JPH08220198A - Battery backup memory unit and backup function testing method - Google Patents

Battery backup memory unit and backup function testing method

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JPH08220198A
JPH08220198A JP7024006A JP2400695A JPH08220198A JP H08220198 A JPH08220198 A JP H08220198A JP 7024006 A JP7024006 A JP 7024006A JP 2400695 A JP2400695 A JP 2400695A JP H08220198 A JPH08220198 A JP H08220198A
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JP
Japan
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memory
backup
check
read
systems
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JP7024006A
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Japanese (ja)
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Fumio Oki
文郎 沖
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NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Abstract

PURPOSE: To confirm a backup function without interrupting the use of a memory by providing a means for controlling the power supply for two systems of memories having each backup power supply, and a memory checking means, and a setting means. CONSTITUTION: The use of a memory circuit 15 (or 16) cannot be suspended since external memory access can be accepted during the power breaking operation, the read data checking operation, and data copying operation of a backup function test due to the function of a memory access settlement circuit 14. Also, the most recent data can be written into a memory circuit which is not to be tested and the most recent data are written into a memory circuit to be tested excluding the initial certain timing of backup function testing operation, the memory data of both systems can be completely matched by data copy operation. When a test is suspended due to a trouble, the systems are not switched and hence the other system can be used, thus also preventing data from being reduced.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、メモリを電池によりバ
ックアップすることにより、主電源が遮断しても記憶内
容を保持させる電池バックアップメモリユニットとその
バックアップ機能試験方法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a battery backup memory unit which retains stored contents even when main power is cut off by backing up a memory with a battery and a backup function test method therefor.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来用いられていたこの種の電池バック
アップメモリユニットとしては、一般に図3のブロック
構成図に示す構成のものが採用されている。すなわち、
電池バックアップメモリユニットは、バックアップ電源
33を持つメモリ回路32と、外部からのメモリアクセ
スをメモリ回路32に接続するインタフェース制御回路
31から構成されており、外部からのメモリアクセスは
インタフェース制御回路31により受け付けられ、メモ
リ回路32にアクセスされる。
2. Description of the Related Art As a battery backup memory unit of this type which has been conventionally used, a structure shown in a block diagram of FIG. 3 is generally adopted. That is,
The battery backup memory unit is composed of a memory circuit 32 having a backup power supply 33 and an interface control circuit 31 for connecting an external memory access to the memory circuit 32. The external memory access is accepted by the interface control circuit 31. And the memory circuit 32 is accessed.

【0003】メモリ回路32は、通常は外部回路の主電
源から給電されているが、停電時やメモリユニットが外
部回路から切り離されたときは自動的にバックアップ電
源に切替わってバックアップ電源の電池から給電され、
メモリの記憶の消滅を防止する。
The memory circuit 32 is normally supplied with power from the main power source of the external circuit, but when the power is cut off or the memory unit is disconnected from the external circuit, the memory circuit 32 is automatically switched to the backup power source from the battery of the backup power source. Powered,
Prevents the memory from disappearing.

【0004】通常バックアップ電源33のバックアップ
機能試験手段は設けられていない。
Normally, the backup function test means of the backup power supply 33 is not provided.

【0005】バックアップ機能試験手段を設けた例とし
ては特開平4−257908号公報で開示されたメモリ
ユニットのリード・ライト装置がある。上記公報で開示
された発明は、メモリとバックアップ電源が同一のパッ
ケージに実装されたメモリユニットに対し、電源の供給
をオン/オフする手段を設け、特定のアドレスに特定の
データを書込んだ後、電源の供給を一定時間オフした
後、再度オンして前記特定アドレスのデータを読み出し
てそのデータを確認することによってバックアップ機能
をチェックしている。
As an example in which the backup function test means is provided, there is a memory unit read / write device disclosed in Japanese Patent Laid-Open No. 4-257908. The invention disclosed in the above publication is provided with means for turning on / off power supply to a memory unit in which a memory and a backup power supply are mounted in the same package, and after writing specific data to a specific address. The backup function is checked by turning off the power supply for a certain period of time and then turning it on again to read the data at the specific address and confirm the data.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】バックアップ電源は一
般に、停電や誤操作などの万一の事態に備えて設けられ
ているが長時間起動されないことが多く、その間に障害
が潜在して非常の際にバックアップ機能が働かず、重要
な記憶内容を消滅させる可能性が有るので、バックアッ
プ機能のチェックが行われていないことは問題である。
A backup power source is generally provided in case of an emergency such as power failure or erroneous operation, but it is often not started for a long time. It is a problem that the backup function is not checked because the backup function does not work and important stored contents may be erased.

