JPH0817069A

JPH0817069A - 光ピックアップ装置

Info

Publication number: JPH0817069A
Application number: JP6150155A
Authority: JP
Inventors: Yoichi Hosaka; 洋一穂坂; Kazuhiro Fujikawa; 一広藤川; Osamu Nakano; 治中野
Original assignee: Olympus Optical Co Ltd
Current assignee: Olympus Corp
Priority date: 1994-06-30
Filing date: 1994-06-30
Publication date: 1996-01-19

Abstract

(57)【要約】【目的】異なる規格の光ディスクに対応してヘッド部分
を駆動するための駆動手段などを必要としない互換性の
ある光ピックアップ装置を提供する。【構成】本発明の光ピックアップ装置は、３ビーム方式
を採用しており、サイドスポットの中心に、異なるトラ
ックピッチを有する光ディスクのランド部のエッジが来
るように、サイドスポットのメインスポットに対するト
ラッキング方向の距離を予め設定しておく。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】この発明は、トラックピッチの異
なる２種類以上の光学的記録媒体（以下、光ディスクと
称する）に好適に対応できる光ピックアップ装置に関す
る。

【０００２】

【従来の技術及びその課題】光ディスクの記録／再生装
置において採用されているトラッキングサーボ方式にお
いて、トラッキング誤差信号を検出するためにサイドス
ポットを用いた方式が知られており、例えば、３スポッ
ト方式やＤＰＰ（差動プッシュプル）方式が存在する。

【０００３】図１（ａ）は、３スポット方式を採用した
場合の一般的な光学式ピックアップ装置の構成を示して
いる。レーザダイオード１から射出された光は、回折格
子２によって、０次、±１次光に分割され、これらの光
は、偏向ビームスプリッタ３、コリメータレンズ４、１
／４波長板５、対物レンズ６を介して光ディスク１７
に、メインスポット及び一対のサイドスポットとして照
射される。そして、光ディスク１７から反射された光成
分は、同一の経路を戻り偏向ビームスプリッタ３で９０
°偏向されて凹レンズ７、シリンドリカルレンズ８を介
して光検出部に入射する。図１（ｂ）に示すように、メ
インスポットにかかる反射光成分は、Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄ４
つに分割された光ディテクタ９によって検出され、サイ
ドスポットにかかる反射光成分は、それぞれ光ディテク
タ１０，１１によって検出される。

【０００４】４分割光ディテクタ９のそれぞれの光検出
部Ａ〜Ｄによって得られる検出光量に応じた信号（ＳA
，ＳB ，ＳC ，ＳD ）は、加算器によって加算され、
これにより再生信号が得られる。再生信号＝（ＳA ＋Ｓ
C ）＋（ＳB ＋ＳD ）。また、非点収差方式により、上
記得られた信号の（ＳA ＋ＳC ）−（ＳB ＋ＳD ）を検
出することによってフォーカスエラー信号が得られる。
さらに、光ディテクタ１０，１１の検出光量に応じた信
号（ＳE ，ＳF ）の差（ＳE −ＳF ）を検出することに
より、トラッキングエラー信号が得られる。これらのフ
ォーカスエラー信号、トラッキングエラー信号に基づい
て、光スポットが、光ディスク１７のトラックに追従し
合焦状態と成るように、対物レンズ６はフォーカシング
制御、トラッキング制御が成される。

【０００５】図１（ｂ）に示すように、光ディスク上の
トラックＴ_n-1 ，Ｔ_n ，Ｔ_n+1 ……がトラックピッチｐ
で形成されている場合において、メインスポット２０が
トラック中心上にあるときに、サイドスポット２１，２
２は、トラック中心から＋ｑ又は−ｑ（ｑ＝ｐ／４）だ
けトラックピッチ方向にずれて照射される。つまり、こ
のような照射を行うために、回折格子２は、トラック接
線方向に対して角度θg をもって設定される。もちろ
ん、光ディテクタ１０，１１の配置位置もこれに応じて
設定される。

【０００６】ところで、レーザ光源の短波長化や光ディ
スクの記録密度の高密度化が進むにつれ、光ディスクの
トラックピッチがより狭く設定されることになり、これ
によってトラックピッチの異なる２種類以上の光ディス
クが出現する。これに対応して、光ピックアップ装置側
では、サイドスポット２１，２２の照射位置がトラック
の中心から１／４トラックずれるように、回折格子２の
配置を設定し、さらに光ディテクタ１０，１１の配置も
これに対応させれば良いわけであるが、この場合、トラ
ックピッチの異なる光ディスクに対する互換性が阻害さ
れてしまう。

【０００７】例えば、トラックピッチが１．１５μm
（４倍）の光ディスクに対応した光ピックアップ装置を
構成した場合、この光ピックアップ装置を用いて従来の
ＣＤ（ＲＯＭディスク）のようにトラックピッチが１．
６μm （１倍）の光ディスクを再生しようとすると、光
ディテクタ１０，１１に検出される、サイドスポット２
１，２２（トラック中心から±１／４トラックピッチの
位置となっていない）による反射光は非常にＳ／Ｎの悪
いものとなり、光ディテクタ１０，１１の出力について
十分なゲインが得られず安定したトラッキングサーボを
かけることが困難となる。

【０００８】また、ＤＰＰ方式においても、サイドスポ
ットによる反射光を利用してトラッキングエラー信号を
生成しているが、この場合、サイドスポットの位置はメ
インスポットより１／２トラックピッチずれている場合
に、光ディテクタの出力として最大ゲインが得られるも
のである。従って、トラックピッチが異なった場合はサ
イドスポット反射光の検出出力としては、Ｓ／Ｎの低下
は避けられず、同様な問題が生じる。

【０００９】上述したような、トラックピッチが異なる
ディスクを用いて信号を再生する場合に生じる問題を具
体的に説明する。ランド部が形成されているディスクに
おいて、そのトラックピッチをＰ，ランド幅をＬとする
（図２（ａ）参照）。このようなディスクにおいて、
Ｐ，Ｌの値が異なる、例えば３種類のディスクを図２
（ｂ）に示す。すなわち、上から順に、Ｐ1 ＝１．６μ
m ，Ｌ1 ＝１．１μm 、Ｐ2 ＝１．４μm ，Ｌ2 ＝０．
９μm 、Ｐ3 ＝１．１５μm ，Ｌ3 ＝０．７５ μm の
ディスクをそれぞれ示している。この場合、メインスポ
ット（図示せず）がトラックにＯＮしており、サイドス
ポットの中心がランドエッジにあるときをベストの状態
とする。今、光ピックアップ装置が、Ｐ2 ＝１．４μm
，Ｌ2 ＝０．９μm の光ディスク用に設定されてい
るとする。この場合、サイドスポットは、その直径が、
図２（ｂ）の中央に示すように、ランドエッジ上に位置
している。この状態のままで、図２（ｂ）の上下に示す
ように、異なる規格のディスクを用いたとすると、サイ
ドスポットは、その中心がランドエッジから外れてしま
う。すなわち、トラックピッチが広がれば、サイドスポ
ットはランドエッジから内側を照射し（図２（ｃ）参
照）、狭くなれば外側を照射する。

