JPH0798415A - 光透過システムの反射感度を測定する測定システムの光学回路 - Google Patents

光透過システムの反射感度を測定する測定システムの光学回路

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JPH0798415A
JPH0798415A JP6104254A JP10425494A JPH0798415A JP H0798415 A JPH0798415 A JP H0798415A JP 6104254 A JP6104254 A JP 6104254A JP 10425494 A JP10425494 A JP 10425494A JP H0798415 A JPH0798415 A JP H0798415A
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 反射とレイリー散乱を含む光透過システムの
感度を測定する測定システムの光学回路及びこの光学回
路を備える測定システムを提供する。 【構成】 第1光学信号源の第1接続点と、第2光学信
号源の第2接続点と、光学受入手段の第3接続点と、光
学反射手段と、二方向光学接続ラインを合し、第1信号
源の第1接続点を受入手段の第3接続点にさらに反射手
段を第2信号源の第2接続点と受入手段の第3接続点と
に結合する結合手段とを備える光学回路である。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、光透過システムの品質
に対する測定システムの分野に係る。本発明は、反射と
レイリー散乱を含む光透過システムの感度を測定する測
定システムの光学回路及びこのような光学回路を備える
形式の測定システムに関する。
【0002】
【従来の技術】例えば、ガラス繊維により実施される受
動光学回路網の光透過ラインは光学信号を二方向に伝送
するのに適し、原則として、戻り路の別ラインを設ける
必要がない。二方向使用の場合には、しかし、別個反射
とレイリー散乱の反射のため、二方向の光学信号間の漏
話のおそれがあり、その結果、透過ラインを組み入れた
光透過システムの性能は悪影響をうける。このような反
射はレシーバの感度を低下させ、光学回路網で得られる
全光学パワーにさらに負担をかけることになる。この付
加的負担は定期漏話ペナルティと言うことがある。その
結果、光学回路網を設計、寸法取りの際、これを考慮し
て、実施される回路網においてその後システムが不要に
低下しないようにしなければならない。この目的に対
し、設計される光学回路網の特徴的要素を組み入れるこ
とにより、受入れ感度と漏話ペナルティを後で測定する
ようにした測定システムが知られている。そこで、文献
(1)は、ビット・エラー確率状のレイリー散乱とCP
FSK変調信号の2つの信号源を有する光学通信システ
ムの漏話ペナルティとによる受入れ感度を測定するのに
特に使用される測定構成を記載する。この測定構成は、
一定長さ(典型的に1km)のモノモダル・ガラス繊維
を介装した2つの3dBカップラーを含む光学回路にも
とづいており、第1信号源は第1カップラーの接続点に
接続され、第2信号源と受入れ手段は第2カップラーの
2つの接続点に接続されている。カップラーの残りの接
続点は使用されない。カップラーへの接続は、第1信号
源から発する信号はガラス繊維を介し順信号方法に(少
なくとも主に)受入れ手段に到達できる一方、第2信号
源から発する信号は(少なくとも主に)ガラス繊維のみ
を介し散乱信号として受入れ手段に到達できるような形
式である。各信号源と、信号源が接続されるカップラー
の夫々接続点との間に、発生信号の信号強さを制御する
可制御光学信号減衰器が介装される。接続点は、無反射
が高度となるように選択される。しかし、ガラス繊維の
長手でレイリー散乱の効果を測定するこの周知測定構成
は多くの欠点を有する。第1の欠点として、信号源は事
実上、カップラーを合し、順信号方向に互いに直結され
る結果、散乱効果により各信号源に光学フィードバック
が生ずるだけでなくかつまた信号インフィードを生ず
る。そのため、カップラーに対する信号源の結合には特
に大きい単離が必要である。第2の欠点として、順信号
方向に受入れ手段に結合される信号源から発する信号も
同様に、ガラス繊維の全長を通過しなければならない。
工程において、最後に述べた信号はさらに減衰され、分
散と二重散乱が生じ、受入れ手段に到達する全信号に及