【0007】この問題を解決する手段の一つとして上述
の特開平4−257908号公報で開示されたバックア
ップ機能試験方法が有るが、この方法では機能試験を行
うために電源の供給を一定時間遮断する必要が有り、そ
の間メモリの使用を中断しなければならないという問題
点がある。
As one of means for solving this problem, there is a backup function test method disclosed in the above-mentioned Japanese Patent Laid-Open No. 4-257908. In this method, the power supply is cut off for a certain period of time in order to perform the function test. However, there is a problem that the use of the memory must be interrupted during that time.

【0008】長時間連続運転するようなシステムでは、
バックアップ機能チェックのためにメモリの使用を中断
することは事実上不可能である。半面、長時間連続運転
するシステム程バックアップ電源の起動間隔が極端に長
くなり、障害が潜在する確率が高まるのでバックアップ
機能をチェックする必要性が高いという矛盾がある。本
発明の目的は、以上のような欠点を克服し、メモリの使
用を中断することなくバックアップ機能を確認すること
が可能な電池バックアップメモリユニットとバックアッ
プ機能試験方法を提供することにある。
In a system that operates continuously for a long time,
It is virtually impossible to suspend the use of memory for the backup function check. On the other hand, there is a contradiction that it is necessary to check the backup function because the backup power supply start-up interval becomes extremely long and the probability of failure increases as the system operates continuously for a long time. SUMMARY OF THE INVENTION It is an object of the present invention to provide a battery backup memory unit and a backup function test method that overcome the above drawbacks and can confirm the backup function without interrupting the use of the memory.

【0009】[0009]

【課題を解決するための手段】本発明の電池バックアッ
プメモリユニットは、バックアップ電源を持つメモリ
と、外部からのメモリアクセスを前記メモリに接続する
インタフェース制御手段を有する電池バックアップメモ
リユニットにおいて、メモリが2系統となってそれぞれ
がバックアップ電源を持ち、2系統となったメモリのそ
れぞれに供給される主電源の供給を個々に制御するため
の電源制御手段と、メモリのバックアップ機能をチェッ
クするメモリチェッック手段と、2系統のメモリに対す
る外部からのアクセスに応じて行われる読み出し書込み
動作と、メモリチェック手段によるチェック機能とコピ
ー機能のために要求される読み出し書込み動作との調停
を行うための調停手段とを有し、メモリチェック手段
は、あらかじめ設定された条件に従ってメモリのバック
アップ機能試験動作を起動し、2系統のメモリのうち、
試験対象とする1系統のメモリの主電源を電源制御手段
を介して所定の時間遮断し、電源復帰後に試験対象メモ
リのリードデータを読み込んでバックアップ機能をチェ
ックし、チェック後に試験期間中外部からのメモリアク
セスに継続的に対応を続けていた非試験対象メモリのリ
ードデータを読み込んで試験対象のメモリにメモリコピ
ーし、次に他の1系統のメモリに対しても同様の作業を
行って2系統のメモリのバックアップ機能のチェックを
行う機能を有する。
A battery backup memory unit of the present invention is a battery backup memory unit having a memory having a backup power source and an interface control means for connecting a memory access from the outside to the memory. Power supply control means for individually controlling the supply of main power supplied to each of the memories having two systems and each having a backup power supply, and memory check means for checking the backup function of the memories. Arbitration means for arbitrating read / write operations performed in response to external access to the two systems of memory and read / write operations required for the check function and the copy function by the memory check means. However, the memory check means is preset. Starting the backup function test operation of the memory according to the conditions, of the two systems memory,
The main power supply of the memory of one system to be tested is shut off for a predetermined time via the power supply control means, the read data of the memory to be tested is read after the power supply is restored, and the backup function is checked. Read the read data from the non-test target memory that has been continuously responding to the memory access, copy the memory to the test target memory, and then perform the same operation for the other 1 system memory to perform 2 system It has a function to check the backup function of the memory.

