JPH0815510A - バイナリーオプティクス及びその製造方法 - Google Patents

バイナリーオプティクス及びその製造方法

Info

Publication number
JPH0815510A
JPH0815510A JP6170375A JP17037594A JPH0815510A JP H0815510 A JPH0815510 A JP H0815510A JP 6170375 A JP6170375 A JP 6170375A JP 17037594 A JP17037594 A JP 17037594A JP H0815510 A JPH0815510 A JP H0815510A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
layer
transparent layer
etching
stopper layer
stopper
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP6170375A
Other languages
English (en)
Inventor
Kiyoshi Kadomatsu
潔 門松
Misao Suzuki
操 鈴木
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nikon Corp
Original Assignee
Nikon Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nikon Corp filed Critical Nikon Corp
Priority to JP6170375A priority Critical patent/JPH0815510A/ja
Publication of JPH0815510A publication Critical patent/JPH0815510A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Diffracting Gratings Or Hologram Optical Elements (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 実用性の高い高精度のBOEおよびこれを安
定して製造する方法を提供すること。 【構成】 光透過性の基板上に、波長λの光束に対する
屈折率nの透明層とエッチングストッパ層との順序で積
層された階層構造を有する回折パターンを断面階段状に
形成したバイナリーオプティクスおよび製造方法。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、光学機器の光路に配置
されることにより、その透過光量または回折光量を調節
するための回折光学素子であって、断面が階段状の回折
パターンが形成されてなる、回折格子やゾーンプレート
等のバイナリーオプティクス及びその製造方法に関する
ものである。
【0002】
【従来の技術】従来、バイナリ−オプティクス(BO
E)には、光透過性基板をエッチングを用いたリソグラ
フィ工程によって、断面が階段状となる回折パターンが
形成されていた。即ち、このようなBOEでは、回折パ
ターンの山谷が同一部材に凹凸を形成してなるものとな
る。従って、パターンの光学的距離の差は部材の厚み
(段差)で調節されている。
【0003】このような従来のBOEの製造工程の一例
を図5を用いて以下に説明する。図5において、まず、
光透過性基板101上にレジストを塗布してレジスト膜
5を形成する(a)。次いで、所望のパターンに応じた
レチクルパターン106をマスクとしてレジスト膜10
5に対し紫外線7を照射露光する(b)。レジスト膜に
おいて、紫外線7が照射露光された領域は変質し、現像
液に可溶となる。これによってレチクルパタ−ン106
がレジスト膜5に転写され、残存レジスト膜で構成され
るレジストパターン108が形成される(c)。
【0004】以上のように形成されたレジストパターン
108をマスクとし、反応性イオンエッチングまたはイ
オンビームエッチング110により、光透過性基板10
1をエッチングし、レジストパターン108を取り除け
ば、段差パターンを備えたBOEが形成できる(e)。
さらに、BOE表面に反射防止膜112を蒸着などの方
法によって形成すれば良い。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】BOEの性能は、製造
工程において、回折パターンの山谷がどれだけ高精度に
設計値を再現して形成されたか、即ち光透過性基板のエ
ッチング深さをどれだけ高精度に制御するかに掛かって
いる。しかしながら、上記の如き従来の技術において
は、光透過性基板のエッチング進行中、エッチングのマ
スクパターンであるレジストもイオン衝撃などのダメー
ジにより削られてしまうため、光学的にも機械的にも、
光透過性基板のエッチング深さをリアルタイムに制御す
ることができない。
【0006】このため、予めエッチングテストを行な
い、実際の光透過性基板エッチングの際に、このテスト
で得た条件に基づいて、時間の制御でエッチングする方
法が用いられる。しかし、この方法では、基板材料のば
らつきやエッチングチャンバー内の雰囲気の変動でテス
ト条件の再現性が悪く、変動要因を管理し再現性を得よ
うとすると管理のコストが増大する欠点があった。
【0007】更に、従来技術で溝が深い回折パターンを
得ようとすると、光透過性基板が一般的にエッチングの
遅いバルク状のガラスであることと、通常、レジストが
ガラスをエッチングするガスに対してエッチングされ易
い、即ちエッチングガスの光透過性基板とレジストに対
