JPH0815722A - 液晶表示装置 - Google Patents
液晶表示装置Info
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- JPH0815722A JPH0815722A JP14607594A JP14607594A JPH0815722A JP H0815722 A JPH0815722 A JP H0815722A JP 14607594 A JP14607594 A JP 14607594A JP 14607594 A JP14607594 A JP 14607594A JP H0815722 A JPH0815722 A JP H0815722A
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- image signal
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Abstract
(57)【要約】
【構成】 複数の走査信号線と画像信号線を交差して設
けると共に、この交差部にスイッチング用トランジスタ
とこのスイッチング用トランジスタに接続された画素電
極をマトリクス状に設けたアクティブマトリクス基板
と、対向電極を設けた対向電極基板間に液晶を挟持して
なる液晶表示装置において、前記画像信号線または走査
信号線の外側にテスト用信号線を設け、このテスト用信
号線にスイッチング用トランジスタを介さずに接続され
たテスト用画素電極を設けた。 【効果】 アセンブル工程が完了した後の表示特性検査
で、このテスト用画素電極部と他の画素電極部の液晶の
電圧−透過率特性、応答速度、配向異常、あるいはコン
トラストなどをスイッチング用トランジスタの特性とは
独立して評価できるようになる。したがって不良が発生
した場合、その不良の原因がスイッチング用トランジス
タにあるのか、パネルアセンブル工程にあるのかが判別
できる。
けると共に、この交差部にスイッチング用トランジスタ
とこのスイッチング用トランジスタに接続された画素電
極をマトリクス状に設けたアクティブマトリクス基板
と、対向電極を設けた対向電極基板間に液晶を挟持して
なる液晶表示装置において、前記画像信号線または走査
信号線の外側にテスト用信号線を設け、このテスト用信
号線にスイッチング用トランジスタを介さずに接続され
たテスト用画素電極を設けた。 【効果】 アセンブル工程が完了した後の表示特性検査
で、このテスト用画素電極部と他の画素電極部の液晶の
電圧−透過率特性、応答速度、配向異常、あるいはコン
トラストなどをスイッチング用トランジスタの特性とは
独立して評価できるようになる。したがって不良が発生
した場合、その不良の原因がスイッチング用トランジス
タにあるのか、パネルアセンブル工程にあるのかが判別
できる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は液晶表示装置に関し、特
にテスト用画素電極を設けた液晶表示装置に関する。
にテスト用画素電極を設けた液晶表示装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、液晶表示装置に用いられるアクテ
ィブマトリクス基板は、図３に示すように、複数の画像
信号線Ｓ31、Ｓ32と複数の走査信号線Ｇ31〜Ｇ33を交差
して設けると共に、この交差部にスイッチング用トラン
ジスタ３１とこのスイッチング用トランジスタ３１に接
続された画素電極３２をマトリクス状に設けて構成され
ている。スイッチング用トランジスタ３１は、そのゲー
ト電極が走査信号線Ｇ３１〜Ｇ３３に接続され、そのソ
ース・ドレイン電極が画像信号線Ｓ31、Ｓ32と画素電極
３２に接続される。すなわち走査信号線Ｇ31〜Ｇ33の走
査信号でスイッチング用トランジスタ３１のオン、オフ