【0010】また本発明のバックアップ機能試験方法
は、電池によりバックアップされるメモリユニットが2
系統設けられたメモリユニットで行われるバックアップ
機能試験方法であって、2系統のメモリのうち、試験対
象とする1系統のメモリの主電源を所定の時間遮断し、
電源復帰後に試験対象メモリのリードデータをメモリチ
ェック手段に読み込んでバックアップ機能をチェック
し、チェック終了後に試験期間中外部からのメモリアク
セスに継続的に対応を続けていた非試験対象メモリのリ
ードデータを読み込んで試験対象のメモリにメモリコピ
ーし、次に他の1系統のメモリに対しても同様の作業を
行って2系統のメモリのバックアップ機能のチェックを
行う。
In the backup function test method of the present invention, the number of memory units backed up by the battery is 2
A backup function test method performed by a system-provided memory unit, which shuts off the main power supply of one system memory to be tested among two systems of memory for a predetermined time,
After the power is restored, the read data of the test target memory is read into the memory check unit to check the backup function, and after the check is completed, the read data of the non-test target memory that has continuously responded to external memory access during the test period is read. The data is read and copied to the memory to be tested, and then the same operation is performed for the other one-system memory to check the backup function of the two-system memory.

【0011】[0011]

【作用】電池バックアップメモリユニットのバックアッ
プ機能に異常があれば、試験のため主電源が遮断された
時にメモリのデータが失われるので、メモリチェック動
作によって異常が検出される。
If there is an abnormality in the backup function of the battery backup memory unit, the data in the memory will be lost when the main power supply is cut off for the test, so the abnormality is detected by the memory check operation.

【0012】上記のようなメモリチェックがなされる際
に、一方の系統のメモリの主電源を遮断している時に
も、他の系統のメモリに対しては連続的に電源を供給で
きるので、これによって外部アクセスが可能となり、試
験対象外の他の系統のメモリを使用して読み出し書込み
動作を行うことができる。この時のライトデータはメモ
リコピー動作によって、試験対象外の系統から試験対象
の系統にコピーされる。主電源復帰後のメモリチェック
期間も外部アクセスは可能で、リード動作は試験対象外
の系を使用し、ライト動作は両系統に対して行う。この
際外部アクセスとメモリチェック動作が競合しないよう
調停を行う。
During the above-mentioned memory check, even if the main power supply of the memory of one system is cut off, the power can be continuously supplied to the memory of the other system. External access becomes possible, and read / write operations can be performed using a memory of another system that is not the test target. The write data at this time is copied from the non-test target system to the test target system by the memory copy operation. External access is possible even during the memory check period after the main power is restored, the read operation uses the non-test target system, and the write operation is performed for both systems. At this time, arbitration is performed so that external access does not conflict with the memory check operation.

【0013】以上の作用によって、メモリの使用を中断
することなくバックアップ機能の試験が可能となる。
With the above operation, the backup function can be tested without interrupting the use of the memory.

【0014】[0014]

【実施例】次に本発明の実施例について図面を参照して
説明する。図1は本発明の実施例のブロック構成図であ
り、図2は本発明の実施例のフローチャートである。
Next, an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1 is a block diagram of an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a flow chart of the embodiment of the present invention.