する選択比は悪くなることから、レジストを厚く形成し
ておかなければならなかった。
【0008】しかし、このようにレジストマスクが厚く
なると、エッチング進行中に生じるエッチングガスと光
透過性基板との反応生成物が形成されつつある溝の外に
排気されにくくなり、光透過性基板のパターンごとの側
壁直角度を悪くし、設計値を高精度に再現することがで
きない。従って、このような状態で形成されたBOEで
は、光学系において回折効率の悪化を招いてしまう。同
様な理由により、微細パターンを形成する場合も、レジ
ストが厚いことで、回折効率の良いものは得られなかっ
た。また、深さ(回折効率)の規格をはずれた不良品
は、研磨以外に再生がきかず、結果的にコスト高のもの
になってしまうという問題も生じる。
【0009】本発明は、上記問題点を鑑み、実用性の高
い高精度のBOEおよびこれを安定して製造する方法を
提供することを目的とする。
【0010】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本願請求項1に記載した発明に係るバイナリーオプ
ティクスでは、基板上に、断面が階段状の回折パターン
が形成されたバイナリーオプティクスにおいて、前記回
折パターンが、透明層とエッチングストッパ層との順序
で積層された階層構造を有しているものである。
【0011】また、請求項2に記載の発明に係るバイナ
リーオプティクスの製造方法では、光透過性の基板上
に、波長λの光束に対する屈折率nの透明層とエッチン
グストッパ層との順序で積層された階層構造を有する回
折パターンが断面階段状に形成されたバイナリーオプテ
ィクスの製造法であって、前記基板上に第一のストッパ
層を形成し、その上層に第一の透明層を形成し、該第一
の透明層の予め定められた領域を厚み方向に前記第一の
ストッパ層が露出するまで除去するリソグラフィ工程a
と、前記第一の透明層の残存部分の上部のみに、該第一
の透明層との合計での厚みの光学的距離がλ/2(n−
1)となるよう第二のストッパ層を形成する工程bと、
前記第一のストッパ層の露出部分と第二のストッパ層の
上部との全面に第二の透明層を形成し、第一のストッパ
層の露出部分と第二のストッパ層の上部の夫々の部分に
おいて、第二の透明層の予め定められた領域を厚み方向
に各々の下層にあるストッパ層が露出するまで除去する
リソグラフィ工程cと、を備えたものである。
【0012】また、請求項3に記載の発明に係るバイナ
リーオプティクスの製造方法では、請求項2に記載のバ
イナリーオプティクスの製造方法において、前記第二の
透明層の残存部分の上部のみに、該第二の透明層との合
計での厚みの光学的距離がλ/4(n−1)となるよう
第三のストッパ層を形成する工程dと、前記第一のスト
ッパ層と第二のストッパ層の露出部分、並びに第三のス
トッパ層の上部の全面に第三の透明層を形成し、第一の
ストッパ層と第二のストッパ層の露出部分、並びに第三
のストッパ層の上部の夫々の部分において、前記第三の
透明層の予め定められた領域を厚み方向に各々の下層に
あるストッパ層が露出するまで除去するリソグラフィ工
程eと、を更に備えたものである。
【0013】
【作用】本発明は、上記のように構成されているため以
下の作用を奏する。まず、請求項1に記載した発明で
は、光透過性の基板上に、透明層とエッチングストッパ
層との順序で積層された階層構造を有する回折パターン
が断面階段状に形成されたバイナリーオプティクスであ
るため、回折パターンの凹凸構造において、最下段であ
る凹部の基板に対して凸部を基板とは異なる部材を適宜
選択して用いることができる。即ち、基板と材質の異な
る透明層に、マスクパターンとの選択比がよいエッチン
グガスを用いうるような材質を選択することができる。
これにより、BOEぼ回折パターンを形成するための透
明層のエッチングの際には、マスクとして厚いレジスト
パターンを用いる必要がなくなり、従来のようにエッチ
ングにより形成される溝にエッチングガスとの反応生成
物が残ることなく、パターンの側壁直角度も良好であ
る。
【0014】また、基板と透明層の間には、エッチング
ストッパ層が設けられているので、透明層のエッチング
の際には、透明層をオーバーエッチングしてもこのエッ
チングストッパ層でエッチングの進行が止められ、光透
過性基板をエッチングすることなく、正確なエッチング
深さ(透明層の膜厚に相当する)が形成される。従っ
て、本発明によるBOEは、設計値を高精度に再現した
パターンを持つものである。
【0015】また、請求項2に記載したBOEの製造方
法では、リソグラフィ工程aにて、光透過性の基板上
に、第一のストッパ層、さらにその上層に第一の透明層
(波長λの光束に対する屈折率n)を形成し、該第一の
透明層の予め定められた領域を厚み方向に第一のストッ
パ層が露出するまで除去し、工程bにて、前記第一の透
明層の残存部分の上部のみに、該第一の透明層との合計
での厚みの光学的距離がλ/2(n−1)となるよう第
二のストッパ層を形成し、リソグラフィ工程cにて、前
記第一のストッパ層の露出部分と第二のストッパ層の上
部との全面に第二の透明層を形成し、第一のストッパ層
の露出部分と第二のストッパ層の上部の夫々の部分にお
いて、前記第二の透明層の予め定められた領域を厚み方
向に各々の下層にあるストッパ層が露出するまで除去す
るものであり、以上の工程によって。少なくとも、透明
層とエッチングストッパ層との順序で積層された階層構
造4段の回折パターンからなるBOEを製造することが
できる。
【0016】以上のような本発明のBOE製造工程の手
順を、図3をもって、2段数分の階層構造を形成する工
程を例に以下に説明する。まず、波長λの光束に対する
屈折率nの光透過性の基板11上に、エッチングストッ