が制御され、画像信号線Ｓ31、Ｓ32の画像信号が供給さ
れる。
ィブマトリクス基板は、図３に示すように、複数の画像
信号線Ｓ31、Ｓ32と複数の走査信号線Ｇ31〜Ｇ33を交差
して設けると共に、この交差部にスイッチング用トラン
ジスタ３１とこのスイッチング用トランジスタ３１に接
続された画素電極３２をマトリクス状に設けて構成され
ている。スイッチング用トランジスタ３１は、そのゲー
ト電極が走査信号線Ｇ３１〜Ｇ３３に接続され、そのソ
ース・ドレイン電極が画像信号線Ｓ31、Ｓ32と画素電極
３２に接続される。すなわち走査信号線Ｇ31〜Ｇ33の走
査信号でスイッチング用トランジスタ３１のオン、オフ
が制御され、画像信号線Ｓ31、Ｓ32の画像信号が供給さ
れる。
【０００３】また図示していないが、アクティブマトリ
クス基板と対峙して、対向電極が形成された対向電極基
板が設けられ、この対向電極基板とアクティブマトリク
ス基板間に液晶材料が挟持され、液晶表示装置となる。
クス基板と対峙して、対向電極が形成された対向電極基
板が設けられ、この対向電極基板とアクティブマトリク
ス基板間に液晶材料が挟持され、液晶表示装置となる。
【０００４】このような液晶表示装置のパネルアセンブ
ル工程は次のとおりである。すなわち走査信号線Ｇ31〜
Ｇ33、画像信号線Ｓ31、Ｓ32、スイッチング用トランジ
スタ３１、および画素電極３２をされたアクティブマト
リクス基板側と、対向電極が形成された対向電極基板
（不図示）に、ポリイミドなどから成る配向膜を塗布し
て配向膜焼成し、配向処理（ラビング）を行う。次に、
アクティブマトリクス基板側と対向電極基板間にスペー
サを散布して外周部にシール剤塗布し、液晶注入口を残
して両基板を張り合わせる。次に、液晶注入口から液晶
を注入して液晶注入口の封孔処理を行う。次に走査信号
線Ｇ31〜Ｇ33、画像信号線Ｓ31、Ｓ32、および対向電極
の所定の端子に検査用外部回路を接続して駆動用信号を
入力し、表示特性検査を行う。表示特性検査の結果、異
常がなければ走査信号供給回路、画像信号供給回路、お
よび対向電極信号供給回路を搭載して完成する。
ル工程は次のとおりである。すなわち走査信号線Ｇ31〜
Ｇ33、画像信号線Ｓ31、Ｓ32、スイッチング用トランジ
スタ３１、および画素電極３２をされたアクティブマト
リクス基板側と、対向電極が形成された対向電極基板
（不図示）に、ポリイミドなどから成る配向膜を塗布し
て配向膜焼成し、配向処理（ラビング）を行う。次に、
アクティブマトリクス基板側と対向電極基板間にスペー
サを散布して外周部にシール剤塗布し、液晶注入口を残
して両基板を張り合わせる。次に、液晶注入口から液晶
を注入して液晶注入口の封孔処理を行う。次に走査信号
線Ｇ31〜Ｇ33、画像信号線Ｓ31、Ｓ32、および対向電極
の所定の端子に検査用外部回路を接続して駆動用信号を
入力し、表示特性検査を行う。表示特性検査の結果、異
常がなければ走査信号供給回路、画像信号供給回路、お
よび対向電極信号供給回路を搭載して完成する。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】ところがこの従来の液
晶表示装置では、表示部の画素電極３２を査信号線Ｇ31
〜Ｇ33に接続されたスイッチング用トランジスタ３１に
より、その電位が制御されるため、不良が発生した場
合、その不良の原因がスイッチング用トランジスタ３１
にあるのか、パネルアセンブル工程にあるのかが判別し
にくいという問題があった。すなわち従来の液晶表示装
置では、液晶の電圧−透過率特性、応答速度、配向異
常、あるいはコントラストなどをスイッチング用トラン
ジスタ３１の特性と独立して評価できない。
晶表示装置では、表示部の画素電極３２を査信号線Ｇ31
〜Ｇ33に接続されたスイッチング用トランジスタ３１に
より、その電位が制御されるため、不良が発生した場
合、その不良の原因がスイッチング用トランジスタ３１
