JPH08172769A - インバータ装置 - Google Patents
インバータ装置Info
- Publication number
- JPH08172769A JPH08172769A JP6317199A JP31719994A JPH08172769A JP H08172769 A JPH08172769 A JP H08172769A JP 6317199 A JP6317199 A JP 6317199A JP 31719994 A JP31719994 A JP 31719994A JP H08172769 A JPH08172769 A JP H08172769A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- gate
- semiconductor switching
- recovery current
- turn
- diode
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Abstract
制できるインバータ装置の提供。 【構成】 バッテリに対して二個づつ直列接続した三組
のMOS入力形のトランジスタ21〜26がターンオン
に移行する際に、帰還ダイオードに流れるリカバリー電
流の最大値を検出するピーク検出回路47と、リカバリ
ー電流が最大となる時点までは遅いターンオン速度と
し、到達した後は速いターンオン速度にするターンオン
速度変更回路48とを有する。
Description
る。
に接続される、MOS入力形のパワートランジスタ21
〜26と、帰還ダイオード31〜36と、パワートラン
ジスタ21〜26を駆動するゲート駆動回路41〜46
と、U相、W相のインバータ出力電流を検出する電流セ
ンサ51、52と、電流センサ51、52のセンサ信号
を増幅する信号増幅回路6と、アクセル開度センサ7か
らの開度信号71と検出出力電流611とに基づき、接
続点U、V、Wに結線される三相電動機8が所定のトル
クを出すようにゲート駆動回路41〜46を制御する制
御回路9とを具備する(図1参照)。
いる状態で、パワートランジスタ21、22をオン・オ
フさせた時の状態を、図4の(a)、(b)に示す。パ
ワートランジスタ22がオフになると、負荷電流IL は
帰還ダイオード31へ転流して矢印510の向きに流れ
る。
ンになると、ダイオード31がキャリアを放出して逆回
復するまで、配線によるインダクタンス11(実際は図
示の場所以外にも存在する)、ダイオード31、および
パワートランジスタ22からなる回路を通じてバッテリ
1が瞬間短絡状態となる。
流れてダイオード31は逆方向特性を回復するが、逆回
復電流の減衰が急になると、インダクタンス11による
サージ電圧Vdが上昇し、ダイオード31やパワートラ
ンジスタ21に印加される。
より見分けることができ、時刻t1でパワートランジス
タ22がオンすると、電流iは−IL の大きさから減少
してゼロになり、その後、逆方向電流が流れると急激に
ゼロとなる。この時点で、インダクタンス11によって
パワートランジスタ21やダイオード31に大きなサー
ジ電圧Vdが印加される。
を急速にオンさせると、急激に電流iが立ち上がり、サ
ージ電圧Vdは高くなる{図4(b)のカーブ520参
照}。また、例えば、パワートランジスタ22を緩やか
にオンさせると、電流iの立ち上がりは遅く、di/d
tは小さく、サージ電圧Vdは低くなる{図4(b)の
カーブ530参照}。
で決まるので、L(インダクタンス11)の大きさを減
少させるか、di/dtを低下させるかの何れかによっ
てサージ電圧Vdを低下させることができるが、Lを減
少させることは配線上から限界があるので、一般にはd
i/dtを減少させる方法が有効である。
様な方法が知られているが、部品代が高価になるととも
に、限界がある。 リカバリー時間が短いダイオードを使用する。耐圧数
十Vでは30〜50ns、耐圧1000Vでは300〜
800nsのものが開発されている。 リカバリー電流が緩やかに減少するソフトリカバリー
ダイオードを使用する。
を、独立して駆動するゲート駆動回路41〜46の一例
として図5に示すものがある。401はフォトカプラ、
402はターンオン用のFET、403はターンオフ用
のFET、404はターンオン用のゲート抵抗、405
はターンオフ用のゲート抵抗、406はFET402、
403を駆動およびオフさせるためのFET、407、
408、409、410は抵抗、411、412は電源
である。なお、図6に、そのゲート駆動回路41〜46
における、ゲート電位、リカバリー電流、サージ電圧の
各波形図を示す。
26をオフする場合、フォトカプラ401内のフォトト
ランジスタをオフし、抵抗407、408を介してFE
T406のゲートに電圧を印加し、FET406をオン
させる。FET406がオンすると、FET403のゲ
ートが充電されるため、FET403がオンする。FE
T403がオンすると、ゲート抵抗405を通じてパワ
ートランジスタ21〜26のゲート電荷が放電するた
め、パワートランジスタ21〜26がオフする。
する場合、フォトカプラ401内のフォトトランジスタ
