JPH08145772A - 電子式はかりの零点およびスパン調整方法 - Google Patents
電子式はかりの零点およびスパン調整方法Info
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- JPH08145772A JPH08145772A JP28575394A JP28575394A JPH08145772A JP H08145772 A JPH08145772 A JP H08145772A JP 28575394 A JP28575394 A JP 28575394A JP 28575394 A JP28575394 A JP 28575394A JP H08145772 A JPH08145772 A JP H08145772A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】作業効率を改善する電子式はかりの零点・スパ
ン調整方法を提供する。 【構成】ロードセル１の荷重検出信号ａの増幅信号ａ’
からムダ目消去調整回路43において調整されたムダ目消
去信号ｄを減算し、この減算信号ｅをゲイン調整回路４
５において調整し、Ａ／Ｄ変換器１６においてディジタ
ル信号ｆに変換してコンピュータ４１へ出力するアナロ
グ回路部Ａ’を備えた電子式はかりにおいて、コンピュ
ータ４１は、入力したはかりの秤量と目量に基づいて、
ムダ目消去調整回路４３とゲイン調整回路４５のゲイン
を選択し、一定値以内のロードセル１及びアナログ回路
部Ａ’の零点の変化を許容できるようはかりの零点を自
動調整し、かつスパンが最大となるように自動調整す
る。 【効果】はかりの秤量と目量を入力するだけで、零点と
スパンが自動調整されることにより、調整作業効率を改
善でき、コストを低減できる。
ン調整方法を提供する。 【構成】ロードセル１の荷重検出信号ａの増幅信号ａ’
からムダ目消去調整回路43において調整されたムダ目消
去信号ｄを減算し、この減算信号ｅをゲイン調整回路４
５において調整し、Ａ／Ｄ変換器１６においてディジタ
ル信号ｆに変換してコンピュータ４１へ出力するアナロ
グ回路部Ａ’を備えた電子式はかりにおいて、コンピュ
ータ４１は、入力したはかりの秤量と目量に基づいて、
ムダ目消去調整回路４３とゲイン調整回路４５のゲイン
を選択し、一定値以内のロードセル１及びアナログ回路
部Ａ’の零点の変化を許容できるようはかりの零点を自
動調整し、かつスパンが最大となるように自動調整す
る。 【効果】はかりの秤量と目量を入力するだけで、零点と
スパンが自動調整されることにより、調整作業効率を改
善でき、コストを低減できる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は電子式はかりの零点およ
びスパン調整方法に関するものである。
びスパン調整方法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】従来の上記電子式はかりの回路構成を図
３，図４に示す。図３において、１は、はかりの検出手
段のロードセルであり、その励磁端子２は後述するアナ
ログ回路部Ａの電源端子３に接続され、電源が供給さ
れ、また出力端子４はアナログ回路部Ａの入力端子５に
接続され、ロードセル１の荷重検出信号ａがアナログ回
路部Ａに入力され、また励磁端子２はアナログ回路部Ａ
の基準端子６に接続され、ロードセル１の電圧信号ｂが
アナログ回路部Ａに入力されている。
３，図４に示す。図３において、１は、はかりの検出手
段のロードセルであり、その励磁端子２は後述するアナ
ログ回路部Ａの電源端子３に接続され、電源が供給さ
れ、また出力端子４はアナログ回路部Ａの入力端子５に
接続され、ロードセル１の荷重検出信号ａがアナログ回
路部Ａに入力され、また励磁端子２はアナログ回路部Ａ
の基準端子６に接続され、ロードセル１の電圧信号ｂが
アナログ回路部Ａに入力されている。
【０００３】アナログ回路部Ａは、入力端子５に接続さ
れ、ロードセル１の荷重検出信号ａを増幅し、増幅され
た荷重検出信号ａ’を出力するプリアンプ11と、基準端
子６に接続されロードセル１の電圧信号ｂを増幅し、基
準電圧信号ｃを出力する基準アンプ12と、基準アンプ12
に接続され基準電圧信号ｃを調整し、はかりのムダ目に
相当するムダ目消去信号ｄを出力するムダ目消去調整回
路13（後述する）と、プリアンプ11とムダ目消去調整回
路13に接続され、荷重検出信号ａ’よりムダ目消去信号
ｄを減算し、計量信号ｅを出力する減算器14と、減算器
14に接続され、計量信号ｅを調整し、計量信号ｅ’を出
力するゲイン調整回路15（後述する）と、ゲイン調整回
路15と基準アンプ12に接続され、基準電圧信号ｃに応じ
て計量信号ｅ’をディジタル信号ｆに変換するアナログ
−ディジタル変換器（以下、Ａ／Ｄ変換器と略す）16か
ら構成されている。
れ、ロードセル１の荷重検出信号ａを増幅し、増幅され
た荷重検出信号ａ’を出力するプリアンプ11と、基準端
子６に接続されロードセル１の電圧信号ｂを増幅し、基
準電圧信号ｃを出力する基準アンプ12と、基準アンプ12
に接続され基準電圧信号ｃを調整し、はかりのムダ目に
相当するムダ目消去信号ｄを出力するムダ目消去調整回
路13（後述する）と、プリアンプ11とムダ目消去調整回
路13に接続され、荷重検出信号ａ’よりムダ目消去信号
ｄを減算し、計量信号ｅを出力する減算器14と、減算器