パ層12、その上に透明層13を形成する。透明層13
を設計値のパターンに応じてエッチングするに先立っ
て、透明層13に対するマスクを形成する必要があるの
で、透明層13上に、マスクとなるべきCrなどの金属
層14と、金属層14に所定のパターンを転写してマス
クパターンを形成するためのレジスト層15を積層する
(a)。
【0017】次に、設計値の回折パターンに対応するレ
チクルパターン16をマスクとしてレジスト層15に露
光光17を照射し(b)、現像してレジストパターン1
8を形成する(c)。さらに、このレジストパターン1
8をマスクとして金属層14をエッチング(d)してマ
スクパターンを転写した後レジストを取り除く(e)。
【0018】この金属パターンをマスクとし、透明層1
3に対して反応性イオンエッチング20により、ストッ
パ層12までエッチングを行う。ここで、エッチング深
さは透明層13表面からストッパ層12までの距離とな
るので、予め、ストッパ層12上に透明層13を形成す
る際に、透明層13の膜厚を所望のパターン深さになる
よう設定しておけばよい。
【0019】以上のように、本発明の工程aによって、
透明層とエッチングストッパ層との順序で積層された階
層構造を有する回折パターンが断面2段の階段状に形成
されたバイナリーオプティクスが得られる。このよう
に、本発明の製造方法によれば、透明層のエッチングは
ストッパ層でその進行が止まるため、従来のように、予
めテストエッチングを行って、その条件結果に従ってエ
ッチングの時間的制御等を行う必要ばなくなり、基板材
料のばらつきや反応性イオンエッチングのチャンバー内
の雰囲気の変動があっても、ストッパ層が露出するよう
多少のオーバーエッチングを行うことで、所望のエッチ
ング深さを再現性良く形成できる。
【0020】さらに、透明層をエッチングする際のマス
クにレジストパターンを用いる必要もなくなるので、透
明層用のエッチングガスに対して透明層との選択比が高
く、また反応生成物がない材質をマスク層として選択す
ることができる。これによって、マスク層自身は膜厚を
薄くでき、また従来のようなマスクパターンへのイオン
衝撃などのダメージによる削れや、反応生成物によるパ
ターン側壁直角度の不良も生じない。このように、本発
明の製造方法によれば、従来になく容易なエッチング工
程でありながら、安定で再現性の高いエッチングが可能
であり、高精度なBOEを製造することができる。
【0021】なお、以上の説明では、回折パターンの階
層構造の段数2段までを形成す工程を示したが、さらに
段数を高くするには、請求項2に記載した如く、工程b
において、工程aで形成された階層構造の最上層(透明
層)上に第二のエッチングストッパ層を形成したのち、
工程cにて、露出している第一のストッパ層および第二
のストッパ層上全面に第二の透明層を形成し、それぞれ
のストッパ層上の透明層に関して一部領域をエッチング
すれば、4段の階層構造を持つ回折パターンが形成でき
る。
【0022】この時、第一の透明層と第二のストッパ層
との合計の厚さの光学的距離、即ち光路差が、λ/2
(n−1)となるよう設定する。ここで、第一の透明層
および第二のストッパ層の各々の厚さ設定について以下
に述べる。まず、透明層の屈折率n、ストッパ層の屈折
率nS 、第一の透明層の厚さをd1 、第二のストッパ層
の厚さをdS1としたとき、第一の透明層と第二のストッ
パ層の合計の厚さD1 =λ/2(n−1)は以下の式で
表せる。 nD1 =nd1 +nSS1 従って、 dS =n(D1 −d1 )/nS …(1) 式 を、満たすように両層の厚さを設定すれば良い。
【0023】周知の如く、BOEは階層構造の段数が多
くなるほど回折効率が高くなる。例えば図4に示すよう
な2段構造(a)であれば回折効率は40%、4段構造
(b)で80%、8段構造(c)で95%、さらに16
段では99%の回折効率となる。従って、回折効率の点
からはBOEには多段のものが望まれている。
【0024】そこで、更に、本発明の製造方法におい
て、上記工程a、工程b、工程cによってる形成された
4段の階層構造をさらに多段にするには、請求項3に記
載したごとく、工程dにて、第二の透明層の残存部分の
上部のみに、該第二の透明層との合計での厚みの光学的
距離がλ/4(n−1)となるよう第三のストッパ層を
形成し、リソグラフィ工程eにて、第一のストッパ層と
第二のストッパ層の露出部分、並びに第三のストッパ層
の上部の全面に第三の透明層を形成し、第一のストッパ
層と第二のストッパ層の露出部分、並びに第三のストッ
パ層の上部の夫々の部分において、前記第三の透明層の
予め定められた領域を厚み方向に各々の下層にあるスト
ッパ層が露出するまで除去する。
【0025】以上の工程によって、8段の階層構造を持
つBOEが得られる。この時、各々第二の透明層の厚み
2 と第三のストッパ層の厚みdS2は、以下の式を満た
すように設定すれば良い。 dS2=n(D2 −d2 )/nS …(2) 式 (但し、D2 =λ/4(n−1):第二の透明層と第三
のストッパ層との合計での厚み)
【0026】このように、本発明によるBOEの製造方
法は、基板上に、エッチングストッパ層と透明層とを積
層し、エッチングするという工程を繰返すことによっ
て、階層構造の段数を増やしていくことができる。
【0027】なお、本発明の製造方法によって製造され
るBOEの性能は、各階層構造を構成するエッチングス
トッパ層と透明層との膜厚に依存することになる。従っ
て、これらの膜厚は、光学計算によって、回折効率など
の条件を満足させるよう求め、光透過性基板上に正確に
この膜を形成することが重要である。そこで、これらス
トッパ層や透明層の膜形成は、例えば真空蒸着法などを
用いた場合、光電式膜厚計や水晶式膜厚計を利用して高
