配置し、点４１に対して点対称に延在さ
せる。１次絞り板４０において、点４１は、検出器中心
４８において検出器面（図１参照）に対して垂直に延在
し、２つのＸ線源間の接続ラインとほぼ中間で交差する
直線との交点として生じる。
ラインＥは、１次絞り板４０に対して垂直に延在すると
同時にビーム軸２３および３３によって形成される１対
のビーム軸によって規定される面を構成する図１の図面
を示す。ビーム軸２３および３３と１次絞り板４０との
交点を、参照符２４１および３４１によって各々示す。
本図は、中心２４１および３４１の周囲に各々位置し、
Ｅによって示される面において位置する端Ｓ21，Ｓ22お
よびＳ31，Ｓ32を各々有する、１次スリット２１および
３１の半環状の形状を示す。スリット２１および３１
を、これらがＥによって示される面に関して反対方向に
開口するように配置し、点４１に対して点対称に延在さ
せる。１次絞り板４０において、点４１は、検出器中心
４８において検出器面（図１参照）に対して垂直に延在
し、２つのＸ線源間の接続ラインとほぼ中間で交差する
直線との交点として生じる。
【００２３】図３は、２次絞り板４７の平面図である。
半環状２次スリット２５および３５も、Ｅによって示さ
れる面に関して反対方向に開口し、２次絞り板４７との
交点を参照符２４２および３４２によって示されるビー
ム軸２３および３３（図１参照）を取り囲んで延在し、
２次スリット２５は、Ｅで示される面の方へ図２の１次
スリット２１と同じ方向に開口する。２次スリット２５
および３５の各々の端Ｓ23，Ｓ24およびＳ33，Ｓ34も、
Ｅによって示される面において位置する。
半環状２次スリット２５および３５も、Ｅによって示さ
れる面に関して反対方向に開口し、２次絞り板４７との
交点を参照符２４２および３４２によって示されるビー
ム軸２３および３３（図１参照）を取り囲んで延在し、
２次スリット２５は、Ｅで示される面の方へ図２の１次
スリット２１と同じ方向に開口する。２次スリット２５
および３５の各々の端Ｓ23，Ｓ24およびＳ33，Ｓ34も、
Ｅによって示される面において位置する。
【００２４】１次および２次スリット２１，３１（図２
参照）および２５，３５（図３参照）を、正確に半環状
にする必要はないが、本質的に半環状とすべきであり、
半楕円形状を有するスリットも、適している。Ｘ線の開
口角の半分が０．０３０９ラジアンと小さく、Ｘ線源２
０および３０と１次絞り板４０との間の距離が１１８７
ｍｍと大きいことから、実際問題として１次および２次
スリット２１，３１および２５，３５を、例え理論的に
は僅かに楕円状に変形することを求められるとしても、
製造が簡単な半環状形状を有するようにする。
参照）および２５，３５（図３参照）を、正確に半環状
にする必要はないが、本質的に半環状とすべきであり、
半楕円形状を有するスリットも、適している。Ｘ線の開
口角の半分が０．０３０９ラジアンと小さく、Ｘ線源２
０および３０と１次絞り板４０との間の距離が１１８７
ｍｍと大きいことから、実際問題として１次および２次
スリット２１，３１および２５，３５を、例え理論的に
は僅かに楕円状に変形することを求められるとしても、
製造が簡単な半環状形状を有するようにする。
【００２５】図４は、中心４８を同心状に囲む１２個の
環状素子１．．．１２を具える検出器の平面図である。
個々の素子１．．．１２は、別々に検査ゾーンの異なる
部分からの散乱放射を検出し、すなわち、これらの上に
入射するＸ線光子の数を、エネルギー分析方法によって
測定する。検査ゾーンの前記部分は、検出器面４２（図
１参照）と平行に延在する面の層と、この層の各々の面
の周囲のゾーンとによって形成される。
環状素子１．．．１２を具える検出器の平面図である。
個々の素子１．．．１２は、別々に検査ゾーンの異なる
部分からの散乱放射を検出し、すなわち、これらの上に
入射するＸ線光子の数を、エネルギー分析方法によって
測定する。検査ゾーンの前記部分は、検出器面４２（図
１参照）と平行に延在する面の層と、この層の各々の面
の周囲のゾーンとによって形成される。
【００２６】パルス伝送が半散乱角の正弦と弾性散乱Ｘ
線光子のエネルギーとの積に比例し、所定の検出器素子
１．．．１２が検査ゾーンの関連する部分からの散乱放
射を検出する散乱角が既知であることから、各々の検出
器素子１．．．１２に関して、パルス伝送スペクトル
を、独国特許公開明細書第４２２２２２７号に開示され
ているように計算することができる。したがってこの計
算を、ここで再び説明することはしない。
線光子のエネルギーとの積に比例し、所定の検出器素子
１．．．１２が検査ゾーンの関連する部分からの散乱放
射を検出する散乱角が既知であることから、各々の検出
器素子１．．．１２に関して、パルス伝送スペクトル
を、独国特許公開明細書第４２２２２２７号に開示され
ているように計算することができる。したがってこの計
算を、ここで再び説明することはしない。
【００２７】接点５Ｃおよび５Ｄによって半環状副素子
