JPH08122284A - ゴムの架橋度の評価方法及びそれを利用したゴムの製造方法 - Google Patents

ゴムの架橋度の評価方法及びそれを利用したゴムの製造方法

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JPH08122284A
JPH08122284A JP25505094A JP25505094A JPH08122284A JP H08122284 A JPH08122284 A JP H08122284A JP 25505094 A JP25505094 A JP 25505094A JP 25505094 A JP25505094 A JP 25505094A JP H08122284 A JPH08122284 A JP H08122284A
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JP
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rubber
relaxation time
component
nuclear magnetic
short
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JP25505094A
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Shinya Ebita
信哉 胡田
Sachiko Nakamura
祥子 中村
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Asahi Chemical Industry Co Ltd
Original Assignee
Asahi Chemical Industry Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【構成】 標準とするゴム及び評価の対象とするゴムに
ついて、各々、核磁気緩和時間の短い成分の比率又は核
磁気緩和時間の長い成分の比率、核磁気緩和時間の短い
成分の運動性の指標、核磁気緩和時間の長い成分の運動
性の指標のうちいずれか2つ以上を測定し、標準とする
ゴムの測定値からのずれを測ることでゴムの架橋度を評
価する方法及びそれを利用したゴムの製造方法。 【目的】 ゴムおよびゴムを含む材料の品質管理におい
て、架橋度を分子鎖レベルで評価することが可能な評価
方法及びそれを利用したゴムの製造方法の提供。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、ゴムおよびゴムを含む
材料の品質管理において、架橋度を分子鎖レベルで評価
することが可能な評価方法及びそれを利用したゴムの製
造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】ゴムは、主として乳化重合法および溶液
重合法により製造されており、その品質管理上重要な物
性の一つとして架橋度があげられる。この架橋度の指標
としては、一般に、ゴムの、ある特定の溶媒に溶解しな
い成分の重量比率(Gel%)やこの特定の溶媒に溶解
しない成分のこの特定の溶媒での膨潤度(SI)が使用
されている。また、より詳細な方法としては、ゴムの粘
弾性挙動の測定値やガラス転移点(Tg)を使用するこ
ともある。しかし、これらの方法はゴムの物性値から間
接的に架橋度を推定した指標であり、ゴムの架橋度を十
分表現しているとは言えなかった。
【0003】一方、熱硬化性樹脂の硬化度を分子鎖レベ
ルで直接的に測定可能な方法として、NMRの縦緩和時
間を利用する方法が知られている(特開昭63−184
048号公報)。また、同様にゴムの架橋度をNMR装
置を用いて測定する方法として、H(プロトン)、13
C(カーボン)共に、縦緩和時間、横緩和時間を利用す
ることが提案されている。特に横緩和時間についてはK
REJSA J Lらにより詳細に検討されており、横
