JPH08197417A - ポリッシングの終点検知方法 - Google Patents
ポリッシングの終点検知方法Info
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- JPH08197417A JPH08197417A JP2481295A JP2481295A JPH08197417A JP H08197417 A JPH08197417 A JP H08197417A JP 2481295 A JP2481295 A JP 2481295A JP 2481295 A JP2481295 A JP 2481295A JP H08197417 A JPH08197417 A JP H08197417A
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- B24B—MACHINES, DEVICES, OR PROCESSES FOR GRINDING OR POLISHING; DRESSING OR CONDITIONING OF ABRADING SURFACES; FEEDING OF GRINDING, POLISHING, OR LAPPING AGENTS
- B24B37/00—Lapping machines or devices; Accessories
- B24B37/005—Control means for lapping machines or devices
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-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
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- B24B—MACHINES, DEVICES, OR PROCESSES FOR GRINDING OR POLISHING; DRESSING OR CONDITIONING OF ABRADING SURFACES; FEEDING OF GRINDING, POLISHING, OR LAPPING AGENTS
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- B24B49/16—Measuring or gauging equipment for controlling the feed movement of the grinding tool or work; Arrangements of indicating or measuring equipment, e.g. for indicating the start of the grinding operation taking regard of the load
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Finish Polishing, Edge Sharpening, And Grinding By Specific Grinding Devices (AREA)
- Mechanical Treatment Of Semiconductor (AREA)
Abstract
せることによって困難となるポリッシングの終点の検知
を可能にする一方法を提供する。 【構成】 回転するターンテーブル12上面に貼設した
研磨布11上にポリッシング対象物14を保持したトッ
プリング13を押圧するとともに、該トップリングをタ
ーンテーブル上を往復運動させてポリッシング対象物を
平坦且つ鏡面に研磨するポリッシングの研磨終点を検知
する方法において、前記往復運動するトップリング13
のターンテーブル12回転中心からの距離が同一である
位置におけるターンテーブルに働くトルクを断続的に検
出し、前記ポリッシング対象物14の研磨が異材質に達
したときに生じる研磨摩擦力の変化を検知することを特
徴とする。
Description
磨)に係わり、特に半導体ウエハ等のポリッシング対象
物を平坦かつ鏡面状に研磨するポリッシングの終点検知
方法に関する。
につれて回路の配線が微細化し、配線間距離もより狭く
なりつつある。特に0.5μm以下の光リソグラフィの
場合、焦点深度が浅くなるためステッパーの結像面の平
坦度を必要とする。そこで、半導体ウエハの表面を平坦
化することが必要となるが、この平坦化法の一手段とし
てポリッシング装置により研磨(ポリッシング)するこ
とが行われている。
独立した回転数で回転する、上面にクロス(研磨布)を