５Ａおよび５Ｂに再分割されている検出器素子５は、散
乱光２６，２７および３６，３７（図１参照）を、半環
状副素子５Ａが散乱光２６および２７のみを受け、副素
子５Ｂが散乱光３６および３７のみを受けるようにして
検出する。さらに一般的に言えば、このようにすること
は、１次ビーム２２（図１参照）によって発生する散乱
放射は、図４に示す検出器の面Ｅより上に位置する検出
器副素子上にのみ入射し、一方放射ビーム３２（図１参
照）によって発生する散乱放射は、Ｅによって示される
面より下に位置する検出器副素子上にのみ入射すること
を意味する。
５Ａおよび５Ｂに再分割されている検出器素子５は、散
乱光２６，２７および３６，３７（図１参照）を、半環
状副素子５Ａが散乱光２６および２７のみを受け、副素
子５Ｂが散乱光３６および３７のみを受けるようにして
検出する。さらに一般的に言えば、このようにすること
は、１次ビーム２２（図１参照）によって発生する散乱
放射は、図４に示す検出器の面Ｅより上に位置する検出
器副素子上にのみ入射し、一方放射ビーム３２（図１参
照）によって発生する散乱放射は、Ｅによって示される
面より下に位置する検出器副素子上にのみ入射すること
を意味する。
【００２８】パルス伝送スペクトルの測定をできるだけ
正確にするために、関連する１次ビームに関して、所定
の検出器素子によって受けられる散乱放射によって囲ま
れる散乱角を、できるだけ正確に規定する必要がある。
したがって、所定の検出器素子は、散乱光を発生する１
次ビームとこの１次ビームのビーム軸とによって規定さ
れる面において延在する散乱光のみを検出すべきであ
り、少なくともこの面の周囲のセクタ状領域における散
乱放射のみを検出すべきである。他の散乱放射を抑制す
るために、２つのコリメータ装置を、検査ゾーンと検出
器との間に配置する。これらのコリメータを、明確にす
るために図２においては省略しているが、図５の断面図
には示してある。
正確にするために、関連する１次ビームに関して、所定
の検出器素子によって受けられる散乱放射によって囲ま
れる散乱角を、できるだけ正確に規定する必要がある。
したがって、所定の検出器素子は、散乱光を発生する１
次ビームとこの１次ビームのビーム軸とによって規定さ
れる面において延在する散乱光のみを検出すべきであ
り、少なくともこの面の周囲のセクタ状領域における散
乱放射のみを検出すべきである。他の散乱放射を抑制す
るために、２つのコリメータ装置を、検査ゾーンと検出
器との間に配置する。これらのコリメータを、明確にす
るために図２においては省略しているが、図５の断面図
には示してある。
【００２９】コリメータ装置は、本質的に、中心軸に沿
って２等分されたチューブの各々半分２８，３８から成
り、Ｘ線を吸収する材料から成る。チューブの半分２８
および３８は、Ｘ線を吸収し図１の図面において位置す
る金属製の仕切り４９によって互いに分離する。チュー
ブの半分を、ビーム軸２３，３３を各々通って延在する
コリメータ軸２４３，３４３の周囲に配置する。チュー
ブの半分２８および３８の内側に、互いに等しい距離を
おいて位置し、各々コリメータ軸２４３，３４３に関し
て放射状に整列された、薄板２９および３９を設ける。
って２等分されたチューブの各々半分２８，３８から成
り、Ｘ線を吸収する材料から成る。チューブの半分２８
および３８は、Ｘ線を吸収し図１の図面において位置す
る金属製の仕切り４９によって互いに分離する。チュー
ブの半分を、ビーム軸２３，３３を各々通って延在する
コリメータ軸２４３，３４３の周囲に配置する。チュー
ブの半分２８および３８の内側に、互いに等しい距離を
おいて位置し、各々コリメータ軸２４３，３４３に関し
て放射状に整列された、薄板２９および３９を設ける。
【００３０】図１のＸ線源２０および３０は、互いに、
面４６における半円錐状１次放射ビームの直径のほぼ２
倍に対応する、図示した場合においてほぼ９０ｍｍに等
しい距離をおいて位置する。ここで分かるように、ビー
ム軸２２および３２は、検出器面４２に対して垂直には
延在しない。したがって、ビーム軸が検出器面に対して
垂直に延在する独国特許公開明細書第４２２２２２７号
から既知の装置における散乱角と比較すると、散乱角
は、ビーム軸と検出器面に対する法線とが成す角度の余
弦にほぼ対応する係数によって減少する。しかしなが
ら、ビーム軸と検出器面に対する法線とが成す最大角度
の１５°に関して生じる減少量は、散乱角のほぼ３％と
無視しうるほど僅かであり、その結果、ビーム軸が検出
器面４２に対して垂直でないことによる散乱角への全体
としての影響は、無視することができる。
面４６における半円錐状１次放射ビームの直径のほぼ２
倍に対応する、図示した場合においてほぼ９０ｍｍに等
しい距離をおいて位置する。ここで分かるように、ビー
ム軸２２および３２は、検出器面４２に対して垂直には
延在しない。したがって、ビーム軸が検出器面に対して
垂直に延在する独国特許公開明細書第４２２２２２７号
から既知の装置における散乱角と比較すると、散乱角