14に接続され、計量信号ｅを調整し、計量信号ｅ’を出
力するゲイン調整回路15（後述する）と、ゲイン調整回
路15と基準アンプ12に接続され、基準電圧信号ｃに応じ
て計量信号ｅ’をディジタル信号ｆに変換するアナログ
−ディジタル変換器（以下、Ａ／Ｄ変換器と略す）16か
ら構成されている。
【０００４】Ａ／Ｄ変換器16から出力された計量のディ
ジタル信号ｆは出力端子17を介してコンピュータ21へ出
力され、コンピュータ21により計量値がディジタル表示
器（図示せず）に表示される。
ジタル信号ｆは出力端子17を介してコンピュータ21へ出
力され、コンピュータ21により計量値がディジタル表示
器（図示せず）に表示される。
【０００５】ムダ目消去調整回路13の回路図を図４に示
す。ムダ目消去調整回路13は一般にオペアンプを使用し
た反転増幅回路と呼ばれる回路であり、入力側抵抗Ｒs
と帰還側抵抗Ｒf の抵抗値の比により増幅率（ゲイン）
を定めることができる。帰還側抵抗Ｒf は、粗調整用の
複数の固定抵抗31を直列に接続し、これら各固定抵抗31
にそれぞれ並列にディップ−スイッチ32を接続し、固定
抵抗31にさらに微調整用の可変抵抗33を直列に接続して
構成されている。
す。ムダ目消去調整回路13は一般にオペアンプを使用し
た反転増幅回路と呼ばれる回路であり、入力側抵抗Ｒs
と帰還側抵抗Ｒf の抵抗値の比により増幅率（ゲイン）
を定めることができる。帰還側抵抗Ｒf は、粗調整用の
複数の固定抵抗31を直列に接続し、これら各固定抵抗31
にそれぞれ並列にディップ−スイッチ32を接続し、固定
抵抗31にさらに微調整用の可変抵抗33を直列に接続して
構成されている。
【０００６】ゲイン調整回路15の回路も同様の構成であ
り、説明を省略する。但し、微調整用の可変抵抗33は不
要である。上記構成による動作を説明する。
り、説明を省略する。但し、微調整用の可変抵抗33は不
要である。上記構成による動作を説明する。
【０００７】ロードセル１により検出された荷重検出信
号ａは、プリアンプ14により増幅され、減算器14により
荷重検出信号ａ’からムダ目消去調整回路13により調整
されたムダ目消去信号ｄが減算されて計量信号ｅが求め
られ、この出力はゲイン調整回路15で調整され、Ａ／Ｄ
変換器16によりディジタル信号ｆに変換されてコンピュ
ータ21へ入力され、計量値がディジタル表示器に表示さ
れる。
号ａは、プリアンプ14により増幅され、減算器14により
荷重検出信号ａ’からムダ目消去調整回路13により調整
されたムダ目消去信号ｄが減算されて計量信号ｅが求め
られ、この出力はゲイン調整回路15で調整され、Ａ／Ｄ
変換器16によりディジタル信号ｆに変換されてコンピュ
ータ21へ入力され、計量値がディジタル表示器に表示さ
れる。
【０００８】次に、ゲイン調整回路15とムダ目消去調整
回路13のゲインを調整して、目標の零点とスパンに調整
する方法について説明する。 錘を載せない状態でロードセル１に電源を供給する。
回路13のゲインを調整して、目標の零点とスパンに調整
する方法について説明する。 錘を載せない状態でロードセル１に電源を供給する。
【０００９】そしてまず、ムダ目消去調整回路13を調
整する。すなわち、減算器14の出力信号（計量信号）ｅ
のレベルを確認しながら、この出力信号ｅのレベルが所
定値αと一致するように、ムダ目消去調整回路13のディ
ップ−スイッチ32を投入して粗調整し、続いて可変抵抗
33を可変する。
整する。すなわち、減算器14の出力信号（計量信号）ｅ
のレベルを確認しながら、この出力信号ｅのレベルが所
定値αと一致するように、ムダ目消去調整回路13のディ
ップ−スイッチ32を投入して粗調整し、続いて可変抵抗
33を可変する。
【００１０】上記所定値αは、目標の零点値であり、ロ
ードセル１の荷重検出信号ａがマイナス側に振れた場
合、Ａ／Ｄ変換器16の入力信号がマイナスとならないよ
うに設定されたバイアス値である（Ａ／Ｄ変換器によっ
ては入力信号がマイナスとなると、正確にＡ／Ｄ変換で
きないものがある）。この所定値αに相当するディジタ
ル信号ｆ（＝α’）をコンピュータ21は零点であると認
識する。
ードセル１の荷重検出信号ａがマイナス側に振れた場
合、Ａ／Ｄ変換器16の入力信号がマイナスとならないよ
うに設定されたバイアス値である（Ａ／Ｄ変換器によっ
ては入力信号がマイナスとなると、正確にＡ／Ｄ変換で
きないものがある）。この所定値αに相当するディジタ
ル信号ｆ（＝α’）をコンピュータ21は零点であると認
識する。
【００１１】はかりに、秤量の錘を載せる。 そして次に、ゲイン調整回路15を調整する。すなわ
ち、秤量の錘を載せたときのゲイン調整回路15の出力信
号ｅ’が目標の（零点＋スパン）の値以下になるよう
に、ゲイン調整回路15の出力信号ｅ’のレベルを確認し
ながら、ゲイン調整回路15のディップ−スイッチ32を投
入して調整する。
ち、秤量の錘を載せたときのゲイン調整回路15の出力信
号ｅ’が目標の（零点＋スパン）の値以下になるよう
に、ゲイン調整回路15の出力信号ｅ’のレベルを確認し
ながら、ゲイン調整回路15のディップ−スイッチ32を投
入して調整する。
【００１２】このとき、ゲイン調整回路15の調整によ
って出力信号ｅ’が変化するので、ゲイン調整後に秤量
の錘を降ろして、出力信号ｅ’のレベルが所定値α’に
一致するように、ムダ目消去調整回路13を再調整する。
