JPH08122012A - 干渉計用基準板装置 - Google Patents

干渉計用基準板装置

Info

Publication number
JPH08122012A
JPH08122012A JP25325094A JP25325094A JPH08122012A JP H08122012 A JPH08122012 A JP H08122012A JP 25325094 A JP25325094 A JP 25325094A JP 25325094 A JP25325094 A JP 25325094A JP H08122012 A JPH08122012 A JP H08122012A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
interferometer
reference plate
plate body
interference fringes
plate
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP25325094A
Other languages
English (en)
Inventor
Masami Yoneda
正美 米田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujinon Corp
Original Assignee
Fuji Photo Optical Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fuji Photo Optical Co Ltd filed Critical Fuji Photo Optical Co Ltd
Priority to JP25325094A priority Critical patent/JPH08122012A/ja
Publication of JPH08122012A publication Critical patent/JPH08122012A/ja
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Abstract

(57)【要約】 【目的】 基準板本体の両面を反射率の異なる2つの基
準面として使用し得るようこの基準板本体を干渉計本体
に着脱可能とすることにより、基準板の保管スペースを
削減し、スペース確保に要するコストを低減する。 【構成】 この基準板本体9は緩衝材12を介して円筒形
状の鏡胴(取付部材)13に保持されており、この鏡胴13
の外表面に形成された雄ネジ部13bを干渉計装置の外壁
15の下端部に形成された雌ネジ部15aに螺合することに
より基準板本体9を所定位置に固定保持できるようにな
っている。2つの基準面9a,9bは互いに異なる反射
率を有する平面であって、緩衝縞のコントラストを確保
するため被検面10aの反射率に応じてオペレータが適宜
いずれかの基準面9a,9bを選択できるようになって
いる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、干渉計に使用される基
準板装置に関し、詳しくは干渉計本体に対し、着脱可能
な取付部材を有する干渉計用基準板装置に関するもので
ある。
【0002】
【従来の技術】近年、機械、光学あるいは半導体部品の
加工精度の向上に鑑み、非加工面の凹凸あるいは表面あ
らさ等を高精度で計測する技術が要求されている。
【0003】このような計測技術としては、基準板とこ
の被検体との間でおきる光干渉を干渉計で測定してその
干渉縞を得、この干渉縞を解析してその被検体の表面形
状を計測するものが知られている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】上記干渉計としては例
えばフィゾー型等の干渉計が広く使用されている。この
フィゾー型等の干渉計においてコントラストのよい干渉
縞を得るためには、特に被検体の表面からの反射光量と
基準板の表面からの反射光量とが同等となるように両表
面の反射率を合わせることが必要となる。
【0005】したがって、測定対象である被検面の反射
率に応じて基準面を選択する必要があり、従来、異なる
反射率の複数種の基準面を用意する必要があった。
【0006】このような基準面は、その表面が汚損した
り傷付くことを極力回避しなければならず、このため基
準板を保管庫に確実に保管する必要があり、基準板の枚
数の増加と共に大きな保管スペースが必要となってい
た。
【0007】本願発明はこのような事情に鑑みなされた
ものであり、基準板の保管スペースを削減し、スペース
確保に要するコストを低減する干渉計用基準板装置を提