精度に膜厚コントロールしつつ、連続形成すれば、正確
な膜厚のエッチングストッパ層および透明層が形成でき
る。
【0028】また、透明層、エッチングストッパ層とし
て用いる材質は、そのBOEの目的とする光を透過する
ものであれば良いが、エッチングストッパ層には、透明
層に対して用いるエッチングガスに殆ど影響されないで
エッチングの進行を止められるものでなければならな
い。例えば、透明層には、SiO2 膜、SiO膜、Si
34 膜などが使用可能であり、エッチングストッパ層
にはAl23 膜やZrO2 膜、HfO2 膜などが考え
られるが、これらの種類や組合せは適宜選択する。
【0029】また、透明層をエッチングする際のマスク
として用いられ、回折パターンに相当するレチクル、及
びレジストパターンが転写されるマスク層用部材には、
透明層用のエッチングガスの影響を受けにくく、エッチ
ングガスとの反応生成物があまり生じないもの、即ち透
明層との選択比が高いものが良い。このようなマスク層
であれば、前述したように、従来に比べ膜厚を薄く設定
できる。またマスクパターン形成のために微細加工が容
易なものがさらに望ましい。具体的には、例えばCrや
Cr23 が挙げられる。特にCrをマスクにした場
合、反応性ドライエッチング装置に基板を入れたまま、
Crエッチング・レジスト除去・SiO2(透明層)エ
ッチングが、条件を変えて連続的に行なえる。またCr
はSiO2膜の反応性イオンエッチング条件に対して選
択比が高いので薄くできる。
【0030】なお、通常、製造されたBOEの表面に
は、反射防止膜が形成される。これは、反射防止膜が設
けられていない素子の表面では、入射光のうち約4%の
光が反射されてしまい、この反射光はフレア、ゴースト
といった障害を起こしやすく、回折効率を低下さえるこ
とから、これらを防ぐためには反射防止膜を成膜するこ
とが望ましい。
【0031】従来のBOEでは、表面が同一部材からな
るため、用いる反射防止膜の特性の選択に問題はない
が、本発明によるBOEでは、回折パターンの凹部で空
気と接するエッチングストッパー層と、凸部で空気と接
する透明層とで屈折率等光学的に異なる2つの表面を持
っているため、反射防止膜の特性が、一方には有効であ
るが他方については効果がないという状態も生じ得る。
【0032】従って、このような本発明のBOE表面に
成膜する反射防止膜は、いずれの表面でも低反射が可能
な様に膜設計された反射防止膜を施すことが好ましい。
もちろん凹部表面と凸部表面とでそれぞれに対応した膜
を別個に形成してもよいが、両表面において反射防止効
果を有する同一の膜を全面に形成する方が工程として容
易である。
【0033】
【実施例】以下、本発明を実施例をもって説明する。本
実施例は、波長λ=632.8nmのHe−Neレーザ
ーを光源とし、±1次回折光と透過0次光との理論上の
最大回折効率が95%となるような、8段階層構造を持
つBOEを製造するものであり、図1に、各製造工程に
おけるBOEの一部の状態を断面図で示した。
【0034】光透過性基板0には、外径60mm、厚さ
10mmの光学研磨された高純度合成石英を用意し、こ
の基板0上に、屈折率nS =1.67のAl23 膜か
らなる第一のエッチングストッパ層Aを、さらに屈折率
n=1.461のSiO2 膜からなる第一の透明層1を
それぞれイオンビームアシスト蒸着を施して形成した
(a)。さらに連続して第一の透明層1上に電子ビーム
蒸着法でCr膜を50nmで作製した。
【0035】各層の膜厚制御は、エッチングストッパ層
Aと透明層1は光電式膜厚計と水晶式膜厚計の併用で、
屈折率の変動を抑えながら所定の±1%以内に膜厚が入
るように形成し、Cr膜は水晶式膜厚計で±3%以内に
膜厚が入る様に形成した。
【0036】次に、上記第一のストッパ層Aと第一の透
明層1上にCr膜が形成された基板上に光学マスクを形
成する製造方法を説明する。まず、Cr膜上にOFPR
−8800(東京応化工業社製)のレジストをスピンコ
ーティングなどの塗布法で塗布し、加熱乾燥処理を施
し、厚さ0.5μm程度のレジスト層を形成する。続い
て、所望のBOEの回折パターンに応じて8段階層構造
のうちの2段構造に対応するパターンの施されているレ
チクルを使用して、第一の透明層1上のレジストを露
光、現像することにより第一のレジストパターンを作製
する。
【0037】第一のレジストパターンが形成された基板
を反応性イオンエッチング装置に入れて、該装置内のチ
ャンバー内を3×10-5Torrまで排気し、Crをエ
ッチングするために、有機塩素ガスとO2 が1:1の混
合ガスをチャンバー内に導入し、3×10-1Torrと
する。この状態で、チャンバーの平行電極内に13.5
6MHzの高周波を100W印加し、5分間Crを第一
のレジストパターンに応じてエッチングする。
【0038】Crエッチングの後レジスト除去のため、
チャンバー内を3×10-5Torrまで排気し、O2
みを導入し、2×10-1Torrとし、50Wで10分
間、レジスト灰化除去を行なう。以上の操作によってC
r膜にレジストパターンが転写されたことになる。
【0039】続いて、このCrパターンをマスクとし、
空気面に接した第一の透明層1をエッチングするため、
再びチャンバー内を3×10-5Torrまで排気し、C
HF3 とO2 が10:1の混合ガスをチャンバー内に導
入し、3×10-2Torrとする。この状態で、50W
のRF電力を印加し、90分間第一の透明層1のSiO
2 をエッチングする。
【0040】エッチング終了後、チャンバー内を3×1
-3Torrまで排気した後、チャンバー内に大気を導
入し、BOE基板を取り出す。続いて、硝酸第二セリウ
ムアンモニウムと、過塩素酸の混合液でできているCr