って出力信号ｅ’が変化するので、ゲイン調整後に秤量
の錘を降ろして、出力信号ｅ’のレベルが所定値α’に
一致するように、ムダ目消去調整回路13を再調整する。
【００１３】調整された後の秤量のディジタル信号ｆを
βとすると、（β−α’）をコンピュータ21はスパンで
あると認識する。
βとすると、（β−α’）をコンピュータ21はスパンで
あると認識する。
【００１４】
【発明が解決しようとする課題】しかし、このような従
来のゲイン調整回路15とムダ目消去調整回路13のゲイン
の調整による、零点とスパンの調整方法では、作業員が
信号レベルを確認しながら調整する必要があり、またデ
ィップ−スイッチ32、および可変抵抗33を調整する必要
があり、さらにムダ目消去調整回路13の再調整も必要な
ことから、調整に時間と手間がかかり作業効率が悪く、
コストがかかるという問題があった。
来のゲイン調整回路15とムダ目消去調整回路13のゲイン
の調整による、零点とスパンの調整方法では、作業員が
信号レベルを確認しながら調整する必要があり、またデ
ィップ−スイッチ32、および可変抵抗33を調整する必要
があり、さらにムダ目消去調整回路13の再調整も必要な
ことから、調整に時間と手間がかかり作業効率が悪く、
コストがかかるという問題があった。
【００１５】本発明はこのような問題点を解決するもの
であり、作業効率を改善する電子式はかりの零点および
スパン調整方法を提供することを目的とするものであ
る。
であり、作業効率を改善する電子式はかりの零点および
スパン調整方法を提供することを目的とするものであ
る。
【００１６】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
本発明の電子式はかりの零点およびスパン調整方法は、
はかりの検出手段としてロードセルを有し、このロード
セルの荷重検出信号より、ムダ目消去調整回路において
アナログ−ディジタル変換器の基準電圧より調整される
ムダ目消去信号を減算し、この減算信号をゲイン調整回
路において調整し、前記アナログ−ディジタル変換器に
おいてディジタル信号に変換してコンピュータへ出力す
るアナログ回路部を有す電子式はかりにおける、零点お
よびスパンの調整方法であって、前記アナログ回路部を
構成する素子によりに定まる、前記アナログ−ディジタ
ル変換器のフルスケールをＳ，前記ゲイン調整回路が選
択可能なゲインをＧG ，前記ムダ目消去調整回路が選択
可能なゲインをＧM ，零点のアナログ−ディジタル変換
器の最小出力基準値をＫ，スパンのアナログ−ディジタ
ル変換器の最大出力基準値をＭ、前記コンピュータに入
力される、前記電子式はかりの秤量をＷ，目量をＺとす
ると、錘を載せない状態において、各ゲイン調整回路の
ゲインＧG 毎に、アナログ−ディジタル変換器の出力値
Ｌを計測し、 Ｌ−ＧM ・ＧG ・Ｓ≧Ｋ …（１） を満たす最大のムダ目消去調整回路のゲインＧM を選択
し、この選択されたゲインＧM における零点値ωを ω＝Ｌ−ＧM ・ＧG ・Ｓ …（２） にて演算し、これら各ゲイン調整回路のゲインＧG 毎
に、選択されたムダ目消去調整回路のゲインＧM と零点
値ωを記憶し、次に秤量Ｗの錘を載せ、各ゲイン調整回
路のゲインＧG 毎に、選択されたムダ目消去調整回路の
ゲインＧM に設定して、アナログ−ディジタル変換器の
出力値Ｈを計測し、スパン値Ｆを Ｆ＝Ｈ−ω …（３） にて演算し、これら各ゲイン調整回路のゲインＧG 毎
に、スパン値Ｆを記憶し、 Ｆ≦Ｍ …（４） を満たす最大のスパン値Ｆのゲイン調整回路のゲインＧ
G を選択し、この選択されたゲインＧG におけるスパン
値Ｆによりスパン係数Ｑを、 Ｑ＝（Ｗ／Ｚ）／Ｆ …（５） にて演算して求め、前記選択されたゲインＧG における
零点値ωを零点スケールとし、選択されたムダ目消去調
整回路のゲインＧM を最終の調整ゲインＧM とすること
を特徴とするものである。
本発明の電子式はかりの零点およびスパン調整方法は、
はかりの検出手段としてロードセルを有し、このロード
セルの荷重検出信号より、ムダ目消去調整回路において
アナログ−ディジタル変換器の基準電圧より調整される
ムダ目消去信号を減算し、この減算信号をゲイン調整回
路において調整し、前記アナログ−ディジタル変換器に
おいてディジタル信号に変換してコンピュータへ出力す
るアナログ回路部を有す電子式はかりにおける、零点お
よびスパンの調整方法であって、前記アナログ回路部を
構成する素子によりに定まる、前記アナログ−ディジタ
ル変換器のフルスケールをＳ，前記ゲイン調整回路が選
択可能なゲインをＧG ，前記ムダ目消去調整回路が選択
可能なゲインをＧM ，零点のアナログ−ディジタル変換
器の最小出力基準値をＫ，スパンのアナログ−ディジタ
ル変換器の最大出力基準値をＭ、前記コンピュータに入
力される、前記電子式はかりの秤量をＷ，目量をＺとす
ると、錘を載せない状態において、各ゲイン調整回路の
ゲインＧG 毎に、アナログ−ディジタル変換器の出力値
Ｌを計測し、 Ｌ−ＧM ・ＧG ・Ｓ≧Ｋ …（１） を満たす最大のムダ目消去調整回路のゲインＧM を選択
し、この選択されたゲインＧM における零点値ωを ω＝Ｌ−ＧM ・ＧG ・Ｓ …（２） にて演算し、これら各ゲイン調整回路のゲインＧG 毎
に、選択されたムダ目消去調整回路のゲインＧM と零点
値ωを記憶し、次に秤量Ｗの錘を載せ、各ゲイン調整回