緩和時間の短い成分と、横緩和時間の長い成分との成分
比率がゴムの架橋度の指標として提案されている(Ru
bber Chem Technol,VOL.65,
NO.5,PAGE.956−964,1992)。し
かし、これらの指標は分子鎖レベルで直接的に架橋度を
推定できる点では優れているものの、これらはゴムの架
橋度の一部を表現したもので十分とは言えなかった。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、上記現状に
鑑み、ゴムおよびゴムを含む材料の架橋度を評価する方
法として、分子鎖レベルで直接的に架橋度を表現するこ
とが可能であり、かつ架橋点数(架橋密度)及び架橋点
間距離等、架橋度を多面的に表現可能な評価技術を提供
することを目的とする。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明者らは上記目的を
達成するために鋭意検討した結果、NMR装置を用い、
緩和時間の測定値のデータ処理を工夫することで、ゴム
の架橋度を詳細に表現可能なことを見出し、本発明に到
達した。すなわち、本発明は、標準とするゴム及び評価
の対象とするゴムについて、各々、核磁気緩和時間の短
い成分の比率又は核磁気緩和時間の長い成分の比率、核
磁気緩和時間の短い成分の運動性の指標、核磁気緩和時
間の長い成分の運動性の指標のうちいずれか2つ以上を
測定し、標準となるゴムの測定値からのずれを測ること
でゴムの架橋度を評価する方法、及びモノマ−の消費率
が5重量%以上の段階におけるゴムについて、核磁気緩
和時間の短い成分の比率又は核磁気緩和時間の長い成分
の比率、核磁気緩和時間の短い成分の運動性の指標、核
磁気緩和時間の長い成分の運動性の指標のうちいずれか
2つ以上を測定し、該核磁気緩和時間の短い成分の比率
又は核磁気緩和時間の長い成分の比率にあっては、標準
とするゴムの測定値からのずれが2%以下、核磁気緩和
時間の短い成分の運動性の指標又は核磁気緩和時間の長
い成分の運動性の指標にあっては、標準とするゴムの測
定値からのずれが30%以下となるようにゴムの架橋度
を制御しつつ、ゴムを製造することを特徴とするゴムの
製造方法である。以下、本発明の内容について説明す
る。
【0006】本発明の特徴とするところは、ゴムの架橋
度を評価するのに、NMRの核磁気緩和時間(以下、緩
和時間という)測定値のデータ処理段階で、緩和時間の
短い成分の成分比率又は緩和時間の長い成分の成分比率
を1つの指標とし、更に緩和時間の短い成分の運動性を
示す指標、緩和時間の長い成分の運動性を示す指標、以
上3つの指標の内、2つ以上の指標を用いる点である。
【0007】NMR装置とは、核磁気共鳴(Nucle
ar Magnetic Resonance)装置の
ことで、核種はプロトン(1 H−NMR)およびカーボ
ン( 1 3 C−NMR)である。緩和時間とは、縦緩和時
間(T1,スピン−格子緩和時間)および回転系の縦緩
和時間(T1ρ,回転系のスピン−格子緩和時間)およ
び横緩和時間(T2,スピン−スピン緩和時間)のこと
である。T2を用いる場合は、ゴムのT2が長いため、
磁場の不均一性の影響を受けやすく、スピンエコー法等
のパルステクニックを用いた処理が必要となる。
【0008】本発明で言う架橋度とは、炭素架橋、硫黄
架橋、オキシム架橋、樹脂架橋等共有結合による架橋お
よび、金属イオン架橋、塩架橋等のイオン架橋による架
橋において、ゴムの1分子当たりの架橋点数(架橋密
度)および架橋点間距離のことである。本発明でいう緩
和時間の成分は、NMRで測定した緩和時間の成分の
内、水、溶媒、ゴム以外の重合物等のゴム以外の緩和時
間の成分を除いたもの(ゴムの緩和時間の成分)を用い
る。そして、このゴムの緩和時間の成分のうち、成分比
率の大きいものから2成分を選び、この2成分の成分比
率の和を100%とする。この2成分の緩和時間を比較
し、緩和時間の短い成分の比率を緩和時間の短い成分の
成分比率と、緩和時間の長い成分の比率を緩和時間の長
い成分の成分比率とする。緩和時間の短い成分の成分比
