JPH0819245A - 半導体スタック - Google Patents

半導体スタック

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JPH0819245A
JPH0819245A JP14372794A JP14372794A JPH0819245A JP H0819245 A JPH0819245 A JP H0819245A JP 14372794 A JP14372794 A JP 14372794A JP 14372794 A JP14372794 A JP 14372794A JP H0819245 A JPH0819245 A JP H0819245A
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JP
Japan
Prior art keywords
conductor
terminal
terminals
capacitor
acb
Prior art date
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Pending
Application number
JP14372794A
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English (en)
Inventor
Haruo Ebiko
晴夫 蛯子
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Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 回路の配線インダクタンスをより小さく
し、各素子のスイッチング動作時のサージ電圧を更に抑
えることが可能な半導体スタックの提供。 【構成】 同一面上に正極端子、負極端子、交流端子を
導出した少くとも直列接続された1対のスイッチング素
子1a,2a及び正極端子、負極端子を導出したコンデ
ンサ15を有する半導体スタックにおいて、前記端子上
に配置される、それぞれ絶縁を保って積層された第1、
第2及び第3の導体板から成る一括積層導体8と、この
一括積層導体8を貫通して設けられる端子接続ボルト1
3,16を介して前記端子と前記導体板を電気的に接続
して構成した半導体スタック。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、正極側及び負極側の両
端子を同一面上に導出した少くとも一組の正極側のスイ
ッチング素子と負極側のスイッチング素子を直列に接続
し更に両スイッチング素子の両端子間に接続されるコン
デンサを備えた半導体スタックに関する。
【0002】
【従来の技術】最近、電力変換装置において、高速スイ
ッチング素子を使った高周波パルス幅変調(PWM)制
御方式が広く採用され、また装置の大容量化に大容量素
子を並列にして用いられている。さらに高周波PWM制
御方式では、高速スイッチング素子間のリアクタンスを
減らして、スイッチング時に発生するサージ電圧を抑え
るために、高速スイッチング素子は互いに接近し、コン
デンサとの距離が短くなるように取付けられている。
【0003】従来の半導体スタックについて、図6及び
図7により説明する。図6は三相又は単相ブリッジ回路
の任意の交流相の正側及び負側の2アームを示すもので
あって、直流端子9,10の間に、例えばそれぞれトラ
ンジスタから成る3個並列の半導体スイッチング素子1
a,1b,1c及び2a,2b,2cが直列に接続さ
れ、さらにコンデンサ15が、直流端子9,10の間に
接続されている回路を示している。素子1a〜1cは、
直流導体3Hと交流導体5Hとの間に並列に接続され、
素子2a〜2cは、交流導体5Hと直流導体4Hとの間
に並列に接続されている。交流導体5Hからは交流端子
11が導出されている。コンデンサ15と直流端子9,
10との間の接続は直流導体3a及び4aによって行わ
れている。
【0004】図7は図6に示した従来の半導体スタック
7の実装状態を示しており、図7(a)は、平面図、図
7(b)は側面図である。図7(a),図7(b)にお
いて素子1a〜1c及び2a〜2cは、ヒートシンク6
に6個配置されている。回路を実装した半導体スタック
の表面側即ちヒートシンク6の表面上に素子1aと2
a、素子1bと2b、素子1cと2cが順に配置されて
いる。素子1a,1b及び1cの正側端子cは、直流導
体3Hにそれぞれ接続され、直流導体3Hは直流端子9
で直流導体3aと接続されている。素子1a,1b及び
1cの負側端子Eと素子2a,2b及び2cの正側端子
cは、交流導体5Hによってそれぞれ接続され、交流導
体5Hの先端部が交流端子11を形成している。素子2
a,2b及び2cの負側端子Eは、直流導体4Hにそれ
ぞれ接続され、直流導体4Hは直流端子10で直流導体
4aと接続されている。直流導体3aと直流導体4aの
