JPH08148464A - Substrate processing device and processing tank provided thereto - Google Patents

Substrate processing device and processing tank provided thereto

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JPH08148464A
JPH08148464A JP28782594A JP28782594A JPH08148464A JP H08148464 A JPH08148464 A JP H08148464A JP 28782594 A JP28782594 A JP 28782594A JP 28782594 A JP28782594 A JP 28782594A JP H08148464 A JPH08148464 A JP H08148464A
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substrate
processing tank
pure water
tank
chamber
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Hiroyuki Araki
浩之 荒木
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Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
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Abstract

PURPOSE: To obtain a substrate processing device which is small in size and low in cost by a method wherein a portable tank where injection pipes of liquid chemicals, pure water and the like are provided in one piece is used, and the substrate is subjected to a chemical process, a cleaning process, and a drying process in a chamber which is capable of being reduced in pressure. CONSTITUTION: A portable processing tank 21 is equipped with two injection pipes 25 which are used for pouring liquid chemicals or purer water into the processing tank and located at the lateral base sides of the outer wall of a case 22. A transfer robot 31 holds the portable processing tank 21, moves it to a pad 41, and puts it on the pad 41. Liquid chemicals or pure water fed to the injection pipes 25 through an inlet opening 44 provided to the pad 41 is buffered once through an inner pipe 26 and then spouted out of slits. A dam groove 47 is provided around the pad 41 to stop liquid chemicals or pure water which overflows the processing tank 21 from flowing away, and liquid chemicals or pure water stopped by the dam groove 47 is discharged outside of a reduced-pressure chamber 40 through the intermediary of a waste line 71. When a drying process is carried out, a valve 79 connected to the bottom of the reduced-pressure chamber 40 is opened, and the vacuum chamber is evacuated by an exhaust device.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、基板処理装置およびそ
れに用いられる処理槽に関し、より特定的には、半導体
デバイス製造プロセス、液晶ディスプレイ製造プロセ
ス、電子部品関連製造プロセス等において、シリコンウ
エハ、ガラス基板、電子部品等の各種基板に対して所定
の処理(薬液処理、洗浄処理および乾燥処理等)を施す
装置およびそれに用いられる処理槽に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a substrate processing apparatus and a processing bath used for the same, and more specifically, in a semiconductor device manufacturing process, a liquid crystal display manufacturing process, an electronic component-related manufacturing process, etc., a silicon wafer, a glass, etc. The present invention relates to an apparatus for performing a predetermined treatment (chemical treatment, cleaning treatment, drying treatment, etc.) on various substrates such as substrates and electronic components, and a treatment tank used for the same.

【0002】[0002]

【従来の技術】例えば、半導体デバイス製造プロセスに
は、エッチング工程や、レジスト膜剥離工程等におい
て、種々のウエット処理(液体を用いた処理)が不可欠
である。このウエット処理は、シリコンウエハ等の半導
体基板を所定の薬液に浸す薬液処理と、半導体基板上に
付着した薬液および各種パーティクルを純水で洗い流す
洗浄処理と、半導体基板を乾燥させる乾燥処理とを含
む。
2. Description of the Related Art For example, in a semiconductor device manufacturing process, various wet processes (processes using a liquid) are indispensable in an etching process, a resist film peeling process and the like. The wet treatment includes a chemical treatment for dipping a semiconductor substrate such as a silicon wafer in a predetermined chemical, a washing treatment for washing away the chemicals and various particles adhering on the semiconductor substrate with pure water, and a drying treatment for drying the semiconductor substrate. .

【0003】従来、上記のようなウエット処理を実施す
る種々の基板処理装置が、提案され、また実用化されて
いる。図10は、従来の基板処理装置の一例であるウエ
ットエッチング装置の模式断面図であり、特開平4−3
72129号公報に開示されたものを示している。ま
た、図11は、図10のウエットエッチング装置におい
て、第1の外槽内に保持具を入れた場合の断面図であ
る。また、図12は、図10のウエットエッチング装置
において、保持具および第1の保持具受け台の一部切り
欠き斜視図である。以下、これら図10〜図12を参照
して、従来の基板処理装置について説明する。
Conventionally, various substrate processing apparatuses for performing the above-mentioned wet processing have been proposed and put into practical use. FIG. 10 is a schematic cross-sectional view of a wet etching apparatus which is an example of a conventional substrate processing apparatus.
The one disclosed in Japanese Patent No. 72129 is shown. Further, FIG. 11 is a cross-sectional view of the wet etching apparatus of FIG. 10 in which a holder is placed in the first outer tank. 12 is a partially cutaway perspective view of the holder and the first holder pedestal in the wet etching apparatus of FIG. Hereinafter, a conventional substrate processing apparatus will be described with reference to FIGS. 10 to 12.

【0004】図10において、ウエットエッチング装置
は、開放された上面と多孔板7から成る底面を有し、ウ
エハ1をセットするための箱形の保持具2と、この保持
具2をエッチング部4と水洗部5および乾燥部6に搬送
するための自動搬送部3と、エッチング部4を構成する
第1の外槽8Aと、この第1の外槽8Aの底面部に設け
られ薬液供給管11が接続された第1の保持具台10A
と、水洗部5を構成する第2の外槽8Bと、この第2の
外槽8Bの底面部に設けられ純水供給管12が接続され
た第2の保持具受け台10Bと、第1および第2の保持
具受け台上の周囲に設けられこの保持具受け台とその上
に置かれる保持具2との隙間をシールするOリング14
とから主に構成されている。
In FIG. 10, the wet etching apparatus has a box-shaped holder 2 for setting a wafer 1, which has an open top surface and a bottom surface composed of a perforated plate 7, and an etching section 4 for the holder 2. And an automatic transfer section 3 for transferring to the water washing section 5 and the drying section 6, a first outer tank 8A constituting the etching section 4, and a chemical solution supply pipe 11 provided on the bottom surface of the first outer tank 8A. First holder base 10A connected to
A second outer tank 8B constituting the water washing section 5, a second holder holder 10B provided on the bottom surface of the second outer tank 8B and connected to a pure water supply pipe 12; And an O-ring 14 provided around the second holder pedestal to seal the gap between the holder pedestal and the holder 2 placed thereon.
It is mainly composed of

【0005】自動搬送部3は、チャック,シリンダー,
ベルト等から構成されており、ウエハ1がセットされた
保持具2を保持し、上下左右に移動させて保持具2をエ
ッチング部5等に搬送し、保持具受け台上に置く。
The automatic transfer section 3 includes a chuck, a cylinder,
The holder 2 is composed of a belt or the like, holds the holder 2 on which the wafer 1 is set, and moves the holder 2 vertically and horizontally to convey the holder 2 to the etching unit 5 and the like, and places it on the holder cradle.

【0006】図11および図12に示すように、エッチ
ング部4の第1の保持具台10Aの上に置かれた保持具
2は、第1の外槽8A上に固定されたクランプ9によっ
て第1の保持具台10Aに押しつけられ固定される。保
持具台2と第1の保持具台10Aとの隙間は、Oリング
14でシールされる。このようにして保持具2と第1の
保持具台10Aとによりエッチング槽が構成される。
As shown in FIGS. 11 and 12, the holder 2 placed on the first holder base 10A of the etching section 4 is moved by the clamp 9 fixed on the first outer tank 8A. The holder base 10A of No. 1 is pressed and fixed. The gap between the holder base 2 and the first holder base 10A is sealed with an O-ring 14. In this way, the etching tank is constituted by the holder 2 and the first holder base 10A.

【0007】次に、バルブ13Aが開き、薬液15がウ
エハの保持具2内に供給される。一定時間薬液15を流
した後、バルブ13Aは閉じられ、薬液供給は停止され
る。そして次にクランプ9が解除された後、自動搬送部
3は再度保持具2を掴み次の水洗部5へと運ぶ。水洗部
5でもエッチング部4と同様の操作が行われた後、次の
乾燥部6へと運ばれ、遠心乾燥機等によりウエハ1の乾
燥が行われて一連の処理が完了する。
Next, the valve 13A is opened and the chemical solution 15 is supplied into the wafer holder 2. After flowing the chemical liquid 15 for a certain period of time, the valve 13A is closed and the chemical liquid supply is stopped. Then, after the clamp 9 is released next, the automatic transport unit 3 grips the holder 2 again and carries it to the next water washing unit 5. After the same operation as in the etching unit 4 is performed in the water washing unit 5, it is carried to the next drying unit 6 and the wafer 1 is dried by a centrifugal dryer or the like to complete a series of processes.

【0008】[0008]

【発明が解決しようとする課題】上記のように従来の基
板処理装置は、薬液処理と水洗処理と乾燥処理とをそれ
ぞれ別の場所、すなわち別の外槽内で行っていた。その
ため、装置全体の構成が大型化し、また価格も高くな
る。特に、このような基板処理装置は、クリーンルーム
内に設置されるため、専有面積が大きくなると、クリー
ンルームの設備費も高くなる。
As described above, in the conventional substrate processing apparatus, the chemical solution treatment, the water washing treatment, and the drying treatment are performed in different places, that is, in different outer tanks. Therefore, the configuration of the entire apparatus becomes large and the price becomes high. In particular, since such a substrate processing apparatus is installed in a clean room, if the occupied area increases, the equipment cost of the clean room also increases.

【0009】それゆえに、本発明の目的は、小型でかつ
安価な基板処理装置およびそれに用いられる処理槽を提
供することである。
Therefore, an object of the present invention is to provide a small-sized and inexpensive substrate processing apparatus and a processing bath used for the same.