率(A)又は緩和時間の長い成分の成分比率(B)は、
下記式により表される。
【0009】
【数1】
【0010】なお、上式の時間tは緩和時間の短い成分
の緩和時間よりも短い時間のことで、好ましくは、NM
R測定条件の内、パルス間隔の2倍の時間であり、通常
200μS(マイクロ秒)から1S程度の値である。ゴ
ムが架橋すると、架橋点の分子はそれ以外の分子よりも
分子運動が拘束されることから、分子運動が小さくな
り、緩和時間が短くなる。従って、緩和時間の短い(あ
るいは長い)成分の比率が架橋点数と強い相関関係があ
ると思われる。しかしながら、同じ比率であっても緩和
時間の異なるゴムが存在するため、緩和時間の短い(あ
るいは長い)成分の比率だけでは架橋度を十分に評価す
ることはできない。ゴムの架橋度を評価するには上記の
比率の測定だけでなく、下記に述べる緩和時間の短い成
分あるいは長い成分の運動性を示す指標を測定する必要
がある。
【0011】本発明で言う緩和時間の短い成分の運動性
を示す指標とは、緩和時間の短い成分の緩和時間
(T2S)や磁化の強さの測定時間tを用いて計算した値
で、例えばT2S、1/T2S、exp(−T2S/t)、e
xp(−t/T2S)、これらに定数をかけたもの、及び
これらに緩和時間の短い成分の成分比率(A)をかけた
もの等であり、これらのうち特にexp(−T2S/t)
が好ましい。
【0012】本発明で言う緩和時間の長い成分の運動性
を示す指標とは、緩和時間の長い成分の緩和時間
(T2l)や磁化の強さの測定時間tを用いて計算した値
で、例えばT2l、1/T2l、exp(−T2l/t)、e
xp(−t/T2l)、これらに定数をかけたもの、及び
これらに緩和時間の短い成分の成分比率(B)をかけた
もの等であり、これらのうち特にexp(−T2l/t)
が好ましい。
【0013】本発明の評価方法では、標準とするゴム及
び評価の対象とするゴムについて、上記指標のうち2つ
以上を測定し、両者の測定値のずれを測ることでゴムの
架橋度が評価できる。具体的には、両者について2つの
指標の場合は2次元、3つの指標の場合は3次元のグラ
フ上の位置により、架橋度を評価する。2つの指標の組
み合わせとしては、緩和時間の短い成分の成分比率の指
標と、緩和時間の短い成分の運動性を示す指標の組み合
わせおよび、緩和時間の長い成分の成分比率の指標と、
緩和時間の長い成分の運動性を示す指標の組み合わせが
好ましく、3つの指標を使用するのがより好ましい。緩
和時間の短い成分の成分比率と、緩和時間の長い成分の
成分比率の和は100%となるので、どちらか1つで表
現可能である。上記緩和時間の指標の組み合わせで、ゴ
ムの架橋度が詳細に表現可能となる理由に関しては十分
明らかではないが、緩和時間の短い成分の成分比率の指
標と緩和時間の短い成分の運動性を示す指標の組み合わ
せにより、ゴムの架橋点数(架橋密度)を表現し、緩和
時間の長い成分の成分比率の指標と緩和時間の長い成分
の運動性を示す指標の組み合わせにより、ゴムの架橋点
間距離を表現していると考えられる。緩和時間の短い成
分の成分比率と緩和時間の長い成分の成分比率はどちら
か1つでよいから、上記3つの指標を組み合わせること
により、架橋点数と架橋点間距離の両者が表現可能とな
り、より詳細にゴムの架橋度が表現可能となるのであ
る。具体的には、評価の対象とするゴムが、標準とする
ゴムから成分比率では2%以上、緩和時間の短い(長
い)成分の運動性を示す指標では30%以上ずれている
場合に、緩和時間の短い成分の成分比率が高い方向や緩
和時間の短い成分の緩和時間が短い方向にずれる場合に
は架橋点数が多いということを、緩和時間の長い成分の
成分比率が高い方向や緩和時間の長い成分の緩和時間が
長い方向にずれる場合には架橋点間距離が長いことを示
す。
【0014】本発明の評価方法は、ポリエンおよび該ポ
リエンを含む共重合体および無機物を含む重合体等のゴ
ム及びゴムを含む材料の評価に利用することができる。
ポリエンと共重合可能な単量体としては、下式に示すエ