エッチング液でマスクであるCrを除去し、純水リンス
と乾燥工程を経て完成する。以上の工程により、一部第
一のエッチングストッパ層Aが露出した状態で、第一の
透明層パターン1aが形成された(b)。
【0041】このように、形成された第一の透明層パタ
ーン1aの上部のみにAl23 膜を蒸着し、第二のエ
ッチングストッパ層Bを形成した(c)。これは、例え
ば露出した第一のストッパ層A上にはレジストを塗布し
ておき、このレジストごとその上のAl23 を除去す
るなどの方法によって第一の透明層パターン1a上部の
みに第二のエッチングストッパ層Bを形成できる。この
時点で、2段階層構造のパターンが形成されている。こ
のとき、上段凸部を構成する第一の透明層パターン1a
の厚さd1 および第二のストッパ層Bの厚さdSBは、
(1) 式から以下の条件を満たすよう設定される。但し、
両層の合計厚さはD1 =λ/2(n−1)=632.8
/2(1.461−1)nm dSC=n(D1 −d1 )/nS =597.11−0.8
7d1 (nm)
【0042】さらに、図1(a)に示した場合と同様の
手法により、露出している第一のストッパ層Aと、第二
のストッパ層Bとの表面上に、第二の透明層2を形成し
(d)、さらに連続して第二の透明層2上に電子ビーム
蒸着法でCr膜を50nmで作製した。Cr膜上にOF
PR−8800レジストをスピンコーティング塗布し、
加熱乾燥処理を施し、厚さ0.5μm程度のレジスト層
を形成する。続いて、所望のBOEの回折パターンに応
じて8段階層構造のうちの4段構造に対応するパターン
の施されているレチクルを使用して、第二の透明層2上
のレジストを露光、現像することにより第二のレジスト
パターンを作製する。
【0043】この第二のレジストパターンをマスクとし
て、第二の透明層2上のCr膜をエッチングすることに
よってパターンを転写した後、第二のレジストパターン
を取り除いた。次に、このCrパターンをマスクとし
て、第一の透明層1のエッチング工程と同様の条件で、
第二の透明層2の反応性イオンエッチングを行ない、第
二の透明層パターン2aを形成した(e)。
【0044】次に、第二の透明層パターン2a上部のみ
に、Al23 膜を蒸着し、第三のエッチングストッパ
層Cを形成した(f)。この時点で、4段階層構造のパ
ターンが形成されている。このとき、第二階層段および
最上部の第4階層段を構成する第二の透明層パターン2
aの厚さd2 および第三のストッパ層Cの厚さdSCは、
(1) 式から以下の条件を満たすよう設定される。但し、
両層の合計厚さはD2=λ/4(n−1)=632.8
/4(1.461−1)nm dSC=n(D2 −d2 )/nS =296.63−0.8
7d2 (nm)
【0045】さらに、上記の4段階層構造を形成するま
でと同様の工程を繰返して8段階層構造のパターンを形
成した。即ち、露出している第一のストッパ層A、第二
のストッパ層B、および第三のストッパ層Cの表面上全
面に第三の透過層3を形成し(g)た。これら第三の透
過層3上にCr膜、レジスト層を形成した後、8段階層
構造の回折パターンに対応するレチクルパターンを用い
て、パターンをレジスト、さらにCr膜に順次転写し、
これによって形成されたCrパターンをマスクとして第
三の透明層3に反応性イオンエッチングを行ない、第三
の透明層パターン3aを形成した(h)。
【0046】この第三の透明層パターン3aを最上段と
してリソグラフィ工程を終了する場合、この第三の透明
層3の膜厚d3 はそれ以上ストッパ層を形成しないこと
から、d3 =D3 =λ/8(n−1)=632.8/8
(1.461−1)=171.58nmと設定する。
【0047】以上の製造工程によって、図1(i)に示
すような8段階層構造の回折パターンを持つBOEが得
られた。なお、さらに多段のBOEとする場合、同様
に、第4のストッパ層を形成したうえで第4の透明層を
形成し、これを反応性イオンエッチングによってパター
ニングすれば、16段階層構造の回折パターンを持つB
OEを製造することができる。この時、最上段の透明層
の厚さd4 は、d4 =D4 =λ/16(n−1)=63
2.8/16(1.461−1)=85.24nmと設
定する。
【0048】なお、ここで、上記実施例と同じ光透過性
基板である、外径60mm、厚さ10mmの光学研磨さ
れた高純度合成石英を10枚用意し、この基板上に、エ
ッチングストッパ層としての屈折率nS =1.67のA
23 膜を189.5nm、その上に透明層としての
屈折率n=1.461のSiO2 膜を686.3nmの
膜厚でそれぞれイオンビームアシスト蒸着を施して形成
し、レジストパターン及びCrを用いた実施例との同様
の工程、同じ条件にて透明層に対する反応性イオンエッ
チングを行ない、各基板10枚についてエッチング状況
を検討してみた。結果を以下に示す。
【0049】まず、表1に、上記の実施例において行な
った反応性イオンエッチングと同じ条件での各物質層の
エッチングレートを示す。
【0050】表1から明らかなように、エッチングマス
クとして用いるCr及びエッチングストッパ層として用
いるAl23 は、透明層として用いるSiO2 に対し
て110倍の選択比が得られている。つまり、SiO2
を保護するCrマスクは、90分間でやっと9nmエッ
チングされる程度であり、上記実施例で膜厚50nmと
したCr膜は十分にマスクとしての役割を果たせるもの
であることがわかる。
【0051】
【表1】
【0052】また、光透過性基板としての石英ガラスを
保護し、深さ方向に対するストッパ層であるAl23
は、SiO2 のエッチングが完了する62.5分後から
27.5分間、エッチング雰囲気にさらされ、2.75
nmエッチングされる。つまり、このような反応性イオ