【0015】本発明の電池バックアップメモリユニット
は、インタフェース制御回路11とメモリ制御回路12
の指令によって読み出し書込み動作を行うメモリを備え
た#0系のメモリ回路15と#1系のメモリ回路16お
よびメモリ回路15、16のそれぞれをバックアップす
るバックアップ電源18と19からなる2系統のバック
アップメモリを備えるもので、外部回路と接続され、外
部アクセスの指令により、メモリアクセス調停回路14
の調停を受け、メモリバス17を経由して#0系メモリ
回路15あるいは#1系メモリ回路16に接続して必要
な信号の授受を行うインタフェース制御回路11と、あ
らかじめ設定された条件に従って自律的にメモリチェッ
ク動作を起動し、電源供給制御回路13に指令してメモ
リチェックの対象とする#0系または#1系のメモリ回
路15、16の外部電源をあらかじめ設定した時間遮断
し、復帰後対象メモリのリードデータをメモリバス17
を経由して受信して内容をチェックして障害のある場合
は警報を出力し、チェック後非対象メモリのリードデー
タを対象メモリにコピーするメモリ制御回路12と、外
部からメモリ回路15、16の各々に供給される主電源
の供給をメモリ制御回路12の指令により個々に制御す
る電源供給制御回路13と、インタフェース制御回路1
1およびメモリ制御回路12の指令による2系統のメモ
リ回路15、16への読み出し書込み動作の実行を整理
調停するメモリアクセス調停回路14と、インタフェー
ス制御回路11とメモリ制御回路12とを2系列のメモ
リ回路15、16に接続するメモリバス17とから構成
されている。
The battery backup memory unit of the present invention comprises an interface control circuit 11 and a memory control circuit 12.
Of the # 0 system memory circuit 15 and the # 1 system memory circuit 16 and the backup power supplies 18 and 19 for backing up the memory circuits 15 and 16 respectively. The memory access arbitration circuit 14 is connected to an external circuit, and receives an external access command.
Interface control circuit 11 that receives the necessary signals by connecting to the # 0 system memory circuit 15 or the # 1 system memory circuit 16 via the memory bus 17, and autonomously in accordance with preset conditions. Then, the memory check operation is started, and the power supply control circuit 13 is instructed to shut off the external power supply of the memory circuits 15 and 16 of the # 0 system or # 1 system to be subjected to the memory check for a preset time, and then the target after the recovery. Memory read data is transferred to the memory bus 17
Of the memory control circuit 12 for copying the read data of the non-target memory to the target memory after checking, and for checking the contents and checking the contents if there is a failure, and the memory circuits 15 and 16 from the outside. A power supply control circuit 13 for individually controlling the supply of main power supplied to each in accordance with a command from the memory control circuit 12, and an interface control circuit 1.
Memory access arbitration circuit 14 for arbitrating and arbitrating execution of read / write operations to two systems of memory circuits 15 and 16 according to commands of 1 and memory control circuit 12, and interface control circuit 11 and memory control circuit 12 as two series of memories. The memory bus 17 is connected to the circuits 15 and 16.

【0016】次に本発明の電池バックアップメモリユニ
ットの外部アクセスに対する動作を説明する。外部から
のメモリアクセスはインタフェース制御回路11により
受け付けられる。インタフェース制御回路11はメモリ
アクセス調停回路14に対してメモリアクセス要求を送
信する。メモリアクセス調停回路はメモリ制御回路12
からのメモリアクセス要求との調停を行った後、メモリ
アクセス許可を返送する。
Next, the operation of the battery backup memory unit of the present invention for external access will be described. The memory access from the outside is accepted by the interface control circuit 11. The interface control circuit 11 sends a memory access request to the memory access arbitration circuit 14. The memory access arbitration circuit is the memory control circuit 12
After arbitrating with the memory access request from, the memory access permission is returned.

【0017】インタフェース制御回路11はこれを受け
てメモリバス17を介して#0系のメモリ回路15およ
び#1系のメモリ回路16にアクセスする。このときラ
イト動作であれば両系のメモリ回路が動作するが、リー
ド動作の場合はアクト系のメモリ回路が動作する。この
アクト/スタンバイ指定はメモリ制御回路12からメモ
リバス17を介して行われる。
In response to this, the interface control circuit 11 accesses the # 0 system memory circuit 15 and the # 1 system memory circuit 16 via the memory bus 17. At this time, the memory circuits of both systems operate during the write operation, but the memory circuits of the act system operate during the read operation. This act / standby designation is performed from the memory control circuit 12 via the memory bus 17.