チレン性不飽和単量体がある。 R−CH=CH2 (上記式中、Rは炭素数1〜25のアルキル基、フェニ
ル基、アリル基、エステルを示す。) 具体的には、芳香族ビニル化合物、シアン化ビニル化合
物、(メタ)アクリル酸エステル化合物、不飽和有機酸
等がある。具体的なゴムとしては、ブタジエンゴム、イ
ソプレンゴム、クロロプレンゴム、ブチルゴム、フッ素
ゴム、シリコーンゴム、ウレタンゴム、アクリロニトリ
ル−ブタジエンゴム、エチレン−プロピレンゴム、スチ
レン−ブタジエンゴム、ブチルアクリレート−ブタジエ
ンゴム、メチルメタアクリレート−ブタジエンゴム、ブ
チルアクリレート−メチルメタアクリレート−ブタジエ
ンゴム、イタコン酸−スチレン−ブタジエンゴム等が挙
げられる。
【0015】本発明で言うゴムを含む材料とは、上記ゴ
ムを0.5重量%以上含む材料であり、上記ゴムとの共
重合体および、他の樹脂等との混合物である。上記ゴム
と共重合可能な単量体としては、下式に示すエチレン性
不飽和単量体である。 R−CH=CH2 (上記式中、Rは炭素数1〜25のアルキル基、フェニ
ル基、アリル基、エステルを示す。) 具体的には、芳香族ビニル化合物、シアン化ビニル化合
物、(メタ)アクリル酸エステル化合物、不飽和有機酸
等がある。
【0016】該ゴムと混合可能な樹脂は、熱可塑性樹脂
および熱硬化性樹脂であり、アクリル樹脂、アミノ樹
脂、含塩素重合体、アリル樹脂、含弗フッ素重合体、含
ヘテロ重合体、セルロース誘導体、フェノール樹脂、ポ
リアミド、ポリアミノ酸、ポリイミド、ポリイミン、ポ
リイン、ポリウレタン、ポリエステル、ポリエーテル、
ポリオレフィン、ポリカーボネート、ポリスチレン、ポ
リビニルアセタール、ポリビニルアルコール、シリコー
ン樹脂等であり、共重合体でも可能である。上記樹脂と
共重合可能な単量体としては、エチレン性不飽和単量体
であり、芳香族ビニル化合物、シアン化ビニル化合物、
(メタ)アクリル酸エステル化合物、不飽和有機酸があ
る。
【0017】上記エチレン性不飽和単量体は下式に示す
ものである。 R−CH=CH2 (上記式中、Rは炭素数1〜25のアルキル基、フェニ
ル基、アリル基、エステルを示す。) 具体例は、スチレン、α−メチルスチレン、アクリロニ
トリル、メタアクリロニトリル、ブチルアクリレート、
メチルアクリレート、エチルアクリレート、メチルメタ
アクリレート、2−エチルヘキシルアクリレート、アク
リル酸、メタアクリル酸、エチルメタアクリレート、ブ
チルメタアクリレート、イソブチルメタアクリレート、
2−エチルヘキシルメタアクリレート、ラウリルメタア
クリレート、トリデシルメタアクリレート、ステアリル
メタアクリレート、シクロヘキシルメタアクリレート、
ベンジルメタアクリレート、2−ヒドロキシエチルメタ
アクリレート、2−ヒドロキシプロピルメタアクリレー
ト、ジメチルアミノエチルメタアクリレート、ジエチル
アミノエチルメタアクリレート、グリシジルメタアクリ
レート、テトラヒドロフルフリルメタアクリレート、エ
チレングリコールジメタアクリレート、トリエチレング
リコールジメタアクリレート、テトラエチレングリコー
ルジメタアクリレート1,3−ブチレングリコールジメ
タアクリレート、トリメチロールプロパントリメタアク
リレート等が挙げられる。
【0018】本発明で測定するゴムおよびゴムを含む材
料の形態は、固体状態、ラテックス状態、および溶媒に
溶解または膨潤した状態のいずれでもよい。固体状態と
は、粉体、成形品等形の制限はないが、NMR用の試料
管に入る大きさで、密度を高くなるようにしたほうが有
利である。ラテックス状態では、固形分が高いほうが有
利であり、50重量%程度が好ましい。架橋度が高いも
のは、溶媒に溶けないものが多く、溶媒に膨潤させて測
定することもできる。
【0019】本発明での測定温度範囲は、固体状態では
−70℃〜150℃、ラテックス状態では5℃〜90
℃、溶媒に溶解または膨潤した状態では該溶媒の凝固点
より5℃高い温度から沸点より10℃低い温度の範囲で
あるが、40℃〜70℃の範囲の条件が好ましい。次
に、上記の評価方法を利用したゴムの製造方法について