路のゲインＧG 毎に、選択されたムダ目消去調整回路の
ゲインＧM に設定して、アナログ−ディジタル変換器の
出力値Ｈを計測し、スパン値Ｆを Ｆ＝Ｈ−ω …（３） にて演算し、これら各ゲイン調整回路のゲインＧG 毎
に、スパン値Ｆを記憶し、 Ｆ≦Ｍ …（４） を満たす最大のスパン値Ｆのゲイン調整回路のゲインＧ
G を選択し、この選択されたゲインＧG におけるスパン
値Ｆによりスパン係数Ｑを、 Ｑ＝（Ｗ／Ｚ）／Ｆ …（５） にて演算して求め、前記選択されたゲインＧG における
零点値ωを零点スケールとし、選択されたムダ目消去調
整回路のゲインＧM を最終の調整ゲインＧM とすること
を特徴とするものである。
【００１７】
【作用】上記方法によると、電子式はかりの秤量Ｗ，目
量Ｚを入力し、錘を載せない状態において、各ゲイン調
整回路のゲインＧG 毎に、アナログ−ディジタル変換器
の出力値Ｌを計測し、上記（１）式を満たす最大のムダ
目消去調整回路のゲインＧM を選択し、この選択された
ゲインＧM における零点値ωを上記（２）式により演算
し、これら各ゲイン調整回路のゲインＧG 毎に、選択さ
れたムダ目消去調整回路のゲインＧM と零点値ωを記憶
し、次に秤量の錘を載せ、各ゲイン調整回路のゲインＧ
G 毎に、選択されたムダ目消去調整回路のゲインＧM に
設定して、アナログ−ディジタル変換器の出力値Ｈを計
測し、スパン値Ｆを上記（３）式により演算し、これら
各ゲイン調整回路のゲインＧG 毎のスパン値Ｆを記憶
し、次に上記（４）式を満たす最大のスパン値Ｆのゲイ
ン調整回路のゲインＧG を選択し、この選択されたゲイ
ンＧG におけるスパン値Ｆによりスパン係数Ｑを上記
（５）式にて演算して求め、前記選択されたゲインＧG
における零点値ωを零点スケールとし、選択されたムダ
目消去調整回路のゲインＧM を最終の調整ゲインＧMと
する。
量Ｚを入力し、錘を載せない状態において、各ゲイン調
整回路のゲインＧG 毎に、アナログ−ディジタル変換器
の出力値Ｌを計測し、上記（１）式を満たす最大のムダ
目消去調整回路のゲインＧM を選択し、この選択された
ゲインＧM における零点値ωを上記（２）式により演算
し、これら各ゲイン調整回路のゲインＧG 毎に、選択さ
れたムダ目消去調整回路のゲインＧM と零点値ωを記憶
し、次に秤量の錘を載せ、各ゲイン調整回路のゲインＧ
G 毎に、選択されたムダ目消去調整回路のゲインＧM に
設定して、アナログ−ディジタル変換器の出力値Ｈを計
測し、スパン値Ｆを上記（３）式により演算し、これら
各ゲイン調整回路のゲインＧG 毎のスパン値Ｆを記憶
し、次に上記（４）式を満たす最大のスパン値Ｆのゲイ
ン調整回路のゲインＧG を選択し、この選択されたゲイ
ンＧG におけるスパン値Ｆによりスパン係数Ｑを上記
（５）式にて演算して求め、前記選択されたゲインＧG
における零点値ωを零点スケールとし、選択されたムダ
目消去調整回路のゲインＧM を最終の調整ゲインＧMと
する。
【００１８】上記（１）式は、一定値以内のロードセル
およびアナログ回路部の零点変化を許容できるように、
すなわち零点変化によりＡ／Ｄ変換器の入力信号がマイ
ナスにならないように、バイアス値を（零点の最小出力
基準値Ｋ）を与えるものであり、この基準値Ｋを満たす
最大のムダ目調整回路のゲインＧM が選択され、上記
（２）式で求められる、最小出力基準値Ｋ以上のバイア
ス値（零点値ω）が保証される。
およびアナログ回路部の零点変化を許容できるように、
すなわち零点変化によりＡ／Ｄ変換器の入力信号がマイ
ナスにならないように、バイアス値を（零点の最小出力
基準値Ｋ）を与えるものであり、この基準値Ｋを満たす
最大のムダ目調整回路のゲインＧM が選択され、上記
（２）式で求められる、最小出力基準値Ｋ以上のバイア
ス値（零点値ω）が保証される。
【００１９】また上記（３）式は、スパンのＡ／Ｄ変換
値（スパン値Ｆ）を得るものであり、また上記（４）式
は、スパン値Ｆがアナログ−ディジタル変換器の最大出
力基準値Ｍ内であることを条件とするものであり、この
式を満たす、最大のスパン値Ｆが得られるゲイン調整回
路のゲインＧG が選択され、その結果、（４）式の条件
下で最大のスパンが得られる。また零点値ωが零点スケ
ールとなる。
値（スパン値Ｆ）を得るものであり、また上記（４）式
は、スパン値Ｆがアナログ−ディジタル変換器の最大出
力基準値Ｍ内であることを条件とするものであり、この
式を満たす、最大のスパン値Ｆが得られるゲイン調整回
路のゲインＧG が選択され、その結果、（４）式の条件
下で最大のスパンが得られる。また零点値ωが零点スケ
ールとなる。
【００２０】また上記（５）式は、スパン係数を求める
一般式である。
一般式である。
【００２１】
【実施例】以下、本発明の一実施例を図面に基づいて説
明する。なお、従来例の図３の構成と同一の構成には同
一の符号を付して説明を省略する。
明する。なお、従来例の図３の構成と同一の構成には同
一の符号を付して説明を省略する。
【００２２】図１は本発明の零点およびスパン調整方法
を使用した電子式はかりの回路構成図である。図示のよ
うに、アナログ回路部Ａ’には、従来のムダ目消去調整
回路13に代えて、後述するコンピュータ41から第１選択
入力端子42を介して、ムダ目消去選択信号ｇを入力し、
アナログスイッチ（図示せず）によりゲインを調整し、
はかりのムダ目に相当するムダ目消去信号ｄを出力する