【0010】[0010]

【課題を解決するための手段】請求項1に係る発明は、
閉鎖された空間内で複数枚の基板に対して所定の処理を
施す装置であって、その上面と下面とが開口した箱形形
状を有し、かつその内部に複数枚の基板を収納し、さら
にその底部近傍には薬液および/または純水を注入する
ための注入管が一体的に設けられた可搬型の処理槽と、
その上面に開閉可能な蓋を有し、当該蓋が閉じられたと
き内部が密閉されるチャンバと、基板を収納した処理槽
を搬送してチャンバ内に収納する搬送手段と、チャンバ
の内底部に設けられ、処理槽の底部をシールされた状態
で保持する受け台と、チャンバに関連して設けられ、注
入管に外部からの薬液および/または純水を供給する供
給手段と、チャンバに関連して設けられ、処理槽から排
出された薬液および/または純水を外部に排出する排出
手段と、チャンバに関連して設けられ、当該チャンバ内
を真空排気して減圧することにより、基板を乾燥させる
減圧乾燥手段とを備え、チャンバ内で基板の薬液処理と
洗浄処理と乾燥処理とを行うことを特徴とする。
The invention according to claim 1 is
An apparatus for performing a predetermined process on a plurality of substrates in a closed space, which has a box shape with an upper surface and a lower surface opened, and stores a plurality of substrates inside thereof. Further, in the vicinity of its bottom, a portable processing tank integrally provided with an injection pipe for injecting a chemical solution and / or pure water,
A chamber having a lid that can be opened and closed on its upper surface, the interior of which is closed when the lid is closed, a transport means for transporting a processing bath containing a substrate and storing it in the chamber, and an inner bottom portion of the chamber. A pedestal that is provided and holds the bottom of the processing tank in a sealed state, a supply unit that is provided in association with the chamber and that supplies a chemical liquid and / or pure water from the outside to the injection pipe, and a chamber related to the chamber. And a discharge means for discharging the chemical solution and / or pure water discharged from the processing tank to the outside, and a chamber, which is vacuum-exhausted to reduce the pressure to dry the substrate. It is characterized in that the substrate is provided with a reduced pressure drying means, and the substrate is subjected to chemical solution treatment, cleaning treatment and drying treatment.

【0011】請求項2に係る発明は、請求項1の発明に
おいて、注入管は、内管と当該内管と連通した外管とか
ら成る2重管構造を有しており、外部からの薬液および
/または純水は、内管に供給されることを特徴とする。
According to a second aspect of the present invention, in the first aspect of the invention, the injection pipe has a double pipe structure including an inner pipe and an outer pipe communicating with the inner pipe. And / or pure water is supplied to the inner tube.

【0012】請求項3に係る発明は、請求項2の発明に
おいて、外管には、処理槽内に露出する面に1つまたは
複数の噴出口が形成されており、内管には、噴出口とほ
ぼ180°対向する位置に1つまたは複数の噴出口が形
成されている。
According to a third aspect of the present invention, in the second aspect of the invention, the outer pipe is provided with one or a plurality of jet ports on the surface exposed in the processing tank, and the inner pipe is provided with a jet port. One or a plurality of jet ports are formed at a position facing approximately 180 ° with respect to the jet port.

【0013】請求項4に係る発明は、請求項3の発明に
おいて、外管には、噴出口として、複数のスリットが形
成されており、各スリットは、処理槽内に配列された各
基板の間に対応する位置に配置されている。
According to a fourth aspect of the invention, in the invention of the third aspect, the outer tube is formed with a plurality of slits as ejection ports, and each slit is formed on each substrate arranged in the processing tank. It is arranged at a position corresponding to the space.

【0014】請求項5に係る発明は、請求項1〜4のい
ずれかの発明において、受け台の中央部において処理槽
内の基板の配列方向に沿って延びるように形成され、か
つ上方に突出する整流凸部をさらに備えている。
According to a fifth aspect of the present invention, in any one of the first to fourth aspects of the invention, the central portion of the pedestal is formed so as to extend along the arrangement direction of the substrates in the processing tank, and projects upward. Further provided is a rectifying convex portion.

【0015】請求項6に係る発明は、請求項1の発明に
おいて、チャンバに関連して設けられ、処理槽の底部を
押し上げて当該処理槽と受け台とを分離することによ
り、当該処理槽内に貯留された薬液および/または純水
を急速排出させるためのプッシュアップ装置をさらに備
えている。
According to a sixth aspect of the present invention, in the first aspect of the present invention, the inside of the treatment tank is provided by being provided in association with the chamber, and pushing up the bottom portion of the treatment tank to separate the treatment tank and the pedestal. The device further includes a push-up device for rapidly discharging the drug solution and / or pure water stored in.

【0016】請求項7に係る発明は、請求項6の発明に
おいて、処理槽の底部には、複数の位置決め溝が形成さ
れており、受け台の上面には、処理槽が載置されたと
き、位置決め溝にはまりこむ複数の位置決め突起が形成
されており、プッシュアップ装置は、各位置決め突起を
持ち上げることにより、処理槽の底部を持ち上げること
を特徴とする。
According to a seventh aspect of the present invention, in the invention of the sixth aspect, a plurality of positioning grooves are formed in the bottom of the processing tank, and the processing tank is placed on the upper surface of the pedestal. A plurality of positioning protrusions that fit into the positioning groove are formed, and the push-up device is characterized in that the bottom of the processing tank is lifted by lifting each positioning protrusion.

【0017】請求項8に係る発明は、可搬型であり、そ
の内部に収納された複数枚の基板に対して所定の処理を
施す際に、チャンバ内に収納される処理槽であって、そ
の上面と下面とが開口した筺体と、筺体の内壁に一体的
に形成され、それぞれに基板を保持するための複数の溝
が規則的に設けられた複数の基板ガイドと、筺体の下面
外周に沿って設けられ、その底部が平面に形成された枠
状のフレームと、筺体の底部近傍に一体的に設けられ、
当該筺体内部に薬液および/または純水を注入するため
の注入管とを備えている。
The invention according to claim 8 is a portable type, which is a processing tank housed in a chamber when a predetermined processing is performed on a plurality of substrates housed therein. A housing having an upper surface and a lower surface opened, a plurality of substrate guides integrally formed on the inner wall of the housing, and a plurality of grooves for regularly holding a substrate, respectively, are regularly provided, and along the outer circumference of the lower surface of the housing. And a frame-shaped frame whose bottom is formed in a plane, and is integrally provided in the vicinity of the bottom of the housing,
An injection pipe for injecting a chemical liquid and / or pure water is provided inside the housing.

【0018】[0018]

【作用】請求項1に係る発明においては、複数枚の基板
を収納した処理槽が搬送装置によって搬送されてチャン
バ内に収納される。このとき、チャンバ内の受け台は、
処理槽の底部をシールされた状態で保持する。次に、チ
ャンバの外部から薬液および/または純水が、処理槽に
設けられた注入管に供給される。したがって、処理槽内
に薬液および/または純水が注入される。また、処理槽
から排出された薬液および/または純水が、排出手段に
よってチャンバの外部に排出される。これら一連の作業
によって、チャンバ内で基板の薬液処理と洗浄処理とが
行われる。次に、減圧手段によって、チャンバ内が減圧
され、基板が乾燥させられる。このように、1つのチャ
ンバ内で基板の薬液処理と洗浄処理と乾燥処理とが行え
るため、小型でかつ安価な基板処理装置が得られる。
In the invention according to claim 1, the processing tank containing a plurality of substrates is transferred by the transfer device and is stored in the chamber. At this time, the pedestal in the chamber is
Hold the bottom of the treatment tank sealed. Next, a chemical solution and / or pure water is supplied from the outside of the chamber to an injection pipe provided in the processing tank. Therefore, the chemical liquid and / or pure water is injected into the processing tank. Further, the chemical liquid and / or pure water discharged from the processing tank is discharged to the outside of the chamber by the discharging means. Through a series of these operations, the chemical solution treatment and the cleaning treatment of the substrate are performed in the chamber. Next, the inside of the chamber is depressurized by the depressurizing means, and the substrate is dried. As described above, since the chemical liquid treatment, the cleaning treatment, and the drying treatment of the substrate can be performed in one chamber, a compact and inexpensive substrate processing apparatus can be obtained.

【0019】請求項2に係る発明においては、外部から
の薬液および/または純水は、まず注入管の内管に供給
される。その後、薬液および/または純水は、内管から
外管へと流出し、外管から処理槽へと噴出される。この
ように、外部から供給された薬液および/または純水
は、一旦内管でバッファされるため、外管から処理槽へ
噴出される薬液および/または純水の流速が注入管の長
手方向全長にわたって均一化される。
According to the second aspect of the invention, the chemical liquid and / or pure water from the outside is first supplied to the inner pipe of the injection pipe. Then, the chemical liquid and / or pure water flows out from the inner pipe to the outer pipe and is jetted from the outer pipe to the processing tank. As described above, since the chemical solution and / or pure water supplied from the outside is temporarily buffered in the inner tube, the flow rate of the chemical solution and / or pure water ejected from the outer tube to the processing tank is the total length in the longitudinal direction of the injection tube. Is homogenized over.

【0020】請求項3に係る発明においては、内管に供
給された薬液および/または純水は、内管の噴出口から
外管へと噴出した後、外管の内壁に当たって2方向に分
岐される。各分岐流は、外管の内壁に沿って進んだ後、
外管の噴出口付近で合流し、外管の噴出口から扇状の基
板間流動となって処理槽内に噴出される。このような扇
状の基板間流動は、処理槽内部を広くカバーする。
In the invention according to claim 3, the chemical liquid and / or pure water supplied to the inner pipe is ejected from the ejection port of the inner pipe to the outer pipe, and then hits the inner wall of the outer pipe to be branched in two directions. It After each branch flow proceeds along the inner wall of the outer pipe,
The merging is performed in the vicinity of the ejection port of the outer tube, and the inter-substrate flow in a fan shape is ejected from the ejection port of the outer tube into the processing tank. Such a fan-shaped inter-substrate flow widely covers the inside of the processing bath.