は、ビーム軸と検出器面に対する法線とが成す角度の余
弦にほぼ対応する係数によって減少する。しかしなが
ら、ビーム軸と検出器面に対する法線とが成す最大角度
の１５°に関して生じる減少量は、散乱角のほぼ３％と
無視しうるほど僅かであり、その結果、ビーム軸が検出
器面４２に対して垂直でないことによる散乱角への全体
としての影響は、無視することができる。
【００３１】独国特許公開明細書第４２２２２２７号か
ら既知の装置においては、９０ｍｍの幅を有する円錐状
ゾーンを検査するのに反して、本明細書に記載の装置に
おいては、図１の面４６において各々９０ｍｍの幅を有
し、互いに隣接した２つの半円錐状ゾーンを、同時に検
査することができる。
ら既知の装置においては、９０ｍｍの幅を有する円錐状
ゾーンを検査するのに反して、本明細書に記載の装置に
おいては、図１の面４６において各々９０ｍｍの幅を有
し、互いに隣接した２つの半円錐状ゾーンを、同時に検
査することができる。
【００３２】図６は、本発明の特に有利な実施例を示
す。本実施例において、４つの検出器４３１から４３４
を設け、１次絞り装置は、１次絞り板４０１において８
つの半環状スリットを具える。検出器４３１から４３４
を、検出器面４２において、これらの環状素子が、各々
Ｘ線源２０，３０を通って延在する２つのビーム軸との
各々の交点を同心円状に取り囲むように配置する。これ
らの交点を、面４６において８つの半円錐状１次放射ビ
ーム２２１から２２４および３２１から３２４が互いに
補うように直接隣接するように、選択する。
す。本実施例において、４つの検出器４３１から４３４
を設け、１次絞り装置は、１次絞り板４０１において８
つの半環状スリットを具える。検出器４３１から４３４
を、検出器面４２において、これらの環状素子が、各々
Ｘ線源２０，３０を通って延在する２つのビーム軸との
各々の交点を同心円状に取り囲むように配置する。これ
らの交点を、面４６において８つの半円錐状１次放射ビ
ーム２２１から２２４および３２１から３２４が互いに
補うように直接隣接するように、選択する。
【００３３】図７に示す１次絞り板４０１は、８つの半
環状スリットを具え、Ｘ線源２０（図示せず）に関連す
る３つのスリット２１２から２１４を、Ｘ線源３０に関
連する３つのスリット３１２から３１４に正確に隣接さ
せて、３つの環状スリットが形成されるようにする。２
つの端にある半環状スリット２１１および３１１は、各
々他方のＸ線源に関連する第２の半環状スリットと隣接
しない。点５１から５３は、各々Ｘ線源２０，３０を通
って延在する２つのビーム軸の交点であり、同時に３つ
の環状スリット２１２／３１２から２１４／３１４の中
心点である。同時に、Ｘ線源２０，３０の一方を通る１
つのビームのみが、点５０および５４を通って延在す
る。
環状スリットを具え、Ｘ線源２０（図示せず）に関連す
る３つのスリット２１２から２１４を、Ｘ線源３０に関
連する３つのスリット３１２から３１４に正確に隣接さ
せて、３つの環状スリットが形成されるようにする。２
つの端にある半環状スリット２１１および３１１は、各
々他方のＸ線源に関連する第２の半環状スリットと隣接
しない。点５１から５３は、各々Ｘ線源２０，３０を通
って延在する２つのビーム軸の交点であり、同時に３つ
の環状スリット２１２／３１２から２１４／３１４の中
心点である。同時に、Ｘ線源２０，３０の一方を通る１
つのビームのみが、点５０および５４を通って延在す
る。
【００３４】図６は、各々図３および５において示され
るのと同様な方法で構成される、２次絞り装置およびコ
リメータ装置を示さないが、この場合においては、４つ
のこれらのような装置を、検査すべき物体４４と検出器
面４２との間に配置する。１次放射ビーム２２１，３２
１から２２４，３２４の各々の対に関して、図３に示す
ような少なくとも２つの半環状２次スリットと、図５に
示すような２つのコリメータ装置とを関連させる。
るのと同様な方法で構成される、２次絞り装置およびコ
リメータ装置を示さないが、この場合においては、４つ
のこれらのような装置を、検査すべき物体４４と検出器
面４２との間に配置する。１次放射ビーム２２１，３２
１から２２４，３２４の各々の対に関して、図３に示す
ような少なくとも２つの半環状２次スリットと、図５に
示すような２つのコリメータ装置とを関連させる。
【００３５】本実施例において、同時に検査できるゾー
ンは、独国特許公開明細書第４２２２２２７号から既知
の装置と比較して、ほぼ８倍に拡大される。したがっ
て、検査すべき１つの手荷物に関する上限である７００
ｍｍの幅が達成され、物体のすべてのゾーンの一時的に
連続して検査する間の曲がりくねったような走査運動
を、検査すべき物体が検査装置に関して１方向に直線的
に移動することのみを必要とする１方向走査運動に置き
換えることができる。このことは、例えばコンベヤベル
トである移動装置の複雑さも減少し、ほぼ８倍の実質的
な利得を示す。既知の装置においては、１つの大きな手