をオンし、FET406をオフさせる。FET406が
オフすると、抵抗409、410を介してFET402
のゲートが充電されるため、FET402がオンする。
FET402がオンすると、ゲート抵抗404を通じて
パワートランジスタ21〜26のゲートに電荷が充電さ
れるため、パワートランジスタ21〜26がオンする。
のターンオン時間は、パワートランジスタ21〜26の
ゲート電荷の充電時間に依存するので、パワートランジ
スタ21〜26のターンオン時間を長くするには、ゲー
ト抵抗404の抵抗値を大きくして、ゲート電荷の充電
時間を長くすれば良い。
くすると、di/dtは減少するが、パワートランジス
タ21〜26のスイッチングスピードが遅くなり、スイ
ッチング素子の損失が増大し、インバータ装置の効率低
下を招く。
す)では、上記不具合{スイッチングスピードが遅くな
る}を以下のように対策している。MOS入力形のトラ
ンジスタ101のターンオン時にゲート電圧の大きさを
時間的に切り換える切換回路{コンデンサ102、抵抗
103、104による積分回路}を設け、ターンオンの
瞬間に低いゲート電圧を加えてトランジスタ101をア
ナログ動作させ、リカバリー後は高いゲート電圧を加え
てトランジスタ101を完全にオン状態にして損失を低
減している。
は、トランジスタ101に低いゲート電圧を加える期間
を、上記切換回路に依存しているため、トランジスタ1
01のゲート・エミッタ間容量105や動作状態等によ
り、常に適正時点でゲート電圧が切り換わらないという
欠点がある。
バリー前にずれると、トランジスタ101が早期にター
ンオンしてリカバリー時のサージ電圧が助長し、トラン
ジスタ101の耐圧破壊を招く。
ージ電圧を確実に抑制できるインバータ装置の提供にあ
る。
本発明は、以下の構成を採用した。 (1)直流電源に対して直列接続した複数組の、電圧駆
動形の半導体スイッチング素子と、該半導体スイッチン
グ素子の各出力端に逆並列接続した帰還ダイオードと、
上記各半導体スイッチング素子をオン・オフ制御する制
御回路とを有し、前記半導体スイッチング素子の各直列
接続点に結線される負荷を通電制御するインバータ装置
において、前記制御回路に、前記直列接続した一方の半
導体スイッチング素子がターンオンに移行する際に、前
記直列接続した他方の半導体スイッチング素子に逆並列
接続した帰還ダイオードに流れるリカバリー電流を検出
するリカバリー電流検出手段と、前記リカバリー電流が
略最大となる時点までは遅いターンオン速度とし、到達
した後は速いターンオン速度にするターンオン速度変更
手段とを設けた。
スイッチング素子は、MOS入力形のトランジスタであ
り、前記リカバリー電流検出手段は、ゲート- エミッタ
間に並列接続される、ダイオードとコンデンサによる直
列回路と、前記トランジスタのゲート電位と、ダイオー
ドとコンデンサとの接続点の電位とを比較する比較器と
を有する。
スイッチング素子は、MOS入力形のトランジスタであ
り、前記リカバリー電流検出手段は、前記MOS入力形
のトランジスタのゲート電位が、オンゲート信号を印加
後、ミラー効果によりゲート電位が一時的に降下する時
点を検出する。
素子がターンオンする際、帰還ダイオードにはリカバリ
ー電流が流れ、該リカバリー電流と配線インダクタンス
とによりサージ電圧が上昇していく。
チング素子がターンオンに移行する際に、帰還ダイオー
ドに流れるリカバリー電流が略最大となる時点を検出す
る。ターンオン速度変更手段は、リカバリー電流がピー
クになる時点までは、半導体スイッチング素子のターン
オン速度を遅くし、到達した後はターンオン速度を速く
する。
トランジスタがターンオンする際、帰還ダイオードには
リカバリー電流が流れ、該リカバリー電流と配線インダ
クタンスとによりサージ電圧が上昇していく。ダイオー
ドの電圧降下により、リカバリー電流がピークになる時
点までは、ゲート電位が上昇局面にあるので、ダイオー
ドとコンデンサとの接続点の電位はゲート電位より低
く、比較器は接続点の電位の方が低いことを検知する。
S入力形のトランジスタのゲート電位はミラー効果によ
り一時的に降下する。この時、ダイオードとコンデンサ
との接続点の電位は、ダイオードにより降下しないの
で、ゲート電位の方が低くなり、比較器は接続点の電位
の方が高いことを検知する。
流が略ピークになる時点までは、半導体スイッチング素
子のターンオン速度を遅くし、到達した後はターンオン
速度を速くする。
リー電流の略ピークを検出するまでは、ターンオン速度
変更手段は、半導体スイッチング素子のターンオン速度
を遅くし、到達した後はターンオン速度を速くする構成
である。
実に抑制でき、帰還ダイオードや半導体スイッチング素
子の耐圧破壊を防止できる。また、半導体スイッチング
素子のスイッチング速度低下を招かないのでスイッチン
グ素子の損失が増大せず、インバータ装置の効率低下を
招かない。
が略ピークとなる時点を、MOS入力形のトランジスタ
のゲート電位がミラー効果により一時的に降下する現象
に基づいて比較器が検知し、ターンオン速度変更手段
は、リカバリー電流が略ピークとなる時点まで半導体ス
イッチング素子のターンオン速度を遅くし、到達した後
にターンオン速度を速くする構成である。