説明する。
【0020】本発明の製造方法は、モノマ−の消費率が
5重量%以上の段階におけるゴムについて、核磁気緩和
時間の短い成分の比率又は核磁気緩和時間の長い成分の
比率、核磁気緩和時間の短い成分の運動性の指標、核磁
気緩和時間の長い成分の運動性の指標のうちいずれか2
つ以上を測定し、該核磁気緩和時間の短い成分の比率又
は核磁気緩和時間の長い成分の比率にあっては、標準と
するゴムの測定値からのずれが2%以下、核磁気緩和時
間の短い成分の運動性の指標又は核磁気緩和時間の長い
成分の運動性の指標にあっては、標準とするゴムの測定
値からのずれが30%以下となるようにゴムの架橋度を
制御しつつ、ゴムを製造することを特徴とするゴムの製
造方法である。
【0021】ゴムの製造方法としては、従来公知の乳化
重合法(ラジカル重合法)及び溶液重合法(イオン重合
法)等が用いらる。かかる製造方法は、上記評価方法を
用いてゴムの架橋度を制御しつつゴムを製造しているた
め、品質が一定のゴムを提供することができる。
【0022】
【実施例】以下、実施例を用いて本発明を説明する。な
お、実施例及び比較例のプロトンの横緩和時間(T2
は、日本電子(株)製パルスNMR(核種プロトン)、
型式MU25を用い測定した値を用いた。測定条件は、
核種はプロトン、固体状態で、パルス系列がHahn
Echo法、Pil Inc times(パルス間隔
繰り返し回数)100、Pwi(パルス巾)2.5μ
S、Pil(パルスの間隔)100μS、Rep(パル
スシーケンスの繰り返し時間)1.0S、X−Axis
time(信号モニター時間)2mS、Sampli
ng Point50で実施した。ラテックス状態での
測定条件は、C.P.M.G法、Pwi2.0μS、P
il50μS、Rep15.0S、その他は上記条件と
同等の条件で実施した。
【0023】実施例の核種カーボン(13C)の横緩和時
間(T2)、縦緩和時間(T1)は、日本電子(株)製F
T−NMR(フーリエ変換NMR)、型式GX−270
を用い測定した値を用いた。測定条件は、C.P.M.
G.法、180゜パルス30μS、90゜パルス15μ
S、パルスの間隔0.05S、その他は上記型式MU2
5の固体状態条件と同等の条件で実施した。
【0024】実施例の核種プロトンの回転系の縦緩和時
間(T1ρ)は、日本電子(株)製FT−NMR(フー
リエ変換NMR)、型式GX−270を用い測定した値
を用いた。測定条件は、C.P.M.G.法、180゜
パルス20μS、90゜パルス12μS、パルスの間隔
5mS、その他は上記型式MU25の固体状態と同等の
条件で実施した。
【0025】比較例のガラス転移点(Tg)は、セイコ
ー電子(株)製、型式SSC/5200,TG/DTA
220を用い測定した値を用いた。測定条件は、試料量
10mg、昇温速度10℃/min.、TG感度10m
gで、雰囲気はAir中で行なった。なお、基準物質に
は、α−Al23(和光純薬製)を用いた。比較例の粘
弾性は、島津製作所(株)製、型式スイングダイレオメ
ータSDR−20、周波数1.66Hz(キロヘルツ)
振幅5°予熱時間0秒の条件にて固体状態で実施した。
【0026】Gel%及びSIとはMEK(メチルエチ
ルケトン)に不溶な成分の重量比率及びこのMEKに不
溶な成分のMEKの膨潤度のことで、測定方法として
は、ゴム固形分0.2グラム程度を小数点以下4桁まで
計量し(計量1)、MEK40グラムを同じ容器の中に
入れ24時間放置する。その後、100メッシュの金網
にこのサンプルを通し、MEKに溶解したゴムを除去し
たサンプルを計量する(計量2)。その後、このサンプ
ルを130℃、30分乾燥し、30分放冷後計量する
(計量3)。Gel%及びSIは、下記の式で表現され
る。
【0027】 Gel%=(計量3)/(計量1)×100 SI=(計量2)/(計量3) 実施例でのHIPS(ハイインパクトポリスチレン)の
サンプルは、MEK/メタノール=9/1(重量比)2
0mlとサンプル1グラムを容器に入れ、1時間振と