荷物の検査は、２０秒程度に及ぶ時間を必要とするのに
反して、本発明の本実施例においては、物体の検査に必
要な時間は、予想される時間である６秒より実質的に減
少する。
ンは、独国特許公開明細書第４２２２２２７号から既知
の装置と比較して、ほぼ８倍に拡大される。したがっ
て、検査すべき１つの手荷物に関する上限である７００
ｍｍの幅が達成され、物体のすべてのゾーンの一時的に
連続して検査する間の曲がりくねったような走査運動
を、検査すべき物体が検査装置に関して１方向に直線的
に移動することのみを必要とする１方向走査運動に置き
換えることができる。このことは、例えばコンベヤベル
トである移動装置の複雑さも減少し、ほぼ８倍の実質的
な利得を示す。既知の装置においては、１つの大きな手
荷物の検査は、２０秒程度に及ぶ時間を必要とするのに
反して、本発明の本実施例においては、物体の検査に必
要な時間は、予想される時間である６秒より実質的に減
少する。
【００３６】図８は、１次絞り板４０２の他の実現可能
な実施例を示す。参照符５５および５７は、Ｘ線源２０
（図示せず）を通って延在する２つのビーム軸と、１次
絞り板４０２との交点を示し、参照符５６および５８
は、Ｘ線源３０（図示せず）を通って延在する２つのビ
ーム軸と、１次絞り板４０２との交点を示す。Ｘ線源２
０および３０の１次絞り板４０２に対して垂直な位置お
よび１次絞り板４０２からの距離は、１次絞り板４０２
上にＸ線源２０および３０の位置を垂直に投影すること
によって得られる点２０１および３０１によって示され
る。交点５５および５６とＸ線源の各々１つとを通って
延在するビーム軸は、Ｅ１によって示される板において
位置する。同様に、交点５７および５８とＸ線源の各々
１つとを通って延在するビーム軸は、Ｅ２によって示さ
れる板において位置する。半環状スリット２１５および
３１５によっ形成される１次放射ビームの散乱放射は、
２次絞り装置（図示せず）を経て１次検出器に誘導さ
れ、スリット２１６および３１６によって形成された１
次放射ビームの散乱放射は、第２検出器に誘導される。
な実施例を示す。参照符５５および５７は、Ｘ線源２０
（図示せず）を通って延在する２つのビーム軸と、１次
絞り板４０２との交点を示し、参照符５６および５８
は、Ｘ線源３０（図示せず）を通って延在する２つのビ
ーム軸と、１次絞り板４０２との交点を示す。Ｘ線源２
０および３０の１次絞り板４０２に対して垂直な位置お
よび１次絞り板４０２からの距離は、１次絞り板４０２
上にＸ線源２０および３０の位置を垂直に投影すること
によって得られる点２０１および３０１によって示され
る。交点５５および５６とＸ線源の各々１つとを通って
延在するビーム軸は、Ｅ１によって示される板において
位置する。同様に、交点５７および５８とＸ線源の各々
１つとを通って延在するビーム軸は、Ｅ２によって示さ
れる板において位置する。半環状スリット２１５および
３１５によっ形成される１次放射ビームの散乱放射は、
２次絞り装置（図示せず）を経て１次検出器に誘導さ
れ、スリット２１６および３１６によって形成された１
次放射ビームの散乱放射は、第２検出器に誘導される。
【００３７】本実施例において、同時に照射される検査
ゾーンは、１方向にのみ拡大されるのではなく、垂直方
向にも拡大される。本実施例の他の変形例において、半
環状スリットを、１次絞り板４０２に対して垂直でＸ線
源を通って延在する直線と、このＸ線源から放射される
Ｘ線の１次ビームとが成す角度を、１５°に等しくなる
ように配置することもできる。
ゾーンは、１方向にのみ拡大されるのではなく、垂直方
向にも拡大される。本実施例の他の変形例において、半
環状スリットを、１次絞り板４０２に対して垂直でＸ線
源を通って延在する直線と、このＸ線源から放射される
Ｘ線の１次ビームとが成す角度を、１５°に等しくなる
ように配置することもできる。
【００３８】独国特許公開明細書第４２２２２２７号か
ら既知の装置におけるように、本発明による装置におけ
るビーム軸と１次および２次絞り装置との交点におい
て、各々の半円錐１次放射ビームの、ビーム軸の経路に
対応する経路を有する、所謂中心光線の強度の測定がで
きるようにする小さい穴を設けてもよい。この目的のた
めに、各検出器における最も内側の検出器リング内に、
小さい領域を測定領域として設計する。これらの測定に
よって、個々の検出器素子の測定結果が中心光線の測定
結果に規格化され、したがって検査ゾーンにおける放射
線の吸収を考慮することができる。
ら既知の装置におけるように、本発明による装置におけ
るビーム軸と１次および２次絞り装置との交点におい
て、各々の半円錐１次放射ビームの、ビーム軸の経路に
対応する経路を有する、所謂中心光線の強度の測定がで
きるようにする小さい穴を設けてもよい。この目的のた
めに、各検出器における最も内側の検出器リング内に、
小さい領域を測定領域として設計する。これらの測定に
よって、個々の検出器素子の測定結果が中心光線の測定
結果に規格化され、したがって検査ゾーンにおける放射