にあるのか、パネルアセンブル工程にあるのかが判別し
にくいという問題があった。すなわち従来の液晶表示装
置では、液晶の電圧−透過率特性、応答速度、配向異
常、あるいはコントラストなどをスイッチング用トラン
ジスタ３１の特性と独立して評価できない。
【０００６】本発明はこのような従来技術の問題点に鑑
みてなされたものであり、液晶の電圧−透過率特性、応
答速度、配向異常、あるいはコントラストなどをスイッ
チング用トランジスタの特性とは独立して評価でき、ア
センブルが完了した後に不良が発生した場合、その不良
の原因がスイッチング用トランジスタにあるのか、パネ
ルアセンブル工程にあるのか判別できる液晶表示装置を
提供することを目的とする。
みてなされたものであり、液晶の電圧−透過率特性、応
答速度、配向異常、あるいはコントラストなどをスイッ
チング用トランジスタの特性とは独立して評価でき、ア
センブルが完了した後に不良が発生した場合、その不良
の原因がスイッチング用トランジスタにあるのか、パネ
ルアセンブル工程にあるのか判別できる液晶表示装置を
提供することを目的とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明に係る液晶表示装置は、複数の走査信号線と
画像信号線を交差して設けると共に、この交差部にスイ
ッチング用トランジスタとこのスイッチング用トランジ
スタに接続された画素電極をマトリクス状に設けたアク
ティブマトリクス基板と、対向電極を設けた対向電極基
板間に液晶を挟持してなる液晶表示装置において、前記
画像信号線または走査信号線の外側にテスト用信号線を
設け、このテスト用信号線にスイッチング用トランジス
タを介さずに接続されたテスト用画素電極を設けた。
に、本発明に係る液晶表示装置は、複数の走査信号線と
画像信号線を交差して設けると共に、この交差部にスイ
ッチング用トランジスタとこのスイッチング用トランジ
スタに接続された画素電極をマトリクス状に設けたアク
ティブマトリクス基板と、対向電極を設けた対向電極基
板間に液晶を挟持してなる液晶表示装置において、前記
画像信号線または走査信号線の外側にテスト用信号線を
設け、このテスト用信号線にスイッチング用トランジス
タを介さずに接続されたテスト用画素電極を設けた。
【０００８】
【作用】上記のように、画像信号線または走査信号線の
外側にテスト用信号線を設け、このテスト用信号線にス
イッチング用トランジスタを介さずに接続されたテスト
用画素電極を設けると、アセンブル工程が完了した後の
表示特性検査で、このテスト用画素電極部と他の画素電
極部の液晶の電圧−透過率特性、応答速度、配向異常、
あるいはコントラストなどをスイッチング用トランジス
タの特性とは独立して評価できるようになる。したがっ
て不良が発生した場合、その不良の原因がスイッチング
用トランジスタにあるのか、パネルアセンブル工程にあ
るのかが判別できる。
外側にテスト用信号線を設け、このテスト用信号線にス
イッチング用トランジスタを介さずに接続されたテスト
用画素電極を設けると、アセンブル工程が完了した後の
表示特性検査で、このテスト用画素電極部と他の画素電
極部の液晶の電圧−透過率特性、応答速度、配向異常、
あるいはコントラストなどをスイッチング用トランジス
タの特性とは独立して評価できるようになる。したがっ
て不良が発生した場合、その不良の原因がスイッチング
用トランジスタにあるのか、パネルアセンブル工程にあ
るのかが判別できる。
【０００９】
【実施例】以下、本発明の実施例を添付図面に基づき詳
細に説明する。図１は本発明に係る液晶表示装置の一実
施例を示す図であり、アクティブマトリクス基板の等価
回路図である。図１においてＧ1 〜Ｇ3 は走査信号線、
Ｓ1 、Ｓ2 は画像信号線、１はスイッチング用トランジ
スタ、２は透明導電膜などから成る画素電極である。
細に説明する。図１は本発明に係る液晶表示装置の一実
