JPH08159877A - モノクロメータ - Google Patents
モノクロメータInfo
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- JPH08159877A JPH08159877A JP33005594A JP33005594A JPH08159877A JP H08159877 A JPH08159877 A JP H08159877A JP 33005594 A JP33005594 A JP 33005594A JP 33005594 A JP33005594 A JP 33005594A JP H08159877 A JPH08159877 A JP H08159877A
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Abstract
スリットを移動させることなく、二つのパス間の波長同
調を実現し、装置の小型、簡素化を図った。 【構成】 コリメータ2、回折格子3、第1の平面鏡
4、第1のスリット5、第2の平面鏡6及び第2のスリ
ット7を備えたダブルパスのモノクロメータにおいて、
入射光を入射する位置である第1の位置11と、第1の
平面鏡4で光路を変えない場合に集光する仮想の位置で
ある第2の位置12と、第2の平面鏡6からコリメータ
2に向かう光路の延長線上の仮想点である第3の位置1
3と、第2のスリット7に集光する位置である第4の位
置14とが、コリメータ2の光軸に垂直な平面内の光軸
を中心とする同一円周上に存在し、かつ、第1の位置1
1と第2の位置12とが光軸に対し対称で、第3の位置
13と第4の位置14とが光軸に対し対称となるような
位置に配置されている。
Description
二回入射させる(二つのパスを形成する)モノクロメー
タに関し、特に二つのパス間での波長同調の改善を図
り、装置の小型、簡素化を実現したモノクロメータに関
する。
メータ(分光器)としてダブルパスモノクロメータが用
いられる。このダブルパスモノクロメータは、被測定光
を回折格子(分散分光素子)に二回入射させて、二つの
パスを直列に形成することによって、分光特性における
高い分解能又は広いダイナミックレンジが得られる分光
器である。
スモノクロメータの概略構成図を示す。なお、リトロー
型とは、回折格子に対する入出射を一つのコリメータを
介して行うものをいう。図7において、例えば光ファイ
バーのような光入射手段1から入射された被測定光a
は、コリメータ2で平行光bに変換され、回折格子3へ
任意の入射角で入射する。回折格子3には多数の格子
(刻線ともいう)が刻設されており、任意の角度で入射
した光は波長に対し所定の角度に回折、すなわち分散分
光される。回折格子3で分散分光されて出射された回折
光cは、コリメータ2で集光される。このコリメータ2
で集光されて出射された光dは、第1の平面鏡4で反射
されて第1のスリット5上に焦点を結ぶ。このように、
光入射手段1から第1のスリット5の間で第1パスを形
成している。
後(すなわち第1のスリット5を通過した後)に第2の
平面鏡6で反射された光eは、再び、コリメータ2に入
射し平行光fに変換されて回折格子3へ入射する。回折
格子3で再度分散分光されて出射された回折光gは、コ
リメータ2で再び集光される。このコリメータ2で集光
されて出射された光hは、平面鏡8で反射された後に第
2のスリット7上に焦点を結ぶ。このように、第1のス
リット5から第2のスリット7の間で第2パスを形成し
ている。
によるもので必須ではなく、また第2のスリット7はス
リット機能をもつ出射ファイバが用いられることもあ
る。以上のような構成において、回折格子3を刻線方向
を軸にして図示の矢印のように回動させることによっ
て、上記第1及び第2パスを通って第2のスリット(ま
たは出射ファイバ)から出射される出力光iは、被測定
光aのうちの回折格子3の回動角度で定まる所定波長の
光のみとなる。ところで、二つのパスを図7に示すよう
な構成で直列にする(上記第1パス及び第2パス)場合
には、二つの分光器を直列に接続したのと同様の効果が
得られるために、ダイナミックレンジが向上する。
型のダブルパスモノクロメータにおいては、上記第1パ
スの第1のスリット5から出射される光の波長と、上記
第2パスの第2のスリット7から出射される光の波長と
が、回折格子3の回動動作に係わらず一致する必要があ