線の吸収を考慮することができる。
【００３９】さらに、２次絞り装置を、本質的に半環状
のスリットを設けられた複数の平坦な２次絞り板から構
成してもよい。
のスリットを設けられた複数の平坦な２次絞り板から構
成してもよい。
【図１】 本発明の第１の実施例を図式的に示す線図で
ある。
ある。
【図２】 １次絞り装置の簡単な実施例を示す線図であ
る。
る。
【図３】 ２次絞り装置の簡単な実施例を示す線図であ
る。
る。
【図４】 １２個の環状素子から成る検出器を示す線図
である。
である。
【図５】 コリメータ装置の実施例を示す線図である。
【図６】 ４つの検出器を具える装置を図式的に示す線
図である。
図である。
【図７】 ４つの検出器を具える装置用の１次絞り板を
示す線図である。
示す線図である。
【図８】 １２個の検出器を具える装置用の１次絞り板
の他の実施例を示す線図である。
の他の実施例を示す線図である。
１〜１２ 環状検出器素子 ２０，３０ Ｘ線源 ２２，３２ １次放射ビーム ２３，３３ ビーム軸 ２６，２７，３６，３７ 散乱光 ４０ １次絞り板 ４１ 点 ４２ 検出器面 ４３ 検出器 ４４ 検査すべき物体 ４５ 板 ４６ 面 ４７ ２次絞り板 ４８ 検出器の中心
Claims (9)
- 【請求項１】 − ２つ以上の異なる波長のＸ線を発生
するＸ線源と、 − 散乱されたＸ線光子を検出し、検出器面の検出器中
心を同心円状に取り囲む複数の環状検出器素子を具える
検出器と、 − 前記Ｘ線源とＸ線によって照射される検査ゾーンと
の間に配置され、１次放射線ビームを形成する１次スリ
ットを具える１次絞り装置と、 − 前記検査ゾーンおよび検出器間に配置され、少なく
とも１つの２次スリットを具える２次絞り装置とを具
え、前記１次および２次スリットが本質的に半環状の形
状を有するとともに前記Ｘ線源および検出器中心とを接
続するビーム軸に対して同軸に配置された、検査ゾーン
からの弾性散乱されたＸ線光子のパルス伝送スペクトル
を測定する装置において、前記検出器面から前記第１Ｘ
線源と同じ距離に位置する第２Ｘ線源を設け、この第２
Ｘ線源を、この第２Ｘ線源と前記検出器中心とを接続す
る第２ビーム軸が前記第１ビーム軸と所定の角度で交差
し、結合された１対のビーム軸を構成するように配置
し、双方のビーム軸が１次および２次スリットに関連
し、前記第１ビーム軸を取り囲んで延在するすべての１
次および２次スリットが、前記第２ビーム軸を取り囲ん
で延在する１次および２次スリットと比較して反対方向
に、前記１対のビーム軸によって規定される面に向かっ
て開口し、各半環状スリットの両端が、前記１対のビー
ム軸によって規定される面においてほぼ位置することを
特徴とする装置。 - 【請求項２】 請求項１に記載の装置において、前記１
次スリットの直径を、前記第１ビーム軸を取り囲んで延
在する１次スリットによって形成される前記第１の１次
放射ビームが、前記第２ビーム軸を取り囲んで延在する
１次スリットによって形成される前記第２の１次放射ビ
ームと、前記検査ゾーンにおいて隣接するように選択し
たことを特徴とする装置。 - 【請求項３】 請求項１または２に記載の装置におい
て、前記１次および／または２次スリットを、各々１つ
の平坦な絞り板に設けたことを特徴とする装置。 - 【請求項４】 請求項１から３のいずれか１項に記載の
装置において、前記２次スリットを、前記検出器面と平
行に延在する前記検査ゾーンの面において本質的に散乱
される前記第１の１次放射ビームの散乱放射が、前記検
査ゾーンの同じ面において散乱する前記第２の１次ビー
ムの散乱放射と同じ検出器の環状素子に入射するように
配置したことを特徴とする装置。 - 【請求項５】 請求項１から４のいずれか１項に記載の
装置において、個々のビーム軸に関連し、Ｘ線を吸収し
ビーム軸を含む面において位置する薄板を具える２つの
コリメータ装置を、前記検査ゾーンと検出器との間に配
置したことを特徴とする装置。 - 【請求項６】 請求項５に記載の装置において、前記２
つのコリメータ装置の薄板を、前記２のビーム軸が位置
する面において延在する金属製の仕切りによって互いに
分離したことを特徴とする装置。 - 【請求項７】 請求項１から６のいずれか１項に記載の
装置において、少なくとも１つの他の検出器を具え、前
記１次絞り装置が、各々の検出器用の２つのスリットを
具えることを特徴とする装置。 - 【請求項８】 請求項７に記載の装置において、すべて
の１次および２次スリットとすべての検出器とを、前記
２つのＸ線源を前記検出器中心に接続するすべてのビー
ム軸が１つの面において位置するように配置したことを
特徴とする装置。 - 【請求項９】 請求項８に記載の装置において、４つの
検出器を設け、前記１次絞り装置が、８つの半環状スリ
ットを具えることを特徴とする装置。
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|---|---|