それぞれの他端は、コンデンサ15の正の端子と負の端
子にそれぞれ接続されている。図7(b)には、直流導
体4Hのみが示されている図7(a)の如く直流導体と
交流導体は帯状に形成されている。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかし、同図のような
交流導体と直流導体とを帯状にして分割して配置した構
成では、回路のインダクタンスを小さくし、各素子のス
イッチング動作時のサージ電圧を抑えるのには限界があ
る。
【0006】そこで本発明の目的は、回路のインダクタ
ンスをより小さくし、各素子のスイッチング動作時のサ
ージ電圧を更に抑えることが可能は半導体スタックを実
現することにある。
【0007】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するてめ
に、本発明の半導体スタックは、同一面上に正極端子、
負極端子、交流端子を導出した少くとも直列接続された
1対のスイッチング素子及び正極端子、負極端子を導出
したコンデンサを有する半導体スタックにおいて、前記
スイッチング素子とコンデンサの端子上に配置される板
状の絶縁物で挟まれ且つそれぞれの相互間にも板状の絶
縁物を挟んで積層構成された板状の第1、第2、第3の
導体から成る一括積層導体と、前記第1の導体は、前記
1対のスイッチング素子の正極端子と前記コンデンサの
正極端子に電気的に接続され、前記第2、第3の導体か
ら絶縁された状態で前記一括積層導体を貫通する第1の
接続手段を備え、前記第2の導体は、前記1対のスイッ
チング素子の交流端子と電気的に接続され、前記第1、
第3の導体から絶縁された状態で前記一括積層導体を貫
通する第2の接続手段を備え、前記第3の導体は、前記
1対のスイッチング素子の負極端子と前記コンデンサの
負極端子に電気的に接続され、前記第1、第2の導体か
ら絶縁された状態で前記一括積層導体を貫通する第3の
接続手段を備えたことを特徴とするものである。
【0008】
【作用】本発明の半導体スタックは、各スイッチング素
子を接続する導体の形状を板状とし導体と導体との間を
絶縁物を介して重ね合わせて一括積層導体とし、スイッ
チング素子とコンデンサ上に配置するものである。各導
体に備えられた接続手段は接続手段が備えられた導体と
その導体に対応するスイッチング素子とコンデンサの端
子との間を電気的に接続し、他の導体から絶縁された状
態で一括積層導体を貫通する。これにより各素子及び各
素子群とコンデンサ間を接続する上での配線インダクタ
ンスを小さくし、各素子のスイッチング動作時のサージ
電圧を抑えることができる。
【0009】
【実施例】以下、本発明の一実施例を図1乃至図5を参
照して説明する。図1(a)は、本発明による本実施例
を示す平面図で(b)はその側面図である。実装される
回路は、図6に示したものと同一であるものとする。
【0010】図1(a),(b)に示すように、素子1
a〜1c,2a〜2cはヒートシンク6の上に図7と同
様に配置されている。素子1a〜1c,2a〜2c及び
電解コンデンサ15の端子上に、一括積層導体8が各端
子を覆うように配置されている。
【0011】図2及び図3は、それぞれ一括積層導体8
の分解斜視図の一部で両者合わせて一括積層導体8を構
成する。図2及び図3に示す一括積層導体8は直流導体
3bと直流導体4bと交流導体5bと導体相互間及びそ
れらを挟む4枚の絶縁板とを重ね合せたものからなって
いて、素子1a〜1c,2a〜2c及び電解コンデンサ
15の各端子に接する側から、絶縁板23b,直流導体
4b,絶縁板22b,交流導体5b,絶縁板21b,直
流導体3b,絶縁板20bの順に積層される。
【0012】図4(a)は、一括積層導体8を表面側か
ら見た平面図で図4(b)は、その側面図である。図5
(a),(b),(c),(d),(e),(f)は、
それぞれ図4(a)の一括積層導体8の断面AーA′,
BーB′,CーC′,DーD′,EーE′,FーF′を
示している。
【0013】次に、一括積層導体8について説明する。
図2及び図3に示すように、絶縁板20bには穴I1
12及びI50〜I53が、絶縁板21bには穴I13〜I24
及びI54〜I57が、絶縁板22bには穴I25〜I36及び
58〜I61が、絶縁板23bには穴I37〜I48及びI62
〜I65が開けられている。これらの穴は直流導体3b,
4b及び交流導体5bと素子1a〜1c及び電解コンデ
ンサ15の各端子とを接続する後述の導体カラーを貫通
させるためのものである。又、絶縁板20bには穴IA
〜ID が、絶縁板21bには穴IE 〜IH が、絶縁板2
2bには穴II〜IL が、絶縁板23bには穴IM 〜IP
が開けられている。これらの穴は、一括積層導体8全
体を固定する固定用絶縁ボルト14のためのものであ
る。(図4(a)と図5(b)参照) 図2において直流導体3bには導体カラーPB1 〜PB
10が取付けられている。導体カラーPB1 及びPB4