る。換言すれば、回折格子3を回動動作させたとき、各
パスでの出力光の波長を同調させる必要がある。
同調を行う方法の一つとして、回折格子3の回動に応じ
て、各パス間の波長同調のずれを第2のスリット7(又
は出射ファイバ)の位置を移動することによって調整す
るというものがあった。すなわち、第1パスの第1のス
リット5の出射光の波長を基準にして、第2パスの第2
のスリット7の出射光の波長がその基準の波長に一致す
るように、第2のスリット7の位置を図7のようにx,
y方向に調整するようにしていた。しかしながら、この
ような方法では、第2のスリット7(又は出射ファイ
バ)の移動機構が必要となり、装置が大型になり複雑化
するという問題があった。本発明は、このような事情に
鑑みてなされたものであり、第2のスリット(又は出射
ファイバ)の移動機構を不要とし、小型、簡素化を図っ
たモノクロメータを提供することを目的とする。
のスリットの位置を移動させて波長同調を行わなければ
ならないといった課題を解決するために、本発明では、
上記第1パス及び第2パスのそれぞれについて、回折格
子に入射する光の入射位置及び回折格子から出射される
光の集光位置をコリメータの光軸に対して空間的に特定
すること、又は回折格子に入射する光の入射位置のみを
コリメータの光軸及び回折格子に対して空間的に特定す
ることによって、二つのパスの出力光の波長を一致させ
ることができる点に着目し、次に述べるような構成をと
った。
は、例えば図1及び図2に示すように、入射光(被測定
光)を入射する位置である第1の位置と、第1の平面鏡
で光路を変えない場合に集光する仮想の位置である第2
の位置と、第2の平面鏡からコリメータに向かう光路に
対して反対方向に延びる延長線上の仮想点であって、こ
の仮想点から前記コリメータに対して光を入射した場合
該コリメータを通過する光が平行光となるような該仮想
点である第3の位置と、第2のスリットに集光する位置
である第4の位置とが、前記コリメータの光軸に垂直な
平面内の該光軸を中心とする同一円周上に存在し、か
つ、前記第1の位置と前記第2の位置とが前記光軸に対
し対称で、前記第3の位置と前記第4の位置とが前記光
軸に対し対称となるような位置に配置されるようにし
た。
えば図3の(a),(b)に示すように、入射光(被測
定光)を入射する位置である第1の位置と、第2の平面
鏡からコリメータに向かう光路に対して反対方向に延び
る延長線上の仮想点であって、この仮想点から前記コリ
メータに対して光を入射した場合該コリメータを通過す
る光が平行光となるような該仮想点である第3の位置と
が、前記コリメータの光軸に垂直な平面内の回折格子の
刻線方向をx軸、該回折格子による波長の分散方向をy
軸とし、かつ前記コリメータの焦点位置を原点とする座
標系において、前記y軸に対し対称となる位置に配置さ
れるようにした。
ことができる条件を説明する。回折格子による回折は下
記の式で表される。 m・λ=2・d・cos α・cos γ・sin θ ・・・・・・ (1) γ=(β−i)/2 θ=i+γ m:回折次数 λ:波長 d:格子定数 α:主面(回折格子の刻線に垂直な平面)との角 i:回折格子への入射角 β:回折格子での回折角 なお、上記(1)式に関し、回折格子に対する光の入射
と出射の関係を模式図で表すと図8の(a),(b)の
ようになる。
は、上記(1)式から、それぞれ下記(2)及び(3)
式で表される。 m・λ=2・d・cos α1 ・cos γ1 ・sin θ1 ・・・・・・ (2) (回折条件;入射角i1,回折角β1,主面との角α1,β1
−i1 =2γ1,θ1 =i1 +γ1 ) m・λ=2・d・cos α2 ・cos γ2 ・sin θ2 ・・・・・・ (3) (回折条件;入射角i2,回折角β2,主面との角α2,β2
−i2 =2γ2,θ2 =i2 +γ2 )
子の回動角を同じにした場合、第1パスと第2パスの出
力光の波長が同一となるためには、上記(2),(3)
式から、次の(4)及び(5)式を満足する配置であれ
ばよいことが分かる。 θ1 =θ2 [すなわちi1 +γ1 =i2 +γ2 ] ・・・・・・ (4) cos α1 ・cos γ1 =cos α2 ・cos γ2 ・・・・・・ (5)
(4)及び(5)式を満足する配置であることを説明す
る。 (イ)第1の発明(請求項1)について 説明に際して、回折格子の刻線方向をx座標、回折格子