【００１０】従って、異なる規格の光ディスクを用いれ
ば、トラックエラー信号の感度は劣化してしまい、十分
なトラックサーボをかけることができない。上記問題点
を解決するため、特開平５−２４２５２０号公報、及び
特開平５−２３４１０７号公報には、異なる規格の光デ
ィスクが使用されても、安定したトラックサーボをかけ
ることが可能な光ピックアップ装置が開示されている。

【００１１】上記特開平５−２４２５２０号公報に開示
された技術によれば、トラックピッチに応じて光ヘッド
を傾けてサイドスポットの位置を調整し、これにより異
なる規格の光ディスクに対応するように構成されてい
る。

【００１２】しかしながら、この公報に開示されている
技術では、単に光ヘッドを傾ける、と記載しているだけ
で、光ヘッドを傾けるための具体的な手段については何
等開示されていない。通常、光ヘッドを傾けるために
は、モータ等の駆動手段、駆動機構等が必要となり、必
然的に装置全体が大型化、複雑化すると共に、コストア
ップしてしまう。

【００１３】また、上記特開平５−２３４１０７号公報
に開示された技術によれば、複数種類の回折格子を用い
て、トラックピッチの異なる光ディスクに対応したサイ
ドスポットが得られるように構成している。

【００１４】しかしながら、回折格子は、光を分散させ
る機能を有しているため、使用する数を多くすればする
ほど光ディスクに到達する光量が減少してしまう。一般
的には、回折格子を１回通過した光は、メインビームで
約８０％の光量に減少する。従って、２個の回折格子を
用いれば、光量は約６４％、３個の回折格子を使用すれ
ば、５１％となってしまう。この場合、±１次光である
サイドビームは、更に光量が減少してしまう。これを補
うためには、高出力のレーザ光源を用いる必要がある
が、現在でも高出力レーザ光源を使用する追記型や書換
え型の光ディスクに対して、使用が極めて困難となって
いる。

【００１５】この発明は上記問題点を解決するためにな
されたものであり、異なる規格の光ディスクに対応して
ヘッド部分を駆動するための駆動手段等を用いること無
く、また、光量変化が生じることのない、光ディスクの
互換性を実現する光ピックアップ装置を提供することを
目的とする。

【００１６】

【課題を解決するための手段】前記課題を解決するため
に、本発明は、レーザ出力手段と、このレーザ出力手段
からのレーザ光を光学的記録媒体に導くと共に、前記光
学的記録媒体からの反射光を導出する光学系と、前記反
射光を検出する光検出部と、を有する光ピックアップ装
置において、前記光学系は、前記レーザ出力手段からの
レーザ光をメインスポット及びサブスポットに分割する
回折手段を有していると共に、前記光学的記録媒体に対
して、メインスポットに対するサブスポットのトラック
ピッチ方向の間隔が、信号の劣化率が５％以内に抑えら
れるように、ｎ1 ・Ｐ1 （＋Ｌ1 ／２ or −Ｌ1 ／２） ≒ｎ2 ・Ｐ2 （＋Ｌ2 ／２ or −Ｌ2 ／２） ≒ｎ3 ・Ｐ3 （＋Ｌ3 ／２ or −Ｌ3 ／２）≒… …≒＝ｎm ・Ｐm （＋Ｌm ／２ or −Ｌm ／２）（ｎ1 〜ｎm ；トラック数、Ｐ1 〜Ｐm ；トラックピッ
チ、Ｌ1 〜Ｌm ；ランド幅、m ；異なる規格として用い
られる光学的記録媒体の数、＋；サイドスポットが照射
するトラックにおけるメインスポットから遠い方のエッ
ジ、−；サイドスポットが照射するトラックにおけるメ
インスポットから近い方のエッジ）を満足するように配
されており、前記光検出部は、前記メインスポットに対
応する反射光を検出する光検出素子と、サイドスポット
に対応する反射光を検出する光検出素子と、を有するこ
とを特徴としている。

【００１７】また、本発明は、レーザ出力手段と、この
レーザ出力手段からのレーザ光を光学的記録媒体に導く
と共に、前記光学的記録媒体からの反射光を導出する光
学系と、前記反射光を検出する光検出部と、を有する光
ピックアップ装置において、前記光学系は、前記レーザ
出力手段からのレーザ光をメインスポット及びサブスポ
ットに分割して前記光学的記録媒体上に照射する回折手
段を有しており、前記レーザ出力手段は、前記光学的記
録媒体の異なる複数のトラックピッチに適応する波長の
光を射出する複数の光源を有しており、前記光検出部
は、前記複数の光源から射出された光を受光する共通の
光検出器を有することを特徴としている。

【００１８】

【作用】請求項１に記載された発明によれば、３ビーム
方式を採用する光ピックアップ装置において、メインス
ポットがＯＮしているトラックを基準としたサイドスポ
ットのトラッキング方向の距離を、記録密度の異なる光
ディスクが用いられても常にサイドスポットの中心がラ
ンド部のエッジの位置となるように、予め設定してお
く。すなわち、使用される可能性がある光ディスクのト
ラックピッチ、ランド幅を基にして、サイドスポットの
中心が、どの光ディスクでもランド部のエッジの位置と
なるように計算し、その導き出された値に基づいて、回
折格子等の光学要素を設定する。

【００１９】請求項３に記載された発明によれば、光ピ
ックアップ装置の光源として、記録／再生しようとする
光ディスクのトラックピッチに合わせて、最適な波長と
なる、複数種の光源を予め配しておく。

【００２０】また、メインスポット及びサイドスポット
による反射光を検出する光検出部においては、それぞれ
の波長の光源によるメインスポット及びサイドスポット
の反射光に対応する複数組の光検出器を配する。トラッ
キングエラー信号検出方法として、記録／再生する光デ
ィスクのトラックピッチに対応する所定の波長の光を射
出する光源を選択して使用すると共に、それに対応する
光検出器からの所定の出力信号を選択的に用いてトラッ
キングエラー信号を検出するようにする。