【0018】次に本発明のバックアップ機能試験方法の
試験動作を図2に従って説明する。あらかじめ設定され
た条件に従って自律的にメモリ制御回路12のバックア
ップ機能試験動作が起動し(S1)、メモリバス17を
介して試験対象とするメモリ回路を試験中状態(スタン
バイかつ書込禁止)に、非試験対象のメモリ回路をアク
トに設定する(S2)。
Next, the test operation of the backup function test method of the present invention will be described with reference to FIG. The backup function test operation of the memory control circuit 12 is autonomously activated in accordance with a preset condition (S1), and the memory circuit to be tested is put into the in-testing state (standby and write protected) via the memory bus 17. The non-test target memory circuit is set to act (S2).

【0019】次に電源供給制御回路13に指令してメモ
リチェックの対象とする#0系または#1系のメモリ回
路15、16の外部電源を遮断し、あらかじめ設定した
時間の経過後に電源供給を復帰させる(S3)。
Next, the power supply control circuit 13 is instructed to shut off the external power supply of the memory circuits 15 and 16 of the # 0 system or # 1 system to be subjected to the memory check, and supply the power after a preset time elapses. It is restored (S3).

【0020】復帰後試験対象のメモリ回路を運用中状態
(スタンバイかつ書込許可)に設定し、非試験対象のメ
モリ回路はアクトを継続させる(S4)。
After recovery, the memory circuit to be tested is set to the operating state (standby and write enabled), and the memory circuit to be non-tested continues to act (S4).

【0021】その後試験対象の系のメモリ回路の全アド
レスのリードデータチェックを行う。メモリ制御回路1
2はメモリアクセス調停回路14に対しメモリアクセス
を要求する。メモリアクセス調停回路14はインタフェ
ース制御回路11からのメモリアクセス要求との調停を
行った後、メモリアクセス許可を返送する。
After that, read data check of all addresses of the memory circuit of the system to be tested is performed. Memory control circuit 1
2 requests the memory access arbitration circuit 14 for memory access. The memory access arbitration circuit 14 arbitrates the memory access request from the interface control circuit 11, and then returns the memory access permission.

【0022】メモリ制御回路12はこれを受けてメモリ
バス17を介して試験対象のメモリ回路にリードアクセ
スを行う。リードデータはメモリ制御回路12で受信し
チェックする。チェックには種々の方法があるがバリテ
ィチェックが一般的である。このリードアクセスをアド
レスごとに繰り返して全アドレスのデータチェックを行
う(S5)。
In response to this, the memory control circuit 12 makes a read access to the memory circuit to be tested via the memory bus 17. The read data is received and checked by the memory control circuit 12. There are various check methods, but the validity check is generally used. This read access is repeated for each address to check the data of all addresses (S5).

【0023】S5のメモリデータチェックの結果バック
アップ機能に障害が発見された場合は(S6)メモリユ
ニットに警報表示を行うか外部回路に警報を出力し、試
験は中断する(S7)。
If a failure is found in the backup function as a result of the memory data check in S5 (S6), an alarm is displayed on the memory unit or an alarm is output to an external circuit, and the test is interrupted (S7).

【0024】次にデータコピー動作を行う。メモリ制御
回路12はメモリアクセス調停回路14に対してメモリ
アクセス要求を送信する。メモリアクセス調停回路14
はインタフェース制御回路11からのメモリアクセス要
求との調停を行った後、メモリアクセス許可を返送す
る。
Next, the data copy operation is performed. The memory control circuit 12 sends a memory access request to the memory access arbitration circuit 14. Memory access arbitration circuit 14
Arbitrates for a memory access request from the interface control circuit 11, and then returns a memory access permission.