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Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008512670A (ja) * | 2004-09-11 | 2008-04-24 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | コヒーレント散乱撮像 |
| CN113253331A (zh) * | 2021-05-11 | 2021-08-13 | 中国工程物理研究院激光聚变研究中心 | 一种基于布拉格菲涅耳波带片的icf热斑三维编码成像方法 |
Families Citing this family (33)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE4445876B4 (de) * | 1994-12-22 | 2005-08-04 | Philips Intellectual Property & Standards Gmbh | Anordnung zum Messen des Impulsübertragsspektrums von elastisch gestreuten Röntgenquanten |
| US5805663A (en) * | 1997-05-08 | 1998-09-08 | Futec, Inc. | Radiation imaging method and system |
| US6094472A (en) * | 1998-04-14 | 2000-07-25 | Rapiscan Security Products, Inc. | X-ray backscatter imaging system including moving body tracking assembly |
| EP1233264B1 (de) * | 2001-01-17 | 2004-12-22 | YXLON International Security GmbH | Anordnung zum Messen des Impulsübertragungsspektrums von elastisch gestreuten Röntgenquanten |
| ATE250761T1 (de) | 2001-03-14 | 2003-10-15 | Yxlon Int X Ray Gmbh | Anordnung zum messen des impulsübertragungsspektrums von in einem untersuchungsbereich für behältnisse elastisch gestreuten röntgenquanten |
| DE102004035943B4 (de) * | 2004-07-23 | 2007-11-08 | GE Homeland Protection, Inc., , Newark | Röntgencomputertomograph sowie Verfahren zur Untersuchung eines Prüfteils mit einem Röntgencomputertomographen |
| US7203276B2 (en) * | 2004-08-27 | 2007-04-10 | University Of New Brunswick | X-ray scatter image reconstruction by balancing of discrepancies between detector responses, and apparatus therefor |
| DE102004060611B4 (de) * | 2004-12-16 | 2007-02-22 | Yxlon International Security Gmbh | Anordnung zum Messen des Impulsübertragungsspektrums von elastisch gestreuten Röntgenquanten |
| DE102005016656A1 (de) * | 2005-01-26 | 2006-08-10 | Smiths Heimann Gmbh | Kollimator mit einstellbarer Brennweite |
| WO2006135837A1 (en) * | 2005-06-10 | 2006-12-21 | Xoran Technologies, Inc. | Multiple source ct scanner |
| WO2007149751A2 (en) * | 2006-06-22 | 2007-12-27 | Koninklijke Philips Electronics, N.V. | Multi-source encoded x-ray imaging |
