JPH08216450A - レーザビーム走査光学装置 - Google Patents
レーザビーム走査光学装置Info
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- JPH08216450A JPH08216450A JP2356395A JP2356395A JPH08216450A JP H08216450 A JPH08216450 A JP H08216450A JP 2356395 A JP2356395 A JP 2356395A JP 2356395 A JP2356395 A JP 2356395A JP H08216450 A JPH08216450 A JP H08216450A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 ガタつきのおそれがなく、小型で高精度での
フォーカシングが可能なレーザビーム走査光学装置を得
ること。 【構成】 光源ユニット１のホルダ６内にはレーザダイ
オード、コリメータレンズが収納されている。ホルダ６
の外周面にはヒータ８が取り付けられている。光源ユニ
ット１から放射されたレーザビームはポリゴンミラー１
３で偏向され、光学素子１４ａ，１４ｂ，１４ｃを介し
て感光体ドラム４０上を矢印ｂ方向に走査する。ヒータ
８をオン、オフするとホルダ６が伸縮してコリメータレ
ンズが光軸上で移動し、感光体ドラム４０上での焦点位
置が変化する。レーザビームは検出器１６によって集光
状態を検出され、この検出結果に基づいてヒータ８のオ
ン、オフが制御される。
フォーカシングが可能なレーザビーム走査光学装置を得
ること。 【構成】 光源ユニット１のホルダ６内にはレーザダイ
オード、コリメータレンズが収納されている。ホルダ６
の外周面にはヒータ８が取り付けられている。光源ユニ
ット１から放射されたレーザビームはポリゴンミラー１
３で偏向され、光学素子１４ａ，１４ｂ，１４ｃを介し
て感光体ドラム４０上を矢印ｂ方向に走査する。ヒータ
８をオン、オフするとホルダ６が伸縮してコリメータレ
ンズが光軸上で移動し、感光体ドラム４０上での焦点位
置が変化する。レーザビームは検出器１６によって集光
状態を検出され、この検出結果に基づいてヒータ８のオ
ン、オフが制御される。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、レーザビーム走査光学
装置、特に、レーザプリンタやデジタル複写機に感光体
への画像印字手段として組み込まれるレーザビーム走査
光学装置に関する。
装置、特に、レーザプリンタやデジタル複写機に感光体
への画像印字手段として組み込まれるレーザビーム走査
光学装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】近年、レーザプリンタやデジタル複写機
に感光体への画像印字手段として組み込まれるレーザビ
ーム走査光学装置は、画質向上のために高密度での印字
を可能とされている。このため、被走査面（感光体）上
でのレーザビームのスポット径は小さくなり、焦点の許
容深度が浅くなってきている。従って、環境の変化、特
に、温度変化に起因するディフォーカスの許容範囲は小
さくなっている。
に感光体への画像印字手段として組み込まれるレーザビ
ーム走査光学装置は、画質向上のために高密度での印字
を可能とされている。このため、被走査面（感光体）上
でのレーザビームのスポット径は小さくなり、焦点の許
容深度が浅くなってきている。従って、環境の変化、特
に、温度変化に起因するディフォーカスの許容範囲は小
さくなっている。
【０００３】従来、フォーカシングは光源であるレーザ
ダイオードの直前に設けたコリメータレンズを光軸方向
に移動させることによって行っている。例えば、特開昭
５７−６３３２４号公報ではコリメータレンズを圧電素
子で移動させることが開示されている。また、特開昭６
２−１５３９１６号公報、同６３−２１４７１２号公報
ではモータを駆動源とするねじ送り機構でコリメータレ
ンズを移動させることが開示されている。
