JPH08190575A - 検査教示装置および方法 - Google Patents

検査教示装置および方法

Info

Publication number
JPH08190575A
JPH08190575A JP7002226A JP222695A JPH08190575A JP H08190575 A JPH08190575 A JP H08190575A JP 7002226 A JP7002226 A JP 7002226A JP 222695 A JP222695 A JP 222695A JP H08190575 A JPH08190575 A JP H08190575A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
measurement
procedure
information
drawing information
inspection
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP7002226A
Other languages
English (en)
Inventor
Fumio Ishikawa
文男 石川
Izumi Ito
泉 伊藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nikon Corp
Original Assignee
Nikon Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nikon Corp filed Critical Nikon Corp
Priority to JP7002226A priority Critical patent/JPH08190575A/ja
Publication of JPH08190575A publication Critical patent/JPH08190575A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Abstract

(57)【要約】 【目的】 本発明は、CADの図面情報に基づいて、測
定手順を作成する検査教示装置およびその方法に関し、
測定手順および測定結果の処理手順の作成を効率良く行
いつつ、測定事項の変更に柔軟に対応することを目的と
する。 【構成】 測定対象を示す図面情報を記憶する図面記憶
手段1と、その図面記憶手段1に記憶された図面情報を
取り込み、その図面情報と外部から与えられる測定事項
との対応関係に基づいて、測定手順を作成する測定手順
作成手段2と、測定手順を実行して得られる測定結果
を、測定事項に対応する図面情報の位置に挿入して検査
図面を製作する処理手順を作成する処理手順作成手段3
とを備えて構成される。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、3次元測定機などを用
いた計測システムにおいて、CAD(コンピュータ支援
設計)の図面情報に基づいて、測定手順を作成する検査
教示装置およびその方法に関する。
【0002】
【従来の技術】近年、機械部品等を製作する技術の進歩
及び消費者の要求により、複雑な形状の機械部品が増加
し、型検査などの品質管理に要する時間が増加してい
る。製造部門では、このような品質管理を効率良く行う
ために、機械部品の寸法を自動計測する計測システムが
開発されている。
【0003】この種の計測システムでは、予め作成され
た測定プログラムに基づいて、NC(数値制御)3次元
測定機などの自動制御が行われる。
【0004】近年、このような測定プログラムの作成を
効率良く行うために、CADの図面情報を使用して、測
定経路などを自動的に作成する検査教示装置が知られて
いる。
【0005】一方、製造ラインでは、NC(数値制御)
3次元測定機などから得られた測定結果が、検査作業者
により帳票形式に処理され、不良箇所の分析などに利用
されている。
【0006】また、特開平4−160681号公報に記
載された装置では、測定結果をCADの図面情報に転記
して表示することにより、測定結果の一覧性を高めて不
良箇所の分析を迅速に行うなど、測定結果の有効利用が
図られていた。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来例
では、測定プログラムと測定結果を処理する手順とを別
個に作成するため、手間が二重にかかるという問題点が
あった。
【0008】特に、測定事項が変更されるたびに、検査
作業者が管理する帳票形式を変更する必要があり、測定
事項を柔軟に変更することが困難であるという問題点が
あった。
【0009】また、特開平6−16081号公報に記載
された装置においても、測定事項が変更されるたびに、
CAD図面上の転記位置を逐次に設定し直す必要があ
り、手間がかかる上に、測定事項を柔軟に変更すること