施例を示す図であり、アクティブマトリクス基板の等価
回路図である。図１においてＧ1 〜Ｇ3 は走査信号線、
Ｓ1 、Ｓ2 は画像信号線、１はスイッチング用トランジ
スタ、２は透明導電膜などから成る画素電極である。
【００１０】複数の走査信号線Ｇ1 〜Ｇ3 と画像信号線
Ｓ1 、Ｓ2 が交差して設けられ、各交差部にはスイッチ
ング用トランジスタ１と画素電極２がマトリクス状に設
けられている。スイッチング用トランジスタ１の各ゲー
ト電極が走査信号線Ｇ1 〜Ｇ3 に接続され、各ソース・
ドレイン電極が画像信号線Ｓ1 、Ｓ2 と画素電極２に接
続されている。このスイッチング用トランジスタ１に接
続された各画素電極２が実効的な表示領域となる。なお
図示していないが、複数の走査信号線Ｇ1 〜Ｇ3 と画像
信号線Ｓ1 、Ｓ2 はそれぞれ駆動用ＩＣに接続される。
Ｓ1 、Ｓ2 が交差して設けられ、各交差部にはスイッチ
ング用トランジスタ１と画素電極２がマトリクス状に設
けられている。スイッチング用トランジスタ１の各ゲー
ト電極が走査信号線Ｇ1 〜Ｇ3 に接続され、各ソース・
ドレイン電極が画像信号線Ｓ1 、Ｓ2 と画素電極２に接
続されている。このスイッチング用トランジスタ１に接
続された各画素電極２が実効的な表示領域となる。なお
図示していないが、複数の走査信号線Ｇ1 〜Ｇ3 と画像
信号線Ｓ1 、Ｓ2 はそれぞれ駆動用ＩＣに接続される。
【００１１】前記走査信号線Ｇ1 〜Ｇ3 と画像信号線Ｓ
1 、Ｓ2 の外側には、テスト用走査信号線ＴＧ1 、ＴＧ
2 およびテスト用画像信号線ＴＳ1 、ＴＳ2 が２本づつ
交差して設けられている。このテスト用走査信号線ＴＧ
1 、ＴＧ2 およびテスト用画像信号線ＴＳ1 、ＴＳ
2 は、完成品において本来の走査信号線Ｇ1 〜Ｇ3 と画
像信号線Ｓ1 、Ｓ2 と同様に駆動用ＩＣに接続されてい
ることが望ましい。
1 、Ｓ2 の外側には、テスト用走査信号線ＴＧ1 、ＴＧ
2 およびテスト用画像信号線ＴＳ1 、ＴＳ2 が２本づつ
交差して設けられている。このテスト用走査信号線ＴＧ
1 、ＴＧ2 およびテスト用画像信号線ＴＳ1 、ＴＳ
2 は、完成品において本来の走査信号線Ｇ1 〜Ｇ3 と画
像信号線Ｓ1 、Ｓ2 と同様に駆動用ＩＣに接続されてい
ることが望ましい。
【００１２】前記テスト用走査信号線ＴＧ1 、ＴＧ2 と
テスト用画像信号線ＴＳ1 、ＴＳ2で囲まれた部位には
テスト用画素電極３が設けられている。このテスト用画
素電極３も透明導電膜などから成り、他の画素電極２と
ほぼ同一形状、同一大に設ける。実効的な表示部となる
他の画素電極２との比較を行いやすくするためである。
ただし、テスト用画素電極３はスイッチング用トランジ
スタに接続されておらず、直接テスト用画像信号線ＴＳ
2 に接続されていることが他の画素電極２とは異なる。
テスト用画像信号線ＴＳ1 、ＴＳ2で囲まれた部位には
テスト用画素電極３が設けられている。このテスト用画
素電極３も透明導電膜などから成り、他の画素電極２と
ほぼ同一形状、同一大に設ける。実効的な表示部となる
他の画素電極２との比較を行いやすくするためである。
ただし、テスト用画素電極３はスイッチング用トランジ
スタに接続されておらず、直接テスト用画像信号線ＴＳ
2 に接続されていることが他の画素電極２とは異なる。
【００１３】またテスト用画素電極３部分には、他の画
素電極２部分と同様の配向剤（不図示）が塗布されて配
向処理も施されており、液晶封止剤（不図示）の内側に
位置させ、テスト用画素電極３と対向電極（不図示）の
間には、液晶（液晶）も挟持される。さらにテスト用画
素電極３に相対する対向電極（不図示）には実効的な表
示部となる他の画素電極２と同等サイズの開口部が設け
られている。ただしカラーフィルターはなくてもよい。
素電極２部分と同様の配向剤（不図示）が塗布されて配
向処理も施されており、液晶封止剤（不図示）の内側に
