JPH08163078A - 拡散通信における干渉レベル測定方法および干渉レベル測定装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】拡散通信システムにおける干渉レベルの測定を
小さなハードウェア規模で実現できるようにする。 【構成】ＰＧ＋１チップ分のシフトレジスタ１に入力さ
れるＰＧ−Ｗチップ分のレプリカＰＮ符号を予め第１ア
キュームレータ２で積算しておき、以降は、第１のアキ
ュームレータ２によって、チップ毎に、Ｗチップ目のＢ
レジスタの値を加算するとともに、ＰＧ＋１チップ目の
Ｃレジスタの値を減算して新たな積算値とし、この新た
な積算値と受信信号ＲＸｉとを乗算器３で乗算し、その
乗算結果を第２のアキュームレータ４で積算してシンボ
ル毎の干渉レベルを出力する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、ディジタル拡散通信シ
ステムにおける干渉レベル測定方法および干渉レベル測
定装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】ディジタル拡散通信システムにおける干
渉レベルの測定としては、例えば、図２のブロック図に
示されるような構成が考えられる。

【０００３】この干渉レベル測定装置は、受信信号ＲＸ
ｉおよびレプリカＰＮ符号が入力されるディジタルマッ
チドフィルタ（ＤＭＦ）５と、ディジタルマッチドフィ
ルタ５からの相関値の内の受信時間窓以外の相関値を積
算して干渉レベルを出力するアキュームレータ６とを備
えている。

【０００４】図３は、図２のディジタルマッチドフィル
タ５の詳細構成図であり、このディジタルマッチドフィ
ルタ５は、受信信号ＲＸｉのチップ毎の受信相関値を算
出するものである。

【０００５】このディジタルマッチドフィルタ５は、受
信信号ＲＸｉが入力されるＰＧ長のシフトレジスタ７
と、レプリカＰＮ符号が入力されるＰＧ長のシフトレジ
スタ８と、受信信号ＲＸｉとレプリカＰＮ符号との乗算
をチップ毎にそれぞれ行う複数の乗算器９と、乗算結果
を加算して、そのチップ時点での相関値として出力する
加算器１０とを備えている。

【０００６】ここで、ＰＧとは、１シンボルのプロセス
ゲーンをいう。シンボルとは、ディジタルデータの１ビ
ットをいい、このシンボルを拡散し、拡散符号として送
信するものである。１シンボルのプロセスゲーンとは、
１シンボルを拡散符号で表現するのに何チップ使用した
かを示すものである。

【０００７】例えば、シンボル”１”を拡散して送信す
るために、拡散符号を、｛０,１,１,１,１,０,１,０,
１,１,０,０,１,０,０,０｝とすると、拡散符号の１６
チップを使用しているので、ＰＧ＝１６となる。

【０００８】再び、図２および図３を参照して、干渉レ
ベルを測定するには、ディジタルマッチドフィルタ５に
よって受信信号ＲＸｉのチップ毎の受信相関値を演算
し、図４に示されるように、受信信号ＲＸｉの一番相関
値の大きいパスである主波１１に対して±数チップ分の
時間を受信時間窓１３として開く。この受信時間窓１３
に入る受信相関値は全部希望波として見なすことがで
き、この受信時間窓１３に入らない受信相関値（窓外相
関値）１２はすべて干渉として見なすことができ、この
窓外相関値を積算したもので干渉レベルを定義するので
ある。

【０００９】ディジタルマッチドフィルタ５による相関
値の演算について説明する。受信信号ＲＸｉをシフトレ
ジスタ７に蓄積し、この蓄積した受信信号ＲＸｉと、シ
フトレジスタ８に蓄積されているレプリカＰＮ符号とを
チップ毎に乗算器９で乗算し、その乗算結果を加算器１
０で加算して、そのチップ時点の相関値として出力する
のである。

【００１０】そして、アキュームレータ６は、シンボル
毎に受信時間窓外信号のみを積算して干渉レベルとして
出力するのである。

【００１１】なお、この干渉レベル測定装置は、下記の
数式１で示される干渉レベル測定式に基づくものであ
る。

【００１２】

【数１】

【００１３】但し、CODELEN＝拡散符号の周期 ＰＧ＝１シンボルのプロセスゲーン、 Ｉ＝逆拡散した干渉レベル ｍ＝レプリカ符号を基準としたチップオフセット ｉ＝受信信号に同期したレプリカ符号の先頭からｉ番目
のチップ ＲＸ（ｉ）＝逆拡散前の受信ベースバンド信号 ＰＮ（ｉ）＝拡散符号（レプリカ符号） Ｗ＝受信時間窓に対応するチップ数

【００１４】

【発明が解決しようとする課題】ところが、このような
干渉レベルの測定装置では、乗算、加算の演算量がＰＧ
の値のために多くなり、ディジタルマッチドフィルタな
どのハードウェア規模が大きくなったり、あるいは、超
高速回路が必要になるといった難点がある。

