JPH08123967A - 画像のエッジ検出装置 - Google Patents
画像のエッジ検出装置Info
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- JPH08123967A JPH08123967A JP6264836A JP26483694A JPH08123967A JP H08123967 A JPH08123967 A JP H08123967A JP 6264836 A JP6264836 A JP 6264836A JP 26483694 A JP26483694 A JP 26483694A JP H08123967 A JPH08123967 A JP H08123967A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 画像のエッジ抽出にすぐれた装置を提供す
る。 【構成】 エッジ検出手段１１は、入力画像データＩＮ
のエッジを検出する。エッジ伸長手段１２は、エッジ検
出手段１１で検出された入力画像データＩＮのエッジの
中から所定の閾値Ｔを用いて有効エッジを抽出し、更に
閾値ｔ（０≦ｔ＜Ｔ）を用いて有効エッジを中心にエッ
ジの横方向又は縦方向に沿って該有効エッジの領域を伸
長する。エッジ収縮手段１３は、エッジ伸長手段１２で
伸長されたエッジが滑らかになるように該エッジの端を
カットする。
る。 【構成】 エッジ検出手段１１は、入力画像データＩＮ
のエッジを検出する。エッジ伸長手段１２は、エッジ検
出手段１１で検出された入力画像データＩＮのエッジの
中から所定の閾値Ｔを用いて有効エッジを抽出し、更に
閾値ｔ（０≦ｔ＜Ｔ）を用いて有効エッジを中心にエッ
ジの横方向又は縦方向に沿って該有効エッジの領域を伸
長する。エッジ収縮手段１３は、エッジ伸長手段１２で
伸長されたエッジが滑らかになるように該エッジの端を
カットする。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、画像の低ビットレー
ト、高能率符号化装置、画像認識装置、画像処理装置等
に用いられ、画像のエッジ抽出及びエッジ処理に関する
ものである。
ト、高能率符号化装置、画像認識装置、画像処理装置等
に用いられ、画像のエッジ抽出及びエッジ処理に関する
ものである。
【０００２】
【従来の技術】従来、このような分野の技術としては、
例えば次のような文献に記載されるものがあった。 文献；R.Nevatia 著、南敏監訳、「人工知能・コンピュ
ータビジョンのための画像認識と画像理解 視覚的マシ
ン知覚」、啓学出版、P.115-128 前記文献には、１次微分関数又はテンプレートマッチン
グ等の手法により、画像の局所的ピークであるエッジを
検出する方法が記載されている。図２は、前記文献に記
載された従来の画像のエッジ検出装置の一構成例を示す
機能ブロック図である。この画像のエッジ検出装置は、
入力画像データＩＮを入力して画像のエッジを強調し、
出力信号Ｓ１を出力するエッジ強調手段１を有してい
る。エッジ強調手段１の出力側は、出力信号Ｓ１を入力
して閾値処理を行ってエッジを抽出し、出力信号Ｓ２を
出力するエッジ抽出手段２に接続されている。尚、エッ
ジ強調手段１及びエッジ抽出手段２は、プログラム制御
されるデジタルシグナルプロセサ（Digital Signal Pro
cesser、以下、ＤＳＰという）で構成されている。
例えば次のような文献に記載されるものがあった。 文献；R.Nevatia 著、南敏監訳、「人工知能・コンピュ
ータビジョンのための画像認識と画像理解 視覚的マシ
ン知覚」、啓学出版、P.115-128 前記文献には、１次微分関数又はテンプレートマッチン
グ等の手法により、画像の局所的ピークであるエッジを
検出する方法が記載されている。図２は、前記文献に記
載された従来の画像のエッジ検出装置の一構成例を示す
機能ブロック図である。この画像のエッジ検出装置は、
入力画像データＩＮを入力して画像のエッジを強調し、
出力信号Ｓ１を出力するエッジ強調手段１を有してい
る。エッジ強調手段１の出力側は、出力信号Ｓ１を入力
して閾値処理を行ってエッジを抽出し、出力信号Ｓ２を
出力するエッジ抽出手段２に接続されている。尚、エッ
ジ強調手段１及びエッジ抽出手段２は、プログラム制御
されるデジタルシグナルプロセサ（Digital Signal Pro
cesser、以下、ＤＳＰという）で構成されている。
【０００３】次に、図２に示す従来の画像のエッジ検出
装置の動作を説明する。エッジ強調手段１は、入力画像
データＩＮに対して１次微分又はテンプレートマッチン