供することを目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】本願発明の干渉計用基準
板装置は、表裏両面が互いに異なる反射率を有する面か
らなる基準板本体と、該基準板本体を保持するととも
に、前記2つの面を状況に応じて択一的に基準面として
使用し得るように、該基準板本体を干渉計本体の所定位
置にセット可能とする取付部材を備えてなることを特徴
とするものである。
【0009】また、前記取付部材が、前記基準板本体を
保持しつつ表裏反転したいずれの状態においてもこの基
準板本体を前記干渉計本体の所定位置にセットし得るよ
うにしてもよい。
【0010】さらに、前記基準板本体が平面板からな
り、この平面板の表裏両面が互いに、平行からずれた所
定の傾きを有するように形成すればより好ましい。
【0011】さらに、上記「平行からずれた所定の傾
き」とは、不必要な干渉縞が観察面上に形成されず、本
来の干渉縞が観察面上に明確に形成し得る程度の傾きを
いうものとする。
【0012】
【作用および発明の効果】上記構成によれば、基準板本
体の表裏両面を互いに異なる反射率を有する面としてお
き、しかも、この両面を択一的に基準面として使用し得
るよう、基準板本体を干渉計本体に取付可能としている
から、一つの基準板が、互いに異なる反射率を有する2
種類の被検面の測定に用いることができ、従来に比べ基
準板の枚数を半分に減らすことができる。
【0013】これにより、基準板保管スペースの削減を
図ることができ、このスペース確保に要するコストを低
減することができる。
【0014】また、フィゾー型等の干渉計においては、
基準板の、被検面と対向する面を基準面として使用し、
一方トワイマン型等の干渉計においては基準板の干渉計
側の面を基準面として使用するのが一般的であるが、基
準板本体を表裏反転させた各々の状態において干渉計本
体に取付可能とすることにより上記基準板の両基準面各
々を同型の干渉計に用いることが可能となる。
【0015】さらに、フィゾー型干渉計等では基準板の
被検面側の面を基準面とし、基準板を透過した光の基準
面からの反射光を参照光として使用することになるが、
基準板が平行平面板の場合あるいは平行平面板に非常に
近い場合にはこのときの基準面の裏面からの反射光によ
り不必要な干渉縞(被検面と基準面の裏面、基準面と基
準面の裏面各々からの反射光による干渉縞)が発生す
る。この不必要な干渉縞が発生すると、本来の干渉縞の
背景が明るくなってしまい、結果としてコントラストが
低下してしまう。そこで本願発明のものでは、基準板の
表裏両面に互いに平行からずれた所定の傾き(ウェッジ
角)を与えるようにしており、これにより基準面のアラ
インメントが終了した段階では不必要な干渉光が観察光
学系に入らないのでコントラストの大きい干渉縞を得る
ことができる。
【0016】
【実施例】以下、本発明の実施例について図面を用いて
説明する。
【0017】図1は、本願発明の実施例に係る平板状の
基準板を備えたフィゾー型の干渉計装置を示す概略図で
あり、図2は、この基準板を拡大して示す概略図であ
る。
【0018】すなわち、この干渉計装置はレーザ光源1
と、レーザビーム2を発散光5に変換するレンズ4およ
びピンホール板4aと、ビームスプリッタ6と、コリメ
ータレンズ7と、この平行光8をこの平行光に対して垂
直に配された半透鏡基準面9aにより一部反射せしめる
とともにその残りの平行光8を透過せしめて被検体10の
被検面10aに照射せしめる断面円形の基準板本体9と、
基準面9aから反射されてなる参照光と被検面10aから
反射されてなる物体光との干渉により形成される干渉縞
を観察するためのTVカメラ11を備えている。
【0019】この基準板本体9は緩衝材12を介して円筒
形状の鏡胴(取付部材)13に保持されており、この鏡胴
13の外表面に形成された雄ネジ部13bを干渉計装置の外
壁15の下端部に形成された雌ネジ部15aに螺合すること
により基準板本体9を所定位置に固定保持できるように
なっている。
【0020】また、この基準板本体9は鏡胴13の内壁部
分と螺合する押え板14と、この鏡胴13の内壁から内側に
突出した載設部13aとにより上下方向の位置決め、保持
が確実になされるようになっている。
【0021】また、上記緩衝材12は、鏡胴13によって挟
持されることで基準板本体9に応力歪みが発生するのを
防止するためのものである。
【0022】なお、本明細書においては、基準板本体9
と鏡胴(取付部材)13の両者からなるものを(干渉計
用)基準板装置と称する。
【0023】ところで、上記基準板本体9は基準面9a
と反対側に基準面9bを有している。これら2つの基準
面9a,9bは互いに異なる反射率を有する平面であっ
て、干渉縞のコントラストを確保するため被検面10aの
反射率に応じてオペレータが適宜2つの基準面9a,9