が困難であるという問題点があった。
【0010】本発明は、このような問題点を解決するた
めに、測定手順および測定結果の処理手順の作成を効率
良く行いつつ、測定事項の変更に柔軟に対応できる検査
教示装置およびその方法を提供することを目的とする。
【0011】
【課題を解決するための手段】図1は、請求項1,2に
対応するブロック図である。
【0012】請求項1に記載の発明は、測定対象を示す
図面情報を記憶する図面記憶手段1と、その図面記憶手
段1に記憶された図面情報を取り込み、その図面情報と
外部から与えられる測定事項との対応関係に基づいて、
測定手順を作成する測定手順作成手段2と、測定手順を
実行して得られる測定結果を、測定事項に対応する図面
情報の位置に挿入して検査図面を製作する処理手順を作
成する処理手順作成手段3とを備えたことを特徴とす
る。
【0013】請求項2に記載の発明は、請求項1の検査
教示装置において、測定手順作成手段2は、図面情報に
含まれる図形情報が、測定箇所として外部から選択され
る図形選択手段5と、図面情報に含まれる寸法情報が、
評価項目として外部から選択される寸法選択手段6と、
図形選択手段5により選択された測定箇所を補間して測
定経路を作成し、かつ寸法選択手段6により選択された
寸法情報を評価基準として、測定経路を実行して得られ
る実測値を評価する評価処理を作成し、これらの測定経
路と評価処理とを併せて測定手順とする作成手段7とを
有し、処理手順作成手段3は、評価処理を実行して得ら
れる測定結果を、寸法選択手段6により選択された寸法
情報の近傍に位置させて図面情報に挿入する処理手順を
作成することを特徴とする。
【0014】請求項3に記載の発明は、測定対象を示す
図面情報を取り込み、その図面情報と外部から与えられ
る測定事項との対応関係に基づいて測定手順を作成し、
測定手順を実行して得られる測定結果を、測定事項と対
応する図面情報の位置に挿入して検査図面を製作する処
理手順を作成することを特徴とする。
【0015】請求項4に記載の発明は、請求項3の検査
教示方法において、測定手順を作成する過程は、図面情
報に含まれる図形情報が、測定箇所として外部から選択
され、図面情報に含まれる寸法情報が、測定項目として
外部から選択され、図形情報の測定箇所を補間して測定
経路を作成し、かつ寸法情報を評価基準として、測定経
路を実行して得られる実測値を評価する評価処理を作成
し、これらの測定経路と評価処理とを併せて測定手順と
し、一方、処理手順を作成する過程では、評価処理を実
行して得られる測定結果を、寸法情報の近傍に位置させ
て図面情報に挿入する処理手順を作成することを特徴と
する。
【0016】
【作用】請求項1の検査教示装置では、測定手順作成手
段2は、外部から教示された測定事項を取り込み、その
測定事項を図面情報に対応付けて、測定を行う手順を作
成する。
【0017】一方、処理手順作成手段3は、測定手順作
成手段2に与えられる測定事項を取り込み、測定事項に
対応する図面情報の位置を定め、その位置に測定手順を
実行して得られる測定結果を挿入する処理手順を作成す
る。
【0018】このように、外部から教示される測定事項
に基づいて、測定手順と測定結果の処理手順とが共に作
成される。
【0019】請求項2の検査教示装置では、図形選択手
段5を介して、図面情報に含まれる図形情報が、測定箇
所として外部から選択される。
【0020】また、寸法選択手段6を介して、図面情報
に含まれる寸法情報が、評価項目として外部から選択さ
れる。
【0021】作成手段7では、図形選択手段5により選
択された測定箇所を補間することにより、測定を行う経
路を作成し、かつ寸法選択手段6により選択された寸法
情報を評価基準として実測値を評価する評価処理を作成
する。これらの測定経路と評価処理とを併せることによ
り、測定手順を作成する。
【0022】一方、処理手順作成手段3は、寸法選択手
段6により選択された寸法情報を取り込み、この寸法情
報の近傍の位置を定め、その位置に評価処理を実行して
得られる測定結果を挿入する処理手順を作成する。
【0023】このように、外部から選択された図形情報
と寸法情報とに基づいて、測定手順と測定結果の処理手
順とが共に作成される。
【0024】請求項3の検査教示方法では、外部から与
えられる測定事項を取り込み、測定対象を示す図面情報
に対応付けて、測定を行う手順を作成する。
【0025】一方、外部から与えられる測定事項と対応
する図面情報の位置を定め、その位置に測定結果を挿入
する処理手順を作成する。
【0026】このように、外部から教示される測定事項
に基づいて、測定手順と測定結果の処理手順とが連動し
て作成される。
【0027】請求項4の検査教示方法では、測定手順を
作成する過程において、図面情報に含まれる図形情報
が、測定箇所として外部から選択される。
【0028】また、図面情報に含まれる寸法情報が、測
定項目として外部から選択される。この図形情報の測定