ダイオードの直前に設けたコリメータレンズを光軸方向
に移動させることによって行っている。例えば、特開昭
５７−６３３２４号公報ではコリメータレンズを圧電素
子で移動させることが開示されている。また、特開昭６
２−１５３９１６号公報、同６３−２１４７１２号公報
ではモータを駆動源とするねじ送り機構でコリメータレ
ンズを移動させることが開示されている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前記従
来技術のように、圧電素子やモータを駆動源としてコリ
メータレンズを機械的に移動させる構成では、移動部分
にガタつきが生じ、落下時の衝撃、輸送時の振動でコリ
メータレンズの光軸がずれるといった不具合を生じてい
た。しかも、フォーカシングはコリメータレンズをμｍ
オーダで移動させる精密な制御が要求され、高価なアク
チュエータとなっていた。さらに、モータやねじ送り機
構ではフォーカシング機構が大型化するといった問題点
をも有していた。
来技術のように、圧電素子やモータを駆動源としてコリ
メータレンズを機械的に移動させる構成では、移動部分
にガタつきが生じ、落下時の衝撃、輸送時の振動でコリ
メータレンズの光軸がずれるといった不具合を生じてい
た。しかも、フォーカシングはコリメータレンズをμｍ
オーダで移動させる精密な制御が要求され、高価なアク
チュエータとなっていた。さらに、モータやねじ送り機
構ではフォーカシング機構が大型化するといった問題点
をも有していた。
【０００５】そこで、本発明の目的は、ガタつきのおそ
れがなく、小型で高精度でのフォーカシングが可能なレ
ーザビーム走査光学装置を提供することにある。
れがなく、小型で高精度でのフォーカシングが可能なレ
ーザビーム走査光学装置を提供することにある。
【０００６】
【課題を解決するための手段及び作用】以上の目的を達
成するため、本発明に係るレーザビーム走査光学装置
は、被走査面と光学的に等価位置に設置され、レーザビ
ームの集光状態を検出する検出手段と、温度変化に応じ
て伸縮することにより集光素子を光軸方向に移動させる
集光素子保持部材と、この集光素子保持部材を加熱する
加熱手段と、前記検出手段の検出結果に基づいて前記加
熱手段を制御する合焦制御手段とを備えている。
成するため、本発明に係るレーザビーム走査光学装置
は、被走査面と光学的に等価位置に設置され、レーザビ
ームの集光状態を検出する検出手段と、温度変化に応じ
て伸縮することにより集光素子を光軸方向に移動させる
集光素子保持部材と、この集光素子保持部材を加熱する
加熱手段と、前記検出手段の検出結果に基づいて前記加
熱手段を制御する合焦制御手段とを備えている。
【０００７】前記保持部材は、例えば一定の線膨張係数
を有する合成樹脂からなり、これを加熱手段で所定の温
度に加熱することにより、焦点を合わせておく。前記検
出手段が「合焦」状態であると検出している場合には所
定の温度を維持する。そして、検出手段が「前ピント」
状態又は「後ピント」状態であると検出すると、加熱手
段をオン又はオフして保持部材の温度を変化させる。こ
れにて保持部材が伸縮し、集光素子が光軸方向に移動
し、合焦調整が行われる。
を有する合成樹脂からなり、これを加熱手段で所定の温
度に加熱することにより、焦点を合わせておく。前記検
出手段が「合焦」状態であると検出している場合には所
定の温度を維持する。そして、検出手段が「前ピント」
状態又は「後ピント」状態であると検出すると、加熱手
段をオン又はオフして保持部材の温度を変化させる。こ
れにて保持部材が伸縮し、集光素子が光軸方向に移動
し、合焦調整が行われる。
【０００８】
【実施例】以下、本発明に係るレーザビーム走査光学装
置の実施例について添付図面を参照して説明する。
置の実施例について添付図面を参照して説明する。
【０００９】（全体構成と印字動作の概略）図１におい
て、レーザビーム走査光学装置は、光源ユニット１と、
シリンドリカルレンズ１１と、平面ミラー１２と、ポリ
ゴンミラー１３と、走査光学素子群１４（レンズ１４
ａ，１４ｂ、ミラー１４ｃ）と、ビーム検出器１６とか
ら構成されている。