bを択一的に選択できるようになっている。
【0024】上記基準面9bを使用する場合には、鏡胴
13を図1に示す状態とは反転させることにより両基準面
9a,9bを反転させ、鏡胴13の雄ネジ部13cを上記外
壁15の下端部の雌ネジ部15aに螺合して鏡胴13を干渉計
装置に取り付ける。
【0025】これにより1つの基準板9を用いて、互い
に異なる反射率を有する2種類の被検面10aに対する干
渉縞測定を各々良好なコントラストを確保しつつ行なう
ことができる。
【0026】また、上記基準板本体9の両基準面9a,
9bの反射率としては、一方を例えば4%程度、他方を
1%程度以下とする。基準板本体9の表面を研磨したま
まの、いわゆる低反射基準面と称される平面の反射率は
一般に4%程度であるから、基準面9a,9bの反射率
を1%程度以下とするためには、研磨した表面上に反射
防止膜を蒸着法、スパッタリング法等により形成する必
要がある。
【0027】また、上記基準面9a,9bを作成するた
めに反射防止膜をコーティングする代わりにこの基準面
9a,9bを粗面とすることで反射率を低下させること
も可能である。
【0028】さらに、状況に応じて、基準板本体9の両
面に互いに反射防止効率の異なる反射防止膜を形成した
り、少なくとも一面に反射率増加膜を形成して上記両基
準面を形成することも可能である。
【0029】また、図2に示す基準板本体9の両基準面
9a,9bは互いに所定の微小角度(ウェッジ角)だけ
傾くように形成されている。
【0030】すなわち、例えば図1に示すような状態で
基準板装置が配され、測定に寄与する基準面が基準面9
aであるとすれば、この基準面9aからの反射光と被検
面10aからの反射光による干渉縞がCCD11の受光面上
に形成されるように各部材がセットされるが、2つの基
準面9a,9bが互いに平行となるように形成されてい
るとすると、基準面9bからの反射光と被検面10aから
の反射光による干渉縞や、両基準面9a,9bからの反
射光による干渉縞も上記CCD11の受光面上に形成され
てしまう。
【0031】このような不必要な干渉縞が、測定しよう
とする干渉縞と重なり合うと、この測定しようとする干
渉縞の背景の明るさを上げてしまうことから、結果的に
この測定しようとする干渉縞のコントラストが低下し測
定精度が低下してしまう。あるいは縞走査時に両者の干
渉縞を分離できないことからフリンジスキャニング法に
よる正常な縞解析を不可能にする場合もある。
【0032】そこで、上記基準板本体9の両基準面9
a,9bは、互いに所定の微小角度傾けて形成されてい
るので、そのとき使用されている基準面9a,9bから
の反射光がCCD11の受光面に戻るようにセットされた
状態では、他の基準面9a,9bからの反射光は、従来
からの方法、即ち結像光学系にアパーチャを入れること
や結像光学系の光路長を長くすることでCCD11の受光
面に戻らないようになっており、これにより不必要な干
渉縞の発生による、測定用干渉縞のコントラストの低下
という問題を解決している。
【0033】また、上記ウェッジ角は、余り大きく設定
すると光線の屈折等に伴なう不都合な問題が生じるの
で、そのような影響が問題とならない程度の微小角度に
設定すべきである。
【0034】なお、本発明の基準板としては上記実施例
のものに限られるものではなく、種々の態様の変更が可
能である。
【0035】例えば取付部材のタイプとしてもネジ式の
ものに限られるものではなく、例えば別体のボルトを用
いて鏡胴を干渉計壁部に固定させるものであってもよ
く、要は基準板本体を干渉計本体の所定位置に確実に位
置決め、固定でき、かつ互いに着脱可能とし得るもので
あればよい。
【0036】また、上記実施例においては、基準板本体
の表裏両面に形成された2つの基準面を同じ干渉計装置
に使用する場合、ここではフィゾー型干渉計の例で説明
しているが、このように基準板を透過し基準面で反射し
た光を参照面として使用する干渉計と、トワイマン型干
渉計のように基準板を透過せずに基準面の反射光をその
まま参照波面とする干渉計とに使用しても良い。
【0037】さらに、上記基準面の形状としては平面状
のものに限られず、被検面形状に応じ、例えば球面状あ
るいは非球面状のものであってもよい。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施例に係る基準板装置をフィゾー型
干渉計に適用した状態を示す概略図
【図2】図1に示す基準板装置を拡大して示す概略図
【符号の説明】
1 レーザ光源 2 レーザビーム 9 基準板 9a,9b 基準面 10 被検体 10a 被検面 11 CCDカメラ 12 緩衝材 13 鏡胴 13b,13c 雄ネジ部 14 押え板 15 外壁 15a 雌ネジ部