グ等の演算処理を行い、画像のエッジを強調して出力信
号Ｓ１を出力する。エッジ抽出手段２は、エッジが強調
された画像に対して閾値処理を行い、エッジを抽出して
出力信号Ｓ２を出力する。ここで、デジタル画像におい
ては、１次微分は、次の（１）式に示す差分で表すこと
ができる。画像のエッジでは、この差分が大きくなるの
で、エッジ強調手段１では、例えば差分をとることによ
り、エッジを強調することができる。 ｓ（ｉ，ｊ）＝ｘ（ｉ，ｊ）−ｘ（ｉ−１，ｊ） ・・・（１） 但し、 ｓ（＊）；差分 ｘ（＊）；入力画像の画素 前記（１）式では、横方向の１次元の差分のみを示した
が、縦方向についても同様である。一般的に、画像には
ノイズやテクスチャ等が混在しているので、有効なエッ
ジのみを抽出する必要がある。そこで、エッジ抽出手段
２では、例えば、エッジが強調された画像に対して、そ
の絶対値が閾値Ｔよりも大きいものを有効エッジとして
抽出するようにしている。
装置の動作を説明する。エッジ強調手段１は、入力画像
データＩＮに対して１次微分又はテンプレートマッチン
グ等の演算処理を行い、画像のエッジを強調して出力信
号Ｓ１を出力する。エッジ抽出手段２は、エッジが強調
された画像に対して閾値処理を行い、エッジを抽出して
出力信号Ｓ２を出力する。ここで、デジタル画像におい
ては、１次微分は、次の（１）式に示す差分で表すこと
ができる。画像のエッジでは、この差分が大きくなるの
で、エッジ強調手段１では、例えば差分をとることによ
り、エッジを強調することができる。 ｓ（ｉ，ｊ）＝ｘ（ｉ，ｊ）−ｘ（ｉ−１，ｊ） ・・・（１） 但し、 ｓ（＊）；差分 ｘ（＊）；入力画像の画素 前記（１）式では、横方向の１次元の差分のみを示した
が、縦方向についても同様である。一般的に、画像には
ノイズやテクスチャ等が混在しているので、有効なエッ
ジのみを抽出する必要がある。そこで、エッジ抽出手段
２では、例えば、エッジが強調された画像に対して、そ
の絶対値が閾値Ｔよりも大きいものを有効エッジとして
抽出するようにしている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記構
成の画像のエッジ検出装置では、次のような問題点があ
った。 （１） 図３は、従来のエッジ検出装置によるエッジの
説明図である。 １次微分又はテンプレートマッチングを用いてエッジを
強調した場合、エッジ抽出手段２では閾値を設け、強調
されたエッジの中からこの閾値を越えたものを有効エッ
ジとしているが、閾値によっては、図３に示すように、
エッジが寸断されたり、エッジの形状が不均一になるこ
とがある。図３において、黒のブロックは有効エッジ
点、即ち閾値Ｔよりも大きいエッジ点を示し、灰色のブ
ロックは、準有効エッジ点、即ち閾値Ｔよりも小さい
が、閾値ｔよりも大きく、かつ隣接有効エッジ点と同一
の符号をもつエッジ点を示し、白のブロックは、その他
の点を示す。有効エッジ点のみを抽出すると、エッジが
寸断されやすく、又エッジの形状もスムーズさに欠け
る。
成の画像のエッジ検出装置では、次のような問題点があ
った。 （１） 図３は、従来のエッジ検出装置によるエッジの
説明図である。 １次微分又はテンプレートマッチングを用いてエッジを
強調した場合、エッジ抽出手段２では閾値を設け、強調
されたエッジの中からこの閾値を越えたものを有効エッ
ジとしているが、閾値によっては、図３に示すように、
エッジが寸断されたり、エッジの形状が不均一になるこ
とがある。図３において、黒のブロックは有効エッジ
点、即ち閾値Ｔよりも大きいエッジ点を示し、灰色のブ
ロックは、準有効エッジ点、即ち閾値Ｔよりも小さい
が、閾値ｔよりも大きく、かつ隣接有効エッジ点と同一
の符号をもつエッジ点を示し、白のブロックは、その他
の点を示す。有効エッジ点のみを抽出すると、エッジが
寸断されやすく、又エッジの形状もスムーズさに欠け
る。
【０００５】（２） エッジ符号化において、エッジが
寸断されたり形状が不均一になることにより、符号化効
率が著しく低下する。
寸断されたり形状が不均一になることにより、符号化効
率が著しく低下する。
【０００６】
【課題を解決するための手段】第１の発明は、前記課題
を解決するために、画像のエッジ検出装置に、入力画像
のエッジを検出するエッジ検出手段と、エッジ検出手段
で検出された入力画像のエッジの中から所定の閾値を用
いて有効エッジを抽出し、該有効エッジを中心にエッジ
の横方向又は縦方向に沿って該有効エッジの領域を伸長
するエッジ伸長手段と、エッジ伸長手段で伸長されたエ
ッジが滑らかになるように、該エッジの端をカットする
エッジ収縮手段とを、備えている。第２の発明では、第