ぼす効果は不明で、その結果、測定は信頼できない。第
3の欠点は次の通りである。散乱信号が完全に偏光され
るとすれば受入れ感度に最も不利な効果が生ずる。しか
し、周知の測定構成では、順信号方向に受入れ手段に結
合される信号源から発する信号に影響を与えないで完全
に偏光された散乱信号の効果を測定することはできな
い。文献(2)は、別個の反射要素の効果を測定するの
に使用できる測定構成に適した光学回路を開示する。こ
の光学回路は、4つの接続点とこの4つの接続点の1つ
に接続される反射要素を有し、残りの接続的な1つまた
は2つの信号源と受入れ手段の接続用とし構成されてい
る3dBカップラーを備える。第1の測定構成では、第
1信号源と順信号方向の反射要素は受入れ手段に結合さ
れ、第2信号源から発する信号は反射要素を介し受入れ
手段に到達するだけである。反射要素とそのカップラー
への接続部との間に可制御信号減衰器が介装される。こ
の周知光学回路にもどつく前記第1測定構成も同様に欠
点として、信号発生に悪影響を及ぼさないように付加的
単離手段が必要となるよう2つの信号源が順信号方向に
互いに結合されている。この測定構成も欠点として、完
全に偏光された反射信号の効果は、順信号方向に受入れ
手段に結合される信号源から発生する信号に影響せずに
測定できない。反射要素と受入れの双方に、または、場
合により、順信号方向に検出手段に結合されるトランス
ミッタとして1つの信号源のみが使用される第2の測定
構成では、測定できる信号発生に反射の悪影響を与える
ことは明らかである。文献(1)と(2)により開示さ
れる従来技術による測定構成は、レイリー散乱と結合し
または結合しない、有限数の別個反射要素の効果がどの
ように測定できるかを述べていないので、その使用は限
定される。実際に実施される、ある大きさの光学回路網
は一般に多数の別個反射点を含む。しかし、このような
多数の別個反射点から発する信号は相互に干渉し、従っ
て、単反射点から発する信号よりもシステムを大きく劣
化させる。レイリー散乱は無数の別個反射点での反射と
考えられるので、その測定を使用して有限の多数の別個
反射点の結果を評価できる。しかし、これは限定された
範囲にとどまり、すなわち、例えば文献(3)に開示さ
れているように、累積散乱は、光学信号に使用される波
長の関数である長さをこえる長さで増加しないからであ
る。
【0003】引用従来技術の上記欠点に照し、光透過シ
ステムの反射感度に依存するすべての効果がなるべく別
々にかつ十分に影響され、さらに接続される信号源が順
信号方向に結合されない、形式の新たなまたは改良され
た測定システムの光学回路が必要である。
【0004】
【発明が解決しようとする課題と課題を解決するための
手段】本発明の目的は上記必要性を満たすことにある。
この目的のため、光透過回路網の反射感度を測定する測
定システムの光学回路であって、第1光学信号源の第1
接続的と、第2光学信号源の第2接続点と、光学受入手
段の第3接続点と、光学反射手段と、二方向光学接続ラ
インを介し、第1信号源の第1接続点を受入手段の第3
接続点にさらに反射手段を第2信号玄の第2接続点と受
入手段の第3接続点とに結合する結合手段であって、第
2信号源の第2接続点が順信号方向に反射手段に結合さ
れる第1導波管接続を含む結合手段とを備える光学回路
において、結合手段はさらに、第1信号源の第1接続点
が順信号方向に受入手段の第3接続点に結合される第2
導波管接続を含み、第1および第2接続を介し反射手段
を順信号方向に受入手段の第3接続点に結合するため第
2接続が第1接続に結合されることを特徴とする光学回
路が提供される。2つの接続が互いに結合される方法の
ため、接続される信号源が互いに干渉することがないだ
けでなくかつまた反射信号が信号源の1つから直接発す
る信号と結合される前に反射信号のみに影響を与えるこ
とができる。
【0005】好ましい実施例において、第1と第2の接
続間の結合部に、例えば、信号強さまたは信号の偏光状
態を修正するため、信号操作手段が組み入れられる。
【0006】第1接続は、もう1つの反射集団が最初述
べた反射手段と同様な方法で受入手段の第3接続点に順
方向に結合されるパワーカップラー兼ビームスプリッタ
である。この利点として、一方で、多くの反射信号を受
入手段に通すことができ、他方で、同じ測定構成におい
て2つの異なる形式の反射手段の効果を研究できる。
【0007】さらに他の実施例において、反射手段は、