ムダ目消去調整回路43が設けられ、さらに従来のゲイン
調整回路15に代えて、コンピュータ41から第２選択入力
端子44を介して、ゲイン選択信号ｈを入力し、アナログ
スイッチ（図示せず）によりゲインを調整し、計量信号
ｅを調整し、計量信号ｅ’を出力するゲイン調整回路45
が設けられている。
を使用した電子式はかりの回路構成図である。図示のよ
うに、アナログ回路部Ａ’には、従来のムダ目消去調整
回路13に代えて、後述するコンピュータ41から第１選択
入力端子42を介して、ムダ目消去選択信号ｇを入力し、
アナログスイッチ（図示せず）によりゲインを調整し、
はかりのムダ目に相当するムダ目消去信号ｄを出力する
ムダ目消去調整回路43が設けられ、さらに従来のゲイン
調整回路15に代えて、コンピュータ41から第２選択入力
端子44を介して、ゲイン選択信号ｈを入力し、アナログ
スイッチ（図示せず）によりゲインを調整し、計量信号
ｅを調整し、計量信号ｅ’を出力するゲイン調整回路45
が設けられている。
【００２３】電子式はかりの零点およびスパン調整方法
を図２のフローチャートにしたがって説明する。なお、
コンピュータ41には、電子式はかりの秤量、目量（最小
目盛）に関係なく、予め上記アナログ回路Ａ’を構成す
る素子、電源により予め定まる下記の回路の値が入力さ
れている。
を図２のフローチャートにしたがって説明する。なお、
コンピュータ41には、電子式はかりの秤量、目量（最小
目盛）に関係なく、予め上記アナログ回路Ａ’を構成す
る素子、電源により予め定まる下記の回路の値が入力さ
れている。
【００２４】１．Ａ／Ｄ変換器16の基準電圧Ｘ（ｖ）， ２．Ａ／Ｄ変換器16のフルスケール（カウント）， ３．ムダ目消去調整回路43が選択可能なゲインＧ
M （倍）， ４．ゲイン調整回路45が選択可能なゲインＧG （倍）， ５．零点の最小出力基準値Ｋ（カウント）， ６．秤量スパンの最大出力基準値Ｍ（カウント） 〔ステップ−１〕はかりの調整員は、コンピュータ41
に、はかりの目的とする、 １．電子式はかりの秤量Ｗ（ｋｇ）， ２．電子式はかりの目量（最小目盛）Ｚ（ｋｇ），を入
力する。 ＊コンピュータ41は、ゲイン調整回路45のゲインＧG を
切り替えて下記ステップ−２〜ステップ−６を実行す
る。 〔ステップ−２〕まず、ゲイン調整回路45の第１のゲイ
ンＧG を選択する。たとえば、ゲインＧ G として、1.0
0，1.40，1.96，2.74 が選択可能であるとすると、ゲ
インＧG （１）＝1.00が選択される。 〔ステップ−３〕選択したゲインＧG （１）のゲイン選
択信号ｈをゲイン調整回路45へ出力する。このゲイン選
択信号ｈによりゲイン調整回路45においてゲインが調整
される。 〔ステップ−４〕はかりに錘を載せない状態で、Ａ／Ｄ
変換器16の出力値Ｌにより、 Ｌ−Ｘ・ＧM ・ＧG ・Ｓ／Ｘ≧Ｋ …（１） を演算する。
M （倍）， ４．ゲイン調整回路45が選択可能なゲインＧG （倍）， ５．零点の最小出力基準値Ｋ（カウント）， ６．秤量スパンの最大出力基準値Ｍ（カウント） 〔ステップ−１〕はかりの調整員は、コンピュータ41
に、はかりの目的とする、 １．電子式はかりの秤量Ｗ（ｋｇ）， ２．電子式はかりの目量（最小目盛）Ｚ（ｋｇ），を入
力する。 ＊コンピュータ41は、ゲイン調整回路45のゲインＧG を
切り替えて下記ステップ−２〜ステップ−６を実行す
る。 〔ステップ−２〕まず、ゲイン調整回路45の第１のゲイ
ンＧG を選択する。たとえば、ゲインＧ G として、1.0
0，1.40，1.96，2.74 が選択可能であるとすると、ゲ
インＧG （１）＝1.00が選択される。 〔ステップ−３〕選択したゲインＧG （１）のゲイン選
択信号ｈをゲイン調整回路45へ出力する。このゲイン選
択信号ｈによりゲイン調整回路45においてゲインが調整
される。 〔ステップ−４〕はかりに錘を載せない状態で、Ａ／Ｄ
変換器16の出力値Ｌにより、 Ｌ−Ｘ・ＧM ・ＧG ・Ｓ／Ｘ≧Ｋ …（１） を演算する。
【００２５】たとえば、Ｌ＝42000 ，Ｘ＝２ｖ，Ｓ＝10
0000，Ｋ＝20000 ，Ｋ＝60000 とすると、ＧG （１）＝
1.00であるから、 ゲインＧM ≦0.22 が求まる。〔ステップ−５〕上記（１）式を満たす最大
のムダ目消去調整回路43のゲインＧM を選択する。
0000，Ｋ＝20000 ，Ｋ＝60000 とすると、ＧG （１）＝
1.00であるから、 ゲインＧM ≦0.22 が求まる。〔ステップ−５〕上記（１）式を満たす最大
のムダ目消去調整回路43のゲインＧM を選択する。
【００２６】たとえば、ゲインＧM として、0.10，0.1
5，0.23，0.34 が選択可能であるとすると、 ゲインＧM （１）＝0.15 が選択される。 〔ステップ−６〕選択したゲインＧM における零点値ω
を ω＝Ｌ−Ｘ・ＧM ・ＧG ・Ｓ／Ｘ …（３） にて演算する。ゲインＧM （１）＝0.15において、ω
（１）＝27000 が求まる。＊上記ステップ−２〜ステッ
プ−６を、ゲインＧG （２）＝1.40，ＧG （３）＝1.9
6，ＧG （４）＝2.74 に設定して同様に実行する。 〔ステップ−７〕たとえば、表１に示すムダ目消去調整
回路43のゲインＧM と零点値ωが求まり、これらムダ目
消去調整回路43のゲインＧM と零点値ωを記憶する。
5，0.23，0.34 が選択可能であるとすると、 ゲインＧM （１）＝0.15 が選択される。 〔ステップ−６〕選択したゲインＧM における零点値ω