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 表裏両面が互いに異なる反射率を有する
    面からなる基準板本体と、 該基準板本体を保持するとともに、前記2つの面を状況
    に応じて択一的に基準面として使用し得るように、該基
    準板本体を干渉計本体の所定位置にセット可能とする取
    付部材を備えてなることを特徴とする干渉計用基準板装
    置。
  2. 【請求項2】 前記取付部材が、前記基準板本体を保持
    しつつ表裏反転したいずれの状態においてもこの基準板
    本体を前記干渉計本体の所定位置にセット可能とするも
    のであることを特徴とする請求項1記載の干渉計用基準
    板装置。
  3. 【請求項3】 前記基準板本体が平面板からなり、この
    平面板の表裏両面が互いに、平行からずれた所定の傾き
    を有するように形成されてなることを特徴とする請求項
    1もしくは2記載の干渉計用基準板装置。
JP25325094A 1994-10-19 1994-10-19 干渉計用基準板装置 Withdrawn JPH08122012A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP25325094A JPH08122012A (ja) 1994-10-19 1994-10-19 干渉計用基準板装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP25325094A JPH08122012A (ja) 1994-10-19 1994-10-19 干渉計用基準板装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH08122012A true JPH08122012A (ja) 1996-05-17

Family

ID=17248661

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP25325094A Withdrawn JPH08122012A (ja) 1994-10-19 1994-10-19 干渉計用基準板装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH08122012A (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002365013A (ja) * 2001-06-04 2002-12-18 Fuji Photo Optical Co Ltd 光波干渉計用参照基準板の支持装置
JP2010223807A (ja) * 2009-03-24 2010-10-07 Topcon Corp 参照鏡筒ユニット
JP2011107168A (ja) * 2000-01-25 2011-06-02 Zygo Corp 試験対象物の幾何学的特性を測定する方法及び装置、並びに光プロファイリング・システム
JP2015017968A (ja) * 2013-06-13 2015-01-29 国立大学法人 新潟大学 レーザ走査型干渉計及び表面形状の計測方法

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011107168A (ja) * 2000-01-25 2011-06-02 Zygo Corp 試験対象物の幾何学的特性を測定する方法及び装置、並びに光プロファイリング・システム
JP2002365013A (ja) * 2001-06-04 2002-12-18 Fuji Photo Optical Co Ltd 光波干渉計用参照基準板の支持装置
JP2010223807A (ja) * 2009-03-24 2010-10-07 Topcon Corp 参照鏡筒ユニット
JP2015017968A (ja) * 2013-06-13 2015-01-29 国立大学法人 新潟大学 レーザ走査型干渉計及び表面形状の計測方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP0902874B1 (en) Interferometer for measuring thickness variations of semiconductor wafers
US5066119A (en) Optical device for phase detection testing optical systems, especially ophthalmic lenses
JPH02170033A (ja) 光学素子の検査方法および装置
JPH0712535A (ja) 干渉計
KR100901277B1 (ko) 파면 수차 측정방법 및 장치
US20040150834A1 (en) Application of the phase shifting diffraction interferometer for measuring convex mirrors and negative lenses
JPH08122012A (ja) 干渉計用基準板装置
JP2000241128A (ja) 面間隔測定方法および装置
US5383025A (en) Optical surface flatness measurement apparatus
JP3041205B2 (ja) 干渉計用基準板
JP3533195B2 (ja) 試料観察計測用可干渉ビーム装置
JPH11194011A (ja) 干渉装置
JPH08334606A (ja) レンズ
JP3617916B2 (ja) シアリング干渉計
JP3813286B2 (ja) 干渉計装置
JPH05223690A (ja) レンズの透過性能測定装置
JP3229980B2 (ja) フィゾー型干渉計
JPH0650243B2 (ja) 光波干渉装置
JPS6029057B2 (ja) 三面合せ鏡式反射器の反射検査装置
JP3635543B2 (ja) シリンダ干渉計
JPH02259512A (ja) 一体型干渉測定装置
JPH03226618A (ja) オートコリメータ
Popov et al. Pellicle laser interferometers for exact optics test
JPH11325848A (ja) 非球面形状測定装置
JP2890639B2 (ja) 真球度の絶対測定方法及び装置

Legal Events

Date Code Title Description
A300 Withdrawal of application because of no request for examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300

Effective date: 20020115