【0021】請求項4に係る発明においては、外管の各
スリットから噴出される扇状の基板間流動は、それぞれ
処理槽内に配列された各基板の間に確実に流れ込む。
In the invention according to claim 4, the fan-shaped inter-substrate flow ejected from each slit of the outer tube surely flows into each substrate arranged in the processing tank.

【0022】請求項5に係る発明においては、外管から
噴出される扇状の基板間流動は、受け台の中央部に形成
された整流凸部に当たって、種々の角度を持つ上昇流に
変換される。そのため、各基板間で回転流が形成され、
基板全体に新しい薬液または純水が効率良く行き渡る。
In the fifth aspect of the invention, the fan-shaped inter-substrate flow ejected from the outer tube hits the rectifying convex portion formed in the central portion of the pedestal and is converted into an upward flow having various angles. . Therefore, a rotational flow is formed between each substrate,
New chemical solution or pure water is efficiently spread over the entire substrate.

【0023】請求項6に係る発明においては、プッシュ
アップ装置によって処理槽の底部が押し上げられて処理
槽と受け台とが分離される。これによって、処理槽内に
貯留された薬液および/または純水が急速排出される。
According to the sixth aspect of the present invention, the bottom of the processing tank is pushed up by the push-up device to separate the processing tank from the pedestal. As a result, the chemical solution and / or pure water stored in the processing tank is rapidly discharged.

【0024】請求項7に係る発明においては、プッシュ
アップ装置は、各位置決め突起を持ち上げることによ
り、処理槽の底部を持ち上げる。
In the invention according to claim 7, the push-up device lifts the bottom of the processing tank by lifting each positioning protrusion.

【0025】[0025]

【実施例】図1は、本発明の一実施例に係る基板処理装
置の構成を示す外観斜視図である。また、図2は、図1
の基板処理装置における可搬型処理槽のより詳細な構成
を示す一部破断斜視図である。なお、本実施例の基板処
理装置は、後述するように、1つの減圧チャンバ内で、
各種基板(半導体集積回路のためのシリコンウエハ、液
晶表示装置のためのガラス基板、他の電子部品のための
基板等)に対する一連のウエット処理(薬液処理、洗浄
処理および乾燥処理)が行える構成となっている。以
下、図1および図2を参照して、本実施例の基板処理装
置の構成について説明する。
1 is an external perspective view showing the structure of a substrate processing apparatus according to an embodiment of the present invention. FIG. 2 is similar to FIG.
FIG. 3 is a partially cutaway perspective view showing a more detailed configuration of a portable processing tank in the substrate processing apparatus of FIG. The substrate processing apparatus of the present embodiment is, as will be described later, in one decompression chamber,
A configuration capable of performing a series of wet treatments (chemical treatment, cleaning treatment, and drying treatment) on various substrates (silicon wafers for semiconductor integrated circuits, glass substrates for liquid crystal display devices, substrates for other electronic components, etc.) Has become. The configuration of the substrate processing apparatus of this embodiment will be described below with reference to FIGS. 1 and 2.

【0026】可搬型処理槽(以下、単に処理槽と称す
る)21は、その上面と下面とが開口した筺体22を有
している。なお、筺体22の下部は、その内部に収納さ
れる基板21との隙間をできるだけ少なくするため、基
板20の外周に沿ったR形状を有している。筺体22の
内壁には、基板20を支持するための基板ガイド23a
〜23dが固定的に取り付けられている。各基板ガイド
23a〜23dには、それぞれ互いに対応する位置に複
数の支持溝が形成されており、この支持溝内で基板20
を支持することにより、処理槽21内に複数枚の基板2
0が相互に非接触でかつ平行な状態で配置される。筺体
22の外壁上部には、4つの係合突起24a〜24dが
固定的に取り付けられる。また、筺体22の外壁底部左
右には、処理槽内に薬液または純水を注入するための2
本の注入管25が設けられる。これら2本の注入管25
は、それぞれ、内管26と外管27から成る2重管構造
を有している。各内管26の一方端部は、外管27の一
方端部を貫通して垂直下方向に折り曲げられている。ま
た、各内管26の他方端部は、外管27において閉塞さ
れている。また、各外管27の一方端部および他方端部
は、いずれも閉塞されている。さらに、筺体22の下面
には、その開口を囲むように、矩形枠状のフレーム28
が設けられている。このフレーム28の底面は、減圧チ
ャンバ側の受け台41との密着性を上げるため、所定精
度の平面性を有するように形成されている。また、フレ
ーム28の底面には、各辺の中央部に位置決め溝29が
形成されている。
A portable processing tank (hereinafter simply referred to as a processing tank) 21 has a housing 22 whose upper and lower surfaces are open. The lower portion of the housing 22 has an R shape along the outer periphery of the substrate 20 in order to minimize the gap with the substrate 21 housed inside. The inner wall of the housing 22 has a substrate guide 23a for supporting the substrate 20.
23d are fixedly attached. Each of the substrate guides 23a to 23d is formed with a plurality of support grooves at positions corresponding to each other, and the substrate 20 is placed in the support grooves.
By supporting the plurality of substrates 2 in the processing bath 21.
Zeros are arranged in a non-contact and parallel state. Four engaging protrusions 24a to 24d are fixedly attached to the upper portion of the outer wall of the housing 22. Further, on the left and right sides of the outer wall bottom portion of the housing 22, there are two members for injecting a chemical solution or pure water into the processing tank.
A book injection tube 25 is provided. These two injection tubes 25
Has a double pipe structure composed of an inner pipe 26 and an outer pipe 27, respectively. One end of each inner pipe 26 penetrates one end of the outer pipe 27 and is bent vertically downward. The other end of each inner tube 26 is closed by an outer tube 27. Further, one end and the other end of each outer tube 27 are closed. Further, a rectangular frame-shaped frame 28 is provided on the lower surface of the housing 22 so as to surround the opening.
Is provided. The bottom surface of the frame 28 is formed to have a flatness with a predetermined accuracy in order to improve the adhesion with the pedestal 41 on the decompression chamber side. A positioning groove 29 is formed on the bottom surface of the frame 28 at the center of each side.

【0027】搬送ロボット31は、それぞれが回動可能
な左右1対のチャック32を有し、このチャック32に
は、係合凹部32a〜32dが設けられている。搬送ロ
ボット31は、これら係合凹部32a〜32dに処理槽
21の係合突起24a〜24dを係合させることによ
り、処理槽21を把持することができる。そして、搬送
ロボット31は、把持した処理槽21を上下左右に移動
させることができる。すなわち、本実施例では処理槽2
1は、基板20を搬送するためのキャリアとしても用い
られる。
The transfer robot 31 has a pair of left and right chucks 32, each of which is rotatable, and the chucks 32 are provided with engaging recesses 32a to 32d. The transfer robot 31 can hold the processing tank 21 by engaging the engaging protrusions 24a to 24d of the processing tank 21 with the engaging recesses 32a to 32d. Then, the transfer robot 31 can move the grasped processing tank 21 vertically and horizontally. That is, in this embodiment, the processing tank 2
1 is also used as a carrier for carrying the substrate 20.

【0028】図示しない減圧チャンバの内底部には、処
理槽21が載置される受け台41が設けられる。この受
け台41の上面には、上記フレーム28の各位置決め溝
29と対応する位置に複数の位置決め突起42が形成さ
れている。各位置決め突起42をそれぞれ対応する位置
決め溝29に係合させることにより、処理槽21が受け
台41に対して正確に位置決めされる。また、受け台4
1の上面には、フレーム28の底面と対向する位置に複
数の吸着口43が形成される。処理槽21が受け台41
の上に載置されたとき、各吸着口43から空気を吸い込
むことにより、処理槽21が動かないように真空チャッ
クされる。さらに、受け台41の上面には、各内管26
の一方端部と連結され、かつ各内管26に薬液または純
水を供給するための2つの注入口44(なお、図1では
作図の制約上1つの注入口のみが示されている)が形成
される。さらに、受け台41の上面中央には、その長手
方向(すなわち、基板20の配列方向)に沿って延びる
整流凸部45が形成されている。
A pedestal 41 on which the processing bath 21 is placed is provided at the inner bottom of the decompression chamber (not shown). A plurality of positioning protrusions 42 are formed on the upper surface of the pedestal 41 at positions corresponding to the positioning grooves 29 of the frame 28. By engaging each positioning protrusion 42 with the corresponding positioning groove 29, the processing tank 21 is accurately positioned with respect to the pedestal 41. Also, the cradle 4
A plurality of suction ports 43 are formed on the upper surface of the No. 1 at positions facing the bottom surface of the frame 28. The processing tank 21 is a pedestal 41
When it is placed on, the processing tank 21 is vacuum-chucked so as not to move by sucking air from each suction port 43. Further, on the upper surface of the pedestal 41, each inner pipe 26
Two inlets 44 (only one inlet is shown in FIG. 1 due to the limitation of drawing) connected to one end of the inner pipe 26 and for supplying a chemical liquid or pure water to each inner pipe 26. It is formed. Further, a rectifying convex portion 45 extending in the longitudinal direction (that is, the arrangement direction of the substrates 20) is formed in the center of the upper surface of the pedestal 41.