PB2 及びPB5 ,PB3 及びPB6 ,PB7及びPB9
,PB8 及びPB10はそれぞれ一体化され、その中心
に端子接続ボルト13,16を通すための空洞を備え
る。尚、後述する導体カラーも、端子接続ボルト13,
16を通すための空洞を備えている。
【0014】図5(c)に示すように、導体カラーPB
1 とPB4 とを貫通する図示していない端子接続ボルト
13を素子1cの正極側の端子cに設けられているネジ
穴に差込んで締付けることにより直流導体3bと素子1
c正極側端子cとは電気的に接続される。同様に導体カ
ラーPB2 とPB5 とを貫通する端子接続ボルト13に
よって素子1bの正極側の端子cが直流導体3bに電気
的に接続され、導体カラーPB3 及びPB6 を貫通する
端子接続ボルト13よって素子1aの正極側の端子cが
直流導体3bに電気的に接続され導体カラーPB8 及び
PB10,PB7及びPB9 を貫通する端子接続ボルト1
6によって電解コンデンサ15の正極側端子が直流導体
3bに電気的に接続される。又、直流導体3bには、穴
5 〜P7 及びP1 ,P3 が開けられている。これらの
穴は、それぞれ後述する導体カラーACB1 〜ACB3
と導体カラーNB7 ,NB8 とを貫通させるためのもの
であり、これらの導体カラーが直流導体3bから絶縁さ
れるように両者が接触しない大きさで設けられている。
更に直流導体3bには固定用絶縁ボルト14用の穴P
2 ,P4 が開けられている。
【0015】図3において、直流導体4bには導体カラ
ーNB1 〜NB10が取付けられている。導体カラーNB
1 及びNB4 ,NB2 及びNB5 ,NB3 及びNB6
NB7 及びNB9 ,NB8 及びNB10,はそれぞれ一体
化されてる。
【0016】図5(f)に示すように、導体カラーNB
1 及びNB4 を貫通する図示していない端子接続ボルト
13によって、前述のように素子2cの負極側の端子E
が直流導体4bに電気的に接続される。同様に、導体カ
ラーNB2 及びNB5 を貫通する端子接続ボルト13に
よって、素子2bの負極側の端子Eが直流導体4bに電
気的に接続され、導体カラーNB3 及びNB6 を貫通す
る端子接続ボルト13によって、素子2aの負極側の端
子Eが直流導体4bに電気的に接続され、導体カラーP
7 及びPB9 ,PB8 及びPB10を貫通する端子接続
ボルト16によって電解コンデンサ15の負極側端子が
直流導体4bに電気的に接続される。又、直流導体4b
には、穴N5 〜N7 及びN2 ,N4 が開けられている。
これらの穴は、それぞれ後述する導体カラーACB10
ACB12と導体カラーACB4 〜ACB6 と前述した導
体カラーPB4 〜PB6 及びPB9 ,PB10とを貫通さ
せるためのものであり、これらの導体カラーが直流導体
4bから絶縁されるように、両者が接触しない大きさで
設けられている。更に、直流導体4bには固定用絶縁ボ
ルト14用の穴N1 ,N3 が開けられている。
【0017】図2において、交流導体5bには導体カラ
ーACB1 〜ACB6 とACB7 〜ACB12が取付けら
れている。導体カラーACB1 及びACB4 ,ACB2
及びびACB5 ,ACB3 及びACB6 ,ACB7 及び
びACB10,ACB8 及びACB11,ACB9 及びAC
12は、それぞれ一体化されている。
【0018】図5(d),(e)に示すように、導体カ
ラーACB1 及びACB4 を貫通する図示していない端
子接続ボルト13によって、前述のように素子1cの負
極側の端子Eが交流導体5bに電気的に接続される。同
様に導体カラーACB2 及びACB5 を貫通する端子接
続ボルト13によって素子1bの負極側の端子Eが交流
導体5bに電気的に接続され、導体カラーACB3 及び
ACB6 を貫通する端子接続ボルト13によって素子1
aの負極側の端子Eが交流導体5bに電気的に接続され
る。同様に導体カラーACB7 及びACB10と導体カラ
ーACB8 及びACB11と導体カラーACB9 及びAC
12と、それぞれを貫通する端子接続ボルト13によっ
て、交流導体5bに素子2cの正極端子cと、素子2b
の正極端子cと素子2aの正極端子cが接続される。ま
た、交流導体5bには穴AC19〜AC21と穴AC22〜A
24とが開けられている。これらの穴は、それぞれ前述
した導体カラーNB1 〜NB3 と導体カラーPB4 〜P
6 とを貫通させるためのものであり、これらの導体カ
ラーが交流導体5bから絶縁されるように両者が接触し
ない大きさで設けられている。更に交流導体5bには固
定用絶縁ボルト14用の穴AC1 〜AC4 と交流端子用
穴11とが開けられている。
【0019】このように、スイッチング素子と電解コン
デンサに配置される各直流導体と交流導体と絶縁物とを
一体化した一括積層導体とすることによって、各素子の
端子と電解コンデンサとの間の渡りを2分割せずに、導
体間の接続距離を最短にすることができるため、配線の