て、レーザビーム走査光学装置は、光源ユニット１と、
シリンドリカルレンズ１１と、平面ミラー１２と、ポリ
ゴンミラー１３と、走査光学素子群１４（レンズ１４
ａ，１４ｂ、ミラー１４ｃ）と、ビーム検出器１６とか
ら構成されている。
【００１０】光源ユニット１は、図２に示すように、レ
ーザダイオード２とコリメータレンズ３を備えている。
レーザダイオード２はホルダ４の保持面４ａに接着／保
持されている。コリメータレンズ３は鏡胴５の保持面５
ａに接着／保持されている。ホルダ４と鏡胴５とはホル
ダ６に嵌め込まれており、ホルダ４，６はビス７で接合
面４ｂ，６ａを密着させた状態で固定され、鏡胴５はホ
ルダ６の先端に接着／固定されている。また、ホルダ６
の外周面にはニクロム線からなるヒータ８が巻回されて
いる。この光源ユニット１は、被走査面に対して接合面
４ｂを基準として取り付けられている。
ーザダイオード２とコリメータレンズ３を備えている。
レーザダイオード２はホルダ４の保持面４ａに接着／保
持されている。コリメータレンズ３は鏡胴５の保持面５
ａに接着／保持されている。ホルダ４と鏡胴５とはホル
ダ６に嵌め込まれており、ホルダ４，６はビス７で接合
面４ｂ，６ａを密着させた状態で固定され、鏡胴５はホ
ルダ６の先端に接着／固定されている。また、ホルダ６
の外周面にはニクロム線からなるヒータ８が巻回されて
いる。この光源ユニット１は、被走査面に対して接合面
４ｂを基準として取り付けられている。
【００１１】レーザダイオード２は図示しない駆動回路
に入力された印字データに基づいて変調（オン、オフ）
制御され、オン時にレーザビームを放射する。このレー
ザビームはコリメータレンズ３で略平行に収束されると
共に、以下に詳述するように合焦調整され、シリンドリ
カルレンズ１１から平面ミラー１２を介してポリゴンミ
ラー１３に到達する。
に入力された印字データに基づいて変調（オン、オフ）
制御され、オン時にレーザビームを放射する。このレー
ザビームはコリメータレンズ３で略平行に収束されると
共に、以下に詳述するように合焦調整され、シリンドリ
カルレンズ１１から平面ミラー１２を介してポリゴンミ
ラー１３に到達する。
【００１２】ポリゴンミラー１３は回転軸１３ａを中心
として矢印ａ方向に一定速度で回転駆動される。レーザ
ビームはポリゴンミラー１３の回転に基づいて各偏向面
で等角速度に偏向され、レンズ１４ａに入射する。レン
ズ１４ａ，１４ｂを透過したレーザビームはミラー１４
ｃで反射された後、感光体ドラム４０上に集光され、感
光体ドラム４０上を矢印ｂ方向に走査する。レンズ１４
ａ，１４ｂは主に前記ポリゴンミラー１３で等角速度に
偏向されたレーザビームを被走査面（感光体ドラム４
０）上での主走査速度を等速に補正、即ち、歪曲収差を
補正する機能を有している。
として矢印ａ方向に一定速度で回転駆動される。レーザ
ビームはポリゴンミラー１３の回転に基づいて各偏向面
で等角速度に偏向され、レンズ１４ａに入射する。レン
ズ１４ａ，１４ｂを透過したレーザビームはミラー１４
ｃで反射された後、感光体ドラム４０上に集光され、感
光体ドラム４０上を矢印ｂ方向に走査する。レンズ１４
ａ，１４ｂは主に前記ポリゴンミラー１３で等角速度に
偏向されたレーザビームを被走査面（感光体ドラム４
０）上での主走査速度を等速に補正、即ち、歪曲収差を
補正する機能を有している。
【００１３】感光体ドラム４０は矢印ｃ方向に一定速度
で回転駆動され、ポリゴンミラー１３による矢印ｂ方向
への主走査とドラム４０の矢印ｃ方向への副走査によっ
てドラム４０上に画像（静電潜像）が形成される。
で回転駆動され、ポリゴンミラー１３による矢印ｂ方向
への主走査とドラム４０の矢印ｃ方向への副走査によっ
てドラム４０上に画像（静電潜像）が形成される。
【００１４】（ビーム検出器とビーム集光状態の検出）
ビーム検出器１６は、平面ミラー１５で反射されたレー
ザビームを被走査面と光学的に等価位置で受光するよう
に設置され、レーザビームの集光状態を検出する。詳し
くは、図３、図４に示すように、それぞれ格子の傾きの
異なる空間格子Ａ，Ｂ，Ｃを有する格子フィルタ１７