による波長の分散方向をy座標、コリメータの光軸(焦
点)を原点とし、コリメータの焦点距離をf、第1の位
置(第1パスの入射位置)を(x,y)=(x1 ,y1
)、第2の位置(第1パスの仮想の出射位置)を
(x,y)=(x2 ,y2 )、第3の位置(第2パスの
仮想の入射位置)を(x,y)=(x3 ,y3 )及び第
4の位置(第2パスの出射位置)を(x,y)=(x4
,y4 )とする。
称であり、かつ第3の位置と第4の位置とがコリメータ
の光軸に対し対称であるとすると、第1パス及び第2パ
スの入射と回折の2等分線が一致し、θ1 =θ2 となる
ため、(4)式を満足する。なお、θ1 ,θ2 は波長の
関数であり、θ1 =θ2 の場合には、波長に依存しない
ことを意味する。
称であり、かつ第3の位置と第4の位置とがコリメータ
の光軸に対し対称であるとすると、コリメータの光軸を
原点とする任意のxy座標においてγ1 ,γ2 ,α1 ,
α2 は下記の(6)〜(13)式で表される。 γ1 =tan - 1 (|y1 |/f)≒|y1 |/f ・・・・・・(6) =tan - 1 (|y2 |/f)≒|y2 |/f ・・・・・・(7) γ2 =tan - 1 (|y3 |/f)≒|y3 |/f ・・・・・・(8) =tan - 1 (|y4 |/f)≒|y4 |/f ・・・・・・(9) α1 =tan - 1 (|x1 |/f)≒|x1 |/f ・・・・・・(10) =tan - 1 (|x2 |/f)≒|x2 |/f ・・・・・・(11) α2 =tan - 1 (|x3 |/f)≒|x3 |/f ・・・・・・(12) =tan - 1 (|x4 |/f)≒|x4 |/f ・・・・・・(13) (6)、(8)、(10)、(12)式を、[cosA≒1ー
(A2 /2)]なる関係を用いて(5)式に代入し、下記の
ように計算すると(14)式の結果になる。 {1−( x1/f)2/2}{1−( y1 /f)2/2}≒
{1−( x3 /f)2/2}{1−( y3 /f)2/2} x12+y12≒x32+y32+(x12・y12−x32・y32)
/(2・f2 ) ここで、x1 ,y1 ,x3 ,y3 《f により、 (x12・y12−x32・y32)/(2・f2 )≒0 とすると、 x12+y12≒x32+y32 ・・・・・・(14) となる。
y2 |,|x3 |=|x4 |,|y3 |=|y4 |であ
るから、上記(14)式から、次式が求められる。 x12+y12≒x22+y22≒x32+y32≒x42+y42 ・・・・・・(15) したがって、(15)式から、第1の位置、第2の位
置、第3の位置及び第4の位置が、コリメータの光軸に
垂直な任意の平面内においてほぼ同一円周上に存在する
ことによって、(5)式が満足されることになる。
を満足させるためには、第1の位置、第2の位置、第3
の位置及び第4の位置をコリメータの光軸に垂直な任意
の平面内のほぼ同一円周上に存在させ、かつ第1の位置
と第2の位置とがコリメータの光軸に対しほぼ対称で、
第3の位置と第4の位置とがコリメータの光軸に対しほ
ぼ対称となる位置に配置すればよいことになり、これは
請求項1と同様の構成である。
をx座標、回折格子による波長の分散方向をy座標と
し、コリメータの焦点位置を原点とする座標系におい
て、第1の位置と第3の位置のy座標が等しく、かつy
軸に対し第1の位置と第3の位置とが対称となるように
配置することにより、第1パスと第2パスの|γ|,|
β|,|i|及び|α|が等しくなるため、上記(4)
及び(5)式を満足する。これは請求項2と同様の構成
である。
いて、何故第2のスリット7の移動機構が必要であるか
を説明する。従来技術では、上記第1の位置に対応する
光入射手段1による入射位置、第2の位置と第3の位置
に対応する第1のスリット5及び第4の位置に対応する
第2のスリット7は、それぞれ、図9に示すように回折
格子の刻線方向に配置されていた。したがって、第4の
位置を固定と考えると、前述の(2)及び(3)式にお
いてα1 ≠α2 であり、また、γ1 ,γ2 は光学配置で
決まる固定定数、θ1 ,θ2 は波長の関数であるため、
前述の第1パスと第2パスの出力光の波長が同一となる
ための条件(4)及び(5)式を満足し得ない。この結
果、第4の位置すなわち第2のスリット7を移動するこ