ンエッチングでは、透明層の理論深さ688.3nmに
対して0.4%程度の誤差が生じるものあり、回折効率
や反射防止特性に与える影響はほとんど無いといえる。
以上の如きBOEの製造方法は、SiO2(透明層)エ
ッチング時のオーバーエッチング時間を、更に少なくす
るか、SiO2 イオンビームアシスト蒸着の膜厚設定を
少なくすることにより、更に理論値に近づけることがで
きる製造方法である。
【0053】また、基板10枚についての結果は、透明
層の深さ理論値である688.3nmに対して+5%以
内に10枚とも入っていることが実際に確認できた。こ
の結果により、イオンビームアシスト蒸着による膜厚コ
ントロールとSiO2 エッチングが正しく行なわれてい
ることが立証できた。
【0054】次に、本実施例にて製造したBOEの表面
に製膜した反射防止膜について以下に示す。この反射防
止膜は、図2(a)に垂直断面で示したように、SiO
2 、ZrO2 ,Al23 の3層構成をもつものであ
る。この反射防止膜は、図2(b)に示すような分光反
射率特性を持つものである。この反射防止膜を、光透過
性基板+Al23 (ストッパ層)表面と、光透過性基
板+Al23 +SiO2 (透明層)表面に製膜したと
きの総合反射率特性を、それぞれ図2の(C)、(d)
に示す。
【0055】2段階層構造のBOEにおいては、ストッ
パー層であるAl23 の膜厚はnSS =λ/2(λ
=633nmは設計中心波長)であり、また、透明層で
あるSiO2 層はnd=λ/2(n−1)である。膜設
計上、これらの膜厚は、不在層とみなすことができる。
そのため、両表面に対しては、同一の反射防止膜(図2
(a))で対応することが可能となる。
【0056】なお、本発明のBOEの表面に形成する反
射防止膜は、図2(a)に示した3層構成の反射防止膜
に限定されるものではない。たとえば、通常Vコートと
呼ばれる2層構成の反射膜や、更に層数の多い反射防止
膜での対応が可能である。
【0057】また、本発明のBOE製造方法において、
基板上にストッパ層および透明層、また反射防止膜を積
層形成する際には、上記本実施例のように、イオンビー
ムアシストなどの蒸着法による製膜が好ましい。反射防
止膜は、凹凸のある表面に製膜させるものであるので、
膜にある程度の付着力(密着力)や膜強度がなければ表
面から剥離して、問題となる。また、ストッパー層であ
るAl23 膜や、透明層であるSiO2 層は、エッチ
ングや薬品に浸漬させるなどの加工プロセスを取るた
め、膜溶解のような問題が発生する可能性がある。しか
し、これらの膜形成にイオンビームアシスト蒸着を適用
すると、これにより形成された膜の付着力(密着力)
や、膜強度が向上し、また膜が緻密になるため、耐薬品
性に優れるなど有利な点が多い。このほか通常の真空蒸
着法、イオンビームスパッタ法、スパッタ法、イオンプ
レーティング法などが適用できる。
【0058】なお、本実施例で使用した光透過性基板、
透明層、エッチングストッパ層、また反射防止膜は、用
いた光源の波長が、632.8nmであることから選択
されたものであり、これらの各層(膜)に用いる材質や
特性は、使用する光の波長に応じてそれぞれ各層の作用
を発揮し得るものを適宜選択してやれば良い。
【0059】
【発明の効果】以上説明したとおり、本発明によれば、
正確に膜厚コントロールされたエッチングストッパ層と
透明層が形成でき、また透明層に対してエッチングガス
の選択比が高いものをエッチングマスクとして選択でき
るので、透明層のエッチング時に、正確な時間制御を必
要としないで安定で容易な製造工程にて、設計値が高精
度に再現された高品質のBOEが高い生産効率で製造で
きる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例による8段階層構造を持つバ
イナリーオプティクス(BOE)の製造方法を示す説明
図であり、(a)〜(i)は各工程におけるBOEの断
面図である。
【図2】本発明の一実施例にBOEの表面に形成された
反射防止膜であり、(a)は断面構成図であり、(b)
〜(d)は(a)に示した反射防止膜の反射率特性を示
す線図である。
【図3】本発明のBOE製造方法を説明する工程図であ
り、(a)〜(h)は各工程二置けるBOEの断面構成
図である。
【図4】(a)〜(c)まで各々異なる段数のBOEを
示す模式図である。
【図5】従来技術によるBOEの製造工程を示す説明図
である。
【符号の説明】
0,11:光透過性基板 1,2,3、13:透明層 A,B,C,12:エッチングストッパ層 14:Cr膜 15:レジスト膜 16:レチクル 17:紫外線 18:レジスト(マスク)パターン 19:Crマスクパターン 20:反応性イオンエッチング、またはイオンビームエ
ッチング 11:回折パターン 12:反射防止膜

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 光透過性の基板上に、断面が階段状の回
    折パターンが形成されたバイナリーオプティクスにおい
    て、 前記回折パターンが、透明層とエッチングストッパ層と
    の順序で積層された階層構造を有していることを特徴と
    するバイナリーオプティクス。
  2. 【請求項2】 光透過性の基板上に、波長λの光束に対
    する屈折率nの透明層とエッチングストッパ層との順序
    で積層された階層構造を有する回折パターンが断面階段
    状に形成されたバイナリーオプティクスの製造方法であ
    って、 前記基板上に第一のストッパ層を形成し、その上層に第
    一の透明層を形成し、該第一の透明層の予め定められた
    領域を厚み方向に前記第一のストッパ層が露出するまで