【0025】メモリ制御回路12はこれを受けてメモリ
バス17を介して非試験対象のメモリ回路にリードアク
セスを行い、同時に試験対象のメモリ回路にライトアク
セスを行うことによりメモリコピーを行う。この動作を
アドレスごとに繰り返して全アドレスのメモリコピーを
行う(S8)。
In response to this, the memory control circuit 12 performs read access to the non-test target memory circuit via the memory bus 17, and at the same time performs write access to the test target memory circuit to perform memory copy. This operation is repeated for each address to perform memory copy of all addresses (S8).

【0026】一つの系統の試験が終った後、系統の切替
えを行って(S9)他の系統の試験が行われて(S1
0)両系統の試験が完了する(S11)。
After the test of one system is completed, the system is switched (S9) and the test of the other system is performed (S1).
0) The test of both lines is completed (S11).

【0027】このメモリアクセス調停回路14の機能に
よって、バックアップ機能試験の電源遮断動作やリード
データチェック動作およびデータコピー動作の間も、外
部からのメモリアクセスは受け付けられるので、メモリ
回路の使用が中断されることがない。また非試験対象の
メモリ回路にはいつも最新のデータが書込まれ、試験対
象のメモリ回路にはバックアップ機能試験動作の初期の
一時期を除いては最新のデータが書込まれるので、デー
タコピー動作により、両系統のメモリ内容は完全に一致
させることができる。
Due to the function of the memory access arbitration circuit 14, the memory access from the outside is accepted even during the power-off operation of the backup function test, the read data check operation and the data copy operation, so that the use of the memory circuit is interrupted. Never. In addition, the latest data is always written to the non-test target memory circuit, and the latest data is written to the test target memory circuit except in the initial period of the backup function test operation. , The memory contents of both systems can be completely matched.

【0028】障害により試験を中断した場合は系の切替
えを行なわないので、他の系で使用を続けることが可能
であり、データの消滅もない。
When the test is interrupted due to a failure, the system is not switched, so that the system can continue to be used in another system and the data is not lost.

【0029】[0029]

【発明の効果】以上説明したように本発明の電池バック
アップメモリユニットおよびバックアップ機能試験方法
によれば、メモリの使用を中断することなくバックアッ
プ機能の動作を試験することが可能となる。
As described above, according to the battery backup memory unit and the backup function test method of the present invention, the operation of the backup function can be tested without interrupting the use of the memory.

【0030】そのことによって、停電時に記憶データが
消滅するといった事故が未然に防止できる。
As a result, it is possible to prevent accidents such as loss of stored data at the time of power failure.

【0031】また、例えばキャッシュレジスタに装着し
た電池バックアップメモリユニットで収集した1日分の
データを、メモリユニットを取り外し集計装置に接続し
てデータの引渡しを行うような場合にも、記憶データ消
滅の不安なくメモリユニットの受渡しができる。
Also, for example, when the memory unit is removed and the data is handed over by connecting to the totalizing device, the data for one day collected by the battery backup memory unit mounted in the cash register is deleted. You can deliver the memory unit without worry.

【0032】さらに、2系列のメモリ回路とバックアッ
プ電源を有するので万一1系統に障害が発生しても他系
統は正常であり記憶データ消滅の不安はない。
Furthermore, since the system has two series of memory circuits and a backup power source, even if a failure occurs in one system, the other system is normal and there is no fear of losing stored data.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の実施例のブロック構成図である。FIG. 1 is a block diagram of an embodiment of the present invention.

【図2】本発明の実施例のフローチャートである。FIG. 2 is a flowchart of an embodiment of the present invention.