う、日立製作所(株)製遠心分離機、型式himacC
P56Gを用い、20000rpm、30分の条件で処
理後上澄み液を除き、TABAI ESPEC COR
P.製乾燥器、型式LC−112を用い、40℃、2時
間乾燥したものを用いた。
【0028】実施例でのABS(アクリロニトリル、ブ
タジエン、スチレン共重合体)のサンプルは、MEK/
メタノール=9/1(重量比)25mlとサンプル2グ
ラムを容器に入れ、2時間振とう、日立製作所(株)製
遠心分離機、型式himacCP56Gを用い、180
00rpm、50分の条件で処理後上澄み液を除き、T
ABAI ESPEC CORP.製乾燥器、型式LC
−112を用い、40℃、2時間乾燥したものを用い
た。
【0029】
【実施例1】乳化重合により製造したポリブタジエンの
サンプルA及びBについて、各々、プロトンNMR装置
を用いて横緩和時間を、測定温度70℃、固体状態にて
測定した。サンプルAの緩和時間の短い成分の成分比率
は0.746、緩和時間の短い成分の運動性を示す指標
exp(−T2S/t)は1.50×10-3、緩和時間の
長い成分の運動性を示す指標exp(−T2l/t)は
9.04×10-20であった。また同様にサンプルBの
緩和時間の短い成分の成分比率は0.782、exp
(−T2S/t)は8.26×10-4、exp(−T2l
t)は2.58×10-19であり、図1及び2に示す通
り、サンプルAとの架橋度の差が表現されている。
【0030】
【実施例2】実施例1と同じサンプルについて、各々、
プロトンNMRを用いて横緩和時間を、測定温度70
℃、ラテックス状態にて測定した。サンプルAの緩和時
間の短い成分の成分比率は0.701、exp(−T2S
/t)は0.0325、exp(−T2l/t)は2.2
9×10-11であった。また同様にサンプルBの緩和時
間の短い成分の成分比率は0.750、exp(−T2S
/t)は0.0183、exp(−T2l/t)は8.1
5×10-10であり、ラテックス状態でもサンプルAと
の架橋度の差が表現されている。
【0031】
【実施例3】実施例1と同じサンプルについて、各々、
カーボンNMRを用いて横緩和時間を、測定温度50
℃、固体状態にて測定した。サンプルAの緩和時間の短
い成分の成分比率は0.726、exp(−T2S/t)
は0.154、exp(−T2l/t)は9.11×10
-12であった。また同様にサンプルBの緩和時間の短い
成分の成分比率は0.770、exp(−T2S/t)は
0.086、exp(−T2l/t)は3.56×10
-11であり、カーボンNMRの横緩和時間でも、サンプ
ルAとの架橋度の差が表現されている。
【0032】
【実施例4】実施例1と同じサンプルについて、各々、
カーボンNMRを用いて縦緩和時間を、測定温度60
℃、固体状態にて測定した。サンプルAの緩和時間の短
い成分の成分比率は0.745、exp(−T2S/t)
は0.135、exp(−T2l/t)は8.53×10
-12であった。また同様にサンプルBの緩和時間の短い
成分の成分比率は0.764、exp(−T2S/t)は
0.072、exp(−T2l/t)は2.21×10
-11であり、カーボンNMRの縦緩和時間でも、サンプ
ルAとの架橋度の差が表現されている。
【0033】
【実施例5】実施例1と同じサンプルについて、各々、
プロトンNMRを用いて回転系の縦緩和時間を、測定温
度70℃、膨潤状態にて測定した、サンプルAの緩和時
間の短い成分の成分比率は0.721、exp(−T2S
/t)は0.293、exp(−T2l/t)は7.31
×10-13であった。また同様にサンプルBの緩和時間
の短い成分の成分比率は0.758、exp(−T2S
t)は0.107、exp(−T2l/t)は5.36×
10-12であり、プロトンNMRの回転系の縦緩和時間
でも、サンプルAとの架橋度の差が表現されている。
【0034】
【実施例6】実施例1と同じ条件で測定温度を30℃に
置き換えて測定した。サンプルAの緩和時間の短い成分
の成分比率は0.911、exp(−T2S/t)は2.