実に抑制でき、帰還ダイオードやMOS入力形のトラン
ジスタの耐圧破壊を防止できる。また、MOS入力形の
トランジスタのスイッチング速度低下を招かないのでト
ランジスタの損失が増大せず、インバータ装置の効率低
下を招かない。
ト・エミッタ間容量のバラつきや動作状態に影響され
ず、常に適正時点で半導体スイッチング素子のターンオ
ン速度を切り換える事ができ、常にリカバリー時のサー
ジ電圧を抑制する事ができる。
図1〜図3に基づいて説明する。図1に示す様に、イン
バータ装置Aは、バッテリ1に接続されるMOS入力形
のパワートランジスタ21〜26と、帰還ダイオード3
1〜36と、図2に示す構成のゲート駆動回路41〜4
6と、U相、W相のインバータ出力電流を検出する電流
センサ51、52と、電流センサ51、52のセンサ信
号を増幅する信号増幅回路6と、アクセル開度センサ7
からの開度信号71と検出出力電流611とに基づき、
接続点u、v、wに結線される三相電動機8が所定のト
ルクを出すようにゲート駆動回路41〜46を制御する
制御回路9とを具備し、電気自動車(図示せず)に組み
付けられている。
る。パワートランジスタ21、23、25は、各コレク
タをバッテリ1のプラスラインに接続し、各エミッタを
パワートランジスタ22、24、26の各コレクタに接
続している。パワートランジスタ22、24、26は、
各エミッタをバッテリ1のマイナスラインに接続してい
る。
パワートランジスタ21〜26の各コレクタに接続し、
アノードをパワートランジスタ21〜26の各エミッタ
に接続している。
1はフォトカプラ、422はターンオン用のFET、4
23はターンオフ用のFET、424はターンオン用の
ゲート抵抗、425はターンオフ用のゲート抵抗、42
6はFET422、423を駆動およびオフさせるため
のFET、427、428、429、430は抵抗、4
31、432は電源、47はピーク検出回路、48はタ
ーンオン速度変更回路である(図2参照)。
〜26のゲート- エミッタ間に並列接続されるダイオー
ド471およびコンデンサ472と、接続点473の電
位検出用の抵抗474と、ゲート電位検出用の抵抗47
5と、コンパレータ476と、プルアップ用の抵抗47
7とで構成される。ターンオン速度変更回路48は、F
ET481、抵抗482、ダイオード483〜485と
で構成される。
オンについて説明する。図3において、“a”はフォト
カプラ421内のトランジスタのコレクタ- エミッタ間
の電圧V0 の推移である。フォトカプラ421内のフォ
トトランジスタが制御回路9からの制御信号によりオン
になると、フォトカプラの出力がLoレベルとなり、F
ET426がオフし、FET422がオンし、高抵抗
{抵抗482より抵抗値大}の抵抗424を介してトラ
ンジスタ21〜26のゲートに電荷の充電が行なわれる
ので、トランジスタ21〜26のゲート- エミッタ間の
電位Vgeは図3の“f”に示すようにゆっくりと上昇
していく。なお、t1はリカバリー電流が最大になる時
刻である。
の電位Vc(接続点473の電位)であり、ダイオード
471による順方向電圧降下のため、時刻t1近傍ま
で、電位Vcは、ゲート- エミッタ間の電位Vgeより
も低い値を維持して上昇推移する。
時刻t1までLoレベルを維持し、FET481のゲー
トがバイアスされず、FET481はオフの状態を維持
(略時刻t1まで)する。
クになると、ミラー効果のため、ゲート- エミッタ間の
電位Vgeは一時的に降下する{図3の(f)参照}。
しかし、コンデンサ472の電位Vcはダイオード47
1により低下せず、最大値で保持される{図3の(c)
参照}。
方がゲート- エミッタ間の電位Vgeより高くなり、コ
ンパレータ476の出力がLo→Hiになり{図3の
“d”の波形}、この時点で、ピーク検出回路47はリ
カバリー電流のピークポイントを正確に検出する。
なると、FET481のゲートにはダイオード484を
介して正の電圧が印加されるので、FET481がオン
状態になる{図3の“e”の波形}。
{抵抗424より抵抗値小}の抵抗482を通してゲー
ト・エミッタ間容量491およびコンデンサ472に電
荷の充電が急速に行なわれる。この充電により、ゲート
- エミッタ間の電位Vgeの方がコンデンサ472の電
位Vcより高くなるので、コンパレータ476の出力が
Hi→Loに戻るが{図3の(d)}、ダイオード48
4が挿入されているのでFET481のゲート容量に充
電された電荷は放電せず、FET481はオン状態を維
持する{図3の“e”の波形}。
オフについて説明する。フォトカプラ421内のフォト
トランジスタが制御回路9からの制御信号によりオフに
なると、フォトカプラの出力がHiレベルとなり、FE
T426がオンし、FET422がオフし、FET42
3がオンするため、抵抗425を介してゲート・エミッ
タ間容量491の電荷の放電を行ない電位Vgeを下
げ、トランジスタ21〜26をターンオフする。なお、
ダイオード483、抵抗430、FET426を介して
ゲート・エミッタ間容量491の電荷が放電されるので
FET481がオフ状態に維持される。
点を述べる。 〔あ〕インバータ装置Aは、リカバリー電流がピークポ