箇所を補間することにより測定経路が作成され、かつ寸
法情報を評価基準として実測値を評価する評価処理を作
成する。これらの測定経路と評価処理とを併せることに
より測定手順が作成される。
【0029】一方、処理手順を作成する過程において
は、選択された寸法情報の近傍の位置を定め、その位置
に測定結果を挿入する処理手順を作成する。
【0030】このように、外部から選択された図形情報
と寸法情報とに基づいて、測定手順と測定結果の処理手
順とが連動して作成される。
【0031】
【実施例】以下、図面に基づいて本発明の実施例を説明
する。
【0032】図2は、請求項1〜4に対応する一実施例
を示す図である。
【0033】図において、CADシステム11はCAD
図面データ格納部12に接続され、CAD図面データ格
納部12は図面受信部13に接続される。
【0034】図面受信部13は検査図面データ格納部1
4に接続され、検査図面データ格納部14は、図面編集
部15およびプログラム作成部16に接続される。
【0035】このプログラム作成部16は、測定・転記
プログラム格納部17に接続され、測定・転記プログラ
ム格納部17は、測定結果処理部18に接続されると共
に、測定機インターフェース19を介して、測定機20
に接続される。
【0036】この測定機20のデータ出力は、測定結果
データ格納部21および測定機インターフェース19を
介して、測定結果処理部18に接続され、測定結果処理
部18のデータ出力は検査結果格納部22に接続され
る。
【0037】また、図面受信部13,図面編集部15,
プログラム作成部16および測定結果処理部18は、個
別に入出力制御部23に接続され、入出力制御部23
は、入力装置24を介して、キーボード25およびマウ
ス26に接続される。
【0038】さらに、入出力制御部23には、出力装置
27を介して、ディスプレー28およびプロッタ29が
接続される。
【0039】図3は、本実施例の動作を示す流れ図であ
る。
【0040】以下、これらの図を用いて、本実施例の動
作を説明する。
【0041】図面受信部13は、CADシステム11に
より作成された図面情報をCAD図面データ格納部12
から取り込む(ステップS1)。
【0042】この図面情報から、形状を示す図形情報,
寸法および公差を示す寸法情報などが、検査図面データ
として選択され、検査図面データ格納部14に格納され
る(ステップS2)。この検査図面データは、図4に示
すように、図面に展開されてディスプレー28に表示さ
れる(ステップS3)。
【0043】操作者は、ディスプレー28の表示に基づ
いて、マウス26を操作し、測定箇所である図形情報を
選択する(ステップS4)。
【0044】次に、操作者は、キーボード25からその
図形情報に対する測定条件を入力する(ステップS
5)。例えば、円形の図形情報に対しては、測定点の数
などが入力される。
【0045】プログラム作成部16は、このような操作
者の教示に基づいて、測定箇所を決定し、これらの測定
箇所を補間することにより、測定経路の作成を行う(ス
テップS6)。
【0046】このように作成された測定経路は、図5に
示すように測定・転記プログラム格納部17のデータ構
造の一項目として格納される(ステップS7)。
【0047】次に、操作者は、マウス26を操作して、
寸法情報の表示されている位置を選択する(ステップS
8)。
【0048】プログラム作成部16は、選択された寸法
情報の値を評価基準として取り込み、測定・転記プログ
ラム格納部17の「設計値」,「上限公差」,「下限公
差」および「幾何公差」の項目にそれぞれ格納する(ス
テップS9,10)。
【0049】また、プログラム作成部16は、寸法情報
の表示されている位置を取り込み、その位置の近傍に測
定結果を転記する位置を決定し、測定・転記プログラム
格納部17の「表示位置」の項目に格納する(ステップ
S11,12)。
【0050】このようにして、測定・転記プログラム格
納部17の内部に、測定経路や実測値の評価基準を示す
データが順次に格納されることにより、測定手順を示す
測定プログラムが作成される。
【0051】測定機20では、この測定プログラムに基
づいて自動計測が実行され、図6に示すような実測値
が、測定結果データ格納部21の「測定結果」の項目に
順次格納される。
【0052】測定結果処理部18は、この実測値を取り
込み、測定・転記プログラム格納部17に格納された
「設計値」,「上限公差」,「下限公差」および「幾何
公差」の項目と比較して、誤差値の算出を行い、公差内
の誤差か否かを判定する。これらの誤差値および判定さ
れた結果は、図7に示すように、検査結果格納部22の
「誤差値」,「判定結果」などの項目に格納される。
【0053】また、測定結果処理部18は、測定・転記
プログラム格納部17の「表示位置」の項目を取り込
み、図8に示すように、検査図面データの表示位置に誤