位置させ、テスト用画素電極３と対向電極（不図示）の
間には、液晶（液晶）も挟持される。さらにテスト用画
素電極３に相対する対向電極（不図示）には実効的な表
示部となる他の画素電極２と同等サイズの開口部が設け
られている。ただしカラーフィルターはなくてもよい。
【００１４】図２はテスト用画素電極３に電圧を印加し
てテスト用画素を点灯する場合の駆動用波形の例であ
る。図２中、ＴＧ1 は図１のテスト用走査信号線ＴＧ1
に印加される電圧、ＴＧ2 は図１のテスト用走査信号線
ＴＧ2 に印加される電圧、ＴＳ1 、ＴＳ2 は図１のテス
ト用画像信号線ＴＳ1 、ＴＳ2 に印加される電圧であ
り、対向電極（不図示）には０Ｖの電圧を印加する。テ
スト用画素の輝度は図１のテスト用画素電極３が接続さ
れた画像信号線ＴＳ2 に印加する電圧ＶS で制御でき
る。ノマリーホワイトモードであればＶS ＝０Ｖで白表
示、ＶS ＝±５Ｖ程度で黒表示となる。図１中のテスト
用画像信号線ＴＳ1 およびテスト用走査信号線ＴＧ1 、
ＴＧ2 には必ずしも駆動用信号を印加する必要はない
が、より実際の表示部に近い画素電極と配線の間の電場
関係を再現するには、テスト用画像信号線ＴＳ1 および
テスト用走査信号線ＴＧ1 、ＴＧ2 にも、図２に示すＴ
Ｇ1 、ＴＧ2 、およびＴＳ1 のような波形の電圧を印加
することが望ましい。特に近年問題視さているディスク
リネーションの評価には有効である。
てテスト用画素を点灯する場合の駆動用波形の例であ
る。図２中、ＴＧ1 は図１のテスト用走査信号線ＴＧ1
に印加される電圧、ＴＧ2 は図１のテスト用走査信号線
ＴＧ2 に印加される電圧、ＴＳ1 、ＴＳ2 は図１のテス
ト用画像信号線ＴＳ1 、ＴＳ2 に印加される電圧であ
り、対向電極（不図示）には０Ｖの電圧を印加する。テ
スト用画素の輝度は図１のテスト用画素電極３が接続さ
れた画像信号線ＴＳ2 に印加する電圧ＶS で制御でき
る。ノマリーホワイトモードであればＶS ＝０Ｖで白表
示、ＶS ＝±５Ｖ程度で黒表示となる。図１中のテスト
用画像信号線ＴＳ1 およびテスト用走査信号線ＴＧ1 、
ＴＧ2 には必ずしも駆動用信号を印加する必要はない
が、より実際の表示部に近い画素電極と配線の間の電場
関係を再現するには、テスト用画像信号線ＴＳ1 および
テスト用走査信号線ＴＧ1 、ＴＧ2 にも、図２に示すＴ
Ｇ1 、ＴＧ2 、およびＴＳ1 のような波形の電圧を印加
することが望ましい。特に近年問題視さているディスク
リネーションの評価には有効である。
【００１５】以上の評価により、パネルアセンブル工程
での問題点を実製品において、スイッチング用トランジ
スタの特性とは独立して把握することができる。
での問題点を実製品において、スイッチング用トランジ
スタの特性とは独立して把握することができる。
【００１６】なお上記のように、走査信号線Ｇ1 〜Ｇ3
と画像信号線Ｓ1 、Ｓ2 の外側に、テスト用走査信号線
ＴＧ1 、ＴＧ2 およびテスト用画像信号線ＴＳ1 、ＴＳ
2 を２本づつ交差して設け、このテスト用走査信号線Ｔ
Ｇ1 、ＴＧ2 とテスト用画像信号線ＴＳ1 、ＴＳ2 で囲
まれた部位にテスト用画素電極３が設けて、それぞれの
テスト用信号線ＴＧ1 、ＴＧ2 、ＴＳ1 、ＴＳ2 に図２
に示すような電圧を印加すると、このテスト用画素部分
を実効的な表示部となる画素部分とほぼ同一条件で点灯
させることができ、より実際の表示に近い画素電極と配
線間の電場関係を再現できるが、画像信号線Ｇ1 または
走査信号線Ｓ1 の外側に一本のテスト用信号線ＴＳ2 の
みを設け、このテスト用信号線ＴＳ2 にスイッチング用
トランジスタを介さずにテスト用画素電極３を設けてよ
い。
と画像信号線Ｓ1 、Ｓ2 の外側に、テスト用走査信号線
ＴＧ1 、ＴＧ2 およびテスト用画像信号線ＴＳ1 、ＴＳ
2 を２本づつ交差して設け、このテスト用走査信号線Ｔ