を ω＝Ｌ−Ｘ・ＧM ・ＧG ・Ｓ／Ｘ …（３） にて演算する。ゲインＧM （１）＝0.15において、ω
（１）＝27000 が求まる。＊上記ステップ−２〜ステッ
プ−６を、ゲインＧG （２）＝1.40，ＧG （３）＝1.9
6，ＧG （４）＝2.74 に設定して同様に実行する。 〔ステップ−７〕たとえば、表１に示すムダ目消去調整
回路43のゲインＧM と零点値ωが求まり、これらムダ目
消去調整回路43のゲインＧM と零点値ωを記憶する。
【００２７】
【表１】
【００２８】〔ステップ−８〕次に、調整員は秤量Ｗの
錘をはかりに載せる。＊コンピュータ41は、ゲイン調整
回路45のゲインＧG を切り替えて下記ステップ−９〜ス
テップ−13を実行する。 〔ステップ−９〕まず、ゲイン調整回路45のゲインＧG
（１）＝1.00を選択する。 〔ステップ−10〕選択したゲインＧG （１）のゲイン選
択信号ｈをゲイン調整回路45へ出力する。このゲイン選
択信号ｈによりゲイン調整回路45においてゲインが調整
される。 〔ステップ−11〕ゲインＧG （１）における、上記選択
したムダ目消去調整回路43のゲインＧM（１）＝0.15
（表１参照）を選択する。 〔ステップ−12〕選択したムダ目消去選択信号ｇをムダ
目消去調整回路43へ出力する。このムダ目消去選択信号
ｇによりムダ目消去調整回路43においてゲインが調整さ
れる。 〔ステップ−13〕秤量Ｗの錘を載せた状態でのアナログ
−ディジタル変換器の出力値Ｈにより、スパン値Ｆを Ｆ＝Ｈ−ω …（３） にて演算する。ゲインＧG （１）における零点値ωは27
000 であり、いまＨ＝80235 が計測されたとすると、 Ｆ（１）＝53235 が求まる。 ＊上記ステップ−９〜ステップ−13を、ゲインＧ
G （２）＝1.40，ＧG （３）＝1.96，ＧG （４）＝2.74
に設定して同様に実行する。 〔ステップ−14〕たとえば、表１に示すスパン値Ｆが求
まり、これらスパン値Ｆを記憶する。 〔ステップ−15〕次に、 Ｆ≦Ｍ …（４） を満たす最大のスパン値Ｆのゲイン調整回路のゲインＧ
G を選択する。たとえば、Ｍ＝80000 とすると、表１よ
り、 ゲインＧG （２）＝1.40 が選択される。 〔ステップ−16〕この選択されたゲインＧG におけるス
パン値Ｆによりスパン係数Ｑを、 Ｑ＝（Ｗ／Ｚ）／Ｆ …（５） にて演算して求めて、記憶する。ゲインＧG （２）にお
いて、Ｆ＝74929 （表１参照）であり、たとえば、Ｗ＝
50（ｋｇ），Ｚ＝0.01（ｋｇ）とすると、 Ｑ＝0.066730 が求まる。 〔ステップ−17〕前記選択されたゲインＧG における零
点値ωを零点のスケールＪとして記憶する。ゲインＧG
（２）が選択されているので、表１より Ｊ＝26600 を記憶する。 〔ステップ−18〕前記選択されたゲインＧG （２）のゲ
イン選択信号ｈをゲイン調整回路45へ出力する。このゲ
イン選択信号ｈによりゲイン調整回路45において、最終
のゲインが設定される。 〔ステップ−19〕ゲインＧG （２）における、上記選択
したムダ目消去調整回路43のゲインＧM（２）＝0.23の
ムダ目消去選択信号ｇをムダ目消去調整回路43へ出力
し、終了する。このムダ目消去選択信号ｇによりムダ目
消去調整回路43において、最終のゲインが設定される。
錘をはかりに載せる。＊コンピュータ41は、ゲイン調整
回路45のゲインＧG を切り替えて下記ステップ−９〜ス
テップ−13を実行する。 〔ステップ−９〕まず、ゲイン調整回路45のゲインＧG
（１）＝1.00を選択する。 〔ステップ−10〕選択したゲインＧG （１）のゲイン選
択信号ｈをゲイン調整回路45へ出力する。このゲイン選
択信号ｈによりゲイン調整回路45においてゲインが調整
される。 〔ステップ−11〕ゲインＧG （１）における、上記選択
したムダ目消去調整回路43のゲインＧM（１）＝0.15
（表１参照）を選択する。 〔ステップ−12〕選択したムダ目消去選択信号ｇをムダ
目消去調整回路43へ出力する。このムダ目消去選択信号
ｇによりムダ目消去調整回路43においてゲインが調整さ
れる。 〔ステップ−13〕秤量Ｗの錘を載せた状態でのアナログ
−ディジタル変換器の出力値Ｈにより、スパン値Ｆを Ｆ＝Ｈ−ω …（３） にて演算する。ゲインＧG （１）における零点値ωは27
000 であり、いまＨ＝80235 が計測されたとすると、 Ｆ（１）＝53235 が求まる。 ＊上記ステップ−９〜ステップ−13を、ゲインＧ
G （２）＝1.40，ＧG （３）＝1.96，ＧG （４）＝2.74
に設定して同様に実行する。 〔ステップ−14〕たとえば、表１に示すスパン値Ｆが求
まり、これらスパン値Ｆを記憶する。 〔ステップ−15〕次に、 Ｆ≦Ｍ …（４） を満たす最大のスパン値Ｆのゲイン調整回路のゲインＧ
G を選択する。たとえば、Ｍ＝80000 とすると、表１よ
り、 ゲインＧG （２）＝1.40 が選択される。 〔ステップ−16〕この選択されたゲインＧG におけるス
パン値Ｆによりスパン係数Ｑを、 Ｑ＝（Ｗ／Ｚ）／Ｆ …（５） にて演算して求めて、記憶する。ゲインＧG （２）にお
いて、Ｆ＝74929 （表１参照）であり、たとえば、Ｗ＝
50（ｋｇ），Ｚ＝0.01（ｋｇ）とすると、 Ｑ＝0.066730 が求まる。 〔ステップ−17〕前記選択されたゲインＧG における零