イントに達する前は、高抵抗値の抵抗424を介して、
MOS入力形のトランジスタ21〜26のゲート電位を
遅い速度で上げていってサージ電圧の上昇を抑え、ピー
クポイントに達した後は、低抵抗値の抵抗482を介し
てMOS入力形のトランジスタ21〜26のゲート電位
を速い速度で上げていく構成であるので、トランジスタ
21〜26のスイッチングスピードを殆ど遅くする事無
くdi/dtを減少させる事ができる。
イオード31〜36やトランジスタ21〜26の耐圧破
壊を防止できる。また、スイッチング素子の損失増大が
防止できるので、インバータ装置Aは高効率で動作す
る。
流がピークポイントを、MOS入力形のトランジスタ2
1〜26のゲート電位Vgeがミラー効果により一時的
に降下する現象に基づいてピーク検出回路47が検知す
る構成である。
ト・エミッタ間容量491や動作状態等に関わらず、常
に適正時点でターンオン速度変更回路48がトランジス
タ21〜26のターンオン速度を高速側に切り替える事
ができる。
態様を含む。 a.順方向電圧を降下させるダイオード471を複数
個、直列接続して分解能を高めても良い。 b.FET422、423、426に、バイポーラトラ
ンジスタを使用しても良い。 c.ダイオード484とFET481の組み合わせの代
わりに、単安定マルチバイブレータやフリップ・フロッ
プ等の記憶回路とバイポーラトランジスタの組み合わせ
でも良い。
図である。
電気回路図である。
ある。
は電流iおよびサージ電圧VDの時間的変化を示す波形
図である。
ート駆動回路の一例を示すゲート駆動回路の電気回路図
である。
カバリー電流、サージ電圧の各波形図である。
の電気回路図である。
スイッチング素子) 31〜36 帰還ダイオード 41〜46 ゲート駆動回路(制御回路) 47 ピーク検出回路(リカバリー電流ピーク検出手
段) 48 ターンオン速度変更回路(ターンオン速度変更手
段) 471 ダイオード 472 コンデンサ 476 コンパレータ(比較器)
Claims (3)
- 【請求項1】 直流電源に対して直列接続した複数組
の、電圧駆動形の半導体スイッチング素子と、 該半導体スイッチング素子の各出力端に逆並列接続した
帰還ダイオードと、 上記各半導体スイッチング素子をオン・オフ制御する制
御回路とを有し、前記半導体スイッチング素子の各直列
接続点に結線される負荷を通電制御するインバータ装置
において、 前記制御回路に、前記直列接続した一方の半導体スイッ
チング素子がターンオンに移行する際に、前記直列接続
した他方の半導体スイッチング素子に逆並列接続した帰
還ダイオードに流れるリカバリー電流を検出するリカバ
リー電流検出手段と、 前記リカバリー電流が略最大となる時点までは遅いター
ンオン速度とし、到達した後は速いターンオン速度にす
るターンオン速度変更手段とを設けた事を特徴とするイ
ンバータ装置。 - 【請求項2】 前記半導体スイッチング素子は、MOS
入力形のトランジスタであり、 前記リカバリー電流検出手段は、ゲート- エミッタ間に
並列接続される、ダイオードとコンデンサによる直列回
路と、 前記トランジスタのゲート電位と、ダイオードとコンデ
ンサとの接続点の電位とを比較する比較器とを有する請
求項1記載のインバータ装置。 - 【請求項3】 前記半導体スイッチング素子は、MOS
入力形のトランジスタであり、 前記リカバリー電流検出手段は、前記MOS入力形のト
ランジスタのゲート電位が、オンゲート信号を印加後、
ミラー効果によりゲート電位が一時的に降下する時点を
検出する請求項1記載のインバータ装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP31719994A JP3379562B2 (ja) | 1994-12-20 | 1994-12-20 | インバータ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP31719994A JP3379562B2 (ja) | 1994-12-20 | 1994-12-20 | インバータ装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH08172769A true JPH08172769A (ja) | 1996-07-02 |
JP3379562B2 JP3379562B2 (ja) | 2003-02-24 |
Family
ID=18085573
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP31719994A Expired - Fee Related JP3379562B2 (ja) | 1994-12-20 | 1994-12-20 | インバータ装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3379562B2 (ja) |
Cited By (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000083371A (ja) * | 1998-09-02 | 2000-03-21 | Fuji Electric Co Ltd | 電力変換器におけるゲート駆動回路 |