と、光電変換素子１８とで構成されている。レーザビー
ムＬの主走査方向ｂに対して、空間格子Ａは左方に傾
き、空間格子Ｂは直交し、空間格子Ｃは右方に傾いてい
る。光電変換素子１８は空間格子Ａ，Ｂ，Ｃを透過した
レーザビームＬを全て受光する受光面を有し、受光光量
に比例した電流を出力する。
ビーム検出器１６は、平面ミラー１５で反射されたレー
ザビームを被走査面と光学的に等価位置で受光するよう
に設置され、レーザビームの集光状態を検出する。詳し
くは、図３、図４に示すように、それぞれ格子の傾きの
異なる空間格子Ａ，Ｂ，Ｃを有する格子フィルタ１７
と、光電変換素子１８とで構成されている。レーザビー
ムＬの主走査方向ｂに対して、空間格子Ａは左方に傾
き、空間格子Ｂは直交し、空間格子Ｃは右方に傾いてい
る。光電変換素子１８は空間格子Ａ，Ｂ，Ｃを透過した
レーザビームＬを全て受光する受光面を有し、受光光量
に比例した電流を出力する。
【００１５】ところで、図５に示すように、被走査面上
で焦点が合っているビームスポットＬｂは、その長手方
向が主走査方向ｂに対して直交し、前ピント状態のビー
ムスポットＬａは左方に傾き、後ピント状態のビームス
ポットＬｃは右方に傾いている。このような状態は、レ
ーザダイオード２の接合面とシリンドリカルレンズ１１
の母線とを副走査方向に対して所定量傾けて配置するこ
とにより実現できる。レーザビームはこの三種いずれか
の状態（Ｌａ，Ｌｂ，Ｌｃ）で空間格子Ａ，Ｂ，Ｃを透
過し、透過ビームは全て光電変換素子１８で電気信号に
変換される。
で焦点が合っているビームスポットＬｂは、その長手方
向が主走査方向ｂに対して直交し、前ピント状態のビー
ムスポットＬａは左方に傾き、後ピント状態のビームス
ポットＬｃは右方に傾いている。このような状態は、レ
ーザダイオード２の接合面とシリンドリカルレンズ１１
の母線とを副走査方向に対して所定量傾けて配置するこ
とにより実現できる。レーザビームはこの三種いずれか
の状態（Ｌａ，Ｌｂ，Ｌｃ）で空間格子Ａ，Ｂ，Ｃを透
過し、透過ビームは全て光電変換素子１８で電気信号に
変換される。
【００１６】ビームスポットＬａ，Ｌｂ，Ｌｃそれぞれ
の透過状態は図６に示すとおりであり、ビームスポット
Ｌａ，Ｌｂ，Ｌｃの幅と空間格子Ａ，Ｂ，Ｃの格子幅と
は略等しく、合焦状態のビームスポットＬｂは略完全に
空間格子Ａ，Ｂ，Ｃを透過するが、焦点がずれている
（傾いている）ビームスポットＬａ，Ｌｃは部分的に透
過する。
の透過状態は図６に示すとおりであり、ビームスポット
Ｌａ，Ｌｂ，Ｌｃの幅と空間格子Ａ，Ｂ，Ｃの格子幅と
は略等しく、合焦状態のビームスポットＬｂは略完全に
空間格子Ａ，Ｂ，Ｃを透過するが、焦点がずれている
（傾いている）ビームスポットＬａ，Ｌｃは部分的に透
過する。
【００１７】それぞれのビームスポットＬａ，Ｌｂ，Ｌ
ｃが空間格子Ａ，Ｂ，Ｃを透過したとき、光電変換素子
１８の出力波形は図７、図８、図９に示すとおりであ
る。図７は前ピント状態のときの出力波形を示し、図８
は合焦状態のときの出力波形を示し、図９は後ピント状
態のときの出力波形を示す。光電変化素子１８の出力は
図１に示すＣＰＵ３０に転送される。ＣＰＵ３０では転
送された出力波形に基づいてレーザビームの集光状態を
判別し、以下に説明するフォーカシング処理を実行す
る。
ｃが空間格子Ａ，Ｂ，Ｃを透過したとき、光電変換素子
１８の出力波形は図７、図８、図９に示すとおりであ
る。図７は前ピント状態のときの出力波形を示し、図８
は合焦状態のときの出力波形を示し、図９は後ピント状
態のときの出力波形を示す。光電変化素子１８の出力は
図１に示すＣＰＵ３０に転送される。ＣＰＵ３０では転
送された出力波形に基づいてレーザビームの集光状態を
判別し、以下に説明するフォーカシング処理を実行す
る。
【００１８】（フォーカシング）本実施例において、フ
ォーカシングはホルダ４，６と鏡胴５の温度変化による
伸縮に基づいてコリメータレンズ３を光軸上で移動させ
ることによって行う。即ち、ホルダ４，６及び鏡胴５は
線膨張係数が２．０×１０-4のポリカーボネイトからな
り、温度変化によるコリメータレンズ３の移動量ΔＤ