    除去するリソグラフィ工程aと、 前記第一の透明層の残存部分の上部のみに、該第一の透
    明層との合計での厚みの光学的距離がλ/2(n−1)
    となるよう第二のストッパ層を形成する工程bと、 前記第一のストッパ層の露出部分と第二のストッパ層の
    上部との全面に第二の透明層を形成し、第一のストッパ
    層の露出部分と第二のストッパ層の上部の夫々の部分に
    おいて、前記第二の透明層の予め定められた領域を厚み
    方向に各々の下層にあるストッパ層が露出するまで除去
    するリソグラフィ工程cと、を備えたことを特徴とする
    バイナリーオプティクスの製造方法。
  3. 【請求項3】 前記第二の透明層の残存部分の上部のみ
    に、該第二の透明層との合計での厚みの光学的距離がλ
    /4(n−1)となるよう第三のストッパ層を形成する
    工程dと、 前記第一のストッパ層と第二のストッパ層の露出部分、
    並びに第三のストッパ層の上部の全面に第三の透明層を
    形成し、第一のストッパ層と第二のストッパ層の露出部
    分、並びに第三のストッパ層の上部の夫々の部分におい
    て、前記第三の透明層の予め定められた領域を厚み方向
    に各々の下層にあるストッパ層が露出するまで除去する
    リソグラフィ工程eと、を更に備えたことを特徴とする
    請求項2に記載したバイナリーオプティクスの製造方
    法。
JP6170375A 1994-06-30 1994-06-30 バイナリーオプティクス及びその製造方法 Pending JPH0815510A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP6170375A JPH0815510A (ja) 1994-06-30 1994-06-30 バイナリーオプティクス及びその製造方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP6170375A JPH0815510A (ja) 1994-06-30 1994-06-30 バイナリーオプティクス及びその製造方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH0815510A true JPH0815510A (ja) 1996-01-19

Family

ID=15903778

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP6170375A Pending JPH0815510A (ja) 1994-06-30 1994-06-30 バイナリーオプティクス及びその製造方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0815510A (ja)

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000181076A (ja) * 1998-12-15 2000-06-30 Xerox Corp 埋め込みエッチング停止層を用いた多段構造の製作方法
KR100280312B1 (ko) * 1997-06-03 2001-02-01 이중구 키노폼 소자 제작방법
WO2002071105A2 (en) * 2000-12-05 2002-09-12 The Regents Of The University Of California Method of fabricating reflection-mode euv diffraction elements
WO2002073249A1 (fr) * 2001-03-09 2002-09-19 Sony Corporation Element lentille de diffraction et systeme d'eclairage utilisant ce dernier
US6475704B1 (en) 1997-09-12 2002-11-05 Canon Kabushiki Kaisha Method for forming fine structure
US6569608B2 (en) 1998-09-18 2003-05-27 Canon Kabushiki Kaisha Method of manufacturing an element with multiple-level surface
US6670105B2 (en) * 1998-09-18 2003-12-30 Canon Kabushiki Kaisha Method of manufacturing diffractive optical element
CN103424794A (zh) * 2013-09-03 2013-12-04 苏州大学 一种透射式分光光栅及干涉光刻系统
JP2021530736A (ja) * 2018-07-13 2021-11-11 バリアン・セミコンダクター・エクイップメント・アソシエイツ・インコーポレイテッド 回折光学素子の格子を最適に形成するためのシステム及び方法
US11402649B2 (en) 2018-07-13 2022-08-02 Varian Semiconductor Equipment Associates, Inc. System and method for optimally forming gratings of diffracted optical elements

Cited By (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100280312B1 (ko) * 1997-06-03 2001-02-01 이중구 키노폼 소자 제작방법