１の発明のエッジ検出手段は、画像のエッジを第１の直
線と該第１の直線に対して端部が角度θ１で接する第２
の直線と該第１の直線に対して端部が角度θ２で接する
第３の直線との共通の交わりとして定義し、該入力画像
の横方向又は縦方向のエッジの大きさを（ｔａｎθ１＋
ｔａｎθ２）の値として算出するようにしている。但
し、ｔａｎθ１は、前記入力画像のうちの注目画素の横
方向又は縦方向に隣接する一方の画素と該注目画素との
差分値として算出し、ｔａｎθ２は、前記注目画素の横
方向又は縦方向に隣接する他方の画素と該注目画素との
差分値として算出するようにしている。
を解決するために、画像のエッジ検出装置に、入力画像
のエッジを検出するエッジ検出手段と、エッジ検出手段
で検出された入力画像のエッジの中から所定の閾値を用
いて有効エッジを抽出し、該有効エッジを中心にエッジ
の横方向又は縦方向に沿って該有効エッジの領域を伸長
するエッジ伸長手段と、エッジ伸長手段で伸長されたエ
ッジが滑らかになるように、該エッジの端をカットする
エッジ収縮手段とを、備えている。第２の発明では、第
１の発明のエッジ検出手段は、画像のエッジを第１の直
線と該第１の直線に対して端部が角度θ１で接する第２
の直線と該第１の直線に対して端部が角度θ２で接する
第３の直線との共通の交わりとして定義し、該入力画像
の横方向又は縦方向のエッジの大きさを（ｔａｎθ１＋
ｔａｎθ２）の値として算出するようにしている。但
し、ｔａｎθ１は、前記入力画像のうちの注目画素の横
方向又は縦方向に隣接する一方の画素と該注目画素との
差分値として算出し、ｔａｎθ２は、前記注目画素の横
方向又は縦方向に隣接する他方の画素と該注目画素との
差分値として算出するようにしている。
【０００７】第３の発明では、第１の発明のエッジ伸長
手段は、閾値Ｔによって抽出された有効エッジの横方向
又は縦方向に隣接するエッジの中から閾値ｔ（０≦ｔ＜
Ｔ）より大きくかつ該有効エッジの符号と同一符号をも
つ準有効エッジを前記有効エッジに統合することにより
エッジを伸長して有効エッジ集合を形成し、かつ該有効
エッジ集合の直後のエッジにおいては、該エッジの始点
又は終点と前記有効エッジ集合の始点又は終点との各位
置の差がそれぞれ所定の閾値画素を越えないようにして
いる。第４の発明では、第１の発明のエッジ収縮手段
は、前記有効エッジ集合において、各エッジの幅が同一
になるようにし、かつ該各エッジの始点又は終点と直前
のエッジの始点又は終点との各位置の差がそれぞれ所定
の閾値画素を越えないようにし、かつ始点又は終点と直
前のエッジの始点又は終点との各位置の差がそれぞれ同
一となるようなエッジが長く続くようにしている。
手段は、閾値Ｔによって抽出された有効エッジの横方向
又は縦方向に隣接するエッジの中から閾値ｔ（０≦ｔ＜
Ｔ）より大きくかつ該有効エッジの符号と同一符号をも
つ準有効エッジを前記有効エッジに統合することにより
エッジを伸長して有効エッジ集合を形成し、かつ該有効
エッジ集合の直後のエッジにおいては、該エッジの始点
又は終点と前記有効エッジ集合の始点又は終点との各位
置の差がそれぞれ所定の閾値画素を越えないようにして
いる。第４の発明では、第１の発明のエッジ収縮手段
は、前記有効エッジ集合において、各エッジの幅が同一
になるようにし、かつ該各エッジの始点又は終点と直前
のエッジの始点又は終点との各位置の差がそれぞれ所定
の閾値画素を越えないようにし、かつ始点又は終点と直
前のエッジの始点又は終点との各位置の差がそれぞれ同
一となるようなエッジが長く続くようにしている。
【０００８】
【作用】第１の発明によれば、以上のように画像のエッ
ジ検出装置を構成したので、入力画像は、エッジ検出手
段によりエッジが検出される。エッジ検出手段で検出さ
れた入力画像のエッジは、エッジ伸長手段により所定の
閾値により有効エッジが抽出され、該有効エッジを中心
にエッジの横方向又は縦方向に沿って該有効エッジの領
域が伸長される。エッジ伸長手段で伸長されたエッジ
は、エッジ収縮手段により、該エッジが滑らかになるよ
うに端がカットされる。第２の発明によれば、入力画像
のエッジは、エッジ検出手段により、入力画像のうちの
注目画素の横方向又は縦方向に隣接する一方の画素と該
注目画素との差分値と、前記注目画素の横方向又は縦方
向に隣接する他方の画素と該注目画素との差分値との和
として算出される。
ジ検出装置を構成したので、入力画像は、エッジ検出手
段によりエッジが検出される。エッジ検出手段で検出さ
れた入力画像のエッジは、エッジ伸長手段により所定の
閾値により有効エッジが抽出され、該有効エッジを中心