【0029】図3は、図1における注入管25のより詳
細な構成を示す部分斜視図である。図4は、図1におけ
る注入管25の断面図である。以下、これら図3および
図4を参照して、注入管25の構成をより詳細に説明す
る。外管27には、処理槽21の内部に向けて開口した
複数のスリット27aが形成されている。各スリット2
7aは、外管27の周方向に沿って延びており、かつ図
5に示すように、各基板20の間の位置に対応するよう
に配置されている。内管26には、複数の噴出口26a
が形成されている。なお、各噴出口26aは、上記スリ
ット27aとほぼ180°対向する位置に配置されてい
る。
FIG. 3 is a partial perspective view showing a more detailed structure of the injection pipe 25 in FIG. FIG. 4 is a sectional view of the injection pipe 25 in FIG. Hereinafter, the configuration of the injection tube 25 will be described in more detail with reference to FIGS. 3 and 4. The outer tube 27 is formed with a plurality of slits 27 a that open toward the inside of the processing tank 21. Each slit 2
7a extends along the circumferential direction of the outer tube 27, and is arranged so as to correspond to the position between the substrates 20, as shown in FIG. The inner pipe 26 has a plurality of ejection ports 26a.
Are formed. The ejection ports 26a are arranged at positions facing the slits 27a by approximately 180 °.

【0030】図6は、処理槽21を受け台41上に載置
した状態を示す部分断面図である。以下、この図6を参
照して、注入管25を2重管構造にした理由を説明す
る。受け台41の注入口44(図1参照)から内管26
に供給された薬液または純水は、各噴出口26aから外
管27内に流入する。外管27に流入した薬液または純
水は、各噴出口26aと対向する外管内壁に当たって、
2方向に分岐する。各分岐流は、外管27の内壁に沿っ
て移動した後、各スリット27a付近で合流し、各スリ
ット27aから処理槽内に噴出される。このとき、各ス
リット27aからは、扇状に広がった基板間流動が噴出
される。
FIG. 6 is a partial sectional view showing a state in which the processing tank 21 is placed on the pedestal 41. Hereinafter, the reason why the injection pipe 25 has a double pipe structure will be described with reference to FIG. From the inlet 44 (see FIG. 1) of the cradle 41 to the inner pipe 26
The chemical liquid or the pure water supplied to the inner pipe 27 flows into the outer pipe 27 from each ejection port 26a. The chemical liquid or pure water that has flowed into the outer pipe 27 hits the inner wall of the outer pipe facing the respective ejection ports 26a,
Branch in two directions. After moving along the inner wall of the outer pipe 27, the respective branched flows join together in the vicinity of the slits 27a and are jetted from the slits 27a into the processing tank. At this time, a fan-shaped inter-substrate flow is ejected from each slit 27a.

【0031】上記のように、注入口44ら注入管25に
供給された薬液または純水は、一旦内管26でバッファ
された後、各スリット27aから噴出される。したがっ
て、スリット27aにおける噴出流の流速は、外管27
の全長にわたってほぼ均一化される。また、各スリット
27aにおける長手方向の流速分布も均一化される。こ
れに対して、図10〜図12に示す従来の基板処理装置
では、薬液供給管11(または、純水供給管12)から
供給される薬液(または、純水)がバッファされること
なく単に多孔板7によって分散される構成であるので、
薬液供給管11(または、純水供給管12)が配置され
る多孔板7の中央部では噴出流の流速が最も速く、中央
部から離れるに従って急速にその流速が低下する。これ
では、薬液処理時に処理槽内での薬液の濃度差が大きく
なる。また、洗浄時にも薬液と純水の置換効率が悪くな
る。
As described above, the chemical liquid or pure water supplied from the inlet 44 to the inlet pipe 25 is temporarily buffered by the inner pipe 26 and then ejected from each slit 27a. Therefore, the flow velocity of the jet flow in the slit 27a is
Is almost uniformed over the entire length of. In addition, the flow velocity distribution in the longitudinal direction in each slit 27a is also made uniform. On the other hand, in the conventional substrate processing apparatus shown in FIGS. 10 to 12, the chemical liquid (or pure water) supplied from the chemical liquid supply pipe 11 (or pure water supply pipe 12) is simply not buffered. Since the structure is dispersed by the perforated plate 7,
The flow velocity of the jet flow is highest in the central portion of the perforated plate 7 where the chemical liquid supply pipe 11 (or the pure water supply pipe 12) is arranged, and the flow velocity decreases rapidly as the distance from the central portion increases. This increases the difference in the concentration of the chemical liquid in the processing tank during the chemical liquid processing. In addition, the efficiency of replacing the chemical solution with pure water becomes poor even during cleaning.

【0032】また、本実施例の注入管25では、外管2
7の各スリット27aが処理槽内の各基板20の間に対
応する位置に配置されているので、噴出流が各基板の間
に入り込み、薬液の分散効率および薬液と純水の置換効
率が従来の基板処理装置に比べて著しく改善される。ま
た、各スリット27aから扇状の基板間流動が噴出され
るので、当該基板間流動は処理槽内の広い範囲をカバー
する。しかも、各スリット27aからの噴出流は、受け
台41の中央に形成された整流凸部45によって種々の
角度を持つ上昇流に変換されるので、各基板間で回転流
が形成され、基板全体に新しい薬液または純水が行き渡
る。そのため、薬液処理効率および洗浄処理効率が向上
する。これに対し、図10〜図12に示す従来の基板処
理装置は、保持具2内では単に垂直方向の線状の上昇流
しか生じないため、多孔板7に形成された隣接する孔と
孔の間は、デッドスペースとなり、その部分で薬液また
は純水の循環効率が悪くなる。
Further, in the injection pipe 25 of this embodiment, the outer pipe 2
Since each slit 27a of No. 7 is arranged at a corresponding position between the substrates 20 in the processing tank, the jet flow enters between the substrates, and the dispersion efficiency of the chemical liquid and the substitution efficiency of the chemical liquid with the pure water are conventionally improved. It is remarkably improved as compared with the above substrate processing apparatus. Further, since a fan-shaped inter-substrate flow is ejected from each slit 27a, the inter-substrate flow covers a wide range in the processing tank. Moreover, the jet flow from each slit 27a is converted into an upward flow having various angles by the straightening convex portion 45 formed in the center of the pedestal 41, so that a rotational flow is formed between each substrate and the entire substrate is formed. New chemical solution or pure water spreads over. Therefore, the chemical treatment efficiency and the cleaning treatment efficiency are improved. On the other hand, in the conventional substrate processing apparatus shown in FIGS. 10 to 12, since only a linear upward flow in the vertical direction is generated in the holder 2, adjacent holes formed in the porous plate 7 are During that time, a dead space is formed, and the circulation efficiency of the chemical liquid or pure water is deteriorated at that portion.

【0033】なお、図7に示すように、受け台41の整
流凸部45の内部には、ピエゾ素子等から成る超音波振
動子46を設けるようにしても良い。この超音波振動子
46は、純水による洗浄時において、純水中に超音波を
生じさせ、基板を超音波により洗浄する。これに対し、
図10〜図12に示す従来の基板処理装置では、保持具
2の底部が多孔板7によって閉塞されているため、上記
のような超音波振動子を設けることができない。
As shown in FIG. 7, an ultrasonic transducer 46 composed of a piezo element or the like may be provided inside the rectifying convex portion 45 of the pedestal 41. The ultrasonic oscillator 46 generates ultrasonic waves in pure water during cleaning with pure water and cleans the substrate with ultrasonic waves. In contrast,
In the conventional substrate processing apparatus shown in FIGS. 10 to 12, since the bottom of the holder 2 is closed by the porous plate 7, it is not possible to provide the ultrasonic transducer as described above.

【0034】図8は、本発明の一実施例に係る基板処理
装置の全体構成を示すシステムフロー図である。図8に
おいて、減圧チャンバ40は、処理槽21を収納する本
体401と、本体401の上面に被せられる蓋402と
を含む。本体401と蓋402との間は、Oリング40
3等によって密着される。本体401の内底部には、処
理槽21を載置するための受け台41が配置される。こ
の受け台41の周囲には、処理槽21からオーバフロー
した薬液または純水を受けるための受け溝47が形成さ
れている。また、減圧チャンバ40の内部には、純水噴
出管48と、IPAベーパ(蒸気)供給管49とが設け
られている。
FIG. 8 is a system flow chart showing the overall configuration of the substrate processing apparatus according to one embodiment of the present invention. In FIG. 8, the decompression chamber 40 includes a main body 401 that houses the processing tank 21, and a lid 402 that covers the upper surface of the main body 401. An O-ring 40 is provided between the body 401 and the lid 402.
It is adhered by 3 etc. A pedestal 41 for mounting the processing bath 21 is arranged on the inner bottom of the main body 401. Around the pedestal 41, a receiving groove 47 for receiving the chemical liquid or the pure water which has overflowed from the processing tank 21 is formed. A deionized water jet pipe 48 and an IPA vapor (vapor) supply pipe 49 are provided inside the decompression chamber 40.