差値を挿入し、ディスプレー28あるいはプロッタ29
に出力する。
【0054】このように、本実施例では、測定手順を示
す測定プログラムと測定結果を転記する処理手順とが同
時に作成されるので、測定事項の教示を二重に行う必要
がなく、手間を大幅に省くことができる。
【0055】また、測定箇所や測定条件などの変更に伴
って、測定プログラムを新たに作成すると、測定結果の
「表示位置」も同時に更新されるので、測定事項の変更
に容易に対応することができる。
【0056】なお、本実施例では、CADの図面情報か
ら検査に必要な情報を選択して、検査図面データを作成
しているが、それに限定されるものではなく、CADの
図面情報をそのまま使用して、測定プログラムの作成な
どを行ってもよい。
【0057】また、本実施例では、図形情報と寸法情報
とが別個に選択されているが、図形情報と寸法情報との
関連付けがなされている場合は、どちらか一方のみを選
択してもよい。
【0058】
【発明の効果】以上説明したように、請求項1の検査教
示装置では、測定手順作成手段と処理手順作成手段とを
併存させたので、外部から教示される測定事項に基づい
て、測定手順と測定結果の処理手順とを共に作成するこ
とができる。
【0059】したがって、測定事項を二重に教示する必
要がなく、測定手順と測定結果の処理手順との作成に要
する手間を大幅に省くことができる。
【0060】また、測定事項の変更に伴って、測定手順
を新たに作成する場合には、測定結果の処理手順も併せ
て更新されるので、測定事項の変更に柔軟に対応するこ
とができる。
【0061】請求項2の検査教示装置では、寸法選択手
段により選択された寸法情報が、実測値の評価基準とし
て利用されると共に、測定結果の挿入位置を定めるため
の情報として利用されるので、測定事項の教示を効率良
く行うことができ、測定手順と測定結果の処理手順の作
成を短時間に行うことができる。
【0062】請求項3の検査教示方法では、外部から教
示される測定事項に基づいて、測定手順と測定結果の処
理手順とを連動して作成するので、測定事項を二重に教
示する必要がなく、測定手順と測定結果の処理手順との
作成に要する手間を大幅に省くことができる。
【0063】請求項4の検査教示方法では、外部から選
択された寸法情報が、実測値の評価基準として利用され
ると共に、測定結果の挿入位置を定めるための情報とし
て利用されるので、測定事項の教示を効率良く行うこと
ができ、測定手順と測定結果の処理手順の作成を短時間
に行うことができる。このように、本発明を適用した計
測システムでは、測定手順の作成に伴って、測定結果の
処理手順が作成されるので、これらの作成に要する手間
を軽減しつつ、測定事項の変更に柔軟に対応することが
できる。したがって、製造部門における品質管理を大幅
に効率化することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】請求項1,2に対応するブロック図である。
【図2】請求項1〜4に対応する一実施例を示す図であ
る。
【図3】本実施例の動作を示す流れ図である。
【図4】検査図面データの表示例を示す図である。
【図5】測定プログラムのデータ構造の一例を示す図で
ある。
【図6】測定結果データの一例を示す図である。
【図7】検査結果データの一例を示す図である。
【図8】検査成績書の一例を示す図である。
【符号の説明】
1 図面記憶手段 2 測定手順作成手段 3 処理手順作成手段 5 図形選択手段 6 寸法選択手段 7 作成手段 11 CADシステム 12 CAD図面データ格納部 13 図面受信部 14 検査図面データ格納部 15 図面編集部 16 プログラム作成部 17 測定・転記プログラム格納部 18 測定結果処理部 19 測定機インターフェース 20 測定機 21 測定結果データ格納部 22 検査結果格納部 23 入出力制御部 24 入力装置 25 キーボード 26 マウス 27 出力装置 28 ディスプレー 29 プロッタ

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 測定対象を示す図面情報を記憶する図面
    記憶手段と、 前記図面記憶手段に記憶された図面情報を取り込み、そ
    の図面情報と外部から与えられる測定事項との対応関係
    に基づいて、測定手順を作成する測定手順作成手段と、 前記測定手順を実行して得られる測定結果を、前記測定
    事項に対応する前記図面情報の位置に挿入して検査図面
    を製作する処理手順を作成する処理手順作成手段と、 を備えたことを特徴とする検査教示装置。
  2. 【請求項2】 請求項1に記載の検査教示装置におい
    て、 前記測定手順作成手段は、 前記図面情報に含まれる図形情報が、測定箇所として外
    部から選択される図形選択手段と、 前記図面情報に含まれる寸法情報が、評価項目として外
    部から選択される寸法選択手段と、 前記図形選択手段により選択された測定箇所を補間して