インダクタンスを小さくし、スイッチング動作時のサー
ジ電圧を抑えることができる。更に、各導体を一括積層
導体として一体化しているため、接続導体のための作業
時間も短縮することができる。尚、実施例では板状にし
た直流導体3b、直流導体4b、交流導体5b及び複数
の絶縁物を重ね合せて一括積層導体を構成したが、独立
の絶縁物シ―トを用いることなく、各導体表面に絶縁物
をコ―テングした積層構成にしても良い。又、実施例で
は、正極側端子が1つずつあるスイッチング素子に対し
て使用し、従って合計4つの端子を外部に導出している
ものをとりあげたが、全体としての正極側端子及び負極
側端子の他に共通接続端子を導出した合計3つの端子が
付いている2イン1タイプのスイッチング素子について
も同様な一括積層導体を用いることができる。
【0020】又、実施例では、三相回路中の一相のみで
表現したが交流導体5bを2分割又は3分割することに
より単相回路及び三相回路を構成することが可能であり
本発明の効果が得られるものである。
【0021】
【発明の効果】以上説明のように、本発明によれば回路
の配線インダクタンスがより小さく各素子のスイッチン
グ動作時のサージ電圧を更に抑えることが可能な半導体
スタックを実現することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例を示す平面図及び側面図。
【図2】[図1]に示した実施例の一括積層導体の一部
を示す分解斜視図。
【図3】[図1]に示した実施例の一括積層導体の他の
一部を示す分解斜視図。
【図4】一括積層導体の平面図及び側面図。
【図5】[図4]に示した一括積層導体をそれぞれの断
面で見た断面図。
【図6】半導体スタックに組み込まれるスイッチング素
子とコンデンサの回路図。
【図7】従来の半導体スタックを示す平面図及び側面
図。
【符号の説明】
1a〜1c ……スイッチング素子 2a〜2c ……
スイッチング素子 3b ……直流導体 4b ……
直流導体 5b ……交流導体 6 ……
ヒートシンク 8 ……一括積層導体 9,10 ……
直流端子 11 ……交流端子 12 ……
絶縁板 13 ……端子接続ボルト 14 ……
固定用絶縁ボルト 15 ……コンデンサ 21b 〜23b ……
絶縁板

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 同一面上に正極端子、負極端子、交
    流端子を導出した少くとも直列接続された1対のスイッ
    チング素子及び正極端子、負極端子を導出したコンデン
    サを有する半導体スタックにおいて、前記スイッチング
    素子とコンデンサの端子上に配置される板状の絶縁物で
    挟まれ且つそれぞれの相互間にも板状の絶縁物を挟んで
    積層構成された板状の第1、第2、第3の導体から成る
    一括積層導体と、前記第1の導体は、前記1対のスイッ
    チング素子の正極端子と前記コンデンサの正極端子に電
    気的に接続され、前記第2、第3の導体から絶縁された
    状態で前記一括積層導体を貫通する第1の接続手段を備
    え、前記第2の導体は、前記1対のスイッチング素子の
    交流端子と電気的に接続され、前記第1、第3の導体か
    ら絶縁された状態で前記一括積層導体を貫通する第2の
    接続手段を備え、前記第3の導体は、前記1対のスイッ
    チング素子の負極端子と前記コンデンサの負極端子に電
    気的に接続され、前記第1、第2の導体から絶縁された
    状態で前記一括積層導体を貫通する第3の接続手段を備
    えたことを特徴とする半導体スタック。
  2. 【請求項2】 前記一括積層導体の絶縁物は、各導
    体の面上に形成された絶縁コーテング層から成っている
    請求項1に記載の半導体スタック。
JP14372794A 1994-06-27 1994-06-27 半導体スタック Pending JPH0819245A (ja)

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6490187B2 (en) 2000-09-06 2002-12-03 Hitachi, Ltd. Semiconductor electric power conversion device
JP2009100514A (ja) * 2007-10-15 2009-05-07 Mitsubishi Electric Corp 電力変換装置
JP2020022263A (ja) * 2018-07-31 2020-02-06 富士電機株式会社 電力変換装置および鉄道車両用電力変換装置
JP2020064913A (ja) * 2018-10-15 2020-04-23 富士電機株式会社 半導体装置

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