【0035】純水供給管48には、バルブ51を介して
外部の純水供給源から純水が供給される。IPAベーパ
供給管49には、バルブ52を介して外部のIPA供給
源からIPA(イソ・プロピル・アルコール)のベーパ
(蒸気)が供給される。減圧チャンバ40の外底部であ
って、受け台41の下部には、プッシュアップ装置53
が設けられる。このプッシュアップ装置53は、後述す
るクイック・ダンプ・リンス時に受け台41上の位置決
め突起42(図1参照)を押し上げて、フレーム28と
受け台41との間を分離する。これによって、処理槽内
の薬液または純水が急速排出される。
Pure water is supplied to the pure water supply pipe 48 from an external pure water supply source via a valve 51. IPA vapor (vapor) is supplied to the IPA vapor supply pipe 49 from an external IPA supply source through the valve 52. The push-up device 53 is provided on the outer bottom of the decompression chamber 40 and below the pedestal 41.
Is provided. The push-up device 53 pushes up the positioning protrusion 42 (see FIG. 1) on the pedestal 41 at the time of a quick dump rinse described later, and separates the frame 28 and the pedestal 41. As a result, the chemical liquid or pure water in the processing tank is rapidly discharged.

【0036】本実施例のシステムでは、薬液供給源とし
て3つのタンク54〜56が準備されている。第1のタ
ンク54には、NH4OH とH22とH20 との混合液
SC−1が収納されている。第2のタンク55には、H
ClとH22とH20 との混合液SC−2が収納されて
いる。第3のタンク56には、HFが収納されている。
混合液SC−1は、ポンプ57,フィルタ58およびバ
ルブ59を介して、受け台41の注入口44に供給され
る。混合液SC−2は、ポンプ60,フィルタ61およ
びバルブ62を介して、注入口44に供給される。HF
は、フィルタ63,バルブ64,ミキシングバルブ65
およびバルブ66を介して、注入口44に供給される。
第3のタンク56は、窒素ガス(N2 )によって加圧さ
れており、HFはこの加圧に応じた圧力で注入口44に
供給される。なお、第3のタンク56に対する加圧値
は、圧力検出器67と圧力制御器68とレギュレータ6
9とによって構成されるフィードバックループによって
自動制御されている。また、注入口44には、外部の純
水供給源からミキシングバルブ65を介して純水が供給
される。さらに、供給孔44には、バルブ70が連結さ
れる。このバルブ70は、処理槽内の液体をゆっくり排
出するスローリークのために用いられる。
In the system of this embodiment, three tanks 54 to 56 are prepared as chemical liquid supply sources. The first tank 54 stores a mixed liquid SC-1 of NH 4 OH, H 2 O 2 and H 2 0. In the second tank 55, H
A mixed solution SC-2 of Cl, H 2 O 2 and H 2 0 is stored. HF is stored in the third tank 56.
The mixed liquid SC-1 is supplied to the inlet 44 of the pedestal 41 via the pump 57, the filter 58, and the valve 59. The mixed liquid SC-2 is supplied to the inlet 44 via the pump 60, the filter 61 and the valve 62. HF
Is a filter 63, a valve 64, a mixing valve 65
And to the inlet 44 via the valve 66.
The third tank 56 is pressurized with nitrogen gas (N 2 ), and HF is supplied to the inlet 44 at a pressure according to this pressure. The pressure value applied to the third tank 56 is the pressure detector 67, the pressure controller 68, and the regulator 6.
It is automatically controlled by a feedback loop composed of 9 and 9. Pure water is supplied to the injection port 44 from an external pure water supply source through a mixing valve 65. Further, the valve 70 is connected to the supply hole 44. This valve 70 is used for a slow leak that slowly discharges the liquid in the processing tank.

【0037】処理槽21からオーバフローした薬液また
は純水は、受け溝47によって受けられた後、排液ライ
ン71を介して減圧チャンバ40の外部へ排出される。
この排液ライン71上には、バルブ71〜73が並列に
設けられる。バルブ72は、処理槽21からオーバフロ
ーした薬液(本実施例ではHF)または純水を排出する
ためのバルブである。また、バルブ72からの排出ライ
ンには、比抵抗計75が設けられる。この比抵抗計75
は、排出された純水の比抵抗を測定することにより、当
該純水中に含まれるパーティクルの量を検出する。不純
物すなわちパーティクルの量が少ないほど、純水の比抵
抗が高くなる。バルブ73は、混合液SC−1による薬
液処理時において、処理槽21からオーバフローした薬
液を第1のタンク54に戻すためのバルブである。バル
ブ74は、混合液SC−2による薬液処理時において、
処理槽21からオーバフローした薬液を第2のタンク5
5に戻すためのバルブである。
The chemical liquid or pure water that overflows from the processing tank 21 is received by the receiving groove 47 and then discharged to the outside of the decompression chamber 40 through the drainage line 71.
Valves 71 to 73 are provided in parallel on the drainage line 71. The valve 72 is a valve for discharging the chemical liquid (HF in this embodiment) or pure water that has overflowed from the processing tank 21. A specific resistance meter 75 is provided on the discharge line from the valve 72. This resistivity meter 75
Detects the amount of particles contained in the pure water by measuring the specific resistance of the discharged pure water. The smaller the amount of impurities, that is, particles, the higher the specific resistance of pure water. The valve 73 is a valve for returning the chemical liquid overflowing from the processing tank 21 to the first tank 54 during the chemical liquid treatment with the mixed liquid SC-1. The valve 74 is for treating the liquid chemical with the mixed liquid SC-2.
The chemical liquid overflowing from the processing tank 21 is stored in the second tank 5
It is a valve for returning to 5.

【0038】なお、第1のタンク54内にはヒータ75
が、第2のタンク55内にはヒータ76が設けられ、そ
れぞれの薬液が処理に最適な一定温度に保たれている。
また、フィルタ58と第1のタンク54との間にはバル
ブ75が、フィルタ61と第2のタンク55との間には
バルブ76が設けられている。これらバルブ75および
76は、薬液処理を行わないときに開き、各タンク内の
薬液を循環させる。これによって、各タンク内の薬液の
温度分布に不均一が生じないようにしている。減圧チャ
ンバ40の底部に連結されたバルブ79は、真空排気用
のバルブである。すなわち、乾燥処理時にバルブ79が
開き、図示しない排気装置によって減圧チャンバ内が減
圧される。
A heater 75 is provided in the first tank 54.
However, a heater 76 is provided in the second tank 55, and each chemical is kept at a constant temperature that is optimum for processing.
A valve 75 is provided between the filter 58 and the first tank 54, and a valve 76 is provided between the filter 61 and the second tank 55. These valves 75 and 76 are opened when the chemical solution is not processed to circulate the chemical solution in each tank. This prevents unevenness in the temperature distribution of the chemical liquid in each tank. The valve 79 connected to the bottom of the decompression chamber 40 is a valve for evacuation. That is, the valve 79 is opened during the drying process and the inside of the decompression chamber is decompressed by the exhaust device not shown.

【0039】図9は、図8に示す基板処理装置の動作を
示すフローチャートである。以下、この図9を参照し
て、図8の基板処理装置の動作を説明する。まず、前工
程から搬送されてきた基板20が処理槽21内に収納さ
れる。そして、搬送ロボット31(図1参照)がチャッ
ク32によって処理槽21を把持して搬送し、減圧チャ
ンバ40内の受け台41上に処理槽21を載置する(ス
テップS1)。その後、減圧チャンバ40の蓋402が
閉じられ、好ましくは、減圧チャンバ内の空気が窒素等
の不活性ガスと置換される。
FIG. 9 is a flow chart showing the operation of the substrate processing apparatus shown in FIG. The operation of the substrate processing apparatus shown in FIG. 8 will be described below with reference to FIG. First, the substrate 20 transferred from the previous step is stored in the processing tank 21. Then, the transfer robot 31 (see FIG. 1) grips and transfers the processing bath 21 by the chuck 32, and places the processing bath 21 on the pedestal 41 in the decompression chamber 40 (step S1). Then, the lid 402 of the decompression chamber 40 is closed, and the air in the decompression chamber is preferably replaced with an inert gas such as nitrogen.

【0040】次に、薬液処理が行われる。ここで、薬液
処理には、処理槽とタンク間で薬液を循環させて行う循
環型薬液処理と、そのような循環を行わない使い捨ての
非循環型薬液処理とがある。本実施例では、混合液SC
−1またはSC−2を用いた薬液処理は循環型薬液処理
であり、HFを用いた薬液処理は非循環型薬液処理であ
る。ステップS2では、これから行う薬液処理が、循環
型薬液処理であるか、非循環型薬液処理であるかを判断
している。
Next, chemical treatment is performed. Here, the chemical liquid treatment includes a circulating chemical liquid treatment performed by circulating the chemical liquid between the treatment tank and the tank, and a disposable non-circulating chemical liquid treatment not performing such circulation. In this embodiment, the mixed liquid SC
The chemical liquid treatment using -1 or SC-2 is a circulating chemical liquid treatment, and the chemical liquid treatment using HF is a non-circulating chemical liquid treatment. In step S2, it is determined whether the chemical liquid treatment to be performed is a circulating chemical liquid treatment or a non-circulating chemical liquid treatment.