JP2000228868A (ja) * | 1998-12-03 | 2000-08-15 | Hitachi Ltd | 電圧駆動形スイッチング素子のゲート駆動回路 |
JP2001221068A (ja) * | 2000-02-04 | 2001-08-17 | Hitachi Ltd | スロットルバルブ制御装置 |
JP2004080778A (ja) * | 2002-08-09 | 2004-03-11 | Semikron Elektron Gmbh | パワー半導体トランジスタを駆動するための回路装置 |
JP2004229445A (ja) * | 2003-01-24 | 2004-08-12 | Renesas Technology Corp | インバータ装置 |
JP2006320179A (ja) * | 2005-05-16 | 2006-11-24 | Hitachi Ltd | 回転電機制御装置 |
JP2006324794A (ja) * | 2005-05-17 | 2006-11-30 | Toyota Motor Corp | 電圧駆動型半導体素子の駆動装置 |
JP2009183017A (ja) * | 2008-01-29 | 2009-08-13 | Tokyo Electric Power Co Inc:The | アクティブゲート回路 |
JP2010022190A (ja) * | 1999-08-10 | 2010-01-28 | Fuji Electric Device Technology Co Ltd | 電圧駆動型半導体素子のゲート駆動装置 |
US7847604B2 (en) | 2007-01-18 | 2010-12-07 | Toyota Jidosha Kabushiki Kaisha | Driving circuit for power semiconductor element including controlling circuit that provides control when detected voltage reaches predetermined voltage |
JP2011003424A (ja) * | 2009-06-19 | 2011-01-06 | Mitsubishi Electric Corp | 調光用点灯装置及び照明器具及び照明制御システム |
JP2014222990A (ja) * | 2013-05-14 | 2014-11-27 | カルソニックカンセイ株式会社 | インバータ制御装置 |
CN113466649A (zh) * | 2021-06-29 | 2021-10-01 | 西安交通大学 | 一种判断浪涌电流测试中SiC MOSFET失效原因的方法 |
-
1994
- 1994-12-20 JP JP31719994A patent/JP3379562B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000083371A (ja) * | 1998-09-02 | 2000-03-21 | Fuji Electric Co Ltd | 電力変換器におけるゲート駆動回路 |
JP2000228868A (ja) * | 1998-12-03 | 2000-08-15 | Hitachi Ltd | 電圧駆動形スイッチング素子のゲート駆動回路 |
JP2010022190A (ja) * | 1999-08-10 | 2010-01-28 | Fuji Electric Device Technology Co Ltd | 電圧駆動型半導体素子のゲート駆動装置 |
JP2001221068A (ja) * | 2000-02-04 | 2001-08-17 | Hitachi Ltd | スロットルバルブ制御装置 |
JP2004080778A (ja) * | 2002-08-09 | 2004-03-11 | Semikron Elektron Gmbh | パワー半導体トランジスタを駆動するための回路装置 |
JP2004229445A (ja) * | 2003-01-24 | 2004-08-12 | Renesas Technology Corp | インバータ装置 |
JP2006320179A (ja) * | 2005-05-16 | 2006-11-24 | Hitachi Ltd | 回転電機制御装置 |
JP2006324794A (ja) * | 2005-05-17 | 2006-11-30 | Toyota Motor Corp | 電圧駆動型半導体素子の駆動装置 |
US7847604B2 (en) | 2007-01-18 | 2010-12-07 | Toyota Jidosha Kabushiki Kaisha | Driving circuit for power semiconductor element including controlling circuit that provides control when detected voltage reaches predetermined voltage |