は、以下の式によって表される。
ォーカシングはホルダ４，６と鏡胴５の温度変化による
伸縮に基づいてコリメータレンズ３を光軸上で移動させ
ることによって行う。即ち、ホルダ４，６及び鏡胴５は
線膨張係数が２．０×１０-4のポリカーボネイトからな
り、温度変化によるコリメータレンズ３の移動量ΔＤ
は、以下の式によって表される。
【００１９】 ΔＤ＝（Ｌ1×α1−Ｌ2×α2−Ｌ3×α3）×Δｔ 但し、Ｌ1，Ｌ2，Ｌ3：図２に示すそれぞれの距離 α1：ホルダ６の光軸方向の線膨張係数 α2：鏡胴５の光軸方向の線膨張係数 α3：ホルダ４の光軸方向の線膨張係数 Δｔ：温度変化量
【００２０】従って、ホルダ６の外周面に巻き付けたヒ
ータ８の電源３１をオン、オフ制御することによって光
源ユニット１を常温よりも高い所定の温度ｔ0に維持
し、この所定温度ｔ0で感光体ドラム４０上に正しく焦
点を結ぶように設定しておく。光源ユニット１の近傍に
は温度センサ３２を設け、センサ３２による検出温度ｔ
をＣＰＵ３０に入力し、ＣＰＵ３０は入力された検出温
度ｔに基づいて電源３１を制御する。
ータ８の電源３１をオン、オフ制御することによって光
源ユニット１を常温よりも高い所定の温度ｔ0に維持
し、この所定温度ｔ0で感光体ドラム４０上に正しく焦
点を結ぶように設定しておく。光源ユニット１の近傍に
は温度センサ３２を設け、センサ３２による検出温度ｔ
をＣＰＵ３０に入力し、ＣＰＵ３０は入力された検出温
度ｔに基づいて電源３１を制御する。
【００２１】一方、環境条件や使用条件の変化によって
焦点がずれると、そのずれはビーム検出器１６によって
前述の手法で検出される。例えば、前ピント状態である
と検出されると、電源３１をオフし、光源ユニット１の
温度を若干低下させる。これにて、ホルダ４，６及び鏡
胴５が収縮し、コリメータレンズ３がレーザダイオード
２に近付く方向に移動し、感光体ドラム４０上での焦点
位置が調整される。また、ビーム検出器１６によって後
ピント状態であると検出されると、電源３１をオンし、
光源ユニット１の温度を若干高める。これにてホルダ
４，６及び鏡胴５が膨張し、コリメータレンズ３がレー
ザダイオード２から離れる方向に移動し、感光体ドラム
４０上での焦点位置が調整される。
焦点がずれると、そのずれはビーム検出器１６によって
前述の手法で検出される。例えば、前ピント状態である
と検出されると、電源３１をオフし、光源ユニット１の
温度を若干低下させる。これにて、ホルダ４，６及び鏡
胴５が収縮し、コリメータレンズ３がレーザダイオード
２に近付く方向に移動し、感光体ドラム４０上での焦点
位置が調整される。また、ビーム検出器１６によって後
ピント状態であると検出されると、電源３１をオンし、
光源ユニット１の温度を若干高める。これにてホルダ
４，６及び鏡胴５が膨張し、コリメータレンズ３がレー
ザダイオード２から離れる方向に移動し、感光体ドラム
４０上での焦点位置が調整される。
【００２２】図２において、コリメータレンズ３の移動
に実質的に関与するホルダ６の長さは、Ｌ1−Ｌ2−Ｌ3
とみなすことができ、その長さは実際上５ｍｍ程度であ
る。従って、単位温度（１℃）当りの移動量は１．０×
１０-3ｍｍであり、非常に細かなフォーカシングが可能
となる。
に実質的に関与するホルダ６の長さは、Ｌ1−Ｌ2−Ｌ3
とみなすことができ、その長さは実際上５ｍｍ程度であ
る。従って、単位温度（１℃）当りの移動量は１．０×
１０-3ｍｍであり、非常に細かなフォーカシングが可能
となる。
【００２３】（制御手順）次に、ＣＰＵ３０によるフォ
ーカシング手順について図１０のフローチャートを参照
して説明する。まず、ステップＳ１でレーザビームが合
焦状態か否かを判定する。検出器１６の出力波形が図８
の状態であれば合焦である。合焦であればステップＳ２
で温度センサ３２による検出温度ｔと制御の目標である
所定温度ｔ0とを比較する。ｔ＝ｔ0であれば、このサブ
ルーチンを終了する。ｔ＝ｔ0でなければ、ステップＳ
３で再度ｔとｔ0を比較し、ｔ＞ｔ0であればステップＳ
５でヒータ８をオフする。ｔ＜ｔ0であればステップＳ
６でヒータ８をオンする。