88×10-3、exp(−T2l/t)は1.84×10
-14であった。また同様にサンプルBの緩和時間の短い
成分の成分比率は0.916、exp(−T2S/t)は
2.70×10-3、exp(−T2l/t)は3.05×
10 -14であり、実施例1よりサンプルA及びBの測定
値の差が小さくなっており、ゴムの架橋度の差が表現し
にくくなっている。
【0035】
【実施例7】マス重合により製造したHIPSのサンプ
ルC及びDについて、各々、プロトンNMR装置を用い
て横緩和時間を、測定温度70℃、固体状態にて測定し
た。サンプルCの緩和時間の短い成分の成分比率は0.
916、exp(−T2S/t)6.74×10-3、ex
p(−T2l/t)3.72×10-44であった。また同
様にサンプルDの緩和時間の短い成分の成分比率は0.
953、exp(−T 2S/t)は4.85×10-3、e
xp(−T2l/t)は1.25×10-44であり、サン
プルCとの架橋度の差が表現されている。
【0036】
【実施例8】乳化重合により製造したABSのサンプル
E及びFについて、各々、プロトンNMR装置を用いて
横緩和時間を、測定温度50℃、固体状態にて測定し
た。サンプルEの緩和時間の短い成分の成分比率は0.
897、exp(−T2S/t)2.50×10-2、ex
p(−T2l/t)4.35×10-21であった。また同
様にサンプルFの緩和時間の短い成分の成分比率は0.
913、exp(−T2S/t)は1.43×10-2、e
xp(−T2l/t)は2.35×10-21であり、サン
プルEとの架橋度の差が表現されている。
【0037】
【比較例1】比較のため、実施例1と同じサンプルA及
びBについて、各々、Gel%及びSIを測定した。サ
ンプルAのGel%は77%、SIは28であった。ま
た、サンプルBのGel%は77%、SIは28であり
この測定方法での差はなく、この測定方法ではゴムの架
橋度の差が表現できていない。
【0038】また、実施例1と同じサンプルA及びBに
ついて、各々、ガラス転移点(Tg)を測定した結果、
サンプルAは−78.1℃、サンプルBは−78.3℃
とほとんど差がなく、この測定方法ではゴムの架橋度の
差が表現できていない。更に、実施例1と同じサンプル
A及びBについて、各々、粘弾性を測定した。サンプル
AのG′(弾性トルク、貯蔵弾性率)は1.10N・m
(ニュートン・メートル)G″(粘性トルク、損失弾性
率)は0.37N・m、tanσは0.336、緩和時
間は2.87mSであった。サンプルBのG′は1.1
5N・mG″は0.36N・m、tanσは0.33
3、緩和時間は2.88mSでありほとんど差がなく、
この測定方法ではゴムの架橋度の差が表現できていな
い。
【0039】
【比較例2】比較のため、実施例6と同じサンプルC及
びDについて、各々、Gel%及びSIを測定した。サ
ンプルCのGel%は100%、SIは1.5であっ
た。また、サンプルDのGel%は100%、SIは
1.4でありこの測定方法での差はなく、この測定方法
ではゴムの架橋度の差が表現できていない。
【0040】また、実施例6と同じサンプルC及びDに
ついて、各々、ガラス転移点(Tg)を測定した結果、
サンプルCは−31.5℃、サンプルDは−31.1℃
とほとんど差がなく、この測定方法ではゴムの架橋度の
差が表現できていない。
【0041】
【比較例3】比較のため、実施例7と同じサンプルE及
びFについて、各々、Gel%及びSIを測定した。サ