【0041】上記ステップS2の判断の結果、循環型薬
液処理を行う場合、処理槽内に薬液を循環させる処理が
行われる(ステップS3)。例えば、混合液SC−1を
用いた薬液処理を行う場合、バルブ59および73が開
かれる。そのため、第1のタンク54内の薬液が処理槽
21内に供給される。そして、第1のタンク54からオ
ーバフローした薬液は、受け溝47およびバルブ73を
介して第1のタンク内に戻される。また、混合液SC−
2を用いた薬液処理を行う場合、バルブ62および74
が開かれる。そのため、第2のタンク55内の薬液が処
理槽内21に供給される。そして、第2のタンク55か
らオーバフローした薬液は、受け溝47およびバルブ7
4を介して第2のタンク内に戻される。上記のような薬
液の循環が予め定められた所定時間行われると、供給側
の各バルブが閉じられ、薬液の循環が停止される(ステ
ップS4)。
As a result of the determination in step S2, when the circulating type chemical solution treatment is performed, the processing of circulating the chemical solution in the treatment tank is performed (step S3). For example, when performing the chemical liquid treatment using the mixed liquid SC-1, the valves 59 and 73 are opened. Therefore, the chemical liquid in the first tank 54 is supplied into the processing tank 21. Then, the chemical liquid overflowing from the first tank 54 is returned into the first tank via the receiving groove 47 and the valve 73. In addition, mixed solution SC-
When performing the chemical liquid treatment using 2, the valves 62 and 74
Is opened. Therefore, the chemical liquid in the second tank 55 is supplied to the processing tank interior 21. Then, the chemical liquid overflowing from the second tank 55 receives the receiving groove 47 and the valve 7.
It is returned to the second tank via 4. When the circulation of the chemical liquid as described above is performed for a predetermined period of time, each valve on the supply side is closed and the circulation of the chemical liquid is stopped (step S4).

【0042】一方、非循環型薬液処理を行う場合、処理
槽内に薬液が供給され、オーバフローした薬液は排液と
して排出される(ステップS5)。より具体的に説明す
ると、バルブ64,66および72が開かれる。これに
よって、第3のタンク56内の薬液HFがミキシングバ
ルブ65で純水と混合された後、処理槽内に供給され
る。また、第3のタンク56からオーバフローした薬液
は、受け溝47およびバルブ72を介して排液として排
出される。上記のような薬液処理が予め定められた所定
時間行われると、バルブ64が閉じられ、薬液の供給お
よび排出が停止される(ステップS6)。
On the other hand, in the case of performing the non-circulation type chemical solution treatment, the chemical solution is supplied into the processing tank, and the overflowed chemical solution is discharged as drainage (step S5). More specifically, valves 64, 66 and 72 are opened. As a result, the chemical liquid HF in the third tank 56 is mixed with pure water by the mixing valve 65 and then supplied into the processing tank. Further, the chemical liquid that overflows from the third tank 56 is discharged as drainage through the receiving groove 47 and the valve 72. When the chemical solution treatment as described above is performed for a predetermined time, the valve 64 is closed and the supply and discharge of the chemical solution is stopped (step S6).

【0043】上記のようにして薬液処理が終了すると、
今度は洗浄処理が行われる。ここで、洗浄処理には、処
理槽内の薬液を急速排出(ドレイン)させる第1の洗浄
法と、そのような急速排出を行わない第2の洗浄法とが
ある。本実施例では、混合液SC−1またはSC−2を
用いた薬液処理後の洗浄処理は第1の洗浄法を採用し、
HFを用いた薬液処理後の洗浄処理は第2の洗浄法を採
用している。ステップS7では、これから行う洗浄処理
が、上記第1の洗浄処理か第2の洗浄処理かを判断して
いる。
When the chemical treatment is completed as described above,
This time, the cleaning process is performed. Here, the cleaning process includes a first cleaning method for rapidly discharging (draining) the chemical liquid in the processing tank and a second cleaning method for not performing such rapid discharging. In the present embodiment, the first cleaning method is adopted for the cleaning process after the chemical solution treatment using the mixed liquid SC-1 or SC-2,
The second cleaning method is used for the cleaning process after the chemical solution process using HF. In step S7, it is determined whether the cleaning process to be performed is the first cleaning process or the second cleaning process.

【0044】上記ステップS7の判断の結果、第1の洗
浄処理を行う場合、処理槽内の薬液が急速排出される
(ステップS8)。より具体的に説明すると、プッシュ
アップ装置53によって受け台41上の位置決め突起4
2(図1参照)が押し上げられ、フレーム28と受け台
41との間が分離する。これによって、処理槽内の薬液
または純水が急速に排出される。排出された薬液は、バ
ルブ73または74を介して、第1または第2のタンク
54または55内に回収され、再利用される。このよう
に、薬液の急速排出を行うことにより、薬液と純水との
置換が短時間で行える。次に、プッシュアップ装置53
が位置決め突起42を初期位置まで下降させ、処理槽2
1を再び受け台41上にセットする(ステップS9)。
このように、プッシュアップ装置53は、位置決め突起
42を昇降させるようにしているので、処理槽21の再
セット時に、処理槽21と受け台41とが自動的に位置
決めされ、両者のずれを防止できる。次に、バルブ66
が開かれて、処理槽内に純水が供給され、当該純水によ
って基板20が洗浄される(ステップS10)。このと
き、処理槽21からオーバフローした純水は、受け溝4
7およびバルブ72を介して減圧チャンバ外に排出され
る。次に、プッシュアップ装置53によって受け台41
上の位置決め突起42が押し上げられ、フレーム28と
受け台41との間が分離する。これによって、処理槽内
の純水が急速に排出される(ステップS11)。排出さ
れた純水は、受け溝47およびバルブ72を介して減圧
チャンバ外に捨てられる。このとき、バルブ51が開か
れ、純水噴出管48から各基板20に純水のシャワーが
浴びせられる。次に、プッシュアップ装置53が位置決
め突起42を初期位置まで下降させ、処理槽21を再び
受け台41上にセットする(ステップS12)。上記ス
テップS10〜S12の処理は、2〜3回繰り返され
る。上記のように、洗浄途中で処理槽内の純水を急速排
出(クイック・ダンプ・リンス)することにより、基板
20から脱離して純水に溶けだした多数のパーティクル
が一挙に排出され、洗浄時間を大幅に短縮化できる。
As a result of the determination in step S7, when the first cleaning process is performed, the chemical solution in the processing tank is rapidly discharged (step S8). More specifically, the positioning protrusions 4 on the pedestal 41 are pushed by the push-up device 53.
2 (see FIG. 1) is pushed up, and the frame 28 and the pedestal 41 are separated. As a result, the chemical liquid or pure water in the processing tank is rapidly discharged. The discharged chemical liquid is recovered in the first or second tank 54 or 55 through the valve 73 or 74 and reused. By rapidly discharging the chemical solution in this manner, the chemical solution can be replaced with pure water in a short time. Next, the push-up device 53
Lowers the positioning protrusion 42 to the initial position, and the processing tank 2
1 is set again on the pedestal 41 (step S9).
As described above, the push-up device 53 moves the positioning protrusion 42 up and down, so that when the processing tank 21 is reset, the processing tank 21 and the pedestal 41 are automatically positioned, and the displacement between them is prevented. it can. Next, the valve 66
Is opened, pure water is supplied into the processing tank, and the substrate 20 is washed with the pure water (step S10). At this time, the deionized water overflowing from the processing tank 21 is stored in the receiving groove 4
7 and the valve 72, and is discharged out of the decompression chamber. Next, the cradle 41 is pushed by the push-up device 53.
The upper positioning protrusion 42 is pushed up, and the frame 28 and the pedestal 41 are separated. As a result, the pure water in the processing tank is rapidly discharged (step S11). The discharged pure water is thrown out of the decompression chamber through the receiving groove 47 and the valve 72. At this time, the valve 51 is opened, and a shower of pure water is showered on each substrate 20 from the pure water jet pipe 48. Next, the push-up device 53 lowers the positioning protrusion 42 to the initial position, and sets the processing tank 21 on the receiving table 41 again (step S12). The processes of steps S10 to S12 are repeated 2-3 times. As described above, by rapidly discharging (quick dump rinse) the pure water in the processing tank during the cleaning, many particles detached from the substrate 20 and dissolved in the pure water are discharged all at once, and the cleaning time Can be significantly shortened.

【0045】一方、前述の第2の洗浄処理を行う場合、
バルブ66を介して、処理槽内に純水が供給され、当該
純水によって基板20が洗浄される(ステップS1
3)。このとき、処理槽内の薬液(HF)は、徐々に純
水と置換される。また、処理槽21からオーバフローし
た薬液または純水は、受け溝47およびバルブ72を介
して減圧チャンバ外に排出される。その後、予め定めら
れた時間が経過すると、バルブ66が閉じられ、処理槽
21への純水の供給が停止される(ステップS14)。
On the other hand, when performing the above-mentioned second cleaning treatment,
Pure water is supplied into the processing bath through the valve 66, and the substrate 20 is washed with the pure water (step S1).
3). At this time, the chemical solution (HF) in the processing tank is gradually replaced with pure water. Further, the chemical liquid or pure water that overflows from the processing tank 21 is discharged to the outside of the decompression chamber via the receiving groove 47 and the valve 72. After that, when a predetermined time has elapsed, the valve 66 is closed and the supply of pure water to the processing tank 21 is stopped (step S14).

【0046】次に、他の薬液処理が残っているかが判断
され、残っている場合は前述のステップS2〜S14の
動作が繰り返される。一方、全ての薬液処理が終了して
いる場合は、最終洗浄処理が行われる(ステップS1
6)。より具体的に説明すると、バルブ66が開かれ、
処理槽内に純水が供給される。このとき処理槽21から
オーバフローした純水は、受け溝47およびバルブ72
を介して減圧チャンバ外に排出される。また、比抵抗計
75によって排出された純水の比抵抗値が測定され、当
該比抵抗値が予め設定された値以上か未満かが判断され
る(ステップS17)。純水の比抵抗値が設定値未満の
場合、純水中のパーティクルの残存量が多いため、ステ
ップS16の最終洗浄処理が継続される。一方、純水の
比抵抗値が設定値以上の場合、純水中にはパーティクル
がほとんど残っていないため、バルブ66が閉じられ
て、処理槽内への純水の供給が停止される(ステップS
18)。このとき、減圧チャンバ40への窒素ガスの供
給も停止される。
Next, it is judged whether or not another chemical liquid treatment remains, and if there is any other chemical liquid treatment, the above-mentioned operations of steps S2 to S14 are repeated. On the other hand, when all the chemical solution treatments have been completed, the final cleaning treatment is performed (step S1).
6). More specifically, the valve 66 is opened,
Pure water is supplied into the processing tank. At this time, the pure water that overflows from the processing tank 21 receives the receiving groove 47 and the valve 72.
Is discharged to the outside of the decompression chamber via. Further, the specific resistance value of the pure water discharged is measured by the specific resistance meter 75, and it is determined whether the specific resistance value is equal to or more than a preset value or less (step S17). If the specific resistance value of the pure water is less than the set value, the amount of particles remaining in the pure water is large, and thus the final cleaning process of step S16 is continued. On the other hand, when the specific resistance value of the pure water is equal to or higher than the set value, almost no particles remain in the pure water, so the valve 66 is closed and the supply of the pure water into the processing tank is stopped (step S
18). At this time, the supply of nitrogen gas to the decompression chamber 40 is also stopped.