ーカシング手順について図１０のフローチャートを参照
して説明する。まず、ステップＳ１でレーザビームが合
焦状態か否かを判定する。検出器１６の出力波形が図８
の状態であれば合焦である。合焦であればステップＳ２
で温度センサ３２による検出温度ｔと制御の目標である
所定温度ｔ0とを比較する。ｔ＝ｔ0であれば、このサブ
ルーチンを終了する。ｔ＝ｔ0でなければ、ステップＳ
３で再度ｔとｔ0を比較し、ｔ＞ｔ0であればステップＳ
５でヒータ８をオフする。ｔ＜ｔ0であればステップＳ
６でヒータ８をオンする。
【００２４】一方、前記ステップＳ１で合焦でないと判
定すると、ステップＳ４で前ピント状態か否かを判定す
る。前ピントであれば（図７参照）、ステップＳ５でヒ
ータ８をオフする。また、ステップＳ４で前ピント状態
でなければ、このときは後ピント状態であるため、ステ
ップＳ６でヒータ８をオンする。
定すると、ステップＳ４で前ピント状態か否かを判定す
る。前ピントであれば（図７参照）、ステップＳ５でヒ
ータ８をオフする。また、ステップＳ４で前ピント状態
でなければ、このときは後ピント状態であるため、ステ
ップＳ６でヒータ８をオンする。
【００２５】以上のフォーカシングは、印字開始前、連
続ページ印字中のページ間非印字中に実行されるが、印
字中に実行してもよい。本実施例では樹脂材料の熱膨張
特性を利用しているため、高精度でフォーカシングが可
能であり、しかも、フォーカシング動作がゆるやかであ
り、印字中に実行しても画質の劣化を招来することがな
い。また、本実施例では、ホルダ４，６及び鏡胴５は接
着剤等でガタつくことなく結合されているために衝撃や
振動に強く、モータやねじ送り機構といった駆動手段を
別途設ける必要がなく、装置をコンパクトに構成でき
る。
続ページ印字中のページ間非印字中に実行されるが、印
字中に実行してもよい。本実施例では樹脂材料の熱膨張
特性を利用しているため、高精度でフォーカシングが可
能であり、しかも、フォーカシング動作がゆるやかであ
り、印字中に実行しても画質の劣化を招来することがな
い。また、本実施例では、ホルダ４，６及び鏡胴５は接
着剤等でガタつくことなく結合されているために衝撃や
振動に強く、モータやねじ送り機構といった駆動手段を
別途設ける必要がなく、装置をコンパクトに構成でき
る。
【００２６】（他の実施例）なお、本発明に係るレーザ
ビーム走査光学装置は前記実施例に限定するものではな
く、その要旨の範囲内で種々に変更可能である。例え
ば、フォーカシングを行うのにコリメータレンズを移動
させるのではなく、専用のフォーカシングレンズを移動
させるようにしてもよい。また、加熱手段として前記ヒ
ータ８以外に帯状のヒータであってもよい。さらに、ホ
ルダ４，６及び鏡胴５の構成は任意であり、光学素子の
種類や配置も任意である。
ビーム走査光学装置は前記実施例に限定するものではな
く、その要旨の範囲内で種々に変更可能である。例え
ば、フォーカシングを行うのにコリメータレンズを移動
させるのではなく、専用のフォーカシングレンズを移動
させるようにしてもよい。また、加熱手段として前記ヒ
ータ８以外に帯状のヒータであってもよい。さらに、ホ
ルダ４，６及び鏡胴５の構成は任意であり、光学素子の
種類や配置も任意である。
【００２７】
【発明の効果】以上の説明で明らかなように、本発明に
よれば、集光素子を保持する保持部材の温度変化に応じ
た伸縮特性を利用して集光素子を光軸上で移動させ、フ
ォーカシングを行うようにしたため、高精度でのフォー
カシングが可能であり、別途駆動手段を必要とすること
なくコンパクトに構成でき、衝撃や振動に対してもガタ
つくおそれのないレーザビーム走査光学装置を得ること
ができる。
よれば、集光素子を保持する保持部材の温度変化に応じ
た伸縮特性を利用して集光素子を光軸上で移動させ、フ
ォーカシングを行うようにしたため、高精度でのフォー
カシングが可能であり、別途駆動手段を必要とすること
なくコンパクトに構成でき、衝撃や振動に対してもガタ
つくおそれのないレーザビーム走査光学装置を得ること
ができる。
【図１】本発明の一実施例であるレーザビーム走査光学
装置を示す斜視図。