貼り付けたターンテーブルと、トップリングとを有し、
トップリングが所定の圧力をターンテーブルに与え、タ
ーンテーブルとトップリングとの間にポリッシング対象
物を介在させて該ポリッシング対象物の表面を平坦且つ
鏡面に研磨している。
の終点検出手段の1つとして、研磨が異材質の物質へ移
行した際の研磨摩擦力の変化を検知する方法が、例えば
USP5036015号公報等により知られている。詳しくは、ポ
リッシング対象物である半導体ウエハは、半導体、導
体、絶縁体の異なる材質からなる積層構造を有してお
り、異材質間で摩擦係数が異なるため、研磨が異材質へ
移行することによって生じる研磨摩擦力の変化を検知す
る方法である。この方法によれば、研磨が異材質に達し
た時がポリッシングの終点となる。
出される。研磨摩擦力はターンテーブル回転中心から偏
心した位置に作用するため、回転するターンテーブルに
は負荷トルクとして作用する。このため、研磨摩擦力は
ターンテーブルに働くトルクとして検出することができ
る。ターンテーブルを回転駆動させる手段が電動モータ
の場合には、トルクはモータに流れる電流として測定す
ることができるため、電流を電流計でモニタし、適当な
信号処理を施すことによってポリッシングの終点が検知
される。
シング性能や生産性向上等の観点から、研磨中にトップ
リングはウエハを保持して回転運動とは別に、研磨布上
で往復運動を行う場合がある。これは研磨布を広範囲で
使用することにより研磨布の局部的な摩耗を防止し、研
磨布の寿命を長くする目的と同時に、研磨布の使用頻度
が局部的に多くなることに伴うウエハ平坦度の劣化を防
止する目的を有する。
たトップリングの往復運動は、ポリッシング終点の検知
に問題を生じさせる。それは、研磨摩擦力が作用するタ
ーンテーブル上の位置が変動するため、ターンテーブル
に働くトルクが摩擦力の作用する位置の変動に伴って変
動してしまうことである。つまり、ターンテーブル中心
から研磨摩擦力が作用する距離と摩擦力の積がトルクで
あるから、距離が変動すると、トルクを検出しても摩擦
力が一意に決定されないのである。
ので、ポリッシング中にトップリングに往復運動させる
ことによって困難となるポリッシングの終点の検知を可
能にする一方法を提供することを目的とする。
終点検知方法は、回転するターンテーブル上面に貼設し
た研磨布上にポリッシング対象物を保持したトップリン
グを押圧するとともに、トップリングをターンテーブル
上を往復運動させてポリッシング対象物を平坦且つ鏡面
に研磨するポリッシングの研磨終点を検知する方法にお
いて、前記往復運動するトップリングのターンテーブル
回転中心からの距離が同一である位置におけるターンテ
ーブルに働くトルクを断続的に検出し、ポリッシング対
象物の研磨が異材質に達したときに生じる研磨摩擦力の
変化を検知することを特徴とする。
ーンテーブル回転中心からの距離が同一である位置を複
数箇所に設定したことを特徴とする。
ーンテーブル回転中心からの距離が同一である位置にお
けるターンテーブルに働くトルクを、トップリングの移
動方向がターンテーブルの回転方向に対して順方向と逆
方向とに分けて、前記トルクを検出することを特徴とす
る。
検出時に所定時間停止させて行うことを特徴とする。
テーブル駆動モータの電流をトップリングの往復運動中
のターンテーブル中心からの距離が同一である点で断続
的に検出するため、ターンテーブル上のトップリング位
置の変動に伴うトルクの変動、ひいてはターンテーブル
駆動モータの電流値の変動を無視することができる。
る位置を複数ケ所設定することにより、終点検知の機会
が増すため、早期に終点を検知することができる。ま
た、ある箇所での検知に失敗しても他の箇所で検知する
ことができるため、終点決定の信頼性が向上する。
復運動がターンテーブル回転方向に対し順方向と逆方向
とに分けて検出することにより、往復運動の方向に伴う
トルクの変動を無視して終点検知を行うことができる。
出時に所定時間停止させるため、トップリングの往復運
動の方向によるターンテーブルに働く研磨摩擦力の方向
を考慮せずにポリッシングの終点検知が可能となる。
施例を図1乃至図9に基づいて説明する。図1は本発明
のポリッシング装置の全体構成を示す図、図2はターン
テーブルの上面図、図3はポリッシング時間中に検出し
たターンテーブルに流れる電流値を示すグラフである。
尚、各図中同一符号は同一又は相当部分を示す。
設したターンテーブル12、半導体ウエハ14を保持し
クロスに当接して回転するトップリング13、トップリ
ングをターンテーブル上で往復運動させる揺動機構1
5、ターンテーブル駆動モータ16の電流を検出し信号