にエッジの横方向又は縦方向に沿って該有効エッジの領
域が伸長される。エッジ伸長手段で伸長されたエッジ
は、エッジ収縮手段により、該エッジが滑らかになるよ
うに端がカットされる。第２の発明によれば、入力画像
のエッジは、エッジ検出手段により、入力画像のうちの
注目画素の横方向又は縦方向に隣接する一方の画素と該
注目画素との差分値と、前記注目画素の横方向又は縦方
向に隣接する他方の画素と該注目画素との差分値との和
として算出される。
【０００９】第３の発明によれば、エッジ伸長手段によ
り、エッジ検出手段により検出された入力画像のエッジ
は閾値Ｔによって有効エッジが抽出され、更に該有効エ
ッジの横方向又は縦方向に隣接するエッジの中から閾値
ｔ（０≦ｔ＜Ｔ）によって準有効エッジが抽出され、該
準有効エッジが前記有効エッジに統合されてエッジが伸
長されて有効エッジ集合となる。第４の発明によれば、
第３の発明の有効エッジ集合は、エッジ収縮手段によ
り、各エッジの幅が同一になり、更に該各エッジの始点
又は終点と直前のエッジの始点又は終点との各位置の差
はそれぞれ所定の閾値画素を越えない。その上、始点又
は終点と直前のエッジの始点又は終点との各位置の差が
それぞれ同一となるようなエッジが長く続く。従って、
前記課題を解決できるのである。
り、エッジ検出手段により検出された入力画像のエッジ
は閾値Ｔによって有効エッジが抽出され、更に該有効エ
ッジの横方向又は縦方向に隣接するエッジの中から閾値
ｔ（０≦ｔ＜Ｔ）によって準有効エッジが抽出され、該
準有効エッジが前記有効エッジに統合されてエッジが伸
長されて有効エッジ集合となる。第４の発明によれば、
第３の発明の有効エッジ集合は、エッジ収縮手段によ
り、各エッジの幅が同一になり、更に該各エッジの始点
又は終点と直前のエッジの始点又は終点との各位置の差
はそれぞれ所定の閾値画素を越えない。その上、始点又
は終点と直前のエッジの始点又は終点との各位置の差が
それぞれ同一となるようなエッジが長く続く。従って、
前記課題を解決できるのである。
【００１０】
【実施例】図１は、本発明の実施例を示す画像のエッジ
検出装置の機能ブロック図である。この画像のエッジ検
出装置は、入力画像データＩＮを入力して画像のエッジ
を検出するエッジ検出手段１１を備えている。エッジ検
出手段１１の出力側には、有効エッジを抽出し、該有効
エッジを伸長するエッジ伸長手段１２が接続されてい
る。エッジ伸長手段１２の出力側には、伸長されたエッ
ジを均一化するエッジ収縮手段１３が接続されている。
尚、エッジ検出手段１１、エッジ伸長手段１２及びエッ
ジ収縮手段１３は、プログラム制御されるＤＳＰで構成
されている。図４は、図１に示す画像のエッジ検出装置
におけるエッジ構造の説明図である。この図を参照しつ
つ、図１の動作を説明する。
検出装置の機能ブロック図である。この画像のエッジ検
出装置は、入力画像データＩＮを入力して画像のエッジ
を検出するエッジ検出手段１１を備えている。エッジ検
出手段１１の出力側には、有効エッジを抽出し、該有効
エッジを伸長するエッジ伸長手段１２が接続されてい
る。エッジ伸長手段１２の出力側には、伸長されたエッ
ジを均一化するエッジ収縮手段１３が接続されている。
尚、エッジ検出手段１１、エッジ伸長手段１２及びエッ
ジ収縮手段１３は、プログラム制御されるＤＳＰで構成
されている。図４は、図１に示す画像のエッジ検出装置
におけるエッジ構造の説明図である。この図を参照しつ
つ、図１の動作を説明する。
【００１１】先ず、図４に示すように、入力画像を或る
直線で切ったときの隣接画素間のエッジの急峻性を表す
画像のエッジを第１の直線Ｌ１と、直線Ｌ１に対して端
部が角度θ１で接する第２の直線Ｌ２と直線Ｌ１に対し
て端部が角度θ２で接する第３の直線Ｌ３との共通の交
わりとして定義し、エッジが直線Ｌ１，Ｌ２，Ｌ３の共
通の交点Ｐにできると仮定する。エッジの大きさΘは、 Θ＝ｔａｎθ１＋ｔａｎθ２ で表すものとする。２次元のデジタル入力画像データＩ
Ｎがエッジ検出手段１１に入力されると、エッジ検出手
段１１では、入力画像データＩＮに対して、以下のよう
に横方向及び縦方向のエッジを検出してエッジ情報Ｓ１
１をエッジ伸長手段１２へ出力する。
直線で切ったときの隣接画素間のエッジの急峻性を表す
画像のエッジを第１の直線Ｌ１と、直線Ｌ１に対して端
部が角度θ１で接する第２の直線Ｌ２と直線Ｌ１に対し
て端部が角度θ２で接する第３の直線Ｌ３との共通の交
わりとして定義し、エッジが直線Ｌ１，Ｌ２，Ｌ３の共
通の交点Ｐにできると仮定する。エッジの大きさΘは、 Θ＝ｔａｎθ１＋ｔａｎθ２ で表すものとする。２次元のデジタル入力画像データＩ