装置を示す斜視図。
【図２】図１に示されている光源ユニットの断面図。
【図３】図１に示されているビーム検出器の分解斜視
図。
図。
【図４】図３に示されている格子フィルタの平面図。
【図５】被走査面上でのビームスポットを示す説明図。
【図６】ビームスポットと空間格子との関係を示す説明
図。
図。
【図７】ビーム検出器の出力波形を示すグラフ、前ピン
ト状態を示す。
ト状態を示す。
【図８】ビーム検出器の出力波形を示すグラフ、合焦状
態を示す。
態を示す。
【図９】ビーム検出器の出力波形を示すグラフ、後ピン
ト状態を示す。
ト状態を示す。
【図１０】フォーカシングの制御手順を示すフローチャ
ート図。
ート図。
１…光源ユニット ２…レーザダイオード ３…コリメータレンズ ４…ホルダ ５…鏡胴 ６…ホルダ ８…ヒータ １３…ポリゴンミラー １６…ビーム検出器 ３０…ＣＰＵ ４０…感光体ドラム
Claims (1)
- 【請求項１】 レーザ光源から放射されたレーザビーム
を、集光素子、偏向器、走査光学素子を介して微小な点
に集光すると共に、被走査面上を略等速度でライン状に
走査するレーザビーム走査光学装置において、 被走査面と光学的に等価位置に設置され、レーザビーム
の集光状態を検出する検出手段と、 温度変化に応じて伸縮することにより集光素子を光軸方
向に移動させる集光素子保持部材と、 前記集光素子保持部材を加熱する加熱手段と、 前記検出手段の検出結果に基づいて前記加熱手段を制御
する合焦制御手段と、 を備えたことを特徴とするレーザビーム走査光学装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2356395A JPH08216450A (ja) | 1995-02-13 | 1995-02-13 | レーザビーム走査光学装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2356395A JPH08216450A (ja) | 1995-02-13 | 1995-02-13 | レーザビーム走査光学装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08216450A true JPH08216450A (ja) | 1996-08-27 |
Family
ID=12113999
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2356395A Pending JPH08216450A (ja) | 1995-02-13 | 1995-02-13 | レーザビーム走査光学装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH08216450A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7247841B2 (en) | 2004-10-07 | 2007-07-24 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Light scanning apparatus |
-
1995
- 1995-02-13 JP JP2356395A patent/JPH08216450A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7247841B2 (en) | 2004-10-07 | 2007-07-24 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Light scanning apparatus |
| US7348549B2 (en) | 2004-10-07 | 2008-03-25 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Light scanning apparatus |
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