【図3】従来例のブロック構成図である。FIG. 3 is a block diagram of a conventional example.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

11 インタフェース制御回路 12 メモリ制御回路 13 電源供給制御回路 14 メモリアクセス調停回路 15 #0系メモリ回路 16 #1系メモリ回路 17 内部メモリバス 18 #0系バックアップ電源 19 #1系バックアップ電源 31 インタフェース制御回路 32 メモリ回路 33 バックアップ電源 S1〜S11 処理手順のステップ 11 interface control circuit 12 memory control circuit 13 power supply control circuit 14 memory access arbitration circuit 15 # 0 system memory circuit 16 # 1 system memory circuit 17 internal memory bus 18 # 0 system backup power supply 19 # 1 system backup power supply 31 interface control circuit 32 memory circuit 33 backup power supply S1 to S11 step of processing procedure

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 バックアップ電源を持つメモリと、外部
からのメモリアクセスを前記メモリに接続するインタフ
ェース制御手段を有する電池バックアップメモリユニッ
トにおいて、 前記メモリが2系統となってそれぞれがバックアップ電
源を持ち、 前記の2系統となったメモリのそれぞれに供給される主
電源の供給を個々に制御するための電源制御手段と、 前記メモリのバックアップ機能をチェックするメモリチ
ェック手段と、 前記2系統のメモリに対する外部からのアクセスに応じ
て行われる読み出し書込み動作と、メモリチェック手段
によるチェック機能とコピー機能のために要求される読
み出し書込み動作との調停を行うための調停手段とを有
し、 前記メモリチェック手段は、あらかじめ設定された条件
に従ってメモリのバックアップ機能試験動作を起動し、
前記2系統のメモリのうち、試験対象とする1系統のメ
モリの主電源を前記電源制御手段を介して所定の時間遮
断し、電源復帰後に前記試験対象メモリのリードデータ
を読み込んでバックアップ機能をチェックし、チェック
後に試験期間中外部からのメモリアクセスに継続的に対
応を続けていた非試験対象メモリのリードデータを読み
込んで前記試験対象のメモリにメモリコピーし、次に他
の1系統のメモリに対しても同様の作業を行って前記2
系統のメモリのバックアップ機能のチェックを行う機能
を有することを特徴とする電池バックアップメモリユニ
ット。
1. A battery backup memory unit having a memory having a backup power supply and an interface control means for connecting a memory access from the outside to the memory, wherein the memory has two systems, each having a backup power supply, Power control means for individually controlling the supply of main power supplied to each of the two systems of memory, a memory check means for checking the backup function of the memory, and an external device for the two systems of memory. The read / write operation performed according to the access, and the read / write operation required for the check function and the copy function by the memory check means, and an arbitration means for arbitrating the memory check means. Back up the memory according to the preset conditions. Start function test operation,
Of the two systems of memory, the main power supply of the one system memory to be tested is shut off for a predetermined time via the power supply control means, and after the power is restored, the read data of the memory to be tested is read to check the backup function. Then, after checking, read the read data of the non-test target memory that has continuously responded to external memory access during the test period, copy it to the test target memory, and then to another one system memory. Repeat the same procedure for the above 2
A battery backup memory unit having a function of checking a backup function of a system memory.
【請求項2】 電池によりバックアップされるメモリユ
ニットが2系統設けられたメモリユニットで行われるバ
ックアップ機能試験方法であって、 前記2系統のメモリのうち試験対象とする1系統のメモ
リの主電源を所定の時間遮断し、電源復帰後に前記試験
対象メモリのリードデータを前記メモリチェック手段に
読み込んでバックアップ機能をチェックし、チェック終
了後に試験期間中外部からのメモリアクセスに継続的に
対応を続けていた非試験対象メモリのリードデータを読
み込んで試験対象のメモリにメモリコピーし、次に他の
1系統のメモリに対しても同様の作業を行って両系統の
メモリのバックアップ機能のチェックを行うことを特徴
とするバックアップ機能試験方法。
2. A backup function test method performed by a memory unit provided with two systems of memory units backed up by a battery, wherein the main power source of one system memory to be tested among the two systems memory is After shutting down for a predetermined time, after reading the power supply, the read data of the memory under test is read into the memory check means to check the backup function, and after the check is completed, the memory access from outside is continuously supported during the test period. Read the read data from the non-test target memory, copy it to the test target memory, and then perform the same operation for the other 1-system memory to check the backup function of the memory of both systems. Characteristic backup function test method.
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