    測定経路を作成し、かつ前記寸法選択手段により選択さ
    れた寸法情報を評価基準として、前記測定経路を実行し
    て得られる実測値を評価する評価処理を作成し、これら
    の測定経路と評価処理とを併せて測定手順とする作成手
    段とを有し、 前記処理手順作成手段は、 前記評価処理を実行して得られる測定結果を、前記寸法
    選択手段により選択された寸法情報の近傍に位置させて
    前記図面情報に挿入する処理手順を作成することを特徴
    とする検査教示装置。
  3. 【請求項3】 測定対象を示す図面情報を取り込み、 その図面情報と外部から与えられる測定事項との対応関
    係に基づいて、測定手順を作成し、 前記測定手順を実行して得られる測定結果を、前記測定
    事項と対応する前記図面情報の位置に挿入して検査図面
    を製作する処理手順を作成することを特徴とする検査教
    示方法。
  4. 【請求項4】 請求項3に記載の検査教示方法におい
    て、 前記測定手順を作成する過程は、 前記図面情報に含まれる図形情報が、測定箇所として外
    部から選択され、 前記図面情報に含まれる寸法情報が、測定項目として外
    部から選択され、 前記図形情報の測定箇所を補間して測定経路を作成し、
    かつ前記寸法情報を評価基準として、前記測定経路を実
    行して得られる実測値を評価する評価処理を作成し、こ
    れらの測定経路と評価処理とを併せて測定手順とし、 前記処理手順を作成する過程では、 前記評価処理を実行して得られる測定結果を、前記寸法
    情報の近傍に位置させて前記図面情報に挿入する処理手
    順を作成することを特徴とする検査教示方法。
JP7002226A 1995-01-10 1995-01-10 検査教示装置および方法 Pending JPH08190575A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP7002226A JPH08190575A (ja) 1995-01-10 1995-01-10 検査教示装置および方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP7002226A JPH08190575A (ja) 1995-01-10 1995-01-10 検査教示装置および方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH08190575A true JPH08190575A (ja) 1996-07-23

Family

ID=11523451

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP7002226A Pending JPH08190575A (ja) 1995-01-10 1995-01-10 検査教示装置および方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH08190575A (ja)

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6917842B2 (en) 2001-02-20 2005-07-12 Canon Kabushiki Kaisha Information processing apparatus and method
JP2006208097A (ja) * 2005-01-26 2006-08-10 Konica Minolta Sensing Inc 3次元計測システム、3次元計測方法およびプログラム
JP2006343312A (ja) * 2005-06-10 2006-12-21 Inus Technology Inc 3次元測定データの分析結果再計算システム及び方法
US7720624B2 (en) 2006-08-23 2010-05-18 Canon Kabushiki Kaisha Information processing method, information processing apparatus and program
US7880899B2 (en) 2005-01-26 2011-02-01 Konica Minolta Sensing, Inc. Three-dimensional measurement system, inspection method, three-dimensional measurement method and program
JP2014197004A (ja) * 2014-04-21 2014-10-16 株式会社キーエンス 画像計測装置