US6475704B1 (en) 1997-09-12 2002-11-05 Canon Kabushiki Kaisha Method for forming fine structure
US7018783B2 (en) 1997-09-12 2006-03-28 Canon Kabushiki Kaisha Fine structure and devices employing it
US6569608B2 (en) 1998-09-18 2003-05-27 Canon Kabushiki Kaisha Method of manufacturing an element with multiple-level surface
US6670105B2 (en) * 1998-09-18 2003-12-30 Canon Kabushiki Kaisha Method of manufacturing diffractive optical element
JP2000181076A (ja) * 1998-12-15 2000-06-30 Xerox Corp 埋め込みエッチング停止層を用いた多段構造の製作方法
WO2002071105A2 (en) * 2000-12-05 2002-09-12 The Regents Of The University Of California Method of fabricating reflection-mode euv diffraction elements
WO2002071105A3 (en) * 2000-12-05 2003-03-13 Univ California Method of fabricating reflection-mode euv diffraction elements
WO2002073249A1 (fr) * 2001-03-09 2002-09-19 Sony Corporation Element lentille de diffraction et systeme d'eclairage utilisant ce dernier
CN103424794A (zh) * 2013-09-03 2013-12-04 苏州大学 一种透射式分光光栅及干涉光刻系统
JP2021530736A (ja) * 2018-07-13 2021-11-11 バリアン・セミコンダクター・エクイップメント・アソシエイツ・インコーポレイテッド 回折光学素子の格子を最適に形成するためのシステム及び方法
US11402649B2 (en) 2018-07-13 2022-08-02 Varian Semiconductor Equipment Associates, Inc. System and method for optimally forming gratings of diffracted optical elements

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP1152291B1 (en) Photomask blank and photomask
US5234780A (en) Exposure mask, method of manufacturing the same, and exposure method using the same
US5605776A (en) Phase-shifting photomask blank, phase-shifting photomask, and method of manufacturing them
US20030223118A1 (en) Optical component and method of manufacturing same
US5902493A (en) Method for forming micro patterns of semiconductor devices
JP2002535702A (ja) 減衰性位相シフト多層膜マスク
JP2000199813A (ja) 光学素子の作製方法
US6395433B1 (en) Photomask for projection lithography at or below about 160 nm and a method thereof
US6670105B2 (en) Method of manufacturing diffractive optical element
JPH04233541A (ja) 光学マスクとその欠陥修正方法
JPH0815510A (ja) バイナリーオプティクス及びその製造方法
JPH11231161A (ja) 単一チャンバ内で平面光導波路を製作する方法
JPH0643311A (ja) 回折光学素子及びその製造方法
JPH11160510A (ja) 多段階段状素子の作製方法又は該素子作製用モールド型の作製方法
JPH11125896A (ja) フォトマスクブランクス及びフォトマスク
JP3408217B2 (ja) 微細構造の作成方法及び回折光学素子
JPH0463349A (ja) フォトマスクブランクおよびフォトマスク
JPH1112769A (ja) エッチング方法並びに装置及び回折光学素子の製造方法並びに装置
JPH03242648A (ja) ホトマスクの製造方法
JPH07120607A (ja) 光学素子及びその製造方法
KR100274149B1 (ko) 금속막 패턴닝 방법
JPH0749419A (ja) ホログラム光学素子の製造方法
JPH06250007A (ja) ブレーズド型回折格子の製造方法
JPH04284618A (ja) 光学マスクの製造方法
KR0174951B1 (ko) 미세 패턴 형성 방법