Ｎがエッジ検出手段１１に入力されると、エッジ検出手
段１１では、入力画像データＩＮに対して、以下のよう
に横方向及び縦方向のエッジを検出してエッジ情報Ｓ１
１をエッジ伸長手段１２へ出力する。
【００１２】横方向のエッジを検出する場合は、入力画
像の注目画素ｘ（ｉ，ｊ）の横方向の隣接する画素間で
次の（２）式の演算を行い、差分値ｓｈ（ｉ，ｊ）を求
める。 ｓｈ（ｉ，ｊ）＝ｘ（ｉ＋１，ｊ）−２ｘ（ｉ，ｊ）＋ｘ（ｉ−１，ｊ） ・・・（２） ここで、差分ｘ（ｉ−１，ｊ）−ｘ（ｉ，ｊ）がｔａｎ
θ１に対応し、差分ｘ（ｉ＋１，ｊ）−ｘ（ｉ，ｊ）が
ｔａｎθ２に対応するので、差分値ｓｈ（ｉ，ｊ）がエ
ッジの大きさとなる。従って、差分値ｓｈ（ｉ，ｊ）を
求めることにより、横方向のエッジを検出できる。
像の注目画素ｘ（ｉ，ｊ）の横方向の隣接する画素間で
次の（２）式の演算を行い、差分値ｓｈ（ｉ，ｊ）を求
める。 ｓｈ（ｉ，ｊ）＝ｘ（ｉ＋１，ｊ）−２ｘ（ｉ，ｊ）＋ｘ（ｉ−１，ｊ） ・・・（２） ここで、差分ｘ（ｉ−１，ｊ）−ｘ（ｉ，ｊ）がｔａｎ
θ１に対応し、差分ｘ（ｉ＋１，ｊ）−ｘ（ｉ，ｊ）が
ｔａｎθ２に対応するので、差分値ｓｈ（ｉ，ｊ）がエ
ッジの大きさとなる。従って、差分値ｓｈ（ｉ，ｊ）を
求めることにより、横方向のエッジを検出できる。
【００１３】縦方向のエッジを検出する場合も同様であ
るが、次の（３）式を用いる点が異なっている。。 ｓｖ（ｉ，ｊ）＝ｘ（ｉ，ｊ＋１）−２ｘ（ｉ，ｊ）＋ｘ（ｉ，ｊ−１） ・・・（３） エッジ伸長手段１２では、入力されるエッジ情報Ｓ１１
である差分値ｓｈ（ｉ，ｊ）及びｓｖ（ｉ，ｊ）に対し
て、次の（４）式及び（５）式のように、それぞれ絶対
値をとり、その絶対値を閾値Ｔと比較し、閾値Ｔ以上の
ものを有効エッジ点とする。 ｅｄｇｅ（ｈ）（ｉ，ｊ） ＝ｓｈ（ｉ，ｊ）（｜ｓｈ（ｉ，ｊ）｜≧Ｔのとき） ０ （｜ｓｈ（ｉ，ｊ）｜＜Ｔのとき） ・・・（４） ｅｄｇｅ（ｖ）（ｉ，ｊ） ＝ｓｖ（ｉ，ｊ）（｜ｓｖ（ｉ，ｊ）｜≧Ｔのとき） ０ （｜ｓｖ（ｉ，ｊ）｜＜Ｔのとき） ・・・（５） そして、横方向のエッジｓｈ（ｉ，ｊ）に対して、以下
のような処理（ａ）〜（ｅ）でエッジの伸長を行う。
るが、次の（３）式を用いる点が異なっている。。 ｓｖ（ｉ，ｊ）＝ｘ（ｉ，ｊ＋１）−２ｘ（ｉ，ｊ）＋ｘ（ｉ，ｊ−１） ・・・（３） エッジ伸長手段１２では、入力されるエッジ情報Ｓ１１
である差分値ｓｈ（ｉ，ｊ）及びｓｖ（ｉ，ｊ）に対し
て、次の（４）式及び（５）式のように、それぞれ絶対
値をとり、その絶対値を閾値Ｔと比較し、閾値Ｔ以上の
ものを有効エッジ点とする。 ｅｄｇｅ（ｈ）（ｉ，ｊ） ＝ｓｈ（ｉ，ｊ）（｜ｓｈ（ｉ，ｊ）｜≧Ｔのとき） ０ （｜ｓｈ（ｉ，ｊ）｜＜Ｔのとき） ・・・（４） ｅｄｇｅ（ｖ）（ｉ，ｊ） ＝ｓｖ（ｉ，ｊ）（｜ｓｖ（ｉ，ｊ）｜≧Ｔのとき） ０ （｜ｓｖ（ｉ，ｊ）｜＜Ｔのとき） ・・・（５） そして、横方向のエッジｓｈ（ｉ，ｊ）に対して、以下
のような処理（ａ）〜（ｅ）でエッジの伸長を行う。
【００１４】（ａ） （ｉ，ｊ）の小さい順から横方向
に検索し、最初の有効エッジ点ｅｄｇｅ（ｈ）（ｉ，
ｊ）を見つける。 （ｂ） 有効エッジ点ｅｄｇｅ（ｈ）（ｉ，ｊ）と同一
符号を有する隣接エッジ点から、閾値ｔ（０≦ｔ＜Ｔ）
よりも大きいものを同一集合に取り込み、有効エッジ集
合を形成する。そして、この有効エッジ集合の伸長処理
を可能な限り続ける。 （ｃ） 前記有効エッジ集合の下方に有効エッジ点の有
無をチェックし、有効エッジ点があった場合に、前記
（ｂ）と同様の方法で、かつ上方の有効エッジ集合の範
囲を左右それぞれ例えばα画素（０≦α≦３）を越えな
いように、下方の有効エッジ集合の伸長を行う。 （ｄ） 前記（ｃ）の処理を有効エッジ点が見つかる限
り続ける。 （ｅ） 有効エッジ点がない場合に、今までに伸長され
た始点が縦方向に続く一連の横方向１次元の有効エッジ
集合を統合し、１つの２次元に伸長された有効エッジ集
合とする。そして、前記（ａ）の処理に戻って、新しい
有効エッジ集合のスタート点を見つけ、同様の処理を行
う。縦方向のエッジに対しても同様の手法で伸長を行
い、伸長されたエッジＳ１２を出力する。
に検索し、最初の有効エッジ点ｅｄｇｅ（ｈ）（ｉ，
ｊ）を見つける。 （ｂ） 有効エッジ点ｅｄｇｅ（ｈ）（ｉ，ｊ）と同一
符号を有する隣接エッジ点から、閾値ｔ（０≦ｔ＜Ｔ）
よりも大きいものを同一集合に取り込み、有効エッジ集
合を形成する。そして、この有効エッジ集合の伸長処理
を可能な限り続ける。 （ｃ） 前記有効エッジ集合の下方に有効エッジ点の有
無をチェックし、有効エッジ点があった場合に、前記