Ｇ1 、ＴＧ2 とテスト用画像信号線ＴＳ1 、ＴＳ2 で囲
まれた部位にテスト用画素電極３が設けて、それぞれの
テスト用信号線ＴＧ1 、ＴＧ2 、ＴＳ1 、ＴＳ2 に図２
に示すような電圧を印加すると、このテスト用画素部分
を実効的な表示部となる画素部分とほぼ同一条件で点灯
させることができ、より実際の表示に近い画素電極と配
線間の電場関係を再現できるが、画像信号線Ｇ1 または
走査信号線Ｓ1 の外側に一本のテスト用信号線ＴＳ2 の
みを設け、このテスト用信号線ＴＳ2 にスイッチング用
トランジスタを介さずにテスト用画素電極３を設けてよ
い。
【００１７】
【発明の効果】以上のように、本発明に係る液晶表示装
置によれば、画像信号線または走査信号線の外側にテス
ト用信号線を設け、このテスト用信号線にスイッチング
用トランジスタを介さずに接続されたテスト用画素電極
を設けたことから、アセンブル工程が完了した後の表示
特性検査で、このテスト用画素電極部と他の画素電極部
の液晶の電圧−透過率特性、応答速度、配向異常、ある
いはコントラストなどをスイッチング用トランジスタの
特性とは独立して評価できるようになる。したがって不
良が発生した場合、その不良の原因がスイッチング用ト
ランジスタにあるのか、パネルアセンブル工程にあるの
かが判別できる。
置によれば、画像信号線または走査信号線の外側にテス
ト用信号線を設け、このテスト用信号線にスイッチング
用トランジスタを介さずに接続されたテスト用画素電極
を設けたことから、アセンブル工程が完了した後の表示
特性検査で、このテスト用画素電極部と他の画素電極部
の液晶の電圧−透過率特性、応答速度、配向異常、ある
いはコントラストなどをスイッチング用トランジスタの
特性とは独立して評価できるようになる。したがって不
良が発生した場合、その不良の原因がスイッチング用ト
ランジスタにあるのか、パネルアセンブル工程にあるの
かが判別できる。
【図１】本発明に係る液晶表示装置の一実施例を示す等
価回路図である。
価回路図である。
【図２】本発明に係る液晶表示装置の一実施例を示すテ
スト用波形図である。
スト用波形図である。
【図３】従来の液晶表示装置を示す図である。
【符号の説明】 Ｇ1 〜Ｇ3 ・・・走査信号線、Ｓ1 、Ｓ2 ・・・画像信
号線、１・・・スイッチング用トランジスタ、２・・・
画素電極、ＴＧ1 〜ＴＧ2 ・・・テスト用走査信号線、
ＴＳ1 、ＴＳ2 ・・・テスト用画像信号線、３・・・テ
スト用画素電極
号線、１・・・スイッチング用トランジスタ、２・・・
画素電極、ＴＧ1 〜ＴＧ2 ・・・テスト用走査信号線、
ＴＳ1 、ＴＳ2 ・・・テスト用画像信号線、３・・・テ
スト用画素電極
フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 ＦＩ 技術表示箇所 Ｈ０１Ｌ 29/786
Claims (3)
- 【請求項１】 複数の走査信号線と画像信号線を交差し
て設けると共に、この交差部にスイッチング用トランジ
スタとこのスイッチング用トランジスタに接続された画
素電極をマトリクス状に設けたアクティブマトリクス基
板と、対向電極を設けた対向電極基板間に液晶を挟持し
てなる液晶表示装置において、前記画像信号線または走
査信号線の外側にテスト用信号線を設け、このテスト用
信号線にスイッチング用トランジスタを介さずに接続さ
れたテスト用画素電極を設けたことを特徴とする液晶表
示装置。 - 【請求項２】 前記テスト用画素電極が前記スイッチン
グ用トランジスタに接続された画素電極とほぼ同一形状
であることを特徴とする請求項１に記載の液晶表示装
置。 - 【請求項３】 前記画像信号線および走査信号線の外側
にテスト用画像信号線およびテスト用走査信号線を少な
くとも２本づつ交差して設け、このテスト用画像信号線
とテスト用走査信号線で囲まれた部位に前記テスト用画
素電極を設けたことを特徴とする請求項１に記載の液晶