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6917842B2 (en) 2001-02-20 2005-07-12 Canon Kabushiki Kaisha Information processing apparatus and method
US7054701B2 (en) 2001-02-20 2006-05-30 Canon Kabushiki Kaisha Information processing apparatus and method
JP2006208097A (ja) * 2005-01-26 2006-08-10 Konica Minolta Sensing Inc 3次元計測システム、3次元計測方法およびプログラム
US7880899B2 (en) 2005-01-26 2011-02-01 Konica Minolta Sensing, Inc. Three-dimensional measurement system, inspection method, three-dimensional measurement method and program
JP2006343312A (ja) * 2005-06-10 2006-12-21 Inus Technology Inc 3次元測定データの分析結果再計算システム及び方法
JP4708980B2 (ja) * 2005-06-10 2011-06-22 株式会社 アイナス技術 3次元測定データの分析結果再計算方法
USRE48998E1 (en) 2005-06-10 2022-03-29 3D Systems, Inc. System and method for recalculating analysis report of 3D scan data
US7720624B2 (en) 2006-08-23 2010-05-18 Canon Kabushiki Kaisha Information processing method, information processing apparatus and program
JP2014197004A (ja) * 2014-04-21 2014-10-16 株式会社キーエンス 画像計測装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5619630A (en) Apparatus for producing exploded view and animation of assembling and method thereof
JP6150903B2 (ja) 加工情報管理装置および工具経路生成装置
US7433801B2 (en) Identifying and visualizing faults in PLC-based manufacturing systems
KR20010071391A (ko) 판금 가공 통합 지원 시스템
US10031512B2 (en) Apparatus for generating and editing NC program
CN104793560A (zh) 用于生成轨迹的方法和系统
JP5197640B2 (ja) 加工シミュレーション装置および数値制御装置
JP2002082704A (ja) Nc加工シミュレーション装置
US7069175B2 (en) Method and apparatus for supporting measurement of object to be measured
US6898545B2 (en) Semiconductor test data analysis system
WO2013118179A1 (ja) 工具軌跡表示方法および工具軌跡表示装置
JPH08190575A (ja) 検査教示装置および方法
JP2004110828A (ja) ソリッドモデル上に数値制御ツールパスを生成する方法及びシステム
CN112236798A (zh) 用于在生产产品的情形中的质量保证的方法以及计算设备和计算机程序
JP2796016B2 (ja) Cadシステム
WO2014098202A1 (en) System and method for determining a defect on a surface of an object
JP2001222305A (ja) 板金統合支援システム及び図形データ生成管理プログラムを記憶した記憶媒体
JP4243384B2 (ja) 溶接条件設定方法及びシステム
JPH1020918A (ja) Cad/cam装置
JPH11126219A (ja) 図面作成装置及び図面作成方法
JPH07104827A (ja) 図面情報に基づいた工程管理システム
JPH06210543A (ja) 工具経路データ自動検査装置
JPH0462410A (ja) 測定支援装置
JP2002334117A (ja) 属性情報処理装置、及び方法
JPH06114678A (ja) Nc装置の工具軌跡表示装置