（ｂ）と同様の方法で、かつ上方の有効エッジ集合の範
囲を左右それぞれ例えばα画素（０≦α≦３）を越えな
いように、下方の有効エッジ集合の伸長を行う。 （ｄ） 前記（ｃ）の処理を有効エッジ点が見つかる限
り続ける。 （ｅ） 有効エッジ点がない場合に、今までに伸長され
た始点が縦方向に続く一連の横方向１次元の有効エッジ
集合を統合し、１つの２次元に伸長された有効エッジ集
合とする。そして、前記（ａ）の処理に戻って、新しい
有効エッジ集合のスタート点を見つけ、同様の処理を行
う。縦方向のエッジに対しても同様の手法で伸長を行
い、伸長されたエッジＳ１２を出力する。
【００１５】図５は、伸長後のエッジの説明図であり、
図５中の黒のブロックは有効エッジ集合を示す。この図
５に示すように、エッジ伸長手段１２では、閾値Ｔより
小さいが閾値ｔより大きいエッジ点である準有効エッジ
を有効エッジに取り込むことによって、有効エッジの寸
断が防止される。エッジ収縮手段１３では、伸長された
エッジＳ１２に対して、エッジがスムーズになるよう
に、以下の方法で収縮を行い、収縮されたエッジを出力
する。先ず、横方向の２次元エッジ集合に対して、先頭
から順に、上下連続する２つの横方向の１次元エッジ集
合に対してそれらの長さを比較し、長い集合を短い集合
と同じ長さになるように、かつ２つの集合の始点又は終
点と直前のエッジの始点又は終点との各位置の横方向の
差がそれぞれ例えば３画素を越えないようにし、かつ始
点又は終点と直前のエッジの始点又は終点との各位置の
横方向の差がそれぞれ同じになるように、又はその差が
３画素以下となるように、エッジ集合の端をカットして
エッジの収縮を行う。縦方向のエッジに対しても、同様
の手法でエッジの収縮を行う。
図５中の黒のブロックは有効エッジ集合を示す。この図
５に示すように、エッジ伸長手段１２では、閾値Ｔより
小さいが閾値ｔより大きいエッジ点である準有効エッジ
を有効エッジに取り込むことによって、有効エッジの寸
断が防止される。エッジ収縮手段１３では、伸長された
エッジＳ１２に対して、エッジがスムーズになるよう
に、以下の方法で収縮を行い、収縮されたエッジを出力
する。先ず、横方向の２次元エッジ集合に対して、先頭
から順に、上下連続する２つの横方向の１次元エッジ集
合に対してそれらの長さを比較し、長い集合を短い集合
と同じ長さになるように、かつ２つの集合の始点又は終
点と直前のエッジの始点又は終点との各位置の横方向の
差がそれぞれ例えば３画素を越えないようにし、かつ始
点又は終点と直前のエッジの始点又は終点との各位置の
横方向の差がそれぞれ同じになるように、又はその差が
３画素以下となるように、エッジ集合の端をカットして
エッジの収縮を行う。縦方向のエッジに対しても、同様
の手法でエッジの収縮を行う。
【００１６】図６は、収縮後のエッジの説明図であり、
図６中の黒のブロックは有効エッジ集合を示す。この図
６に示すように、エッジを収縮することによってエッジ
が滑らかになる。以上のように、本実施例では、エッジ
伸長手段１２により、有効エッジに隣接する準有効エッ
ジを取り込むことによって、有効エッジの寸断を防止で
きる。又、エッジ収縮手段１３によりエッジを収縮する
ことによって、エッジをスムーズにすることができる。
従って、スムーズでかつ有効なエッジを適切に寸断され
ることなく抽出することができる。又、エッジをスムー
ズにすることによって、従来に比べて符号化効率を大幅
に向上させることができると共に、画像の品質も向上さ
せることができる。
図６中の黒のブロックは有効エッジ集合を示す。この図
６に示すように、エッジを収縮することによってエッジ
が滑らかになる。以上のように、本実施例では、エッジ
伸長手段１２により、有効エッジに隣接する準有効エッ
ジを取り込むことによって、有効エッジの寸断を防止で
きる。又、エッジ収縮手段１３によりエッジを収縮する
ことによって、エッジをスムーズにすることができる。
従って、スムーズでかつ有効なエッジを適切に寸断され
ることなく抽出することができる。又、エッジをスムー
ズにすることによって、従来に比べて符号化効率を大幅
に向上させることができると共に、画像の品質も向上さ
せることができる。
【００１７】
【発明の効果】以上詳細に説明したように、第１、第
２、第３、及び第４の発明によれば、エッジ伸長手段に
より有効エッジに隣接する準有効エッジを取り込むよう
にしたので、有効エッジの寸断を防止できる。更に、エ
ッジ収縮手段によりエッジを収縮するようにしたので、
エッジを滑らかにすることができる。従って、全体とし
て、滑らかでかつ有効なエッジを適切に寸断されること
なく抽出できる。その上、エッジを滑らかにすることに