【0047】次に、バルブ70が開かれ、注入管25を
介して処理槽内の純水が徐々に排出される。また、同時
にバルブ52が開かれ、減圧チャンバ内にIPAベーパ
が供給される(ステップS19)。このとき、処理槽内
の水位が徐々に低下し、各基板20がIPAベーパにさ
らされる。そのため、各基板20の表面では、水滴がI
PAベーパと置換される。すなわち、IPAは、基板表
面に付いた水滴の表面張力を低下させるため、当該水滴
は、自重によって基板表面から流れ落ちる。処理槽内の
水位が基板20の最下部以下に低下すると、バルブ70
および52が閉じられて、純水の排出およびIPAベー
パの供給が停止される(ステップS20)。次に、バル
ブ79が開かれて、減圧チャンバ内が排気され減圧され
る(ステップS21)。その結果、IPAベーパの沸点
が低下し、基板表面で純水と置換したIPAは、速やか
に蒸発し、基板表面は短時間で乾燥する。なお、水溶性
でかつ基板上に残る水滴の表面張力を低下させる性質を
有しておれば、IPAベーパに代えて他の有機溶剤のベ
ーパを用いても良い。また、このような有機溶剤のベー
パに代えて、加熱された水蒸気を吹き付けて基板表面を
乾燥させるようにしても良い。基板の乾燥処理が終了す
ると、減圧チャンバ内に窒素ガスが供給され、その内部
が大気圧に戻される(ステップS22)。
Next, the valve 70 is opened and the pure water in the processing tank is gradually discharged through the injection pipe 25. At the same time, the valve 52 is opened and the IPA vapor is supplied into the decompression chamber (step S19). At this time, the water level in the processing tank gradually decreases and each substrate 20 is exposed to the IPA vapor. Therefore, on the surface of each substrate 20, water droplets I
Replaced with PA vapor. That is, IPA lowers the surface tension of water droplets attached to the substrate surface, and therefore the water droplets flow down from the substrate surface due to its own weight. When the water level in the processing tank drops below the bottom of the substrate 20, the valve 70
And 52 are closed, and the discharge of pure water and the supply of IPA vapor are stopped (step S20). Next, the valve 79 is opened, and the inside of the decompression chamber is evacuated and decompressed (step S21). As a result, the boiling point of the IPA vapor is lowered, the IPA replaced with pure water on the substrate surface is quickly evaporated, and the substrate surface is dried in a short time. In addition, as long as it is water-soluble and has a property of lowering the surface tension of water droplets remaining on the substrate, a vapor of another organic solvent may be used instead of the IPA vapor. Instead of such an organic solvent vapor, heated water vapor may be sprayed to dry the substrate surface. When the substrate drying process is completed, nitrogen gas is supplied into the decompression chamber and the inside thereof is returned to atmospheric pressure (step S22).

【0048】なお、上記実施例では、注入管25の外管
27に設けられたスリット27aは、各基板20の間に
対応する位置に配置されているが、それ以外の位置に配
置されても良い。また、このようなスリットに代えて、
円形等の孔を外管27に設けるようにしても良い。ま
た、外管27にその軸方向に沿って延びるような1つの
長孔を設けるようにしても良い。また、上記実施例で
は、2重管構造の注入管を用いたが、1重構造の注入管
を用いても良い。
In the above embodiment, the slits 27a provided on the outer tube 27 of the injection tube 25 are arranged at the corresponding positions between the substrates 20, but they may be arranged at other positions. good. Also, instead of such a slit,
A circular hole or the like may be provided in the outer tube 27. Further, the outer tube 27 may be provided with one elongated hole extending along the axial direction thereof. Further, in the above-mentioned embodiment, the double-pipe structure injection pipe is used, but the single-structure injection pipe may be used.

【0049】[0049]

【発明の効果】請求項1の発明によれば、1つのチャン
バ内で基板の薬液処理と洗浄処理と乾燥処理とが行える
ため、小型でかつ安価な基板処理装置が得られる。
According to the first aspect of the present invention, since a chemical solution treatment, a cleaning treatment and a drying treatment of a substrate can be performed in one chamber, a compact and inexpensive substrate processing apparatus can be obtained.

【0050】請求項2の発明によれば、外部から供給さ
れた薬液および/または純水は、一旦内管でバッファさ
れるため、外管から処理槽へ噴出される薬液および/ま
たは純水の流速が注入管の長手方向全長にわたって均一
化される。したがって、各基板をむらなく処理できる。
According to the second aspect of the present invention, since the chemical solution and / or pure water supplied from the outside is temporarily buffered in the inner tube, the chemical solution and / or pure water ejected from the outer tube to the processing tank can be treated. The flow velocity is uniform over the entire length of the injection tube in the longitudinal direction. Therefore, each substrate can be processed uniformly.

【0051】請求項3の発明によれば、外管の噴出口か
らは、扇状の基板間流動が噴出されるので、処理槽内部
を広くカバーでき、デッドスペースができにくい。
According to the third aspect of the invention, since the fan-shaped inter-substrate flow is jetted from the jet port of the outer tube, the inside of the processing tank can be widely covered and a dead space is unlikely to be formed.

【0052】請求項4の発明によれば、外管の各スリッ
トは、各基板の間に対応する位置に配置されているの
で、各スリットから噴出される扇状の基板間流動は、そ
れぞれ処理槽内に配列された各基板の間に確実に流れ込
む。したがって、処理効率が大幅に向上する。
According to the invention of claim 4, since each slit of the outer tube is arranged at a position corresponding to each substrate, the fan-shaped inter-substrate flow ejected from each slit is different in each processing tank. It surely flows between the substrates arranged inside. Therefore, the processing efficiency is significantly improved.

【0053】請求項5の発明によれば、外管から噴出さ
れる扇状の基板間流動は、受け台の中央部に形成された
整流凸部に当たって、種々の角度を持つ上昇流に変換さ
れるので、各基板間で回転流が形成され、基板全体に新
しい薬液または純水が効率良く行き渡る。
According to the fifth aspect of the present invention, the fan-shaped inter-substrate flow ejected from the outer tube hits the straightening convex portion formed in the central portion of the pedestal and is converted into an upward flow having various angles. Therefore, a rotating flow is formed between the substrates, and the new chemical liquid or pure water is efficiently spread over the entire substrates.

【0054】請求項6の発明によれば、プッシュアップ
装置によって処理槽の底部が押し上げられて処理槽と受
け台とが分離されるので、処理槽内に貯留された薬液ま
たは純水を急速に排出できる。
According to the sixth aspect of the present invention, since the bottom of the processing tank is pushed up by the push-up device to separate the processing tank and the pedestal from each other, the chemical liquid or pure water stored in the processing tank can be rapidly discharged. Can be discharged.

【0055】請求項7の発明によれば、プッシュアップ
装置は、各位置決め突起を持ち上げることにより、処理
槽の底部を持ち上げるので、処理槽の下降時、すなわち
再セット時において、処理槽が自動的に位置決めされ、
受け台との間で位置ずれが起こるのを防止できる。
According to the invention of claim 7, since the push-up device lifts the bottom of the processing tank by lifting each positioning protrusion, the processing tank automatically moves when the processing tank is lowered, that is, when the processing tank is reset. Positioned in
It is possible to prevent displacement from occurring with respect to the cradle.

【0056】請求項8の発明によれば、処理槽をチャン
バから取り出すことができるため、チャンバ内の清掃が
容易に行える。また、チャンバから取り出した状態で基
板を収納できるため、チャンバ内に設けられた処理槽に
基板を収納する場合に比べて、収納作業が容易である。
また、処理槽の上面および下面が開口しているため、処
理槽の下部から昇降装置等で各基板を垂直に昇降させる
ことにより、各基板を収納または取り出すことができ
る。したがって、従来のように搬送ロボットのチャック
を処理槽内に入れて基板を掴む場合に比べて、処理槽内
のマージンを少なくできる。その結果、処理槽の内容積
が小さくなり、薬液や純水の消費量を低減できる。
According to the eighth aspect of the present invention, since the processing bath can be taken out of the chamber, the inside of the chamber can be easily cleaned. Further, since the substrate can be stored in the state of being taken out from the chamber, the storing operation is easier than the case of storing the substrate in the processing tank provided in the chamber.
Further, since the upper and lower surfaces of the processing tank are open, each substrate can be housed or taken out by vertically elevating and lowering each substrate from the lower portion of the processing tank with an elevating device or the like. Therefore, the margin in the processing tank can be reduced as compared with the conventional case where the chuck of the transfer robot is put in the processing tank to grip the substrate. As a result, the internal volume of the processing tank is reduced, and the consumption of chemicals and pure water can be reduced.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の一実施例に係る基板処理装置の構成を
示す要部斜視図である。
FIG. 1 is a perspective view of essential parts showing a configuration of a substrate processing apparatus according to an embodiment of the present invention.