【００１５】本発明は、上述の技術的課題に鑑みて為さ
れたものであって、小さくかつ簡単なハードウェア構成
によって干渉レベルの測定を行えるようにすることを目
的とする。

【００１６】

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明では、次のように構成している。

【００１７】すなわち、請求項１記載の本発明の干渉レ
ベル測定方法は、一定チップ分のレプリカＰＮ符号を予
め積算し、前記積算値をチップ毎に順次修正して新たな
積算値とすることにより、所定の干渉レベル測定式に従
った干渉測定用の多値レプリカＰＮ符号を演算するとと
もに、この演算結果と受信信号との乗算をチップ毎に行
い、この乗算結果を積算して干渉レベルとして出力する
ものである。

【００１８】請求項２記載の本発明の干渉レベル測定装
置は、一定チップ分のレプリカＰＮ符号が予め積算され
た積算値を、チップ毎に順次修正して新たな積算値とす
る第１の積算器と、この第１の積算器からの積算値と受
信信号との乗算をチップ毎に行う乗算器と、この乗算器
の乗算結果を積算して干渉レベルとして出力する第２の
積算器とを備えている。

【００１９】

【作用】本発明は、レプリカＰＮ符号の一定チップ分を
予め積算し、チップ毎にこの積算値を修正して新たな積
算値とすることにより、干渉測定用のレプリカＰＮ符号
を演算した後、その演算結果と受信信号との乗算を行う
ので、受信信号とレプリカＰＮ符号とをチップ毎に乗算
し、その乗算結果を加算器で加算する構成に比べて、構
成が簡素化されるとともに、図２の構成と同様の干渉レ
ベルの測定が可能となる。

【００２０】

【実施例】以下、図面によって本発明の実施例について
詳細に説明する。

【００２１】図１は、本発明の一実施例の構成図であ
り、この実施例の干渉レベル測定装置は、逆拡散するた
めのレプリカＰＮ符号が順次入力されるＰＧ＋１チップ
分のシフトレジスタ１と、このシフトレジスタ１のレプ
リカＰＮ符号の一定チップ（ＰＧ−Ｗ）分が後述のよう
にして予め積算されるとともに、該積算値をチップ毎に
順次修正した新たな積算値として出力する第１のアキュ
ームレータ２と、この第１のアキュームレータ２の積算
値と受信信号ＲＸｉとの乗算をチップ毎に行う乗算器３
と、この乗算器３の乗算結果を積算して干渉レベルとし
て出力する第２のアキュームレータ４とを備えている。

【００２２】ＰＧ＋１チップ分のシフトレジスタ１のＷ
チップ目は、Ｂレジスタ１ｂであり、ＰＧ＋１チップ目
は、Ｃレジスタ１ｃである。なお、上述と同様に、ＰＧ
は、１シンボルのプロセスゲーン、Ｗは受信時間窓に対
応するチップ数である。

【００２３】ここで、本発明の干渉レベル測定方法の基
本的な考え方を説明する。

【００２４】本発明では、上述の数式１で示される干渉
レベル測定式を下記の数式２に示されるように変形す
る。

【００２５】

【数２】

【００２６】ここで、下記の数式３のように置くと、

【００２７】

【数３】

【００２８】数式２は、数式１と同様に考えられ、数式
３のＡ（ｉ）は、干渉レベル測定用の多値なレプリカＰ
Ｎ符号と見なすことができる。

【００２９】そこで、この実施例では、多値なレプリカ
ＰＮ符号であるＡ（ｉ）を、第１のアキュームレータ２
で演算し、この多値なレプリカＰＮ符号Ａ（ｉ）と受信
信号ＲＸｉとの乗算を、乗算器３にて行い、その乗算結
果を、第２のアキュームレータ４で積算することによ
り、上述の数式２で示される干渉レベルとして出力する
ものである。

【００３０】さらに、この第１のアキュームレータ１に
よるレプリカＰＮ符号Ａ（ｉ）の演算は、構成を簡素化
するために、次のようにしている。

【００３１】すなわち、予めＰＧ−Ｗチップ分のレプリ
カＰＮ符号を積算しておき、以降は、レプリカＰＮ符号
が入力される度に、すなわち、チップ毎に、それまでの
積算値に、Ｂレジスタ１ｂのレプリカＰＮ符号の値を加
算するとともに、Ｃレジスタ１ｃのレプリカＰＮ符号の
値を減算して新たな積算値とし、その値を修正された積
算値としてチップ毎に順次出力するのである。

【００３２】これは、レプリカＰＮ符号は、完全なラン
ダムデータではなく、ＰＧ−Ｗチップ前のＰＮ符号であ
り、それで、ＰＧ−Ｗチップ分の積算値を、第１のアキ
ュームレータ２に予め積算しておけば、チップ毎に、こ
の積算値の変動成分だけで第１のアキュームレータ２の
積算値を調整すれば十分であると考えられるからであ
る。この変動成分とは、Ｂレジスタ１ｂおよびＣレジス
タ１ｃの値であり、したがって、Ａ（ｉ）は、この第１
のアキュームレータ２の積算値＋Ｂレジスタ１ｂの値−
Ｃレジスタ１ｃの値となる。