所定の反射係数を有する(N≧l)個の別個反射要素が
組み入れられる二方向光透過ラインにより形成され、反
射信号に生ずる干渉の効果を測定できる。
【0008】文献: (1)R.K.スフウブリ及びP.ギセル:ライトウエ
ーブ・テクノロジー、9巻 No.3、1991年3
月、pp.375−380所載の「二方向光学通信シス
テムにおける干渉性レイリー音による漏話ペナルティ」 (2)販売パンフレット:K2G5W8、カナダ・オン
タリオ、ネピーン(オタワ)、ヘストンドライブ57
0、JDS FITEL社のVB8/VB9シリーズ
「可変光学バックリフレクター」 (3)M.O.バン.デベンタ:1991年ライドシエ
ンダム、PTTリサーチ、「二方向オプチカルファイバ
通信」モノグラフ9101のパラグラフ3.1「反射」
特に図11、p.26 (4)W.M.エムキー:J.ライト・テクニック、L
T−1巻、No.3、1993年9月、pp466−4
69の「1.3μm用偏光独立光学サーキュレータ」
【0009】
【実施例】図1は本発明による光学回路を略図で示す。
ここに示されるシステム構成部材間のすべての接続ライ
ンは、例えば、従来形式のモノモダル・ガラス織維によ
り実施される二方向光学接続を示す。第1カップラーC
1は、第1光学信号源S1、光学信号レシーバRおよび
第2カップラーC2の夫々接続点1、2、3を有する。
第2カップラーは、第2光学信号源S2、光学反射手段
RFおよひ第1カップラーC1の夫々接続点4、5、6
を有する。第2カップラーC2の第2信号源S2間の接
続部に可制御光学信号減衰器Vが組み入れられる。光学
反射手段は、使用される反射手段により、到来光学信号
の少なくとも1部を反射する。カップラーの接続点への
すべての接続は、もちろん、なるべく無反射となるよう
に構成される。カップラーC1は、レシーバRの方向に
伝播する信号のパワーカップラーとして作用するような
形式である。カップラーC2は、反射手段RFの方向に
伝播する信号のパワーカップラーとしてまた、反対方向
の信号のパワースプリッターとして作用するような形式
である。このことは、その信号のための第1信号源S1
がレシーバRのみに順信号方向に結合され、その信号の
ための第2信号源S2が反射手段RFのみに順信号方向
に結合されることを意味する。この信号源S2の順信号
結合の結果、原則として、減衰器Vを通過するすべての
信号は反射手段RFに到達する。そこに反射した部分は
第2カップラーC2を介し伝播し、その半分はレシーバ
Rの方向に進む。第1カップラーC1において、この反
射信号部分は第1信号源S1から直接発する信号と結合
される。このように結合された信号はレシーバRに直接
送られる。反射信号量は、信号源S2の方向に反射され
る信号をさらに減衰できる減衰器Vによって制御され
る。受入手段の方向の反射信号も反射手段とカップラー
C2間の減衰器Vによって制御されるが、その場合、受
入手段方向を通る反射信号も二重に減衰される。
【0010】夫々カップラーC1、C2の接続点3、6
間の光学接続において、第1信号源S1から発する信号
と結合される前に、受入手段Rの方向に反射される信号
を操作することを選択できる。これは、例えば、付加的
信号減衰器でよい。信号を完全に偏光する偏光器または
偏光方向を制御する偏光制御器等、図においてPで示す
偏光作用手段を組み入れる。もちろん、組合せてもよ
い。
【0011】カップラーC1とC2の適当な選択には従
来のY接続を含む。また別に、第2カップラーC2は、
例えば、文献(4)に開示される光学サーキュレータと
交換してもよい。このようなサーキュレータは光学導波
管接続であり、これは、少なくとも3つのゲートを有
し、さらに、ゲートに接続毎4、5、6に従い番号が付
されれば、ゲート4を介し到来する信号はその全体がゲ
ート5を介し存在し、ゲート5を介し到来する信号はそ
の全体がゲート6を介し存在するように回路に組み入れ
られる。従って、このような光学サーキュレータの利点
として、信号源S2の方向に反射される信号はなく、す
べての反射信号は受入れ手段Rに向けられる。サーキュ
レータのゲート6とカップラー3の接続点との間に組み
入れた減衰器は信号源S2とサーキュレータのゲート4
との間に組み入れたものと同じ効果を有する。
【0012】また、不使用のままで無反射の方法で終
る、1つの接続点、すなわち第4接続点に3dBカップ
ラー・スプリッター、例えば、ガラス繊維にもとづく融