ンプルEのGel%は100%、SIは1.2であっ
た。また、サンプルFのGel%は100%、SIは
1.2でありこの測定方法での差はなく、この測定方法
ではゴムの架橋度の差が表現できていない。
【0042】また、実施例7と同じサンプルE及びFに
ついて、各々、ガラス転移点(Tg)を測定した結果、
サンプルEは−25.3℃、サンプルFは−25.0℃
とほとんど差がなく、この測定方法ではゴムの架橋度の
差が表現できていない。以上、実施例1〜3の結果を表
1に、実施例4〜6を表2に、実施例7、8を表3に示
す。また、比較例1〜3の結果も参考値として表1〜3
に併せて示す。
【0043】
【表1】
【0044】
【表2】
【0045】
【表3】
【0046】
【発明の効果】本発明の方法によれば、ゴムの架橋度を
単に間接的に測定するのではなく、分子鎖レベルで直接
的に測定可能な上に、ゴムの架橋度の平均値ではなく、
架橋度を架橋点数と架橋点間距離の表現ができ、詳細な
測定が可能となり、ゴムの品質管理に有利である。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の評価方法の一例を示すグラフである。
【図2】本発明の評価方法の一例を示すグラフである。

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 標準とするゴム及び評価の対象とするゴ
    ムについて、各々、核磁気緩和時間の短い成分の比率又
    は核磁気緩和時間の長い成分の比率、核磁気緩和時間の
    短い成分の運動性の指標、核磁気緩和時間の長い成分の
    運動性の指標のうちいずれか2つ以上を測定し、標準と
    するゴムの測定値からのずれを測ることでゴムの架橋度
    を評価する方法。
  2. 【請求項2】 標準とするゴム及び評価の対象とするゴ
    ムについて、各々、(1)核磁気緩和時間の短い成分の
    比率又は核磁気緩和時間の長い成分の比率、核磁気緩和
    時間の短い成分の緩和時間をT2S、核磁気緩和時間の長
    い成分の緩和時間をT2l、磁化の強さの測定時間をtと
    したときに(2)exp(−T2S/t)又はexp(−
    t/T2S)で示される核磁気緩和時間の短い成分の運動
    性の指標、(3)exp(−T2l/t)又はexp(−
    t/T2l)で示される核磁気緩和時間の長い成分の運動
    性の指標、のうちいずれか2つ以上を測定し、標準とす
    るゴムの測定値からのずれを測ることでゴムの架橋度を
    評価する方法。
  3. 【請求項3】 モノマ−の消費率が5重量%以上の段階
    におけるゴムについて、核磁気緩和時間の短い成分の比
    率又は核磁気緩和時間の長い成分の比率、核磁気緩和時
    間の短い成分の運動性の指標、核磁気緩和時間の長い成
    分の運動性の指標のうちいずれか2つ以上を測定し、該
    核磁気緩和時間の短い成分の比率又は核磁気緩和時間の
    長い成分の比率にあっては、標準とするゴムの測定値か
    らのずれが2%以下、核磁気緩和時間の短い成分の運動
    性の指標又は核磁気緩和時間の長い成分の運動性の指標
    にあっては、標準とするゴムの測定値からのずれが30
    %以下となるようにゴムの架橋度を制御しつつ、ゴムを
    製造することを特徴とするゴムの製造方法。
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