点値ωを零点のスケールＪとして記憶する。ゲインＧG
（２）が選択されているので、表１より Ｊ＝26600 を記憶する。 〔ステップ−18〕前記選択されたゲインＧG （２）のゲ
イン選択信号ｈをゲイン調整回路45へ出力する。このゲ
イン選択信号ｈによりゲイン調整回路45において、最終
のゲインが設定される。 〔ステップ−19〕ゲインＧG （２）における、上記選択
したムダ目消去調整回路43のゲインＧM（２）＝0.23の
ムダ目消去選択信号ｇをムダ目消去調整回路43へ出力
し、終了する。このムダ目消去選択信号ｇによりムダ目
消去調整回路43において、最終のゲインが設定される。
【００２９】上記（１）式は、一定値以内のロードセル
１およびアナログ回路部Ａ’の零点変化を許容できるよ
うに、すなわち零点変化によりＡ／Ｄ変換器16の入力信
号がマイナスにならないように、バイアス値（零点の最
小出力基準値Ｋ）を与えるものであり、この基準値Ｋを
満たす最大のムダ目調整回路のゲインＧM が選択され、
上記（２）式で求められる、最小出力基準値Ｋ以上のバ
イアス値（零点値ω）が保証される。
１およびアナログ回路部Ａ’の零点変化を許容できるよ
うに、すなわち零点変化によりＡ／Ｄ変換器16の入力信
号がマイナスにならないように、バイアス値（零点の最
小出力基準値Ｋ）を与えるものであり、この基準値Ｋを
満たす最大のムダ目調整回路のゲインＧM が選択され、
上記（２）式で求められる、最小出力基準値Ｋ以上のバ
イアス値（零点値ω）が保証される。
【００３０】また上記（３）式は、スパンのＡ／Ｄ変換
値（スパン値Ｆ）を得るものであり、また上記（４）式
は、スパン値ＦがＡ／Ｄ変換器16の最大出力基準値Ｍ内
であることを条件とするものであり、この式を満たす最
大のスパン値が得られるゲイン調整回路45のゲインＧG
が選択され、その結果、（４）式の条件下で最大のスパ
ンが得られる。また零点値ωが零点スケールＪとなる。
値（スパン値Ｆ）を得るものであり、また上記（４）式
は、スパン値ＦがＡ／Ｄ変換器16の最大出力基準値Ｍ内
であることを条件とするものであり、この式を満たす最
大のスパン値が得られるゲイン調整回路45のゲインＧG
が選択され、その結果、（４）式の条件下で最大のスパ
ンが得られる。また零点値ωが零点スケールＪとなる。
【００３１】このように、調整員が、目的とする電子式
はかりの秤量Ｗと目量Ｚをコンピュータ41に入力し、秤
量Ｗの錘を載せるだけで、最大のゲイン調整回路のゲイ
ンＧ G と最大のムダ目調整回路のゲインＧM が選択さ
れ、一定値以内のロードセル１およびアナログ回路部
Ａ’の零点の変化を許容できるようにはかりの零点が自
動調整され、かつスパンに対応するＡ／Ｄ変換値が最大
となるようにスパンが自動調整されることによって、は
かりの調整作業効率を改善でき、コストを低減すること
ができる。
はかりの秤量Ｗと目量Ｚをコンピュータ41に入力し、秤
量Ｗの錘を載せるだけで、最大のゲイン調整回路のゲイ
ンＧ G と最大のムダ目調整回路のゲインＧM が選択さ
れ、一定値以内のロードセル１およびアナログ回路部
Ａ’の零点の変化を許容できるようにはかりの零点が自
動調整され、かつスパンに対応するＡ／Ｄ変換値が最大
となるようにスパンが自動調整されることによって、は
かりの調整作業効率を改善でき、コストを低減すること
ができる。
【００３２】なお、コンピュータ41に、ステップ−７と
ステップ−19の終了後に、警報を出力する手順を付加す
ることによって、調整員に秤量Ｗの錘を載せるタイミン
グを報知し、調整終了を報知するように改善することが
できる。
ステップ−19の終了後に、警報を出力する手順を付加す
ることによって、調整員に秤量Ｗの錘を載せるタイミン
グを報知し、調整終了を報知するように改善することが
できる。
【００３３】
【発明の効果】以上述べたように本発明によると、電子
式はかりの秤量Ｗ，目量Ｚを入力するだけで、最大のゲ
イン調整回路のゲインＧG と最大のムダ目調整回路のゲ
インＧ M が選択され、一定値以内のロードセルおよびア
ナログ回路部の零点の変化を許容できるようにはかりの
零点が自動調整され、かつスパンに対応するＡ／Ｄ変換
値が最大となるスパンが自動調整されることによって、
はかりの調整作業効率を改善でき、コストを低減するこ
とができる。
式はかりの秤量Ｗ，目量Ｚを入力するだけで、最大のゲ
イン調整回路のゲインＧG と最大のムダ目調整回路のゲ
インＧ M が選択され、一定値以内のロードセルおよびア
ナログ回路部の零点の変化を許容できるようにはかりの
零点が自動調整され、かつスパンに対応するＡ／Ｄ変換
値が最大となるスパンが自動調整されることによって、
はかりの調整作業効率を改善でき、コストを低減するこ
とができる。
【図１】本発明の零点およびスパン調整方法を使用した
電子式はかりの回路構成図である。
電子式はかりの回路構成図である。
【図２】同電子式はかりのフローチャートである。
【図３】従来の電子式はかりの回路構成図である。
【図４】従来の電子式はかりのムダ目消去調整回路の回
路構成図である。
路構成図である。
１ ロードセル 11 プリアンプ 12 基準アンプ 14 減算器 16 アナログ−ディジタル変換器 41 コンピュータ 43 ムダ目消去調整回路 45 ゲイン調整回路 Ａ’ アナログ回路部 ａ，ａ’ 荷重検出信号 ｂ 電圧信号 ｃ 基準電圧信号 ｄ ムダ目消去信号 ｅ，ｅ’ 計量信号 ｆ ディジタル信号 ｇ ムダ目消去選択信号 ｈ ゲイン選択信号