処理する装置17からなる。
ポリッシング動作を説明する。上面にクロス11を張り
付けたターンテーブル12は駆動モータ16によってベ
ルトを介して回転される。ポリッシング対象物である半
導体ウエハ14を保持したトップリング13は半導体ウ
エハ14をクロス11に押圧するとともに、ターンテー
ブル回転軸とは偏心した軸回りに回転する。上記動作に
合わせてクロス上面に研磨砥液が供給され、半導体ウエ
ハ14を研磨する。
に研磨布上を揺動機構15により往復運動するようにな
っている。この往復運動は研磨布を広範囲で使用するこ
とにより研磨布の局部的な摩耗を防止し、研磨布の寿命
を長くする目的と同時に、研磨布の使用頻度が局部的に
多くなることに伴うウエハ平坦度の劣化を防止する目的
を有する。さらに、ポリッシング装置にはターンテーブ
ル駆動モータ16の電流およびトップリング13の位置
信号を検出し、ポリッシングの終点を決定する信号処理
装置17を有する。
説明する。図2において、トップリング13に保持され
たウエハ14は揺動機構15により、円(1)の位置か
ら円(2)、円(3)へ移動し、再び円(2)、円
(1)・・・へ等速で移動する。移動方向はターンテー
ブル12の半径方向である。このような往復運動中のト
ップリング中心がターンテーブル中心から同一の距離に
ある位置で、ターンテーブル駆動モータの電流を検出す
る。図2において、円(1)で示すトップリング中心は
ターンテーブル中心からの距離がr1 の位置にあり、往
復運動中にこの位置にあるときのみモータ16の電流値
を検出する。したがって、検出した電流値は断続的なも
のとなる。断続的に検出した電流値を時系列的に表現し
たグラフを図3に示す。
エハの拡大断面図である。半導体ウエハ14は、シリコ
ン基板20上に金属配線21を設け、その上に二酸化シ
リコンからなる絶縁膜22を形成したウエハを想定して
いる。符号23は研磨面を示している。図4(a)は研
磨前、図4(b)は研磨が金属配線21に達したときの
半導体ウエハを示す。最上層の絶縁膜22を研磨してい
くと、研磨は金属配線21の領域に達するため、これら
の材料の差異による研磨係数の違いが研磨摩擦力の変化
を生じさせる。
す。モータ電流S1 は電流計によって電圧値信号S2 に
変換される。検出された信号S1 は一般的に雑音を含
み、その雑音の周波数は高周波域にあるため、これをフ
ィルタリングし雑音が除去された信号S3 となる。した
がって、ここでのフィルタは低域通過特性を有するもの
である。次に、トップリングの往復機構中に備えた位置
信号発生装置が往復運動中の所定位置で位置信号S4 を
発生し、この信号と同期して連続的に信号処理されてい
る電流値信号S3 を取り込む。したがって、S3 までは
連続信号であるがS5 は断続的な信号となる。トップリ
ングの往復運動中に位置信号S4 を発生することはリミ
ットスイッチを用いて簡単に行うことができる。ここで
発生した信号S4 はサンプリング時刻の決定に用いると
同時に、サンプリングした電流値信号がトップリングが
どの位置にあるときのものかを対応させるため、次の終
点判断のステップにも送られる。
示す流れ図であり、図5における終点判断のステップに
対応する。まず、信号処置装置17の初期設定におい
て、すべての変数を初期化する。次に、トップリングが
往復運動中に所定位置に来たときのターンテーブル駆動
モータの電流を検出して信号S5 を信号処理装置に取り
込む。なお、nは断続的に検出した電流値信号の検出順
を表す自然数である。この検出した電流値信号S5 を過
去に検出した電流値の平均値と比較し、その変化を検知
するため、第3ステップにおいてデータの数が所定数n
0 までの平均値を計算する。次の第4ステップにおい
て、過去の信号S5 の平均値と現在の電流値信号S5 と
の差の絶対値を計算し、所定以上の差を生じた場合に研
磨終点と判定する。
点が検知された場合、ポリッシング装置全体を制御する
制御装置に研磨終点である信号を送る。これによりポリ
ッシング装置の制御装置(図示せず)はターンテーブル
及びトップリングの回転を停止する等の処理を行う。
7に基づいて説明する。図7はトップリングの位置がタ
ーンテーブル中心からの距離が同一である箇所を3箇所
設定し、それぞれの位置で検出した電流値を示すグラフ
である。
(2)、および円(3)の位置での電流をそれぞれ独立
に検出する。それぞれの位置での検出電流を図7に示
す。図2におけるウエハが円(1)で示す位置で電流を
検知し、次に円(2)、円(3)、円(2)、円(1)
…の順でモータ16の電流を検知する。各位置r1 ,r