合カップラーを使用できる。しかしまた、反射手段を前
記第4接続点に結合できる。この変型は図2に示されて
いる。3dBパワーカップラー・スリッタはC’2で示
され、接続点4’、6’および5’1、5’2は信号源
S2、カップラーC1および反射手段RF1、RF2に
結合するものである。反射手段RF1とRF2は同じ
で、反射信号は強さが2倍ある利点を有する。反射手段
は異なるように選択され、一方の手段は1つ以上の別個
反射要素に信号反射をもたらし他方の手段は排他的、少
なくとも本質的にレイリー散乱を示す。
【0013】しかし、単反射要素および(または)長い
ガラス繊維を有する光学回路でも、光学透過システムの
反射感度を測定するのには不適切なシミュレーション選
択がある。実際には、このようなシステムでは多数の別
個反射点を含み、このような反射点で反射の信号干渉の
可能性がある。そのため、単反射器および(または)長
いガラス繊維での測定では15dBほど高くなる反射感
度を過剰楽観的に見積ることになることが多い。このよ
うなシミュレーションのため、N個のローロス反射要素
RE〜REが直列に接続され、各要素は所定の反射
係数rcを有する。この反射係数では、0<rc
1の関係が成立し、ここでi=1、・・・・N−1、r
=1である。好ましくは、反射係数は、反射要素の
全数の1つまたは数個が優位にならないように選択され
る。種々のオプションがある。第1のオプションによれ
ば、例えば、反射係数がrc=0.01である例えばN
=30個の同じ反射要素REは、例えば同間隔100m
で相互距離Lで間隔をおいている。好ましくは、間隔L
はシミュレートされるシステムの干渉長さよりも大きく
なるように選択される。第2のオプションによれば、反
射係数rcは、すべての反射信号が反射要素のライン
の入力にほぼ同じ強さで到達するように選択される。こ
れは次のように、反射係数が少なくともおよそ選択され
れば達成できる。rc1;rcN−1=0.38、r
N−2=0.23;rcN−3=0.16;rc
N−4=0.12;rcN−5=0.10;rcN−6
=0.08;rcN−7=0.07等。
【0014】図3〜6は、直列接続された多数のガラス
繊維反射要素のいくつかの例を略図で示す。図3におい
て、適当な長さLで異なる屈折率n、nを有するガ
ラス繊維片は直列に、融接fにより交互に接続される。
各溶接の反射係数は、少なくともほぼ、rc={(n
−n)/(n+n)}で表される。例えば、各
溶接において反射信号パワーの約−27dBに相当する
=1.46、n=1.50、rc=0.018で
ある。同様なことが、融接に屈折率nを有する反射コ
ーチング11を組み入れることにより同じ屈折率n
有するガラス繊維片によって達成される。これは図4に
略示されている。これは、端部間の間隙に流入させ一体
にし、2つのガラス繊維と他の屈折率を有する溶融ガラ
スを結合して硬化させて実施される。図5において、別
個反射要素ラインは単ガラス12で形成される。ガラス
繊維12において、適当に選択した間隔Lで、2つの閉
ループ13、14が図示のように配置される。これらル
ープは融合カップラー、この場合、15と16によって
閉じられることによって、ガラス繊維の各ループに結合
される。ループは「マイクロ・ベンディング」による損
失がどこでも生じないように大きく選択される。各ルー
プにおいて、(例えば左から)到来する信号部分は(左
に)戻り、ループは反射要素として作用する。戻り部分
は該ループにおける融合カップラーの結合因子の関数で
ある。該融合カップラーの結合因子cfにより、rc=
2cf(1−cf)による反射係数rcを決定する。同
様に単ガラス繊維を使用して実施される別個反射要素ラ
インの第4実施例が図6に示されている。端部21と2
2を有する長いガラス繊維は、いわば、多数回撚られて
いる結果、ガラス織維の外方部分23は、ある数(図で
は3つ)の地点24、25、26で、間隔Lで戻り部分
27と交叉する。交叉点24、25、26で、ガラス繊
維は融合カップラー28、29、30によって結合され
ている。ここで再び言うと、融合カップラーの結合因子
により各交叉点で反射係数rcを決定する:rc=c
f、このように撚られたガラス繊維の末端ループ29に
より100%の反射が自動的に得られる。前記第4実施
例は種々の方法で応用される。例えば、1つの方法は、
図1による光学回路の設計において、カップラーC2と
反射手段RFを交換し、カップラーC2の接続点4、6