【００３３】次に、この実施例の動作を詳細に説明す
る。

【００３４】先ず、レプリカＰＮ符号の位相と受信信号
ＲＸｉのＰＮ位相が、既に外部の同期獲得回路等で一致
しているものとする。

【００３５】そこで、希望波の一番大きい相関値で定義
する主波に対して±数チップ分の時間を図４に示される
ように受信時間窓１３として開ける。この実施例では、
受信時間窓１３に対応するチップ数は、上述のようにＷ
である。

【００３６】受信時間窓を開けるのに伴って、初期設定
モードとされて、次のように動作する。先ず、干渉レベ
ル測定装置の第１，第２のアキュームレータ２，４をリ
セットし、レプリカＰＮ符号のチップ毎に発生したＰＮ
符号をＰＮ蓄積用のシフトレジスタ１に入力する。

【００３７】最初のＷチップまでのＰＮ符号は、シフト
レジスタ１に順次入力されるだけであり、Ｗチップ目の
Ｂレジスタ１ｂに初めてＰＮ符号が入力される。この次
の時点からＰＧ−Ｗチップ後までの期間に、シフトレジ
スタ１に順次入力されるＰＮ符号の内、Ｂレジスタ１ｂ
の値のみを、第１のアキュームレータ２が積算する。す
なわち、ＰＧ−Ｗチップ部分のＰＮ符号を予め積算する
のである。

【００３８】最初のＰＧチップ分の時間が経過して積算
が終了すると、初期設定モードから常時モードに移行
し、この常時モードにおいて、干渉レベルの測定値が得
られるものである。この常時モードに移行すると、第１
のアキュームレータ２は、それまでの積算値をチップ毎
に修正して新たな積算値とするものであり、具体的に
は、それまでの積算値＋Ｂレジスタ１ｂのＰＮ符号の値
−Ｃレジスタ１ｃのＰＮ符号の値の演算をチップ毎に行
い、乗算器３にそのチップ毎に再計算した積算値をＡ
（ｉ）として出力する。

【００３９】第２のアキュームレータ４は、シンボル毎
に乗算器３の出力を積算し、そのシンボル毎に積算した
値を干渉レベルとして出力し、出力した後に、第２のア
キュームレータ４はリセット状態となり、次のシンボル
の積算をし始めるのである。

【００４０】このように常時モードに移行した後は、第
１のアキュームレータ２の積算値を、シフトレジスタ１
のＢレジスタ１ｂおよびＣレジスタ１ｃの値で修正して
受信信号ＲＸｉと乗算すればよく、図３のような構成の
ディジタルマッチドフィルタ５を用いる干渉レベル測定
装置に比べて、構成が簡素化される。

【００４１】なお、以上のようにして測定した干渉レベ
ルに基づいて、例えば、送信パワーの制御、拡散符号の
切換えなどを行うことができる。

【００４２】

【発明の効果】以上のように本発明によれば、レプリカ
ＰＮ符号の一定チップ分を予め積算し、チップ毎にこの
積算値を修正して新たな積算値とすることにより、干渉
測定用のレプリカＰＮ符号を演算した後、その演算結果
と受信信号との乗算を行うので、受信信号とレプリカＰ
Ｎ符号とをチップ毎に乗算し、その乗算結果を加算器で
加算する構成に比べて、構成が簡素化される。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施例のブロック図である。

【図２】先行技術としての干渉レベル測定装置のブロッ
ク図である。

【図３】図２のディジタルマッチドフィルタの詳細構成
図である。

【図４】受信時間窓を示す図である。

【符号の説明】

１，７，８ シフトレジスタ ２ 第１のアキュームレータ ３，９ 乗算器 ４ 第２のアキュームレータ ５ ディジタルマッチドフィルタ

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 一定チップ分のレプリカＰＮ符号を予め
   積算し、前記積算値をチップ毎に順次修正して新たな積
   算値とすることにより、所定の干渉レベル測定式に従っ
   た干渉測定用の多値レプリカＰＮ符号を演算するととも
   に、この演算結果と受信信号との乗算をチップ毎に行
   い、この乗算結果を積算して干渉レベルとして出力する
   干渉レベル測定方法。
2. 【請求項２】 一定チップ分のレプリカＰＮ符号が予め
   積算された積算値を、チップ毎に順次修正して新たな積
   算値とする第１の積算器と、この第１の積算器からの積
   算値と受信信号との乗算をチップ毎に行う乗算器と、こ
   の乗算器の乗算結果を積算して干渉レベルとして出力す
   る第２の積算器とを備えることを特徴とする干渉レベル
   測定装置。