とが必要となる。
する。 (第1の実施例)図1は、第1の実施例を示すダブルパ
スモノクロメータの構成図である。これは請求項1に対
応する実施例である。なお、従来例と同一の構成部分に
は同一の記号を付けてある。コリメータ2の焦点の位置
からわずかにずれた第1の位置11(例えば光ファイバ
ーのような光入射手段によって入射される光の入射位
置)から入射された被測定光aは、レンズでなるコリメ
ータ2で平行光bに変換され、モータ等の軸に連結され
て取り付けられている回折格子3へ任意の入射角で入射
する。回折格子3で分散分光された回折光cは、コリメ
ータ2で集光される。このコリメータ2で集光されて出
射された光dは、第1の平面鏡4で反射されて第1のス
リット5上に焦点を結ぶ。このように、第1の位置11
から第1のスリット5(第2の位置12に相当する)の
間で第1パスを形成している。
後(すなわち第1のスリット5を通過した後)に第2の
平面鏡6で反射された光eは、再び、コリメータ2に入
射し平行光fに変換されて回折格子3へ入射する。回折
格子3で再度分散分光されて出射された回折光gは、コ
リメータ2で再び集光される。このコリメータ2で集光
されて出射された光hは、第4の位置14(例えば第2
のスリット又は出射ファイバ)上に焦点を結ぶ。このよ
うに、第1のスリット5(第3の位置13に相当する)
から第4の位置14の間で第2パスを形成している。
第1の位置11、第1の平面鏡4で光路を変えない場合
に集光する仮想の位置である第2の位置12、第2の平
面鏡6からコリメータ2に向かう光路に対して反対方向
に延びる延長線上の仮想点であって、この仮想点からコ
リメータ2に対して光を入射した場合このコリメータ2
を通過する光が平行光となるような仮想点である第3の
位置13及び第2のスリット又は出射ファイバである第
4の位置14は、それぞれ、コリメータ2の光軸に垂直
な断面において図2のように配置されている。
は、図2に示すように、コリメータ2の光軸に垂直な平
面内のこの光軸を中心とする同一円周上に存在し、か
つ、第1の位置11と第2の位置12とが上記光軸に対
し対称で、第3の位置13と第4の位置14とが上記光
軸に対し対称となるような位置に配置される。このよう
に構成されたリトロー型のダブルパスモノクロメータに
おいては、第2のスリット(又は出射ファイバ)を移動
させることなく、回折格子3を回動動作したときの第1
パスと第2パスの出射光の波長を同調させることができ
る。
は、第2の実施例を示すダブルパスモノクロメータの構
成図である。これは請求項2に対応する実施例である。
この実施例は、第1の実施例(図1,図2)に対して、
コリメータ2として放物面鏡を用いるようにした点、ま
た請求項2に対応させるようにした点が異なる。コリメ
ータ2としてレンズを用いて(図1)も放物面鏡を用い
て(図3の(a))も基本的な構成、動作は同じであ
る。したがって、図3の(a)に関する説明は省略し、
以下、請求項2に対応させるために第1〜第4の位置1
1〜14を、図3の(b)に示すように配置したことを
説明する。
13は、図3の(b)に示すように、コリメータ2の光
軸に垂直な平面内の回折格子3の刻線方向をx軸、この
回折格子3による波長の分散方向をy軸とし、かつ上記
コリメータ2の焦点位置を原点とする座標系において、
上記y軸に対し対称となる位置に配置される。なお、第
2の位置12及び第4の位置14の配置は、第1の位置
11及び第3の位置13を上記のように配置することに
よって自然に決まるものである。このリトロー型のダブ
ルパスモノクロメータの場合は、第1及び第2の平面鏡
4,6で回折格子3の波長の分散方向に光路を折り返す
ことで加分散配列を構成しているので、第2パスの角分
散が第1パスの角分散の2倍になり、高分解能でかつ広
いダイナミックレンジが得られるという特徴がある。
は、第3の実施例を示すダブルパスモノクロメータの構
成図である。これは請求項2に対応する実施例である。
この実施例は、第2の実施例(図3の(a),(b))
と基本的に同じで、回折格子3の向きを90度回転して
配置したものである。したがって、それに伴ってそのほ
かの構成要素の配置も図示のように、第2の実施例とは
若干異なっている。
は、第4の実施例を示すダブルパスモノクロメータの構
成図である。これは請求項1に対応する実施例である。
この実施例は、第1の実施例(図1,図2)と基本的に