に相当する方法で接続点として繊維端21、22を使用
する。他の方法は、図2の変型設計において、反射手段
RF1とRF2を交換し、繊維端21と22をパワーカ
ップラー/スプリッターC’2の接続点5’.1と
5’.2に接続する。
【0015】
【発明の効果】なお、図1または図2による光学回路
も、レーザ等光学信号源に与える反射の悪影響を測定す
るのに使用できる。このために、被試験信号源は接続点
2に接続され、適当な検出手段は接続点1に接続される
が、接続点4は使用されない。特に、別個反射要素ライ
ンの使用により、多反射の効果を研究できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明による光学回路の概略図。
【図2】図1に示す光学回路の構成部材の変型例。
【図3】ガラス織維にもとづく別個反射要素ラインの実
施例。
【図4】ガラス繊維にもとづく別個反射要素ラインの別
の実施例。
【図5】ガラス繊維にもとづく別個反射要素ラインの別
の実施例。
【図6】ガラス繊維にもとづく別個反射要素ラインの別
の実施例。
【符号の説明】
1、2、3、4、5、6 接続点 11 反射コーチング 12 ガラス繊維 13、14 ループ 15、16 融合カップラー 21、22 端 部 24、25、26 交叉点 28、29、30 融合カップラー C1 第1カップラー C2 第2カップラー R 光学信号レシーバ S1 第1光学信号源 S2 第2光学信号源 RF1、RF2 光学反射手段 n 屈折率 V 可制御光学信号減衰器 P 偏光作用手段 RE 反射要素

Claims (13)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 光透過回路網の反射感度を測定する測定
    システムの光学回路であって、第1光学信号源の第1接
    続点と、第2光学信号源の第2接続点と、光学受入手段
    の第3接続点と、光学反射手段と、二方向光学接続ライ
    ンを介し、第1信号源の第1接続点を受入れ手段の第3
    接続点にさらに反射手段を第2信号源の第2接続点と受
    入手段の第3接続点とに結合する結合手段であって、第
    2信号源の第2接続点が順信号方向に反射手段に結合さ
    れる第1導波管接続を含む結合手段とを備える光学回路
    において、結合手段はさらに、第1信号源の第1接続点
    が順信号方向に受入手段の第3接続点に結合される第2
    導波管接続を含み、第1および第2接続を介し反射手段
    を順信号方向に受入手段の第3接続点に結合するため第
    2接続が第1接続に結合されることを特徴とする光学回
    路。
  2. 【請求項2】 第1と第2接続間の結合部に、信号操作
    手段を組入れた請求項1記載の光学回路。
  3. 【請求項3】 信号操作手段は信号強さを制御する制御
    手段である請求項2記載の光学回路。
  4. 【請求項4】 信号操作手段は偏光作用手段である請求
    項2記載の光学回路。
  5. 【請求項5】 第2接続は、もう1つの反射手段が最初
    に述べた反射手段と同様な方法で、順信号方向に受入手
    段の第3接続点に結合されるパワーカップラー兼ビーム
    スプリッタである請求項1〜4記載の光学回路。
  6. 【請求項6】 第2接続は3つのゲートを有する光学サ
    ーキュレータである請求項1〜4記載の光学回路。
  7. 【請求項7】 反射手段は、所定の反射係数を有する
    (N≧l)個の別個反射要素を組み入れた二方向光透過
    ラインにより形成される請求項1〜6記載の光学回路。
  8. 【請求項8】 最初に述べた反射手段は、所定の反射係
    数を有する(N≧1)個の別個反射要素を組み入れた二
    方向透過ラインにより形成され、もう1つの反射手段
    は、無反射で終り所定長さを有するガラス繊維により形
    成される請求項5記載の光学回路。
  9. 【請求項9】 透過ラインは、融接により一体に結合さ
    れる、異なる屈折率を交互に有し適当長さの多数の連結
    ガラス繊維片より成る請求項7記載の光学回路。
  10. 【請求項10】 透過ラインは、融接により一体に結合
    される、同じ屈折率を有し適当長さの多数の連結ガラス
    繊維片より成り、各融接に反射コーチングが組み入れら
    れる請求項7記載の光学回路。