2 ,r3 での電流値は図7に示すように独立に扱われ
る。図7において、、…は検出順を表す。独立し
て扱うのは各検出位置での摩擦力が作用する位置のター
ンテーブル中心からの距離が異なるため、距離の変動に
よる影響を排除するためである。ここで、トップリング
は円(2)で示される位置r2 を往復運動の1サイクル
中に2回通過するため、円(1)および円(3)で示す
位置r1 ,r3 より1サイクル中に検出する回数が多
い。また、各位置での検出時刻は図示するように異な
る。このように検出された電流値から、各位置r1 ,r
2 ,r3 での電流変化をそれぞれ独立に評価する。変化
を検出する方法は第一実施例と同様であり、図5及び図
6の流れに従がって過去の平均値と現在の電流値とを比
較する。
に基づいて説明する。図8および図9は、図1における
トップリング13が第一実施例と異なる往復運動を行う
ポリッシング装置のターンテーブルの上面図を示す図で
ある。ここで図8はトップリングが点Cを中心とした揺
動運動を行う場合であり、図9はターンテーブルの半径
方向に対して垂直方向に往復運動を行うものである。
置が第一実施例と異なるのは、往復運動の方向がターン
テーブルのトルクに影響する点である。トップリングが
このような半径方向以外の往復運動をする場合には、ト
ップリングの位置がターンテーブル中心から同一の距離
である位置であってもその位置を通過するトップリング
の方向によってターンテーブルに働くトルクが変動して
しまう。例えば図8において、円(3)の位置を時計回
りに通過するか反時計回りに通過するかによって、摩擦
力はターンテーブルに対して回転力を付与し、または回
転力に対して反力として作用する。したがって、トップ
リングの往復運動の方向を考慮しなければならない。
ル12の半径方向と直交するような往復運動をさせる場
合、テーブル中心からの距離が同一の位置であっても、
往復運動の方向によって検出した電流値信号を別々に扱
うようにする必要がある。すなわち、図8において、円
(2)乃至円(4)を通過する時に検出した信号は、ト
ップリングの揺動が時計回りと反時計回りの場合に分け
て扱う必要がある。トップリングの移動方向によって分
けて検出した電流値信号はそれぞれ独立に、第一実施例
と同様の図5及び図6に示す信号処理を施すことによっ
て研磨終点が検知される。
径方向と直交するような往復運動をさせる場合、各検出
位置で検出する時間だけトップリングの往復運動を停止
させることにより、往復運動の方向によるトルクの変動
を考慮せずに終点を検知することができる。この場合、
トップリングが停止している間の電流値信号は連続値と
して検出し、この連続値をトップリングの往復運動に従
って断続的に検出すればよい。
ングについて行ったが、本発明の趣旨は微細な加工を必
要とするポリッシング一般に適用できるものであること
は言う迄もない。
トップリングをターンテーブル上で往復運動させる形式
のポリッシング装置においても、半導体ウエハ等の各種
表面被膜のポリッシングの終点を確実に検出できる。
成を示す説明図。
を示す線図。
(A)は研磨前、(B)は研磨終了時を示す。
流値との関係を示す線図。
Claims (4)
- 【請求項1】 回転するターンテーブル上面に貼設した
研磨布上にポリッシング対象物を保持したトップリング
を押圧するとともに、該トップリングをターンテーブル
上を往復運動させてポリッシング対象物を平坦且つ鏡面
に研磨するポリッシングの研磨終点を検知する方法にお
いて、前記往復運動するトップリングのターンテーブル
回転中心からの距離が同一である位置におけるターンテ
ーブルに働くトルクを断続的に検出し、前記ポリッシン
グ対象物の研磨が異材質に達したときに生じる研磨摩擦
力の変化を検知することを特徴とするポリッシングの終
点検知方法。 - 【請求項2】 前記往復運動するトップリングのターン
テーブル回転中心からの距離が同一である位置を複数箇
所に設定したことを特徴とする請求項1記載のポリッシ
ングの終点検知方法。 - 【請求項3】 前記往復運動するトップリングのターン
テーブル回転中心からの距離が同一である位置における
ターンテーブルに働くトルクを、トップリングの移動方
向がターンテーブルの回転方向に対して順方向と逆方向
とに分けて、前記トルクを検出することを特徴とする請
求項1又は2記載のポリッシングの終点検知方法。 - 【請求項4】 前記トップリングの往復運動を電流検出
時に所定時間停止させて行うことを特徴とする請求項1
又は2記載のポリッシングの終点検知方法。
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