【図2】図1における処理槽21をより詳細に示す一部
破断斜視図である。
FIG. 2 is a partially cutaway perspective view showing the processing tank 21 in FIG. 1 in more detail.

【図3】図1における注入管25のより詳細な構成を示
す部分斜視図である。
FIG. 3 is a partial perspective view showing a more detailed configuration of an injection pipe 25 in FIG.

【図4】図1における注入管25の断面図である。4 is a cross-sectional view of an injection pipe 25 in FIG.

【図5】図1における基板20とスリット27aとの配
置関係を示す図である。
5 is a diagram showing an arrangement relationship between a substrate 20 and a slit 27a in FIG.

【図6】図1の実施例において、注入管25から処理槽
内に噴出される薬液または純水の流れを説明するための
図である。
FIG. 6 is a diagram for explaining the flow of a chemical solution or pure water ejected from the injection pipe 25 into the processing tank in the embodiment of FIG.

【図7】さらに、超音波振動子を設けた受け台の構成を
示す図である。
FIG. 7 is a diagram showing a configuration of a pedestal provided with an ultrasonic transducer.

【図8】本発明の一実施例に係る基板処理装置の全体構
成を示すシステムフロー図である。
FIG. 8 is a system flow diagram showing an overall configuration of a substrate processing apparatus according to an embodiment of the present invention.

【図9】図8に示す実施例の動作を示すフローチャート
である。
9 is a flowchart showing the operation of the embodiment shown in FIG.

【図10】従来の基板処理装置の構成を示す模式断面図
である。
FIG. 10 is a schematic cross-sectional view showing the configuration of a conventional substrate processing apparatus.

【図11】図10におけるエッチング部の断面図であ
る。
FIG. 11 is a cross-sectional view of the etched portion in FIG.

【図12】図10における保持具と第1の保持具受け台
の一部切り欠き斜視図である。
12 is a partially cutaway perspective view of the holder and the first holder cradle in FIG. 10. FIG.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

20…基板 21…処理槽 22…筺体 23a〜23d…基板ガイド 24a〜24d…係合突起 25…注入管 26…内管 26a…噴出口 27…外管 27a…スリット 28…フレーム 29…位置決め溝 31…搬送ロボット 32…チャック 40…減圧チャンバ 41…受け台 42…位置決め突起 43…吸着口 44…注入口 45…整流凸部 46…超音波振動子 20 ... Substrate 21 ... Processing tank 22 ... Enclosure 23a-23d ... Substrate guide 24a-24d ... Engagement projection 25 ... Injection pipe 26 ... Inner pipe 26a ... Jet port 27 ... Outer pipe 27a ... Slit 28 ... Frame 29 ... Positioning groove 31 ... Transfer robot 32 ... Chuck 40 ... Decompression chamber 41 ... Receptacle 42 ... Positioning protrusion 43 ... Adsorption port 44 ... Injection port 45 ... Rectification convex part 46 ... Ultrasonic transducer

Claims (8)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 閉鎖された空間内で複数枚の基板に対し
て所定の処理を施す装置であって、 その上面と下面とが開口した箱形形状を有し、かつその
内部に前記複数枚の基板を収納し、さらにその底部近傍
には薬液および/または純水を注入するための注入管が
一体的に設けられた可搬型の処理槽と、 その上面に開閉可能な蓋を有し、当該蓋が閉じられたと
き内部が密閉されるチャンバと、 前記基板を収納した処理槽を搬送して前記チャンバ内に
収納する搬送手段と、 前記チャンバの内底部に設けられ、前記処理槽の底部を
シールされた状態で保持する受け台と、 前記チャンバに関連して設けられ、前記注入管に外部か
らの薬液および/または純水を供給する供給手段と、 前記チャンバに関連して設けられ、前記処理槽から排出
された薬液および/または純水を外部に排出する排出手
段と、 前記チャンバに関連して設けられ、当該チャンバ内を真
空排気して減圧することにより、前記基板を乾燥させる
減圧乾燥手段とを備え、 前記チャンバ内で前記基板の薬液処理と洗浄処理と乾燥
処理とを行うことを特徴とする、基板処理装置。
1. An apparatus for performing a predetermined process on a plurality of substrates in a closed space, which has a box shape with an upper surface and a lower surface opened, and wherein the plurality of substrates are provided inside thereof. Of the substrate, and a portable treatment tank integrally provided with an injection pipe for injecting a chemical solution and / or pure water near the bottom thereof, and an openable lid on the upper surface thereof, A chamber whose inside is closed when the lid is closed, a transport means for transporting the processing bath containing the substrate and storing it in the chamber, and a bottom portion of the processing bath provided at an inner bottom portion of the chamber. A pedestal for holding in a sealed state, a supply means provided in association with the chamber, for supplying a chemical liquid and / or pure water from the outside to the injection pipe, and provided in association with the chamber, The chemical liquid discharged from the treatment tank And / or a decompression means for ejecting pure water to the outside, and a decompression drying means provided in association with the chamber for drying the substrate by evacuating and decompressing the inside of the chamber. A substrate processing apparatus, wherein the substrate is subjected to a chemical solution treatment, a cleaning treatment, and a drying treatment.
【請求項2】 前記注入管は、内管と当該内管と連通し
た外管とから成る2重管構造を有しており、 外部からの薬液および/または純水は、前記内管に供給
される、請求項1に記載の基板処理装置。
2. The injection pipe has a double pipe structure composed of an inner pipe and an outer pipe communicating with the inner pipe, and a chemical solution and / or pure water from the outside is supplied to the inner pipe. The substrate processing apparatus according to claim 1, which is performed.
【請求項3】 前記外管には、前記処理槽内に露出する
面に1つまたは複数の噴出口が形成されており、 前記内管には、前記噴出口とほぼ180°対向する位置
に1つまたは複数の噴出口が形成されている、、請求項
2に記載の基板処理装置。
3. The outer pipe is formed with one or a plurality of jet ports on a surface exposed in the processing tank, and the inner pipe is provided at a position facing the jet port by approximately 180 °. The substrate processing apparatus according to claim 2, wherein one or a plurality of ejection ports are formed.
【請求項4】 前記外管には、前記噴出口として、複数
のスリットが形成されており、 各前記スリットは、前記処理槽内に配列された各基板の
間に対応する位置に配置されている、請求項3に記載の
基板処理装置。
4. A plurality of slits are formed in the outer tube as the ejection ports, and each of the slits is arranged at a position corresponding to each of the substrates arranged in the processing bath. The substrate processing apparatus according to claim 3, wherein
【請求項5】 前記受け台の中央部において前記処理槽
内の前記基板の配列方向に沿って延びるように形成さ
れ、かつ上方に突出する整流凸部をさらに備える、請求
項1〜4のいずれかに記載の基板処理装置。
5. The rectifying convex portion, which is formed so as to extend along the arrangement direction of the substrates in the processing tank in the central portion of the pedestal and which projects upward, is any one of claims 1 to 4. The substrate processing apparatus as described in 1.
【請求項6】 前記チャンバに関連して設けられ、前記
処理槽の底部を押し上げて当該処理槽と前記受け台とを
分離することにより、当該処理槽内に貯留された薬液お
よび/または純水を急速排出させるためのプッシュアッ
プ装置をさらに備える、請求項1に記載の基板処理装
置。
6. A chemical solution and / or pure water stored in the processing tank, which is provided in association with the chamber and pushes up a bottom portion of the processing tank to separate the processing tank from the pedestal. The substrate processing apparatus according to claim 1, further comprising a push-up device for rapidly discharging the gas.
【請求項7】 前記処理槽の底部には、複数の位置決め
溝が形成されており、 前記受け台の上面には、前記処理槽が載置されたとき、
前記位置決め溝にはまりこむ複数の位置決め突起が形成
されており、 前記プッシュアップ装置は、各前記位置決め突起を持ち
上げることにより、前記処理槽の底部を持ち上げる、請
求項6に記載の基板処理装置。
7. A plurality of positioning grooves are formed in the bottom of the processing tank, and when the processing tank is placed on the upper surface of the pedestal,
The substrate processing apparatus according to claim 6, wherein a plurality of positioning protrusions that fit in the positioning groove are formed, and the push-up device lifts the bottom of the processing tank by lifting each of the positioning protrusions.
【請求項8】 可搬型であり、その内部に収納された複
数枚の基板に対して所定の処理を施す際に、チャンバ内
に収納される処理槽であって、 その上面と下面とが開口した筺体と、 前記筺体の内壁に一体的に形成され、それぞれに基板を
保持するための複数の溝が規則的に設けられた複数の基
板ガイドと、 前記筺体の下面外周に沿って設けられ、その底部が平面
に形成された枠状のフレームと、 前記筺体の底部近傍に一体的に設けられ、当該筺体内部
に薬液および/または純水を注入するための注入管とを
備える、処理槽。
8. A processing tank which is portable and is housed in a chamber when a predetermined processing is performed on a plurality of substrates housed therein, and an upper surface and a lower surface thereof are open. And a plurality of substrate guides, which are integrally formed on the inner wall of the casing, and each of which has a plurality of grooves for holding a substrate, are provided along the outer periphery of the lower surface of the casing, A processing tank comprising: a frame-shaped frame whose bottom is formed into a plane; and an injection pipe integrally provided near the bottom of the housing for injecting a chemical solution and / or pure water into the inside of the housing.
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