同じで、コリメータ2と回折格子3との間に平面鏡9を
配置して光路を折り曲げるようにしたものである。な
お、第2パスの出射光は、従来技術(図7)と同様に、
平面鏡8で光路を折り曲げて第2のスリト7に焦点を結
ぶようにしているが、この場合は、平面鏡8で光路を変
えない場合に集光する仮想の位置が第4の位置となる。
は、第5の実施例を示すモノクロメータの構成図であ
る。これは請求項2に対応する実施例である。この実施
例は、第2の実施例(図3の(a),(b))と基本的
に同じで、第1〜第4の位置11〜14とコリメータ2
との間に平面鏡10を配置して光路を折り曲げるように
したものである。
あるレンズを放物面鏡に変えると、図10の(a),
(b)に示すような構成になる。これは実施例1と同様
に請求項1に対応する。なお、詳細な説明は省略する。 実施例2(図3の(a),(b))において、コリ
メータ2である放物面鏡をレンズに変えると、図11の
(a),(b)に示すような構成になる。これは実施例
2と同様に請求項2に対応する。なお、詳細な説明は省
略する。 上述の第1〜第5の実施例(上記,も含む)に
おいては、被測定光aがコリメータ2の焦点の位置から
わずかにずれた第1の位置11(例えば光ファイバーの
ような光入射手段によって入射される光の入射位置)か
ら入射される場合について説明したが、平面鏡等を配置
して光路を折り曲げた状態で入射するようにしてもよ
い。すなわち、図5の(a)に示す平面鏡8と同様な機
能(単に光路を折り曲げる)を持った平面鏡を配置し
て、被測定光aの光路を折り曲げるようにする。なお。
この場合は、上記平面鏡で光路を変えない場合の仮想の
位置が第1の位置11となる。
第2パスのそれぞれについて、回折格子に入射する光の
入射位置及び回折格子から出射される光の集光位置をコ
リメータの光軸に対して空間的に特定すること、又は回
折格子に入射する光の入射位置のみをコリメータの光軸
及び回折格子に対して空間的に特定するようにしたの
で、第2のスリットを移動させることなく、上記二つの
パスの出射光の波長を一致、すなわち波長同調を実現す
ることができた。この結果、小型、簡素化を図った高分
解能、広ダイナミックレンジのモノクロメータを実現す
ることができた。
ロメータの構成図、
位置)の配置を示す図、
ロメータの構成図、
ロメータの構成図、
ロメータの構成図、
ロメータの構成図、
図、
模式図、
の配置を示す図、
場合のダブルパスモノクロメータの構成図、
合のダブルパスモノクロメータの構成図。
子、4・・・・第1の平面鏡、5・・・・第1のスリット、6・・
・・第2の平面鏡、7・・・・第2のスリット、8,9,10
・・・・平面鏡、11・・・・第1の位置、12・・・・第2の位
置、13・・・・第3の位置、14・・・・第4の位置。
Claims (2)
- 【請求項1】 入射光を平行光に変換し出射するコリメ
ータ(2)と、 該コリメータから出射された平行光を分散分光する回動
可能な回折格子(3)と、 該回折格子からの回折光が前記コリメータに入射し集光
する位置に配置された第1のスリット(5)と、 前記回折光が前記コリメータへ入射し出射した後に光路
を変えて該第1のスリットに集光するようにする第1の
平面鏡(4)と、 前記第1のスリットを通過した光が光路を変えて前記コ
リメータに再入射するようにする第2の平面鏡(6)
と、 前記第1のスリットを通過した光が前記第2の平面鏡と
前記コリメータと前記回折格子と前記コリメータを介し
て再び分散分光された後に集光される位置に配置された
第2のスリット(7)とを備えたモノクロメータにおい
て、 前記入射光を入射する位置である第1の位置(11)
と、前記第1の平面鏡で光路を変えない場合に集光する
仮想の位置である第2の位置(12)と、前記第2の平
面鏡から前記コリメータに向かう光路に対して反対方向
に延びる延長線上の仮想点であって、この仮想点から前
記コリメータに対して光を入射した場合前記コリメータ
を通過する光が平行光となるような該仮想点である第3
の位置(13)と、前記第2のスリットに集光する位置
である第4の位置(14)とが、前記コリメータの光軸
に垂直な平面内の光軸を中心とする同一円周上に存在
し、かつ、前記第1の位置と前記第2の位置とが前記光
軸に対し対称で、前記第3の位置と前記第4の位置とが
前記光軸に対し対称となるような位置に配置されたこと