Claims (1)
- 【請求項１】 はかりの検出手段としてロードセルを有
し、このロードセルの荷重検出信号より、ムダ目消去調
整回路においてアナログ−ディジタル変換器の基準電圧
より調整されるムダ目消去信号を減算し、この減算信号
をゲイン調整回路において調整し、前記アナログ−ディ
ジタル変換器においてディジタル信号に変換してコンピ
ュータへ出力するアナログ回路部を有す電子式はかりに
おける、零点およびスパンの調整方法であって、 前記アナログ回路部を構成する素子により定まる、前記
アナログ−ディジタル変換器のフルスケールをＳ，前記
ゲイン調整回路が選択可能なゲインをＧG ，前記ムダ目
消去調整回路が選択可能なゲインをＧM ，零点のアナロ
グ−ディジタル変換器の最小出力基準値をＫ，スパンの
アナログ−ディジタル変換器の最大出力基準値をＭ、前
記コンピュータに入力される、前記電子式はかりの秤量
をＷ，目量をＺとすると、 錘を載せない状態において、各ゲイン調整回路のゲイン
ＧG 毎に、アナログ−ディジタル変換器の出力値Ｌを計
測し、 Ｌ−ＧM ・ＧG ・Ｓ≧Ｋ を満たす最大のムダ目消去調整回路のゲインＧM を選択
し、この選択されたゲインＧM における零点値ωを ω＝Ｌ−ＧM ・ＧG ・Ｓ にて演算し、これら各ゲイン調整回路のゲインＧG 毎
に、選択されたムダ目消去調整回路のゲインＧM と零点
値ωを記憶し、 次に秤量Ｗの錘を載せ、各ゲイン調整回路のゲインＧG
毎に、選択されたムダ目消去調整回路のゲインＧM に設
定して、アナログ−ディジタル変換器の出力値Ｈを計測
し、スパン値Ｆを Ｆ＝Ｈ−ω にて演算し、これら各ゲイン調整回路のゲインＧG 毎
に、スパン値Ｆを記憶し、 Ｆ≦Ｍ を満たす最大のスパン値Ｆのゲイン調整回路のゲインＧ
G を選択し、この選択されたゲインＧG におけるスパン
値Ｆによりスパン係数Ｑを、 Ｑ＝（Ｗ／Ｚ）／Ｆ にて演算して求め、前記選択されたゲインＧG における
零点値ωを零点スケールとし、選択されたムダ目消去調
整回路のゲインＧM を最終の調整ゲインＧM とすること
を特徴とする電子式はかりの零点およびスパン調整方
法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6285753A JP2996280B2 (ja) | 1994-11-21 | 1994-11-21 | 電子式はかりの零点およびスパン調整方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6285753A JP2996280B2 (ja) | 1994-11-21 | 1994-11-21 | 電子式はかりの零点およびスパン調整方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08145772A true JPH08145772A (ja) | 1996-06-07 |
| JP2996280B2 JP2996280B2 (ja) | 1999-12-27 |
Family
ID=17695608
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6285753A Expired - Lifetime JP2996280B2 (ja) | 1994-11-21 | 1994-11-21 | 電子式はかりの零点およびスパン調整方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2996280B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002214024A (ja) * | 2001-01-17 | 2002-07-31 | Yamato Scale Co Ltd | 重量測定装置 |
| CN117516688A (zh) * | 2024-01-05 | 2024-02-06 | 深圳市计量质量检测研究院（国家高新技术计量站、国家数字电子产品质量监督检验中心） | 电子秤实时防作弊方法、装置、电子秤及存储介质 |
-
1994
- 1994-11-21 JP JP6285753A patent/JP2996280B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002214024A (ja) * | 2001-01-17 | 2002-07-31 | Yamato Scale Co Ltd | 重量測定装置 |
| CN117516688A (zh) * | 2024-01-05 | 2024-02-06 | 深圳市计量质量检测研究院（国家高新技术计量站、国家数字电子产品质量监督检验中心） | 电子秤实时防作弊方法、装置、电子秤及存储介质 |
| CN117516688B (zh) * | 2024-01-05 | 2024-04-05 | 深圳市计量质量检测研究院（国家高新技术计量站、国家数字电子产品质量监督检验中心） | 电子秤实时防作弊方法、装置、电子秤及存储介质 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2996280B2 (ja) | 1999-12-27 |
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