| US7881437B2 (en) | 2006-07-11 | 2011-02-01 | Morpho Detection, Inc. | Systems and methods for developing a primary collimator |
| US7773724B2 (en) * | 2006-07-11 | 2010-08-10 | Morpho Detection, Inc. | Systems and methods for generating an improved diffraction profile |
| US8638904B2 (en) | 2010-03-14 | 2014-01-28 | Rapiscan Systems, Inc. | Personnel screening system |
| US7796733B2 (en) * | 2007-02-01 | 2010-09-14 | Rapiscan Systems, Inc. | Personnel security screening system with enhanced privacy |
| US8576982B2 (en) | 2008-02-01 | 2013-11-05 | Rapiscan Systems, Inc. | Personnel screening system |
| US8995619B2 (en) | 2010-03-14 | 2015-03-31 | Rapiscan Systems, Inc. | Personnel screening system |
| GB0710579D0 (en) | 2007-06-02 | 2007-07-11 | Univ Cranfield | Detecion of x-ray scattering |
| US8199996B2 (en) * | 2007-06-21 | 2012-06-12 | Rapiscan Systems, Inc. | Systems and methods for improving directed people screening |
| CA2742127C (en) | 2007-11-01 | 2017-01-24 | Rapiscan Security Products, Inc. | Multiple screen detection systems |
| AU2008340164A1 (en) | 2007-12-25 | 2009-07-02 | Rapiscan Systems, Inc. | Improved security system for screening people |
| CN101561405B (zh) * | 2008-04-17 | 2011-07-06 | 清华大学 | 一种直线轨迹扫描成像系统和方法 |
| DE102009004334A1 (de) * | 2009-01-12 | 2010-07-15 | Siemens Aktiengesellschaft | Verfahren zur Röntgenbildgebung unter Ausnutzung von Streustrahlung |
| EP2502056A4 (en) * | 2009-11-18 | 2017-12-13 | Rapiscan Systems, Inc. | X-ray based system and methods for inspecting a person's shoes for aviation security threats |
| US20110188632A1 (en) * | 2010-02-03 | 2011-08-04 | Geoffrey Harding | Multiple plane multi-inverse fan-beam detection systems and method for using the same |
| CN102893181A (zh) | 2010-03-14 | 2013-01-23 | 拉皮斯坎系统股份有限公司 | 多屏检测系统 |
| CN106461576A (zh) | 2014-03-07 | 2017-02-22 | 拉皮斯坎系统股份有限公司 | 超宽带检测器 |
| US11280898B2 (en) | 2014-03-07 | 2022-03-22 | Rapiscan Systems, Inc. | Radar-based baggage and parcel inspection systems |
| BR112017011068A2 (pt) | 2014-11-25 | 2018-07-10 | Rapiscan Systems, Inc. | sistema de gerenciamento de segurança inteligente |
| CN109791811A (zh) | 2016-09-30 | 2019-05-21 | 美国科学及工程股份有限公司 | 用于2d扫描光束成像的x射线源 |