  11. 【請求項11】 透過ラインは、適当に選んだ間隔でル
    ープが形成され、各ループは、適当に選んだ因子を用い
    ガラス繊維の融合カップラーによって閉じられる、ガラ
    ス繊維より成る請求項7記載の光学回路。
  12. 【請求項12】 透過ラインは適当に選んだ長さのガラ
    ス繊維より成り、ガラス繊維は外方部分と戻り部分とを
    有するU形状ループを有し、外方部分と戻り部分は適当
    に選んだ間隔で互いに交叉し、交叉地点で、適当に選ん
    だ結合因子を有する融合カップラーにより互いに結合さ
    れる、請求項7記載の光学回路。
  13. 【請求項13】 前記各請求項記載の光学回路を備え
    る、光透過回路網の反射感度を測定するシステム。
JP06104254A 1993-04-08 1994-04-08 光伝送システムの反射感度を測定する測定システムの光学回路 Expired - Fee Related JP3084501B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
NL9300618 1993-04-08
NL9300618A NL9300618A (nl) 1993-04-08 1993-04-08 Optisch circuit voor een meetsysteem voor het meten van de reflectiegevoeligheid van een optisch transmissiesysteem.

Publications (2)

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Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0714501U (ja) * 1993-08-11 1995-03-10 日本化学発光株式会社 化学発光体
GB9526185D0 (en) * 1995-12-21 1996-02-21 Stc Submarine Systems Ltd Fiber-break detection in bi-directional optical amplifier systems
DE19808601A1 (de) * 1998-02-28 1999-09-09 Deutsche Telekom Ag Messverfahren für Einzelfasern von Kabeln
JP2002122515A (ja) * 2000-10-13 2002-04-26 Advantest Corp 光特性測定装置、方法、記録媒体

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS58100733A (ja) * 1981-12-11 1983-06-15 Hitachi Ltd 光フアイバ損失測定法
JPH0298647A (ja) * 1988-10-04 1990-04-11 Ando Electric Co Ltd 光反射率測定器

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5597753A (en) * 1979-01-19 1980-07-25 Matsushita Electric Ind Co Ltd Optical-fiber transmission control system
JP2726881B2 (ja) * 1988-11-21 1998-03-11 日本電信電話株式会社 後方散乱光測定装置
JPH02176535A (ja) * 1988-12-28 1990-07-09 Fujikura Ltd 光線路監視装置
JPH03181836A (ja) * 1989-12-12 1991-08-07 Anritsu Corp 反射光による光学系の特性評価装置

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS58100733A (ja) * 1981-12-11 1983-06-15 Hitachi Ltd 光フアイバ損失測定法
JPH0298647A (ja) * 1988-10-04 1990-04-11 Ando Electric Co Ltd 光反射率測定器

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