よって、従来に比べて符号化効率を大幅に向上させるこ
とができると共に、画像の品質も向上させることができ
る。
２、第３、及び第４の発明によれば、エッジ伸長手段に
より有効エッジに隣接する準有効エッジを取り込むよう
にしたので、有効エッジの寸断を防止できる。更に、エ
ッジ収縮手段によりエッジを収縮するようにしたので、
エッジを滑らかにすることができる。従って、全体とし
て、滑らかでかつ有効なエッジを適切に寸断されること
なく抽出できる。その上、エッジを滑らかにすることに
よって、従来に比べて符号化効率を大幅に向上させるこ
とができると共に、画像の品質も向上させることができ
る。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施例を示す画像のエッジ検出装置の
機能ブロック図である。
機能ブロック図である。
【図２】従来の画像のエッジ検出装置の機能ブロック図
である。
である。
【図３】従来のエッジ検出装置によるエッジの説明図で
ある。
ある。
【図４】エッジ構造の説明図である。
【図５】伸長後のエッジの説明図である。
【図６】収縮後のエッジの説明図である。
１１ エッジ検出手段 １２ エッジ伸長手段 １３ エッジ収縮手段 Ｌ１ 第１の直線 Ｌ２ 第２の直線 Ｌ３ 第３の直線
Claims (4)
- 【請求項１】 入力画像のエッジを検出するエッジ検出
手段と、 前記エッジ検出手段で検出された入力画像のエッジの中
から所定の閾値を用いて有効エッジを抽出し、該有効エ
ッジを中心にエッジの横方向又は縦方向に沿って該有効
エッジの領域を伸長するエッジ伸長手段と、 前記エッジ伸長手段で伸長されたエッジが滑らかになる
ように、該エッジの端をカットするエッジ収縮手段と
を、 備えたことを特徴とする画像のエッジ検出装置。 - 【請求項２】 前記エッジ検出手段は、 画像のエッジを第１の直線と該第１の直線に対して端部
が角度θ１で接する第２の直線と該第１の直線に対して
端部が角度θ２で接する第３の直線との共通の交わりと
して定義し、該入力画像の横方向又は縦方向のエッジの
大きさを（ｔａｎθ１＋ｔａｎθ２）の値として算出
し、 前記ｔａｎθ１は、 前記入力画像のうちの注目画素の横方向又は縦方向に隣
接する一方の画素と該注目画素との差分値として算出
し、 前記ｔａｎθ２は、 前記注目画素の横方向又は縦方向に隣接する他方の画素
と該注目画素との差分値として算出するようにしたこと
を、 特徴とする請求項１記載の画像のエッジ検出装置。 - 【請求項３】 前記エッジ伸長手段は、 閾値Ｔによって抽出された有効エッジの横方向又は縦方
向に隣接するエッジの中から閾値ｔ（０≦ｔ＜Ｔ）より
大きくかつ該有効エッジの符号と同一符号をもつ準有効
エッジを前記有効エッジに統合することによりエッジを
伸長して有効エッジ集合を形成し、かつ該有効エッジ集
合の直後のエッジにおいては、該エッジの始点又は終点
と前記有効エッジ集合の始点又は終点との各位置の差が
それぞれ所定の閾値画素を越えないようにしたことを特
徴とする請求項１又は２記載の画像のエッジ検出装置。 - 【請求項４】 前記エッジ収縮手段は、 前記有効エッジ集合において、各エッジの幅が同一にな
るようにし、かつ該各エッジの始点又は終点と直前のエ
ッジの始点又は終点の各位置の差がそれぞれ所定の閾値
画素を越えないようにし、かつ始点又は終点と直前のエ
ッジの始点又は終点との各位置の差がそれぞれ同一とな
るようなエッジが長く続くようにしたことを特徴とする
請求項１又は２又は３記載の画像のエッジ検出装置。
Priority Applications (9)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6264836A JPH08123967A (ja) | 1994-10-28 | 1994-10-28 | 画像のエッジ検出装置 |
| DE69525127T DE69525127T2 (de) | 1994-10-28 | 1995-10-24 | Gerät und Verfahren zur Kodierung und Dekodierung von Bildern unter Verwendung einer Kantensynthese und einer Wavelet-Rücktransformation |
| EP95307558A EP0709809B1 (en) | 1994-10-28 | 1995-10-24 | Image encoding and decoding method and apparatus using edge synthesis and inverse wavelet transform |