| WO2018154308A1 (en) * | 2017-02-25 | 2018-08-30 | The Nottingham Trent University | Sample inspection apparatus employing a diffraction detector |
| WO2019006310A1 (en) * | 2017-06-29 | 2019-01-03 | Cuadros Angela | PIXELIZED K-ENCODED OPENING SYSTEM FOR X-RAY IMAGING WITH COMPRESSION SPECTRUM |
| GB2577856B (en) * | 2018-07-24 | 2020-12-16 | The Nottingham Trent Univ | A sample inspection system |
Family Cites Families (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE3443095A1 (de) * | 1984-11-27 | 1986-05-28 | Philips Patentverwaltung Gmbh, 2000 Hamburg | Anordnung zur untersuchung eines koerpers mit gamma- oder roentgenstrahlung |
| DE4034602A1 (de) * | 1990-06-20 | 1992-05-07 | Philips Patentverwaltung | Anordnung zur messung des impulsuebertragsspektrums von roentgenquanten |
| DE4203354A1 (de) * | 1992-02-06 | 1993-08-12 | Philips Patentverwaltung | Anordnung zum messen des impulsuebertragsspektrums von roentgenquanten |
| DE4222227A1 (de) | 1992-07-07 | 1994-01-13 | Philips Patentverwaltung | Anordnung zum Messen des Impulsübertragsspektrums von elastisch gestreuten Röntgenquanten |
| EP0556887B1 (de) * | 1992-02-06 | 1998-07-08 | Philips Patentverwaltung GmbH | Anordnung zum Messen des Impulsübertragsspektrums von elastisch gestreuten Röntgenquanten |
-
1994
- 1994-11-24 DE DE4441843A patent/DE4441843A1/de not_active Withdrawn
-
1995
- 1995-11-16 DE DE59510051T patent/DE59510051D1/de not_active Expired - Lifetime
- 1995-11-16 EP EP95203139A patent/EP0714037B1/de not_active Expired - Lifetime
- 1995-11-21 US US08/560,238 patent/US5602893A/en not_active Expired - Lifetime
- 1995-11-24 JP JP30599695A patent/JP3782142B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008512670A (ja) * | 2004-09-11 | 2008-04-24 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | コヒーレント散乱撮像 |
| CN113253331A (zh) * | 2021-05-11 | 2021-08-13 | 中国工程物理研究院激光聚变研究中心 | 一种基于布拉格菲涅耳波带片的icf热斑三维编码成像方法 |
| CN113253331B (zh) * | 2021-05-11 | 2022-03-01 | 中国工程物理研究院激光聚变研究中心 | 一种基于布拉格菲涅耳波带片的icf热斑三维编码成像方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
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| EP0714037A2 (de) | 1996-05-29 |
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