【００２１】

【実施例】最初に、本発明に係る光ピックアップ装置の
基本的原理について詳細に説明する。（Ａ）図２を参照して説明したように、サイドスポッ
トの照射位置が一定となっているピックアップ装置で
は、トラックピッチＰが異なると、サイドスポットの照
射位置が変化してしまう。ここで、サイドスポットの中
心が、図２（ｂ）の中央に示されているＰ2 ＝１．４μ
m の光ディスクの、ランドエッジＮｏ．１，２，３……
に来るように、予めピックアップ装置を調整したと仮定
する。この状態でＰ1 ＝１．６μm の光ディスク、及び
Ｐ3 ＝１．１５μm の光ディスクを用いた場合のそれぞ
れの光ディスクでの信号の感度劣化の状態を図３，４の
グラフに示す。サイドスポットの中心が、ランドエッジ
Ｎｏ．１にあるとき、Ｐ1 ＝１．６μm の光ディスクで
は４％の信号の感度劣化が生じ、Ｐ3 ＝１．１５μmの
光ディスクでは１７％の信号の感度劣化が生じた（Ｐ2
＝１．４μm の光ディスクでは、常に感度劣化は０であ
る）。

【００２２】また、サイドスポットの中心が、Ｐ2 ＝
１．４μm の光ディスクの、ランドエッジＮｏ．２に来
るように、予めピックアップ装置を調整したと仮定す
る。この状態で、Ｐ1 ＝１．６μm の光ディスクでは１
９％の感度劣化が生じた。なお、Ｐ3 ＝１．１５μm の
光ディスクでは２０％以上の感度劣化が生じた。このよ
うに、サイドスポットの中心が、Ｐ2 ＝１．４μm の光
ディスクの、いずれかのランドエッジＮｏ．に来るよう
に、予めピックアップ装置を調整しておけば、あるラン
ドエッジＮｏ．において、Ｐ1 ＝１．６μm 及びＰ3 ＝
１．１５μm の両光ディスクに対して、信号の感度劣化
が非常に少ない場合が生じる。

【００２３】ここで、上記信号の感度劣化に関して説明
する。サーボ系のゲイン交点は基準の入力信号に対して
最適化されている。この基準のトラッキングエラー信号
に対して信号の感度が変化すると、それに伴ってサーボ
系のゲイン交点も変化する。ゲイン交点が下がればサー
ボ残差が増加し、ゲイン交点が上がればゲイン／位相余
裕が無くなり、サーボ動作が不安定となる。この理由に
より、ピックアップのトラックエラー信号の振幅の変動
は小さければ小さいほど良い。すなわち、上記信号の感
度劣化が、小さければ小さいほど、トラッキングエラー
信号の振幅の変動は小さくなり、より安定したサーボ動
作が得られる。一般的に、製造時の誤差、経時劣化等を
考慮して、上記信号の感度劣化を、ほぼ５％以内に抑え
ることが好ましい。

【００２４】実験結果を示した図３及び図４のグラフを
参照して具体的に説明する。なお、以下の説明では、メ
インスポットに対してサイドスポットの照射されている
トラックの外側（遠い方）のエッジを外側エッジ（外側
ランドエッジ）と、メインスポットに対してサイドスポ
ットの照射されているトラックの内側（近い方）のエッ
ジを内側エッジ（内側ランドエッジ）と称する。

【００２５】サイドスポットの中心をＰ2 ＝１．４μm
の光ディスクの、ランドエッジＮｏ．５９（２９トラッ
クめの外側エッジに対応）にあるように調整したとき、
Ｐ1 ＝１．６μm の光ディスクに対して信号の感度劣化
がほぼ０％、Ｐ3 ＝１．１５μm の光ディスクに対して
は、信号の感度劣化が０．５％程度という好結果が得ら
れている。すなわち、この時のトラックエラー信号の位
相がずれることによる感度変化は０．５％と非常に小さ
く、トラッキングエラー信号も同等のものが得られ、安
定したトラッキングサーボが実現できる。

【００２６】これは、Ｐ1 ＝１．６μm 、Ｐ3 ＝１．１
５μm の両光ディスクを用いた場合に、いずれもサイド
スポットが、あるトラックのランドエッジに位置するこ
とを示している。すなわち、図２（ｂ）に示されている
ように、サイドスポットは、Ｐ1 ＝１．６μm の光ディ
スクでは、２６トラックめの内側ランドエッジ（エッジ
Ｎｏ．５２）にあり、Ｐ3 ＝１．１５μm の光ディスク
では、３６トラックめの内側ランドエッジ（エッジＮ
ｏ．７２）にある。従って、３つの光ディスクの内、ど
の光ディスクを用いても、サイドスポットの中心はトラ
ックのランドエッジに位置し、良好なトラッキングエラ
ー信号が検出できる。なお、このサイドスポットの位置
は、メインスポットからのトラック方向の距離が４１．
０５μm となっている。

【００２７】また、グラフに示されていないが、サイド
スポットの中心をＰ2 ＝１．４μmの光ディスクの、ラ
ンドエッジＮｏ．３８（１９トラックめの内側エッジ）
にあるように調整したとき、それぞれの光ディスクに対
して信号の感度変化は４．９％程度という好ましい結果
が得られている。図５に示すように、このとき、Ｐ1 ＝
１．６μm の光ディスクのサイドスポットは、１６トラ
ックめの外側ランドエッジ（エッジＮｏ．３３）にあ
り、Ｐ3 ＝１．１５μm の光ディスクでは、２３トラッ
クめの内側ランドエッジ（エッジＮｏ．４６）にある。
なお、このときのサイドスポットの位置は、メインスポ
ットからのトラック方向の距離が２６．１５μm となっ
ている。

【００２８】さらに、図３に示すグラフによれば、サイ
ドスポットの中心をＰ2 ＝１．４μm の光ディスクの、
ランドエッジＮｏ．６にあるように調整したとき、Ｐ1
＝１．６μm の光ディスクに対しては、信号の感度劣化
がほぼ０％、Ｐ3 ＝１．１５μm の光ディスクに対して
は、信号の感度劣化が４．９％程度という好結果が得ら
れている。図６に示すように、このとき、Ｐ1 ＝１．６
μm の光ディスクのサイドスポットは、２トラックめの
外側ランドエッジ（エッジＮｏ．５）にありＰ3 ＝１．
１５μm の光ディスクでは、３トラックめの内側ランド
エッジ（エッジＮｏ．７）にある。なお、このときのサ
イドスポットの位置は、メインスポットからのトラック
方向の距離が３．７５μm となっており、その分記録領
域の使用部分が広くなる。