JP2009183017A (ja) * | 2008-01-29 | 2009-08-13 | Tokyo Electric Power Co Inc:The | アクティブゲート回路 |
JP2011003424A (ja) * | 2009-06-19 | 2011-01-06 | Mitsubishi Electric Corp | 調光用点灯装置及び照明器具及び照明制御システム |
JP2014222990A (ja) * | 2013-05-14 | 2014-11-27 | カルソニックカンセイ株式会社 | インバータ制御装置 |
CN113466649A (zh) * | 2021-06-29 | 2021-10-01 | 西安交通大学 | 一种判断浪涌电流测试中SiC MOSFET失效原因的方法 |
CN113466649B (zh) * | 2021-06-29 | 2022-10-25 | 西安交通大学 | 一种判断浪涌电流测试中SiC MOSFET失效原因的方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP3379562B2 (ja) | 2003-02-24 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4432215B2 (ja) | 半導体スイッチング素子のゲート駆動回路 | |
JP3339311B2 (ja) | 自己消弧形半導体素子の駆動回路 | |
US6570413B1 (en) | Driver circuit for switching device | |
US9954521B2 (en) | Gate drive circuit for semiconductor switching devices | |
JP6351736B2 (ja) | 自己消弧型半導体素子の短絡保護回路 | |
EP0817381A2 (en) | Semiconductor device drive circuit | |
JP3447949B2 (ja) | 絶縁ゲート型半導体素子のゲート駆動回路、電力変換装置 | |
JP3379562B2 (ja) | インバータ装置 | |
US4954917A (en) | Power transistor drive circuit with improved short circuit protection | |
JP3052792B2 (ja) | インバータ装置 | |
JP3885563B2 (ja) | パワー半導体駆動回路 | |
JP4779549B2 (ja) | 電圧駆動型半導体素子のゲート駆動回路。 | |
JP4120329B2 (ja) | 電圧駆動型半導体素子のゲート駆動装置 | |
JP2000083371A (ja) | 電力変換器におけるゲート駆動回路 | |
JPH0947015A (ja) | 自己消弧形半導体素子の駆動回路 | |
EP0810731B1 (en) | Voltage-controlled transistor drive circuit | |
JP2760590B2 (ja) | 電圧駆動形素子の駆動回路 | |
JP4321491B2 (ja) | 電圧駆動型半導体素子の駆動装置 | |
JP2004236371A (ja) | インバータを用いる電動機制御装置 | |
US20040145918A1 (en) | Inverter device capable of reducing through-type current | |
JP6033737B2 (ja) | インバータ制御装置 | |
JP3568024B2 (ja) | 電圧駆動型半導体素子のゲート駆動回路 | |
JP2002153043A (ja) | 電圧駆動型半導体素子のゲート駆動装置 | |
JPH1169778A (ja) | 電力変換器におけるゲート駆動回路 | |
CN113049860A (zh) | 一种基于igbt器件端子压降检测的三类短路保护电路 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091213 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091213 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101213 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111213 Year of fee payment: 9 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121213 Year of fee payment: 10 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131213 Year of fee payment: 11 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |