JPH08114538A - 吸光度計 - Google Patents
吸光度計Info
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- JPH08114538A JPH08114538A JP27598794A JP27598794A JPH08114538A JP H08114538 A JPH08114538 A JP H08114538A JP 27598794 A JP27598794 A JP 27598794A JP 27598794 A JP27598794 A JP 27598794A JP H08114538 A JPH08114538 A JP H08114538A
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- JP
- Japan
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- measurement
- measurement cycle
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- measured value
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 測定値のレベルに応じて測定周期を切り換え
られるようにすることにより、必要以上の測定を行わな
い合理的な測定を行うことにより、ランニングコストの
低減を図ることができる吸光度計を提供すること。 【構成】 分析部Ｘが測定周期設定部Ｙからの測定開始
信号ａに基づいて測定を開始するように構成された吸光
度計において、前記測定周期設定部Ｙを、複数の測定周
期設定器４１と、分析部Ｘからの測定値ｂが入力され、
測定値ｂのレベル判定を行う複数のしきい値設定器４２
と、これら両設定器４１，４２の入力を受けて測定周期
を切り換える測定周期設定器選択制御ユニット４３と、
この測定周期設定器選択制御ユニット４３からの指令に
基づいて測定開始信号を分析部Ｘに出力するタイマー制
御ユニット４４とから構成し、前記測定値ａの大きさに
応じて測定周期を変更するようにした。
られるようにすることにより、必要以上の測定を行わな
い合理的な測定を行うことにより、ランニングコストの
低減を図ることができる吸光度計を提供すること。 【構成】 分析部Ｘが測定周期設定部Ｙからの測定開始
信号ａに基づいて測定を開始するように構成された吸光
度計において、前記測定周期設定部Ｙを、複数の測定周
期設定器４１と、分析部Ｘからの測定値ｂが入力され、
測定値ｂのレベル判定を行う複数のしきい値設定器４２
と、これら両設定器４１，４２の入力を受けて測定周期
を切り換える測定周期設定器選択制御ユニット４３と、
この測定周期設定器選択制御ユニット４３からの指令に
基づいて測定開始信号を分析部Ｘに出力するタイマー制
御ユニット４４とから構成し、前記測定値ａの大きさに
応じて測定周期を変更するようにした。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、測定周期設定部から
の測定開始信号に基づいて測定を開始するように構成さ
れた吸光度計に関する。
の測定開始信号に基づいて測定を開始するように構成さ
れた吸光度計に関する。
【０００２】
【従来の技術】吸光度計の一つとして、例えばボイラー
水の一部を被検液として自動的にサンプリングし、発色
試薬を用いて被検液中のシリカ濃度を自動的に測定する
シリカ計がある。このようなシリカ計においては、前記
サンプリングや測定を始終行うのではなく、タイマーに
よってシーケンス制御を行うことにより、一定の間隔で
サンプリングや測定が行われる。そして、この場合、測
定周期としては、単一の測定周期に設定されるのが一般
的であった。
水の一部を被検液として自動的にサンプリングし、発色
試薬を用いて被検液中のシリカ濃度を自動的に測定する
シリカ計がある。このようなシリカ計においては、前記
サンプリングや測定を始終行うのではなく、タイマーに
よってシーケンス制御を行うことにより、一定の間隔で
サンプリングや測定が行われる。そして、この場合、測
定周期としては、単一の測定周期に設定されるのが一般
的であった。
【０００３】ところで、一般的に、自動測定を行う場
合、測定値を頻繁に監視しなければならない場合と、測
定値が比較的安定しており、間隔をおいて測定してもよ
い場合とがある。また、試薬の投入などランニングコス
ト低減のため、測定周期を変更して装置の運転を行う必
要がある。
合、測定値を頻繁に監視しなければならない場合と、測
定値が比較的安定しており、間隔をおいて測定してもよ
い場合とがある。また、試薬の投入などランニングコス
ト低減のため、測定周期を変更して装置の運転を行う必
要がある。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来の吸光度計においては、測定周期を変更する必要が生
じた場合、その都度、手動により測定周期の設定を変更
するようにしており、非常に煩わしいとともに、夜間な
どにおいても人手を要するといった不都合があった。
来の吸光度計においては、測定周期を変更する必要が生
じた場合、その都度、手動により測定周期の設定を変更
するようにしており、非常に煩わしいとともに、夜間な
どにおいても人手を要するといった不都合があった。
【０００５】この発明は、上述の事柄に留意してなされ
たもので、測定値のレベルに応じて測定周期を切り換え
られるようにすることにより、必要以上の測定を行わな
い合理的な測定を行うことにより、ランニングコストの
低減を図ることができる吸光度計を提供することを目的
としている。
たもので、測定値のレベルに応じて測定周期を切り換え
られるようにすることにより、必要以上の測定を行わな
い合理的な測定を行うことにより、ランニングコストの
低減を図ることができる吸光度計を提供することを目的
としている。
【０００６】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、この発明は、分析部が測定周期設定部からの測定開
始信号に基づいて測定を開始するように構成された吸光
度計において、前記測定周期設定部を、複数の測定周期
設定器と、分析部からの測定値が入力され、測定値のレ
ベル判定を行う複数のしきい値設定器と、これら両設定
器の入力を受けて測定周期を切り換える測定周期設定器
選択制御ユニットと、この測定周期設定器選択制御ユニ
ットからの指令に基づいて測定開始信号を分析部に出力
するタイマー制御ユニットとから構成し、前記測定値の
大きさに応じて測定周期を変更するようにしている。
め、この発明は、分析部が測定周期設定部からの測定開
始信号に基づいて測定を開始するように構成された吸光
度計において、前記測定周期設定部を、複数の測定周期
設定器と、分析部からの測定値が入力され、測定値のレ
ベル判定を行う複数のしきい値設定器と、これら両設定
器の入力を受けて測定周期を切り換える測定周期設定器
選択制御ユニットと、この測定周期設定器選択制御ユニ
ットからの指令に基づいて測定開始信号を分析部に出力
するタイマー制御ユニットとから構成し、前記測定値の
大きさに応じて測定周期を変更するようにしている。
【０００７】
【作用】例えば、表１（後述する）に示すように、分析
部からの測定値がしきい値設定器１で設定したしきい値
（１００）を超えているときは、測定周期設定器１で設
定した周期（５分）で測定を行い、前記測定値がしき
い値設定器１で設定したしきい値（１００）以下になる
と、測定周期設定器２で設定した周期（１０分）で測
定を行うようにする。このようにすることにより、合理
的に測定が行え、試薬の投入量の低減などランニングコ
ストを低減できる。
部からの測定値がしきい値設定器１で設定したしきい値
（１００）を超えているときは、測定周期設定器１で設
定した周期（５分）で測定を行い、前記測定値がしき
い値設定器１で設定したしきい値（１００）以下になる
と、測定周期設定器２で設定した周期（１０分）で測
定を行うようにする。このようにすることにより、合理
的に測定が行え、試薬の投入量の低減などランニングコ
ストを低減できる。
【０００８】
【実施例】図１〜図３は、この発明の一実施例を示し、
図１は、この発明の吸光度計の一例としてのシリカ計の
構成を概略的に示すもので、このシリカ計は、分析部Ｘ
とこれを制御する測定周期設定部Ｙとからなる。
図１は、この発明の吸光度計の一例としてのシリカ計の
構成を概略的に示すもので、このシリカ計は、分析部Ｘ
とこれを制御する測定周期設定部Ｙとからなる。
【０００９】そして、前記分析部Ｘは、例えば、図２の
ように構成されている。すなわち、図２において、１１
は被検液１２を収容するための測定セルで、第１セルブ
ロック１３と第２セルブロック１４とから構成されてい
る。第１セルブロック１３は、例えば、ポリプロピレン
樹脂やフッ素樹脂などのように撥水性を有する樹脂ブロ
ックからなり、切削加工されて、その内部には、被検液
１２を収容するための適宜深さを有するセル空間１５が
形成されている。
ように構成されている。すなわち、図２において、１１
は被検液１２を収容するための測定セルで、第１セルブ
ロック１３と第２セルブロック１４とから構成されてい
る。第１セルブロック１３は、例えば、ポリプロピレン
樹脂やフッ素樹脂などのように撥水性を有する樹脂ブロ
ックからなり、切削加工されて、その内部には、被検液
１２を収容するための適宜深さを有するセル空間１５が
形成されている。
【００１０】そして、第１セルブロック１３の相対向す
る側壁１３Ａ，１３Ｂには、段部を有する開口１６，１
７がそれぞれ形成され、各開口１６，１７には、窓押さ
え１８，１９によって光透過性のセル窓２０，２１が嵌
め込まれている。そして、一方のセル窓２０の外方に
は、集光レンズ２２を介して光源２３が設けられ、他方
のセル窓２１の外方には、干渉フィルタ２４を介して光
検出器２５が設けられている。なお、２６，２７はシー
ル部材である。
る側壁１３Ａ，１３Ｂには、段部を有する開口１６，１
７がそれぞれ形成され、各開口１６，１７には、窓押さ
え１８，１９によって光透過性のセル窓２０，２１が嵌
め込まれている。そして、一方のセル窓２０の外方に
は、集光レンズ２２を介して光源２３が設けられ、他方
のセル窓２１の外方には、干渉フィルタ２４を介して光
検出器２５が設けられている。なお、２６，２７はシー
ル部材である。
【００１１】２８は測定セル１１内に収容された被検液
１２を攪拌するための攪拌機で、測定セル１１の底部外
側に設けられたモータ２９によって回転駆動されるマグ
ネット３０と、セル空間１５の下方に設けられ、マグネ
ット３０の回転によって回転する攪拌用回転子３１とか
らなる。３２はマグネット３０を収容するために測定セ
ル１１の底部外側に形成される凹部である。３３は被検
液１２を測定セル１１内に導入したり、これを測定セル
１１外に導出するための導入・導出用配管で、測定セル
１１の底部に形成された開口３４に接続され、開閉弁と
しての電磁弁３５を備えている。
１２を攪拌するための攪拌機で、測定セル１１の底部外
側に設けられたモータ２９によって回転駆動されるマグ
ネット３０と、セル空間１５の下方に設けられ、マグネ
ット３０の回転によって回転する攪拌用回転子３１とか
らなる。３２はマグネット３０を収容するために測定セ
ル１１の底部外側に形成される凹部である。３３は被検
液１２を測定セル１１内に導入したり、これを測定セル
１１外に導出するための導入・導出用配管で、測定セル
１１の底部に形成された開口３４に接続され、開閉弁と
しての電磁弁３５を備えている。
【００１２】そして、第２セルブロック１４は、適宜の
樹脂よりなり、試薬注入ノズル３６Ａ，３６Ｂ，３６Ｃ
やオーバーフロー排出管３７を挿通させるようにして、
セル空間１５を覆っている。
樹脂よりなり、試薬注入ノズル３６Ａ，３６Ｂ，３６Ｃ
やオーバーフロー排出管３７を挿通させるようにして、
セル空間１５を覆っている。
【００１３】このように構成された分析部においては、
測定周期設定部Ｂ（その構成は後述する）からの測定開
始信号ａ（図１参照）に基づいて測定動作に入る。すな
わち、導入・導出用配管３３を介して被検液１２を測定
セル１１内に導入し、オーバーフローさせることによっ
て計量を行った後、攪拌機２８によって被検液１２を攪
拌しながら、試薬注入ノズル３６Ａ，３６Ｂ，３６Ｃに
よって、反応試薬Ａ（モリブデン酸アンモニウム）、反
応試薬Ｂ（酒石酸）、反応試薬Ｃ（１−アミノ２−ナフ
トール４−スルホン酸）をこの順に被検液１２に加え
る。これによって、シリカイオン特有のモリブデン酸ブ
ルーを発色する。そして、光源２３から発せられた光は
被検液１２を透過して検出器２５に至る。これによっ
て、波長８１５ｎｍ（ナノメータ）における吸光度が求
められ、予め作成した検量線から被検液１２中のシリカ
濃度を測定し、測定値ｂ（図１参照）を出力する。
測定周期設定部Ｂ（その構成は後述する）からの測定開
始信号ａ（図１参照）に基づいて測定動作に入る。すな
わち、導入・導出用配管３３を介して被検液１２を測定
セル１１内に導入し、オーバーフローさせることによっ
て計量を行った後、攪拌機２８によって被検液１２を攪
拌しながら、試薬注入ノズル３６Ａ，３６Ｂ，３６Ｃに
よって、反応試薬Ａ（モリブデン酸アンモニウム）、反
応試薬Ｂ（酒石酸）、反応試薬Ｃ（１−アミノ２−ナフ
トール４−スルホン酸）をこの順に被検液１２に加え
る。これによって、シリカイオン特有のモリブデン酸ブ
ルーを発色する。そして、光源２３から発せられた光は
被検液１２を透過して検出器２５に至る。これによっ
て、波長８１５ｎｍ（ナノメータ）における吸光度が求
められ、予め作成した検量線から被検液１２中のシリカ
濃度を測定し、測定値ｂ（図１参照）を出力する。
【００１４】また、前記測定周期設定部Ｙは、例えば、
次のように構成されている。すなわち、複数の測定周期
設定器４１と、分析部Ｘからの測定値ｂが入力され、測
定値ｂのレベル判定を行う複数のしきい値設定器４２
と、これら両設定器４１，４２の入力を受けて測定周期
を切り換える測定周期設定器選択制御ユニット４３と、
この測定周期設定器選択制御ユニット４３からの指令に
基づいて測定開始信号ａを分析部Ｘに出力するタイマー
制御ユニット４４とから構成されている。ここで、前記
測定周期設定器４１がＮ個設けられるとき、複数のしき
い値設定器４２は、前記Ｎより一つ少ないところの（Ｎ
−１）個設けられる。
次のように構成されている。すなわち、複数の測定周期
設定器４１と、分析部Ｘからの測定値ｂが入力され、測
定値ｂのレベル判定を行う複数のしきい値設定器４２
と、これら両設定器４１，４２の入力を受けて測定周期
を切り換える測定周期設定器選択制御ユニット４３と、
この測定周期設定器選択制御ユニット４３からの指令に
基づいて測定開始信号ａを分析部Ｘに出力するタイマー
制御ユニット４４とから構成されている。ここで、前記
測定周期設定器４１がＮ個設けられるとき、複数のしき
い値設定器４２は、前記Ｎより一つ少ないところの（Ｎ
−１）個設けられる。
【００１５】前記複数の測定周期設定器４１によって設
定される周期と、複数のしきい値設定器４２によって設
定されるしきい値との関係の一例を、下記表１に示す。
定される周期と、複数のしきい値設定器４２によって設
定されるしきい値との関係の一例を、下記表１に示す。
【００１６】
【表１】
【００１７】なお、上記測定周期設定部Ｙは、例えば、
コンピュータのプログラムやシーケンス制御回路で校正
される。
コンピュータのプログラムやシーケンス制御回路で校正
される。
【００１８】次に、上記構成のシリカ計の動作につい
て、図３をも参照しながら説明する。ボイラー水のシリ
カ濃度は、図３（Ａ）に示すように、その測定初期にお
いては比較的高いので、その時期においては、測定周期
設定部Ｙが、測定周期を測定周期設定器４１によって、
例えば、前記表１における周期（５分）に設定する。
この設定周期は、測定周期設定器選択制御ユニット４３
からタイマー制御ユニット４４に送られ、このタイマー
制御ユニット４４から所定の測定開始信号ａが分析部Ｘ
に向けて出力されることにより、分析部Ｘが前述したよ
うな手順でボイラー水のシリカ濃度を測定し、測定値ｂ
が得られる。
て、図３をも参照しながら説明する。ボイラー水のシリ
カ濃度は、図３（Ａ）に示すように、その測定初期にお
いては比較的高いので、その時期においては、測定周期
設定部Ｙが、測定周期を測定周期設定器４１によって、
例えば、前記表１における周期（５分）に設定する。
この設定周期は、測定周期設定器選択制御ユニット４３
からタイマー制御ユニット４４に送られ、このタイマー
制御ユニット４４から所定の測定開始信号ａが分析部Ｘ
に向けて出力されることにより、分析部Ｘが前述したよ
うな手順でボイラー水のシリカ濃度を測定し、測定値ｂ
が得られる。
【００１９】前記測定値ｂは、図示してない表示部など
に表示されるとともに、測定周期設定部Ｙに入力され
る。この測定値ｂは、その出力ごとに、複数のしきい値
設定器４２にそれぞれ入力され、各しきい値と比較され
る。そして、測定値ｂが表１に示すしきい値を超えて
いるときは、測定周期は前記周期（５分）のままであ
るが、図３（Ａ）に示すように、時間の経過とともに、
シリカ濃度が低下して、前記測定値ｂが前記しきい値１
００以下になった場合、より具体的には、５０＜測定値
ｂ≦１００となった場合、測定周期は表１における周期
（１０分）に設定され、この新たに設定された周期
（１０分）に対応してタイマー制御ユニット４４から所
定の測定開始信号ａが分析部Ｘに向けて出力される。
に表示されるとともに、測定周期設定部Ｙに入力され
る。この測定値ｂは、その出力ごとに、複数のしきい値
設定器４２にそれぞれ入力され、各しきい値と比較され
る。そして、測定値ｂが表１に示すしきい値を超えて
いるときは、測定周期は前記周期（５分）のままであ
るが、図３（Ａ）に示すように、時間の経過とともに、
シリカ濃度が低下して、前記測定値ｂが前記しきい値１
００以下になった場合、より具体的には、５０＜測定値
ｂ≦１００となった場合、測定周期は表１における周期
（１０分）に設定され、この新たに設定された周期
（１０分）に対応してタイマー制御ユニット４４から所
定の測定開始信号ａが分析部Ｘに向けて出力される。
【００２０】つまり、上述した例では、当初、測定周期
設定部Ｙからは５分間隔で測定開始信号ａが分析部Ｘに
対して出力され、これに基づいて、分析部Ｘは測定を行
っていた。しかし、時間の経過ととともにシリカ濃度が
定常方向に変化して、測定値ｂが低下し、かつ、その変
動幅が小さくなってくると、それほど頻繁に濃度測定を
行う必要がなく、したがって、測定開始間隔を徐々に大
きくすることができ、所謂間欠測定を行っても差し支え
なくなる。
設定部Ｙからは５分間隔で測定開始信号ａが分析部Ｘに
対して出力され、これに基づいて、分析部Ｘは測定を行
っていた。しかし、時間の経過ととともにシリカ濃度が
定常方向に変化して、測定値ｂが低下し、かつ、その変
動幅が小さくなってくると、それほど頻繁に濃度測定を
行う必要がなく、したがって、測定開始間隔を徐々に大
きくすることができ、所謂間欠測定を行っても差し支え
なくなる。
【００２１】このように、定常状態またはそれに近い状
態においては、頻繁に濃度測定を行う必要がないので、
サンプリングのためのポンプや電磁弁などの稼働時間並
びに回数を減らすことができるとともに、使用する試薬
の量を節約することができるので、ランニングコストを
低減できる。
態においては、頻繁に濃度測定を行う必要がないので、
サンプリングのためのポンプや電磁弁などの稼働時間並
びに回数を減らすことができるとともに、使用する試薬
の量を節約することができるので、ランニングコストを
低減できる。
【００２２】上述の実施例においては、測定周期を自動
的に変更することだけを述べたが、測定セル１１の洗浄
周期や校正周期も同様に変更できることは言うまでもな
い。
的に変更することだけを述べたが、測定セル１１の洗浄
周期や校正周期も同様に変更できることは言うまでもな
い。
【００２３】なお、この発明は、上述のシリカ計に限ら
れるものではなく、他の吸光度計にも広く適用すること
ができる。
れるものではなく、他の吸光度計にも広く適用すること
ができる。
【００２４】
【発明の効果】以上説明したように、この発明の吸光度
計においては、測定値のレベルに応じて測定周期が切り
換えられ、必要以上の測定を行わなくても済み、合理的
に測定が行われる。したがって、サンプリングのための
ポンプや電磁弁などの稼働時間並びに回数を減らすこと
ができるとともに、使用する試薬の量を節約することが
できるので、ランニングコストが低減される。
計においては、測定値のレベルに応じて測定周期が切り
換えられ、必要以上の測定を行わなくても済み、合理的
に測定が行われる。したがって、サンプリングのための
ポンプや電磁弁などの稼働時間並びに回数を減らすこと
ができるとともに、使用する試薬の量を節約することが
できるので、ランニングコストが低減される。
【００２５】また、前記測定周期の切換えを人手を介す
ることなく行なえるので、夜間など無人運転が可能にな
り、この点においてもランニングコストが低減される。
ることなく行なえるので、夜間など無人運転が可能にな
り、この点においてもランニングコストが低減される。
【図１】この発明の吸光度計の一例を概略的に示す図で
ある。
ある。
【図２】前記吸光度計の分析部の構成の一例を示す図で
ある。
ある。
【図３】この発明の動作説明図である。
４１…測定周期設定器、４２…しきい値設定器、４３…
測定周期設定器選択制御ユニット、４４…タイマー制御
ユニット、Ｘ…分析部、Ｙ…測定周期設定部、ａ…測定
開始信号、ｂ…測定値。
測定周期設定器選択制御ユニット、４４…タイマー制御
ユニット、Ｘ…分析部、Ｙ…測定周期設定部、ａ…測定
開始信号、ｂ…測定値。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 福嶋 良助 京都府京都市南区吉祥院宮の東町２番地 株式会社堀場製作所内
Claims (1)
- 【請求項１】 分析部が測定周期設定部からの測定開始
信号に基づいて測定を開始するように構成された吸光度
計において、前記測定周期設定部を、複数の測定周期設
定器と、分析部からの測定値が入力され、測定値のレベ
ル判定を行う複数のしきい値設定器と、これら両設定器
の入力を受けて測定周期を切り換える測定周期設定器選
択制御ユニットと、この測定周期設定器選択制御ユニッ
トからの指令に基づいて測定開始信号を分析部に出力す
るタイマー制御ユニットとから構成し、前記測定値の大
きさに応じて測定周期を変更するようにしたことを特徴
とする吸光度計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27598794A JPH08114538A (ja) | 1994-10-15 | 1994-10-15 | 吸光度計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27598794A JPH08114538A (ja) | 1994-10-15 | 1994-10-15 | 吸光度計 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08114538A true JPH08114538A (ja) | 1996-05-07 |
Family
ID=17563200
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP27598794A Pending JPH08114538A (ja) | 1994-10-15 | 1994-10-15 | 吸光度計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH08114538A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008286552A (ja) * | 2007-05-15 | 2008-11-27 | Nikkiso Co Ltd | 反応装置及び吸光度分析装置 |
| WO2011033875A1 (ja) * | 2009-09-17 | 2011-03-24 | テルモ株式会社 | 血糖計 |
| US8317168B2 (en) | 2006-04-05 | 2012-11-27 | Nikkiso Co., Ltd. | Mixer, mixing device and unit for measuring medical component |
-
1994
- 1994-10-15 JP JP27598794A patent/JPH08114538A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US8317168B2 (en) | 2006-04-05 | 2012-11-27 | Nikkiso Co., Ltd. | Mixer, mixing device and unit for measuring medical component |
| JP2008286552A (ja) * | 2007-05-15 | 2008-11-27 | Nikkiso Co Ltd | 反応装置及び吸光度分析装置 |
| WO2011033875A1 (ja) * | 2009-09-17 | 2011-03-24 | テルモ株式会社 | 血糖計 |
| JP2011064596A (ja) * | 2009-09-17 | 2011-03-31 | Terumo Corp | 血糖計 |
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