【００２９】以上をまとめると、規格の異なる２枚の光
ディスクに対して互換性を持たせようとする場合、ま
ず、１つの光ディスクを選択し、サイドスポットの位置
が、その選択された光ディスクのランド部のエッジに位
置するように、予めその距離を設定する。この距離は、
トラックピッチをＰ1 ，ランド幅をＬ1 とすると、ｎ1
・Ｐ1 （＋Ｌ1 ／２ or −Ｌ1 ／２）で与えられる。こ
こでｎ1 は、メインスポットがＯＮしたトラックの隣の
トラックから順に数えたトラック本数を表わし自然数で
ある。そして、この式で与えられる距離が、他の光ディ
スク（トラックピッチをＰ2 ，ランド幅をＬ2 とする）
のランドのエッジ位置である、ｎ2 ・Ｐ2 （＋Ｌ2 ／２
or −Ｌ2 ／２）と等しくなるか、ほぼ等しくなれば、
異なる２種類の光ディスクに対して互換性を持たせるこ
とができる。

【００３０】この結果、互換性を持たせる光ディスクの
種類が多くなれば、その種類に応じてｎ1 ・Ｐ1 （＋Ｌ1 ／２ or −Ｌ1 ／２） ≒ｎ2 ・Ｐ2 （＋Ｌ2 ／２ or −Ｌ2 ／２） ≒ｎ3 ・Ｐ3 （＋Ｌ3 ／２ or −Ｌ3 ／２）≒… …≒＝ｎm ・Ｐm （＋Ｌm ／２ or −Ｌm ／２）……………（１）（ｎ1 〜ｎm ；トラック数、Ｐ1 〜Ｐm ；トラックピッ
チ、Ｌ1 〜Ｌm ；ランド幅、m ；異なる規格として用い
られる光学的記録媒体の数、＋；サイドスポットが照射
するトラックにおけるメインスポットから遠い方のエッ
ジ、−；サイドスポットが照射するトラックにおけるメ
インスポットから近い方のエッジ）、を満足する位置に
サイドスポットを配置することによって規格の異なるす
べての光ディスクに対して互換性を持たせることができ
る。この式（１）において、図２（ｂ）によれば、＋の
場合には奇数番号のエッジ、−の場合には偶数番号のエ
ッジに対応する。また、この場合、各光ディスクに対し
て、信号の感度劣化が５％以内に抑えられる範囲で、上
記式を満たす距離が決定される。

【００３１】実際の光ピックアップ装置では、例えば、
回折手段である回折格子のピッチ、配置角度等を、サイ
ドスポットの位置が上記（１）式を満たすような距離と
なるように、予め設定された状態で作製される。（Ｂ）前述したサイドスポットによる反射光を用いて
トラッキングエラー信号を生成する方式を採用する場
合、例えば、３ビーム法では、図７（ａ）に示すよう
に、光源からのレーザ光は回折格子によって分割され、
光ディスク面上に、図７（ｃ）もしくは（ｄ）に示すよ
うに、３つの光スポットを結ぶ。この場合、図７（ｂ）
に示すように、回折格子を光軸回りに回転調整すること
によって、サイドスポットの照射位置がトラックの中心
から１／４トラックピッチだけずれるようにする。具体
的には、回折格子を、光軸回りで光ディスクのタンジェ
ンシャル方向（Tan.）に対してθ回転させると、光ディ
スクに照射される光スポットは、光ディスクのタンジェ
ンシャル方向からθ傾くので、サイドスポットの位置が
１／４トラックピッチだけずれるように、回折格子の回
転角度θを調整すれば良好なトラッキング信号が得られ
る。

【００３２】図（ｃ）の場合において、使用するレーザ
の波長をλa ，回折格子のピッチをＰg ，回折格子を傾
ける角度をθ，図（ｃ）に示す光ディスクＡのトラック
ピッチをＰa ，メインスポットとサイドスポットとの間
の距離をＬa とすると、Ｌa ＝ｋ／Ｐg ・λa 、Sin θ
＝（Ｐa ／４）／Ｌa 、なる関係がある。ここでｋは、
上記以外の光学系により決まるもので、この場合、光学
系を固定すると定数となる。θを一定（回折格子固定）
とすると、この式はトラックピッチがＰaの光ディスク
を再生するための最適な光源の波長λa を与えることに
なる。

【００３３】この関係から、図７（ｄ）に示すように、
トラックピッチがＰb の光ディスクＢを、上記のままの
光学系を持つ光ピックアップ装置で再生することを考え
る。これは、トラックピッチがＰb の光ディスクにサイ
ドスポットを対応させるためには、回折格子を回転調整
してθを変えるか、あるいは回折格子のピッチを変える
必要があり、いずれの方法も、機構的に複雑な構成とな
ったり、電気的な制御系が複雑になる等、の欠点がある
からである。

【００３４】トラックピッチがＰb の光ディスクを、上
記のままの光学系を持つ光ピックアップ装置で再生する
ためには、光源の波長をλa から次式を満たすλb に変
えれば良いことが分かる。λb ／λa ＝Ｐb ／Ｐa 。な
お、図７（ｃ），（ｄ）に示す２種類の光ディスクで
は、Ｐb ＞Ｐa ，λb ＞λa である。

【００３５】つまり、用いられる光ディスクに対応し
て、その光ディスクのトラックピッチに最適な波長λa
又はλb を与える光源を切換える構成とすることによ
り、光学系はそのままの光ピックアップ装置を用いて、
トラックピッチがＰa ，Ｐb の２種類の光ディスクに対
し、常に最適の条件でトラッキングエラー信号を生成す
ることが可能になる。また、同時に光スポットの大きさ
も変化するので、データ信号の再生条件も最適化され
る。

【００３６】以下、上述した原理（Ａ）を用いた光ピッ
クアップ装置の実施例を説明する。図８（ａ）は、光ピ
ックアップ装置の全体的な概略構成を示す図である。レ
ーザ光源２０から射出されたレーザ光は、コリメータレ
ンズ２１によって平行光束にされ、回折格子２２に入射
し、ここで３分割される。３分割された光は、プリズム
２４によって２つの経路に分けられ、片方の光は前方モ
ニタ２５に入射し、レーザ光源２０から射出されるレー
ザ光のパワーを制御する。他方の光は、図（ｂ）に示す
ように、立上げミラー２６で反射された後、対物レンズ
２７によって集束され、光ディスク３０上に３つのスポ
ットを投射する。

【００３７】光ディスク３０で反射された光は、同一の
経路を戻り、プリズム２４によって反射され、１／４波
長板３３、集光レンズ３５を介してビームスプリッタ３
７に入射する（図（ｃ）参照）。そして、ここで２分割
された光は、光検出器４０，４１にそれぞれ入射し、サ
ーボ信号、ＲＦ信号が生成される。

【００３８】このように構成された光ピックアップ装置
において、その光学系は、光ディスクに投射される光ス
ポットが前記（Ａ）の（１）式を満たすように、予め設
定されている。これは、用いられる可能性がある異なる
規格の光ディスクに対応してサイドスポットのトラック
方向へのずれの距離が、前記（Ａ）の（１）式によって
設定されており、例えば、回折格子２２のピッチ、回転
角度等によって予め設定されている。このため、この光
ピックアップ装置によれば、異なる光ディスクに対応し
て、サイドスポットの位置を変えるような回折格子の駆
動機構等は必要とされない。

【００３９】また、本発明の原理は、図８に示された光
ピックアップ装置以外にも、例えば特開平５−３０７７
５９号に開示されているような、ユニット化された光ピ
ックアップ装置においても応用することができる。この
場合、ＨＯＥ（Hologram op--tical Element）のグレー
ティングを、ビームの分離間隔が前記（Ａ）の（１）式
を満たすように、予め設定しておけば良い。このように
ユニット化された光ピックアップ装置でも、前記（Ａ）
で述べたように構成しておくことによって、より小型、
計量化された互換性のある光ピックアップ装置が得られ
る。もちろん、その他にも、本発明は、３ビーム法が用
いられる光ピックアップ装置すべてに応用することがで
きる。

【００４０】次に、上述した原理（Ｂ）を用いた光ピッ
クアップ装置の実施例を説明する。図９は、光ピックア
ップ装置の全体的な概略を示す図である。この光ピック
アップ装置は、用いられる２種類の光ディスクに対し
て、適切な波長のレーザ光を射出する、２つのレーザ光
源５０ａ，５０ｂを有している。レーザ光源５０ａ又は
５０ｂから射出されたレーザ光は、それぞれ、コリメー
トレンズを介してプリズム５２に入射し、回折格子５３
及びＡＰＣ用の光検出器５５に向けられる。この光検出
器５５からの信号は、ＬＤドライバ７５に入力され、レ
ーザ光を射出しているレーザ光源の出力を制御する。ま
た、回折格子５３に向けられた光は、ここで３分割さ
れ、プリズム５７、対物レンズ５９を介して、光ディス
ク６０ａ（６０ｂ）上に３つのスポットとして集束され
る。

【００４１】そして、光ディスク６０ａ（６０ｂ）から
の３つのスポットの反射光は、プリズム５７で反射さ
れ、集光レンズ６２及びフォーカスエラー検出用光学系
６３を介して、それぞれ光検出器６７〜６９で検出され
る。これらの検出器で検知された信号は信号処理回路７
０を介してＣＰＵ７１に入力される。ＣＰＵ７１は、図
示されていないサーボ機構を駆動するための駆動手段に
接続されており、光検出器６７〜６９で得られた信号に
基づいて、光スポットが常に光ディスクのトラックに合
焦、追従するようにサーボ信号を発生する。

【００４２】また、信号処理回路７０及びＣＰＵ７１
は、トラックピッチ判定回路７３を介してＬＤドライバ
７５に接続されており、取り込まれた光ディスク６０ａ
または６０ｂに対して、適切なレーザ光源５０ａ又は５
０ｂを選択するようになっている。具体的に本実施例に
おける光ディスクのトラックピッチ判別方法について説
明する。まず、取り込まれた光ディスクに対して、短波
長であるλa の光源５０ａを用いて再生を行い、再生が
可能であれば、光ディスクのフォーマット中にあるディ
スク情報を確認し、トラックピッチ判定回路７３で最終
的に使用する光源を確定する。この場合、短波長での再
生が不可能であった場合には、次に波長λb の光源５０
ｂに切替えて再生を試み、再生が可能であれば、前記同
様にディスク情報に従って使用する光源を確定する。ま
た、どちらの光源でも再生できなかったり、ディスク情
報を再生した結果、適応できる光源を持ってない場合
は、光ディスク不適合として記録／再生を行わないよう
にする。これは、トラッキングエラー信号が不安定な状
態で記録／再生を行って、データを破壊したり、誤読し
たりすることを避けるためである。

【００４３】次に、図１０を参照して、実際に光ディス
ク上での３つのビームスポットと、各ビームスポットの
反射光を検出する光検出器６７〜６９との関係を説明す
る。この図では、トラックピッチがＰa の光ディスク６
０ａとトラックピッチがＰbの光ディスク６０ｂの２種
類が上下に分割して示してある。光検出器６７は４分割
されており、それぞれの検出部を６７ａ，６７ｂ，６７
ｃ，６７ｄとする。また、トラックピッチがＰa の光デ
ィスク６０ａに照射される光スポットの内、メインスポ
ットは８０ａで、＋１次光によるサイドスポットは８１
ａで、−１次光によるサイドスポットは８２ａで、それ
ぞれ示されており、同様に、トラックピッチがＰb の光
ディスク６０ｂに照射される光スポットの内、メインス
ポットは８０ｂで、＋１次光によるサイドスポットは８
１ｂで、−１次光によるサイドスポットは８２ｂで、そ
れぞれ示されている。

【００４４】図９において示された回折格子５３は、ト
ラックの接線方向に対してθの角度をもって配されてい
る。この配置状態で、それぞれの光源５０ａ及び５０ｂ
から射出されたレーザ光が回折格子５３によって分割さ
れたときに、共にそれぞれのサイドビームがトラック中
心から±１／４トラックピッチだけずれた位置に照射さ
れるように、各レーザ光の波長λa 及びλb は設定され
ている。

【００４５】光ディスクからの反射光を検出する光検出
器は、それぞれのメインスポット及びサイドスポットに
対応して配される。本実施例では、＋１次のサイドスポ
ット８１ａ，８１ｂに対応する光検出器と、−１次のサ
イドスポット８２ａ，８２ｂに対応する光検出器とを、
それぞれ１つの光検出器６８，６９で共通化して用いて
いる。また、メインスポットの反射光は、同一位置に導
かれるように光源５０ａ，５０ｂの位置を設定してい
る。これにより、光ディスクのトラックピッチにより、
光源を選択して用いるが、光検出器は共通して使用でき
るようになっている。

【００４６】ここで、各エラー信号と再生信号の生成に
ついて説明する。まず、再生信号はメインスポットの反
射光を検出する光検出器６７の光検出部６７ａ〜６７ｄ
で得られる信号の総和によって得られる。この場合、そ
れぞれの光検出部で得られる出力をＳ６７ａ〜Ｓ６７ｄ
とすると、再生信号＝（Ｓ６７ａ＋Ｓ６７ｂ）＋（Ｓ６
７ｃ＋Ｓ６７ｄ）によって得られる。フォーカスエラー
信号は、非点収差法により、メインスポットの反射光を
検出する光検出器６７の対角部分の光検出部で得られる
信号の差信号、すなわち、フォーカスエラー信号＝（Ｓ
６７ａ＋Ｓ６７ｂ）−（Ｓ６７ｃ＋Ｓ６７ｄ）によって
得られる。トラッキングエラー信号は、±１次のサイド
スポットの反射光を検出する光検出器で得られる信号の
差信号、すなわち、トラッキングエラー信号＝（６９の
出力）−（６８の出力）によって得られる。

【００４７】このように、本実施例によれば、光ディス
クのトラックピッチ及び記録密度に応じて光源の波長を
最適に選ぶので、トラッキングエラー信号や再生信号の
変調度（信号振幅）が最適状態となり、異なる規格のデ
ィスクであってもＳ／Ｎの良いエラー信号が得られる。
また、回折格子が１枚で済み、且つサイドスポットの位
置を変えるような回折格子の駆動機構等が必要でなくな
る。よって光ピックアップ装置のダウンサイジング化が
可能となる。

【００４８】さらに、上述した原理（Ｂ）を用いた光ピ
ックアップ装置の別の実施例を図１１乃至図１４を参照
して説明する。この実施例では、図１４に示すように、
半導体レーザ、光検出器及びホログラムをユニット化
し、このユニット９０からの射出光を対物レンズ１１２
を介して光ディスク１１３に照射し、その反射光を同一
の経路を戻してユニット９０内に入射させるように構成
されている。なお、これらの図において、図１１は、ユ
ニット化された部分の側面図、図１２（ａ）は、半導体
基板部分の平面図、図１２（ｂ）は、ａ−ａ′に沿った
断面図、そして、図１３は、光検出部分の拡大した平面
図である。

【００４９】このユニット９０は、半導体基板１０９を
備えており、この半導体基板上には、半導体レーザ１０
１ａ，１０１ｂをマウントすると共に、これらの半導体
レーザのｘ方向両サイドに、ｙ方向に並んで、それぞれ
３個の光検出器１０６，１０７，１０８及び１０３，１
０４，１０５をそれぞれ形成する。これらの光検出器の
うち、中央の光検出器１０７及び１０４は、それぞれｙ
方向に３分割された受光部１０７ａ，１０７ｂ，１０７
ｃ及び１０４ａ，１０４ｂ，１０４ｃで構成されてい
る。また、半導体レーザ１０１ａ及び１０１ｂは、半導
体基板１０９にエッチングにより形成した凹部１０２ａ
にマウントされ、その凹部１０２ａのエッチングによる
斜面１０２ｂをミラー面として、半導体レーザ１０１
ａ，１０１ｂから半導体基板１０９の平面と平行な方向
に射出される光束を、ミラー面１０２ｂで半導体基板１
０９の略法線方向に反射させる。なお、半導体レーザ１
０１ａ，１０１ｂの後方には、光出力モニタ用光検出器
１１１が配されており、ここからの出力に基づいてレー
ザパワーが制御される。

【００５０】半導体基板１０９上には、透明層を介して
ＨＯＥ１００が配されている。このＨＯＥ１００には、
半導体基板側の表面に各半導体レーザ１０１ａ，１０１
ｂからの光束を、０次光、±１次光に回折させるグレー
ティング１００ａが、半導体基板と反対側の表面にホロ
グラムパターン１００ｂがそれぞれ形成されている。こ
のホログラムパターン１００ｂは、図示されていない光
ディスクからの戻り光の±１次回折光に、互いに逆方向
のパワーを与えるように、以下の式を満足するパターン
を持って形成する。ｆ（ｘ，ｙ）＝Ｆｘ＋Ｇｘ² ＋Ｈｙ
² −ｎλ＝０、ただし、ｎは整数、λは波長、Ｆ，Ｇ，
Ｈは定数である。なお、ｘ，ｙ，ｚ座標の原点は、光軸
とホログラム面の交点とし、光軸方向をｚ軸、ホログラ
ムの回折方向をｘ軸としている。

【００５１】上記構成において、例えば、半導体レーザ
１０１ａからの射出光は、ミラー面１０２ｂで反射され
た後、グレーティング１００ａで１本のメインビームと
２本のサブビームとの３本のビームに分離され、それぞ
れ対物レンズ１１２を介して光ディスク１１３に照射さ
れる（図１４参照）。これらの３本の光束の光ディスク
からの戻り光は、逆の経路をたどってホログラムパター
ン１００ｂに入射してそれぞれ回折され、メインビーム
の±１次回折光が、中央の光検出器１０７，１０４にそ
れぞれ入射し、一方のサブビームの±１次回折光が、例
えば光検出器１０６及び１０３に、他方のサブビームの
±１次回折光が、光検出器１０８及び１０５にそれぞれ
入射する。なお、ホログラムパターン１００ｂは、±１
次回折光に互いに逆方向のパワーを与えるように構成さ
れているので、各光束の例えば、＋１次回折光は、半導
体基板１０９の後方で焦点を結び、−１次光は前方で焦
点を結ぶことになる。

【００５２】ここで、光ディスク１１３に対して対物レ
ンズ１１２が合焦位置にあるとき、図１２に示すよう
に、光検出器１０７及び１０４に入射するそれぞれの光
束のスポット１０７Ｓａ及び１０４Ｓａの大きさが等し
く、かつそれらのスポット１０７Ｓａ及び１０４Ｓａの
中心が、受光領域１０７ｂ，１０４ｂの中心にそれぞれ
位置するように設定すれば、対物レンズ１１２が合焦位
置よりも光ディスク側に近付いたときと反対に遠ざかっ
たときには、非合焦の方向に応じてスポット１０７Ｓａ
及び１０４Ｓａの大きさが反転する。従って、光検出器
１０７の受光部１０７ａ，１０７ｂ，１０７ｃの出力
を、それぞれＡ１，Ａ２，Ａ３とし、光検出器１０４の
受光部１０４ａ，１０４ｂ，１０４ｃの出力を、それぞ
れＡ４，Ａ５，Ａ６とすると、フォーカスエラー信号Ｆ
ＥＳは、ＦＥＳ＝（Ａ１＋Ａ５＋Ａ６）−（Ａ２＋Ａ３
＋Ａ４）で得られる。また、トラッキングエラー信号Ｔ
ＥＳは、光検出器１０６，１０８、１０３，１０５の出
力を、それぞれＢ１，Ｂ２，Ｂ３，Ｂ４とすると、スリ
ービーム法により、ＴＥＳ＝（Ｂ１＋Ｂ３）−（Ｂ２＋
Ｂ４）で得られる。

【００５３】一方、半導体レーザ１０１ｂを発光させた
場合、光ディスクからの反射光は、図１２で図示する光
検出器１０６，１０７，１０８，１０３，１０４，１０
５上の点線で示したスポットとなる。なお、フォーカス
エラー信号、トラッキングエラー信号の生成方法は前記
半導体レーザ１０１ａを発光させた場合と同じであるた
め、説明は省略する。もちろん、この実施例において
も、２つの半導体レーザ１０１ａ，１０１ｂから射出さ
れるレーザ光の波長λa 及びλb は、再生する光ディス
ク１１３の２つのトラックピッチＰa ，Ｐb に対して、
λa ／Ｐa ＝λb／Ｐb を満足する波長を有するレーザ
チップとなっている。

【００５４】このように、光検出手段、２つの光源を同
一基板上に形成し、かつＨＯＥに３ビーム生成手段と、
フォーカスエラー用ビーム生成手段を設け、同一パッケ
ージ内に納めてユニット化を図っているため、互換性の
ある光ピックアップ装置の小型化が図れる。

【００５５】さらに、図１２の光検出部１０４ａ〜１０
４ｃ及び１０７ａ〜１０７ｃの大きさ（ｙ方向の幅）
を、図１３に示すように使用する光源に対応するスポッ
トの大きさに合わせて変えることが好ましい。すなわ
ち、図１２及び図１３に示すように、光源１０１ａ使用
時のスポット１０４Ｓａ及び１０７Ｓａと、光源１０１
ｂ使用時のスポット１０４Ｓｂ及び１０７Ｓｂとは、共
に、光検出部１０４ｂ及び１０７ｂに入射する部分の面
積（図１３のスポット１０７Ｓａ，１０７Ｓｂの斜線
部）のスポット全体の面積に対する比率が等しくなるよ
うに、光検出部１０４及び１０７は形成されている。こ
の場合、スポット１０７Ｓａ及び１０４Ｓａを受光する
部分の光検出部１０４ｂ及び１０７ｂの幅はｌａであ
り、スポット１０７Ｓｂ及び１０４Ｓｂを受光する部分
の光検出部１０４ｂ及び１０７ｂの幅は、それよりも広
いｌｂとなっている。

【００５６】ここで、フォーカスエラー信号ＦＥＳは、
それぞれ光検出部１０４ａ，１０４ｂ，１０４ｃ及び１
０７ａ，１０７ｂ，１０７ｃからの出力を、Ａ４，Ａ
５，Ａ６及びＡ１，Ａ２，Ａ３とすると、ＦＥＳ＝（Ａ
５＋Ａ１＋Ａ３）−（Ａ２＋Ａ４＋Ａ６）で得られる。
この式に対して、フォーカスエラー信号を光検出部１０
４ａ，１０４ｂ，１０４ｃ及び１０７ａ，１０７ｂ，１
０７ｃの出力の総和で規格化した信号（ＦＥ）を考え
る。光検出部１０４ａ，１０４ｂ，１０４ｃの出力の総
和Ｐ4 の大きさと、光検出部１０７ａ，１０７ｂ，１０
７ｃの出力の総和Ｐ7 の大きさは等しく、その値をＰ
_SUM とする。すると、（ＦＥ）＝（（Ａ５＋Ａ１＋Ａ３）−（Ａ２＋Ａ４＋Ａ
６））／２Ｐ_SUM ＝（（Ａ１＋Ａ３−Ａ２）−（Ａ４＋
Ａ６−Ａ５））／２Ｐ_SUM ……（ｉ）となる。

【００５７】各光検出部の出力は、それが受光している
スポットの面積に比例するので、（ｉ）式の右辺は、光
検出部に入射したスポットの全体の面積と、全体から中
央の光検出部に入射する部分の面積を除いた面積の比に
なっていることが分かる。よって、本実施例において
は、使用する光源が変わっても、光検出部１０４ｂ及び
１０７ｂに入射するスポットの面積と、スポット全体の
面積との比が一定であるので、上記（ｉ）式の右辺が、
光源の波長によらず一定となり、半導体レーザの出力を
一定とすれば、常に同じ大きさのフォーカスエラー信号
を得ることができる。つまり、フォーカスエラー信号の
検出感度を一定にすることができる。

【００５８】このように、本実施例では、使用する光源
の波長によらず、フォーカスエラー信号の検出感度が一
定となるので、光源を変えるごとに、電気的に感度補正
等を行う必要がなくなり、常に安定したフォーカシング
を保つことができる。

【００５９】以上、本発明の実施例を説明したが、本発
明は、上述した形式の光ピックアップ装置に限定される
ことはなく、上記した原理（Ａ）または（Ｂ）を用いて
いれば、どの様な形式の光ピックアップ装置であっても
差支えない。

【００６０】以下、本発明の実施の態様を、上記した特
許請求の範囲の請求項を引用して以下に記載する。（１）前記レーザ出力手段と光検出部とは同一基板上
に形成されており、前記式を満たす光学系の回折手段は
ホログラム素子であり、これらはユニット化されている
ことを特徴とする、請求項１に記載の光ピックアップ装
置。（２）前記光ピックアップ装置は、記録／再生動作が
実行される光学的記録媒体のトラックピッチに応じて、
前記波長の異なるレーザ光を射出する複数の光源の中か
ら所定の光源を選択する選択手段を有していることを特
徴とする、請求項２に記載の光ピックアップ装置。（３）前記レーザ出力手段と光検出部とは同一基板上
に形成されており、前記メインスポット及びサブスポッ
トを形成する回折手段とフォーカスエラー用ビーム生成
手段とを１つのホログラム素子として構成し、これらを
ユニット化したことを特徴とする、請求項２又は上記
（２）に記載の光ピックアップ装置。（４）前記光検出器は、前記複数の光源でそれぞれ得
られる異なるスポットサイズに対応して、同一の検出感
度が得られるように構成されていることを特徴とする、
上記（３）に記載の光ピックアップ装置。