を特徴とするモノクロメータ。 - 【請求項2】 入射光を平行光に変換し出射するコリメ
ータ(2)と、 該コリメータから出射された平行光を分散分光する回動
可能な回折格子(3)と、 該回折格子からの回折光が前記コリメータに入射し集光
する位置に配置された第1のスリット(5)と、 前記回折光が前記コリメータへ入射し出射した後に光路
を変えて該第1のスリットに集光するようにする第1の
平面鏡(4)と、 前記第1のスリットを通過した光が光路を変えて前記コ
リメータに再入射するようにする第2の平面鏡(6)
と、 前記第1のスリットを通過した光が前記第2の平面鏡と
前記コリメータと前記回折格子と前記コリメータを介し
て再び分散分光された後に集光される位置に配置された
第2のスリット(7)とを備えたモノクロメータにおい
て、 前記入射光を入射する位置である第1の位置(11)
と、前記第2の平面鏡から前記コリメータに向かう光路
に対して反対方向に延びる延長線上の仮想点であって、
この仮想点から前記コリメータに対して光を入射した場
合前記コリメータを通過する光が平行光となるような該
仮想点である第3の位置(13)とが、前記コリメータ
の光軸に垂直な平面内の前記回折格子の刻線方向をx
軸、前記回折格子による波長の分散方向をy軸とし、か
つ前記コリメータの焦点位置を原点とする座標系におい
て、前記y軸に対し対称となる位置に配置されたことを
特徴とするモノクロメータ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP33005594A JP3274035B2 (ja) | 1994-12-06 | 1994-12-06 | モノクロメータ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP33005594A JP3274035B2 (ja) | 1994-12-06 | 1994-12-06 | モノクロメータ |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
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JPH08159877A true JPH08159877A (ja) | 1996-06-21 |
JP3274035B2 JP3274035B2 (ja) | 2002-04-15 |
Family
ID=18228283
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP33005594A Expired - Lifetime JP3274035B2 (ja) | 1994-12-06 | 1994-12-06 | モノクロメータ |
Country Status (1)
Country | Link |
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JP (1) | JP3274035B2 (ja) |
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JP2002054993A (ja) * | 2000-06-01 | 2002-02-20 | Advantest Corp | 分光器および分光方法 |
US7705984B2 (en) | 2008-01-25 | 2010-04-27 | Yokogawa Electric Corporation | Spectroscope having spectroscopic paths with individual collimators |
CN103226244A (zh) * | 2013-04-22 | 2013-07-31 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 | 高分辨率高纯度光栅单色仪分光结构 |
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1994
- 1994-12-06 JP JP33005594A patent/JP3274035B2/ja not_active Expired - Lifetime
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