表示装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14607594A JPH0815722A (ja) | 1994-06-28 | 1994-06-28 | 液晶表示装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14607594A JPH0815722A (ja) | 1994-06-28 | 1994-06-28 | 液晶表示装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0815722A true JPH0815722A (ja) | 1996-01-19 |
Family
ID=15399544
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14607594A Pending JPH0815722A (ja) | 1994-06-28 | 1994-06-28 | 液晶表示装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0815722A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005316468A (ja) * | 2005-04-18 | 2005-11-10 | Seiko Epson Corp | 電気光学装置、電気光学装置の検査方法及び電子機器 |
| US7304437B2 (en) | 2001-12-06 | 2007-12-04 | Seiko Epson Corporation | Electro-optical device and an electronic apparatus |
| WO2011046012A1 (ja) * | 2009-10-13 | 2011-04-21 | シャープ株式会社 | トランジスタ評価装置の製造方法およびトランジスタ評価装置 |
-
1994
- 1994-06-28 JP JP14607594A patent/JPH0815722A/ja active Pending
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7304437B2 (en) | 2001-12-06 | 2007-12-04 | Seiko Epson Corporation | Electro-optical device and an electronic apparatus |
| US7977863B2 (en) | 2001-12-06 | 2011-07-12 | Seiko Epson Corporation | Electro-optical device and an electronic apparatus |
| US8188653B2 (en) | 2001-12-06 | 2012-05-29 | Seiko Epson Corporation | Electro-optical device and an electronic apparatus |
| JP2005316468A (ja) * | 2005-04-18 | 2005-11-10 | Seiko Epson Corp | 電気光学装置、電気光学装置の検査方法及び電子機器 |
| WO2011046012A1 (ja) * | 2009-10-13 | 2011-04-21 | シャープ株式会社 | トランジスタ評価装置の製造方法およびトランジスタ評価装置 |
| JP5335929B2 (ja) * | 2009-10-13 | 2013-11-06 | シャープ株式会社 | トランジスタ評価装置の製造方法 |
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