【００６１】

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
異なる光ディスクに対応してヘッド部分を駆動するため
の駆動機構を必要としない互換性のある光ピックアップ
装置が得られる。また、本発明によれば、異なる光ディ
スクを用いて記録／再生を行う場合、光ディスクに照射
される光量が劣化するようなことがないため、良好な検
出信号を得ることができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】（ａ）は、一般的な光ピックアップ装置の概略
構成を示す図、（ｂ）は、３スポットによるトラッキン
グエラー信号の生成方式の説明図。

【図２】本発明の原理を説明するための図であり、
（ａ）は、光ディスクのトラックピッチとランド幅を示
す図、（ｂ）は、異なるトラックピッチを有する３種類
の光ディスクを拡大した図であり、それぞれの光ディス
クにおいて、サイドスポットがランドエッジに位置した
ときの状態を示す図、（ｃ）は、トラックピッチの狭い
光ディスクから広い光ディスクにしたときのサイドスポ
ットの状態を示す図。

【図３】サイドスポットの中心を、トラックピッチ１．
４μm の光ディスクのランドエッジに位置させた状態に
おいて、トラックピッチが１．６μm 及び１．１５μm
の光ディスクにしたときのサイドスポットによる信号の
感度劣化を示すグラフ。

【図４】図３の続きを示すグラフ。

【図５】異なるトラックピッチを有する３種類の光ディ
スクを拡大した図であり、それぞれの光ディスクにおい
て、図２（ｂ）で示す位置と異なる位置でサイドスポッ
トがランドエッジに位置したときの状態を示す図。

【図６】異なるトラックピッチを有する３種類の光ディ
スクを拡大した図であり、それぞれの光ディスクにおい
て、図２（ｂ），図５で示す位置と異なる位置でサイド
スポットがランドエッジに位置したときの状態を示す
図。

【図７】本発明の原理を説明するための図であり、
（ａ）は、一般的な３ビーム法による光ピックアップ装
置の概略を示す図、（ｂ）は、回折格子の構成及び配置
状態を示す図、（ｃ）は、トラックピッチが狭い光ディ
スクの３つのスポット状態を示す図、（ｄ）は、トラッ
クピッチが広い光ディスクの３つのスポット状態を示す
図。

【図８】（ａ）は、本発明の実施例を説明するための光
ピックアップ装置の概略を示す図、（ｂ）は、（ａ）の
図において立上げミラー部分を示す図、（ｃ）は、
（ａ）の図において、光検出器の部分を示す図。

【図９】本発明の別の実施例を説明するための光ピック
アップ装置の概略を示す図。

【図１０】図９に示した光ピックアップ装置において、
トラックピッチの異なる２種類の光ディスクを用いた場
合を示すと共に、光検出部分を拡大して示す図。

【図１１】本発明のさらに別の実施例を説明するための
光ピックアップ装置の概略を示す図。

【図１２】図１１に示された光ピックアップ装置におい
て、（ａ）はシリコン基板部分の平面図、（ｂ）は、
（ａ）の図において、ａ−ａ′線に沿った断面図。

【図１３】図１１に示された光ピックアップ装置におい
て、光検出器部分を拡大した平面図。

【図１４】図１１に示された光ピックアップ装置におい
て、光ディスクとの配置関係を示した概略図。

【符号の説明】

２０…レーザ光源、２２…回折格子、３０…光ディス
ク、４０，４１…光検出器、５０ａ，５０ｂ…レーザ光
源、５３…回折格子、６０ａ，６０ｂ…光ディスク、６
７，６８，６９…光検出器、９０…ユニット、１００…
ＨＯＥ、１００ａ…グレーティング、１００ｂ…ホログ
ラムパターン１０１ａ，１０１ｂ…半導体レーザ、１０
３〜１０８…光検出器、１０９…半導体基板、１１３…
光ディスク。

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】レーザ出力手段と、このレーザ出力手段
からのレーザ光を光学的記録媒体に導くと共に、前記光
学的記録媒体からの反射光を導出する光学系と、前記反
射光を検出する光検出部と、を有する光ピックアップ装
置において、前記光学系は、前記レーザ出力手段からのレーザ光をメ
インスポット及びサブスポットに分割する回折手段を有
していると共に、前記光学的記録媒体に対して、メイン
スポットに対するサブスポットのトラックピッチ方向の
間隔が、信号の劣化率が５％以内に抑えられるように、ｎ1 ・Ｐ1 （＋Ｌ1 ／２ or −Ｌ1 ／２） ≒ｎ2 ・Ｐ2 （＋Ｌ2 ／２ or −Ｌ2 ／２） ≒ｎ3 ・Ｐ3 （＋Ｌ3 ／２ or −Ｌ3 ／２）≒… …≒＝ｎm ・Ｐm （＋Ｌm ／２ or −Ｌm ／２）（ｎ1 〜ｎm ；トラック数、Ｐ1 〜Ｐm ；トラックピッ
チ、Ｌ1 〜Ｌm ；ランド幅、m ；異なる規格として用い
られる光学的記録媒体の数、＋；サイドスポットが照射
するトラックにおけるメインスポットから遠い方のエッ
ジ、−；サイドスポットが照射するトラックにおけるメ
インスポットから近い方のエッジ）を満足するように配
されており、前記光検出部は、前記メインスポットに対応する反射光
を検出する光検出素子と、サイドスポットに対応する反
射光を検出する光検出素子と、を有することを特徴とす
る光ピックアップ装置。
【請求項２】レーザ出力手段と、このレーザ出力手段
からのレーザ光を光学的記録媒体に導くと共に、前記光
学的記録媒体からの反射光を導出する光学系と、前記反
射光を検出する光検出部と、を有する光ピックアップ装
置において、前記光学系は、前記レーザ出力手段からのレーザ光をメ
インスポット及びサブスポットに分割して前記光学的記
録媒体上に照射する回折手段を有しており、前記レーザ出力手段は、前記光学的記録媒体の異なる複
数のトラックピッチに適応する波長の光を射出する複数
の光源を有しており、前記光検出部は、前記複数の光源から射出された光をそ
れぞれ受光する共通の光検出器を有することを特徴とす
る、光ピックアップ装置。