| US08/548,943 US5761341A (en) | 1994-10-28 | 1995-10-26 | Image encoding and decoding method and apparatus using edge synthesis and inverse wavelet transform |
| KR1019950037906A KR100388377B1 (ko) | 1994-10-28 | 1995-10-28 | 화상부호화장치복호화장치 |
| US09/069,870 US5878172A (en) | 1994-10-28 | 1998-04-30 | Image encoding and decoding method and apparatus using edge synthesis and inverse wavelet transform |
| US09/081,104 US5991448A (en) | 1994-10-28 | 1998-05-19 | Image encoding and decoding method and apparatus using edge synthesis and inverse wavelet transform |
| US09/081,780 US5949910A (en) | 1994-10-28 | 1998-05-20 | Image encoding and decoding method and apparatus using edge synthesis and inverse wavelet transform |
| US09/082,729 US6101277A (en) | 1994-10-28 | 1998-05-21 | Image encoding and decoding method and apparatus using edge synthesis and inverse wavelet transform |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6264836A JPH08123967A (ja) | 1994-10-28 | 1994-10-28 | 画像のエッジ検出装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08123967A true JPH08123967A (ja) | 1996-05-17 |
Family
ID=17408888
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6264836A Pending JPH08123967A (ja) | 1994-10-28 | 1994-10-28 | 画像のエッジ検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH08123967A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP2955693A1 (en) | 2014-06-09 | 2015-12-16 | Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. | Wrinkle detection apparatus and wrinkle detection method |
-
1994
- 1994-10-28 JP JP6264836A patent/JPH08123967A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP2955693A1 (en) | 2014-06-09 | 2015-12-16 | Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. | Wrinkle detection apparatus and wrinkle detection method |
| US9782119B2 (en) | 2014-06-09 | 2017-10-10 | Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. | Wrinkle detection apparatus and wrinkle detection method |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20021203 |